SU1111204A1 - Оперативное запоминающее устройство - Google Patents

Оперативное запоминающее устройство Download PDF

Info

Publication number
SU1111204A1
SU1111204A1 SU823511235A SU3511235A SU1111204A1 SU 1111204 A1 SU1111204 A1 SU 1111204A1 SU 823511235 A SU823511235 A SU 823511235A SU 3511235 A SU3511235 A SU 3511235A SU 1111204 A1 SU1111204 A1 SU 1111204A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
inputs
transistor
output
base
diode
Prior art date
Application number
SU823511235A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Владимирович Баринов
Дмитрий Евгеньевич Ковалдин
Владимир Федорович Онацько
Original Assignee
Московский институт электронной техники
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский институт электронной техники filed Critical Московский институт электронной техники
Priority to SU823511235A priority Critical patent/SU1111204A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1111204A1 publication Critical patent/SU1111204A1/ru

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

1. ОПЕРАТИВНОЕ ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее матричньш накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопител , дешифратор столбцов, вькоды которого соединены с первыми входами соответствующих разр дных усилителей считывани , вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разр дными шинами накопител , а первые и вторые выходы разр дных усилителей считывани  соединены соответственно с первым и вторьм входами выходного усилител  и блок выбора кристалла, отличающеес  тем, что, с целью повьш1ени  надежности путем увеличени  достоверности хранимой информации и уменьшени  потребл емой мощности, устройство содержит блок внутренней регенерации, первый и второй входы которого соединены соответственно с первыми и вторыми выходами разр дных усилителей счи тывани , а третий и четвертый входы с соответствующими выходами блока выбора кристалла, первый выход блока внутренней регенерации соединен с управл ющими входами дешифраторов столбцов и строк, а второй выход с третьим входом выходного усилител . 2. Устройство по п. 1, отличающеес  тем, что блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы, базы которых соответственно  вл ютс  первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напр жени , а эмиттеры - соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двух-, § эмиттерного п-р-п-транзистора, база которого подключена к первому источнику опорного напр жени , а коллектор - к базе р-п-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго лциода, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод - с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катою о дом первого диода, а анод второго диода соединен с источником положи4 тельного напр жени , коллектор р-п-ртранзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с базой р-п-р-транг зистора, а эмиттер - с одним выводом второго резистора, другой вьгоод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора,  вл ющейс  вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод, катод которого соединен с шиной нулевого потенциала, а анод .с одним выводом третьего резистора.

Description

другой вывод которого подключен к базе четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с кол-, лектором п того п-р-п-транзистора,  вл ющимс  первым выходом блока внут ренней регенерации, эмиттеры четвертого , п того и шестого п-р-п-транзисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого п-р-п-транзистора соединена с вторым источником опорного напр жени , а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вьшод
которого подключен к источнику положительного напр жени , а коллектор п того п-р-п-транзистора соединен с одним выводом п того резистора, другой вывод которого соединен с источником положительного напр жени , четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего п-р-п-транзистора , а катод  вл етс  третьим входом блока внутренней регенерации, база п того п-р-п-транзистора  вл етс  четвертым входом блока внутренней регенерации.
Изобретение относитс  к цифровой вычислительной технике, в частности к полупроводниковым оперативным запоминающим устройствам (ОЗУ). Известно ОЗУ, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствуюш 1ми словарными шинами нако пител , дешифратор столбцов, выходы которого соединены с разр дными уси лител ми, считывани , входы которых по/1ключены к разр дным шинам, а выходы соединены со входами выходного усилител , и схему выбора кристалла 1. Недостатком данного ОЗУ  вл етс  низка  надежность хранени  информации . Наиболее близким к данному изобретению  вл етс  ОЗУ, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены :с соответствующими словарными шинами накопител , дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разр дных усилителей считывани , вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разр дными шинами накопител , а первые и вторые выходы разр дных усилителей считывани  соединены соответственно с первыми вторыми входами выходного усилител , и блок выбора кристалла Zj . Недостатком этого ОЗУ  вл етс  низка  достоверность функционировани  и большое потребление мощности. Целью изобретени   вл етс  повышение надежности устройства путем увеличени  достоверности хранимой информации и уменьшение потребл емой мощности. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в оперативное запоминающее устройство, содержащее матричный накопитель , дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопител , дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разр дных усилителей считывани , вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разр дными шинами накопител , а первые и вторые выходы разр дных усилителей считывани  соединены соответственно с первым и вторым входами выходного усилител  и блока выбора кристалла, введены блок внутренней регенерации, первьш и второй входы которого соединены соответственно с первыми и вторыми выходами разр дных усилителей считьшани , а третий и четвертый входы - с соответствующими выходами блока выбора кристалла , первый выход блока внутренней регенерации соединен с управл ющими входами дешифраторов столбцов и строк а второй выход - с третьим входом выходного усилител . Блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы , базы которых соответственно  вл ютс  первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напр жени , а эмиттеры соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двухэмиттерното п-р-п-тра зистора, база которого подключена к первому источнику опорного напр жени , а коллектор - к базе р-п-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод - с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катодом первого диода а анод второго диода соединен с источником положительного напр жени , коллектор р-п-р-транзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора , коллектор которого соединен с базой р-п-р-транзистора, а эмиттер с одним вьшодом второго резистора, другой вывод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора,  вл ющейс  вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод катод которого соединен с шиной нулевого потенциала, а анод - с одним выводом третьего резистора, дру гой вывод которого подключен к базе четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с колле тором п того п-р-п-транзистора,  вл ющимс  первым выходом блока внутренней регенерации, эмиттеры че вертого, п того и шестого п-р-п-тра зисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого п-р-п-транзистора соединена со вторым источником опорного напр жени , а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вывод которого подключен к источник положительного напр жени , а коллек тор п того п-р-п-транзистора соединен с одним выводом п того резистора , другой вьшод которого соединен с источником положительного напр жени , четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего п-р-п-транзистора, а катод  вл етс  третьим входом блока внутренней регенерации, база п того п-р-п-тран зистора  вл етс  четвертым входом блока внутренней регенерации. На фиг. 1 представлена структурна  схема ОЗУ; на фиг. 2 - принципиаль на  электрическа  схема блока внутренней регенерации. ОЗУ содержит матричный накопитель 1, словарные шины 2, разр дные шины 3, дешифратор 4 строк, дешифратор 5 столбцов, разр дные усилители считывани  6, выходной усилитель 7, блок 8 выбора кристалла, блок внутренней регенерации 9. Блок внутренней регенерации 9 содержит первый и второй п-р-п-транзисторы соответственно 10 и 11, источники положительного напр жени  12 и 13 дл  п-р-п-транзисторов 10 и 11, первый и второй генераторы тока соответственно 14 и 15, двухэмиттерный п-р-п-транзистор 16, пер- вый источник опорного напр жени  17, р-п-р-транзистор 18, первый и второй диоды соответственно 19 и 20, первый резистор 21, источник положительного напр жени  22, третий п-р-п-транзистор 23, второй резистор 24, четвертый п-р-п-транзистор 25, третий диод 26, шину нулевого потенциала 27, третий резистор 28, п тый п-р-п-транзистор 29, шестой п-р-п-транзистор 30, третий генератор тока 31, второй источник опорного напр жени  32, четвертый и п тый резисторы соответственно 33 и 34, источники положительного напр жени  35 и 36, четвертьй диод 37. ОЗУ работает следующим образом. При обращении к матричному накопителю 1 выбор запоминающих элементов осуществл етс  понижением потенциала словарной шины 2 в выбранной строке и заданием тока записи-считьгоани  в разр дных шинах 3 выбранного столбца в соответствии с кодом адреса, поступающим с дешифраторов строк 4 и столбцов 5.Информационный сигнал в виде разности потенциалов разр дных шин 3 усиливаетс  разр дным усилителем считывани  6 и поступает одновременно на выходной усилитель 7 и блок внутренней регенерации 9. Дл  экономии потребл емой мощности сигналом с дешифратора столбцов 5 включаетс  разр дньм усилитель считывани  6 только в выбранном столбце. В режиме считывани  информации под действием информационного сигнала выходной усилитель 7 переключаетс  в одно из состо ний (логического нул  или единицы) и выдает считанную информацию на выход ОЗУ. В режиме записи информации, в от511
личии от режима считывани , выходной усилитель 7 выключен, и записываема  информаци  на выход ОЗУ не поступает При поступлении информационного сигнала блок внутренней регенерации формирует два управл ющий сигнала, один из них фиксирует состо ние выходного усилител  7 (в режиме считывани  информации), обеспечива  посто нную выдачу считанной информации на выход ОЗУ независимо от протекающих в дальнейшем процессов в матричном накопителе 1 до окончани  обращени  к кристаллу. Другой управл ющий сигнал отключает дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от матричного накопител  1 и переводит тем самым последний в режим регенерации (хранени ) информации. Таким образом, когда процесс считывани  или записи уже закончен, но кристалл остаетс  выбранным, блок внутренней регенерации 9 переводит ОЗУ в целом в режим пониженной потребл емой мощности , обеспечива  высокую экономичность . По окончании обращени  к кристаллу блок 8 выбора кристалла формирует два управл ющих сигнала, один из которых переводит блок внутренней регенерации в исходное состо ние, а другой запрещает вклю-, чение дешифраторов строк 4 и столбцов 5.
Введение в ОЗУ блока внутренней регенерации 9 позвол ет создать статическое ОЗУ на основе квазистатических элементов пам ти.
Блок внутренней регенерации 9 работает следующим образом.
В режиме хранени  информации на базы первого и второго п-р-п-тран зисторов соответственно 10 и 11 поступают сигналы высокого логического уровн  с первого и второго выходного усилител  7. Блок 8 выбора кристалла формирует на выходах сигналы соответственно низкого и высокого логического уровн . Таким образом, в режиме хранени  информации р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23 выключены и с резистивного делител , образованного вторым 24 и третьим 28 резисторами, на базу четвертого п-р-п-транзистора 25 посту ,пает сигнал низкого логического уровн . Ток третьего генератора тока 31 протекает через п тый транзистор 29 и формирует на п том резисторе 34
1204
сигнал низкого логического уровн , отключающий дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от матричного накопител  1.
При обращении к кристаллу блок 8 выбора кристалла формирует на первом выходе сигнал высокого логического уровн  (но р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23 остаютс  в выключенном состо нии бла0 годар  использованию четвертого разв зывающего диода 37), а на втором выходе - низкого логического уровн .
Ток третьего генератора тока 31
5 переключаетс  в шестой п-р-п-транзистор 30. На п том резисторе 34 формируетс  сигнал высокого логического уровн , разрешающий прохождение кода адреса с дешифраторов
0 строк 4 и столбцов 5 на накопитель 1. В зависимости от используемых конструкций дешифраторов дл  их включени  и выключени  может быть использован сигнал противоположной пол р5 ности, формируемый на четвертом резисторе 33 (фиг. 2, показано пунктиром ) . После завершени  в накопителе 1 процесса считывани  или записи дифференциальный информационный
0 сигнал поступает с разр дных усилителей считывани  6 на выходной усилитель 7. В зависимости от пол рности дифференциального сигнала ток одного из генераторов тока 14 или
5 15 переключаетс  в двухэмиттерный транзистор 16 и включает р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23. Второй диод 20 и третий диод 26 служат дл  согласовани  логичес0 ких уровней, а первый диод 19,- дл  стабилизации тока, протекающего через р-п-р-транзистор 18 и третий п-р-п-транзистор 23. На резистив .ном делителе, образованном вторым
5 и третьим резисторами 24 и 28 формируетс  сигнал высокого лoгичecкdго уровн , фиксируннций состо ние выходного усилител  7 и переключающий ток третьего генератора тока 31 в
0 четвертый транзистор 25. На п том резисторе 34 формируетс  сигнал низкого логического уровн , отключающий дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от накопител  1 и переS вод щий последний в режим регенера ции (хранени ) информации. С переходном накопител  1 в режим регенерации информации потенциалы на 711 входах выходного усипител  7 выравниваютс  и повышаютс . Ток первого или второго генераторов тока 14, 15 вновь переключаетс  в первый или второй п-р-п-транзисгоры 10 и 11, но р-п-р-транзистор 18 и третий . п-р-п-транзистор 23 остаютс  включенными . Состо ние вьпсодного усилител  7 остаетс  фиксированным до окончани  обращени  к кристаллу. Ток третьего генератора тока 31 по-прежнему протекает через четвертыйп-р-п-транзистор 25 и формирует на п том резисторе 34- сигнал низкого логического уровн . Дешифратор строки 4 и столбцов 5 отключены от накопител  1. Пр окончании обращени  к кристалл блок 8 выбора кристалла формирует на Своих выходах сигналы соответственн низкого и высокого логических уровней , р-п-р-транзистор и третий п-р-п -транзистор 23 выключаютс , резисти ным делителем, образованным вторым и третьим резисторами 24 и 28, на втором выходе блока внутренней реге нерации 9 формируетс  сигнал низкого логического уровн , выключающи выходной усилитель 7. Ток третьего генератора тока 31 переключаетс  из четвертого п-р-п-транзистора 25 в п тый п-р-п-транзистор 29. На п том резисторе 34 по-прежнему формиуетс  сигнал низкого логического ровн  и дешифраторы строк 4 и столбцов 5 отключены от накопител . Использование блока внутренней регенерации 9 не ухудшает быстродействие ОЗУ, так как включение блока внутренней регенерации 9 и перевод накопител  1 в режим регенерации информации происходит одновременно с включением выходного усилител  7. В то же врем  блок внутренней регенерации 9 позвол ет значительно снизить потребл емую ОЗУ мощность за счет выключени  р да блоков или работы их при пониженной потребл емой мощности в режиме регенерации-информации . Кроме того, использование блока внутренней регенерации 9 позвол ет повысить достоверность функционировани  ОЗУ за счет того., что сигналом, перевод щим накопитель 1 в режиме регенерации информации,  вл етс  внутренний (информационный) сигнал. Введение в ОЗУ блока внутренней регенерации выгодно отличает предложенное оперативное запоминающее устройство от прототипа, так как позвол ет повысить достоверность функционировани  ОЗУ и снизить потребл емую мощность.
Л/м.
CiJ 
}«s
(V
:s
8

Claims (2)

1. ОПЕРАТИВНОЕ ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопителя, дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разрядных усилителей считывания, вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разрядными шинами накопителя, а первые и вторые выходы разрядных усилителей считывания соединены соответственно с первым и вторым входами выходного усилителя и блок выбора кристалла, отличающееся тем, что, с целью повышения надежности путем увеличения достоверности хранимой информации и уменьшения потребляемой мощности, устройство содержит блок внутренней регенерации, первый и второй входы которого соединены ' соответственно с первыми и вторыми выходами разрядных усилителей считывания, а третий и четвертый входы с соответствующими выходами блока выбора кристалла, первый выход блока внутренней регенерации соединен с управляющими входами дешифраторов столбцов и строк, а второй выход с третьим входом выходного усилителя.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы, базы которых соответственно являются первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напряжения, а эмиттеры - соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двухэмиттерного п-р-п-транзистора, база которого подключена к первому источнику опорного напряжения, а коллектор - к базе р-п-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, в первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго \циода, первый' резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод - с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катодом первого диода, а анод второго диода соединен с источником положительного напряжения, коллектор р-п-ртранзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с базой р-п-р-транг зистора, а эмиттер - с одним выводом второго резистора, другой вывод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора, являющейся вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод, катод которого соединем с шиной нулевого потенциала, а анод ,с одним выводом третьего резистора, другой вывод которого подключен к базе четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с кол-, лектором пятого п-р-п-транзистора, являющимся первым выходом блока внутренней регенерации, эмиттеры четвертого, пятого и шестого п-р-п-транзисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого п-р-п-транзистора соединена с вторым источником опорного напряжения, а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вывод которого подключен к источнику положительного напряжения, а коллектор пятого п-р-п-транзистора соединен с одним выводом пятого резистора, другой вывод которого соединен с источником положительного напряжения, четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего п-р-п-тран· зистора, а катод является третьим входом блока внутренней регенерации, база пятого п-р-п-транзистора является четвертым входом блока внут· ренней регенерации.
SU823511235A 1982-11-16 1982-11-16 Оперативное запоминающее устройство SU1111204A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823511235A SU1111204A1 (ru) 1982-11-16 1982-11-16 Оперативное запоминающее устройство

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823511235A SU1111204A1 (ru) 1982-11-16 1982-11-16 Оперативное запоминающее устройство

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1111204A1 true SU1111204A1 (ru) 1984-08-30

Family

ID=21035601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823511235A SU1111204A1 (ru) 1982-11-16 1982-11-16 Оперативное запоминающее устройство

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1111204A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Electronik, № 13, 1981, S. 69-74. 2. IEEE Gournal of Solid-State Circuits,; № 5, v. 16, 1981, p. 429434, (прототип). *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4965767A (en) Associative memory having simplified memory cell circuitry
US6519195B2 (en) Semiconductor integrated circuit
US4745582A (en) Bipolar-transistor type random access memory device having redundancy configuration
US4839862A (en) Static random access memory having Bi-CMOS construction
US4054865A (en) Sense latch circuit for a bisectional memory array
US4858183A (en) ECL high speed semiconductor memory and method of accessing stored information therein
US4464735A (en) Semiconductor memory
JPS58118088A (ja) ランダム・アクセス・メモリ・アレイ
US4404662A (en) Method and circuit for accessing an integrated semiconductor memory
US5719811A (en) Semiconductor memory device
SU1111204A1 (ru) Оперативное запоминающее устройство
EP0418794B1 (en) Semiconductor memory device
JPH0467720B2 (ru)
JPS62262295A (ja) ランダム・アクセス・メモリ
JPH0785358B2 (ja) 半導体記憶装置
US3651491A (en) Memory device having common read/write terminals
US4570238A (en) Selectable write current source for bipolar rams
EP0092062B1 (en) Voltage balancing circuit for memory systems
JPH06195977A (ja) 半導体記憶装置
US4703458A (en) Circuit for writing bipolar memory cells
JPS59229784A (ja) バイポ−ラ型ram
SU1171849A1 (ru) Запоминающее устройство
SU613404A1 (ru) Запоминающее устройство
SU1674261A1 (ru) Полупроводниковое запоминающее устройство
SU799002A1 (ru) Запоминающее устройство