PL183355B1 - Sposób suszenia powierzchni podłoża - Google Patents
Sposób suszenia powierzchni podłożaInfo
- Publication number
- PL183355B1 PL183355B1 PL96325121A PL32512196A PL183355B1 PL 183355 B1 PL183355 B1 PL 183355B1 PL 96325121 A PL96325121 A PL 96325121A PL 32512196 A PL32512196 A PL 32512196A PL 183355 B1 PL183355 B1 PL 183355B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- substrate
- liquid
- liquid bath
- solution
- aqueous
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment
- H10P72/0406—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H10P72/0408—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for drying
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
- H10P72/04—Apparatus for manufacture or treatment
- H10P72/0402—Apparatus for fluid treatment
- H10P72/0406—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H10P72/0411—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H10P72/0416—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
Landscapes
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Drying Of Solid Materials (AREA)
- Silicon Compounds (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Detergent Compositions (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
- Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
Abstract
1. Sposób suszenia powierzchni podloza, w któ- rym zanurza sie podloze w cieklej kapieli, nastepnie nad powierzchnia cieklej kapieli przepuszcza sie gaz rozpuszczalny w cieczy, który rozpuszczony w cieczy obniza napiecie powierzchniowe tej cieczy; po czym oddziela sie podloze i ciecz z szybkoscia, przy której róznica napiecia powierzchniowego miedzy ciecza majaca pierwsza wielkosc stezenia rozpuszczonego gazu przy powierzchni podloza i ciecza majaca nizsze stezenie rozpuszczonego gazu w miejscu odleglym od powierzchni podloza powoduje osuszenie podloza poprzez oddzielenie, znamienny tym, ze w cieklej kapieli (2) stosuje sie ciecz zawierajaca wodny roz- twór HF (3) oraz stosuje sie gaz zawierajacy miesza- nine O 2 / O 3 . PL PL PL PL PL PL PL
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób suszenia powierzchni podłoża-materiałów takich jak półprzewodniki, ceramika, metale, szkło, tworzywa sztuczne a w szczególności półprzewodnikowych płytek krzemowych i krążków laserowych, obejmujących zanurzanie podłoża w ciekłej kąpieli i suszenie jego powierzchni w czasie wyjmowania z kąpieli.
Podczas produkcji urządzeń elektronicznych krzem, stosowany zwykle w postaci monokrystalicznych płytek krzemowych, jest bardzo zanieczyszczony lub jest uszkadzany w następstwie cięcia, polerowania, nanoszenia lakieru lub podobnych procesów obróbczych. Z tego powodu, krzem oczyszcza się zwykle w wielu etapach, zwykle prowadzonych w ciekłych kąpielach. Różne obróbki chemiczne sązwykle efektywne selektywnie dla różnych typów zanieczyszczeń (takich jak cząstek, powłok organicznych, funkcyjnych grup organicznych Si-CR3 lub grup metali, które wykazują podobne chemiczne oddziaływanie pomiędzy sobą). Chemiczne procesy obróbcze sązwykle obróbcze sązwykle oddzielone od siebie etapami płukania, w celu uwolnienia powierzchni krzemu od chemikaliów i umknięcia mieszania chemikaliów. Ważna jest bardzo wysoka czystość wody, w celu zminimalizowania ryzyka ponownego zanieczyszczenia metalami przy neutralnym odczynie pH. Krzem jest narażony na ponowne zanieczyszczenie, zanieczyszczeniami takimi jak cząsteczki lub metale, takiego rodzaju jakie były usuwane w poprzednim etapie czyszczenia ze względu na zanieczyszczenia obecne w następnych etapach płukania lub w chemikaliach, takich jak stabilizatory dla H2O2, stosowane w dalszych etapach obróbki. Całkowita procedura czyszczenia jest kończona etapem suszenia.
Znanych jest wiele różnych sposobów suszenia powierzchni krzemu. Te sposoby suszenia obejmują odwirowywanie do sucha siłami odśrodkowymi i suszenie rozpuszczalnikami, takimi jak trójchloroetanol lub chlorek metylenu. Istnieją następnie techniki suszenia za pomocą gorącego powietrza, gorącej wody lub alkoholu izopropylowego. Jednąz niedogodności tych popularnych sposobów suszenia jest wywołanie ogromnych naprężeń w półprzewodnikowej płytce krzemowej na skutek działania sił mechanicznych. Wskutek tego, występuje wysokie niebezpieczeństwo uszkodzenia krawędzi a ponadto możliwe jest powstawanie cząsteczek spowodowane przez ruch półprzewodnikowych płytek krzemowych wobec środka przenoszącego. W ekstremalnym przypadku, szczególnie dla cienkich płytek krzemowych lub po obróbce termicznej, to naprężenie może prowadzić do pękania płytek, powodując w ten sposób niszczenie gotowych suszonych elementów półprzewodnikowych i zanieczyszczanie cząsteczkami sąsiednich płytek otaczających.
Te sposoby suszenia mogą także prowadzić do wysokich kosztów operacyjnych, spowodowanych stosowaniem drogich chemikaliów, które wymagają unieszkodliwiania. Dodatkowo jednąz niedogodności dla wszystkich wyżej wymienionych sposobów jest niebezpieczeństwo ponownego zanieczyszczenia metalami czyszczonych powierzchni podczas procesów suszenia.
183 355
Znane sposoby suszenia krzemu opisane są w artykule „Ultraczyste suszenie Marangoni w gazach i cieczach 3”, w „Cząstki w gazach i cieczach 3: Wykrywanie, parametry i kontrola” wydanym przez K.L. Mittal, Plenum Press, Nowy Jork 1993, str. 269-282. Sposób opisany w tym artykule wymaga zanurzania płytek krzemowych w kąpielach wodnych a następnie usuwanie płytek krzemowych z kąpieli wodnych przez dodawanie mieszaniny alkoholu izopropylowego i azotu nad powierzchnię kąpieli. Alkohol izopropylowy rozpuszczalny jest w wodzie, zaś rozpuszczony w wodzie, obniża napięcie powierzchniowe. Znana procedura suszenia oparta jest na tak zwanej zasadzie Marangoni lub efekcie Marangoni. Podstawą tej zasady jest to, że podczas wyciągania krzemowej płytki półprzewodnikowej z kąpieli wodnej na powierzchni lekko zakrzywionej do góry między powierzchnią krzemu i powierzchnią wody występuje wyższe stężenie alkoholu izopropylowego, aniżeli na powierzchni wody oddalonej od powierzchni krzemu. Wyższe stężenie alkoholu izopropylowego w obszarze między powierzchnią krzemu i powierzchnią wody powoduje niższe napięcie powierzchniowe w tym obszarze aniżeli dla pozostałej powierzchni wody. Ten gradient napięcia powierzchniowego powoduje odpływanie wody z powierzchni krzemu do pozostałej powierzchni wody, co daje w wyniku suszenie powierzchni krzemu. Niedogodnością tego sposobu jest zanieczyszczenie wody metalicznymi zanieczyszczeniami, co powoduje także zanieczyszczenie powierzchni krzemu metalami. Dalej może występować pozostawanie pozostałości organicznej na powierzchni, spowodowanej przez alkohol izopropylowy. Zatem istnieje potrzeba opracowania sposobów suszenia powierzchni krzemu bez zanieczyszczania jej metalami i/lub innymi zanieczyszczeniami.
W europejskim opisie patentowym EP 0 385 536-A1 przedstawiono sposób suszenia podłoża, z wykorzystaniem efektu Marangoni, polegający na tym, że ciekła kąpiel zawiera wodę a gaz dodawany nad powierzchnię ciekłej kąpieli stanowi rozpuszczalnik organiczny. Wadę tego znanego sposobu stanowi to, że metaliczne zanieczyszczenia wody nieuchronnie prowadzą do zanieczyszczenia powierzchni podłoża metalami. Ponadto nie można wykluczyć w nim organicznych pozostałości na powierzchni.
Według opisu WO 95/08406 nie wykorzystuje się zupełnie efektu Marangoni, lecz prowadzi się czyszczenie i suszenie półprzewodnikowych płytek w kąpieli zawierającej dwie warstwy, przy czym dolną warstwę stanowi roztwór wodny, a górną warstwę stanowi roztwór organiczny. Do roztworu wodnego wdmuchiwany jest ozon, a półprzewodnikowa płytka jest wyciągana z kąpieli czyszczącej przez obydwie warstwy. Po etapie czyszczenia może następować dodatkowy etap utleniania.
Celem wynalazku jest zatem opracowanie sposobu suszenia powierzchni podłoża, zapewniającego uzyskanie wysokiego stopnia czystości czyszczonych powierzchni oraz skuteczne suszenie podłoża wraz z równoczesnym czyszczeniem powierzchni w nieskomplikowany sposób.
Sposób suszenia powierzchni, w którym zanurza się podłoże w ciekłej kąpieli, następnie nad powierzchnią ciekłej kąpieli przepuszcza się gaz rozpuszczalny w cieczy, który rozpuszczony w cieczy obniża napięcie powierzchniowe tej cieczy; po czym oddziela się podłoże i ciecz z szybkością przy której różnica napięcia powierzchniowego między cieczą mającą pierwszą wielkość stężenia rozpuszczonego gazu przy powierzchni podłoża i cieczą mającą niższe stężenie rozpuszczonego gazu w miejscu odległym od powierzchni podłoża powoduje osuszanie podłoża poprzez oddzielenie, według wynalazku charakteryzuje się tym, że w ciekłej kąpieli stosuje się ciecz zawierającą wodny roztwór HF oraz stosuje się gaz zawierający mieszaninę O2/O3.
Korzystnie, w sposobie według wynalazku stosuje się ciecz w ciekłej kąpieli zawierającą wodny roztwór HF o stężeniu między około 0,001 % a około 50%. W wodnym roztworze stosuje się HF o stężeniu między około 0,01 a około 0,1%. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krzem. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał ceramiczny względnie materiał szklany. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał z tworzywa sztucznego. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał metalowy. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krążek laserowy.
Korzystnie, w sposobie według wynalazku oddziela się podłoże od ciekłej kąpieli zawierającej wodny roztwór HF wyciągając podłoże z ciekłej kąpieli. Oddziela się podłoże od ciekłej
183 355 kąpieli spuszczając ciecz z ciekłej kąpieli. Stosuje się ciekłą kąpiel z wodnym roztworem HF zawierającą przynajmniej jeden dodatek, wybrany z grupy składającej się z; kwasów, kwasów organicznych, środków powierzchniowo czynnych i stałych dodatków. Stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas, wybrany z grupy obejmującej HC1, H3PO4, H2SO4, HC1O, HC1O2, HC1O3 i HC1O4. Stosuje się roztwór wodny zawierający mieszaninę kwasów, wybranych z grupy składającej się z HC1/H2PO4, HC1/H3PO4, H3PO4/H2SO4 i H3PO4/HC1/H2SO4. Kwas dodaje się do uzyskania stężenia do 50% wag. Stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas organiczny, wybrany z grupy obejmującej, kwas mrówkowy, kwas octowy i kwas cytrynowy, przy czym kwas organiczny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 80% wag. Środek powierzchniowo czynny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 5% wag.
Korzystnie, w sposobie według wynalazku jako stały dodatek stosuje się NH4F, przy czym stały dodatek dodaje się do uzyskania końcowego stężenia do około 50% wag.
Sposób według wynalazku prowadzi się w temperaturze między 0 a 100 stopni Celsjusza, korzystnie sposób ten prowadzi się w temperaturze między 20 a 50 stopni Celsjusza.
W sposobie według wynalazku stosuje się mieszaninę O2/O3 z udziałem O3 wynoszącym między 1 mg a 0,5 g na litr mieszaniny fazowej O2/O3.
Druga postać wykonania sposobu suszenia powierzchni podłoża, w którym zanurza się podłoże w ciekłej kąpieli, po czym oddziela się podłoże od ciekłej kąpieli, przy czym podłoże oddziela się od kąpieli z szybkością, umożliwiającą cieczy z kąpieli spływanie z hydrofobowej powierzchni podłoża dając suche podłoże o powierzchni hydrofobowej, według wynalazku charakteryzuje się tym, że w ciekłej kąpieli stosuje się ciecz zawierającą wodny roztwór HF oraz gaz zawierający mieszaninę O2/O3 tworzący hydrofilową powierzchnię na podłożu, przy czym gaz ten kieruje się nad powierzchnią podłoża po oddzieleniu podłoża od ciekłej kąpieli.
Korzystnie, w drugiej postaci wykonania sposobu według wynalazku oddziela się od powierzchni wodnego roztworu HF z szybkością wynoszącą między około 0,1 cm/sekundę a około 20 cm/sekundę. Podłoże oddziela się od powierzchni wodnego roztworu HF z szybkością wynoszącąmiędzy około 0,5 cm/sekundę a około 3,0 cm/sekundę. Stosuje się ciecz w ciekłej kąpieli zawierającą wodny roztwór HF o stężeniu między około 0,001% a około 50%. W wodnym roztworze stosuje się HF o stężeniu między około 0,01 a około 0,1%. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krzem. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał ceramiczny względnie materiał szklany. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał z tworzywa sztucznego. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał metalowy. W ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krążek laserowy. Oddziela się podłoże od ciekłej kąpieli zawierającej wodny roztwór HF wyciągając podłoże z ciekłej kąpieli. Oddziela się podłoże od ciekłej kąpieli spuszczając ciecz z ciekłej kąpieli. Stosuje się ciekłą kąpiel z wodnym roztworem HF zawierającą przynajmniej jeden dodatek, wybrany z grupy składającej się z; kwasów, kwasów organicznych, środków powierzchniowo czynnych i stałych dodatków. Stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas, wybrany z grupy obejmującej; HC1, H3PO4, H2SO4, HC1O, HCLO2, HC1O3 i HC1O4. Stosuje się roztwór wodny zawierający mieszaninę kwasów, wybranych z grupy składającej się z HC1/H2PO4, HC1/H3PO4, H3PO4/H2SO4 i H3PO4/HC1/H2SO4. Kwas dodaje się do uzyskania stężenia do 50% wag. Stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas organiczny, wybrany z grupy obejmującej; kwas mrówkowy, kwas octowy i kwas cytrynowy. Kwas organiczny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 80% wag. Środek powierzchniowo czynny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 5% wag. Jako stały dodatek stosuje się NH4F. Stały dodatek dodaje się do uzyskania końcowego stężenia do około 50% wag. Sposób prowadzi się w temperaturze między 0 a 100 stopni Celsjusza, korzystnie sposób prowadzi się w temperaturze między 20 a 50 stopni Celsjusza. Stosuje się mieszaninę O2/O3 z udziałem O3 wynoszącym między 1 mg a 0,5 g na litr mieszaniny gazowej O2/O3.
Sposoby suszenia powierzchni podłoża według wynalazku zapewniajączystość czyszczonych powierzchni i efektywne ich suszenie. Wynalazek nadaje się do stosowania, do powierzchni z wielu materiałów, obejmujących półprzewodniki, metale szczególnie aluminium, tworzywa sztuczne, szkło i ceramikę. Wynalazek jest szczególnie przydatny do suszenia i czyszczenia łase
183 355 rowych krążków i półprzewodnikowych płytek krzemowych. Jest zrozumiałe, że wynalazek jest przydatny do suszenia podłoży o dowolnej postaci fizycznej, szczególnie w postaci płytek półprzewodnikowych, płyt lub krążków.
Przedmiotem wynalazku jest sposób suszenia powierzchni podłoża, polegający na tym, że podłoże zanurza się w ciekłej kąpieli i następnie oddziela się go od cieczy stosując dostarczanie gazu nad powierzchnię cieczy, gazu rozpuszczalnego w cieczy i obniżającego jej napięcie powierzchniowe. Na przykład, półprzewodnikowa płytka krzemowa może być suszona po usuwaniu z ciekłej kąpieli, zawierającej wodny roztwór HF o stężeniu między 0,001% a 50% przez dostarczanie mieszaniny gazowej O2/O3 nad powierzchnią wodnego roztworu HF.
W drugiej postaci wykonania sposobu suszenia powierzchni podłoża, podłoże jest zanurzone w ciekłej kąpieli a następnie oddzielane od niej, zaś mieszanina gazowa kierowana jest nad powierzchnię podłoża po oddzieleniu podłoża od ciekłej kąpieli. Na przykład, półprzewodnikowa płytka krzemowa może być zanurzona w wodnym roztworze HF o stężeniu między 0,00% a 50% i gazowa mieszanina, zawierająca O2/O3 kierowana jest na powierzchnię płytki krzemowej po wyjęciu płytki z wodnego roztworu HF.
Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 - przedstawia usuwanie płytki krzemowej z kąpieli wodnego roztworu HF z zastosowaniem dodatku mieszaniny gazowej O2/O3, fig. 2 - usuwanie płytki krzemowej z kąpieli wodnego roztworu HF bez zastosowania dodatku mieszaniny gazowej O2/O3, fig. 3a-3c - przedstawiają chemiczny proces czyszczenia lub hydrofilizowania powierzchni krzemu z zastosowaniem sposobów według wynalazku.
W przykładzie wykonania wynalazku, mieszanina gazowa dodawana nad powierzchnie roztworu HF zawiera O2/O3, zaś jako gaz nośnikowy może być użyty azot lub podobny gaz. Gaz nośnikowy powinien być obojętny chemicznie wobec komponenta O2/O3 mieszaniny gazowej. Odpowiednie gazy obejmują powietrze (N2, O2, CO2), CO2, He, Ne, Ar, Kr, Xe i Rn. Udział O2 w mieszaninie gazowej O2/O3 wynosi korzystnie 1 mg do 0,5 g na litr mieszaniny gazowej O2/O3. Mieszanina gazowa może zawierać tylko O2/O3. Jeśli stosowany jest gaz nośnikowy, to udział O2/O3 w mieszaninie gazowej wynosi korzystnie więcej niż 10%.
Aktywne atomy krzemu na powierzchni zmieniają się tworząc wiązania Si-H i Si-F. Uzyskane własności hydrofobowe powierzchni umożliwiają suszenie nawet w bardzo niskich temperaturach. Wartość pH wynosząca < 7 dla wodnego roztworu HF zapobiega ponownemu zanieczyszczeniu metalami podczas suszenia. Ponadto HF obecny w ciekłej kąpieli usuwa zanieczyszczenia metalowe, które występują w utlenionej to znaczy zjonizowanej postaci, takie jak Fe oraz utrzymuje je w cieczy w postaci metalicznych kompleksów fluorkowych. Gdy nad powierzchnię wodnego roztworu HF zgodnie z tąpostacią wy konania sposobu według wynalazku dodaj e się ozon, to ozon ten rozpuszcza się częściowo w wodnym roztworze HF i przekształca kowalentnie związaną kombinację Si-Me do jonowych kombinacji metali, w których Me oznacza metale. Ponadto, gdy ozon rozpuszcza się w wodnym roztworze HF, uzyskuje się zjawisko Marangoni, stosownie do stężenia ozonu. Powierzchnia krzemu wydostaje się jako hydrofitowa z wodnego roztworu HF, co oznacza, że jest zwilżalna wodą lub roztworami wodnymi.
W drugiej postaci wykonania sposobu według wynalazku, mieszanina gazowa zawierająca O2/O3 kierowana jest nad powierzchnię krzemu tylko po jej suszeniu. Zatem, nadawanie hyrofilowych własności powierzchni krzemu zachodzi tylko po procesie suszenia. Korzyścią z tej procedury jest bardzo szybkie suszenie krzemu.
W przypadku powyższego wykonania według wynalazku, oddzielanie krzemu od wodnego roztworu HF może być realizowane albo przez unoszenie do góry krzemu z roztworu HF albo przez spływanie w dół roztworu HF lub przez kombinację tych obu działań.
W sposobie według wynalazku, względna szybkość oddzielania, która stanowi szybkość usuwania krzemu z roztworu lub szybkość odprowadzania roztworu kąpieli wynosi około 1 do około 50 mm/sekundę a korzystnie około 3 do około 10 mm/sekundę. Mała szybkość usuwania podłoża z roztworu stanowi korzyść, ze względu na to, że efekt Marangoni jest szczególnie efektywny przy małych szybkościach.
183 355
W drugiej postaci wykonania sposobu według wynalazku, względna szybkość oddzielania powierzchni krzemu od roztworu wynosi od około 0,1 do około 20 cm/sekundę a korzystnie około 0,5 do około 3 cm/sekundę, ponieważ suszenie może być prowadzone bardzo szybko. Ponadto, wodny roztwór HF może zawierać dodatki takie jak związki organiczne takie jak alkohol etylowy, alkohol izopropylowy i EDTA, kwasy organiczne takie jak kwas mrówkowy, kwas octowy i kwas cytrynowy, kwasy takie jak HC1, H3PO4, HC1O, HC1O2, HC1O3 i HC1O4, środki powierzchniowo czynne kationowe lub anionowe lub dodatki stałe takie jak NH4F, pod warunkiem, że nie niszczą one efektu wyjaśnianego powyżej a efektywność mycia i suszenia krzemu utrzymuje się. Kwasy dodawane są w ilości 0% do około 50%, związki organiczne dodawane są w ilości 0% do około 80%, środki powierzchniowo czynne dodawane są w ilości 0% do około 5% wagowych a substancje stałe są dodawane w ilości 0% do około 50% wagowych. Możliwe są szczególne wykonania, w których może być uzyskany silniejszy efekt niż wspomniany, lub lepsze oczyszczenie i wysuszenie, przez zastosowanie do wodnego roztworu HF jednego lub więcej kwasów. Korzystne kwasy stanowiąHCl, H2SO4 i H3PO4 lub ich mieszaniny. Korzystne mieszaniny kwasów stanowią HF/HC1, HF/HC1/H2SO4, HF/H3PO4, HF/H3PO4/HC1, HF/H3PO4/HC1, HF/H3PO4/H2SO4 i HF/H3PO4/HC1/H2SO4. Z drugiej strony roztwór HF może być ograniczony do stężenia c=0 (czysta woda).
Dalej, wzbogacenie lub nasycenie wodnego roztworu HF ozonem przed zanurzeniem krzemu, stanowi tę korzyść, że uzyskuje się czyściejszą powierzchnię krzemu. Wiele monowarstw krzemu podlega utlenieniu a następnie wytrawieniu. W ten sposób oczyszczanie jest efektywne nawet, jeśli metale ściśle przylegają do powierzchni (zanieczyszczenie powierzchni).
Korzystnie stężenie HF wynosi między około 0,01% a około 0,1%, zakres stężeń może wynosić od 0% (czysta woda) do 90% (stężony HF).
Stałą zawartość ozonu, porównywalną ze stanem nasycenia można uzyskać zasilaj ąc zbiornik roztworu HF strumieniem gazu O2/O3 (na przykład „bąbelkowanie”). Inne parametry, takie jak temperatura, stężenia HF i dodawanie dodatków (głównie środków powierzchniowo czynnych) mają wpływ na zawartość ozonu i stan nasycenia. Dobre wyniki sposobu mycia i suszenia można uzyskać przy stałym zasilaniu strumieniem gazu O2/O3. W korzystnym wykonaniu, strumień gazu jest w zakresie od około 50 do około 3001/h a wytwarzanie ozonu znajduje się w zakresie od około 10 do około 50 g/h. Przybliżona wielkość stężenia ozonu w roztworze HF wynosi w zakresie od 10 do 80 mg/1.
Inną korzyść wynalazku stanowi to, że sposób suszenia może być realizowany w zakresie temperatur między 0 a 100 stopni Celsjusza, przy czym zalecana temperatura wynosi 20 do 50 stopni Celsjusza.
Przykłady wykonania wynalazku
Na figurze 1 przedstawiona jest półprzewodnikowa płytka krzemowa 1, która jest powoli usuwana z ciekłej kąpieli 2 wodnego roztworu HF 3, po jej uprzednim całkowitym zanurzeniu w tej kąpieli. Kierunek usuwania płytki krzemowej 1 pokazano strzałką skierowaną pionowo do góry nad płytką krzemową. Szybkość usuwania wynosi korzystnie około 3 do około 10 milimetrów na sekundę. Strzałka ukośna do powierzchni płytki krzemowej pokazuje równoczesne dodawanie mieszaniny gazowej O2/O3 nad wodnym roztworem blisko powierzchni płytki.
Gdy powoli usuwa się płytkę krzemową 1 z wodnego roztworu HF, powierzchnia wodnego roztworu HF przywiera do powierzchni płytki krzemowej, przez co wygina się do góry. Pokazane jest to w postaci krzywej powierzchni cieczy, skierowanej do góry w obszarze między powierzchniąroztworu i powierzchniąpłytki krzemowej 1. W punkcie A rozpuszczone jest więcej ozonu niż w innych miejscach powierzchni roztworu, to znaczy pokazanych jako punkt B. Ponieważ w punkcie A istnieje wyższe stężenie ozonu niż w punkcie B, w punkcie A występuje niższe napięcie powierzchniowe niż w punkcie B. Ten gradient napięcia powierzchniowego powoduje odpływanie wodnego roztworu HF od punktu A do punktu B i suszenie powierzchni krzemu.
Na figurze 2 przedstawiona jest płytka krzemowa 1, którą powoli usuwa się z ciekłej kąpieli 2 wodnego roztworu HF po całkowitym zanurzeniu w kąpieli. Kierunek usuwania jest pokazany strzałką skierowaną pionowo do góry nad powierzchniąpłytki krzemowej. Ze względu
183 355 na hydrofobowość płytki krzemowej, powierzchnia cieczy zagina się w dół w stosunku do powierzchni krzemu. Hydrofilizowanie powierzchni krzemu przez ozon ma miejsce tylko po zakończeniu procesu suszenia.
Figura 3a pokazuje, że roztwór HF stanowiący wodny roztwór zapewnia wytrawianie warstwy tlenku krzemu, w której mogąbyć osadzone jony metalu takiego jak Fe.
Zanieczyszczenie metalem takim jak Cu, które są bezpośrednio związane z atomem krzemu, usuwane są w procesie Redox, jak to pokazano na fig. 3b.
Figura 3c pokazuje utlenianie powierzchni krzemu ozonem.
W ten sposób krzemu opuszcza kąpiel suszącą w stanie doskonale czystym, hydrofilowym i suchym.
Inne postacie wykonania wynalazku będą oczywiste dla fachowców. Chociaż korzystne wykonanie i przykłady opisują suszenie półprzewodnikowych płytek krzemowych, wynalazek nadaje się do stosowania dla podłoży z wielu materiałów, takich jak metale, tworzywa sztuczne, szkło i ceramika. Pojęcie „podłoże” nie jest ograniczone do podłoży występujących w przemyśle elektronicznym, lecz stosuje się do dowolnej powierzchni wyrobów, to znaczy posiadających odpowiednią postać fizyczną taką jak płytki półprzewodnikowe, płytki lub krążki.
183 355
183 355
Fig. 3α
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 60 egz. Cena 4,00 zł.
Claims (46)
- Zastrzeżenia patentowe1. Sposób suszenia powierzchni podłoża, w którym zanurza się podłoże w ciekłej kąpieli, następnie nad powierzchnią ciekłej kąpieli przepuszcza się gaz rozpuszczalny w cieczy, który rozpuszczony w cieczy obniża napięcie powierzchniowe tej cieczy; po czym oddziela się podłoże i ciecz z szybkością, przy której różnica napięcia powierzchniowego między cieczą mającą pierwszą wielkość stężenia rozpuszczonego gazu przy powierzchni podłoża i cieczą mającąniższe stężenie rozpuszczonego gazu w miejscu odległym od powierzchni podłoża powoduje osuszenie podłoża poprzez oddzielenie, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli (2) stosuje się ciecz zawierającą wodny roztwór HF (3) oraz stosuje się gaz zawierający mieszaninę O2/O3.
- 2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że stosuje się ciecz w ciekłej kąpieli (2) zawierającą wodny roztwór HF (3) o stężeniu między około 0,001% a około 50%.
- 3. Sposób według zastrz. 2, znamienny tym, że w wodnym roztworze stosuje się HF o stężeniu między około 0,01 a około 0,1%.
- 4. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krzem.
- 5. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał ceramiczny względnie materiał szklany.
- 6. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierając materiał z tworzywa sztucznego.
- 7. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał metalowy.
- 8. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krążek laserowy.
- 9. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że oddziela się podłoże (1) od ciekłej kąpieli zawierającej wodny roztwór HF (3) wyciągając podłoże z ciekłej kąpieli.
- 10. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że oddziela się podłoże (1) od ciekłej kąpieli spuszczając ciecz z ciekłej kąpieli (2).
- 11. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że stosuje się ciekłą kąpiel z wodnym roztworem HF (3) zawierającą przynajmniej jeden dodatek, wybrany z grupy składającej się z; kwasów, kwasów organicznych, środków powierzchniowo-czynnych i stałych dodatków.
- 12. Sposób według zastrz. 11, znamienny tym, że stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas, wybrany z grupy obejmującej; HC1, H3PO4, H2SO4, HC1O, HC1O2, HC1O3 i HC1O4.
- 13. Sposób według zastrz. 11, znamienny tym, że stosuje się roztwór wodny zawierający mieszaninę kwasów, wybranych z grupy składającej się z HC1/H2PO4, HC1/H3PO4, H3PO4/H2SO4 i H3PO4/HC1/H2SO4.
- 14. Sposób według zastrz. 11 albo 12, albo 13, znamienny tym, że kwas dodaje się do uzyskania stężenia do 50% wag.
- 15. Sposób według zastrz. 11, znamienny tym, że stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas organiczny, wybrany z grupy obejmującej; kwas mrówkowy, kwas octowy i kwas cytrynowy.
- 16. Sposób według zastrz. 15, znamienny tym, że kwas organiczny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 80% wag.
- 17. Sposób według zastrz. 11, znamienny tym, że środek powierzchniowo czynny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 5% wag.
- 18. Sposób według zastrz. 11, znamienny tym, że jako stały dodatek stosuje się NH4F.
- 19. Sposób według zastrz. 11 albo 18, znamienny tym, że stały dodatek dodaje się do uzyskania końcowego stężenia do około 50% wag.183 355
- 20. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że sposób prowadzi się w temperaturze między 0 a 100 stopni Celsjusza.
- 21. Sposób według zastrz. 20, znamienny tym, że sposób prowadzi się w temperaturze między 20 a 50 stopni Celsjusza.
- 22. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że stosuje się mieszaninę O2/O3 z udziałem O3 wynoszącym między 1 mg a 0,5 g na litr mieszaniny gazowej O2/O3.
- 23. Sposób suszenia powierzchni podłoża, w którym zanurza się podłoże w ciekłej kąpieli, po czym oddziela się podłoże od ciekłej kąpieli, przy czym podłoże oddziela się od kąpieli z szybkością umożliwiającą cieczy z kąpieli spływanie z hydrofobowej powierzchni podłoża dając suche podłoże o powierzchni hydrofobowej, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli (2) stosuje się ciecz zawierającą wodny roztwór HF (3) oraz gaz zawierający mieszaninę O2/O3 tworzący hydrofilowąpowierzchnię na podłożu, przy czym gaz ten kieruje się nad powierzchnią podłoża (1) po oddzieleniu podłoża (1) od ciekłej kąpieli (2).
- 24. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że podłoże (1) oddziela się od powierzchni wodnego roztworu HF (3) z szybkością wynoszącą między około 0,1 cm/sekundę a około 20 cm/sekundę.
- 25. Sposób według zastrz. 24, znamienny tym, że podłoże (1) oddziela się od powierzchni wodnego roztworu HF (3) z szybkością wynoszącą między około 0,5 cm/sekundę a około 3,0 cm/sekundę.
- 26. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że stosuje się ciecz w ciekłej kąpieli (2) zawierającą wodny roztwór HF (3) o stężeniu między około 0,001% a około 50%.
- 27. Sposób według zastrz. 26, znamienny tym, że w wodnym roztworze stosuje się HF o stężeniu między około 0,01 a około 0,1%.
- 28. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krzem.
- 29. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał ceramiczny względnie materiał szklany.
- 30. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał z tworzywa sztucznego.
- 31. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające materiał metalowy.
- 32. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że w ciekłej kąpieli zanurza się podłoże zawierające krążek laserowy.
- 33. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że oddziela się podłoże (1) od ciekłej kąpieli zawierającej wodny roztwór HF (3) wyciągając podłoże z ciekłej kąpieli.
- 34. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że oddziela się podłoże (1) od ciekłej kąpieli spuszczając ciecz z ciekłej kąpieli (2).
- 35. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że stosuje się ciekłą kąpiel z wodnym roztworem HF (3) zawierającą przynajmniej jeden dodatek, wybrany z grupy składającej się z; kwasów, kwasów organicznych, środków powierzchniowo czynnych i stałych dodatków.
- 36. Sposób według zastrz. 35, znamienny tym, że stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas, wybrany z grupy obejmującej; HC1, H3PO4, H2SO4, HC1O, HC1O2, HC1O3 i HC1O4.
- 37. Sposób według zastrz. 35, znamienny tym, że stosuje się roztwór wodny zawierający mieszaninę kwasów, wybranych z grupy składającej się z HC1/H2PO4, HC1/H3PO4, H3PO4/H2SO4 i H3PO4/HC1/H2SO4.
- 38. Sposób według zastrz. 34 albo 35, albo 36, znamienny tym, że kwas dodaje się do uzyskania stężenia do 50% wag.
- 39. Sposób według zastrz. 35, znamienny tym, że stosuje się przynajmniej jeden dodatek stanowiący kwas organiczny, wybrany z grupy obejmującej; kwas mrówkowy, kwas octowy i kwas cytrynowy.183 355
- 40. Sposób według zastrz. 39, znamienny tym, że kwas organiczny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 80% wag.
- 41. Sposób według zastrz. 35, znamienny tym, że środek powierzchniowo czynny dodaje się do uzyskania stężenia końcowego do około 5% wag.
- 42. Sposób według zastrz. 35, znamienny tym, że jako stały dodatek stosuje się NH4F.
- 43. Sposób według zastrz. 35 albo 42, znamienny tym, że stały dodatek dodaje się uzyskania końcowego stężenia do około 50% wag.
- 44. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że sposób prowadzi się w temperaturze między 0 a 100 stopni Celsjusza.
- 45. Sposób według zastrz. 44, znamienny tym, że sposób prowadzi się w temperaturze między 20 a 50 stopni Celsjusza.
- 46. Sposób według zastrz. 23, znamienny tym, że stosuje się mieszaninę O2/O3 z udziałem O3 wynoszącym między 1 mg a 0,5 g na litr mieszaniny gazowej O2/O3.* * *
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19531031A DE19531031C2 (de) | 1995-08-23 | 1995-08-23 | Verfahren zum Trocknen von Silizium |
| PCT/EP1996/003541 WO1997008742A1 (en) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Procedure for drying silicon |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL325121A1 PL325121A1 (en) | 1998-07-06 |
| PL183355B1 true PL183355B1 (pl) | 2002-06-28 |
Family
ID=7770207
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL96325121A PL183355B1 (pl) | 1995-08-23 | 1996-08-09 | Sposób suszenia powierzchni podłoża |
Country Status (24)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (2) | EP1199740B1 (pl) |
| JP (1) | JP3857314B2 (pl) |
| KR (1) | KR19990037642A (pl) |
| CN (1) | CN1091542C (pl) |
| AT (2) | ATE227885T1 (pl) |
| AU (1) | AU697397B2 (pl) |
| CA (1) | CA2228168A1 (pl) |
| CZ (1) | CZ291335B6 (pl) |
| DE (3) | DE19531031C2 (pl) |
| DK (2) | DK0846334T3 (pl) |
| ES (2) | ES2186800T3 (pl) |
| HK (1) | HK1043661B (pl) |
| HU (1) | HUP9802482A3 (pl) |
| IL (1) | IL123042A (pl) |
| MX (1) | MX9801464A (pl) |
| NO (1) | NO980734D0 (pl) |
| PL (1) | PL183355B1 (pl) |
| PT (1) | PT846334E (pl) |
| RU (1) | RU2141700C1 (pl) |
| SI (1) | SI1199740T1 (pl) |
| SK (1) | SK284835B6 (pl) |
| TW (1) | TW427952B (pl) |
| UA (1) | UA51663C2 (pl) |
| WO (1) | WO1997008742A1 (pl) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19613620C2 (de) | 1996-04-04 | 1998-04-16 | Steag Micro Tech Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Trocknen von Substraten |
| DE19800584C2 (de) * | 1998-01-09 | 2002-06-20 | Steag Micro Tech Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Trocknen von Substraten |
| DE19833257C1 (de) * | 1998-07-23 | 1999-09-30 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterscheibe |
| DE19927457C2 (de) * | 1999-06-16 | 2002-06-13 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Verwendung eines bekannten Verfahrens als Vorbehandlung zur Bestimmung der Diffusionslängen von Minoritätsträgern in einer Halbleiterscheibe |
| DE10036691A1 (de) * | 2000-07-27 | 2002-02-14 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Verfahren zur chemischen Behandlung von Halbleiterscheiben |
| DE10064081C2 (de) * | 2000-12-21 | 2002-06-06 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterscheibe |
| DE10360269A1 (de) * | 2003-12-17 | 2005-07-28 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Verfahren zur schnellen Mischung von kleinvolumigen Flüssigkeiten und Kit zu dessen Anwendung |
| WO2006066115A2 (en) | 2004-12-17 | 2006-06-22 | The Procter & Gamble Company | Process for extracting liquid from a fabric |
| KR100897581B1 (ko) | 2007-11-14 | 2009-05-14 | 주식회사 실트론 | 웨이퍼 건조 방법 |
| RU2486287C2 (ru) * | 2011-04-29 | 2013-06-27 | Антон Викторович Мантузов | Способ очистки поверхности полупроводниковых пластин и регенерации травильных растворов |
| CN114993028B (zh) * | 2022-06-17 | 2023-05-30 | 高景太阳能股份有限公司 | 一种硅片烘干处理方法及系统 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2722783A1 (de) * | 1977-05-20 | 1978-11-30 | Wacker Chemitronic | Verfahren zum reinigen von silicium |
| US4169807A (en) * | 1978-03-20 | 1979-10-02 | Rca Corporation | Novel solvent drying agent |
| DE3317286A1 (de) * | 1983-05-11 | 1984-11-22 | Heliotronic Forschungs- und Entwicklungsgesellschaft für Solarzellen-Grundstoffe mbH, 8263 Burghausen | Verfahren zur reinigung von silicium durch saeureeinwirkung |
| FR2591324B1 (fr) * | 1985-12-10 | 1989-02-17 | Recif Sa | Appareil pour le sechage unitaire des plaquettes de silicium par centrifugation |
| JPS62198127A (ja) * | 1986-02-25 | 1987-09-01 | Sanyo Electric Co Ltd | 半導体ウエハの洗浄方法 |
| US4722752A (en) * | 1986-06-16 | 1988-02-02 | Robert F. Orr | Apparatus and method for rinsing and drying silicon wafers |
| US4902350A (en) * | 1987-09-09 | 1990-02-20 | Robert F. Orr | Method for rinsing, cleaning and drying silicon wafers |
| NL8900480A (nl) * | 1989-02-27 | 1990-09-17 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het drogen van substraten na behandeling in een vloeistof. |
| JPH0366126A (ja) * | 1989-08-04 | 1991-03-20 | Sharp Corp | 絶縁膜の製造方法及びその製造装置 |
| JPH0466175A (ja) * | 1990-07-03 | 1992-03-02 | Seiko Epson Corp | 水切り乾燥方法 |
| JPH04346431A (ja) * | 1991-05-24 | 1992-12-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体シリコンウェハの洗浄装置 |
| WO1995008406A1 (en) * | 1993-09-22 | 1995-03-30 | Legacy Systems, Inc. | Process and apparatus for the treatment of semiconductor wafers in a fluid |
-
1995
- 1995-08-23 DE DE19531031A patent/DE19531031C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-08-09 DK DK96929234T patent/DK0846334T3/da active
- 1996-08-09 AT AT96929234T patent/ATE227885T1/de active
- 1996-08-09 PT PT96929234T patent/PT846334E/pt unknown
- 1996-08-09 CA CA002228168A patent/CA2228168A1/en not_active Abandoned
- 1996-08-09 SI SI9630728T patent/SI1199740T1/sl unknown
- 1996-08-09 JP JP50977197A patent/JP3857314B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-09 EP EP01130669A patent/EP1199740B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-09 PL PL96325121A patent/PL183355B1/pl not_active IP Right Cessation
- 1996-08-09 ES ES96929234T patent/ES2186800T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-09 KR KR1019980701119A patent/KR19990037642A/ko not_active Ceased
- 1996-08-09 CZ CZ1998517A patent/CZ291335B6/cs not_active IP Right Cessation
- 1996-08-09 RU RU98104458A patent/RU2141700C1/ru not_active IP Right Cessation
- 1996-08-09 CN CN96196222A patent/CN1091542C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1996-08-09 AT AT01130669T patent/ATE309613T1/de active
- 1996-08-09 DE DE69624830T patent/DE69624830T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-09 DE DE69635427T patent/DE69635427T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-09 DK DK01130669T patent/DK1199740T3/da active
- 1996-08-09 SK SK212-98A patent/SK284835B6/sk unknown
- 1996-08-09 IL IL12304296A patent/IL123042A/en not_active IP Right Cessation
- 1996-08-09 AU AU68720/96A patent/AU697397B2/en not_active Ceased
- 1996-08-09 HU HU9802482A patent/HUP9802482A3/hu unknown
- 1996-08-09 WO PCT/EP1996/003541 patent/WO1997008742A1/en not_active Ceased
- 1996-08-09 ES ES01130669T patent/ES2250292T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-09 EP EP96929234A patent/EP0846334B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-20 TW TW085110167A patent/TW427952B/zh not_active IP Right Cessation
- 1996-09-08 UA UA98020935A patent/UA51663C2/uk unknown
-
1998
- 1998-02-20 NO NO980734A patent/NO980734D0/no unknown
- 1998-02-23 MX MX9801464A patent/MX9801464A/es not_active IP Right Cessation
- 1998-10-14 HK HK02104685.0A patent/HK1043661B/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5714203A (en) | Procedure for the drying of silicon | |
| JP2787788B2 (ja) | 残留物除去方法 | |
| US5954885A (en) | Cleaning method | |
| KR100220926B1 (ko) | 소수성 실리콘 웨이퍼의 세정방법 | |
| JP2005244179A (ja) | 材料表面の湿式洗浄方法及びこれを用いた電子、光学、または光電子デバイスの作製プロセス | |
| JP2000515324A (ja) | 逐次的化学加工を使用する、電子部品の製造のための湿式加工法 | |
| WO1996021942A1 (en) | Method of cleaning substrates | |
| PL183355B1 (pl) | Sposób suszenia powierzchni podłoża | |
| WO1995020642A1 (en) | Cleaning agent and method | |
| JPH08335563A (ja) | 皮膜除去方法および装置 | |
| US5964953A (en) | Post-etching alkaline treatment process | |
| US20040266191A1 (en) | Process for the wet-chemical surface treatment of a semiconductor wafer | |
| JP3210800B2 (ja) | 半導体基板の洗浄方法 | |
| TWI385720B (zh) | Etching composition and etching treatment method | |
| JP4306217B2 (ja) | 洗浄後の半導体基板の乾燥方法 | |
| HK1010280B (en) | Procedure for drying substrates | |
| KR19990051872A (ko) | 반도체장치의 게이트절연막 형성 전의 세정방법 | |
| JPH02235337A (ja) | 半導体基板の処理方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Decisions on the lapse of the protection rights |
Effective date: 20060809 |