Opis wzoru Przedmiotem wzoru uzytkowego jest przystawka pomiarowa przeznaczona do pomiarów prowa- dzonych za pomoca mikroskopu sil atomowych (AFM). W sklad standardowego wyposazenia mikroskopu AFM wchodzi stolik przesuwny w kierunkach x i y, na którym znajduje sie obrotowy dysk. Plytki czy tez badane struktury, ze wzgledu na ich male wymiary, mocuje sie najpierw na pomocniczych plytkach pomiarowych najczesciej za pomoca klejenia. Nastepnie na takich plytkach, wykonanych najczesciej ze szkla, sa one przenoszone i umieszczane na dysku mikroskopu, gdzie sa odpowiednio pozycjonowane. Rozwiniete metody optyczne w diagnostyce pomiarowej materialów opieraja sie na informacjach pozyskiwanych róznymi metodami. W zakresie pomiarów optycznych do najczesciej stosowanych na- leza pomiary wykonywane na spektrometrze Ramana, na mikroskopie sil atomowych (AFM) oraz na profilometrze i elipsometrze optycznym. W pomiarach tych istotnym jest aby informacje pomiarowe po- chodzily z tego samego obszaru. Zebrane w ten sposób dane pozwalaja na wiarygodna obserwacje pojedynczych artefaktów na powierzchni wybranego obszaru próbki, jak i na ocene rozrzutu jakosci calej powierzchni. Pozyskane informacje moga byc pomocne w optymalizacji procesu produkcji mate- rialów i lepszego poznania procesów zachodzacych na powierzchni, a co za tym idzie pozwola na po- prawe jakosci produkowanego materialu. Znanych jest wiele rozwiazan pomocnych w rozwiazywaniu problemów zwiazanych z odpowiednim pozycjonowaniem badanego materialu podczas prowadzonych pomiarów. Na przyklad z opisu zgloszenia CN208902761U znany jest uchwyt stosowany przy pomia- rach prowadzonych na mikroskopie AFM, który jest kompatybilny z mikroskopami AFM o róznych kon- strukcjach. Z opisu zgloszenia CN105891549A znany jest system, w którym sondy badawcze mozna przelaczac na rózne funkcje, które pozwalaja, miedzy innymi, na róznorodne badanie powierzchni ma- terialów. Ze zgloszenia WO2019200983A znane jest skomplikowane urzadzenie, które przelacza sonde obrotowa mikroskopu zwiekszajac spektrum pomiarowe tak aby funkcje takie jak skanowanie topografii powierzchni, analiza widma Ramana, wyszukiwanie mikroskopowe itp. byly prowadzone w tym samym srodowisku. W zgloszeniu CN111077347A ujawniono urzadzenie mocujace sonde do mikroskopu sil atomowych, w którym podstawa sondy ustawiana jest pod odpowiednim katem w rowku pozycjonuja- cym, natomiast w zgloszeniach CN109932530A i CN105092900A opisane sa uchwyty sond skanuja- cych mikroskopu AFM wyposazone w zaciski, które pozwalaja na wygodne zaciskanie i zwolnienie sondy oraz ulatwiaja jej montaz i demontaz. Celem wzoru uzytkowego jest opracowanie przystawki pomiarowej do mikroskopu sil atomowych, która bylaby przystawka na tyle uniwersalna, aby jej czesc zawierajaca strukture umieszczona na plytce pomiarowej mozna bylo latwo zdemontowac i przeniesc do innego urzadzenia pomiarowego. Przystawka pomiarowa przeznaczona zwlaszcza do pomiarów prowadzonych za pomoca mikro- skopu sil atomowych, charakteryzuje sie tym, ze ma podstawe w ksztalcie prostopadlosciennej plytki, która od góry, z jednej strony ma pare otworów ze srubami stabilizujacymi, a po srodku prostokatne wybranie, w którym umieszczana jest plytka podlozowa dla badanego materialu, wyposazona w pozy- cjonujacy element znacznikowy „A" oraz sprezysty element dociskajacy, a z drugiej strony prostopadlo- scienna plytka ma obejme mocujaca w ksztalcie litery „L" z wystajacymi poza szerokosc i ponad wyso- kosc tejze plytki krawedziami bocznymi i zawierajaca wewnetrzny wypust mocujacy, natomiast w dluz- szej sciance bocznej prostopadlosciennej plytki, w odleglosci mniejszej niz dluzszy wymiar plytki podlo- zowej, znajduja sie dwa, dochodzace do scianki bocznej wybrania, otwory ze srubami regulacyjnymi. Przystawka wedlug przedmiotowego wzoru uzytkowego zilustrowana zostala na rysunku, na któ- rym fig. 1 przedstawia widok kompletnej przystawki pomiarowej zamocowanej na stoliku mikroskopu AFM, natomiast fig. 2 pokazuje sama podstawe przystawki (bez obejmy). Przedmiotowa przystawka sklada sie z trzech podstawowych elementów jakimi sa: podstawa w ksztalcie plytki 1, plytka podlozowa 2 oraz obejma 3. Plytka 1 ma postac prostopadloscianu, który od góry, w srodkowej czesci posiada prostokatne wybranie 5. W wybraniu tym umieszczona jest plytka podlozowa 2, na której znajduje sie poddawany pomiarom badany material 6 oraz dociskajacy plytke 2 element sprezysty 7, który unieruchamia ja w wybraniu 5 w kierunku wzdluznym. Plytka podlozowa 2 ma obok miejsca sytuowania badanego materialu 6 element znacznikowy „A", wedlug którego naste- puje pozycjonowanie materialu 6 zarówno w podstawie, tj. plytce 1, przystawki, jak i po przeniesieniu3 go do innych urzadzen pomiarowych. Identyfikacja miejsca pomiarowego w badanym materiale 6 po- lega, na wyzerowaniu wspólrzednych (skladowych) X i Y na kazdym z tych urzadzen, a nastepnie usta- leniu przed pomiarami, ze srodek obszaru badanego materialu jest oddalony od miejsca zerowania o okreslona, znana wielkosc. W sciance bocznej wybrania plytki 1 znajduja sie dwa, dochodzace do scianki bocznej wybrania 5, otwory 10 ze srubami regulacyjnymi, za pomoca których blokowany jest ruch plytki podlozowej 2 w kierunku poprzecznym. Otwory te znajduja sie w obszarze wyznaczonym przez dlugosc wybrania 5, a odleglosc miedzy nimi jest mniejsza niz dluzszy wymiar plytki podlozowej 2. Plytka 1, równiez od góry, przy krawedzi jednego krótszego boku i zakonczenia wybrania 2 ma pare otworów 8, w których umieszczone sa sruby stabilizujace, za pomoca których unieruchamia sie plytke 1 na dysku 9 stolika mikroskopu AFM, natomiast po przeciwnej stronie wybrania 2 plytka 1 ma pare otworów 4, w których umieszczone sa sruby stabilizujace plytke 1 w obejmie 3. Obejma ma w przekroju ksztalt zblizony do litery „L", której ramie obejmuje dysk 9 stolika i plytke 1 uniemozliwiajac ruch pod- stawy w pionie. Od wewnetrznej strony obejma 3 ma wewnetrzny wypust wchodzacy w wybranie 11 dysku stolika AFM, co unieruchamia plytke 1 i blokuje obrót dysku 9 na stoliku. PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL PL