MA39558A1 - Procédé pour correction automatique de l'astigmatisme - Google Patents
Procédé pour correction automatique de l'astigmatismeInfo
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- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 title abstract 2
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 abstract 4
Classifications
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- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
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- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
- H01J37/153—Electron-optical or ion-optical arrangements for the correction of image defects, e.g. stigmators
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/153—Correcting image defects, e.g. stigmators
- H01J2237/1532—Astigmatism
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/22—Treatment of data
- H01J2237/221—Image processing
- H01J2237/223—Fourier techniques
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Abstract
La présente invention porte sur un procédé qui permet de corriger automatiquement l'astigmatisme d'un système de lentille. Une première image (96) est utilisée, celle-ci n'étant pas au point au niveau d'un premier réglage par stigmateur d'un ensemble de lentilles. Un dispositif de calcul calcule une première image de spectre de fourier correspondante (312). Une distribution et une direction de pixels de l'image de spectre de fourier (128, 130, 312) sont déterminées par calcul d'un premier vecteur (132) et d'un deuxième vecteur (134). Le premier vecteur (132) est comparé au second vecteur (134). Le système de lentille est changé depuis un premier réglage par stigmateur à un second réglage de stigmateur pour fournir une seconde image (98). Une image de spectre de fourier (314) correspondante est calculée. La distribution et la direction de pixels de la seconde image de spectre de fourier (314) sont déterminées par le calcul d'un troisième vecteur et d'un quatrième vecteur. Le troisième vecteur est comparé au quatrième vecteur. L'image qui présente le rapport de vecteur le plus faible est sélectionnée.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201462027505P | 2014-07-22 | 2014-07-22 | |
| PCT/US2015/036117 WO2016014177A1 (fr) | 2014-07-22 | 2015-06-17 | Procédé pour correction automatique de l'astigmatisme |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MA39558A1 true MA39558A1 (fr) | 2018-09-28 |
| MA39558B1 MA39558B1 (fr) | 2020-03-31 |
Family
ID=55163506
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MA39558A MA39558B1 (fr) | 2014-07-22 | 2015-06-17 | Procédé pour correction automatique de l'astigmatisme |
Country Status (23)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9711323B2 (fr) |
| EP (1) | EP3172757B1 (fr) |
| JP (1) | JP6684717B2 (fr) |
| KR (1) | KR102193285B1 (fr) |
| CN (1) | CN106062917B (fr) |
| AP (1) | AP2016009363A0 (fr) |
| AU (1) | AU2015294547B2 (fr) |
| BR (1) | BR112016026681B1 (fr) |
| CA (1) | CA2934972C (fr) |
| CL (1) | CL2016002175A1 (fr) |
| DK (1) | DK3172757T3 (fr) |
| EA (1) | EA035058B1 (fr) |
| ES (1) | ES2776453T3 (fr) |
| HU (1) | HUE048003T2 (fr) |
| IL (1) | IL247695B (fr) |
| MA (1) | MA39558B1 (fr) |
| MX (1) | MX2017000334A (fr) |
| MY (1) | MY181462A (fr) |
| PL (1) | PL3172757T3 (fr) |
| PT (1) | PT3172757T (fr) |
| SG (1) | SG11201606864WA (fr) |
| UA (1) | UA121864C2 (fr) |
| WO (1) | WO2016014177A1 (fr) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12073541B2 (en) * | 2019-08-09 | 2024-08-27 | The Board Of Regents Of The University Of Texas System | Methods for high-performance electron microscopy |
| CN111477529B (zh) * | 2020-05-19 | 2024-05-14 | 桂林狮达技术股份有限公司 | 自动消像散电子枪及电子枪自动消像散方法 |
| CN112924477B (zh) * | 2021-01-23 | 2022-02-11 | 北京大学 | 电镜定量消除像散的方法 |
| EP4191637A1 (fr) * | 2021-12-02 | 2023-06-07 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Procédé automatique de mise au point et de correction d'astigmatisme pour un microscope électronique |
| EP4531072A1 (fr) * | 2023-09-28 | 2025-04-02 | ASML Netherlands B.V. | Procédé d'évaluation d'un faisceau de particules chargées et procédé d'évaluation d'une matrice de faisceaux |
| CN117612018B (zh) * | 2024-01-23 | 2024-04-05 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 用于光学遥感载荷像散的智能判别方法 |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4180738A (en) * | 1977-07-30 | 1979-12-25 | National Research Development Corporation | Astigmatism in electron beam probe instruments |
| JPS5775473U (fr) * | 1980-10-24 | 1982-05-10 | ||
| DE3587871T2 (de) * | 1984-12-10 | 1994-10-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | Verfahren zur Feststellung eines Fokussierungsfehlers eines elektronen-mikroskopischen Bildes. |
| JPH07220669A (ja) * | 1994-01-31 | 1995-08-18 | Jeol Ltd | 非点・入射軸補正装置を備えた電子顕微鏡 |
| JP3340327B2 (ja) * | 1996-09-30 | 2002-11-05 | 株式会社東芝 | 非点収差補正方法及び非点収差補正装置 |
| US20060060781A1 (en) * | 1997-08-11 | 2006-03-23 | Masahiro Watanabe | Charged-particle beam apparatus and method for automatically correcting astigmatism and for height detection |
| JP4069545B2 (ja) * | 1999-05-19 | 2008-04-02 | 株式会社日立製作所 | 電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 |
| US6552340B1 (en) * | 2000-10-12 | 2003-04-22 | Nion Co. | Autoadjusting charged-particle probe-forming apparatus |
| JP3951590B2 (ja) * | 2000-10-27 | 2007-08-01 | 株式会社日立製作所 | 荷電粒子線装置 |
| JP3645198B2 (ja) * | 2001-06-15 | 2005-05-11 | 独立行政法人理化学研究所 | 電子顕微鏡及びその焦点位置制御方法 |
| KR101060982B1 (ko) * | 2003-11-28 | 2011-08-31 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 방법 및 디바이스 제조 방법, 노광 장치, 그리고 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독가능 기록 매체 |
| WO2006078687A2 (fr) * | 2005-01-19 | 2006-07-27 | Optopo Inc. D/B/A. Centice Corporation | Codage d'ouverture en deux dimensions statique pour spectroscopie multiplexe multimodale |
| US7619220B2 (en) * | 2005-11-30 | 2009-11-17 | Jeol Ltd. | Method of measuring aberrations and correcting aberrations using Ronchigram and electron microscope |
| JP4790567B2 (ja) * | 2005-11-30 | 2011-10-12 | 日本電子株式会社 | ロンチグラムを用いた収差測定方法及び収差補正方法及び電子顕微鏡 |
| JP2010504129A (ja) * | 2006-09-22 | 2010-02-12 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 肺結節の高度コンピュータ支援診断 |
| EP2511936B1 (fr) * | 2011-04-13 | 2013-10-02 | Fei Company | Correction d'astigmatisme sans distorsion d'un TEM |
| EP2584584A1 (fr) * | 2011-10-19 | 2013-04-24 | FEI Company | Procédé d'ajustement d'un METB équipé d'un correcteur d'aberrations |
-
2015
- 2015-06-17 DK DK15824198.4T patent/DK3172757T3/da active
- 2015-06-17 AP AP2016009363A patent/AP2016009363A0/en unknown
- 2015-06-17 SG SG11201606864WA patent/SG11201606864WA/en unknown
- 2015-06-17 UA UAA201613146A patent/UA121864C2/uk unknown
- 2015-06-17 KR KR1020167032232A patent/KR102193285B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2015-06-17 EA EA201600651A patent/EA035058B1/ru not_active IP Right Cessation
- 2015-06-17 MY MYPI2016703717A patent/MY181462A/en unknown
- 2015-06-17 US US15/124,099 patent/US9711323B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2015-06-17 PL PL15824198T patent/PL3172757T3/pl unknown
- 2015-06-17 CA CA2934972A patent/CA2934972C/fr active Active
- 2015-06-17 HU HUE15824198A patent/HUE048003T2/hu unknown
- 2015-06-17 CN CN201580006977.7A patent/CN106062917B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2015-06-17 MX MX2017000334A patent/MX2017000334A/es active IP Right Grant
- 2015-06-17 JP JP2016555328A patent/JP6684717B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2015-06-17 PT PT158241984T patent/PT3172757T/pt unknown
- 2015-06-17 WO PCT/US2015/036117 patent/WO2016014177A1/fr not_active Ceased
- 2015-06-17 EP EP15824198.4A patent/EP3172757B1/fr active Active
- 2015-06-17 MA MA39558A patent/MA39558B1/fr unknown
- 2015-06-17 AU AU2015294547A patent/AU2015294547B2/en not_active Ceased
- 2015-06-17 BR BR112016026681-1A patent/BR112016026681B1/pt not_active IP Right Cessation
- 2015-06-17 ES ES15824198T patent/ES2776453T3/es active Active
-
2016
- 2016-08-30 CL CL2016002175A patent/CL2016002175A1/es unknown
- 2016-09-08 IL IL247695A patent/IL247695B/en active IP Right Grant
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