PL424588A1 - Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej oraz układ optyczny do pomiaru mikro-odchyleń kątowych wiązki laserowej - Google Patents

Abstract

Sposób pomiaru odchyleń kątowych wiązki laserowej, za pomocą jednoosiowego czujnika mikro-odchyleń kątowych (7), w którym za pomocą lasera (1) generuje się spolaryzowaną liniowo wiązkę światła (8) i kieruje się ją do jednoosiowego czujnika mikro-odchyleń (7), cechuje się tym, że pomiar odbywa się dwuetapowo a wyemitowaną przez laser (1) wiązkę (8) przepuszcza się przez nastawny rotator (3) polaryzacji światła. W pierwszym etapie nastawny rotator (3) polaryzacji ustawia się na pierwszą polaryzację, a następnie wiązkę o pierwszej polaryzacji wprowadza się do polaryzacyjnego elementu światłodzielącego (2), do drugiego elementu światłodzielącego (4) oraz do czujnika mikro-odchyleń kątowych (7) i dokonuje się pomiaru odchylenia w pierwszej płaszczyźnie. W drugim etapie ustawia się nastawny rotator (3) polaryzacji światła na drugą polaryzację różniącą się od pierwszej o 90 stopni i wiązkę o drugiej polaryzacji kieruje się do elementu światłodzielącego (2) a następnie do elementu (5) obracającego płaszczyznę odchyleń kątowych wiązki laserowej, do drugiego elementu światłodzielącego (4) oraz do czujnika mikro-odchyleń kątowych (7) i wykonuje się pomiar odchylenia w drugiej płaszczyźnie. Układ optyczny do pomiaru mikro-odchyleń kątowych wiązki laserowej zwłaszcza błędów rotacyjnych, wyposażony w laser (1) emitujący wiązkę światła laserowego prowadzonego w torze optycznym do jednoosiowego czujnika mikro-odchyleń kątowych (7) cechuje się tym, że w torze optycznym, na drodze wiązki światła znajduje się nastawny rotator (3) polaryzacji światła, za którym znajduje się pierwszy element światłodzielący (2) wrażliwy na polaryzację i w zależności od niej kierujący wiązkę do pierwszej lub do drugiej gałęzi toru, które to gałęzie toru łączą się w drugim elemencie światłodzielącym (4) wrażliwym na polaryzację, przy czym w jednej z gałęzi znajduje się element (5) obracający płaszczyznę odchyleń kątowych wiązki laserowej.