TW511192B - Semiconductor device fabrication using adhesives - Google Patents

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511192 A7 B7 五、發明説明(彳) 本發明之背景: (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係關於半導體裝置的製造,尤指在焊接部件間 之接縫的構成之前及期間,暫時將裝置部件黏著在一起, 在裝置部件之堆疊內成自動對準關係。 在已知的半導體裝置製造程序中,許多裝置部件(包 含插入焊劑盤)在裝配架模孔中一個被裝載於另一個之上 ,且裝配架然後被加熱以使焊劑盤熔化而形成一疊被黏結 在一起的部件。所裝載的部件包括,例如,一第一終端引 線、一建立於第一引線之表面上的第一焊劑盤、一建立於 第一盤上的半導體晶片(或小晶片)、一晶片上之第二焊 劑盤、以及最後,一接觸第二焊劑盤的第二終端引線。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在製造程序期間,裝配架沿著裝配設備移動通過連續 的工作站,其中,個別部件依序被裝載入裝配架中,並且 所裝載的裝配架然後通過一爐,用以加熱及回流焊劑。產 生一個問題,即裝配架的移動及工作站的振動能夠造成裝 配架模孔內之部件的橫向位移,導致不良的裝置部件黏結 。另一個問題在於典型上裝配架係由抗高溫的材料所做的 ,例如鋁、石墨、或銅-石墨,裝配架的大熱塊可能對回 流程序有不利的影響,舉例來說,熱塊有時候造成不連續 、高度變化的結果。 另一方式爲提供爲黏著膏之形式的焊劑,例如在具有 膏狀稠度之黏著基體中之焊劑粒子的混合物。此方式的其 中一個優點爲因爲依賴黏著膏來維持部件對準,所以通常 不需要裝配架。隨著這樣的膏狀物所產生之問題(視所使 ^ t ® @ ( CNS ) ( 210 X 291 ) "" " ~ -4- 511192 A7 B7 __—-— 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明説明(2) 用的膏狀物而定)爲在焊接程序的完成之後,可能需要額 外的淸潔程序來去除基體。況且,在焊劑回流期間,這樣 的膏狀物之黏著強度常常非常地不夠來維持部件對準,通 常,在黏著膏形式之焊劑的使用被廣泛地使用且常常另人 滿意的同時,仍然需要另一種旦改良之自行黏著部件堆疊 程序 本發明之槪述: 根據本發明,藉由黏著體之使用來達成在一疊半導體 組件中之組件的暫時自行黏合,而黏著體不是與堆疊中所 使用之焊劑預製品分開,就是被包含在黏膏形式的焊劑之 內。 根據本發明的一實施例,黏著體包括相當高純度的水 ,並且藉由水的表面張力來達成鄰接部件的黏合。在單一 加熱步驟期間(最好被實施於保護性、非氧化大氣中), 水完全被蒸發,而同時焊劑預製品被加熱,以形成所想要 的焊接接縫。 根據本發明的另一實施例,黏著體係商用黏著劑,其 具有可以被熔融焊劑所濕潤,並且在最終裝置的操作溫度 時爲化學及物理穩定的品質。在一較佳實施例中,黏著體 具有預先選定、可以和即將被形成之焊接接縫的厚度相匹 敵,但是和由焊接接縫所包圍之總橫向面積相較之下係小 的固定尺寸。照這樣,黏著體充當隔離物,且同時提供電 流及熱流經焊接接縫和裝置組件本身最小的障礙。 (請先閱讀背面之注意事項真填寫本頁) 参· ,ιτ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2i〇X297公釐) -5- 511192 A7 _B7___ 五、發明説明(3 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 黏著體能夠被應用作爲一與焊劑分開的組件(例如水 滴),或者一在焊劑內之組件,以形成自行黏著焊膏。在 後者的情況中,黏著體被永遠埋在完成裝置中的焊接接縫 之內。 附圖之簡略說明: 圖1顯示被用來形成一半導體裝置之習知程序,此半 導體裝置包含許多被疊在一起的組件。 圖2顯示在焊接程序的完成之後,圖1的半導體裝置 〇 圖3顯示根據本發明的一程序,此程序被用來形成一 包含許多被疊在一起的組件之半導體裝置。 圖4 ( a )顯示根據本發明之原理,在焊接程序的完 成之後所形成的半導體裝置。 圖4 ( b )顯示焊接接縫的一例,其使用可以在本發 明所使用的黏著劑及金屬組件。 經濟部智慧財產局gi工消費合作社印製 元件對照表 12 石墨底板 14 石墨頂板 16 開口(裝配架模孔) 18 覆蓋表面部分 2 2 底端 2 4 第一焊劑預製品 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -6 - 511192 A7 B7 五、發明説明(4) 26 半導體二極體晶片 2 8 第二焊劑預製品 3 0 頂端 32 焊接接縫 3 4 焊接接縫 4 0 黏著體 詳細說明= 如所述,在半導體裝置之製造中的一已知實例爲在組 裝裝配架的模孔內垂直堆疊許多裝置的組件,而後加熱該 裝配架,以回流被放置在相鄰裝置組件之間的焊劑塊,用 以形成焊接接縫於其間。這樣的習知實例的例子被顯示於 圖1中,其顯示一典型的兩部分組裝裝配架,包括一石墨 底板1 2 ,上面覆蓋一石墨頂板1 4 ,石墨頂板1 4具有 一整個通過底板之覆蓋表面部分1 8的開口 1 6。在僅單 一開口 1 6被顯示的同時(提供一裝配架“模孔”),一 典型的製造裝配架包含一陣列被行列交錯地配置的相同模 孔,藉由該等相同模孔,能夠製造一批一批的半導體裝置 〇 本發明能夠被使用在任何不同數目之類型之半導體裝 置的製造中,但是,舉例來說,本發明在此配合半導體整 流器的分批製造來做說明,而各合半導體整流器包括一被 焊接在二裝置端之間的單一半導體二極體晶片。在已知之 這樣的裝置製造中,如圖1所示,被裝載入裝配架模孔 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ·
、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -7- 511192 A7 _____ B7 __ 五、發明説明(5) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 6之裝置組件包括一底端2 2、一第一焊劑預製品2 4 、一半導體二極體晶片2 6、一第二焊劑預製品2 8及一 頂端3 0,在此習知示例中,焊劑預製品係相當堅硬的( 形狀保持的),並且在起初被提供時,不是自行黏著的。 當首先使用已知的“拿和放”機械手臂狀組件轉移機構將 組件裝載入裝配架中時,組件能夠被精確地橫向裝載入裝 配架模孔內,並且精確地彼此軸向對準。圖2顯示在程序 已經完成之後,最終的半導體裝置。在圖1及圖2中,相 同的參考數字表示相同的構件,如所示,最終的半導體裝 置包含焊接接縫3 2及3 4。 典型上,裝配架沿著裝配線移動通過連續的操作站, 其中,連續的裝置組件被裝載入裝配架中,如先前所注意 到,一問題即組裝設備的振動能夠造成裝配架模孔內之部 件的位移。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在另一已知之習知實例中,用於即將被形成之接縫的 焊膏係由固體焊劑粒子與黏性的助焊劑載體之混合物所做 的。當預熱於中等溫度(其視助焊劑的種類而定)時,在 最終回流加熱於較高溫度及焊接接縫形成程序之前,焊膏 能夠被用來提供對相鄰組件的黏著。當此類之膏及程序被 使用時,助焊劑載體(已經變成殘渣)在焊劑的回流程序 期間被排出焊接接縫之外,然後藉由淸潔程序而從表面被 去除,在完工的焊接接縫中僅留下焊劑。 雖然未顯示出,一已知實例爲在焊劑預製品或膏之內 包含有在起初被提供時爲小的高度導電材料(例如銅)之 本^張尺度適用中國國家標準( CNS ) A4規格( 210X297公釐) ~ -8- 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 511192 A7 _____^_B7__ . 五、發明説明(6 ) 剛性隔離球體,在任何的加熱(預熱或是最終的加熱)步 驟中,沒有發生球體的熔化或軟化,具有預先選定之直徑 的剛性球體保持在最終的焊接接縫之內,並確保焊接接縫 厚度不小於最小直徑球體的直徑,隔離球體不是黏著劑。 現在配合圖3來說明本發明的第一實施例,圖3顯示 和圖1所示相同的半導體裝置,但是,除了黏著體4 0被 放置在各焊劑預製品2 4及2 8的任一側上之外,黏著體 4 0用作將固體預製品黏著於裝置組件,且預製品被放置 在裝置組件之間。 圖3所示之裝置的組裝方法能夠和習知圖1裝置所使 用之組裝方法相同,其差別在於4個額外的“組件”(亦 即黏著體4 0 )依所例示之順序被裝載入裝配架模孔內, 另一差別爲沒有實施裝配架的預熱,用以軟化焊劑預製品 成黏著狀態,黏著體提供模孔內之穩定堆疊中組件的黏著 〇 在本發明的第一實施例中,圖3所示之黏著體4 0包 括純水滴,最好是去電離的水。本發明之此實施例典型上 將會找到有限的應用,因爲水可能會幫助氧化,而且因爲 水在到達某些焊劑的熔點之前可能會蒸發。因爲水滴係用 作黏著劑,水必須使接觸表面“濕潤”。因此,在水滴最 好被裝載入裝配架模孔內的同時,按照圖3所示之其餘組 件的順序,以小、球體滴的形式,由於受到水之部件的濕 潤性以及抵抗水之部件的重量,水擴散成薄層,將藉由在 相鄰組件間之水的表面張力來達成堆疊內之組件的黏著。 本矣氏張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297&釐) ~ ^ -9- (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁)
511192 A7 B7 五、發明説明(7) 在回流程序期間,水將會蒸發而使得焊劑繼續接合裝置組 I . 件。 在本發明的一些實施例中,可能需要在還原空氣中實 施回流程序,以避免裝置組件的金屬表面氧化。或者,黏 著體4 0可以是從除了水以外的流體所做的,假設其具有 高的表面張力,其他的流體最好比水還不可能造成氧化, 但是,大部分的這些流體將會是有溶解力系列的,並且在 他們的蒸發程序期間應該要留神注意。 如圖3所示,有了所有的組件在適當的位置,有了水 或另一液體的薄層4 0在各組件之間,裝配架通過爐,並 且所有的組件被加熱至高溫,例如,對於典型的鉛系列焊 劑來說,溫度應該上升至3 0 0 t:以上,以形成焊接接縫 。如先前所述,在還原空氣中加熱組件可能是有利的,特 別是如果水被使用的話,因爲水在加熱期間將會蒸發,此 程序導致和圖2中相同的:!:件,其也被顯示於圖4 ( a ) 中。 如剛剛所述,當所使用的黏著體爲水時,在最終加熱 及焊劑回流之後,沒有任何圖3所示之組件堆疊中所使用 的“黏著劑”殘留。但是,根據本發明的其他實施例,所 使用的黏著體仍然留在完工的工件中,如圖4 ( b )所示 ,這些黏著體係選自以下具有某些較佳特性的商用黏著劑 〇 特別是,相當高的黏著強度係較佳的,以便祇需要少 量的黏著劑。照這樣,在黏著劑與組件之間的介面僅佔全 _—~~ ............................ . . ... .... ___ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 丁 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 -10- 511192 A7 B7 五、發明説明(8) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 部可用之表面積中一相當小的部分。因此,最終接縫的電 氣特性及熱特性僅歸因於係在焊接接縫中的金屬。況且, 如果僅少量被使用,則黏著劑本身不需要是導電性的。由 於根據本發明能夠達成廣泛不同尺寸的裝置,所以在此不 指定特定的導熱性及導電性,反而,將會由習於此技者根 據所想要之工件的特別特性來選擇黏著劑之這樣的特性。 不論被使用的黏著劑爲何,最終的焊接接縫必須符合和當 沒有使用黏著劑時類似的規格,例如,電氣參數及操作條 件。從在接縫裡面黏著劑的使用可能產生一附加利益,即 黏著劑能夠當作用於內部結構的消除應力構件,黏著劑實 施此功能的能力將會視黏著劑的特性及正被形成之特別裝 置而定。 經濟部智慧財產局Μ工消費合作社印製 在本發明的一些實施例中,黏著劑是熱固性材料,不 幸地,目前可用的熱固性黏著劑一般不能夠耐溫度高達 3 0 0 °C而不會遭受某些程度的變差。但是,正在發展純 熱塑性塑膠(其在溫度高達4 0 0 °C係穩定的),或熱塑 性材料與熱固性材料的混合物,這樣的塑膠之使用在本發 明中係特別有利的。 所使用之焊劑可以是焊劑合金,或者是其他能夠被埋 在黏著劑中之金屬。舉例來說,一被稱爲“導電性黏著劑 ”之商用產品係由熱固性環氧樹脂所做的,而金屬粒(通 常是銀)被埋在環氧樹脂中。在此材料可能適合用來組裝 某些半導體裝置的同時,其導熱性及導電性目前卻不足以 與功率整流器一起使用,黏著劑與焊劑可以用預製品(在 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) ~-- -11 - 511192 A7 B7 五、發明説明(9) 室溫時已是黏著的)之形式而被提供,因此使所有的組件 從開始就保持被疊在適當的位置。替代地,黏著劑與焊劑 可以用黏著膏狀物之形式而被提供,其能夠很容易地從注 射器中擴散。如果預製品被使用,則他們可以藉由相同的 “拿和放”系統(其被使用來排列組件的堆疊)而被放在 適當的位置,假設考慮進預製品的黏著性。在另一替代方 式中,以二步驟操作來施加焊劑(膏狀物或預製品)與黏 著劑,此程序之所以有利係因爲可以彼此獨立地被選擇, 使得對每一個來說能夠選擇更是最佳的材料,可以根據各 材料的不同特性來材料。 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局負工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -12-

Claims (1)

  1. 511192 ABCD 六、申請專利範圍 1、 一種半導體裝置的組裝方法,該半導體裝置包含 多個終端及至少一半導體組件,一個被堆疊在另一個之上 ,該方法包括步驟: 提供一第一終端、一第一焊劑預製品、一第一半導體 組件、一第二焊劑預製品及一第二終端; 提供一第一、第二、第三及第四黏著體; 依照第一終端、第一黏著體、第一焊劑預製品、第二 黏著體、第一半導體組件、第三黏著體、第二焊劑預製品 、第四黏著體、及第二終端的順序而一個堆疊在另一個之 上;以及 將堆疊加熱至足以軟化焊劑預製品的溫度,使得焊接 接縫被形成。 2、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該第一、第 二、第三及第四黏著體爲流體滴,其使與該等流體滴接觸 的表面濕潤。 3、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該第一、第 二、第三及第四黏著體爲水滴。 4、 如申請專利範圍第3項的方法,其中該水滴爲去 電離之水滴。 5、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該加熱堆疊 的步驟包括加熱堆疊於還原空氣的步驟。 6、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該加熱堆疊 的步驟被實施於一裝配架的模孔中。 7、 如申請專利範圍第1項的方法,其中在其中一個 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) · I J------ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) #1. 經濟部智慧財是A貝工消費合作社印製 • J— n IJ. · 511192 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 黏著體與和其接觸的表面間之介面的表面積係小於第一半 導體組件之表面的表面積。 8、 如申請專利範圍第7項的方法,其中該介面的表 面積係足夠地小,以使焊接接縫的電氣特性及熱特性改變 到一非真實的程度。 9、 如申請專利範圍第1項的方法,其中該等黏著體 係形成自一實際非導電的材料。 1 〇、如申請專利範圍第1項的方法,其中該半導體 裝置係整流器。 1 1、如申請專利範圍第1項的方法,其中該等黏著 體具有足以維持組件對準以形成堆疊的黏著強度。 1 2、一種半導體裝置的組裝方法,該半導體裝置包 含多個終端及至少一半導體組件,·一個被堆疊在另一個之 上,該方法包括步驟: 提供一第一終端、一第一焊劑構件、一第一半導體組 件、一第二焊劑構件及一第二終端,其中該等焊劑構件包 含一實際非導電組件,用以將黏著特性傳給該等焊劑構件 > 提供一第一、第二、第三及第四黏著體組件; 依照第一終端、第一焊劑構件、第一半導體組件、第 二焊劑構件、第四黏著體、及第二終端的順序而一個堆疊 在另一個之上;以及 將堆疊加熱至足以軟化焊劑構件的溫度,使得焊接接 縫被形成。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨0X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. ,經濟部%总財4^7¾工消費合作社印製 -14 - 其中該等埤 其中該等焊 其中該堆聾 其中該半導 其中該等焊 511192 A8 B8 C8 D8 ----- 六、申請專利範圍 1 3、如申請專利範圍第1 1項的方法 劑構件以膏狀物形式而被提供° 1 4、如申請專利範圍第1 1項的方法 劑構件被提供作爲剛性預製品° 1 5、如申請專利範圍第1 1項的方法 步驟被實施於一裝配架的模孔中。 1 6、如申請專利範圍第1 1項的方法 體裝置係整流器。 1 7、如申請專利範圍第1 1項的方法 劑構件具有足以維持組件對準以形成堆疊的黏著強度。 1 8、如申請專利範圍第2項的方法,其中該等流體 滴爲有溶解力系列的流體滴。 1 9、如申請專利範圍第1 2項的方法,其中該等焊 劑構件的該非導電組件包含熱固性塑膠材料。 2 0、如申請專利範圍第1 2項的方法,其中該等焊 劑構件的該非導電組件包含熱塑性塑膠材料。 2 1、如申請專利範圍第1 2項的方法,其中該等焊 劑構件的該非導電組件包含熱塑性塑膠材料及熱固性塑膠 材料。 本紙張尺度速用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ί請先閎讀背面之注意事項再填寫本頁) -訂· 經濟部智慧財工消費合作社印製
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6642078B2 (en) * 2000-08-28 2003-11-04 Transpo Electronics, Inc. Method for manufacturing diode subassemblies used in rectifier assemblies of engine driven generators
US20030003625A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-02 Kotzias Barbara D. Leadframe pedestals for uniform die attach
US7138347B2 (en) * 2003-08-14 2006-11-21 E. I. Du Pont De Nemours And Company Thick-film conductor paste for automotive glass
US7091621B1 (en) * 2004-02-02 2006-08-15 Advanced Micro Devices, Inc. Crack resistant scribe line monitor structure and method for making the same
EP1791176B1 (en) * 2004-08-17 2019-07-03 Mitsubishi Materials Corporation Method of manufacturing a power module substrate
CN105321867B (zh) * 2015-09-23 2017-12-29 桂林电子科技大学 一种互联载板的制作方法
WO2018020640A1 (ja) * 2016-07-28 2018-02-01 三菱電機株式会社 半導体装置
JP6685470B2 (ja) 2017-03-30 2020-04-22 三菱電機株式会社 半導体装置およびその製造方法、ならびに電力変換装置

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3919709A (en) * 1974-11-13 1975-11-11 Gen Electric Metallic plate-semiconductor assembly and method for the manufacture thereof
US4358784A (en) * 1979-11-30 1982-11-09 International Rectifier Corporation Clad molybdenum disks for alloyed diode
US5140404A (en) * 1990-10-24 1992-08-18 Micron Technology, Inc. Semiconductor device manufactured by a method for attaching a semiconductor die to a leadframe using a thermoplastic covered carrier tape
US5372295A (en) * 1991-10-04 1994-12-13 Ryoden Semiconductor System Engineering Corporation Solder material, junctioning method, junction material, and semiconductor device
US5352629A (en) * 1993-01-19 1994-10-04 General Electric Company Process for self-alignment and planarization of semiconductor chips attached by solder die adhesive to multi-chip modules
US5952725A (en) * 1996-02-20 1999-09-14 Micron Technology, Inc. Stacked semiconductor devices
KR100186309B1 (ko) * 1996-05-17 1999-03-20 문정환 적층형 버텀 리드 패키지
US5943557A (en) * 1996-09-25 1999-08-24 Micron Technology, Inc. Method and structure for attaching a semiconductor die to a lead frame
CN1180242A (zh) * 1996-10-15 1998-04-29 三星电子株式会社 带有热产生装置的芯片焊接装置
KR100214562B1 (ko) * 1997-03-24 1999-08-02 구본준 적층 반도체 칩 패키지 및 그 제조 방법
US6017776A (en) * 1997-04-29 2000-01-25 Micron Technology, Inc. Method of attaching a leadframe to singulated semiconductor dice

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