SU1111204A1 - Оперативное запоминающее устройство - Google Patents
Оперативное запоминающее устройство Download PDFInfo
- Publication number
- SU1111204A1 SU1111204A1 SU823511235A SU3511235A SU1111204A1 SU 1111204 A1 SU1111204 A1 SU 1111204A1 SU 823511235 A SU823511235 A SU 823511235A SU 3511235 A SU3511235 A SU 3511235A SU 1111204 A1 SU1111204 A1 SU 1111204A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- transistor
- output
- base
- diode
- Prior art date
Links
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
1. ОПЕРАТИВНОЕ ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее матричньш накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопител , дешифратор столбцов, вькоды которого соединены с первыми входами соответствующих разр дных усилителей считывани , вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разр дными шинами накопител , а первые и вторые выходы разр дных усилителей считывани соединены соответственно с первым и вторьм входами выходного усилител и блок выбора кристалла, отличающеес тем, что, с целью повьш1ени надежности путем увеличени достоверности хранимой информации и уменьшени потребл емой мощности, устройство содержит блок внутренней регенерации, первый и второй входы которого соединены соответственно с первыми и вторыми выходами разр дных усилителей счи тывани , а третий и четвертый входы с соответствующими выходами блока выбора кристалла, первый выход блока внутренней регенерации соединен с управл ющими входами дешифраторов столбцов и строк, а второй выход с третьим входом выходного усилител . 2. Устройство по п. 1, отличающеес тем, что блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы, базы которых соответственно вл ютс первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напр жени , а эмиттеры - соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двух-, § эмиттерного п-р-п-транзистора, база которого подключена к первому источнику опорного напр жени , а коллектор - к базе р-п-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго лциода, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод - с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катою о дом первого диода, а анод второго диода соединен с источником положи4 тельного напр жени , коллектор р-п-ртранзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с базой р-п-р-транг зистора, а эмиттер - с одним выводом второго резистора, другой вьгоод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора, вл ющейс вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод, катод которого соединен с шиной нулевого потенциала, а анод .с одним выводом третьего резистора.
Description
другой вывод которого подключен к базе четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с кол-, лектором п того п-р-п-транзистора, вл ющимс первым выходом блока внут ренней регенерации, эмиттеры четвертого , п того и шестого п-р-п-транзисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого п-р-п-транзистора соединена с вторым источником опорного напр жени , а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вьшод
которого подключен к источнику положительного напр жени , а коллектор п того п-р-п-транзистора соединен с одним выводом п того резистора, другой вывод которого соединен с источником положительного напр жени , четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего п-р-п-транзистора , а катод вл етс третьим входом блока внутренней регенерации, база п того п-р-п-транзистора вл етс четвертым входом блока внутренней регенерации.
Изобретение относитс к цифровой вычислительной технике, в частности к полупроводниковым оперативным запоминающим устройствам (ОЗУ). Известно ОЗУ, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствуюш 1ми словарными шинами нако пител , дешифратор столбцов, выходы которого соединены с разр дными уси лител ми, считывани , входы которых по/1ключены к разр дным шинам, а выходы соединены со входами выходного усилител , и схему выбора кристалла 1. Недостатком данного ОЗУ вл етс низка надежность хранени информации . Наиболее близким к данному изобретению вл етс ОЗУ, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены :с соответствующими словарными шинами накопител , дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разр дных усилителей считывани , вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разр дными шинами накопител , а первые и вторые выходы разр дных усилителей считывани соединены соответственно с первыми вторыми входами выходного усилител , и блок выбора кристалла Zj . Недостатком этого ОЗУ вл етс низка достоверность функционировани и большое потребление мощности. Целью изобретени вл етс повышение надежности устройства путем увеличени достоверности хранимой информации и уменьшение потребл емой мощности. Поставленна цель достигаетс тем, что в оперативное запоминающее устройство, содержащее матричный накопитель , дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопител , дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разр дных усилителей считывани , вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разр дными шинами накопител , а первые и вторые выходы разр дных усилителей считывани соединены соответственно с первым и вторым входами выходного усилител и блока выбора кристалла, введены блок внутренней регенерации, первьш и второй входы которого соединены соответственно с первыми и вторыми выходами разр дных усилителей считьшани , а третий и четвертый входы - с соответствующими выходами блока выбора кристалла , первый выход блока внутренней регенерации соединен с управл ющими входами дешифраторов столбцов и строк а второй выход - с третьим входом выходного усилител . Блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы , базы которых соответственно вл ютс первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напр жени , а эмиттеры соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двухэмиттерното п-р-п-тра зистора, база которого подключена к первому источнику опорного напр жени , а коллектор - к базе р-п-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод - с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катодом первого диода а анод второго диода соединен с источником положительного напр жени , коллектор р-п-р-транзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора , коллектор которого соединен с базой р-п-р-транзистора, а эмиттер с одним вьшодом второго резистора, другой вывод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора, вл ющейс вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод катод которого соединен с шиной нулевого потенциала, а анод - с одним выводом третьего резистора, дру гой вывод которого подключен к базе четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с колле тором п того п-р-п-транзистора, вл ющимс первым выходом блока внутренней регенерации, эмиттеры че вертого, п того и шестого п-р-п-тра зисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого п-р-п-транзистора соединена со вторым источником опорного напр жени , а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вывод которого подключен к источник положительного напр жени , а коллек тор п того п-р-п-транзистора соединен с одним выводом п того резистора , другой вьшод которого соединен с источником положительного напр жени , четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего п-р-п-транзистора, а катод вл етс третьим входом блока внутренней регенерации, база п того п-р-п-тран зистора вл етс четвертым входом блока внутренней регенерации. На фиг. 1 представлена структурна схема ОЗУ; на фиг. 2 - принципиаль на электрическа схема блока внутренней регенерации. ОЗУ содержит матричный накопитель 1, словарные шины 2, разр дные шины 3, дешифратор 4 строк, дешифратор 5 столбцов, разр дные усилители считывани 6, выходной усилитель 7, блок 8 выбора кристалла, блок внутренней регенерации 9. Блок внутренней регенерации 9 содержит первый и второй п-р-п-транзисторы соответственно 10 и 11, источники положительного напр жени 12 и 13 дл п-р-п-транзисторов 10 и 11, первый и второй генераторы тока соответственно 14 и 15, двухэмиттерный п-р-п-транзистор 16, пер- вый источник опорного напр жени 17, р-п-р-транзистор 18, первый и второй диоды соответственно 19 и 20, первый резистор 21, источник положительного напр жени 22, третий п-р-п-транзистор 23, второй резистор 24, четвертый п-р-п-транзистор 25, третий диод 26, шину нулевого потенциала 27, третий резистор 28, п тый п-р-п-транзистор 29, шестой п-р-п-транзистор 30, третий генератор тока 31, второй источник опорного напр жени 32, четвертый и п тый резисторы соответственно 33 и 34, источники положительного напр жени 35 и 36, четвертьй диод 37. ОЗУ работает следующим образом. При обращении к матричному накопителю 1 выбор запоминающих элементов осуществл етс понижением потенциала словарной шины 2 в выбранной строке и заданием тока записи-считьгоани в разр дных шинах 3 выбранного столбца в соответствии с кодом адреса, поступающим с дешифраторов строк 4 и столбцов 5.Информационный сигнал в виде разности потенциалов разр дных шин 3 усиливаетс разр дным усилителем считывани 6 и поступает одновременно на выходной усилитель 7 и блок внутренней регенерации 9. Дл экономии потребл емой мощности сигналом с дешифратора столбцов 5 включаетс разр дньм усилитель считывани 6 только в выбранном столбце. В режиме считывани информации под действием информационного сигнала выходной усилитель 7 переключаетс в одно из состо ний (логического нул или единицы) и выдает считанную информацию на выход ОЗУ. В режиме записи информации, в от511
личии от режима считывани , выходной усилитель 7 выключен, и записываема информаци на выход ОЗУ не поступает При поступлении информационного сигнала блок внутренней регенерации формирует два управл ющий сигнала, один из них фиксирует состо ние выходного усилител 7 (в режиме считывани информации), обеспечива посто нную выдачу считанной информации на выход ОЗУ независимо от протекающих в дальнейшем процессов в матричном накопителе 1 до окончани обращени к кристаллу. Другой управл ющий сигнал отключает дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от матричного накопител 1 и переводит тем самым последний в режим регенерации (хранени ) информации. Таким образом, когда процесс считывани или записи уже закончен, но кристалл остаетс выбранным, блок внутренней регенерации 9 переводит ОЗУ в целом в режим пониженной потребл емой мощности , обеспечива высокую экономичность . По окончании обращени к кристаллу блок 8 выбора кристалла формирует два управл ющих сигнала, один из которых переводит блок внутренней регенерации в исходное состо ние, а другой запрещает вклю-, чение дешифраторов строк 4 и столбцов 5.
Введение в ОЗУ блока внутренней регенерации 9 позвол ет создать статическое ОЗУ на основе квазистатических элементов пам ти.
Блок внутренней регенерации 9 работает следующим образом.
В режиме хранени информации на базы первого и второго п-р-п-тран зисторов соответственно 10 и 11 поступают сигналы высокого логического уровн с первого и второго выходного усилител 7. Блок 8 выбора кристалла формирует на выходах сигналы соответственно низкого и высокого логического уровн . Таким образом, в режиме хранени информации р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23 выключены и с резистивного делител , образованного вторым 24 и третьим 28 резисторами, на базу четвертого п-р-п-транзистора 25 посту ,пает сигнал низкого логического уровн . Ток третьего генератора тока 31 протекает через п тый транзистор 29 и формирует на п том резисторе 34
1204
сигнал низкого логического уровн , отключающий дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от матричного накопител 1.
При обращении к кристаллу блок 8 выбора кристалла формирует на первом выходе сигнал высокого логического уровн (но р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23 остаютс в выключенном состо нии бла0 годар использованию четвертого разв зывающего диода 37), а на втором выходе - низкого логического уровн .
Ток третьего генератора тока 31
5 переключаетс в шестой п-р-п-транзистор 30. На п том резисторе 34 формируетс сигнал высокого логического уровн , разрешающий прохождение кода адреса с дешифраторов
0 строк 4 и столбцов 5 на накопитель 1. В зависимости от используемых конструкций дешифраторов дл их включени и выключени может быть использован сигнал противоположной пол р5 ности, формируемый на четвертом резисторе 33 (фиг. 2, показано пунктиром ) . После завершени в накопителе 1 процесса считывани или записи дифференциальный информационный
0 сигнал поступает с разр дных усилителей считывани 6 на выходной усилитель 7. В зависимости от пол рности дифференциального сигнала ток одного из генераторов тока 14 или
5 15 переключаетс в двухэмиттерный транзистор 16 и включает р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23. Второй диод 20 и третий диод 26 служат дл согласовани логичес0 ких уровней, а первый диод 19,- дл стабилизации тока, протекающего через р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23. На резистив .ном делителе, образованном вторым
5 и третьим резисторами 24 и 28 формируетс сигнал высокого лoгичecкdго уровн , фиксируннций состо ние выходного усилител 7 и переключающий ток третьего генератора тока 31 в
0 четвертый транзистор 25. На п том резисторе 34 формируетс сигнал низкого логического уровн , отключающий дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от накопител 1 и переS вод щий последний в режим регенера ции (хранени ) информации. С переходном накопител 1 в режим регенерации информации потенциалы на 711 входах выходного усипител 7 выравниваютс и повышаютс . Ток первого или второго генераторов тока 14, 15 вновь переключаетс в первый или второй п-р-п-транзисгоры 10 и 11, но р-п-р-транзистор 18 и третий . п-р-п-транзистор 23 остаютс включенными . Состо ние вьпсодного усилител 7 остаетс фиксированным до окончани обращени к кристаллу. Ток третьего генератора тока 31 по-прежнему протекает через четвертыйп-р-п-транзистор 25 и формирует на п том резисторе 34- сигнал низкого логического уровн . Дешифратор строки 4 и столбцов 5 отключены от накопител 1. Пр окончании обращени к кристалл блок 8 выбора кристалла формирует на Своих выходах сигналы соответственн низкого и высокого логических уровней , р-п-р-транзистор и третий п-р-п -транзистор 23 выключаютс , резисти ным делителем, образованным вторым и третьим резисторами 24 и 28, на втором выходе блока внутренней реге нерации 9 формируетс сигнал низкого логического уровн , выключающи выходной усилитель 7. Ток третьего генератора тока 31 переключаетс из четвертого п-р-п-транзистора 25 в п тый п-р-п-транзистор 29. На п том резисторе 34 по-прежнему формиуетс сигнал низкого логического ровн и дешифраторы строк 4 и столбцов 5 отключены от накопител . Использование блока внутренней регенерации 9 не ухудшает быстродействие ОЗУ, так как включение блока внутренней регенерации 9 и перевод накопител 1 в режим регенерации информации происходит одновременно с включением выходного усилител 7. В то же врем блок внутренней регенерации 9 позвол ет значительно снизить потребл емую ОЗУ мощность за счет выключени р да блоков или работы их при пониженной потребл емой мощности в режиме регенерации-информации . Кроме того, использование блока внутренней регенерации 9 позвол ет повысить достоверность функционировани ОЗУ за счет того., что сигналом, перевод щим накопитель 1 в режиме регенерации информации, вл етс внутренний (информационный) сигнал. Введение в ОЗУ блока внутренней регенерации выгодно отличает предложенное оперативное запоминающее устройство от прототипа, так как позвол ет повысить достоверность функционировани ОЗУ и снизить потребл емую мощность.
Л/м.
CiJ
}«s
(V
:s
8
Claims (2)
1. ОПЕРАТИВНОЕ ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопителя, дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разрядных усилителей считывания, вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разрядными шинами накопителя, а первые и вторые выходы разрядных усилителей считывания соединены соответственно с первым и вторым входами выходного усилителя и блок выбора кристалла, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности путем увеличения достоверности хранимой информации и уменьшения потребляемой мощности, устройство содержит блок внутренней регенерации, первый и второй входы которого соединены ' соответственно с первыми и вторыми выходами разрядных усилителей считывания, а третий и четвертый входы с соответствующими выходами блока выбора кристалла, первый выход блока внутренней регенерации соединен с управляющими входами дешифраторов столбцов и строк, а второй выход с третьим входом выходного усилителя.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы, базы которых соответственно являются первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напряжения, а эмиттеры - соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двухэмиттерного п-р-п-транзистора, база которого подключена к первому источнику опорного напряжения, а коллектор - к базе р-п-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, в первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго \циода, первый' резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод - с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катодом первого диода, а анод второго диода соединен с источником положительного напряжения, коллектор р-п-ртранзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с базой р-п-р-транг зистора, а эмиттер - с одним выводом второго резистора, другой вывод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора, являющейся вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод, катод которого соединем с шиной нулевого потенциала, а анод ,с одним выводом третьего резистора, другой вывод которого подключен к базе четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с кол-, лектором пятого п-р-п-транзистора, являющимся первым выходом блока внутренней регенерации, эмиттеры четвертого, пятого и шестого п-р-п-транзисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого п-р-п-транзистора соединена с вторым источником опорного напряжения, а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вывод которого подключен к источнику положительного напряжения, а коллектор пятого п-р-п-транзистора соединен с одним выводом пятого резистора, другой вывод которого соединен с источником положительного напряжения, четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего п-р-п-тран· зистора, а катод является третьим входом блока внутренней регенерации, база пятого п-р-п-транзистора является четвертым входом блока внут· ренней регенерации.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU823511235A SU1111204A1 (ru) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | Оперативное запоминающее устройство |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU823511235A SU1111204A1 (ru) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | Оперативное запоминающее устройство |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1111204A1 true SU1111204A1 (ru) | 1984-08-30 |
Family
ID=21035601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU823511235A SU1111204A1 (ru) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | Оперативное запоминающее устройство |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1111204A1 (ru) |
-
1982
- 1982-11-16 SU SU823511235A patent/SU1111204A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 1. Electronik, № 13, 1981, S. 69-74. 2. IEEE Gournal of Solid-State Circuits,; № 5, v. 16, 1981, p. 429434, (прототип). * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4965767A (en) | Associative memory having simplified memory cell circuitry | |
| US6519195B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| US4745582A (en) | Bipolar-transistor type random access memory device having redundancy configuration | |
| US4839862A (en) | Static random access memory having Bi-CMOS construction | |
| US4054865A (en) | Sense latch circuit for a bisectional memory array | |
| US4858183A (en) | ECL high speed semiconductor memory and method of accessing stored information therein | |
| US4464735A (en) | Semiconductor memory | |
| JPS58118088A (ja) | ランダム・アクセス・メモリ・アレイ | |
| US4404662A (en) | Method and circuit for accessing an integrated semiconductor memory | |
| US5719811A (en) | Semiconductor memory device | |
| SU1111204A1 (ru) | Оперативное запоминающее устройство | |
| EP0418794B1 (en) | Semiconductor memory device | |
| JPH0467720B2 (ru) | ||
| JPS62262295A (ja) | ランダム・アクセス・メモリ | |
| JPH0785358B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
| US3651491A (en) | Memory device having common read/write terminals | |
| US4570238A (en) | Selectable write current source for bipolar rams | |
| EP0092062B1 (en) | Voltage balancing circuit for memory systems | |
| JPH06195977A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| US4703458A (en) | Circuit for writing bipolar memory cells | |
| JPS59229784A (ja) | バイポ−ラ型ram | |
| SU1171849A1 (ru) | Запоминающее устройство | |
| SU613404A1 (ru) | Запоминающее устройство | |
| SU1674261A1 (ru) | Полупроводниковое запоминающее устройство | |
| SU799002A1 (ru) | Запоминающее устройство |