KR960032016A - 고밀도 인쇄회로기판(pcb)의 오픈 및 쇼트 검사방법 - Google Patents

고밀도 인쇄회로기판(pcb)의 오픈 및 쇼트 검사방법 Download PDF

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KR960032016A
KR960032016A KR1019950004180A KR19950004180A KR960032016A KR 960032016 A KR960032016 A KR 960032016A KR 1019950004180 A KR1019950004180 A KR 1019950004180A KR 19950004180 A KR19950004180 A KR 19950004180A KR 960032016 A KR960032016 A KR 960032016A
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KR1019950004180A
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Inventor
김봉석
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

본 발명은 고밀도 인쇄회로기판의 동박 양측에 검사용 접촉핀을 세우지 않고 한쪽의 동박에만 접촉핀을 세워 동박과 패드의 오픈 및 쇼트를 검사하기 위한 고밀도 인쇄회로기판의 오픈 및 쇼트 검사방법에 관한 것으로, 간격(△t)이 협소한 고밀도 인쇄회로기판(10) 동박(A,B)과 패드(20)(20-1)의 오픈 및 쇼트를 접촉핀(30)에 연결된 저항측정기(40)로 검사하는 방법에 있어서, 상기 동박(A,B)에 전도성물질(60)을 올려놓고 동박(a,b)에 접촉핀(30)(30-1)을 세워 동박(A,B)과 패드(20)(20-1)의 오픈 및 쇼트를 검사하여 동박패드의 불량 발생률을 없애 인쇄회로기판의 품질향상에 기여할 수 있는 것이다.

Description

고밀도 인쇄회로기판(PCB)의 오픈 및 쇼트 검사방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도의 (가)도는 본 발명에 따른 인쇄회로기판 동박과 패드를 검사하기 위한 접촉핀 연결 상태도,
(나)도는 동박(A,B)에 전도성 물질을 접촉시킨 상태도,
(다)도는 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 동박패드를 검사하기 위한 회로도.

Claims (1)

  1. 간격(△t)이 협소한 고밀도 인쇄회로기판(10) 동박(A,B)과 패드(20)(20-1)의 오픈 및 쇼트를 접촉핀(30)에 연결된 저항측정기(40)로 검사하는 방법에 있어서, 상기 동박(A,B)에 전도성물질(60)을 올려놓고 동박(a,b)에 접촉핀(30)(30-1)을 세워 동박(A,B)과 패드(20)(20-1)의 오픈 및 쇼트를 검사함을 특징으로 하는 고 밀도 인쇄회로기판(PCB)의 오픈 및 쇼트 검사방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임
KR1019950004180A 1995-02-28 1995-02-28 고밀도 인쇄회로기판(pcb)의 오픈 및 쇼트 검사방법 Withdrawn KR960032016A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100457332B1 (ko) * 1997-08-19 2005-08-17 삼성전자주식회사 테스트 시스템을 교정검사하기 위한 기준 패키지

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KR100457332B1 (ko) * 1997-08-19 2005-08-17 삼성전자주식회사 테스트 시스템을 교정검사하기 위한 기준 패키지

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Legal Events

Date Code Title Description
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 19950228

PG1501 Laying open of application
PC1203 Withdrawal of no request for examination
WITN Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid