MD3984G2 - Оперативная память с компактным самотестированием - Google Patents

Оперативная память с компактным самотестированием Download PDF

Info

Publication number
MD3984G2
MD3984G2 MDA20080195A MD20080195A MD3984G2 MD 3984 G2 MD3984 G2 MD 3984G2 MD A20080195 A MDA20080195 A MD A20080195A MD 20080195 A MD20080195 A MD 20080195A MD 3984 G2 MD3984 G2 MD 3984G2
Authority
MD
Moldova
Prior art keywords
line memory
group
testing
compact self
input
Prior art date
Application number
MDA20080195A
Other languages
English (en)
Romanian (ro)
Other versions
MD3984F1 (en
Inventor
Генадие БОДЯН
Original Assignee
Генадие БОДЯН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Генадие БОДЯН filed Critical Генадие БОДЯН
Priority to MDA20080195A priority Critical patent/MD3984G2/ru
Publication of MD3984F1 publication Critical patent/MD3984F1/xx
Publication of MD3984G2 publication Critical patent/MD3984G2/ru

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

Изобретение относится к вычислительной технике и микро-электронике и может быть применено при производстве и эксплуатации микросхем со встроенными компактными средствами тестирования и диагностирования.Устройство содержит тактовый регистр (1), счетчик (2), оперативную память (3), группу триггеров (4.1 и 4.2), сумматор XOR (5), вход сброса (6), синхровход (7), индикаторный выход (8), группу мултиплексоров (9.1 и 9.2), логический элемент OR (10), группу логических элементов XOR (11.1 и 11.2), дополнительный мултиплексор (12), вход выбора (13) и пару инвертирующих входов (14).
MDA20080195A 2008-07-14 2008-07-14 Оперативная память с компактным самотестированием MD3984G2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080195A MD3984G2 (ru) 2008-07-14 2008-07-14 Оперативная память с компактным самотестированием

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080195A MD3984G2 (ru) 2008-07-14 2008-07-14 Оперативная память с компактным самотестированием

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MD3984F1 MD3984F1 (en) 2009-11-30
MD3984G2 true MD3984G2 (ru) 2010-06-30

Family

ID=43568832

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MDA20080195A MD3984G2 (ru) 2008-07-14 2008-07-14 Оперативная память с компактным самотестированием

Country Status (1)

Country Link
MD (1) MD3984G2 (ru)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RO102023A2 (ro) * 1988-05-30 1991-11-25 Institutul De Cercetare Stiintifica Si Inginerie Tehnologica Pentru Electrotehnica, Bucuresti, Ro Metoda si circuit electronic pentru controlul memoriilor semiconductoare, dinamice
SU1695394A1 (ru) * 1988-12-27 1991-11-30 Предприятие П/Я Р-6082 Запоминающее устройство с тестовым самоконтролем
MD1240G2 (ru) * 1998-07-22 1999-10-31 Генадие БОДЯН Метод тестирования оперативного запоминающего устройства
MD2088G2 (ru) * 2001-04-20 2003-08-31 Генадие БОДЯН Устройство псевдокольцевого диагностирования оперативной памяти
MD2292G2 (ru) * 2002-12-31 2004-05-31 Генадие БОДЯН Двухпортовая оперативная память с самотестированием
MD3870F1 (en) * 2007-03-06 2009-03-31 Ghenadie Bodean On-line storage with signature self-testing and analysis

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RO102023A2 (ro) * 1988-05-30 1991-11-25 Institutul De Cercetare Stiintifica Si Inginerie Tehnologica Pentru Electrotehnica, Bucuresti, Ro Metoda si circuit electronic pentru controlul memoriilor semiconductoare, dinamice
SU1695394A1 (ru) * 1988-12-27 1991-11-30 Предприятие П/Я Р-6082 Запоминающее устройство с тестовым самоконтролем
MD1240G2 (ru) * 1998-07-22 1999-10-31 Генадие БОДЯН Метод тестирования оперативного запоминающего устройства
MD2088G2 (ru) * 2001-04-20 2003-08-31 Генадие БОДЯН Устройство псевдокольцевого диагностирования оперативной памяти
MD2292G2 (ru) * 2002-12-31 2004-05-31 Генадие БОДЯН Двухпортовая оперативная память с самотестированием
MD3870F1 (en) * 2007-03-06 2009-03-31 Ghenadie Bodean On-line storage with signature self-testing and analysis

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
I. Klistorin, Gh. Bodean, O. Didenco. Defectările multiple RAM şi implementarea metodei de testare pseudoinelară. Chişinău, Acta Academia, 1997, p. 264 *
Klistorin I., Bodean Gh., Didenco O. Defectările multiple RAM şi implementarea metodei de testare pseudoinelară. Chişinău, Acta Academia, 1997, p. 264 *

Also Published As

Publication number Publication date
MD3984F1 (en) 2009-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Armstrong et al. American College of Sports Medicine position stand. Exertional heat illness during training and competition.
JP2010531002A5 (ru)
Moore et al. Balanced self-checking asynchronous logic for smart card applications
TWI373621B (en) Device for jitter measurement and method thereof
JP2010531000A5 (ru)
US8612815B2 (en) Asynchronous circuit with an at-speed built-in self-test (BIST) architecture
ATE465453T1 (de) Dma-übertragung von datensätzen und ein exklusives oder (xor) der datensätze
Deutsch et al. Massive signal tracing using on-chip DRAM for in-system silicon debug
TW200513655A (en) Self-heating burn-in
ATE436137T1 (de) Erkennung eines gleichzeitigen auftretens eines ereignisses an mehreren einrichtungen
TW200737739A (en) Concurrent code checker and hardware efficient high-speed I/O having built-in self-test and debug features
MD3984G2 (ru) Оперативная память с компактным самотестированием
MD3870G2 (ru) Оперативная память с самотестированием и анализом сигнатур
Knichel et al. The risk of outsourcing: Hidden SCA trojans in third-party IP-cores threaten cryptographic ICs
Liu et al. A low-overhead and high-reliability physical unclonable function (PUF) for cryptography
MD2292G2 (ru) Двухпортовая оперативная память с самотестированием
Crouch et al. Fpga-based embedded tester with a p1687 command, control, and observe-system
DE602005012266D1 (de) Schaltungsanordnung und verfahren zum prüfen einerdungsschaltung
Voyiatzis et al. On the generation of SIC pairs in optimal time
Tsai et al. A chip architecture for compressive sensing based detection of IC trojans
Dadgour et al. A built-in aging detection and compensation technique for improving reliability of nanoscale CMOS designs
TW201334420A (zh) 決定延遲線結構之量測初始化的量測初始化路徑，以及於延遲線結構執行量測初始化的方法
MD2088F1 (en) Device for on-line storage pseudoannular diagnostication
MD1995G2 (ru) Оперативная память с самотестированием
JP2007305126A (ja) 状態回復を有する回路エミュレーション

Legal Events

Date Code Title Description
FG4A Patent for invention issued
KA4A Patent for invention lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration)
MM4A Patent for invention definitely lapsed due to non-payment of fees