KR970077752A - 전력 스위칭 소자 - Google Patents
전력 스위칭 소자 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970077752A KR970077752A KR1019960018831A KR19960018831A KR970077752A KR 970077752 A KR970077752 A KR 970077752A KR 1019960018831 A KR1019960018831 A KR 1019960018831A KR 19960018831 A KR19960018831 A KR 19960018831A KR 970077752 A KR970077752 A KR 970077752A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- semiconductor layer
- cathode
- type semiconductor
- type
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D8/00—Diodes
- H10D8/80—PNPN diodes, e.g. Shockley diodes or break-over diodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D8/00—Diodes
- H10D8/411—PN diodes having planar bodies
Landscapes
- Thyristors (AREA)
Abstract
Description
Claims (3)
- 애노드와, 상기 애노드에 순차적으로 접합된 제1p형 반도체층, 제1n형 반도체층, 제2p형 반도체층 및 제2n형 반도체층과, 상기 제2p형 반도체층에 접속된 게이트와, 상기 제2n형 반도체층의 일부에 접속된 주사이리스터용 제1캐소드와, 상기 제1캐소드와 상기 게이트 사이에 형성되고 상기 제2n형 반도체층에 접속되는 보조 사이리스터용 제2캐소드로 구성된 전력 스위칭 소자에 있어서, 상기 제1캐소드에 접속된 제2n형 반도체층은 상기 게이트 방향에 대하여 요철모양으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전력 스위칭 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 제2캐소드에 접속된 제2n형 반도체층은 상기 제1캐소드 방향에 대하여 요철모양으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 전력 위칭 소자.
- 제1전도형의 제1반도체층; 상기 제1반도체층의 배면에 형성된 애노드; 상기 제1전도형의 반도체층 상에 형성된 제2전도형의 제2반도체층; 상기 제2전도형의 반도체층 상에 형성된 제1전도형의 제3반도체층에; 상기 제3반도체층의 중심부의 표면상에 형성된 게이트전극; 상기 게이트전극의 둘레의 제3반도체층 상에 동심원상으로 형성된 복수의 보조 캐소드들; 상기 복수의 보조 캐소드들의 외측의 상기 제3반도체층의 표면상에 형성된 주캐소드; 상기 주캐소드를 마주보는 측이 요철모양으로 되도록 상기 복수의 보조 캐소드들의 각 캐소드의 하방의 상기 제3반도체층의 표면 근방에 형성된 제2전도형의 제4반도체층; 및 상기 게이트전극을 마주보는 측이 요철모양으로 되도록 상기 주캐소드의 하방의 상기 제3반도체층의 표면근방에 형성된 제2전도형의 제5반도체층을 구비하는 것을 특징으로 하는 전력 스위칭 소자.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개되는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960018831A KR100198995B1 (ko) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | 전력 스위칭 소자 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019960018831A KR100198995B1 (ko) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | 전력 스위칭 소자 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970077752A true KR970077752A (ko) | 1997-12-12 |
| KR100198995B1 KR100198995B1 (ko) | 1999-07-01 |
Family
ID=19460243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019960018831A Expired - Fee Related KR100198995B1 (ko) | 1996-05-30 | 1996-05-30 | 전력 스위칭 소자 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100198995B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100816409B1 (ko) * | 2006-07-07 | 2008-03-25 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 반도체장치 |
-
1996
- 1996-05-30 KR KR1019960018831A patent/KR100198995B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100816409B1 (ko) * | 2006-07-07 | 2008-03-25 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 반도체장치 |
| US7745906B2 (en) | 2006-07-07 | 2010-06-29 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor device having spaced unit regions and heavily doped semiconductor layer |
| US7902634B2 (en) | 2006-07-07 | 2011-03-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor device |
| US8008746B2 (en) | 2006-07-07 | 2011-08-30 | Mitsubishi Electric Corporation | Semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR100198995B1 (ko) | 1999-07-01 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6457674A (en) | Conductivity-modulation mosfet | |
| KR970024165A (ko) | 반도체 집적 회로 및 그 제조 방법(A Semiconductor Integrated Circuit and Its Fabricating Method) | |
| JPH0534834B2 (ko) | ||
| JPH02156684A (ja) | 複合型ダイオード装置 | |
| JPH09116152A (ja) | パワー半導体素子 | |
| US5986289A (en) | Surface breakdown bidirectional breakover protection component | |
| JPH0560263B2 (ko) | ||
| JPH03225960A (ja) | 半導体デバイス | |
| US5594261A (en) | Device for isolating parallel sub-elements with reverse conducting diode regions | |
| KR970077752A (ko) | 전력 스위칭 소자 | |
| US20220376094A1 (en) | Insulated gate bipolar transistor | |
| KR940006281A (ko) | 반도체 장치 | |
| US4825270A (en) | Gate turn-off thyristor | |
| JP2724204B2 (ja) | 導電変調型mosfet | |
| US7053404B2 (en) | Active semiconductor component with an optimized surface area | |
| JP2504609B2 (ja) | 半導体装置 | |
| KR940022888A (ko) | 반도체장치 | |
| JPH042169A (ja) | 横形伝導度変調型半導体装置 | |
| JPH04287373A (ja) | ゲートターンオフサイリスタ | |
| JPS5933988B2 (ja) | 静電誘導形サイリスタ | |
| JPH05145064A (ja) | ゲートターンオフサイリスタ | |
| JPH06503923A (ja) | 高電圧構成素子 | |
| JPS58114469A (ja) | ダイオ−ドアレイ | |
| JPS6252967A (ja) | Gtoサイリスタ | |
| JP2502696B2 (ja) | 半導体集積回路装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20040227 Year of fee payment: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20050304 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20050304 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |