PL418450A1 - Sposób pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej, zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn - Google Patents

Sposób pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej, zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn

Info

Publication number
PL418450A1
PL418450A1 PL418450A PL41845016A PL418450A1 PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1 PL 418450 A PL418450 A PL 418450A PL 41845016 A PL41845016 A PL 41845016A PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
reflecting
prism
axis
laser beam
machines
Prior art date
Application number
PL418450A
Other languages
English (en)
Other versions
PL230512B1 (pl
Inventor
Marek Dobosz
Original Assignee
Politechnika Warszawska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Warszawska filed Critical Politechnika Warszawska
Priority to PL418450A priority Critical patent/PL230512B1/pl
Publication of PL418450A1 publication Critical patent/PL418450A1/pl
Publication of PL230512B1 publication Critical patent/PL230512B1/pl

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Zgodnie ze sposobem pomiaru laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki, które doprowadza się do odbić od powierzchni odbijających w ilości różniącej się o liczbę nieparzystą w układzie dwuwiązkowego interferometru z układem powierzchni odbijających, utworzonych przez pryzmat narożny (13) i pryzmat prostokątny (6), w którym laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki (4, 5). Po odbiciu od układu powierzchni odbijających obie wiązki (4, 5) łączy się ponownie we wspólnym kierunku propagacji tak, że interferują ze sobą, tworząc obraz prążków interferencyjnych padający na fotodetektor (12) czuły na zmianę okresu prążków. Odchylenie kątowe wyznacza się na podstawie zarejestrowanej przez fotodetektor zmiany okresu prążków utworzonych przez interferujące ze sobą wiązki i za pomocą pryzmatu prostokątnego (6) odbijającego pierwszą wiązkę (4) odchyla się ją kątowo wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Interferometr jest wyposażony w dwuwiązkowy układ optyczny z układem powierzchni odbijających (3, 13, 7, 8), usytuowanych między laserem (1) a polaryzatorem (11), za którym znajduje się fotodetektor (12), których liczba jest różna o liczbę nieparzystą od ilości powierzchni odbijających znajdujących się na drodze drugiej wiązki (5). Ma też pryzmat prostokątny (6) odbijający wiązkę, który jest oddzielony ot pozostałych elementów układu optycznego, obracający się wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Między pryzmatem prostokątnym (6) a elementem światłodzielącym (3) znajduje się klin optyczny, odchylający wiązkę wokół osi Y.
PL418450A 2016-08-24 2016-08-24 Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn PL230512B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL418450A PL230512B1 (pl) 2016-08-24 2016-08-24 Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL418450A PL230512B1 (pl) 2016-08-24 2016-08-24 Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL418450A1 true PL418450A1 (pl) 2018-02-26
PL230512B1 PL230512B1 (pl) 2018-11-30

Family

ID=61227756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL418450A PL230512B1 (pl) 2016-08-24 2016-08-24 Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL230512B1 (pl)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL424588A1 (pl) * 2018-02-14 2019-08-26 Politechnika Warszawska Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej oraz układ optyczny do pomiaru mikro-odchyleń kątowych wiązki laserowej

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL424588A1 (pl) * 2018-02-14 2019-08-26 Politechnika Warszawska Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej oraz układ optyczny do pomiaru mikro-odchyleń kątowych wiązki laserowej

Also Published As

Publication number Publication date
PL230512B1 (pl) 2018-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102564317B (zh) 一种基于光纤复合干涉的高精度远程绝对位移测量系统
JP6553967B2 (ja) 瞬時位相シフト干渉計
KR102061632B1 (ko) 격자 측정 장치
WO2022105532A1 (zh) 外差光纤干涉仪位移测量系统及方法
EP2284479B1 (en) Grazing incidence interferometer
US9797704B2 (en) Interferometer having two transparent plates in parallel for making reference and measurement beams parallel
US9733069B2 (en) Optical position-measuring device
WO2013082247A1 (en) Interferometer, system, and method of use
US9068811B2 (en) Device for determining distance interferometrically
GB914038A (en) Interferometer using a diffraction grating
US20060039007A1 (en) Vibration-insensitive interferometer
CN109959353A (zh) 一种补偿式角度传感器
PL418450A1 (pl) Sposób pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej, zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn
CN106872016A (zh) 一种用于振动传感的双偏振态检偏器
JP6371120B2 (ja) 測定装置
CN205580406U (zh) 一种自准直仪
CN211317207U (zh) 一种激光干涉位移测量装置
US10627215B1 (en) Optical sensor
CN117367286A (zh) 光栅位移测量装置
JP2009103592A (ja) コリメーション検査装置
PL397925A1 (pl) Sposób pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej i interferometr do pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej
CN206638340U (zh) 一种用于振动传感的双偏振态检偏器
CN105783789B (zh) 一种自准直仪
JP7624738B2 (ja) 光学式距離計及びその評価方法
JP6684623B2 (ja) 干渉型測距計および完全再帰反射体