KR970077111A - 투영 노광 장치 - Google Patents
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- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
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- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
Claims (5)
- 감광 기판을 재치(載置)하여 2차원 방향으로 이동 가능한 기판 스테이지와; 마스크 패턴을 상기 감광기판 위에 투영하는 투영 광학계와; 상기 투영 광학계의 광측으로부터 떨어진 위치에 제1검출 영역을 가지고, 상기 감광 기판 위의 얼라인먼트 마크를 검출하는 제1기판 얼라인먼트계와; 상기 투영 광학계의 광측으로부터 떨어진 상기 제1검출 영역과 다른 위치에 제2검출 영역을 가지고, 상기 감광 기판 위의 얼라인먼트 마크를 검출하는 제2기판 얼라인먼트계와; 상기 제1기판 얼라인먼트계에서 검출할 수 있는 기준 마크를 가지고, 상기 기판 스테이지 위에 설치되는, 상기 제1기판 얼라인먼트계용의 제1기준 부재와; 상기 제2기판 얼라인먼트계에서 검출할 수 있는 기준 마크를 가지고, 상기 기판 스테이지 위에서 상기 제1기준 부재와는 다른 위치에 설치되는, 상기 제2기판 얼라인먼트계용 제2기준 부재;를 구비한 것을 특징으로 하는 투영 노광 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 기판 스테이지에서의 상기 제1기준 부재 및 상기 제2기준 부재의 간격은, 상기 제1검출 영역 및 상기 제2검출 영역의 간격에 맞추어 결정되는 것을 특징으로 하는 투영 노광 장치.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 기판 스테이지 위에서의 제1기준 부재 및 제2기준 부재의 간격은, 상기 제1검출 영역 및 상기 제2검출 영역의 간격보다 짧은 것을 특징으로 하는 투영 노광 장치.
- 제1항, 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 제1검출 영역 및 제2검출 영역은, 각각 상기 투영 광학계의 투영 시야의 외측으로 설정되는 것을 특징으로 하는 투영 노광 장치.
- 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 기준 부재는, 상기 기판 스테이지에 대해 승강 가능하도록 설치되는 것을 특징으로 하는 투영 노광 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
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| JP116249/1996 | 1996-05-10 | ||
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