JPS648675U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS648675U JPS648675U JP10186487U JP10186487U JPS648675U JP S648675 U JPS648675 U JP S648675U JP 10186487 U JP10186487 U JP 10186487U JP 10186487 U JP10186487 U JP 10186487U JP S648675 U JPS648675 U JP S648675U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tester
- test head
- head section
- control signal
- serial
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図はこの考案に係るＩＣ試験装置の一実施
例を示すブロツク図、第２図は第１図におけるピ
ンエレクトロニクスの一例を示すブロツク図、第
３図は第１図におけるテスタ本体とテストヘツド
部側の各制御部間で授受される制御データのフオ
ーマツトの一例を示す図、第４図はテスタ本体の
制御部における制御データのパラレル／シリアル
変換処理の一例を示すフローチヤート、第５図は
テストヘツド部の制御部における制御データのシ
リアル／パラレル変換処理の一例を示すフローチ
ヤート、第６図は従来のＩＣ試験装置の一例を示
すブロツク図である。 １……本考案に係るテスタ本体、２……パラレ
ル−シリアルインタフエース、３，１３……ダイ
レクトメモリアクセスコントローラ、４，１４…
…データメモリ、５，１５……中央演算処理ユニ
ツト、１０……本考案に係るテストヘツド部、１
２……シリアル／パラレルインタフエース、２０
…ピンエレクトロニクス、２９……ＩＣソケツト
、３４……テスタ本体の制御部、３５……ロジツ
ク部、３６……テストヘツド部の制御部、２１〜
２３……リレー、２４……測定信号ドライバ、２
５，２６……コンパレータ、３２……測定信号ラ
イン、３３……シリアルデータ伝送ライン。
例を示すブロツク図、第２図は第１図におけるピ
ンエレクトロニクスの一例を示すブロツク図、第
３図は第１図におけるテスタ本体とテストヘツド
部側の各制御部間で授受される制御データのフオ
ーマツトの一例を示す図、第４図はテスタ本体の
制御部における制御データのパラレル／シリアル
変換処理の一例を示すフローチヤート、第５図は
テストヘツド部の制御部における制御データのシ
リアル／パラレル変換処理の一例を示すフローチ
ヤート、第６図は従来のＩＣ試験装置の一例を示
すブロツク図である。 １……本考案に係るテスタ本体、２……パラレ
ル−シリアルインタフエース、３，１３……ダイ
レクトメモリアクセスコントローラ、４，１４…
…データメモリ、５，１５……中央演算処理ユニ
ツト、１０……本考案に係るテストヘツド部、１
２……シリアル／パラレルインタフエース、２０
…ピンエレクトロニクス、２９……ＩＣソケツト
、３４……テスタ本体の制御部、３５……ロジツ
ク部、３６……テストヘツド部の制御部、２１〜
２３……リレー、２４……測定信号ドライバ、２
５，２６……コンパレータ、３２……測定信号ラ
イン、３３……シリアルデータ伝送ライン。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) テスタ本体とテストヘツド部を具え、前記
テスタ本体と前記テストヘツド部間で測定信号を
授受し、前記テスタ本体から前記テストヘツド部
に対して前記測定用の入出力信号を制御するため
の制御信号を供給するＩＣ試験装置において、 前記テスタ本体の側において、前記テストヘツ
ド部に対して供給する前記制御信号をパラレルデ
ータからシリアルデータに変換するパラレル／シ
リアル変換手段と、 前記テストヘツド部の側において、前記テスタ
本体から与えられた前記シリアルデータをパラレ
ルデータに変換するシリアル／パラレル変換手段
と を具え、パラレルデータに変換された前記制御信
号によつて前記測定信号を制御するようにしたこ
とを特徴とするＩＣ試験装置。 (2) 前記制御信号は、被測定ＩＣのピンに対応
するテスタピンの１ピン毎に複数の制御用の信号
から成る実用新案登録請求の範囲第１項記載のＩ
Ｃ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10186487U JPS648675U (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10186487U JPS648675U (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS648675U true JPS648675U (ja) | 1989-01-18 |
Family
ID=31331245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10186487U Pending JPS648675U (ja) | 1987-07-03 | 1987-07-03 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS648675U (ja) |
-
1987
- 1987-07-03 JP JP10186487U patent/JPS648675U/ja active Pending
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