PL418450A1 - Sposób pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej, zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn - Google Patents
Sposób pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej, zwłaszcza błędów rotacyjnych maszynInfo
- Publication number
- PL418450A1 PL418450A1 PL418450A PL41845016A PL418450A1 PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1 PL 418450 A PL418450 A PL 418450A PL 41845016 A PL41845016 A PL 41845016A PL 418450 A1 PL418450 A1 PL 418450A1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- reflecting
- prism
- axis
- laser beam
- machines
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title 1
- 238000000034 method Methods 0.000 title 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 3
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 abstract 1
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Zgodnie ze sposobem pomiaru laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki, które doprowadza się do odbić od powierzchni odbijających w ilości różniącej się o liczbę nieparzystą w układzie dwuwiązkowego interferometru z układem powierzchni odbijających, utworzonych przez pryzmat narożny (13) i pryzmat prostokątny (6), w którym laserową wiązkę światła rozdziela się na dwie wiązki (4, 5). Po odbiciu od układu powierzchni odbijających obie wiązki (4, 5) łączy się ponownie we wspólnym kierunku propagacji tak, że interferują ze sobą, tworząc obraz prążków interferencyjnych padający na fotodetektor (12) czuły na zmianę okresu prążków. Odchylenie kątowe wyznacza się na podstawie zarejestrowanej przez fotodetektor zmiany okresu prążków utworzonych przez interferujące ze sobą wiązki i za pomocą pryzmatu prostokątnego (6) odbijającego pierwszą wiązkę (4) odchyla się ją kątowo wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Interferometr jest wyposażony w dwuwiązkowy układ optyczny z układem powierzchni odbijających (3, 13, 7, 8), usytuowanych między laserem (1) a polaryzatorem (11), za którym znajduje się fotodetektor (12), których liczba jest różna o liczbę nieparzystą od ilości powierzchni odbijających znajdujących się na drodze drugiej wiązki (5). Ma też pryzmat prostokątny (6) odbijający wiązkę, który jest oddzielony ot pozostałych elementów układu optycznego, obracający się wokół osi (Y) prostopadłej do płaszczyzny zawierającej dwusieczną kąta pomiędzy płaszczyznami odbijającymi (7, 8) pryzmatu (6) oraz oś przecięcia się płaszczyzn odbijających pryzmatu (7, 8). Między pryzmatem prostokątnym (6) a elementem światłodzielącym (3) znajduje się klin optyczny, odchylający wiązkę wokół osi Y.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL418450A PL230512B1 (pl) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL418450A PL230512B1 (pl) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL418450A1 true PL418450A1 (pl) | 2018-02-26 |
| PL230512B1 PL230512B1 (pl) | 2018-11-30 |
Family
ID=61227756
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL418450A PL230512B1 (pl) | 2016-08-24 | 2016-08-24 | Sposob pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchylen katowych wzgledem wiazki laserowej, zwlaszcza bledow rotacyjnych maszyn |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL230512B1 (pl) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL424588A1 (pl) * | 2018-02-14 | 2019-08-26 | Politechnika Warszawska | Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej oraz układ optyczny do pomiaru mikro-odchyleń kątowych wiązki laserowej |
-
2016
- 2016-08-24 PL PL418450A patent/PL230512B1/pl unknown
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| PL424588A1 (pl) * | 2018-02-14 | 2019-08-26 | Politechnika Warszawska | Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej oraz układ optyczny do pomiaru mikro-odchyleń kątowych wiązki laserowej |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL230512B1 (pl) | 2018-11-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102564317B (zh) | 一种基于光纤复合干涉的高精度远程绝对位移测量系统 | |
| JP6553967B2 (ja) | 瞬時位相シフト干渉計 | |
| KR102061632B1 (ko) | 격자 측정 장치 | |
| WO2022105532A1 (zh) | 外差光纤干涉仪位移测量系统及方法 | |
| EP2284479B1 (en) | Grazing incidence interferometer | |
| US9797704B2 (en) | Interferometer having two transparent plates in parallel for making reference and measurement beams parallel | |
| US9733069B2 (en) | Optical position-measuring device | |
| WO2013082247A1 (en) | Interferometer, system, and method of use | |
| US9068811B2 (en) | Device for determining distance interferometrically | |
| GB914038A (en) | Interferometer using a diffraction grating | |
| US20060039007A1 (en) | Vibration-insensitive interferometer | |
| CN109959353A (zh) | 一种补偿式角度传感器 | |
| PL418450A1 (pl) | Sposób pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn i interferometr do pomiaru mikro-odchyleń kątowych względem wiązki laserowej, zwłaszcza błędów rotacyjnych maszyn | |
| CN106872016A (zh) | 一种用于振动传感的双偏振态检偏器 | |
| JP6371120B2 (ja) | 測定装置 | |
| CN205580406U (zh) | 一种自准直仪 | |
| CN211317207U (zh) | 一种激光干涉位移测量装置 | |
| US10627215B1 (en) | Optical sensor | |
| CN117367286A (zh) | 光栅位移测量装置 | |
| JP2009103592A (ja) | コリメーション検査装置 | |
| PL397925A1 (pl) | Sposób pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej i interferometr do pomiaru odchylen katowych wiazki laserowej | |
| CN206638340U (zh) | 一种用于振动传感的双偏振态检偏器 | |
| CN105783789B (zh) | 一种自准直仪 | |
| JP7624738B2 (ja) | 光学式距離計及びその評価方法 | |
| JP6684623B2 (ja) | 干渉型測距計および完全再帰反射体 |