PL397925A1 - Sposób pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej i interferometr do pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej - Google Patents
Sposób pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej i interferometr do pomiaru odchylen katowych wiazki laserowejInfo
- Publication number
- PL397925A1 PL397925A1 PL397925A PL39792512A PL397925A1 PL 397925 A1 PL397925 A1 PL 397925A1 PL 397925 A PL397925 A PL 397925A PL 39792512 A PL39792512 A PL 39792512A PL 397925 A1 PL397925 A1 PL 397925A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- photodetector
- laser beam
- interferometer
- angular deviations
- beams
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 3
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 abstract 1
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
W sposobie wynalazku, realizowanym z wykorzystaniem dwuwiazkowego ukladu optycznego interferometru z ukladem powierzchni odbijajacych, laserowa wiazke swiatla (2) rozdziela sie na dwie wiazki, a po odbiciu od ukladu powierzchni odbijajacych obie wiazki laczy sie ponownie we wspólnym kierunku propagacji tak, ze interferuja ze soba tworzac obraz prazków interferencyjnych padajacy na fotodetektor (10) czuly na zmiane okresu prazków, przy czym ukladzie optycznym pomiedzy laserem (1), a fotodetektorem (10) doprowadza sie do róznej o liczbe nieparzysta ilosci odbic obu rozdzielonych wiazek od powierzchni odbijajacych, a odchylenie katowe wyznacza sie na podstawie zarejestrowanej przez fotodetektor (10) zmiany okresu prazków interferujacych ze soba wiazek. W interferometrze, wyposazonym w dwuwiazkowy uklad optyczny z ukladem powierzchni odbijajacych, pomiedzy laserem (1), a fotodetektorem (10) ilosc powierzchni odbijajacych znajdujacych sie na drodze pierwszej wiazki (4) jest rózna o liczbe nieparzysta od ilosci powierzchni odbijajacych znajdujacych sie na drodze drugiej wiazki (5). Rozwiazanie moze byc wykorzystane do pomiaru mikro-odchylen powierzchni zwierciadlanej od której odbija sie analizowana wiazka oraz do stabilizacji kierunku propagacji wiazki.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL397925A PL219676B1 (pl) | 2012-01-27 | 2012-01-27 | Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej i interferometr do pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL397925A PL219676B1 (pl) | 2012-01-27 | 2012-01-27 | Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej i interferometr do pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL397925A1 true PL397925A1 (pl) | 2013-08-05 |
| PL219676B1 PL219676B1 (pl) | 2015-06-30 |
Family
ID=48904180
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL397925A PL219676B1 (pl) | 2012-01-27 | 2012-01-27 | Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej i interferometr do pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL219676B1 (pl) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110631512B (zh) * | 2018-05-18 | 2021-08-06 | 安徽大学 | 基于多纵模自混合效应的双正交平面镜外入射型角度传感测量装置及方法 |
-
2012
- 2012-01-27 PL PL397925A patent/PL219676B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL219676B1 (pl) | 2015-06-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102564317B (zh) | 一种基于光纤复合干涉的高精度远程绝对位移测量系统 | |
| BR112014000801A2 (pt) | sistema e método de detecção de fibra óptica distribuída incluindo caminho de referência integrado | |
| CN104808193B (zh) | 基于非偏振分光棱镜的f‑p标准具瑞利散射多普勒鉴频装置 | |
| CN104116495B (zh) | 一种视网膜光学相干层析探测-显示系统 | |
| PL430153A1 (pl) | Interferometr falowodowy | |
| EA201492196A1 (ru) | Оптический датчик на основе микроэлектромеханической системы | |
| RU2018114296A (ru) | Устройство для измерения параметров фазовых элементов и дисперсии оптического волокна и способ измерения параметров фазовых элементов и дисперсии оптического волокна | |
| CA3177421A1 (en) | Method and system for simultaneous measurement of strain and temperature utilizing dual core fiber | |
| MX2015014950A (es) | Dispositivo medidor de rugosidad superficial. | |
| JP2014240782A5 (pl) | ||
| CA2877681A1 (en) | Test mass and method for interferometric gravity characteristic measurement | |
| JP2015011238A5 (pl) | ||
| WO2012151547A3 (en) | Real-time, dispersion -compensated low-coherence interferometry system | |
| PL397925A1 (pl) | Sposób pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej i interferometr do pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej | |
| JP6094300B2 (ja) | 白色干渉測定方法及び白色干渉測定装置 | |
| RU156297U1 (ru) | Волоконно-оптическое устройство измерения показателя преломления | |
| CN104359863B (zh) | 自由空间干涉光路平衡探测装置 | |
| JP6371120B2 (ja) | 測定装置 | |
| US20180195853A1 (en) | Optical interferometer | |
| PL418450A1 (pl) | Sposób pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej, zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn | |
| CN206019884U (zh) | 玻璃表面应力检测装置 | |
| KR20120080669A (ko) | 광섬유 소자와 자유공간 광학계를 병용하는 광간섭계측장치 | |
| CN103630089B (zh) | 一种双色光差动自准直仪示值补偿系统及方法 | |
| KR20120080670A (ko) | 광섬유 소자와 자유공간 광학계를 병용하는 편광식 광간섭 계측장치 | |
| WO2007005314A3 (en) | Apparatus and methods for reducing non-cyclic non-linear errors in interferometry |