TW511192B - Semiconductor device fabrication using adhesives - Google Patents
Semiconductor device fabrication using adhesives Download PDFInfo
- Publication number
- TW511192B TW511192B TW090110425A TW90110425A TW511192B TW 511192 B TW511192 B TW 511192B TW 090110425 A TW090110425 A TW 090110425A TW 90110425 A TW90110425 A TW 90110425A TW 511192 B TW511192 B TW 511192B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- patent application
- scope
- item
- adhesive
- solder
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/013—Manufacture or treatment of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/073—Connecting or disconnecting of die-attach connectors
- H10W72/07331—Connecting techniques
- H10W72/07336—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
- H10W72/353—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
- H10W72/354—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics comprising polymers
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Description
511192 A7 B7 五、發明説明(彳) 本發明之背景: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係關於半導體裝置的製造,尤指在焊接部件間 之接縫的構成之前及期間,暫時將裝置部件黏著在一起, 在裝置部件之堆疊內成自動對準關係。 在已知的半導體裝置製造程序中,許多裝置部件(包 含插入焊劑盤)在裝配架模孔中一個被裝載於另一個之上 ,且裝配架然後被加熱以使焊劑盤熔化而形成一疊被黏結 在一起的部件。所裝載的部件包括,例如,一第一終端引 線、一建立於第一引線之表面上的第一焊劑盤、一建立於 第一盤上的半導體晶片(或小晶片)、一晶片上之第二焊 劑盤、以及最後,一接觸第二焊劑盤的第二終端引線。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在製造程序期間,裝配架沿著裝配設備移動通過連續 的工作站,其中,個別部件依序被裝載入裝配架中,並且 所裝載的裝配架然後通過一爐,用以加熱及回流焊劑。產 生一個問題,即裝配架的移動及工作站的振動能夠造成裝 配架模孔內之部件的橫向位移,導致不良的裝置部件黏結 。另一個問題在於典型上裝配架係由抗高溫的材料所做的 ,例如鋁、石墨、或銅-石墨,裝配架的大熱塊可能對回 流程序有不利的影響,舉例來說,熱塊有時候造成不連續 、高度變化的結果。 另一方式爲提供爲黏著膏之形式的焊劑,例如在具有 膏狀稠度之黏著基體中之焊劑粒子的混合物。此方式的其 中一個優點爲因爲依賴黏著膏來維持部件對準,所以通常 不需要裝配架。隨著這樣的膏狀物所產生之問題(視所使 ^ t ® @ ( CNS ) ( 210 X 291 ) "" " ~ -4- 511192 A7 B7 __—-— 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(2) 用的膏狀物而定)爲在焊接程序的完成之後,可能需要額 外的淸潔程序來去除基體。況且,在焊劑回流期間,這樣 的膏狀物之黏著強度常常非常地不夠來維持部件對準,通 常,在黏著膏形式之焊劑的使用被廣泛地使用且常常另人 滿意的同時,仍然需要另一種旦改良之自行黏著部件堆疊 程序 本發明之槪述: 根據本發明,藉由黏著體之使用來達成在一疊半導體 組件中之組件的暫時自行黏合,而黏著體不是與堆疊中所 使用之焊劑預製品分開,就是被包含在黏膏形式的焊劑之 內。 根據本發明的一實施例,黏著體包括相當高純度的水 ,並且藉由水的表面張力來達成鄰接部件的黏合。在單一 加熱步驟期間(最好被實施於保護性、非氧化大氣中), 水完全被蒸發,而同時焊劑預製品被加熱,以形成所想要 的焊接接縫。 根據本發明的另一實施例,黏著體係商用黏著劑,其 具有可以被熔融焊劑所濕潤,並且在最終裝置的操作溫度 時爲化學及物理穩定的品質。在一較佳實施例中,黏著體 具有預先選定、可以和即將被形成之焊接接縫的厚度相匹 敵,但是和由焊接接縫所包圍之總橫向面積相較之下係小 的固定尺寸。照這樣,黏著體充當隔離物,且同時提供電 流及熱流經焊接接縫和裝置組件本身最小的障礙。 (請先閱讀背面之注意事項真填寫本頁) 参· ,ιτ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2i〇X297公釐) -5- 511192 A7 _B7___ 五、發明説明(3 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 黏著體能夠被應用作爲一與焊劑分開的組件(例如水 滴),或者一在焊劑內之組件,以形成自行黏著焊膏。在 後者的情況中,黏著體被永遠埋在完成裝置中的焊接接縫 之內。 附圖之簡略說明: 圖1顯示被用來形成一半導體裝置之習知程序,此半 導體裝置包含許多被疊在一起的組件。 圖2顯示在焊接程序的完成之後,圖1的半導體裝置 〇 圖3顯示根據本發明的一程序,此程序被用來形成一 包含許多被疊在一起的組件之半導體裝置。 圖4 ( a )顯示根據本發明之原理,在焊接程序的完 成之後所形成的半導體裝置。 圖4 ( b )顯示焊接接縫的一例,其使用可以在本發 明所使用的黏著劑及金屬組件。 經濟部智慧財產局gi工消費合作社印製 元件對照表 12 石墨底板 14 石墨頂板 16 開口(裝配架模孔) 18 覆蓋表面部分 2 2 底端 2 4 第一焊劑預製品 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -6 - 511192 A7 B7 五、發明説明(4) 26 半導體二極體晶片 2 8 第二焊劑預製品 3 0 頂端 32 焊接接縫 3 4 焊接接縫 4 0 黏著體 詳細說明= 如所述,在半導體裝置之製造中的一已知實例爲在組 裝裝配架的模孔內垂直堆疊許多裝置的組件,而後加熱該 裝配架,以回流被放置在相鄰裝置組件之間的焊劑塊,用 以形成焊接接縫於其間。這樣的習知實例的例子被顯示於 圖1中,其顯示一典型的兩部分組裝裝配架,包括一石墨 底板1 2 ,上面覆蓋一石墨頂板1 4 ,石墨頂板1 4具有 一整個通過底板之覆蓋表面部分1 8的開口 1 6。在僅單 一開口 1 6被顯示的同時(提供一裝配架“模孔”),一 典型的製造裝配架包含一陣列被行列交錯地配置的相同模 孔,藉由該等相同模孔,能夠製造一批一批的半導體裝置 〇 本發明能夠被使用在任何不同數目之類型之半導體裝 置的製造中,但是,舉例來說,本發明在此配合半導體整 流器的分批製造來做說明,而各合半導體整流器包括一被 焊接在二裝置端之間的單一半導體二極體晶片。在已知之 這樣的裝置製造中,如圖1所示,被裝載入裝配架模孔 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ·
、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -7- 511192 A7 _____ B7 __ 五、發明説明(5) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 6之裝置組件包括一底端2 2、一第一焊劑預製品2 4 、一半導體二極體晶片2 6、一第二焊劑預製品2 8及一 頂端3 0,在此習知示例中,焊劑預製品係相當堅硬的( 形狀保持的),並且在起初被提供時,不是自行黏著的。 當首先使用已知的“拿和放”機械手臂狀組件轉移機構將 組件裝載入裝配架中時,組件能夠被精確地橫向裝載入裝 配架模孔內,並且精確地彼此軸向對準。圖2顯示在程序 已經完成之後,最終的半導體裝置。在圖1及圖2中,相 同的參考數字表示相同的構件,如所示,最終的半導體裝 置包含焊接接縫3 2及3 4。 典型上,裝配架沿著裝配線移動通過連續的操作站, 其中,連續的裝置組件被裝載入裝配架中,如先前所注意 到,一問題即組裝設備的振動能夠造成裝配架模孔內之部 件的位移。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在另一已知之習知實例中,用於即將被形成之接縫的 焊膏係由固體焊劑粒子與黏性的助焊劑載體之混合物所做 的。當預熱於中等溫度(其視助焊劑的種類而定)時,在 最終回流加熱於較高溫度及焊接接縫形成程序之前,焊膏 能夠被用來提供對相鄰組件的黏著。當此類之膏及程序被 使用時,助焊劑載體(已經變成殘渣)在焊劑的回流程序 期間被排出焊接接縫之外,然後藉由淸潔程序而從表面被 去除,在完工的焊接接縫中僅留下焊劑。 雖然未顯示出,一已知實例爲在焊劑預製品或膏之內 包含有在起初被提供時爲小的高度導電材料(例如銅)之 本^張尺度適用中國國家標準( CNS ) A4規格( 210X297公釐) ~ -8- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 511192 A7 _____^_B7__ . 五、發明説明(6 ) 剛性隔離球體,在任何的加熱(預熱或是最終的加熱)步 驟中,沒有發生球體的熔化或軟化,具有預先選定之直徑 的剛性球體保持在最終的焊接接縫之內,並確保焊接接縫 厚度不小於最小直徑球體的直徑,隔離球體不是黏著劑。 現在配合圖3來說明本發明的第一實施例,圖3顯示 和圖1所示相同的半導體裝置,但是,除了黏著體4 0被 放置在各焊劑預製品2 4及2 8的任一側上之外,黏著體 4 0用作將固體預製品黏著於裝置組件,且預製品被放置 在裝置組件之間。 圖3所示之裝置的組裝方法能夠和習知圖1裝置所使 用之組裝方法相同,其差別在於4個額外的“組件”(亦 即黏著體4 0 )依所例示之順序被裝載入裝配架模孔內, 另一差別爲沒有實施裝配架的預熱,用以軟化焊劑預製品 成黏著狀態,黏著體提供模孔內之穩定堆疊中組件的黏著 〇 在本發明的第一實施例中,圖3所示之黏著體4 0包 括純水滴,最好是去電離的水。本發明之此實施例典型上 將會找到有限的應用,因爲水可能會幫助氧化,而且因爲 水在到達某些焊劑的熔點之前可能會蒸發。因爲水滴係用 作黏著劑,水必須使接觸表面“濕潤”。因此,在水滴最 好被裝載入裝配架模孔內的同時,按照圖3所示之其餘組 件的順序,以小、球體滴的形式,由於受到水之部件的濕 潤性以及抵抗水之部件的重量,水擴散成薄層,將藉由在 相鄰組件間之水的表面張力來達成堆疊內之組件的黏著。 本矣氏張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297&釐) ~ ^ -9- (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁)
511192 A7 B7 五、發明説明(7) 在回流程序期間,水將會蒸發而使得焊劑繼續接合裝置組 I . 件。 在本發明的一些實施例中,可能需要在還原空氣中實 施回流程序,以避免裝置組件的金屬表面氧化。或者,黏 著體4 0可以是從除了水以外的流體所做的,假設其具有 高的表面張力,其他的流體最好比水還不可能造成氧化, 但是,大部分的這些流體將會是有溶解力系列的,並且在 他們的蒸發程序期間應該要留神注意。 如圖3所示,有了所有的組件在適當的位置,有了水 或另一液體的薄層4 0在各組件之間,裝配架通過爐,並 且所有的組件被加熱至高溫,例如,對於典型的鉛系列焊 劑來說,溫度應該上升至3 0 0 t:以上,以形成焊接接縫 。如先前所述,在還原空氣中加熱組件可能是有利的,特 別是如果水被使用的話,因爲水在加熱期間將會蒸發,此 程序導致和圖2中相同的:!:件,其也被顯示於圖4 ( a ) 中。 如剛剛所述,當所使用的黏著體爲水時,在最終加熱 及焊劑回流之後,沒有任何圖3所示之組件堆疊中所使用 的“黏著劑”殘留。但是,根據本發明的其他實施例,所 使用的黏著體仍然留在完工的工件中,如圖4 ( b )所示 ,這些黏著體係選自以下具有某些較佳特性的商用黏著劑 〇 特別是,相當高的黏著強度係較佳的,以便祇需要少 量的黏著劑。照這樣,在黏著劑與組件之間的介面僅佔全 _—~~ ............................ . . ... .... ___ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 丁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -10- 511192 A7 B7 五、發明説明(8) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 部可用之表面積中一相當小的部分。因此,最終接縫的電 氣特性及熱特性僅歸因於係在焊接接縫中的金屬。況且, 如果僅少量被使用,則黏著劑本身不需要是導電性的。由 於根據本發明能夠達成廣泛不同尺寸的裝置,所以在此不 指定特定的導熱性及導電性,反而,將會由習於此技者根 據所想要之工件的特別特性來選擇黏著劑之這樣的特性。 不論被使用的黏著劑爲何,最終的焊接接縫必須符合和當 沒有使用黏著劑時類似的規格,例如,電氣參數及操作條 件。從在接縫裡面黏著劑的使用可能產生一附加利益,即 黏著劑能夠當作用於內部結構的消除應力構件,黏著劑實 施此功能的能力將會視黏著劑的特性及正被形成之特別裝 置而定。 經濟部智慧財產局Μ工消費合作社印製 在本發明的一些實施例中,黏著劑是熱固性材料,不 幸地,目前可用的熱固性黏著劑一般不能夠耐溫度高達 3 0 0 °C而不會遭受某些程度的變差。但是,正在發展純 熱塑性塑膠(其在溫度高達4 0 0 °C係穩定的),或熱塑 性材料與熱固性材料的混合物,這樣的塑膠之使用在本發 明中係特別有利的。 所使用之焊劑可以是焊劑合金,或者是其他能夠被埋 在黏著劑中之金屬。舉例來說,一被稱爲“導電性黏著劑 ”之商用產品係由熱固性環氧樹脂所做的,而金屬粒(通 常是銀)被埋在環氧樹脂中。在此材料可能適合用來組裝 某些半導體裝置的同時,其導熱性及導電性目前卻不足以 與功率整流器一起使用,黏著劑與焊劑可以用預製品(在 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) ~-- -11 - 511192 A7 B7 五、發明説明(9) 室溫時已是黏著的)之形式而被提供,因此使所有的組件 從開始就保持被疊在適當的位置。替代地,黏著劑與焊劑 可以用黏著膏狀物之形式而被提供,其能夠很容易地從注 射器中擴散。如果預製品被使用,則他們可以藉由相同的 “拿和放”系統(其被使用來排列組件的堆疊)而被放在 適當的位置,假設考慮進預製品的黏著性。在另一替代方 式中,以二步驟操作來施加焊劑(膏狀物或預製品)與黏 著劑,此程序之所以有利係因爲可以彼此獨立地被選擇, 使得對每一個來說能夠選擇更是最佳的材料,可以根據各 材料的不同特性來材料。 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局負工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -12-
Claims (1)
- 511192 ABCD 六、申請專利範圍 1、 一種半導體裝置的組裝方法,該半導體裝置包含 多個終端及至少一半導體組件,一個被堆疊在另一個之上 ,該方法包括步驟: 提供一第一終端、一第一焊劑預製品、一第一半導體 組件、一第二焊劑預製品及一第二終端; 提供一第一、第二、第三及第四黏著體; 依照第一終端、第一黏著體、第一焊劑預製品、第二 黏著體、第一半導體組件、第三黏著體、第二焊劑預製品 、第四黏著體、及第二終端的順序而一個堆疊在另一個之 上;以及 將堆疊加熱至足以軟化焊劑預製品的溫度,使得焊接 接縫被形成。 2、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該第一、第 二、第三及第四黏著體爲流體滴,其使與該等流體滴接觸 的表面濕潤。 3、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該第一、第 二、第三及第四黏著體爲水滴。 4、 如申請專利範圍第3項的方法,其中該水滴爲去 電離之水滴。 5、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該加熱堆疊 的步驟包括加熱堆疊於還原空氣的步驟。 6、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該加熱堆疊 的步驟被實施於一裝配架的模孔中。 7、 如申請專利範圍第1項的方法,其中在其中一個 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) · I J------ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) #1. 經濟部智慧財是A貝工消費合作社印製 • J— n IJ. · 511192 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 黏著體與和其接觸的表面間之介面的表面積係小於第一半 導體組件之表面的表面積。 8、 如申請專利範圍第7項的方法,其中該介面的表 面積係足夠地小,以使焊接接縫的電氣特性及熱特性改變 到一非真實的程度。 9、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該等黏著體 係形成自一實際非導電的材料。 1 〇、如申請專利範圍第1項的方法,其中該半導體 裝置係整流器。 1 1、如申請專利範圍第1項的方法,其中該等黏著 體具有足以維持組件對準以形成堆疊的黏著強度。 1 2、一種半導體裝置的組裝方法,該半導體裝置包 含多個終端及至少一半導體組件,·一個被堆疊在另一個之 上,該方法包括步驟: 提供一第一終端、一第一焊劑構件、一第一半導體組 件、一第二焊劑構件及一第二終端,其中該等焊劑構件包 含一實際非導電組件,用以將黏著特性傳給該等焊劑構件 > 提供一第一、第二、第三及第四黏著體組件; 依照第一終端、第一焊劑構件、第一半導體組件、第 二焊劑構件、第四黏著體、及第二終端的順序而一個堆疊 在另一個之上;以及 將堆疊加熱至足以軟化焊劑構件的溫度,使得焊接接 縫被形成。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. ,經濟部%总財4^7¾工消費合作社印製 -14 - 其中該等埤 其中該等焊 其中該堆聾 其中該半導 其中該等焊 511192 A8 B8 C8 D8 ----- 六、申請專利範圍 1 3、如申請專利範圍第1 1項的方法 劑構件以膏狀物形式而被提供° 1 4、如申請專利範圍第1 1項的方法 劑構件被提供作爲剛性預製品° 1 5、如申請專利範圍第1 1項的方法 步驟被實施於一裝配架的模孔中。 1 6、如申請專利範圍第1 1項的方法 體裝置係整流器。 1 7、如申請專利範圍第1 1項的方法 劑構件具有足以維持組件對準以形成堆疊的黏著強度。 1 8、如申請專利範圍第2項的方法,其中該等流體 滴爲有溶解力系列的流體滴。 1 9、如申請專利範圍第1 2項的方法,其中該等焊 劑構件的該非導電組件包含熱固性塑膠材料。 2 0、如申請專利範圍第1 2項的方法,其中該等焊 劑構件的該非導電組件包含熱塑性塑膠材料。 2 1、如申請專利範圍第1 2項的方法,其中該等焊 劑構件的該非導電組件包含熱塑性塑膠材料及熱固性塑膠 材料。 本紙張尺度速用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ί請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂· 經濟部智慧財工消費合作社印製
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/564,492 US6197618B1 (en) | 2000-05-04 | 2000-05-04 | Semiconductor device fabrication using adhesives |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW511192B true TW511192B (en) | 2002-11-21 |
Family
ID=24254690
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW090110425A TW511192B (en) | 2000-05-04 | 2001-05-01 | Semiconductor device fabrication using adhesives |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6197618B1 (zh) |
| EP (1) | EP1152466B1 (zh) |
| CN (2) | CN100424843C (zh) |
| DE (1) | DE60132044T2 (zh) |
| TW (1) | TW511192B (zh) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6642078B2 (en) * | 2000-08-28 | 2003-11-04 | Transpo Electronics, Inc. | Method for manufacturing diode subassemblies used in rectifier assemblies of engine driven generators |
| US20030003625A1 (en) * | 2001-06-29 | 2003-01-02 | Kotzias Barbara D. | Leadframe pedestals for uniform die attach |
| US7138347B2 (en) * | 2003-08-14 | 2006-11-21 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Thick-film conductor paste for automotive glass |
| US7091621B1 (en) * | 2004-02-02 | 2006-08-15 | Advanced Micro Devices, Inc. | Crack resistant scribe line monitor structure and method for making the same |
| EP1791176B1 (en) * | 2004-08-17 | 2019-07-03 | Mitsubishi Materials Corporation | Method of manufacturing a power module substrate |
| CN105321867B (zh) * | 2015-09-23 | 2017-12-29 | 桂林电子科技大学 | 一种互联载板的制作方法 |
| WO2018020640A1 (ja) * | 2016-07-28 | 2018-02-01 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
| JP6685470B2 (ja) | 2017-03-30 | 2020-04-22 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法、ならびに電力変換装置 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3919709A (en) * | 1974-11-13 | 1975-11-11 | Gen Electric | Metallic plate-semiconductor assembly and method for the manufacture thereof |
| US4358784A (en) * | 1979-11-30 | 1982-11-09 | International Rectifier Corporation | Clad molybdenum disks for alloyed diode |
| US5140404A (en) * | 1990-10-24 | 1992-08-18 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor device manufactured by a method for attaching a semiconductor die to a leadframe using a thermoplastic covered carrier tape |
| US5372295A (en) * | 1991-10-04 | 1994-12-13 | Ryoden Semiconductor System Engineering Corporation | Solder material, junctioning method, junction material, and semiconductor device |
| US5352629A (en) * | 1993-01-19 | 1994-10-04 | General Electric Company | Process for self-alignment and planarization of semiconductor chips attached by solder die adhesive to multi-chip modules |
| US5952725A (en) * | 1996-02-20 | 1999-09-14 | Micron Technology, Inc. | Stacked semiconductor devices |
| KR100186309B1 (ko) * | 1996-05-17 | 1999-03-20 | 문정환 | 적층형 버텀 리드 패키지 |
| US5943557A (en) * | 1996-09-25 | 1999-08-24 | Micron Technology, Inc. | Method and structure for attaching a semiconductor die to a lead frame |
| CN1180242A (zh) * | 1996-10-15 | 1998-04-29 | 三星电子株式会社 | 带有热产生装置的芯片焊接装置 |
| KR100214562B1 (ko) * | 1997-03-24 | 1999-08-02 | 구본준 | 적층 반도체 칩 패키지 및 그 제조 방법 |
| US6017776A (en) * | 1997-04-29 | 2000-01-25 | Micron Technology, Inc. | Method of attaching a leadframe to singulated semiconductor dice |
-
2000
- 2000-05-04 US US09/564,492 patent/US6197618B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-05-01 TW TW090110425A patent/TW511192B/zh not_active IP Right Cessation
- 2001-05-03 EP EP01110117A patent/EP1152466B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-05-03 DE DE60132044T patent/DE60132044T2/de not_active Expired - Fee Related
- 2001-05-08 CN CNB2005100625244A patent/CN100424843C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-05-08 CN CN01116007.1A patent/CN1203538C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1152466B1 (en) | 2007-12-26 |
| US6197618B1 (en) | 2001-03-06 |
| CN1722391A (zh) | 2006-01-18 |
| DE60132044D1 (de) | 2008-02-07 |
| CN100424843C (zh) | 2008-10-08 |
| EP1152466A3 (en) | 2005-11-02 |
| EP1152466A2 (en) | 2001-11-07 |
| CN1203538C (zh) | 2005-05-25 |
| CN1323062A (zh) | 2001-11-21 |
| DE60132044T2 (de) | 2008-12-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1386356B1 (en) | Fluxless flip chip interconnection | |
| US5872051A (en) | Process for transferring material to semiconductor chip conductive pads using a transfer substrate | |
| US5299730A (en) | Method and apparatus for isolation of flux materials in flip-chip manufacturing | |
| CN1729731B (zh) | 具有用于将封装件衬底接合到印刷电路板的复合电子触点的电子组件 | |
| JPH06103703B2 (ja) | 半田付け方法 | |
| JPH09237963A (ja) | はんだ供給法およびはんだ供給装置並びにはんだ接合法 | |
| JPH06296080A (ja) | 電子部品実装基板及び電子部品実装方法 | |
| JPH0810716B2 (ja) | 電子パッケージ | |
| US5973406A (en) | Electronic device bonding method and electronic circuit apparatus | |
| TW511192B (en) | Semiconductor device fabrication using adhesives | |
| US5115964A (en) | Method for bonding thin film electronic device | |
| US7968801B2 (en) | Solder mounting structure, method for manufacturing such solder mounting structure and use of such solder mounting structure | |
| TW200942352A (en) | Solder bonding structure and solder bonding method thereof | |
| JPH0936174A (ja) | 半導体装置とその実装方法 | |
| JPS60255299A (ja) | ハンダ組成物 | |
| CN114171504A (zh) | 硅裸片的笔直导线接合 | |
| JP5097124B2 (ja) | シリコンデバイス実装用基板及び実装方法 | |
| JP2005101242A (ja) | はんだバンプの形成方法 | |
| JPH07118498B2 (ja) | 電気的接合部 | |
| JP2583142B2 (ja) | 熱電モジュールの製造方法 | |
| JPH09246324A (ja) | 電子部品及びそのバンプ形成方法 | |
| JPH09186162A (ja) | 金属バンプの形成方法 | |
| JPH0572751B2 (zh) | ||
| JPH11317469A (ja) | 導電性要素配列シートおよび導電性要素配列シート製造装置 | |
| JP3973068B2 (ja) | 半田付け方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |