TW515109B - EL display device and electronic device - Google Patents
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515109 A7 B7 五、發明説明(1 ) 發明背景 1 ·發明部份 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係有關E L (電發光)顯示裝置,由半導體元 件(使用半導體薄膜之一元件)構成,建造於基體中,且 係%關具有E L顯示裝置作爲顯示器之電子裝置。 2 ·有關技藝之說明 製造T F T於基體上之技術近年來大有進步,且其應 用於主動矩陣式顯示裝置上之發展亦有進步。明確言之, 使用多晶矽薄膜之T F T較之使用普通非晶質矽薄膜之 T F T具有較高之電場效應遷移率,且故此可高速操作。 結果,可由構製於與像素同一基體上之驅動電路執行普通 由基體外之驅動電路所執行之像素控制。 此式主動矩陣顯示裝置由於許多優點而受重視,此等 可由加裝各種電路及元件於此式主動矩陣顯示裝置之同一 基體上而獲得,諸如減少製造成本,顯示裝置小型化,增 加生產率,及提高產出。 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 在具有像素部份及用以驅動像素部份之驅動電路在同 一基體上之單石式顯示裝置中,驅動電路構製於像素部份_ 之週邊中,且故此,與僅構製像素部份於基體上相較,所 需之基體大小較大該驅動電路之大小。故此,可切製一基 體之顯示裝置之數隨可製造如何小之驅動電路之獨用表面 積而改變。 明確言之,在像素部份具有對角線1吋或以下之顯示 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X29*7公釐)~ΓΤ^ 一 515109 A7 ____Β7_ 五、發明説明(2 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝置,需裝置該驅動電路於極小之基體上,及驅動電路之 獨用面積對基體大小有巨大之影響。然而,不管像素部份 之大小,驅動電路之功能相同,且爲構製具有相功能之驅 動電路於非常小之面積中,多種因素,諸如增加TFT特 性芨小型化技術成爲關鍵。 - 發明槪要 本發明著眼於以上問題,且本發明之目的在進一步小 型化主動矩陣式E L顯示裝置,並降低小型化成本。而且 ,本發明之另一目的在進一步小型化設有主動矩陣式E L 顯示裝置作爲顯示裝置之電子裝置,並降低小型化成本。 主動矩陣式E L顯示裝置之每一像素構製有一 E L元 件。EL元件指一發光元件,在此由一陰極,一 EL層, 及一陽極構成。E L元件之輸出光(此後稱爲E L光)自 基體方向基體反方輸出。此顯示於圖6 A及6 B。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在圖6A之結構中,EL元件由I TO (氧化銦鍚) 所製之一像素電極(陽極),一 EL層,及一 MgAg電 極(陰極)所構成,依次自EL元件底端開始。而且,陰 極本身薄,且故此構製一保護電極(在此爲鋁電極)以資-保護,且同時輔助陰極功能。在此情形,EL光自TFT 構製處之基體方輸出。故此,整個像素電極表面積中在下 方不構製T F T及接線之部份成爲有效之發光區。 另一方面,在圖6 B之結構中,E L元件由鋁薄膜所 製之一像素電極(陽極),一 MgAg電極(陰極)’一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)~ 515109 A7 _B7_ 五、發明説明(3 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) EL層,及一 I TO電極(陽極)構成,依次自EL元件 之底端開始。在此情形,E L光自T F 丁並不發射通過像 素電極,且故此,所有光輸出至基體之對面(E L顯示裝 置之頂面)。像素電極之整個表面區故此成爲有效之發光 區° 在圖6 A之情形,故此,在像素電極下方之元件或接 線需儘可能少。然而,在圖6 B之情形,不管像素下方有 何物件,均無關係,此全然爲一死空間。 爲澄淸本發明之要點,本發明之目的在有效利用主動 矩陣式E L顯示裝置之像素電極下方之死空間,其中,使 E L元件由圖6 B之方法發光。明確言之,用以驅動像素 電極之驅動電路構製於像素部份中安排成矩陣狀態之每一 像素之像素電極下方。而且,不獨驅動電路,其他信號處 理電路(諸如分波電路,增強電路,r補償電路,記憶器 ,及微分放大電路)亦可構製。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 換言之,普通構製於像素部份之周邊中之電路及元件 可安排於像素部份內之死區中,且可有效利用基體表面積 。注意包含諸如用作E S D (電狀態變壞)反制之保護性 元件,如構製於像素部份之周邊中之元件。 而且,本發明不獨可應用於主動矩陣式E L顯示裝置 ,且亦可應用於具有驅動電路構製於同一基體上,並具有 簡單矩陣式之像素部份之E L顯示裝置上。換言之,本發 明可有效用於E L顯示裝置上,其中,像素部份之E L光 輸出至與基體相對之方,且其中,其他電路或元件構製於 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)~-6- 515109 A7 B7 五、發明説明(4 ) 基體上。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 附圖簡述 在附圖中: _圖1顯示一EL顯示裝置之斷®結構; 圖2 A至2 E顯示製造E L顯示裝置之程序; 圖3 A至3 D顯示製造E L顯示裝置之程序; 圖4A至4D顯示製造EL顯示裝置之程序; 圖5 A至5 C顯示製造E L顯示裝置之程序; 圖6A至6 B用以說明自E L顯示裝置輸出光之方向 圖7A至7 B顯示E L模組之外觀; 圖8A至8C顯不製造接觸結構之程序; 圖9顯示E L顯示裝置之像素部份之構成; 圖1 0顯示E L顯示裝置之斷面結構; 圖1 1 A至1 1 B顯示E L顯示裝置之像素部份之頂 部結構; 經濟部智慧財產局員工消资合作社印製 圖1 2顯示E L顯示裝置之像素部份之頂部結構;及 圖1 3A至1 3 F顯示電子裝置之特定實例。 符號說明 11 基體 12 絕緣薄膜 13 源區 本紙張又度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210χΜ7公釐)· 7 - 515109 A7 B7 發明説明(5 ) 1 4 汲 區 1 6 分 隔 丨品 1 7 通 道 形 成 1 8 閘 絕 緣 薄 膜 1 9 閘 電 極 2 0 層 間 絕 緣 薄膜 2 1 源 接 線 2 2 汲 接 線 4 7 鈍 化 薄 膜 4 9 像 素 電 極 5 1 陰 極 5 2 E L 層 2 0 1 開 關 T FT 2 0 3 E L 元 件 2 0 2 電 流 控 制T F T 5 0 5 保 護 薄 膜 5 1 6 摻 雜 區 5 1 9 光 阻 罩 2 0 0 1 主 體 2 0 0 2 外 殼 2 0 0 3 顯 示 部份 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 2 0 0 4 鍵盤 2103 聲音輸入部份 2 10 4 操作開關 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-8 - I--------Φ------1T------·1 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 515109 A7 B7 五、發明説明(e ) 2105 電池 2106 影像接收部份 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 2302 信號電纜 2303 頭固定帶 '2304 顯示監視器 _ 2305 光學系統 2502 攝影部份 2602 支持座 較佳蹇施例之詳細說明 實施例模式 首先’圖1顯示本發明之主動矩陣式E L顯示裝置之 斷面結構之設計。圖1中參考編號1 1標示一基體,及參 考編號12標示一絕緣薄膜,此成爲一基層(此後稱爲基 層薄膜)。一玻璃基體,一石英基體,一結晶玻璃基體, 一陶瓷基體,一矽基體,一金屬基體,或一塑膠基體可用 作基體1 1。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且,基層薄膜1 2在使用含有移動離子之基體,或 具有導電性之基體之情形特別有效,但無需構製於石英基-體上。可構製含矽之絕緣薄膜,作爲基層薄膜12。注意 含矽之絕緣薄膜一辭特別表示諸如氧化矽薄膜,氮化矽薄 膜,或氮氧化矽薄膜(由S i〇xNy標示,其中X及y爲 隨意整數)等絕緣薄膜,且在此規格中包含預定比率之矽 ,氧,及氮。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-9 - 515109 A7 B7 五、發明説明(7 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 參考編號2 0 1標示一開關TFT,及參考編號 2 0 2標示一電流控制TFT,二者由η通道TFT構成 。η通道TFT之場效遷移率大於p通道TFT之場效遷 移率,且故此電流可高速流,且容易使大量之電流流於η 通迨TFT中。而且,即使同量*流,η通道TFT可製 成較小。故此,當使用η通道T F 丁爲電流控制T F 丁時 ,可更有效利用像素電極下面之死空間。 注意在本發明中無需限制開關T F Τ及電流控制 TFT於η通道TFT,且可使用ρ通道TFT作爲開關 丁 F T,電流控制T F T,或二者。 開關TFT 2 0 1構製具有:一主動層,包含一源區 13,一汲區14,LDD區15a至15d,一分離區 16,及通道形成區17a及17b ; —閘絕緣薄膜18 ;閘電極1 9 a及1 9 b,一第一層間絕緣薄膜2 0,一 源接線2 1 ,及一汲接線2 2。注意閘絕緣薄膜1 8或第 一層間絕緣薄膜2 0可構製於基體上所有相同T F 丁之間 ,且亦可構製於不同T F T之間,此視電路或元件而定。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖1A所示之開關TFT20 1具有閘電極1 9 a及 1 9 b電相接,形成所謂雙閘結構。不獨雙閘結構,當然-’且所謂多閘結構(包含具有二或更多通道形成區串連之 一主動層之結構),諸如三閘結構亦可使用。 多閘結構在降低T F T之斷電流値上極爲有效,且由 充分降低開關T F T之斷電流,則可使用一替代物,其中 ,開關T F T之汲極中不構製一電容器(用以維持電流控 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 10 - 515109 A7 B7 -—---— 五、發明説明(8 ) 制丁 F T之閘電流之一電容器)。結果,可甚至更有效利 用像素內之死空間。 而且,開關TFT20 1中之LDD區1 5 a至 1 5 d構製經由閘絕緣薄膜1 8不重疊於閘電極1 9 a及 1 "9 b。此結構在降低斷電流値上#常有效。而且, LDD區1 5 a至1 5 d之長度(寬度)可設定於自 0 · 5至3 . 5//m,普通在2 · 0及2 · 5//m之間。 注意更宜構製一偏置區(半導體層構成之一區,具有 與通道形成區相同之組成份,且閘電壓不施加於其上)於 通道形成區及L D D區之間,用以降低斷電流値。而且, 當使用具有二或更多閘電極之多閘結構時,構製於通道形 成區之間之分隔區16 (加有與源區或汲區相同雜質元素 且在相同濃度上之一區)可有效降低斷電流値。 其次,電流控制TFT2 0 2構製具有:一主動層, 包含一源區26,一汲區27,一 LDD區28,及一通 道形成區2 9 ;閘絕緣薄膜1 8 ;閘電極3 0 ;第一層間 絕緣薄膜2 0 ;源接線3 1 ;及汲接線3 2。注意閘電極 2 〇具有單閘結構,但亦可使用多閘結構。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 開關T F T 2 0 1之汲極電連接至電流控制 T F T 2 0 2之閘極。明確言之,電流控制T F T 2 0 2 之閘電極3 0經汲接線(亦稱爲連接線)2 2電連接至開 關TFT20 1之汲區14。而且,源接線3 1連接至一 電流供應線,以供應預定之電壓。 電流控制T F 丁爲一元件,用以控制注射於E L元件 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4規格(210X297公釐)-11 - 515109 A7 B7 五、發明説明(9 ) 2 0 3中之電流量,且如慮及e l元件之惡化,則不宜太 多電流流過。故此,宜設計通道長度(L ),俾不致過度 電流流於電流控制T F T 2 0 2中。電流量宜每像素自 0 · 5至2//A (更宜在1及1 · 5//A之間)。 根據以上,當開關T F T之通道長度取作L 1 (其中 L 1 = L 1 a + L 1 b ),且其通道寬度爲W1,及電流 控制TFT之通道長度取作L 2,及其通道寬度爲W2時 ’如顯示於圖9,則宜W1自〇 · 1至5//m (普通在 〇·5及2/zm之間),及W2自0.5至10/im (普 通在〇·5及2#m之間)。而且,宜L1自0·2至 普通在2及15//m之間),及乙2自1至 50/zm(普通在1〇及30//m之間)。注意本發明並 不限於以上之數値。 圖1所示之E L顯示裝置亦具有特徵,即LDD區 2 8構製於電流控制 TFT2 0 2中汲區2 7及通道形成區2 9之間,且 LDD區2 8具有一區經由絕緣薄膜1 8重疊及一區不重 疊閘電極3 0。 電流控制T F T 2 0 2具有較大量之電流流過,俾使-E L元件2 0 3發亮,且故此,宜採取行動,以反制由於 熱載子注射而惡化。而且,當顯示黑色時,電流控制 T F T設定於斷狀態,但如此時斷電流高,則不能淸楚顯 示黑色,且此發生問題’諸如對比降低。故此,需抑制斷 電流値。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)M規格(210x297公釐)·12 - Φ II (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109 A7 ______B7_____ 五、發明説明(1〇 ) 知道一種結構(其中,LDD區重疊閘電極)對付由 於熱載子注射所引起之惡化極爲有效。然而,如使整個 L D D重疊閘電極,則斷電流値升高,且故此,本發明之 申請者由加一創新結構於以上結構,同時解決熱載子及斷 電流値問題,其中,構製不重疊於閘電極之一L D D區成 串連。 重疊於閘電極之LDD區在此點之長度可自〇 . 1至 3//m (宜在〇 · 3及1 · 5#m之間)。如太長,則寄 生電容變大,且如太短,則熱載子防止效果變弱。而且, 不重疊於閘電極之LDD區之長度可設定於自1.〇至 3 · 5 // m (宜在1 · 5及2 · 0 β m之間。如太長,貝(J 充分之電流不能流過,且如太短,則斷電流値降低效果變 弱。 一寄生電容形成於以上結構中,在閘電極及L D D區 重疊之區域中,且故此,此區宜不構製於源區2 6及通道 形成區2 9之間。電流控制T F T中載子(在此爲電子) 流動方向恆相同,且故此,構製L D D區僅於汲區方上即 夠。 注意如電流控制T F T 2 0 2之驅動電壓(施加於源-區及汲區間之電壓)等於或低於1 0 V,則熱載子注射難 以再引起問題,且故此,亦可略去LDD區2 8。在此情 形,有效層由源區26,汲區27,及通道形成區2 9·構 成。 而且,自增加電流之可容許量之觀點來看,使電流控 I紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210Χ297公釐)-13 · " ----------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、?τ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109 A7 B7 五、發明説明(11 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 制丁 FT2 0 2之有效層(尤其是通道形成區)之薄膜厚 度厚(宜自50至1 〇〇nm,更宜在60及80nm之 間)有效。反之,自減少開關T F T 2 0 1之斷電流値之 觀點來看,使有效層(尤其是通道形成區)之薄膜厚度薄 (¾自20至5〇nm,更宜在2_5及40nm之間)有 效。 以上說明像素內所構製之T F T之結構。注意一驅動 電路(嚴格言之,驅動電路之一部份)亦同時構製於同一 像素內。一 CMO S電路,形成驅動電路之基本單位顯示 於圖1。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在圖1中,使用一TFT作爲CMOS電路之一η通 道TFT204,此具有儘可能降低熱載子注射,儘可能 減少操作速度下降之結構。注意此處所指之驅動電路表示 一資料信號驅動電路(包含一轉移暫存器,一位準轉移器 ,一緩衝器,一閂,一D/A變換器,及一抽樣電路), 及一閘信號驅動電路(包括一轉移暫存器,一位準轉移器 ,及一緩衝器)。當然,亦可構製其他信號處理電路(諸 如一分波電路,一增強電路,一 Τ補償電路,記憶器,或 一微分放大電路)。 η通道TFT2 0 4之主動層包含一源區3 5,一汲 區36,一 LDD區37,及一通道形成區38,且 L D D區3 7經閘絕緣薄膜1 8重疊一閘電極3 9。 L D D區僅構製於汲區方上,此乃考慮不降低操作速 度之故。而且,無需考慮η通道TFT2 0 4之斷電流値 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐)~-14 - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109 A7 _B7__ 五、發明説明(12 ) ,但需更強調操作速度。故此,LDD區37宜完全覆蓋 閘電極,儘可能降低電阻性組成件。換言之,消除所有偏 置爲佳。 CMOS電路之p通道TFT2 0 5由於熱載子注射 所引起之惡化幾不考慮,且尤其最,無需構製一 L D D區 。主動層故此包含一源區4 0,一汲區4 1,及一通道形 成區4 2,及閘絕緣薄膜1 8及閘電極4 3構製於其上。 且當然,亦可採取行動,由構製一 LDD區來對付熱載子 ,如η通道TFT204者。 而且,η通道TFT204及ρ通道TFT 2 0 5各 由第一層間絕緣薄膜2 0覆蓋,並構製源接線4 4及4 5 。而且,二者由汲接線4 6電連接。 其次,參考編號4 7標示一第一鈍化薄膜,且其薄膜 厚度可設定自1 0 nm至1 //m (宜在2 0 0至 5 0 0 nm之間)。含矽之一絕緣薄膜(尤其是,宜使用 氮氧化矽薄膜或氮化矽薄膜)可用作鈍化薄膜材料。鈍化 薄膜4 7擔任防止所構製之T F T受鹼金屬及濕氣之侵害 。最後欲構製於T F T上之一 E L層包含鹼金屬,諸如鈉 。言之,第一鈍化薄膜47作用如保護層,俾此等鹼金屬-(移動離子)不致穿透進入TFT。 而且,參考編號4 8標示一第二層間絕緣薄膜,此作 用如平面化薄膜,用以使由於T F T所引起之不平平坦。 一有機樹脂薄膜宜作爲第二層間絕緣薄膜4 8,可使用其 一聚醯亞胺,聚醯胺,壓克力,或BCB(苯環丁烯)。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 15 - ---------Φ------1T------#1 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 515109 A7 B7 五、發明説明(13 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 此等有機樹脂薄膜具有容易形成良好平坦表面之優點,並 具有低特定介質常數。E L層對不平坦極爲敏感,且故此 宜由第二層間絕緣薄膜幾乎吸收TFT不平坦。而且,低 特定介質常數材料宜製厚,以減小閘接線或資料線及E F 元ί牛之陰極間所形成之寄生電容。轵此,該厚度宜自 〇 · 5至5em(更宜在1 · 5及2 · 5/zm之間) @且’參考編號4 9標示一像素電極,由透明傳導性 薄Μ所構成。在第二層間絕緣薄膜48及第一鈍化薄膜 4 7中打開一接觸孔後,構製像素電極4 9,俾在開口部 份處連接至電流控制T F Τ 2 0 2之汲接線3 2。注意如 像素電極4 9及汲區2 7並不直接相接,如圖1 ,則即使 E L層中之鹼金屬擴散通過像素電極,鹼金屬亦不經此像 素電極進入主動層中。 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 一第三層間絕緣薄膜5 0由氧化矽薄膜,氮氧化矽薄 膜’或有機樹脂薄膜構製於像素電極4 9上,具有厚度自 0 · 3至1 μ m。一開口部份由蝕刻法構製於第三層間絕 緣薄膜5 0中像素電極4 9上,並蝕刻該開口部份之邊緣 ’俾成錐形。錐形角度可設定自1〇至60° (宜在30 至5 0 °之間)。 一陰極5 1構製於第三層間絕緣薄膜5 0上。包含低 功函數材料之一材料,諸如鎂(Mg),鋰(Li),或 鈣(Ca)用作陰極51。宜使用由MgAg (由Mg及 Ag以Mg : Ag = l〇 ·· 1)所構成之材料)所製之電 極。而且,可提出一 MgAgA 1電極,一 L i A 1電極 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-16 · 515109 A7 B7 五、發明説明(14 ) ,及一 LiFaAl電極作爲他例。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一 EL層5 2構製於陰極5 1上。陰極5 1在此點需 在完全由E L層覆蓋之狀態,且該E L層構製具有較陰極 5 1爲大之圖案。由如此作,可防止陰極5 1及其後所製 之=陽極間之短路。 _ 而且,需使用多室式(亦稱爲簇工具式)直空蒸發機 器,連續構製陰極5 1及EL層52,而不曝露於大氣中 。此在避免E L層5 2由於濕氣而降低品質。有關構製陰 極5 1及EL層52,可使用已知之技術。 首先,例如,由使用一第一蔽罩,構製與所有像素相 對應之陰極,且其次,由使用一第二蔽罩,構製一紅發光 E L層於與紅色相對應之像素中。然後可依次構製綠發光 E L層及藍發光E L層,同時精確控制第二蔽罩之移動。 注意,當與R G B相對應之像素對對齊成條形時,可簡單 移動第二蔽罩,如上述,但爲達成所稱三角形安排像素結 構,可使用一特殊第三蔽罩於綠發光E L層上,並可使用 一特殊第四蔽罩於藍發光E L層上。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且,以上說明中顯示使用一蔽罩,由蒸發構製一發 光E L層於每一色中之一例,但亦可使用噴墨方法,網印_ ,及離子塗鑛。而且,可構製一肋包圍像素,分隔E L層 之每一色。 而且,以上說明中顯示使用紅,綠,及藍三色執行色 顯示之例,但假設E L顯示裝置顯示單色光,則可構製發 紅,綠,或藍任一色之光之一 E L層於整個表面上。當然 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-17 · 515109 A7 B7 五、發明説明(15 ) ,亦可構製白色發光E L層,以製造單色顯示E L顯示裝 置。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 可使用單層結構或疊層結構作爲E L層5 1,但宜使 用疊層結構,因其具有良好之發光效率。一般言之,一孔 注射層,一孔輸送層,一發光層,及一電子輸送層依次構 製於像素電極上,但具有一孔輸送層,一發光層,及一電 子輸送層之結構,或具有一孔注射層,一孔輸送層,一發 光層,一電子輸送層,及一電子注射層之結構亦可使用。 本發明可使用任何已知之結構,且亦可執行摻雜螢光顏料 於E L層中。 例如經公開之以下美專利及曰本專利申請書中所發表 之材料可用作有機EL材料:美專利4,356,429 •,美專利4,5 3 9,5 0 7,美專利 4,7 2 0,432 ;美專利 4,769 ,29 2 ;美專 利 4,885,211 ;美專利 4,950,950 ;美 專利 5,0 5 9 ,8 6 1 ;美專利 5,0 4 7,6 8 7 ; 美專利 5,073 ,446 ;美專利 5,059 ,862 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ;美專利5,0 6 1,6 1 7 ;美專利 5,151,629;美專利 5,294,869;美專-利5,294,870 ;日本專利申請公報He i 1〇一 189525號;日本專利申請公報He i 8 — 24 1 048號;及曰本專利申請公報^16 18 — 7 8 1 5 9 號。 明確言之,諸如由以下通式所表示之一之材料可用作 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-18 - — 515109 A7 B7 五、發明説明(16 ) 孔注射層。 化學1 T2
(請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 其中q爲N或一 C 一 R (碳鏈);Μ爲一金屬,一金屬氧 化物,或一金屬鹵化物;R爲氫’一烷基,一芳烷基,一 烯基,或一鹼基烯丙基;及Τ 1及Τ 2爲不滿和六構件環 ,包含諸如氫,烷,或鹵素等替代物。 而且,可使用芳族叔胺爲有機材料’用作孔輸送層, 宜包含四烯丙基二胺,由以下通式表示。 化學2 其中,Ar e爲丙炔圍,η爲自1至4之整數,及AR, R7,r 8,及R9各爲所選之嫌丙基。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且,可使用金屬氧化物作爲EL層,電子輸送層’ -或電子注射層之有機材料。可使用以下通式所表示之材料 作爲金屬氧化物。 化學3 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-19 - 515109 A7
其中,1^2至1^7可被取代 且亦可使用以下之一金屬氧化 物·。 化學4
L2
Ls L4 ---------Φ II (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 其中R2至Rt可定義如上述:Li至L5爲碳水化合物團, 包含1至1 2碳原子;及二Li及l2,或二L2及L3可形 成苯環。而且’亦可使用以下金屬氧化物。 化學5
經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其中,R2至尺6可被取代。故此包含具有有機配合基之配 iu化學物作爲有機e L兀素材料。注意以上僅爲有機E乙 材料之一些例,此等可用作本發明之E L材料,且絕對無 需限制E L材料於此等。 515109 A7 B7 五、發明説明(18 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 而且,可使用聚合材料作爲E L材料。可提出諸如以 下之聚合物作爲典型之聚合材料··聚對苯乙嫌(P PV) 及聚芴。爲顏色化,宜使用例如氰聚苯乙烯於紅發光材料 ’聚苯乙嫌於綠發光材料,及聚苯乙烯或聚鹼苯於藍發光 材科。 注意E L顯示裝置約分爲四種色顯示方法··構製與R (紅),G (綠),及B (藍)相對應之三種EL元件之 方法,合倂白色發光E L元件與濾色器之方法,合倂藍或 藍-綠發光E L元素及螢光物質(螢光色改變層,c CM )之方法,及使用透明電極作爲陰極(相對電極)並覆蓋 與R,G,及B相對應之EL元件之方法。 圖1之結構爲使用構製與R,G,及B相對應之三種 E L元件之方法之情形。注意雖圖1中僅顯示一像素,但 可如此執行與紅,綠,及藍色分別對應之具有相同結構之 像素,及該色顯示。然而,可實施本發明,而不管發光之 方法,且可使用所有以上四方法於本發明中。 在如此構製至E L層5 2後,構製由透明傳導性薄膜 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 (氧化物傳導性薄膜)所構成之一陽極5 3於E L層 5 2上。薄膜厚度可設定自 80至300nm (宜在100及200nm之間) 。E L層中所發之光向圖1上方(在本發明之情形中’與 基體相反之方向)輸出,且故此陽極5 3需對由E乙層 5 2所發之光透明。 注意由陰極5 1 (或包含像素電極4 9及陰極5 1之 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 21 - 515109 A7 B7 五、發明説明(19 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一陰極),EL層52,及陽極53所構成之發光元件在 此整個說明中稱爲EL元件。EL元件在圖1中由參考編 號2 0 3標示。 參考編號5 4標示一第二鈍化薄膜,且其薄膜原度可 設萣自l〇nm至lnm (宜在2_00及500nm間) 。構製第二鈍化薄膜5 4之目的主要在保護E L層5 2, 防止濕氣,但如構製具有散熱作用之第二鈍薄化5 4亦有 效。注意E L層在熱方面較弱,如上述,且故此,宜在儘 可能低溫上(宜自室溫至1 2 0°C之範圍中)執行薄膜沉 積。故此,可說電漿CVD,濺散,真空蒸發,離子塗鍍 ,及溶液施敷(旋塗)爲所需之薄膜沉積方法。 如此完成具有圖1所示之結構形之像素部份。在本發 明之像素部份中,由η通道TFT2 0 4及P通道 TFT2 0 5所構成之CMOS電路構製於像素電極 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 4 9下方,且由此CMOS電路作爲一基本單位,可 構成各種元件,驅動電路,及一信號處理部份。注意圖1 並不意謂一 CMO S電路構製於一像素中,而是意謂普通 構製於像素部份之周邊中之電路,諸如驅動電路可構製於 像素部份內。 普通構製於像素部份之周邊中之元件,驅動電路,及 信號處理部份使用T F T構製於每一像素之像素電極下方 。一般言之,此等構製於像素部份內部(像素部份內)。 注意本發明之要點爲有效利用基體表面區,安排普通 構製於像素部份之周邊中之電路或元件於E L顯示裝置( 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 22 - " 515109 A7 B7 五、發明説明(2〇 ) 此與基體相對輸出光)之像素部份內之死空間中(在像素 電極下面)。故此,本發明並不限於圖1之TFT結構。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 實施例1 _使用圖2 A至5 C說明本發弭之較佳實施例。在此說 明製造形1所示之像素部份之方法。注意該等圖顯示一 CMO S電路,作爲驅動電路之基本單位,以簡化說明。 首先,如顯示於圖2A,製備一基體501 ,其表面 上構製一基層薄膜(未顯示於圖中)。疊置1〇〇 nm厚 度之氧氮化矽薄膜及2 0 0 nm厚度之氧氮化矽薄膜於實 施例1之結晶玻璃上,並用作基層薄膜。此際,宜設定與 結晶玻璃基體接觸之薄膜之氮濃度於1 0及2 5重量%之 間。各元件當然亦可直接構製於石英基體上,而不製造基 層薄膜。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其次,由已知之薄膜沉積方法,構製4 5 nm厚之一 非晶質矽薄膜5 0 2於基體5 0 1上。注意無需限制此於 非晶質矽薄膜,且亦可使用任何其他薄膜,假設此爲具有 非晶質結構之半導體薄膜(包括微晶半導體薄膜)。而且 ,亦可使用包含非晶質結構之化合物半導體薄膜,諸如非一 晶質矽鍺薄膜。 可整個引用本發明之受讓人之日本專利申請書公報 He i 10-247735號作爲自此至圖2C之程序。 在以上專利申請書中,發表有關晶化半導體薄膜之一方法 ,使用諸如N i之一元素作爲催化劑。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 23 · 515109 A7 B7 五、發明説明(21 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 首先,構製一保護性薄膜504,具有開口部份 503 3及5031)。在實施例1中使用15〇11111厚之 氧化矽薄膜。然後由旋塗法構製含鎳(Ni) 5 0 5之一 層(含N i層)於保護性薄膜5 0 4上。有關製造含N i 層'可參考以上專利申請書。 · 其次,如顯示於圖2 B,在惰性大氣中以5 7 0 t熱 處理1 4小時,晶化該非晶質矽薄膜。晶化約與基體平行 進行,使區域與Ni (此後稱爲Ni加進區)506a及 5 0 6 b如原狀接觸,形成具有結晶結構之多晶矽薄膜 5 0 7,其中,棍形晶體對齊一起。 然後加進週期表團1 5中之一元素(宜爲磷)於N i 加進區5 0 6 a及5 0 6 b中,留保護性薄膜5 0 5於原 地作爲蔽罩,如顯示於圖2 C。如此構製加有高度磷之區 域(此後稱爲加磷區)508a及508b。 其次,如顯示於圖2 C,在惰性大氣中以6 0 0 °C熱 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 處理1 2小時。存在於多晶矽薄膜5 0 7中之N i由於熱 處理而遷移,且最後幾乎完全爲加磷區5 0 8 a及 5 0 8 b所捕捉,如箭頭所示。此可視爲由磷吸除金屬元 素(實施例1中之N i )之效果現象。 由此處理而留於多晶矽薄膜5 0 9中之N i之濃度降 低至少至2xl017原子/cm3,如由SIMS (二次 離子質譜儀)所量度。N i爲半導體之壽命促短劑,且如 N i之濃度降至此程度,則對TF T之特性無有害之影響 。而且,此濃度幾乎爲目前S IMS可量度之極限,且故 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-24 - 515109 A7 B7 五、發明説明(22 ) 此,預期實際濃度更低(低於2 X 1 017原子/cm3) 〇 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 如此獲得多晶矽薄膜5 0 9,由使用催化劑晶化,且 其中之催化劑然後減少至其不會引起T F T受損之程度。 其後由造形法構製使用此多晶矽薄P5 0 9之主動層 5 1 0至5 1 3。注意用以在其後造形法中執行蔽罩對齊 之記號可在此時使用以上多晶矽薄膜製造(閱圖2D)。 其次,由電漿CVD構製5 0 nm厚之氧氮化矽薄膜 ,如顯示於圖2E,而且,由在氧化大氣中在950 °C上 熱處理1小時’執行熱氧化步驟。注意氧化環境可爲氧大 氣,或加有鹵元素之氧大氣。 在主動層及以上氧氮化矽薄膜之介面中由以上熱氧化 步驟進行氧化,及氧化約1 5 n m厚之多晶矽薄膜,形成 約3 0 n m厚氧化矽薄膜。換言之,由3 0 nm厚之氧化 砂薄膜及5 0 nm厚之氧氮化矽薄膜形成8 0 nm厚之一 閘絕緣薄膜5 1 4。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其次製造一光阻罩5 1 5,如顯示於圖3A,並經由 閘絕緣薄膜5 1 4加進雜質元素,此施加p型導電性(此 後稱爲P型雜質元件)。可使用週期表團13中之一元素-,普通爲硼或鎵爲p型雜質元素。此程序(稱爲通道摻雜 程序)爲用以控制T F T之臨限電壓之程序。 注意實施例1中由電漿激發之離子摻雜法加進硼,而 不分離二硼氫(B2H6)之質體。當然,亦可使用執行分 離質體之離子植入法。由此程序製造摻雜區5 1 6至 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-25 · 515109 A7 B7 五、發明説明(23 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 518,包含濃度lxl〇15至1χ1〇18原子/ cm3 (普通在5 X 1 〇16至5 X 1 〇17原子/ cm3之間)之 硼。 其次構製光阻罩519a及519b ’如顯示於圖 3 $,並經由閘絕綠薄膜5 1 4加_進雜質元素’此施加η 型導電性(此後稱爲η型雜質元素)。可使用週期表團 1 5中之一元素作爲η型雜質元素。注意在實施例1中由 電漿激發電漿摻雜法加進1 X 1 〇18原子/cm3濃度之 磷而不分離磷化氫(PH3)之質體。當然,亦可使用執行 分離質體之離子植入。 調節劑量,俾如以上構製之η型摻雜區5 2 0及 5 2 1中包含在濃度2 X 1 016至5 X 1 019原子/ cm3 (普通在 55Χ1011 至 5χ1014 原子/ cm3 之間.)之η型雜質元素。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 然後執行活化所加之η型雜質元素及ρ型雜質元素之 程序,如顯示於圖3 C。活化措施無需任何限制,但以爐 退火程序較佳,因爲已製造閘絕緣薄膜。而且,可能慣及 主動層及(在圖3 Α之程序中成爲通道形成區之部份之) 閘絕緣薄膜之介面,且故此,宜在儘可能高之溫度上執行-熱處理。 實施例1中使用具有高抗熱力之晶化玻璃,且故此, 由在8 0 0 °C上爐退火1小時,執行活化程序。注意可使 處理環境成爲氧化大氣,執行熱氧化,且可使用惰性大氣 ,執行熱處理。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 26 - 515109 Α7 Β7 五、發明説明(24 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 由以上程序界定η型摻雜區5 2 0及5 2 1之邊緣部 份’即η型摻雜區5 2 0及5 2 1之周邊中之一區域(其 中未加有η型雜質元素,由圖3Α之程序所構製之ρ型摻 雜區)之邊界。此意謂可在其後完成TFT之時刻,構製 L~DD區及通道形成區間之一極爲與好之連接部份。 其次構製2 0 0至4 0 0 nm厚之導電性薄膜,並造 形,形成閘電極522至525。注意可構製一單層電極 薄膜作爲閘電極,但當需要時,宜使用二層或三層之疊層 薄膜。可使用已知之導電性薄膜爲閘電極材料(閱圖3 D )° 明確言之,可使用選自鉅(Ta),鈦(Ti),鉬 (Mo),鎢(W),鉻(Cr),及導電性矽(Si) 所組成之群中之一元素之一薄膜;或以上元素之氮化物之 薄膜(普通爲氮化鉅薄膜,氮化鎢薄膜,氮化鈦薄膜;或 以上元素之合倂之合金薄膜(普通爲Μ 〇 - W合金或Μ 〇 一丁 a合金); 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 或以上元素之矽化物薄膜(普通爲矽化鎢薄膜或矽化 鈦薄膜)。當然可使用一單層薄膜或一疊層。 實施例1中使用由5 0 nm厚之氮化鎢(WN)薄膜 一 及3 5 0 nm厚之鎢(W)薄膜所構成之疊層薄膜。此薄 膜可由濺散製造。而且,如加進惰性氣體,諸如X e或 N e作爲濺散氣體,則可防止薄膜由於應力而剝開。 此時構製閘電極5 2 3及5 2 5 ’俾η型摻雜區 5 2 0及5 2 1之部份分別與置於其間之閘絕緣薄膜 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐)-27 - 515109 A7 _ B7 五、發明説明(25 ) 5 1 4重疊。重疊部份其後成爲LDD區,重疊於閘電極 。注意二閘電極5 2 4可在斷面上看見,但實際上電連接 〇 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 質次,以自我對齊之方式加進η型雜質元素(實施例 1 Φ使用磷),以閘電極5 2 2罜5 2 5作爲蔽罩,如顯 示於圖4Α。調節加進量,俾磷以摻雜區5 2 0及5 2 1 之濃度之1/10至1/2 (普通在1/4及1/3之間 )加進於如此所形成之摻雜區5 2 6至5 3 2中。明確言 之,濃度宜爲lxlO16至5χ1018原子/cm3 (普 通在3 X 1 〇17及3 X 1 018原子/ cm3之間)。 其次構製光阻罩5 3 3 a至5 3 3 d,其形狀在覆蓋 閘電極,如顯示於圖4 B,並加進一 η型雜質元素(實施 例1中使用磷),形成含有高濃度磷之摻雜區534至 5 4 0。在此亦執行使用磷化氫(ΡΗ3)之離子摻雜法, 並調節此等區域之磷濃度自1 X 1 02()至1 X 1 021原子 /cm3 (普通在 2xl02G 至 5xl02G 原子/ cm3 之間)。 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 由此程序製造η通道T F T之源區及汲區,且在開關 TFT中,留下由圖4Α之程序所構製之η型摻雜區 5 2 9至5 3 1之一部份。此等留下之區相當於圖1之開 關 TFT 之 LDD 區 15a 至 15d。 其次,如顯示於圖4C,移去光阻罩533a至 533d,並構製新光阻罩541。然後加進一 p型雜質 元素(在實施例1中使用硼),形成含有高濃度硼之摻雜 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-28- 515109 A7 B7 五、發明説明(26 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 區54 2及543。在此,由離子摻雜法,使用二硼氫( B2H6)加進硼至3 X 1 〇2°至3 X 1 022原子/ cm3 (普通在5 X 1 02Q至1 X 1 〇21原子/ cm3之間)之 濃度。 -注意已以1 X 1 〇16至5 X 1_〇18原子/ cm3之濃 度加進磷於摻雜區5 4 2及5 4 3中,但在此以磷之濃度 之至少3倍加進硼。故此,完全變換已製成之N型摻雜區 爲P型,且用作p型摻雜區。 其次,在移去光阻罩541後,如顯示於圖4D,構 製一第一層間絕緣薄膜5 4 4。使用含矽之一單層之絕緣 薄膜作爲第一層間絕緣薄膜,但亦可使用相同之疊層薄膜 。而且,薄膜厚度宜在400nm及1 · 5em之間。實 施例1中使用8 0 0 nm厚氧化矽薄膜在2 0 0 nm厚氧 氮化矽上之一疊層結構。 其後,活化以其各別濃度所加之η型摻雜區及p型摻 雜區。爐退火宜爲一活化措施。在實施例1中使用電爐在 惰性大氣中以5 5 0 t執行熱處理4小時。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且,亦在含有3至1 0 0%氫之大氣中以3 0 0至 450°C執行熱處理1至12小時,執行氫化。此爲由熱 一 激發之氫終接半導體薄膜中之懸空鍵之一程序。亦可執行 電漿氫化法(使用由電漿激發之氫),作爲氫化之另一措 施。 注意在構製第一層間絕緣薄膜5 4 4之期間中,亦可 執行氫化步驟。即是,在構製2 0 0 nm氧氮化矽薄膜後 i紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 29 - 515109 A7 B7 五、發明説明(27 ) ’可執行如上之氫處理,然後可構製其餘8 0 0 nm厚之 氧化矽薄膜。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 其次構製第一層間絕緣薄膜5 4 4中之接觸孔,並構 製源接線545至548及汲接線549至551。在實 施例1中,使用一疊層薄膜作爲電_極,具有一 1 〇 〇 nm 之欽薄膜,一 3 0 0 nm之含欽之銘薄膜,及一 1 5 0 nm鈦薄膜之三層結構由連續濺散法構成。當然亦 可使用其他導電性薄膜。 其次構製一第一鈍化薄膜5 5 2,具有厚度5 0至 500nm(普通在200及300nm之間)。使用一 3 0 0 nm厚之氮氧化矽薄膜作爲實施例1中之鈍化薄膜 344。氮化矽薄膜亦可取代氧氮化矽薄膜。 在構製氧氮化矽薄膜之前,此際使用含氫之氣貘,諸 如Η2·ΝΗ3執行電漿處理有效。由此預處理所激發之氫 供應至第一層間絕緣薄膜3 4 4,並由執行熱處理,提高 弟一鈍化薄膜5 5 2之薄膜品質。同時,加於第一層間絕 緣薄膜5 4 4中之氫擴散至較下面,且可有效氫化主動層 〇 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 其次,由有機樹脂構製第二層間絕緣薄膜553,如— 顯示於圖5 Β。可使用諸如聚醯亞胺,壓克力,及B C Β (苯環丁烷)作爲有機樹脂。尤其是,需平坦化第二層間 絕緣薄膜5 5 3上由TFT所形成之不平,且故此,宜使 用具有超平坦化特性之壓克力薄膜。實施例1中構製一 2·5nm厚之壓克力薄膜。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-30 - 515109 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(28 ) 其次,構製進入汲接線5 5 1之接觸孔於第二層間絕 緣薄膜5 5 3及第一鈍化薄膜5 5 2中,並構製一像素電 極5 54。構製一 200nm厚之鋁合金薄膜(含有1重 量%之鈦),作爲實施例1之像素電極。 ‘其次,構製一 500nm厚之_含矽絕緣薄膜(實施例 1中之氧化矽薄膜),並構製一開口部份於與像素電極 5 5 4相對應之位置處,構製一第三層間絕緣薄膜5 5 5 。由使用濕蝕刻法,當構製該開口部份時,可容易製造具 有錐形之一側壁。如開口部份之側壁並不充分緩和時,則 E L層由於不平坦所引起之品質下降成爲顯著問題。 其次,使用真空蒸發法,連續構製一陰極(MgAg 電極)556及一 EL層557,而不曝露於大氣中。陰 極5 5 6之薄膜厚度可設定自1 40至3 0 0ΝΜ (普通 在2 0 〇及2 5 0 ΝΜ之間,及EL層5 5 7之厚度可設 定自80至200nm (普通在100及120nm之間 )° 在此步驟中,首先,依次構製與色紅相對應之像素, 與色綠相對應之像素,及與色藍相對應之像素之陰極。如 在此際對陰極造形,則需曝露於大氣,且不能連續製造其-次所構製之E L層。故此,宜在使用諸如金屬蔽罩,由真 空蒸發沉積之時刻,對陰極實際造形。 然後由真空蒸發構製發出各別色之E L層5 5 7,以 覆蓋構製於每一像素上之陰極5 5 6。注意E L層具有較 一溶液爲小之電阻,且故此需個別構製每一色之E L層, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)· 31 - Φ 、玎 0— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 515109 A7 B7 五、發明説明(29 ) 而不使用照相製版技術。然後使用一金屬蔽罩或類似者, 以覆蓋除所需之像素以外之區域,並選擇性構製E L層。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 換言之,設置一蔽罩,以覆蓋除與色紅相對應之像素 以外之所有區域,並使用該蔽罩,選擇性構製紅發光E L 層_及陰極。其次,設置一蔽罩,以覆蓋除與色綠相對應之 像素以外之所有區域,並使用該蔽罩,選擇性構製綠發光 E L層及陰極。同樣,設置一蔽罩,以覆蓋除與色藍相對 應之像素以外之所有區域,並使用該蔽罩,選擇性構製藍 發光E L層及陰極。注意在此說明所有所用之蔽罩不同, 但亦可使用相同之蔽罩。 如使用實施例1所示之製造方法,俾在使用真空蒸發 沉積之時刻執形造形,則可連續製造陰極5 5 6及E L層 5 5 7,而不曝露於大氣中,且可增加E L元件之發光效 效率。 注意可使用已知之材料作爲E L層。考慮驅動電壓, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 則宜使用一有機材料作爲該已知材料。例如,可使用由一 孔注射層,一孔輸送層,一發射層,及一電子注射層所構 成之一 4層結構作爲E L層。而且,在實施例1中顯示一 例,使用MgAg電極作爲EL元件之陰極,但亦可使用-另外已知材料。 其次,構製由透明傳導性薄膜所製之一陽極5 5 8, 覆蓋EL層5 5 7。在實施例中構製一 1 1 0 nm厚之氧 化銦鍚(I TO)薄膜,並執行造形,形成陽極。而且, 亦可使用一透明傳導性薄膜,其中,在2及2 0%間之氧 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)~-32 - "~ 515109 A7 B7 五、發明説明(3〇 ) 化鋅(Ζ η 0 )與氧化銦或氧化鍚薄膜混合。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 最後,構製由氮化矽所構成之一第二鈍化薄膜5 5 9 ,具有厚度300nm。EL層557由第二鈍化薄膜 5 5 9防止諸如濕氣等。而且,第二鈍化薄膜5 5 9亦擔 任蘀放由E L層5 5 7所產生之熱容任務。 如此完成具有如圖5 C所示之結構之一主動矩陣式 E L顯示裝置。注意實施例1之製造程序僅爲一例。例如 ,雖形成實施例1中之主動層之半導體薄膜可由日本專利 申請書公報He i 10 - 247735號所述之裝置製造 ,但其他已知之裝置亦可使用。此公開專利之整個說明列 作參考。 而且,LDD區等之安排僅顯示一較宜之例,且無需 限制該結構於實施例1之安排。注意在使用多晶矽薄膜作 爲主動層之情形,實施例1之結構較宜,因爲可靠性增加 ,且完全利用使用多晶矽薄膜作爲主動層之優點。 實施例2 經濟部智慧財產局員工消费合作社印製 在依實施例1完成至圖5 C後,而且,宜由使用殼材 料,諸如高度氣密之保護薄膜(諸如層形薄膜或紫外線硬-化樹脂薄膜)或陶瓷密封罐執行包裝(密封),俾不曝露 於大氣中。由使殻材料內部爲惰性環境,並由置一乾燥劑 (例如,氣化鋇)於殼材料內,E L層之可靠性(壽命) 此時增加。 而且,在由包裝處理增加氣密程度後,附裝一連接器 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)-33 - 515109 A7 B7 五、發明説明(31) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) (可撓性印刷電路,F P C ),用以連接基體上所構製之 元件或電路之輸出端及外部輸入端之間,完成所製之產品 。在此可運輸狀態中之E L顯示裝置在整個本說明書中稱 爲E L模組。 在此使用圖7 A及7 B,說明E L模組之構造。構製 一像素部份702,一閘信號方驅動電路703,一資料 信號方驅動電路7 0 4,及一信號處理部份(驅動電路以 外之一電路群,諸如分波電路及增強電路)705於基體 701上。閘信號方驅動電路703,資料信號方驅動電 路7 0 4,及信號處理部份7 0 5由本發明構製於像素部 份之內部上。而且,雖未顯示於圖中,但來自各別驅動電 路及信號處理部份之接線經由F P C 7 0 6連接至外部裝 備。 此時構製殼材料707,包圍像素部份。注意殼材料 7 0 7爲具有大不規則之形狀,其中,內部大小(深度) 大於像素部份7 0 2之外部大小(高度),或具有片形狀 ,且由透明材料製造。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且’殼材料7 〇 7由黏著劑7 0 8固定於基體 7 0 1上’俾與基體成一氣密空間7〇9,如顯_ 示於圖7 B。此際,E L元件在完全密封於上述氣密空間 中之狀態’且完全不在外部大氣中。注意可構製多個殻材 料 7 0 7。 宜使用一絕緣物質,諸如璃或聚合物作爲殼材料 7 〇 7 °以下可作爲一例:非晶質玻璃(諸如矽酸硼玻璃 本紙張尺度適用中國國家榡準(CNS )八4胁(21〇><297公慶) -34· 515109 A7 B7 五、發明説明(32 或石英);結晶玻璃;陶瓷玻璃,有機樹脂(諸如丙烯酸 樹脂,苯乙烯樹脂,及環氧樹脂):及矽樹脂。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 可使用黏著劑,諸如環氧樹脂或丙烯酸樹脂作爲黏著 劑7 0 8之材料。而且,亦可使用熱硬化樹脂或光硬化樹 月旨作爲黏著劑。注意需使用一材料,此儘可能不發射氧及 濕氣。 而且,宜由惰性氣體(諸如氬,氨,或氮)塡滿殼材 料7 0 7及基體7 0 1間之空間7 〇 9。並不限於氣體, 且亦可使用惰性液體(諸如液體氟酸碳,普通爲氟鹼)。 有關惰性液體,可參考諸如日本專利申請書公報H e i 8 一78519號所述之材料。 有效製造乾燥劑於空間7 0 9內。可使用日本專利申 請書公報He i 9 — 148066中所述之材料作爲乾燥 劑。普通可使用氧化鋇。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 構製具有E L元件之多個隔離之像素於像素部份中, 且所有像素具有一陽極作爲公共電極。在由參考編號 7 1 1所標示之一區域中,經由與像素電極相同材料所製 之一連接線7 1 2連接陽極7 1 0至一輸入/輸出接線 7 1 3。輸入/輸出接線7 1 3爲用以施加預定電壓於陽-極7 1 0上之接線,且經由導電性糊漿7 1 4連接至 F P C 〇 在此使用圖8A至8 C,說明用以在區域7 1 1中實 現接觸結構之製造程序。 首先,依據實施例1之程序,獲得圖5 A之狀態。此 •35- 本纸張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210X297公釐) 515109 A7 __B7_ 五、發明説明(33 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 際移去基體之邊緣部份中之接觸部份(由圖7 B中之參考 編號7 1 1所示之區域)中之第一層間絕緣薄膜54 4及 閘絕緣薄膜5 1 4,並構製輸入一輸出接線7 1 3。當然 ,此可與與圖5 A之源接線及汲接線同時構製(閱圖8 A )' _ 其次蝕刻圖5 B中之第二層間絕緣薄膜5 5 3及第一 鈍化薄膜5 5 2,移去由參考編號8 0 1所標示之一區域 ,並構製一開口部份802。然後構製連接線712,以 覆蓋開口部份802。連接線712當然可與圖5B中之 像素電極554同時構製(閱圖8B)。 在此狀態中,在像素部份中執行E L元件構製程序( 構製第三層間絕緣薄膜,陰極,及EL層之程序)。此際 並不使用蔽罩等構製第三層間絕緣薄膜及E L元件於圖 8 A至8 C所示之區域中。在構製E L層5 5 7後,使用 另一蔽罩構製陽極5 5 8。如此經由連接線7 1 2電連接 陽極5 5 8及輸入一輸出接線7 1 3。而且,構製第二鈍 化薄膜5 5 9,獲得圖8 C所示之狀態。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 如此達成由圖7B之參考編號711所示之區域中之 接觸結構。然後連接輸入-輸出接線7 1 3經殻材料 707及基70 1間之空間而至FPC706 (注意此空 間由黏著劑7 0 8塡滿,即是,黏著劑7 0 8需具有一厚 度可充分塡平輸入-輸出之隆起)。黏著劑707所形成 之部份被壓於殼材料7 0 7及基體7 0 1之間,且故此, 如此處有一元件或電路,則可能受損壞,但如僅一接線通 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 17^ ' 515109 A7 _____B7 _ 五、發明説明(34 ) 過,如圖7 B中者,則無問題。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 注意製造實施例2中所示之主動矩陣式E L顯示裝置 之方法可依實施例1執行。 «施例3 _ 使用圖1 0,說明實施例3之本發明之主動矩陣式 E L顯示裝置之像素部份之斷面結構。注意在圖1 0中, 與圖1相同之部份註以與圖1相同之符號。 在圖1 0中,參考編號1 0 〇 1標示一電流供應線, 此連接至電流控制T F T之一源區(未顯示於圖中)。而 且,參考編號1 0 0 2標示一資料線,此連接至一開關 TFT之源區(未顯示於圖中)。 電流供應線1 0 0 1及資料線1 〇 〇 2存在於在與閘 接線平行之方向上安排之相鄰像素之間。故此,用以相互 連接不同像素中所構製之驅動電路TFT (形成驅動電路 之一部份之TFT)之接線需越過電流供應線1 〇 〇 1及 資料線1 0 0 2。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在此情形,可提出諸如實施例3中所示之方法。首先 爲用以在與鬧電極3 9及4 3同時製造一第·一連接芽泉 1003 ’並使第一連接線1003通過諸如資料線等接 線下方之方法。此方法使用於實施例3中,以連接電流供 應線1001及CMOS電路l〇〇〇b。 而且,其次爲製造一第二連接線1 0 0 4之方法,此 越過電流供應線1 0 0 1及/或資料線1 〇 q 2。此方法 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X297公釐)~ ----- 515109 A7 __ B7_ 五、發明説明(35 ) 用以連接實施例3中之一 CMOS電路1 〇 〇 〇 a及 CMOS 電路 1000b。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 在此情形,在打開第二層間絕緣薄膜5 5 3中之一接 觸孔後,可在圖5 B之程序中構製第一連接線i 〇 〇 4 ( 非1象素電極)。其次構製一層間S緣薄膜,覆蓋第二連接 線1004,打開一接觸孔,並可構製像素電極。 注意電流供應線1 0 0 1及資料線1 〇 〇 2構製於實 施例3之同層上,但二者亦可構製於分開之層上。即是, 電流供應線1 0 0 1或資料線1 0 0 2可構製於圖1 0之 第二連接線1 0 0 4之層中。在此情形,第二連接線可構 製於與閘接線同層上,通過電流供應線及資料線上方。 實施例3之特徵故此爲使用構製於與電流供應線及資 料線不同層中之連接線,且依此,電流供應線及資料線相 交。可使用與閘接線,或構製於資料接線及閘電極間之一 層中之一接線相同之接線作爲實施例3之連接線。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 注意實施例3之結構可由參考實施例1製造。而且, 可實施實施例3之構造與實施例2所示之E L顯示裝置合 倂。 實施例4 使用實施例3之構造及構製一驅動電路於一像素內之 情形之一例說明於實施例4中。明確言之,顯示製造一轉 移暫存器於一像素部份內(內部)之一例。 圖1 1 A爲像素部份之一像素之放大頂視圖,及圖 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)_ % β 515109 A7 B7 五、發明説明(36 ) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 1 B爲該像素之電路圖。開關TF T2 0 1及電流控制 TFT2 0 2具有與圖1相同之符號。參考編號1 1 0 1 標示一儲存電容器,此執行儲存供應至電流控制 T F T 2 0 2之閘極之電壓經一框週期之工作。注意假定 由^使用多閘結構於開關T F T 2 Q 2上,而儘可能降低開 關TFT2 0 2之斷電流,則可略去儲存電容器1 1 0 1 〇 儲存電容器11〇1在實施例4中構製於電流控制 TFT2 0 2及電流供應線1 1 0 2之間。當然,電容器 亦可構製於電流控制TFT之源區及電流控制 T F T 2 0 2之一閘電極(包含閘接線)之間。 而且,轉移暫存器之一部份(正反電路)顯示在像素 內,及一正反電路由以下三部份構成:一反相器1 1 0 3 ,及定時反柑器1 1 04及1 1 0 5。正反器在實際轉移 暫存器中串連。 而且,V g爲閘信號,V s爲源信號(資料信號), 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 V d d !(電流供應線1 1 0 2 )爲施加於E L元件2 0 3 之一陰極上之陰極信號,Vek爲時脈信號上一橫意 爲反相之Vu) ,Vdd2爲定時反相前方信號,及 Vdd3爲定時反相器之負荷方信號。注意在實施例4中’ 地電位施加於V d d 1上。 構製一正反電路於一像素上,具有實施例4中之結_ ,並與構製於相鄰像素內之另一正反電路串連。當Vcr然 後橫過像素之間時,可使用連接線1 106至1 1 1 5 ’ -39- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 515109 A7 B7 五、發明説明(37 ) 如由圖1 0之參考編號1 0 0 4所標示之連接線。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 注意連接線1 1 1 4及1 1 1 5可與資料線及電流供 應線同時製造。換言之,如不在同一層上相交,則並無問 題,且當一接線與另接線相交時,操作者可適當設定在何 層~上構製另一接線。 _ 注意可自由合倂實施例4之構造及實施例1至3之任 一之構造。 實施例5 與實施例4不同之一主動矩陣式E L顯示裝置之結構 之例說明於實施例5中。明確言之,圖1 2顯示圖1 1所 示之像素結構之閘接線之不同材料之一例。注意圖1 2之 結構幾乎與圖1 1者相同,故僅說明其不同部份。 在實施例5中,由使用三閘結構於開關TFT中,設 定斷電流等於或小於10pA(宜等於或小於ΙρΑ)。 故此略去圖11中所示之儲存電容器11〇1。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在圖1 2中,參考編號6 1 a至6 1 c標示由氮化鎢 薄膜及鎢薄膜之疊層薄膜所構成之閘電極,與實施例1之 閘電極相似。此等各可由一獨立之圖案構成,如顯示於圖-12,且可製成一圖案,其中各電連接,但在製造時,閘 電極在電浮動狀態。 亦可使用其他導電性薄膜,諸如一氮化鉅薄膜及一鉬 薄膜之疊層薄膜,或組及鎢之一合金薄膜作爲閘電極 6 1 a至6 1 c。然而,宜使用具有較優之處理特性之一 •40- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 515109 A7 B7 五、發明説明(38 ) 薄膜,能製造等於或小於3 /zm (宜等於或小於2 vm) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 之細寬度。而且宜使用不含有會擴散進入主動層中之元素 之一薄膜作爲絕緣薄膜。 另一方面,使用具有電阻低於閘電極6 1 a至6 1 c 之·'一導電性薄膜作爲閘接線6 2丨普通爲宜有鋁作爲其主 要組成份之合金薄膜,或具有銅作爲其主要組成份之合金 薄膜。在閘接線6 2上無需特別細處理特性。而且,閘接 線並不重疊主動層,且故此,如閘接線含有容易擴散通過 絕緣薄膜之鋁或銅,亦無問題。 在製造實施例5之結構中,宜在實施例1之圖4D之 步驟中構製第一層間絕緣薄膜5 4 4之前,執行一活化程 序。在此情形,使閘電極6 1 a至6 1 c在曝露狀態中施 加熱處理,但閘電極6 1 a至6 1 c不由在充分惰性大氣 中執行熱處理而氧化,宜在氧濃度等於或低於1 P pm中 。即是,不由氧化而增加電阻値,且閘電極不由不易移去 之一絕緣薄膜(氧化物薄膜)覆蓋。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 在完成活化程序後,然後構製具有鋁或銅作爲其主要 組成份之一導電性薄膜,且可由濺散法構製閘接線。閘電 極6 1 a至6 1 c及閘接線6 2間之接觸部份此際維持良_ 好之歐姆接觸,且可施加預定之閘電壓於閘電極6 1 a至 6 1 c 上。 由諸如實施例5之結構儘可能降低閘接線之接線電阻 ,此在減小接線滯後上極爲有效。注意實施例5中之圖 1 2所示之像素結構並不任何限制本發明,且僅爲一較宜 -41 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 515109 A7 B7_ 五、發明説明(39 ) 實例。而且,可自由合倂實施例5之構造及實施例1至3 之任一之構造。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 實施例6有效使用具有高度散熱效果之材料作爲圖1 所示之結構中之主動層及基體11間所構製之基層薄膜 Γ 2。明確言之,相當大量之電瘅在長時間中流於電流控 制TFT中,且故此,電流控制TFT容易溫度上升,且 由於自我發熱而引起品質下降,成爲一問題。在此情形, 可使基層薄膜具有散熱效果而控制T F T之熱品質下降’ 如在實施例6。 可提出含有選自B (硼),C (碳),及N (氮)所 組之群中之至少一元素,及選自A1(鋁),Si (矽) ,及P (磷)所組之群中之至少一元素之一絕緣薄膜作爲 具有散熱特性之發光材料。 例如,可使用:一氮化鋁化合物,普通爲氮化鋁( 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A 1 X N y );一碳化矽化合物,普通爲碳化矽(SixCy ):一氮化硼化合物,普通爲氮化硼(BxNy);或一磷 化硼化合物,普通爲磷化硼(PxPy)。而且,氧化鋁化 合物,普通爲氧化鋁(A 1 x〇y)具有較優之光透明特性 ,並具有導熱系數爲2 OWm-iK-1,且可說爲較佳材駚_ 之一。注意X及y爲以上透明材料之隨意整數。 以上化合物亦可與另一元素合倂。例如,可使用氧氮 化鋁,由A 1 Nx〇y表示,其中,氮加於氧化鋁中。此材 料不獨具有散熱效果,且亦有效防止諸如濕氣及鹼金屬之 穿透。注意X及y爲以上氧氮化鋁之隨意整數。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 515109 A7 B7 五、發明説明(40 ) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 而且,亦可使用日本專利申請書公報S h 〇 6 2 — 90260號中所發表之材料。即是,亦可使用包含S i ,A1 ,N,〇,及Μ之絕緣薄膜(注意Μ爲稀土元素, 宜爲選自Ce (硒),Yb (釔),Sm (釤),Er ( 餌 Ί ,Υ (鏡),:L a (鑭),G_ d (釔),D y (鏑) ,及Nd (銨)所組之群中之一元素)。此等材料不獨具 有散熱效果,且亦有效防止諸如濕氣及鹼金屬等物質之穿 進。 而且,亦可使用碳薄膜,諸如鑽石薄膜或非晶質碳( 尤其是具有接近鑽石等特性者;稱爲似鑽石之碳)。此等 具有非常高之導熱係數,且爲極爲有效之輻射層。注意如 薄膜厚度增加,則有黃帶化,且傳導係數降低,且故此, 宜使用儘可能薄之薄膜厚度(宜在5及1 〇 〇 nm之間) 〇 而且,可使用由具有以上散熱效果之材料本身所製之 薄膜,且可使用此等薄膜及含矽之一絕緣薄膜之疊層。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 注意可自由合倂實施例6之構造及實施例1至5之任 一之構造。 實施例7 宜使用有機E L材料作爲實施例1中之E匕層,但本 發明亦可使用無機 E L材料實施。然而,本無機E L材料具有極高之驅 動電壓’且故此’應使用具有能抵抗此驅動電壓之電壓電 43- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 515109 A7 B7 五、發明説明(41 ) 阻之T F T。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 另一方面,假定在將來發展出具有較低驅動電壓之無 機E L材料,則可應用其於本發明中。 而且,可自由合倂實施例7之構造及實施例1至6之 任一之構造。 _ 實施例8 由實施本發明所構製之主動矩陣式E L顯示裝置( E L模組)較之液晶顯示裝置在發亮位置上具有較高之能 見度,因爲此爲自我發射式裝置。故此,本發明可實施於 直視EL顯示器(表示裝有EL模組之顯示器)。可提出 以下作爲此E L顯示器之例:個人電腦監視器,電視廣播 接收監視器,及廣告顯示監視器。 .而且,可實施本發明於含有顯示器之所有電子裝置上 ,包含以上E L顯示器,作爲一組成件。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 可提出以下作爲此種電子裝置之例:E L顯示器,電 視攝影機,數位攝影機,頭戴顯示器,車用導航系統,個 人電腦,便攜式資訊端未機(諸如行動電腦,行動電話機 ,或電子書),及影像回放裝置,使用記錄媒體(明確言一 之,執行記錄媒體之回放,並設有能顯示影像之顯示器之 裝置,諸如小巧碟(CD),雷射碟(LD),或數位影 碟(DVD))。此等電子裝置之例顯示於圖13A至 1 3 F。 圖13A爲個人電腦,包含一主體2001 ’一殻 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 515109 A7 B7 五、發明説明(42 ) 2002,一顯示部份2〇〇3 ’及一鍵盤2004。本 發明可使用於顯示部份2 〇 0 3中。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 圖13B爲電視攝影機,包含一主體2 10 1 ,一顯 示部份2102,一聲音輸出部份2103 ’操作開關 2_ 104,電池2105,及一鬆像接收部份2106。 本發膽可用於顯示部份2 1 0 2中。 圖1 3 C爲頭戴E L顯示器(右方)之一部份,包含 一主體2301,一信號電纜2302 ’ 一頭固定帶 2303,一顯示監視器2304 ’ 一光學系統2305 ,及一顯示裝置2306。本發明可使用於顯示裝置 2 3 0 6 中。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 圖1 3 D爲影像回放裝置(明確言之,一 DVD回放 裝置),設有一記錄媒體,包含一主體2401,一記錄 媒體(諸如CD,LD,或DVD) 2402,操作開關 2403,顯示部份(a) 2404,及一顯示部份(b )2405。顯示部份(a)主要用於顯示影像資訊,及 影像部份(b )主要用以顯示字元資訊,及本發明可用於 影像部份(a )及影像部份(b )中。注意本發明可用作 影像回放裝置,裝置中具有記錄媒體,諸如C D回放裝置-及遊戲裝備。 圖13E爲行動電腦,包含一主體2501 ,一攝影 部份2502,一影像接收部份2 503,操作開關 2504,及一顯示部份2505。本發明可用於顯示部 份2 5 0 5中。 -45- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X29*7公釐) 515109 A7 B7 五、發明説明(43 ) 圖13F爲一 EL顯示器,包含殼260 1 ,一支座 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 602,及一顯示部份2603。本發明可使用於顯示部 份2 6 0 3中。本發明之E L顯示器在大螢幕之情形特別 有利,且有利於具有對角線大於或等於1 0吋之顯示器( 尤_其是大於或等於3 0吋者),因_其能見度之範圍廣大。 而且,如E L材料之發光在將來提高,則可使用本發 明於前置或後置式投影器中,使用透鏡或類似者放大並投 射含有影像資訊之輸出光。 故此,本發明之應用範圍非常廣大,且可應用本發明 於所有各方面之電子裝置中。而且,實施例8之電子裝置 亦可使用實施例1至7之任一種之合倂之構造達成。 由實施本發明,可製造驅動電路及其他信號處理電路 於主動矩陣式E L顯示裝置之像素部份內(在像素部份之 同一區域中),光自與基體相反方輸出,且達成主動矩陣 式E L顯示裝置之小型化。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 而且,由安排基體上所構製之T F T成最佳構造之 TFT,達成高度可靠之主動矩陣式EL顯示裝置,適合 電路及元件所需之性能。 _ 然後由安裝此式之主動矩陣式E L顯示裝置成一顯示-器,則可產生高度可靠之小型電子裝置。 -46- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐)
Claims (1)
- Α8 Β8 C8 D8 夂、申請專利範圍 附件一: 第89.1 1 2226號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國91年3月修正 1 _ 一種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置’該 顯示裝置包含: 基體; 多個開關薄膜電晶體,設置於基體上之顯示裝置之各 別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,形成於基體上,其中,每 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 至少一層間絕緣薄膜,形成於開關薄膜電晶體及電流 控制薄膜電晶體上; 多個像素電極,形成於該層間絕緣薄膜上,分別電連 接至該電流控制薄膜電晶體; 電發光層,形成於每一該像素電極上;及 驅動電路,包含至少一 C Μ ◦ S電路, 其中,至少該一 C Μ〇S電路置於該像素電極下方。 2 _ —種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置,該 顯示裝置包含: 基體,具有一顯示部份; 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份中,每一 該元件包含陰極,電發光層,及陽極,·及 - 驅動電路,包含薄膜電晶體,形成於基體上, 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) ----·,-------- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 、1T 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109Α8 Β8 C8 D8 κ、申請專利範圍 其中’驅動電路之至少一該薄膜電晶體配置於基體之 該顯示部份中。 3.—種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置 該顯示裝置包含: 基體; 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之顯示裝置之 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,形成於該基體上,其中, 每一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 驅動電路,包含第三薄膜電晶體,形成於該基體上; 至少一層間絕緣薄膜,形成於該開關薄膜電晶體、該 電流控制薄膜電晶體、及該第三薄膜電晶體上; 多個像素電極,形成於該層間絕緣薄膜上,分別電連 接至該電流控制薄膜電晶體;及 電發光層,形成於每一該像素電極上, 其中,該第三薄膜電晶體之至少之一置於該像素電極 下方。 4 . 一種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置,該 顯示裝置包含: 基體; 至少第一及第二閘接線,平行延伸於基體上; 至少一貪料彳目號線,延伸橫過該第一及第二閘接線; 及 | ^ 至少一電流供應線,延伸平行於資料信號線,且延伸 本紙張尺度適用中國國家摞準(CNS ) Α4規格(210X297公釐)- -------訂------4|| (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109 Α8 Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 橫過該閘接線; (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 開關元件,電連接至該第一閘接線及該資料信號線; 電流控制元件,電連接至該電流供應線,其中,該電 流控制元件由該開關元件啓閉; 至少一 C Μ〇S電路,置於由該第一及第二閘接線、 該資料信號線、及該電流供應線所包圍之區域中;及 驅動電路,包含至少該一 C Μ 0 S電路。 5 . —種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置,該 顯示裝置包含: 基體; 至少第一及第二聞接線,平行延伸於基體上; 至少一資料信號線,延伸橫過該第一及第二閘接線; 及 至少一電流供應線,延伸平行於該資料信號線,且延 伸橫過該閘接線,其中,像素區由該第一及第二閘接線、 該資料信號線、及該電流供應線所包圍之區域界定; 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 至少一第一 C Μ〇S電路,配置於該像素電極中;及 至少一第二CMO S電路,配置於該基體上,與像素 區相鄰;及 連接線,連接該第一 C Μ〇S電路及該第二C Μ〇S 電路’該連接線延伸橫過該資料信號線及該電流供應線之 至少之一。 6 ·如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中,該連 接線由與該C Μ〇S電路之閘電極相同之層形成。 -3- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109 A8 B8 C8 ___ D8 __: 六、申請專利範圍 7 .如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中,該連 接線由與資料信號線及電流供應線不同之層構成。 8 ·如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 行動電腦之一。 9 .如申請專利範圍第1項所述之裝置,其中,該電 發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 1 0 .如申請專利範圍第2項所述之裝置,其中,該 裝置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、 及行動電腦之一。 1 1 .如申§靑專利圍弟2項所述之裝置,其中,該 電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 1 2 .如申請專利範圍第3項所述之裝置,其中,該 裝置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、 及行動電腦之一。 1 3 ·如申請專利範圍第3項所述之裝置,其中,該 電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 1 4 ·如申請專利範圍第4項所述之裝置,其中,該 裝置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、 及行動電腦之一。 . 1 5 .如申請專利範圍第4項所述之裝置,其中,該 電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 1 6 .如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中,該 裝置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、 本、^:尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -4 - : 一 — IIII.——费------、灯-----1# (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 515109 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 及行動電腦之一。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 1 7 .如申請專利範圍第5項所述之裝置,其中,該 電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 18.—種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置, 該顯示裝置包括: 基體,具有顯示部份;. 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之顯示部份之 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,位於該基體上,其中,每 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份中,每一 該元件包含陰極、電發光層、及陽極;及 驅動電路,包含薄膜電晶體,形成於該基體上, 其中,該驅動電路之該薄膜電晶體之至少一者配置於 基體之該顯示部份中。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 1 9 ·如申請專利範圍第1 8項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯不器、影像播放裝置、及 行動電腦之一'° 2 0 _如申請專利範圍第1 8項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。. 21.—種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置, 該顯示裝置包括: 基體; ’ 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之各別像素處 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) -5 - 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109 Α8 Β8 C8 D8 々、申請專利範圍 , 多個電流控制薄膜電晶體,位於該基體上·,其中,每 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 至少一層間絕緣薄膜,形成於該開關薄膜電晶體及該 電流控制薄膜電晶體上; 多個像素電極,形成於該層間絕緣薄膜上,電連接至 該電流控制薄膜電晶體; 移位暫存器,包括多個CM〇S電路;及 連接線,連接該多個C Μ〇S電路中的每一 C Μ〇S 電路, 其中,該多個CM〇S電路位於該像素電極下方,及 其中,該連接線形成於與該多個C Μ〇S電路相同的 層上。 2 2 .如申請專利範圍第2 1項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 ί了動電腦之一。 2 3 .如申請專利範圍第2 1項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 2 4 . —種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置, 該顯示裝置包含: 基體; 至少第一及第二閘接線,平行延伸於一基體上; 至少一資料信號線,延伸橫過該第一及第二閘接線; 及 本紙^尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公董) :" 41^------訂------IIH (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 515109 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 至少一電流供應線,延伸平行於該資料信號線,且延 伸橫過該閘接線; (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 至少一開關薄膜電晶體,與該閘接線及資料信號線連 接; 至少一電流控制薄膜電晶體,與該電流供應線連接, 其中’ s亥電流控制薄膜電晶體由該開關薄膜電晶體啓閉; 正反器電路’位於該第一及第二閘接線、該資料信號 線及該電流供應線圍繞的區域中;及 連接線’連接該正反器電路,該連接線延伸橫過該閘 接線, 其中’該連接線形成於與該資料信號線及該電流供應 線任一者不同的層上。 2 5 ·如申請專利範圍第2 4項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置及 行動電腦之一。 2 6 .如申請專利範圍第2 4項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 2 7 · —種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置, 該顯示裝置包含: 基體; 至少第一及第二閘接線,平行延伸於一基體上; 至少一資料信號線,延伸橫過該第一及第二鬧接線; 及 至少一*電流供應線’延伸平订於該資料信號線,且延 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 515109 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 伸橫過閘接線; 至少第一 CMO.S電路及第二CM〇 S電路,配置於 該第一及第二閘接線、該資料信號線及該電流供應線圍繞 的區域中; 至少一第一連接線連接該第一 C Μ ◦ S電路與該第二 C Μ ◦ S電路;及 至少一第二連接線連接該電源供應線與該第一及第二 C Μ〇S電路之一; 其中,該第一連接線延伸於該資料訊號線及該電流供 應線之上;及 其中,該第二連接線延伸於該資料信號線之下。 2 8 ·如申請專利範圍第2 7項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 行動電腦之一。 2 9 .如申請專利範圍第2 7項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 3 0 . —種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置, 該顯示裝置包括: 基體,具有顯示部份; 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之顯示部份之 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,位於該基體上,其中,每 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份中,每一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公着1 ' —— (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 515109 Α8 Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 該元件包含陰極、電發光層、及陽極;及 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 驅動電路,包含薄膜電晶體,形成於該基體上’該驅 動電路包括至少一資料信號驅動電路, 其中,該驅動電路之該薄膜電晶體之至少一者置於s 體之該顯示部份中。 3 1 .如申請專利範圍第3 0項之裝置,其中’ 1亥裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、& 行動電腦之一。’ 3 2 .如申請專利範圍第’ 3 0項所述之裝置’其中’ 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 3 3 .如申請專利範圍第3 0項所述之裝置’其中’ 該資料信號驅動電路包括移位暫存器、位準偏移器、$ _ 器、D / A轉換器、及取樣電路。 3 4 · —種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置’ 該顯示裝置包括: 基體,具有顯示部份; 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之顯斧:^ @ = 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,位於該基體上Φ _ 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體胃® ; 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份Φ > 該元件包含陰極、電發光層、及陽極;及 驅動電路,包含薄膜電晶體,形成於該基體t _ 動電路包括至少一閘信號驅動電路, __――___—^ 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) -9 - 515109 Α8 Β8 C8 D8 六、申請專利範圍 其中,該驅動電路之該薄膜電晶體之至少一者配置於 基體之該顯示部份中。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 3 5 ·如申目靑專利車β圍弟3 4項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 行動電腦之一。 3 6 .如申請專利範圍第3 4項所述之裝置,宜中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 3 7 .如申請專利範圍第3 4項所述之裝置,其中, 該資料信號驅動電路包括移位暫存器、位準偏移器、,緩_ 器。 3 8 一^種具有至少一*電發光顯不裝置之電子裝置, 該顯示裝置包括: 基體’具有顯不部份; 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之顯示部份& 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,位於該基體上,其中,每 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份中,每〜 該元件包含陰極、電發光層、及陽極;及 驅動電路,包含第一薄膜電晶體,形成於該基體上; 及 分波電路,包括第二薄膜電晶體,形成於該基體上; 其中,該第一薄膜電晶體中至少之一及該第二薄膜電 晶體中至少之一配置於基體之該顯示部份中。 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) -10 - 515109 A8 B8 C8 __ D8 六、申請專利範圍 3 9 .如申請專利範圍第3 8項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 行動電腦之一。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 0 _如申請專利範圍第3 8項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 41·一種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置, 該顯示裝置包括: 基體,具有顯示部份; 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之顯示部份之 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,位於該基體上,其中,每 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份中,每一 該元件包含陰極、電發光層、及陽極;及 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 驅動電路,包含第一薄膜電晶體,形成於該基體上; 升壓電路,包括第二薄膜電晶體,形成於該基體上; 其中,該第一薄膜電晶體中至少之一及該第二薄膜電 晶體中至少之一配置於基體之該顯示部份中。 4 2 .如申請專利範圍第4 1項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 行動電腦之一。 4 3 .如申請專利範圍第4 1項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 · 4 4 . 一種具有至少一電發光顯示裝置之電子裝置, 本、尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇><297公慶1~—------ 515109 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 該顯示裝置包括: 基體,具有顯示部份; 多個開攜薄膜電晶體,設置於該基體上之顯示部份& 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體,位於該基體上,其中,每 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份中,§ _ 該元件包含陰極、電發光層、及陽極;及 驅動電路,包含第一薄膜電晶體,形成於該基體上; 伽瑪補償電路,包括第二薄膜電晶體,形成於該基 上; 其中,該驅動電路之該第一薄膜電晶體中至少之一及 該第二薄膜電晶體中至少之一置於基體之該顯示部份中。 4 5 .如申請專利範圍第4 4項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 行動電腦之一。 4 6 .如申請專利範圍第4 4項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯币裝置。 4 7 一*種具有至少一*電發光藏不裝置之電子裝置, 該顯示裝置包括: . 基體,具有顯7^部份; 多個開關薄膜電晶體,設置於該基體上之顯示部份之 各別像素處; 多個電流控制薄膜電晶體’位於該基體上,其中,每 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2i〇x297公慶) -12 - IT (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 515109 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 一電流控制薄膜電晶體由各別之開關薄膜電晶體啓閉; 多個電發光元件,形成於該基體之顯示部份中,每一 該元件包含陰極、電發光層、及陽極;及 驅動電路,包含第一薄膜電晶體,形成於該基體上; 記憶體,包括第二薄膜電晶體,形成於該基體上; 其中,該驅動電路之該第一薄膜電晶體中至少之一及 該第二薄膜電晶體中至少之一配置於基體之該顯示部份中 〇 4 8 .如申請專利範圍第4 7項之裝置,其中,該裝 置爲個人電腦、攝影機、頭戴顯示器、影像播放裝置、及 行動電腦之一。 4 9 .如申請專利範圍第4 7項所述之裝置,其中, 該電發光顯示裝置爲有機電發光顯示裝置。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) _ 13 -
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8242683B2 (en) | 2003-04-07 | 2012-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic display including a light-emitting element and a color filter sandwiched between two polarizers |
| TWI452563B (zh) * | 2011-02-10 | 2014-09-11 | Global Oled Technology Llc | 具串列控制的晶片載置器顯示裝置 |
Families Citing this family (107)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6677613B1 (en) * | 1999-03-03 | 2004-01-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of fabricating the same |
| JP4627822B2 (ja) | 1999-06-23 | 2011-02-09 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
| TW585895B (en) * | 1999-09-02 | 2004-05-01 | Nippon Steel Chemical Co | Organic EL material |
| US6876145B1 (en) * | 1999-09-30 | 2005-04-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic electroluminescent display device |
| US6580094B1 (en) | 1999-10-29 | 2003-06-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electro luminescence display device |
| US6879110B2 (en) * | 2000-07-27 | 2005-04-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of driving display device |
| US7019457B2 (en) | 2000-08-03 | 2006-03-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device having both electrodes formed on the insulating layer |
| MY141175A (en) * | 2000-09-08 | 2010-03-31 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device, method of manufacturing the same, and thin film forming apparatus |
| JP2002200936A (ja) | 2000-11-06 | 2002-07-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置及び車両 |
| JP2002216976A (ja) * | 2001-01-15 | 2002-08-02 | Sony Corp | 発光素子及びその製造方法 |
| US6724150B2 (en) * | 2001-02-01 | 2004-04-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method thereof |
| SG114529A1 (en) * | 2001-02-23 | 2005-09-28 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing a semiconductor device |
| SG114530A1 (en) * | 2001-02-28 | 2005-09-28 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing a semiconductor device |
| JP2002261007A (ja) * | 2001-02-28 | 2002-09-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置の作製方法 |
| US6661180B2 (en) * | 2001-03-22 | 2003-12-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device, driving method for the same and electronic apparatus |
| JP4801278B2 (ja) * | 2001-04-23 | 2011-10-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置及びその作製方法 |
| KR100620323B1 (ko) * | 2001-05-29 | 2006-09-13 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기전기발광소자 및 그의 구동회로 |
| JP3696132B2 (ja) * | 2001-07-10 | 2005-09-14 | 株式会社東芝 | アクティブマトリクス基板及びその製造方法 |
| JP5057619B2 (ja) * | 2001-08-01 | 2012-10-24 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| SG120075A1 (en) * | 2001-09-21 | 2006-03-28 | Semiconductor Energy Lab | Semiconductor device |
| US7365713B2 (en) | 2001-10-24 | 2008-04-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and driving method thereof |
| US7488986B2 (en) * | 2001-10-26 | 2009-02-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
| US7456810B2 (en) * | 2001-10-26 | 2008-11-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and driving method thereof |
| US6956240B2 (en) * | 2001-10-30 | 2005-10-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
| JP4498669B2 (ja) | 2001-10-30 | 2010-07-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、表示装置、及びそれらを具備する電子機器 |
| US7483001B2 (en) * | 2001-11-21 | 2009-01-27 | Seiko Epson Corporation | Active matrix substrate, electro-optical device, and electronic device |
| US7141817B2 (en) * | 2001-11-30 | 2006-11-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
| KR100834346B1 (ko) * | 2001-12-28 | 2008-06-02 | 엘지디스플레이 주식회사 | 능동행렬 유기전기발광소자 |
| US20030134486A1 (en) * | 2002-01-16 | 2003-07-17 | Zhongze Wang | Semiconductor-on-insulator comprising integrated circuitry |
| KR20020025918A (ko) * | 2002-02-15 | 2002-04-04 | 박병주 | 습식 공정으로 제작된 유기 반도체 디바이스 및 유기전계발광 소자 |
| US20050174045A1 (en) * | 2002-04-04 | 2005-08-11 | Dielectric Systems, Inc. | Organic light-emitting device display having a plurality of passive polymer layers |
| US7579771B2 (en) * | 2002-04-23 | 2009-08-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and method of manufacturing the same |
| US7786496B2 (en) * | 2002-04-24 | 2010-08-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method of manufacturing same |
| JP2003317971A (ja) | 2002-04-26 | 2003-11-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置およびその作製方法 |
| US7511419B2 (en) * | 2002-05-14 | 2009-03-31 | Casio Computer Co., Ltd. | Luminescent panel having a reflecting film to reflect light outwardly which is shaped to condense the reflected light |
| US7164155B2 (en) * | 2002-05-15 | 2007-01-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
| US6680130B2 (en) * | 2002-05-28 | 2004-01-20 | Agere Systems, Inc. | High K dielectric material and method of making a high K dielectric material |
| US7592980B2 (en) | 2002-06-05 | 2009-09-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
| US7897979B2 (en) | 2002-06-07 | 2011-03-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and manufacturing method thereof |
| US7228405B2 (en) * | 2002-06-25 | 2007-06-05 | Intel Corporation | Methods and apparatuses for allowing users to dynamically interact with configurable devices or hardware during a preboot stage |
| JP4216008B2 (ja) * | 2002-06-27 | 2009-01-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置およびその作製方法、ならびに前記発光装置を有するビデオカメラ、デジタルカメラ、ゴーグル型ディスプレイ、カーナビゲーション、パーソナルコンピュータ、dvdプレーヤー、電子遊技機器、または携帯情報端末 |
| JP4286495B2 (ja) | 2002-06-28 | 2009-07-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置及びその作製方法 |
| US20050212448A1 (en) * | 2002-11-20 | 2005-09-29 | Makoto Shibusawa | Organic EL display and active matrix substrate |
| JP4373086B2 (ja) | 2002-12-27 | 2009-11-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
| JP3791616B2 (ja) * | 2003-02-06 | 2006-06-28 | セイコーエプソン株式会社 | 配線基板、電気光学装置及びその製造方法並びに電子機器 |
| TW587236B (en) * | 2003-05-12 | 2004-05-11 | Au Optronics Corp | Active organic electroluminescent device structure |
| US7961160B2 (en) * | 2003-07-31 | 2011-06-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device, a driving method of a display device, and a semiconductor integrated circuit incorporated in a display device |
| TWI407830B (zh) | 2003-09-26 | 2013-09-01 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 發光元件和其製法 |
| EP1521316B1 (en) | 2003-10-03 | 2016-05-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method of a light emitting element |
| WO2005064995A1 (en) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element |
| KR100623254B1 (ko) * | 2004-04-27 | 2006-09-18 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광 표시 장치 |
| KR100590260B1 (ko) * | 2004-04-29 | 2006-06-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광 표시 장치 |
| KR100626009B1 (ko) * | 2004-06-30 | 2006-09-20 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 구조체 및 이를 구비하는 평판디스플레이 장치 |
| JP2006295104A (ja) * | 2004-07-23 | 2006-10-26 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光素子およびそれを用いた発光装置 |
| KR100642490B1 (ko) * | 2004-09-16 | 2006-11-02 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 유기전계발광 소자 및 그 제조방법 |
| US7500307B2 (en) * | 2004-09-22 | 2009-03-10 | Avery Dennison Corporation | High-speed RFID circuit placement method |
| CN101841002B (zh) * | 2004-09-24 | 2011-11-16 | 株式会社半导体能源研究所 | 发光器件 |
| US20070262693A1 (en) | 2004-10-29 | 2007-11-15 | Satoshi Seo | Composite Material, Light-Emitting Element, Light-Emitting Device and Manufacturing Method Thereof |
| US20060091397A1 (en) * | 2004-11-04 | 2006-05-04 | Kengo Akimoto | Display device and method for manufacturing the same |
| US7989694B2 (en) * | 2004-12-06 | 2011-08-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Photoelectric conversion element, solar battery, and photo sensor |
| KR100700642B1 (ko) * | 2004-12-13 | 2007-03-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계발광표시소자 및 그 제조방법 |
| US7948171B2 (en) * | 2005-02-18 | 2011-05-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
| US7244659B2 (en) * | 2005-03-10 | 2007-07-17 | Micron Technology, Inc. | Integrated circuits and methods of forming a field effect transistor |
| US8420227B2 (en) | 2005-03-23 | 2013-04-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Composite material, light emitting element and light emitting device |
| US7851989B2 (en) * | 2005-03-25 | 2010-12-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
| US7888702B2 (en) * | 2005-04-15 | 2011-02-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and manufacturing method of the display device |
| JP4619186B2 (ja) | 2005-04-19 | 2011-01-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光装置 |
| EP1724852A3 (en) * | 2005-05-20 | 2010-01-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting element, light emitting device, and electronic device |
| WO2006126304A1 (ja) * | 2005-05-25 | 2006-11-30 | Sharp Kabushiki Kaisha | 発光回路基板及び発光表示装置 |
| US8334057B2 (en) | 2005-06-08 | 2012-12-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element, light-emitting device, and electronic device |
| US8017252B2 (en) | 2005-06-22 | 2011-09-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device and electronic appliance using the same |
| US7745989B2 (en) * | 2005-06-30 | 2010-06-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd | Light emitting element, light emitting device, and electronic apparatus |
| KR101369864B1 (ko) * | 2005-08-12 | 2014-03-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체장치 및 그 제조방법 |
| DE102005046406B4 (de) * | 2005-09-28 | 2010-02-25 | Infineon Technologies Ag | Halbleiteranordnung mit einem elektrischen Verbraucher und einer Halbleitereinrichtung zur Steuerung der Stärke eines elektrischen Stroms |
| KR101437086B1 (ko) | 2006-01-07 | 2014-09-03 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체장치와, 이 반도체장치를 구비한 표시장치 및 전자기기 |
| US8330492B2 (en) | 2006-06-02 | 2012-12-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device and electronic device |
| US7557002B2 (en) * | 2006-08-18 | 2009-07-07 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming transistor devices |
| EP1895545B1 (en) | 2006-08-31 | 2014-04-23 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
| US7989322B2 (en) * | 2007-02-07 | 2011-08-02 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming transistors |
| US8283724B2 (en) | 2007-02-26 | 2012-10-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory element and semiconductor device, and method for manufacturing the same |
| US20090101980A1 (en) * | 2007-10-19 | 2009-04-23 | International Business Machines Corporation | Method of fabricating a gate structure and the structure thereof |
| JP5552753B2 (ja) * | 2008-10-08 | 2014-07-16 | ソニー株式会社 | 薄膜トランジスタおよび表示装置 |
| JP2010153365A (ja) * | 2008-11-19 | 2010-07-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光素子、発光装置、電子機器及び照明装置 |
| KR101746198B1 (ko) | 2009-09-04 | 2017-06-12 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 표시장치 및 전자기기 |
| WO2011037050A1 (en) * | 2009-09-24 | 2011-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
| TW201114317A (en) * | 2009-10-07 | 2011-04-16 | Au Optronics Corp | Organic electro-luminescent device and packaging process thereof |
| US8404500B2 (en) | 2009-11-02 | 2013-03-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing light-emitting element, light-emitting element, light-emitting device, lighting device, and electronic appliance |
| KR20110060494A (ko) * | 2009-11-30 | 2011-06-08 | 삼성전자주식회사 | 유기 발광소자 |
| US8624882B2 (en) * | 2011-02-10 | 2014-01-07 | Global Oled Technology Llc | Digital display with integrated computing circuit |
| JP5969216B2 (ja) | 2011-02-11 | 2016-08-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光素子、表示装置、照明装置、及びこれらの作製方法 |
| US20120242708A1 (en) * | 2011-03-23 | 2012-09-27 | Au Optronics Corporation | Active matrix electroluminescent display |
| JP2013058562A (ja) | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 光電変換装置 |
| CN102881712B (zh) | 2012-09-28 | 2015-02-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种阵列基板及其制造方法、oled显示装置 |
| CN102903732A (zh) * | 2012-10-12 | 2013-01-30 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 有机发光二极管器件及相应的显示装置 |
| CN104423137B (zh) * | 2013-09-04 | 2018-08-10 | 联想(北京)有限公司 | 三维显示装置、显示方法和电子设备 |
| TW201513334A (zh) * | 2013-09-30 | 2015-04-01 | Au Optronics Corp | 電激發光顯示面板 |
| CN103811503A (zh) * | 2014-02-19 | 2014-05-21 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 阵列基板及制备方法、显示面板 |
| KR102360783B1 (ko) | 2014-09-16 | 2022-02-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 |
| KR102284756B1 (ko) | 2014-09-23 | 2021-08-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치 |
| US9974130B2 (en) * | 2015-05-21 | 2018-05-15 | Infineon Technologies Ag | Driving several light sources |
| US9781800B2 (en) | 2015-05-21 | 2017-10-03 | Infineon Technologies Ag | Driving several light sources |
| JP2018032018A (ja) | 2016-08-17 | 2018-03-01 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置、表示モジュール及び電子機器 |
| US9918367B1 (en) | 2016-11-18 | 2018-03-13 | Infineon Technologies Ag | Current source regulation |
| CN107275342B (zh) * | 2017-06-12 | 2019-11-08 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示装置及其制备方法 |
| KR102684682B1 (ko) * | 2017-12-27 | 2024-07-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | 패널 내장형 게이트 드라이버를 포함한 표시장치 |
| TWI650748B (zh) * | 2018-03-02 | 2019-02-11 | 友達光電股份有限公司 | 顯示面板及顯示面板的驅動方法 |
| CN115666179A (zh) * | 2022-11-08 | 2023-01-31 | 武汉天马微电子有限公司 | 显示面板和显示装置 |
Family Cites Families (56)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2050498A (en) * | 1933-05-18 | 1936-08-11 | Mitchell Robert | Cross-word puzzle |
| US2782530A (en) * | 1955-07-06 | 1957-02-26 | Ramon G Larroca | Crossword puzzle structure |
| US4356429A (en) | 1980-07-17 | 1982-10-26 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent cell |
| US4539507A (en) | 1983-03-25 | 1985-09-03 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent devices having improved power conversion efficiencies |
| JPS6290260A (ja) | 1985-10-16 | 1987-04-24 | Tdk Corp | サ−マルヘツド用耐摩耗性保護膜 |
| US4720432A (en) | 1987-02-11 | 1988-01-19 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with organic luminescent medium |
| US4885211A (en) | 1987-02-11 | 1989-12-05 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with improved cathode |
| US4769292A (en) | 1987-03-02 | 1988-09-06 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with modified thin film luminescent zone |
| JP2653099B2 (ja) | 1988-05-17 | 1997-09-10 | セイコーエプソン株式会社 | アクティブマトリクスパネル,投写型表示装置及びビューファインダー |
| US4950950A (en) | 1989-05-18 | 1990-08-21 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with silazane-containing luminescent zone |
| US5288068A (en) * | 1989-08-04 | 1994-02-22 | Way With Words, Inc. | Word game system |
| US5059861A (en) | 1990-07-26 | 1991-10-22 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent device with stabilizing cathode capping layer |
| US5073446A (en) | 1990-07-26 | 1991-12-17 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent device with stabilizing fused metal particle cathode |
| US5047687A (en) | 1990-07-26 | 1991-09-10 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent device with stabilized cathode |
| US5059862A (en) | 1990-07-26 | 1991-10-22 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with improved cathode |
| US5061617A (en) | 1990-12-07 | 1991-10-29 | Eastman Kodak Company | Process for the preparation of high chloride tabular grain emulsions |
| US5661371A (en) * | 1990-12-31 | 1997-08-26 | Kopin Corporation | Color filter system for light emitting display panels |
| JP2782020B2 (ja) | 1991-05-28 | 1998-07-30 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 液晶電気光学装置およびその作製方法 |
| US5151629A (en) | 1991-08-01 | 1992-09-29 | Eastman Kodak Company | Blue emitting internal junction organic electroluminescent device (I) |
| JP2650543B2 (ja) * | 1991-11-25 | 1997-09-03 | カシオ計算機株式会社 | マトリクス回路駆動装置 |
| US5294869A (en) | 1991-12-30 | 1994-03-15 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent multicolor image display device |
| US5294870A (en) | 1991-12-30 | 1994-03-15 | Eastman Kodak Company | Organic electroluminescent multicolor image display device |
| JP3191061B2 (ja) * | 1992-01-31 | 2001-07-23 | キヤノン株式会社 | 半導体装置及び液晶表示装置 |
| DE69326123T2 (de) * | 1992-06-24 | 1999-12-23 | Seiko Epson Corp., Tokio/Tokyo | Dünnfilmtransistor und verfahren zur herstellung eines dünnfilmtransistors |
| JPH06102530A (ja) | 1992-09-18 | 1994-04-15 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
| US5282631A (en) * | 1992-09-22 | 1994-02-01 | Baker Dorothee A | Cross-word board game construction system and method |
| US5403762A (en) * | 1993-06-30 | 1995-04-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of fabricating a TFT |
| US5667438A (en) * | 1993-04-22 | 1997-09-16 | Rehm; Peter H. | Method of constructing crossword puzzles by computer |
| JP2821347B2 (ja) * | 1993-10-12 | 1998-11-05 | 日本電気株式会社 | 電流制御型発光素子アレイ |
| TW277129B (zh) * | 1993-12-24 | 1996-06-01 | Sharp Kk | |
| US5798746A (en) | 1993-12-27 | 1998-08-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Liquid crystal display device |
| JP3192546B2 (ja) * | 1994-04-15 | 2001-07-30 | シャープ株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
| JP2639355B2 (ja) | 1994-09-01 | 1997-08-13 | 日本電気株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
| JP3187254B2 (ja) | 1994-09-08 | 2001-07-11 | シャープ株式会社 | 画像表示装置 |
| JP3254335B2 (ja) | 1994-09-08 | 2002-02-04 | 出光興産株式会社 | 有機el素子の封止方法および有機el素子 |
| DE69524429T2 (de) | 1994-09-08 | 2002-05-23 | Idemitsu Kosan Co. Ltd., Tokio/Tokyo | Verfahren zur abdichtung eines organischen elektrolumineszenten elements und organisches elektrolumineszentes element |
| JP3062406B2 (ja) * | 1994-10-26 | 2000-07-10 | 沖電気工業株式会社 | 直流型気体放電パネルのメモリ駆動方法 |
| DE69535970D1 (de) | 1994-12-14 | 2009-08-06 | Eastman Kodak Co | Elektrolumineszente Vorrichtung mit einer organischen elektrolumineszenten Schicht |
| JP3630489B2 (ja) | 1995-02-16 | 2005-03-16 | 株式会社東芝 | 液晶表示装置 |
| JPH09148066A (ja) | 1995-11-24 | 1997-06-06 | Pioneer Electron Corp | 有機el素子 |
| JPH1082994A (ja) * | 1996-09-09 | 1998-03-31 | Casio Comput Co Ltd | 表示装置およびその駆動方法 |
| JPH10104663A (ja) | 1996-09-27 | 1998-04-24 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置およびその作製方法 |
| TWI236556B (en) * | 1996-10-16 | 2005-07-21 | Seiko Epson Corp | Substrate for a liquid crystal equipment, liquid crystal equipment and projection type display equipment |
| DE69739633D1 (de) | 1996-11-28 | 2009-12-10 | Casio Computer Co Ltd | Anzeigevorrichtung |
| JP3530362B2 (ja) * | 1996-12-19 | 2004-05-24 | 三洋電機株式会社 | 自発光型画像表示装置 |
| KR100226548B1 (ko) | 1996-12-24 | 1999-10-15 | 김영환 | 웨이퍼 습식 처리 장치 |
| JP3463971B2 (ja) | 1996-12-26 | 2003-11-05 | 出光興産株式会社 | 有機アクティブel発光装置 |
| TW379360B (en) | 1997-03-03 | 2000-01-11 | Semiconductor Energy Lab | Method of manufacturing a semiconductor device |
| JP3032801B2 (ja) | 1997-03-03 | 2000-04-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| JPH1154268A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-02-26 | Sanyo Electric Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ装置 |
| US6585585B1 (en) * | 1998-04-24 | 2003-07-01 | Joel Anthony Fletcher | Mathematical puzzle game system and method |
| US6165543A (en) * | 1998-06-17 | 2000-12-26 | Nec Corporation | Method of making organic EL device and organic EL transfer base plate |
| US6636194B2 (en) | 1998-08-04 | 2003-10-21 | Seiko Epson Corporation | Electrooptic device and electronic equipment |
| US6512504B1 (en) | 1999-04-27 | 2003-01-28 | Semiconductor Energy Laborayory Co., Ltd. | Electronic device and electronic apparatus |
| US6198225B1 (en) * | 1999-06-07 | 2001-03-06 | Symetrix Corporation | Ferroelectric flat panel displays |
| TW554558B (en) * | 2001-07-16 | 2003-09-21 | Semiconductor Energy Lab | Light emitting device |
-
2000
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2002
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8242683B2 (en) | 2003-04-07 | 2012-08-14 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic display including a light-emitting element and a color filter sandwiched between two polarizers |
| TWI452563B (zh) * | 2011-02-10 | 2014-09-11 | Global Oled Technology Llc | 具串列控制的晶片載置器顯示裝置 |
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