WO1998044687A1 - Modem utilisant une barriere isolante capacitive et un coupleur insolant, et circuit integre utilise par ce modem - Google Patents

Modem utilisant une barriere isolante capacitive et un coupleur insolant, et circuit integre utilise par ce modem Download PDF

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Yasuyuki Kojima
Takayuki Oouchi
Noboru Akiyama
Masahiro Iwamura
Atsuo Watanabe
Minehiro Nemoto
Seigou Yukutake
Nobuyasu Kanekawa
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Hitachi Ltd
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    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/0292Arrangements specific to the receiver end

Definitions

  • the present invention relates to a modem device using a capacitive insulating barrier, an insulating bra, and an integrated circuit used for the modem device.
  • the present invention relates to a semiconductor element, a capacitor formed on the semiconductor element, and particularly to an insulating barrier which is a high withstand voltage capacitor which does not destroy the element even when a high voltage is applied and does not allow a dangerous voltage to pass to the secondary side.
  • Couplers or isolators or insulated amplifiers (hereinafter referred to as insulation bras) that transmit electrical signals using the I / O, and application circuits using the insulation bras, especially line interface circuits such as modem devices and their Ic, and
  • the present invention relates to a modem device and a system using the same. Background art
  • the signal detection part may be necessary to insulate the signal detection part from the signal processing part, such as the sensor and the signal processing circuit. Also known as the signal processing part, such as the sensor and the signal processing circuit. Also known as the signal processing part, such as the sensor and the signal processing circuit.
  • the signal voltage is about 100 OmV, but it is assumed that commercial power supply will come in contact with them, so the common mode noise voltage may be 100 V or more.
  • Insulation power from these points Bras and line interfaces have common issues in terms of high withstand voltage, miniaturization, and cost reduction.
  • -Insulation brassier is the function of the isolation transformer itself, but it has the problem that noise is mixed in the signal transmission.For example, if a large common mode noise voltage from the commercial power supply is added, the transformer for small signal transmission will In some cases, a transformer-type insulating bra using a dedicated pulse transformer is used.
  • an insulation power transformer using an insulation transformer generally has a large mounting form and tends to be expensive.
  • an optical power coupler combining a light emitting element and a light receiving element is used.
  • Isolation amplifiers have been devised.
  • the characteristics of the optical brass-type insulated amplifier are liable to change with temperature and the like, and improvements in the number, arrangement, and circuits of the light emitting and receiving diodes have been proposed for high accuracy, but are expensive.
  • a semiconductor process of other substances for light emission and light reception is required in addition to the silicon semiconductor process. The use of the process is expected to be extremely expensive and cannot be realized in practice.
  • Capacitive insulating bras have been developed for the purpose of miniaturization, high reliability, and low cost.
  • a ceramic capacitor for power or surge protection is known as a high withstand voltage capacitor technology as an individual component of an insulation barrier, and a circuit block for signal transmission using the same is a capacitive insulating amplifier or a capacitive insulating capacitor. It is called a bra and has been used since the 1970s.
  • the PWM method (called the pulse width modulation method or the duty control method) is mainly used as the transmission method when transmitting signals through the capacitive insulating barrier.
  • the capacitive insulation bra uses a duty cycle modulation type insulation method by using a small-capacity capacitor insulation barrier formed on a ceramic substrate and a floating comparator.
  • Amplifiers have been proposed.
  • the transmission waveform is converted to a differential waveform using an insulation barrier as small as 1 to 3 pF, and FM (frequency modulation) and PWM modulation waveforms are reproduced from the differential waveform. After that, the technology of an isolated amplifier for demodulation has been proposed.
  • the technology prior to the 528 patent is a component that is separate from an insulation barrier with high withstand voltage performance, an input circuit that receives input signals to create PWM waveforms, and an output circuit that reproduces and demodulates PWM waveforms.
  • Mounted in combination it is configured as one insulating bra.
  • a capacitive insulating barrier is formed on a ceramic substrate, and two or more semiconductors are mounted on the same package. The chip is mounted to form an insulating bra.
  • the configuration uses many components.
  • a capacitive insulating barrier and a PWM transmission method were used based on a schematic circuit diagram and description of the principle. It is shown that the manufacturing method is to form an insulating bra consisting of a capacitive insulating barrier and a PWM circuit on a monolithic semiconductor using a DI (dielectric isolation) process, and to combine these insulating bras to transmit voice band signals.
  • DI dielectric isolation
  • the conventional technologies described above use a capacitive insulating barrier and a capacitive insulating barrier in realizing a monolithic IC-based insulating power circuit, a monolithic IC-based application circuit, and a monolithic IC-based line interface circuit. It does not disclose any technique for configuring and operating the circuits, their arrangement, and the insulation method between the arranged circuits on a semiconductor substrate. Therefore, when making a monolithic IC, It is not known how to achieve the dielectric strength in this way, or the characteristics of the high withstand voltage capacity created on the semiconductor.
  • An object of the present invention is to realize a small and economical line interface circuit and a modem device while incorporating necessary insulating means between a line and a terminal, and a monolithic insulating barrier required for this purpose. And to realize a monolithic insulating bra using the insulating barrier, and an application circuit IC using the same, particularly a line interface circuit IC.
  • Another object of the present invention is to provide a technique for forming a capacitive insulating barrier on a semiconductor substrate.
  • Still another object of the present invention is to provide a technique for forming an insulating power plug using a capacitive insulating barrier on a semiconductor substrate.
  • Still another object of the present invention is to provide a technique for improving the breakdown resistance of an insulated coupler against surge voltage.
  • Still another object of the present invention is to reduce the size and cost of a modem device and system by using an insulating bra.
  • the following means are used to solve the conventional problem of large size and high cost.
  • an insulating band (hereinafter referred to as an insulating band) reaching the insulating layer is formed on the surface of a semiconductor wafer (SO I wafer) having a buried insulating layer as an inner layer. Forms an insulating barrier between the sidewalls
  • a circuit for receiving a capacitor output is provided with at least an amplifying means for a capacitor output signal such as an amplifier / comparator. 7
  • the line interface circuit of the modem device, etc. shall be provided with a plurality of monolithic insulating bras, a line side circuit and a terminal side circuit.
  • AFE Analog Front End
  • a semiconductor wafer having a buried insulating layer as an inner layer is processed to form an insulating barrier, an insulating bra, an application circuit of the insulating bra, particularly a line interface circuit, and if necessary, a wiring with the insulating layer.
  • a semiconductor IC is formed by stacking layers and further forming a protective layer also serving as insulation. Each circuit is surrounded and insulated by an insulating layer, an insulating band and an insulating protective layer.
  • An insulating band is a band-like insulating pattern with a width of about 1 to 3 microns, for example, reaching the insulating layer from the surface of the semiconductor layer (the thickness is equal to the thickness of the semiconductor layer, for example, 10 to 50 microns).
  • the insulation band is formed by a trench method in which a predetermined pattern of grooves extending from the semiconductor surface to the insulating inner layer is formed and filled with an insulator, or an ion implantation method in which oxygen ions are implanted in the semiconductor layer to create an insulating region.
  • a trench method in which a predetermined pattern of grooves extending from the semiconductor surface to the insulating inner layer is formed and filled with an insulator, or an ion implantation method in which oxygen ions are implanted in the semiconductor layer to create an insulating region.
  • a monolithic line interface having a plurality of capacitive insulating bras, a line side circuit and a terminal side circuit is provided.
  • the timing of the operating clocks of DSP and AFE and these insulation braces is synchronized.
  • the carrier clock of the insulating bra for modem signal reception is recovered from the clock of the power bra for transmitting the DC closing control signal and used.
  • the CMOS switch is driven by a charge pump circuit using an insulating barrier to close the DC.
  • the insulating barrier in the insulating bra of the present invention forms an electrode region surrounded by an insulating band, and a plurality of electrode regions share a part of the insulating band, and a shared length obtains a required capacitance value. Arrange them so that they are the same length to form a capacitor.
  • the shape and arrangement of the insulating band may be set so that three or more electrode regions share two or more insulating regions, that is, a series-connected capacitor may be formed by multiple trenches. .
  • the buried insulating layer has a thickness having an insulating performance corresponding to the width of the insulating band.
  • the insulating bra of the present invention is realized by forming the insulating barrier, the input circuit, and the output circuit on the same wafer. Each circuit is surrounded by an insulation band to insulate it from other parts. Insulation barrier should be placed at the boundary between input circuit area and output circuit area in principle. In addition, these circuit regions and insulating barriers are put together and further surrounded by an insulating band.
  • the input circuit and the output circuit each have a PWM modulation circuit and a PWM demodulation circuit, or, depending on the purpose, other circuits such as a ⁇ ⁇ modulation circuit and a demodulation circuit for audio frequency band signals.
  • the digitized circuit is also included in the axial direction.
  • a protection circuit composed of a non-linear element such as a diode is arranged between the insulation barrier and the input circuit and the output circuit. The protection circuit is located inside the circuit area.
  • the application circuit of the present invention is realized by arranging an application circuit region surrounded by an insulating band on an insulating bra.
  • the insulating barrier may be arranged along the insulating barrier array line.
  • the carrier clock is synchronized as necessary.
  • the insulation brass to the circuit interface circuit in order to include the CMOS circuit in the circuit area, in particular, connect the CMOS circuit area further to the power supply line and connect the PM ⁇ S group to the ground line and the NM ⁇ S They may be divided into groups and separated by insulating bands.
  • the power wiring is laid between multiple insulation bras. Each insulation bra may be surrounded by a power line and a ground line.
  • CMOS circuit has the advantages of voltage control that requires no control current and high off-resistance, but tends to cause latch-up, which is a phenomenon of penetration between PM0S and NMOS, including parasitic transistors.
  • latch-up which is a phenomenon of penetration between PM0S and NMOS, including parasitic transistors.
  • the separation can be made difficult by separating the regions.
  • a high breakdown voltage in the thickness direction is realized, and by forming two electrode regions having an insulating band shared on the same wafer, an extremely small insulating barrier is realized.
  • an extremely small insulating barrier is realized.
  • a very small insulating bra can be realized.
  • stacking electrode regions and connecting capacitors in series to achieve a high withstand voltage in the horizontal direction, even if the width of one insulating band cannot be increased due to process restrictions, a higher withstand voltage can be achieved. .
  • by arranging the intermediate electrode to be floating when arranging the series capacitors it is possible to reduce the number of wires that cross over the strong electric field portion.
  • the uniform insulation performance can be achieved by arranging the capacitive insulating barriers such as electrodes and insulating bands.
  • FIG. 1 is a circuit block diagram of a modem device according to one embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an operation timing chart of the modem device of FIG.
  • Fig. 3 is a circuit block diagram of the insulation bra in Fig. 1.
  • FIG. 4 is an operation timing chart of the insulating bra of FIG.
  • Figure 5 synchronizes the timing chart of the modem signal processing with the insulation bra.
  • Fig. 6 is a timing chart showing the effect of timing synchronization.
  • FIG. 7 shows the layout of the IC of the line interface circuit in the circuit of FIG.
  • Fig. 8 is a structural diagram of the insulation bra at IC in Fig. 7.
  • FIG. 9 is a structural diagram of the insulating barrier at IC in FIG.
  • FIG. 10 shows a modification of the layout of the line interface IC.
  • FIG. 11 is a circuit block diagram of the insulation bra system applied to the present invention.
  • FIG. 12 is a circuit block diagram of a modem device according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 13 is a timing chart showing the effect of another embodiment of the modem.
  • FIG. 14 is a structural diagram of another embodiment of the IC of the line interface circuit.
  • FIG. 15 is a structural view of another embodiment of the insulating barrier of the present invention.
  • FIG. 16 is a structural view of an embodiment of an insulating bra according to the present invention.
  • FIG. 17 is a structural view of another embodiment of the insulating bra of the present invention.
  • FIG. 18 is a structural view of still another embodiment of the insulating bra of the present invention.
  • FIG. 19 is a structural diagram of a modem device using the line interface IC of the present invention.
  • FIG. 20 is a circuit block diagram of an embodiment of a line interface circuit incorporating a monolithic insulating coupler of the present invention.
  • FIG. 21 is a diagram of the layout of I C (I-AFE) of the line interface circuit of FIG.
  • FIG. 22 is an embodiment of a modem circuit using the I C (I-AFE) of FIG. 21.
  • FIG. 23 shows an embodiment of a modem device using the I C (I-AFE) shown in FIG. 21.
  • FIG. 24 is an embodiment of another communication apparatus using the monolithic insulating bra of the present invention.
  • FIG. 25 shows another embodiment of the monolithic insulating bra of the present invention.
  • FIG. 26 is a circuit block diagram of another embodiment of the monolithic insulating bra of the present invention.
  • Fig. 27 is a detailed circuit diagram of Fig. 26.
  • FIG. 28 is an operation timing chart of the detailed circuit diagram of FIG.
  • FIG. 29 is a circuit block diagram of an embodiment in which a plurality of insulating brass are mounted on the same SOI substrate.
  • FIG. 1 is a circuit block diagram of a modem device according to one embodiment of the present invention.
  • 1 is a modem
  • 2 is a line interface circuit
  • a modem circuit 1 is a DSP (Digital Signal Processor).
  • the line interface circuit 2 is composed of a terminal-side circuit 5, an insulating plug 6, a line-side circuit 7, and a high-voltage circuit 8.
  • DSP 3 and AFE 4 in modem 1 are as follows: DSP 3 handles digital signal processing, and AFE handles the interface between digital and analog circuits.
  • DSP 3 is responsible for most of the modem functions. That is, the DSP 3 exchanges digital information with the terminal, and performs modulation, demodulation, encoding, decoding, and filtering by digital signal processing, and exchanges digital signals with the AFE 4.
  • AFE4 is ADAnal og to
  • the line interface circuit 2 is also referred to as DAA (Direct Access Arrangement), which connects the analog signal of the modem directly to the telephone line, and at the same time, exchanges the signal corresponding to the modem with the line-side circuit 7 and the high-voltage circuit 8
  • DAA Direct Access Arrangement
  • a safety interface function between the exchange and the terminal is required. It is a security boundary.
  • the DSP 3 has ROM (Read Only Memory) 31, PU (Processing Unit) 32, RAM (RAM (RAM (RAM) (ROM (Read Only Memory) 31, PU (Processing Unit) 32, RAM (RAM (RAM (RAM).
  • ROM Read Only Memory
  • PU Processing Unit
  • RAM Random Access Memory
  • Random Access Memory 33, system interface 34, SOR (serial output interface) 35, SIR (serial input interface) 36, I / O (input / output interface) 37, CONT (control unit inside DSP) 38 It is connected by three buses 39-1, 39-2, and 39-3.
  • DSP 3 is controlled by software in the DSP system control circuit CONT38, operates at about 40 MHz, and receives signals from the terminal device through HOST-IF. Operates according to commands and exchanges data.
  • a normal modem has the capability of simultaneous transmission and reception. When input from the HOST-IF, the transmission data is temporarily stored in the RAM 33 and is used for signal conversion and encoding using the data in the ROM 31 and the transmission signals already stored.
  • the I / O 37 has a control signal input / output function for controlling external circuits from the DSP 3.
  • the AFE 4 includes a DA converter 41, a 0 converter 42, and a clock divider 43, and mainly serves as an interface means for the DSP 3, which is responsible for filters and modulation / demodulation processing, to input and output modem signals.
  • the terminal side circuit 5 is a data and clock connection circuit.
  • the insulation bra 6 includes a transmission path 61, a reception path 62, an OFHK path 63, and a Rdet path 64, and details of the internal configuration and operation will be described later.
  • the circuit 7 is composed of a 2-wire Z4 wire conversion circuit 71, a SW control circuit 72, and an OSC (local transmission circuit) 73.
  • the 2-wire Z4 wire conversion circuit 71 has a total of 4 lines for the transmission signal path and the reception path.
  • the high-voltage circuit 8 includes a DC closing circuit 81 and a Ring detection circuit 82 for detecting a ringing signal.
  • the DC closing circuit 81 is connected to two terminals TIP and RING which are connected to a line. This is a means for connecting and forming a DC loop by the path 63 of the control signal OFHK and the SW control circuit 72.
  • the first feature of the configuration of the modem circuit is that the circuit on the line side and the circuit on the terminal side are separated by four insulating brass 6. Naturally, the power supply is also separated, and the line side power supply uses the power supply from the exchange, and the terminal side uses the terminal power supply.
  • the second feature is that the basic clock is supplied from DSP 3.
  • the timing signal is converted from the clock circuit 43 using the clock signal DSPCLK supplied from the CONT 38 of the modem 3 to the AFE AD conversion timing (MCLKS) of the AFE in the modem.
  • DA conversion timing (MCLKR) and data transmission timing of the modem 3 are obtained and supplied to the line interface circuit 2 for transmission to the transmission path 61 of the insulation bra 6 and the OFHK path 63 of the insulation bra for control signal transmission. .
  • the modem signal reception path 62 uses the recovered clock of the OF HK path 63, and the Rdet path 64 of the control signal reception isolation coupler is significant only when receiving the RI NG signal from reception standby. Oscillation shall be controlled. By doing so, the timing other than the Rdet signal path is synchronized with the operation timing of the DSP 3 in the modem 1. By doing so, the following effects can be obtained.
  • FIG. 2 shows an example of a timing chart for transmission (a) and reception (b). At the time of transmission, first, the DSP 3 controls the IO 37 according to a command from the terminal to turn on the DC closing control signal OFHK (T1).
  • a dial signal is transmitted from the line interface circuit 2. This is done by turning the OFHK pin on and off according to the line standard and turning on and off the DC connection. For example, in Japan it is 1 OPPS (pulse per second and below) or 2 OPPS.
  • the terminal waits for the line to be connected to the other modem (T4), activates modem 1, and starts transmission.
  • the modem 1 generates transmission signals TX A + and TXA— through the SOR 35 of the DSP 3 and the DA converter 41 of the AFE 4 according to a predetermined procedure, and starts communication with the other modem.
  • the circuit interface circuit separates the TX A signal from the transmit path 6 of the isolated coupler 6.
  • the signal is supplied to the 2-wire Z-wire conversion circuit 71 through 1.
  • the 2-wire 4-wire conversion circuit 71 reduces the wraparound to the receiving side, and transmits the transmission signal from the TIP and RING terminals to the line through the DC closing circuit 81.
  • the partner modem responds to this transmission signal (T5), the partner modem's signal can be seen on the line, and follows the reverse route.
  • the received signal is selected by the 2-wire 4-wire conversion circuit 71, and the isolated coupler 6
  • the signal is passed to the modem 1 through the receiving path 62, the 80-to-80 converter 42, and the SIR 36 of the DSP 3, and is amplified, filtered, demodulated, and restored by the DSP signal processing. And passes it to the host as received data.
  • the terminal issues a stop command to each modem after exchanging stop information between the terminals using a higher-level protocol of the modem signal (RS off), and the modem stops the signal in response thereto. (T6, ⁇ 7).
  • the OFHK is turned off. In this way, a signal like “between TI and RING” in FIG. 2 appears between the line connection terminals TI and RING corresponding to the timings from ⁇ 1 to ⁇ 8. .
  • the line Upon reception, the line is activated by the RI NG signal from the line side (T 1).
  • the line interface circuit detects this by the RI NG detection circuit 82, the line interface circuit immediately transmits it to the modem 3 through the Rdet path 64 of the insulating coupler 6. I do.
  • the modem 3 knows this through the 1-node circuit 37, and responds to this to output a DC closing control signal ⁇ F HK and perform DC closing similarly to the transmission (T2).
  • the central office stops the RI NG signal (T3), so wait for the line to settle (T4).
  • the other modem sends the modem signal, and this signal is sent to the RXA + and RXA—
  • the receiving modem recognizes that it is a modem signal, it starts transmitting in response to this (T5).
  • T5 When the communication is completed, the sequence ends with T6, T7, and # 8, almost the same sequence as when transmitting. Receive these During operation, a signal (schematically shown) as shown in the figure appears on the line corresponding to each timing from T1 to T8. This operation itself is normally performed according to the standard.
  • FIG. 3 is a circuit block diagram of one path of the insulating coupler 6 in the embodiment of FIG. 1.
  • 9-1 and 9-12 denote a capacitive insulating barrier described later
  • 21 denotes an input circuit
  • 22 denotes an input circuit.
  • I an output circuit, which implements a security boundary between the modem terminal and the exchange by means of this insulating barrier.
  • the input circuit 21 has a terminal 103 as a power supply and a signal input, and is composed of a modulation circuit 104, a drive circuit 105, and a protection circuit 106.
  • the input analog signal is converted and modulated, and a PWM (Puis Width Modulation) signal is input.
  • PWM Pulis Width Modulation
  • the output circuit 22 includes a protection circuit 107, a detection circuit 108, and a demodulation circuit 109. Power is supplied from the terminal 110, a signal coming through the insulation barrier 9 is detected by the detection circuit 108, and integration is performed from the detection signal.
  • the PWM signal is reproduced by the circuit 135 and the comparison circuit 137, and an analog signal corresponding to the input signal is reproduced from the PWM signal. It also has a function to extract timing signals from detected signals and output these signals.
  • the input terminal 103 includes a power supply terminal VDD 1 and VDD 2, a ground terminal VSS 1, a differential input of ten and one as a signal input, and a clock input terminal for modulation timing.
  • the modulation circuit 104 includes a comparison circuit 111 and a carrier generation circuit 112.
  • the driving circuit 105 is an inverter driver including PMOS transistors 113 and 114 and NMOS transistors 117 and 118.
  • the protection circuit 106 includes diodes 121, 122, 123 and 124 and resistors 12 and 130 and prevents the circuit from being destroyed due to a surge voltage entering from the output circuit 22 side.
  • the protection circuit 107 on the output circuit 22 side is a resistor 1 31 , 132, and diodes 125, 126, 127, 128 to protect the gate of the transistor of the detection circuit 108.
  • PMOS 115, 116 and NMOS 119, 120 are inverter-type detection circuits with feedback resistors 133 and 134.
  • the output of the detection circuit 108 is connected to the integration circuit 135.
  • the integration circuit 135 reproduces a PWM waveform from the inverter output signal.
  • 136 is a circuit for reproducing the timing of the carrier wave
  • 137 is a comparison circuit.
  • Terminal 110 on the output circuit side supplies power from the power supply terminals VDD3, VDD4 and VSS2, and outputs the complementary signal output of the processing result and the timing clock.
  • the features of this configuration are (1) the use of two insulating barriers 9-1, 9-12, (2) an external clock input, and (3) a regenerative clock output. Although it is not shown because it is a normal input / output protection circuit, among the terminals 103 in this circuit block diagram, the signal input terminals 10 and the clock input, when used alone as an insulating bra, Provide an input protection circuit. In the description of the circuit configuration, the combination of the PMOS and the NMOS is shown. However, depending on the purpose, a bipolar process or a mixed process may be used. Also, when the purpose is to use a single insulating bra, the clock may be generated internally.
  • FIG. 4 is an operation timing chart of the insulating bra of FIG. 3, and a signal transmission method is a PWM (pulse width modulation) method.
  • the frequency axis of the input signal that is the waveform to be transmitted (here, about 3.4 kHz at maximum) is sufficiently higher (here, 1.2288 MHz: 256 times or more).
  • the magnitude of the input signal is converted to each pulse width t and transmitted.
  • T / T 0.5 when input signal is 0 volts, that is, 50% duty, input signal is large Duty conversion is performed so that the pulse width becomes larger as the value becomes larger and the pulse width becomes smaller as the input signal becomes more negative.
  • the input signal is a differential input with the input signal + and the input signal-to reduce the influence of common mode noise, other input methods may be used depending on the purpose.
  • Fig. 4 schematically shows a case where a sine wave is applied to the +-input terminal.
  • a rectangular clock input from outside the insulating bra is converted into a sawtooth waveform by the carrier generation circuit 112 to obtain a carrier.
  • the modulation circuit 104 is a comparison circuit 111, and receives these input signals and outputs outputs P WM + and P WM ⁇ in which the duty of the pulse is changed.
  • the drive circuit 105 inputs the PWM + and PWM- waveforms to the drive circuit 105, and supplies it to one terminal of the insulation barriers 9-1 and 9-2 through the protection circuit 106.
  • the capacitor value of the insulation barriers 9-1 and 9-2 is about lpF.
  • the protection circuit 106 Since the protection circuit 106 has a constant that is effective for a high-voltage surge waveform of about several tens of ns or less, it hardly affects the drive waveform.
  • the other electrodes of the insulation barriers 9-1 and 9-2 are input to the detection circuit 108 through the protection circuit 107.
  • the detection circuit 108 is an inverter and an integration circuit 135. Since the inverter output has a differential waveform like the detection signal + and 1, and is significantly attenuated due to the stray capacity, it is once amplified by the inverter and input to the integration circuit 135.
  • the integration circuit 135 is an integrator having two inputs of + and 1, and outputs a reproduced PWM signal + and 1 as shown in the figure by using a differential waveform as an input signal.
  • the timing recovery circuit 136 is a PLL circuit that extracts a timing signal component from the reproduced PWM signal. Create a sawtooth waveform using the timing waveform and reproduce it. If sample hold is performed at the timing of the PWM signal, demodulated waveforms such as the output signal + and 1 can be reproduced.
  • a PWM realizing method may be another method.
  • the modulation waveform may be a triangular wave. When a triangular wave is used, the center timing of the modulation waveform becomes constant, so that, for example, a high-precision timing reproduction method such as a PLL can be employed in a demodulation circuit.
  • a set-reset type flip-flop may be arranged instead of the integrating circuit.
  • the rising timing of the differential waveform which is the output of the inverter, is the PWM timing information itself, and can be directly used as the flip-flop control signal by appropriately selecting the characteristics of the load resistance inverter.
  • the output of the flip-flop is the PWM waveform itself.
  • the feature of this operation timing is that three control signal transmissions of a transmission signal, a reception signal, and a line connection control signal are performed in parallel. For this reason, in a line interface using an insulation bra, signal crosstalk becomes noise and degrades the S / N ratio. Thus, in this embodiment, the degradation is suppressed by synchronizing the operation timing of the DSP, the modem processing timing, and the timing of the insulating bra. This will be described with reference to FIG.
  • FIG. 5 (a) and 5 (b) show the timing relationship between the modem signal processing and the operation of the insulating bra.
  • the feature of the circuit configuration of this embodiment is that the operation timing of the line interface circuit is supplied from the modem. That is, the circuit operation inside the IC is synchronized with this clock.
  • FIG. 5 (a) shows the modem signal processing part, and the timing chart is schematic, but has the relationship shown on the right side of the chart. That is, in the modem signal processing part, the DSP is operated at 39.316.16 MHz, and 1.2288 MHz is supplied to the AFE to be used as the DA conversion timing MCLKS and the AD conversion timing MCLKR.
  • (B) relates to the clock timing of the line interface.
  • the modem supplies the clock signal DSPCLK supplied from the DSP as the NCLK S to the transmission signal path 61 and the control signal path 63 of the insulating power cable 6 and the modem. Synchronize with the operation timing. Since the reception signal path NCL KR only needs to operate when the control signal is on, it has a gated waveform as shown in the figure.
  • the timing CLK 2 of the R det path oscillates locally in the circuit on the line side, but is stopped by the control signal OFHK when exchanging signals between modems.
  • FIG. 6 shows the PWM modulation timing when the sawtooth waveform is used as the carrier.
  • a PWM waveform is obtained by integrating a clock signal to create a sawtooth waveform that becomes a carrier waveform and comparing it with the transmission signal.
  • the received signal, the transmitted signal, and the OFHK control signal are shown.
  • the received signal has a small amplitude due to the effects of transmission loss on the line, as shown by RXA +,-in Fig. 1, and is approximately-20 to -45 dBm.
  • the transmission signal has a large amplitude since it is transmitted from the user, and is usually about 16 to 15 dBm.
  • the control signal is a 5V logic level and the maximum value.
  • the transmission / reception signal is AD or DA converted at a predetermined timing, but the clock received from the modem is By synchronizing with this, the effect can be minimized even if the PWM section is sampled at every cycle T (the effect of beat noise is asynchronous).
  • Synchronizing the PWM carrier clock timing has the effect that at least the overlap between the logic level timing and the analog signal timing can be separated as shown in the figure.
  • the timing disturbance is limited to the vicinity of the logic level, so that the effect of the crosstalk is minimized.
  • Fig. 6 (b) shows the PWM modulation timing when applied to a triangular waveform carrier.
  • the carrier wave has a triangular waveform, so that PWM modulation timing appears on both sides of the triangular wave.
  • the same effect can be obtained by using this embodiment.
  • the clock for the insulation bras 105 that transmits the incoming detection signal R det is generated by the oscillator OSC 112 that is arranged on the line side, so the timing does not match the operation of the other insulation plastic plugs. But OFHK system Oscillation is inhibited when a control signal is input, and this action stops the operation of the oscillation circuit before starting modem communication, thereby suppressing the effects of crosstalk. .
  • FIG. 7 is a diagram of the layout of the line interface IC.
  • reference numeral 2 denotes a line interface IC
  • reference numerals 206--1, 206--2, and 206--3 denote insulation bands
  • a line-side terminal area 201 and a line-side circuit respectively. It surrounds the region 202, the terminal-side circuit region 204, and the terminal region 205.
  • Reference numeral 203 denotes an insulating bra array area in which the four insulating plugs shown in FIG.
  • the features of this layout are as follows: (1) The use of four insulating power barriers using a capacitive insulating barrier; and (2) The circuit on the line side and the circuit on the terminal side should be separated with the insulating coupler interposed therebetween. (3) Each of the line-side circuit and the terminal-side circuit is surrounded by an insulating band. Insulation zone means that the circuits on the line side and the terminal side are isolated from each other, and each area can be freely designed without being aware of the withstand voltage between the primary and secondary circuits. At the same time, there is an IJ point that simplifies the evaluation and management of insulation capacity.
  • FIG. 8 (a) is a plan view
  • FIG. 8 (b) is a cross-sectional view, each of which schematically shows only a drive circuit and a detection circuit.
  • reference numeral 203 denotes an insulating coupler area
  • 206 denotes an insulating band
  • 207 denotes an insulating barrier
  • 211 denotes an input circuit area
  • 211 denotes an output circuit area.
  • the insulating band 206 forms many patterns from 2066-1 to 206-6. Note that the sign of the insulating barrier 207 part is complicated. The same is true for some of them.
  • the input circuit region 211 and the output circuit region 212 further include PMOS regions 213, 214, 215, 216 and NMOS regions 217, 218.
  • the input terminals of the input circuit are the two inverter input terminals IN 1 and IN 2 of the drive circuit.
  • the output terminals of the output circuit are the two inverter output terminals OUT1 and OUT2 of the detection circuit.
  • VDD1 to VDD4 are separate power pins
  • VSS1 and VSS2 are separate ground pins.
  • the features of the plan view (a) are that (1) the circuit regions are separated by an insulating band, and (2) the insulating band is formed as a comb-teeth pattern as an insulating barrier to increase the facing area. (3)
  • the four capacitors are connected in series in the horizontal direction to form two sets of insulating barriers. These are driven by complementary PWM digital waveforms as described above. There is little crosstalk between the two sets of insulation barriers, but if the application is problematic, the space between them, ie, the long space in the horizontal direction, the power supply pattern VDD, VSS It is effective to prepare them and place them between insulating barriers to loosen the coupling. The same arrangement is effective when a plurality of insulating bras are used.
  • the PMOS region and the NMOS region are separated by an insulating band. With this separation, even if an unexpected surge voltage is applied to the circuit, short-circuiting and penetration between power supplies due to conduction of the parasitic transistor, that is, latch-up phenomenon does not occur in principle.
  • 231 is a substrate
  • 232 is an insulating layer
  • 233 is a semiconductor layer
  • 234 is a protective layer
  • a semiconductor region is formed by many insulating bands 206.
  • 21 1, insulation barrier 20 7, output circuit area 21 2 are arranged.
  • a silicon wafer (SOI substrate) in which SiO 2 of about 2 ⁇ m thickness is used as an insulating layer as an inner layer is prepared, and a thin film using a photomask is formed thereon. Each region is created using a film process.
  • 2 0 6 - insulating band 1 from 2 0 6 6 is about 1 S i 0 2 layers of 5 mu m width..
  • each region such as an input / output circuit region and an insulating barrier region, is formed on a silicon wafer having an insulating layer as an inner layer by dividing the region by an insulating band 206. It's like 3 4 is piled up. Silicon wafers consist of a single-crystal silicon substrate 2 3 1, a Si 2 -layer, or a multi-layer insulation layer 2 32 with a layer of oxidized polysilicon, and a single-crystal silicon semiconductor layer. Are stacked. In this embodiment, the bonding is performed by a method in which the surface of the silicon oxide film on the polysilicon surface is mirror-polished and superposed, and then bonded by heat treatment at a specific temperature.
  • Insulating strip 2 0 6 is a is Insulator a S i 0 2 layers.
  • Protective layer 2 3 4 is an insulating material such as S I_ ⁇ 2, HLD or S i N includes a wiring layer of polysilicon Ya aluminum in this layer.
  • the capacitor is composed of three electrode regions 2 36, 2 37, 2 38 and an insulating band 206. In this way, even in the case of the trenching method in which the width of the insulating band 206 is limited as compared with the thickness of the insulating layer 232, the withstand voltage can be ensured by connecting the capacitors in series.
  • the input circuit area 2 1 1 and the output circuit area 2 1 2 are 2 35 and 2 39 in cross section, and these are surrounded by two insulating bands, and a high withstand voltage can be obtained. It has a structure.
  • the integrated circuit can be directly adhered to a frame during package mounting, and has an advantage of good heat dissipation.
  • FIG. 9 is a plan view
  • (b) and (c) are ⁇ _ ⁇ ′ sectional views in the plan view (a).
  • 207 is an insulating barrier
  • 206-1, 206-2, and 206-13 are insulating bands made of Si 1.52 with a width of about 1.5 microns
  • 241, 242, and 243 are insulating bands.
  • the electrode regions 244 and 245 surrounded by are terminals which are holes formed in the protective layer above the electrode regions 241 and 242.
  • 231 is a Si substrate about 400 microns thick
  • 232 is an insulating layer about 2 microns thick
  • 233 is a semiconductor layer about 15 microns thick
  • 234 is about 5 microns thick
  • the other symbols are the same as in (a).
  • each region is formed on a silicon wafer having an insulating layer as an inner layer using a thin film process using a photomask.
  • the insulating band is a two- layered Si layer and is an insulator.
  • the insulating band 206 is formed by once digging a trench (trench) and filling it with SiO 2 , or by changing the semiconductor layer to an insulator by irradiating oxygen ions from the upper surface.
  • the capacitor consists of three electrode regions 241, 242, 243 and two insulating zones 206-1, 206-3.
  • the insulating band 206 is patterned so that the band is folded, and the length of contact between the electrodes 241, 242 and 243 is increased, so that a capacitance value can be obtained efficiently with a small semiconductor area.
  • an insulation performance of about 2 pF is obtained for a square of about 160 microns and a withstand voltage of about 750 V per insulation band in a DC withstand voltage test.
  • a high voltage is applied between terminals 244 and 245, but when viewed from outside insulating barrier 207, electrode regions 241, 2 It is a pattern in which 42 is double surrounded by an insulating band.
  • arc-shaped pattern (radius of 2 to 5 microns) is used as much as possible for the folded portion and the corner portion so as not to generate an acute angle pattern.
  • the insulating band 206-6-2 is necessary to insulate and separate from other circuit parts.
  • Fig. 9 (c) is a structural drawing in the case where the thickness per insulating layer cannot be increased. By using two insulating layers, an effective withstand voltage can be obtained.
  • adjusting the thickness of each layer with an insulating layer has the effect of dispersing stress and reducing warpage.
  • FIG. 10 shows another layout concept of the line interface IC.
  • two insulating bras are arranged in the direction perpendicular to each other.
  • a test voltage of 1500 V dc is applied between the line-side circuit and the terminal-side circuit, but each circuit area is placed on an SOI substrate and surrounded by an insulating band.
  • a fairly flexible layout is possible. However, it is limited by the arrangement and size of the wiring and terminals between the regions. Note that this layout has a feature that efficient area arrangement can be performed when there is an imbalance in the circuit area and the number of terminals.
  • FIG. 11 is a block diagram showing various transmission systems from (a) to (f).
  • the insulating barrier is the capacitor of the present invention.
  • the insulated coupler of the present invention uses two insulating barriers and is driven with a complementary waveform so that a signal can be accurately transmitted even when the receiver side is floating.
  • the input circuit receives power from the power supply terminal VDD 1 and the ground terminal VSS 1 and drives the signal received from the input terminal to one terminal of the insulation barrier. And output it.
  • the output circuit receives power from the power supply terminal VDD 2 and the ground terminal VSS 2, detects the waveform appearing at the terminal on the opposite side of the insulation barrier, converts it to an output signal, and outputs it.
  • the converted waveform can use various methods such as PWM (pulse duty conversion) or FM (voltage-frequency conversion), which digitizes only in the amplitude direction, or a digital transmission method in which the time axis is also digitized.
  • FIG. 11 (b) shows the case of the PWM transmission method.
  • the input circuit samples the input analog signal at a constant period T that is several tens of times or more the signal bandwidth, and converts the amplitude into a duty in the time axis direction (0 V input is 50% duty).
  • the transmission and output circuit detects this, converts the duty to an amplitude value again, reproduces the input waveform, and outputs an analog signal.
  • analog processing of the duty a high resolution can be obtained in principle.
  • a digital signal may be transmitted.
  • (c) shows the case of digital transmission according to the present invention.
  • the transmission waveform is subjected to code conversion such as Munchister code so that the same level does not follow the transmission waveform, and then the insulation barrier is driven.
  • the output circuit detects this and performs inverse conversion to perform the original conversion. Play digital signals.
  • code conversion and inverse conversion are performed in synchronization with the transfer frequency of the input digital signal.
  • This method has a feature that it is hardly affected by noise because there is little conversion in the amplitude direction.
  • (d) shows the case where the AD conversion input is performed through the insulation barrier.
  • the analog input signal is AD-converted, and the same sign conversion as in (c) is performed before driving the insulation barrier.
  • the output circuit detects this and outputs a digital signal after performing reverse code conversion.
  • (e) shows the case where the DA conversion output is performed through the insulation barrier.
  • the input circuit converts the digital input signal to the same sign conversion as (c). And then drive the insulation barrier.
  • the output circuit detects this, performs reverse code conversion, and then performs DA conversion to output an analog signal.
  • (f) shows a case in which (d) and (e) are combined to perform analog signal input / output using AD conversion and DA conversion.
  • the signal transmission methods (d) to (f) are suitable for voice signal processing analog front-ends such as modems and line interfaces by connecting digital signals to DSPs.
  • the invention allows these schemes to be integrated into a monolithic IC.
  • the above-described capacitive insulation barrier is a circuit for coupling between two circuits, but has a large stray capacity between the substrate and the input circuit, the output circuit, and the insulation barrier. There is a big difference from creating them separately and combining them. For this reason, the transmission efficiency at the insulation barrier is a fraction of poor.
  • the amplifier circuit is arranged at the first stage of the output circuit, and the detection processing and the demodulation processing are performed later.
  • FIG. 12 is a circuit block diagram of a modem device according to another embodiment of the present invention.
  • reference numeral 251 denotes a line interface IC of this embodiment
  • reference numeral 252 denotes a terminal-side circuit
  • reference numeral 253 denotes an insulating power plug
  • reference numeral 254 denotes a line-side circuit
  • reference numeral 255 denotes a high withstand voltage circuit.
  • the terminal-side circuit 252 includes a DSP interface 256, a modem data output interface SOR261, a modem data compression circuit 262, a transmission-side multiplexer 263, a general-purpose output register master register GORM262, an error correction circuit 265, and a reception-side multiplexer.
  • the transmission path consists of a transmission path insulation bra 6-1 and a reception path insulation bra 6-2.
  • the line side circuit 254 is composed of a transmission path multiplexer 271, transmission modem data.
  • Expansion circuit 272 includes a DC closing circuit 282 and a call signal detecting circuit 284.
  • the feature of this circuit configuration is that, first, the AD converter and the DA converter are arranged on the line side, and the signal passing through the insulation bra is converted into digital data. For this reason, as described later, the noise resistance when passing through the insulating barrier is remarkably improved. Second, the AD conversion signal and the DA conversion signal are once compressed and passed through an insulation bra, and the control signal is error-correction-encoded into the vacant portion, and the insulation bra 6 is connected to the 6-1. And 6-2. Mounting an insulating barrier on a semiconductor substrate requires a large area, so the number of insulating bras can be reduced even if the area of additional circuits such as data compression and expansion and error correction is increased. This is advantageous in reducing the area.
  • the function is almost the same as that of Fig. 1.
  • the internal circuit of the high voltage circuit 255, the 2-wire 4-wire conversion circuit 281, and the SW control circuit 28 3 is exactly the same function.
  • the timing is adjusted by inputting both the recovered clock of the isolated coupler 5-2 and the clock from the DSP to the multiplexer 2666. The timing can be adjusted by arranging a 1-bit or 2-bit buffer memory.
  • the general-purpose I / O registers GOR and GI scale sequentially transfer the contents of the master register to the slave register. It is that you are.
  • compression and error correction and multiplexers may be omitted when noise is low and errors are difficult when the technology advances and the insulation power becomes smaller.
  • Fig. 13 shows the case where a sawtooth waveform is used for the carrier, and (b) shows the case where the triangular wave is used for the carrier.
  • the transmission signal and the reception signal are analog signals.
  • the performance that can withstand transmission errors in the insulation barrier is the best. it can.
  • FIG. 14 shows a case where the line interface IC has a two-chip configuration.
  • reference numeral 2991 denotes a line interface chip
  • reference numeral 292 denotes a terminal interface chip
  • the terminal interface chip 292 has a terminal area 296, a line-side low-voltage circuit area 297, an insulating plastic area 298, and a terminal-side circuit area 299.
  • the terminal area 300 was arranged.
  • a DC closing circuit and a ringing (RING) detection circuit are arranged in the circuit-side high-withstand-voltage circuit area 294.
  • a 2-wire / 4-wire conversion circuit In the line-side low-voltage circuit area 297 of the terminal interface chip 292, a 2-wire / 4-wire conversion circuit, an OFHK switch (SW) control circuit, and a transmission circuit are arranged.
  • an efficient process can be selected by separating the process conditions of the line interface chip 291, which requires a high-voltage circuit element, from the insulation barrier and the circuit of the low-voltage circuit element.
  • reducing the size of one IC chip reduces the effect of overall yield in the process, and has the effect of increasing the number of IC chips obtained per wafer.
  • the line interface chip requires individual components. It may be used as a discrete circuit. By doing so, the terminal interface chip has only the logic signal and the signal at the signal level of the modem, and there is no portion directly connected to the line. It can be applied to the internal circuit of the device, and the effect of expanding the application range is created.
  • FIG. 15 is a structural view of another embodiment of the insulating barrier, wherein (a) is a single insulation, (b) is a double insulation, and (c) is a double insulation another modified embodiment. It is a plan view.
  • 207 is an insulating barrier
  • 206-1, 206-2, and 206-3 are insulating bands
  • 241, 242 are electrode regions surrounded by an insulating band 206
  • 244 and 245 are electrode regions 241 and 242.
  • the terminals, 301-1 and 301-2 which are holes formed in the upper protective layer, are closed.
  • FIGS. 15 (a) and 15 (b) show an embodiment of a pattern having no acute angle in the insulating band, like the embodiment of FIG.
  • the characteristic of the pattern in Fig. 15 (a) is that the electrode regions 241 and 242 having the terminals 244 and 245 are formed by one stroke of the insulating bands 206-1 and 206-6-2.
  • the portion where the insulating bands are connected in a T-shape can be eliminated, which not only improves the efficiency of filling the trench by the trench method, but also has the effect of reducing the concentration of the electric field.
  • Fig. 15 (b) The feature of this pattern is that the electrodes 241 and 242 having the terminals 244 and 245 are formed by one stroke of the insulating bands 206-3 and 206-4, respectively.
  • Fig. 15 (c) is a modified example of the embodiment in Fig. 15 (a) and Fig. 9. If two T-shaped parts are allowed, they are surrounded by an insulating band 206-3. This has the effect of realizing a good area efficiency and an insulating barrier.
  • the method (b) can be expanded efficiently even when the number of series is small.
  • FIG. 16 is a structural view of one embodiment of the insulating power bra of the present invention.
  • the insulating bra 203 in FIG. 16 includes a terminal for an input circuit in the insulating coupler portion of FIG.
  • An area 201 and a terminal area 205 for an output circuit are provided and each terminal is arranged, and has a size of about 2 mm square.
  • a very small analog PWM monolithic insulation bra can be made. This is, of course, mounted in a package in a later process and used, but since it is monolithic, it is extremely small, so it is mounted inside an applied device such as a measuring instrument probe or various medical sensors. This can contribute to the miniaturization and higher performance of these devices.
  • FIG. 17 is a layout conceptual diagram in a case where the two insulating brass shown in FIG. 16 are mounted on one chip.
  • reference numeral 203 denotes a one-chip insulated coupler incorporating two couplers
  • reference numerals 203-3 and 203-3-2 denote a built-in insulating bra 1 and a built-in insulating bra 2, respectively. They are surrounded by insulating bands 206-6-1 and 206-6-2, respectively.
  • the features of this layout are (1) that each insulating bra is surrounded by insulating bands 62-1 and 62-2, and (2) that insulating barriers where the electric field is concentrated are arranged.
  • a withstand voltage can be secured between any two inputs and any two outputs, and each circuit element can be freely arranged while maintaining the withstand voltage. effective. Also, with this structure, unnecessary electric circuit coupling can be minimized, and the range of application can be expanded.
  • FIG. 18 shows still another embodiment of the insulating bra according to the present invention, in which an input circuit and an output circuit each insulated by an insulating band are integrated into a circuit. It shows the structure of an integrated circuit and an insulating bra when a lamic capacitor is combined with an insulating barrier to form an insulating coupler.
  • (a) is an outline of a chip layout
  • (b) is a cross-sectional view of mounting the IC and a ceramic capacitor on a circuit board.
  • 303 is an insulating plastic IC
  • 206-1 and 206-2 are insulating bands surrounding the input circuit area and the output circuit area, respectively.
  • 4 is an external insulation barrier
  • terminal areas 201 and 205 are connection terminals to the external insulation barrier 304, respectively.
  • reference numeral 303 denotes an IC for insulating power
  • reference numerals 304 and 360 denote solder.
  • 307 is a circuit board, which has copper foil 308, 309, 310, 311 circuit connection patterns on both sides, and through holes 312, 313 if necessary. It is provided.
  • the circuit board 307 may have a multilayered copper foil as needed, as long as the insulating property is not impaired.
  • the insulating barrier 304 is a chip capacitor, and is surface-mounted on a circuit board with solder 316 and 317.
  • the insulation barrier which occupies a relatively large area in the semiconductor integrated circuit, is used as a separate chip, but the shape and dimensions of the insulation bra become large, but the price is realistic, and the capacitor value of the insulation barrier is reduced.
  • a configuration method is also possible in which the operation timing frequency can be freely selected by positively increasing it. That is, by increasing the capacitor value, the low-frequency characteristics are improved, so that the waveform transmission becomes easier.
  • a small power transmission can be performed by a charge pump circuit or the like.
  • FIG. 19 is a structural diagram showing the concept of an embodiment in which the monolithic line interface of the present invention is applied to a card modem device.
  • FIG. 19 (a) is an embodiment of the present invention
  • FIG. 19 (b) is It is a conventional card modem.
  • 400 is the entire card modem of this embodiment
  • 401 is the circuit board of this embodiment
  • 402 is the line interface IC of this embodiment
  • 403 is eight? £, 404 for 03, 405 for other ICs, 406 for line-side connectors, 407 for PC-side connectors, 408 for varistors, 409 for high-voltage capacitors, 410 for capacitors and 41
  • Reference numeral 416 denotes other chip components such as resistors and capacitors.
  • 450 is the entire conventional card modem
  • 451 is the conventional circuit board
  • 452 is the line transformer which is the conventional line interface
  • 453 is the AFE
  • 454 is the DSP
  • 455 is other IC
  • 456 is line side connector
  • 457 is PC side connector
  • 458 is varistor
  • 459 is high withstand voltage capacitor
  • 460 is capacitor
  • 461 to 466 is other resistor and capacitor Chip components.
  • This diagram schematically shows the cross section of the card modem.
  • the conventional card modem 450 penetrates the circuit board 451 and has a line transformer 452 in the penetrated part.
  • the line interface IC 402 can be implemented almost in the same manner as the other ICs indicated by 402 to 405. Therefore, there is no need to penetrate the circuit board 401, which is economical. In addition, it may be economical to use no special transformer. Furthermore, since the transformer can be omitted, there is a possibility of further miniaturization.
  • FIG. 20 is a circuit block diagram of one embodiment when the monolithic digital insulating bra of the present invention is applied to an AFE.
  • AF of this embodiment E is for audio band signal processing, analog and digital conversion is oversampled (2MHz) AD and DA conversion, decimator, interpolator temporarily reduces to 32 ksps, and low frequency filter processing by internal DSP And finally input and output digital data at a speed of 8 ksps.
  • reference numeral 500 denotes a monolithic analog front end (I-AFE) incorporating digitally isolated couplers 501 to 506, and I-AFE 500 is an AFE original multiplexer (MUX) 511 and pad amplifier (PDA).
  • I-AFE monolithic analog front end
  • MUX AFE original multiplexer
  • PDA pad amplifier
  • Pre-filter (PF 1) 5 13 3 Oversampled analog-to-digital converter ADC 514, Decimator filter (DCM) 51 5, AD conversion output buffer (ADCR) 516, Built-in (in-) Analog input line consisting of DSP 517, receive output buffer (RXDR) 518, transmit buffer (TXDR) 521, DA conversion input buffer (DACR) 522, interpolator (INT) 523, oversample 'digital' Analog output line consisting of two analog converters D AC 514, post filter (PF 2) 525, and attenuator (ATT) 526, and data input / output transfer control 531, 533 and analog input for in-DS P 517 Output terminal 2 It has a configuration obtained by adding a control circuit to four-wire conversion circuit 533.
  • the AFE 500 is reset and powered down by the control circuit (CONT) 541.
  • the reset signal is transmitted to the circuit on the left side (hereinafter, analog input / output side) through the digital isolation coupler 506, and is combined with the reset signal accompanying the power on / off of the analog input / output side by the reset circuit 542, and the analog input / output side Used as a reset signal for the circuit.
  • An external device uses the control registers (CONTR) 551 and (STATUS) 554 to finely control the I-AFE 500.
  • CONTR551 (STATUS ') 553 ) Is copied to the control register (CONTR ') 551, STATUS 554 of the analog (digital) input / output circuit through the digital isolation couplers 504, 503, and is used to control SW1 to SW3 of the analog input / output circuit and other circuits.
  • GPO general output port
  • the reference voltage generation circuit 563 is a circuit for applying a reference voltage for operating the analog input / output circuit with a single power supply, and generates the reference voltage VREF: (V DDI-VSS 1) 2.
  • the 2-wire 4-wire conversion circuit 533 is a circuit that converts between 2-wire public line and internal 4-wire transmission / reception when the I-AFE500 is used as a modem device. Has an amplifier function.
  • the analog input signal goes through the 2-wire 4-wire conversion circuit 533 or is directly input from the I N + and I N- terminals, but the MUX 511 is switched in advance by the signal SWl according to either of them.
  • the PDA512 can switch the gain of O dB and 6 dB to the signal SW2.
  • the PF 1513 is an analog filter for removing unnecessary frequency band signals before AD conversion.
  • the PF 1513 is a second-order low-pass filter having a cut-off frequency of 48 kHz.
  • the ADC514 is a second-order modulator that operates at 2Msps and outputs 2-bit AD conversion results every 0.5 / s. This AD conversion output is transmitted to the DCM 515 and thinned out to 32 ksps.
  • the output of DF1 515 is 16 bitZw Since the speed is as low as 32 ksps, this is serially converted to 2 Msps, and transmitted to the in-DSP 517 via the insulating bra 502 along with the timing signal via the ADC 516 of the digital input / output circuit.
  • the in-DSP517 performs flatness correction and LPF processing of 4 kHz or less on this decimator output by IIR and FIR digital signal processing.
  • the processing result is transmitted to the ex-DSP 236 serially through the reception buffer 518 as 16-bit Zw data every 8 ksps.
  • the analog output line receives the data to be output from the ex-DSP 536 every 8 ksps from the transmit buffer TXDR21 1 and the in-DSP 517 performs the same filtering as the analog input.
  • the result is passed to the interpolation filter (INT) 523 at a speed of 32 ksps while interpolating the 16-bit / w data via the DA output buffer (DACR) 522. Via force bra 501.
  • the INT 523 further performs an interpolation process, passes the data to the DAC 514 at a speed of 2 Mps as 6-bit / w data, and outputs an analog value.
  • the aliasing component remaining after processing by DSP 517 and INT 523 is removed by post filter PF2552, and output via ATT226, which can switch between O dB, 16 dB, and 10 dB.
  • the operation timing of these analog output lines uses the timing of the analog input line.
  • the timing of these processes is basically the same as the 2 MHz timing, the same timing of the ⁇ modulator / demodulator, the interpolator and decimator processing timing for input / output at 2 Msps and 32 ksps, and 32 ksps and 8 ksps. It is time to assign the DSP processing timing for input and output in an orderly manner.
  • the analog input / output side circuit and the digital input / output side circuit are separated in the insulating couplers 201 to 205, but it is essential to operate them in synchronization. This is where the importance of isolator settings dedicated to switching is placed.
  • ex-DSP 5 36 6 I — AFE 500 is an analog signal input / output circuit, but its sample timing is important. Therefore, most modems use the most discrimination judgment at the time of demodulation. Adjust the ADC 514 sample timing to get the best timing. For this purpose, ex-DSP 536 to I-AFE 500 are notified of the timing advance or delay by the MC LK. That is, if you want to advance the timing, add A f, and if you want to delay it, add 1 A f to notify I — AFE 500. This process is performed every several 10 Oms or several 10 Oms.
  • I-AF E500 operates at arbitrary timing, it will not match the timing required by ex-DSP 536, so data will be over / shortage, processing timing will be broken, and large noise will be generated. .
  • PLL is placed inside I-AFE 500 to synchronize the internal timing.
  • the timing accuracy demands allow, there is a method of complementing by using the timing error of the automatic equalization means in the modem. In this case, the circuit timing adjustment is not performed.
  • the data transfer between the decimator, the interpolator and the in-DSP is performed by serial high-speed transfer, which has the effect of reducing the number of insulating brushes. Since the modem includes multiple standards, there may be cases where multiple sample timings are required.To deal with this, the division ratio of the PLL 561 and the timing circuit 562 can be controlled by the CONTR 562. I have to. Further, by applying the above-described error correction means to the insulating brass for transmitting these control signals, the operation can be stabilized.
  • the configuration in which the digital filter performs signal processing by the internal DSP 517 is shown. However, the processing of the internal DSP is a dedicated processing for AD conversion and DA conversion. However, it may be formed with appropriate dedicated logic.
  • FIG. 21 shows the concept of the layout on the integrated circuit of the circuit of FIG. 20.
  • reference numeral 600 denotes the entire AFE integrated circuit, which is formed on an SOI substrate.
  • the insulation band 601 indicates the analog input / output circuit area
  • the insulation band 602 indicates the insulation force puller (indicated by Isolators 501 to 506)
  • the insulation band 603 indicates the digital input / output circuit area.
  • the insulating band 604 is a means for insulating between the other chip area on the wafer and the area, and the insulating band 604 is a means for preventing circuit coupling with the substrate through the scribe end face. is there.
  • the names given to the more subdivided areas in each area correspond to those in FIG.
  • each circuit area is further surrounded by trenches, and the analog input / output side circuit area 601, insulating power area 602, digital input / output side circuit area 603, This means that double trenches are used to provide insulation between the regions, and (2) the whole is surrounded by trenches 604 to provide insulation between chips.
  • the trench 604 is a multi-trench.
  • each circuit block in the circuit regions 601 to 603 is surrounded by trenches to provide insulation and element isolation between circuits.However, these are further formed into multiple trenches and grounding between the trenches. A noise shield due to mutual interference can be formed.
  • the multiplicity of the trench in the circuit area is one step higher than the multiplicity of the trench in the high breakdown voltage capacitor section, the insulation coordination is performed so that the destruction mode is limited to the capacitor section. Is considered. This has the effect that a system can be constructed with limited damage even when a high voltage higher than the standard is applied.
  • FIG. 22 is a circuit diagram of an embodiment of a DSP modem to which the I-AFE of FIG. 20 is applied.
  • 500 is an I-AFE
  • 700 is an eX-DSP.
  • the terminals to be connected are connected to the TIP and RING, with resistors 701 and 702, capacitors 703 and 704, and surge protection.
  • protection circuit composed of element 705.
  • Reference numerals 706 and 707 denote SWs formed by NMOS transistors, which are connected to light receiving elements (for example, solar cells) 708.
  • the light receiving element 708 receives the light of the light emitting diode 709, turns on and off 706 and 707, and supplies power supplied through TIP and RNG to the circuit on the right side of this switch.
  • the light emission of the light emitting diode 709 is controlled by a switch circuit including a transistor 710 and resistors 71 1 and 71 2.
  • the control signal of this switch is POWER @N.
  • the diodes 713, 714, 715, and 716 constitute a bridge, and have a function of making the direction of current constant regardless of the direction of DC voltage applied to TIP and RING.
  • the circuit consisting of 717, 718, capacitance 719, transistors 720, 721, resistor 722, and NMOS transistor 723 is a DC closed circuit.
  • the NMOS transistor When the control output terminal GPO of the I-AFE 500 goes high, the NMOS transistor is turned off. When turned on, the Darlington transistor circuits 720 and 721 operate according to the bias of the resistors 717 and 718, and a loop (closed) current flows in a state balanced with the feedback resistor 722.
  • the circuit consisting of the resistors 724 and 18 V Zener diode 725 is a protection circuit that prevents excessive voltage application to the three-terminal regulator 726 and I-AFE 500.
  • the capacitance 727 is a smoothing capacitor, and the capacitances 728 and 740 are the I-AFE output circuit and signal coupling capacitor.
  • a modem When transmitting with a modem, first generate a POWER ON signal Turn on the NMOS switches 706 and 707 to connect the three-terminal regulator 726 to the line to supply current to the AFE. Then, set the GPO to high level from TXD through CONTR and turn on the NMOS switch 723 to turn on the loop current. To inform the central office that the modem has been connected to the line. Next, the modem sends a dial signal to the I-AFE 500 through the capacity 728, 440, and waits for the exchange to connect the other modem. Since the connected modems generate normal modem signals, they communicate with each other through the AFE.
  • Capacitance 729, Zener diodes 730, 731 are sensitivity adjustment circuits that do not respond to incoming signals below a certain voltage.
  • Resistor 732 is the current limiting resistor for diode 733 or light emitting diode 734.
  • Phototransistor 735 is resistor 736.
  • the POWER ON pin turns on the NMOS switches 706, 707 and 723 to turn on the power by supplying a loop current, and the modems 728 and 740 Returns a response signal. Transmission and reception of modem signals after this are almost the same as at the time of transmission.
  • the first feature is that all the analog input / output circuits, including the circuits of the individual components on the left side, are insulated from the digital input / output circuits on the right side of the I-AFE insulating camera array. Conventionally, the insulation is provided on the right side by using an insulating transformer. The transformer can be eliminated by the I-AFE of this embodiment, and a compact modem device can be constructed.
  • the second characteristic is that power is supplied from the station to the analog input / output side circuit of the I-AFE to supply power. Supply from the side This eliminates the need and contributes to a reduction in overall power consumption.
  • the third feature is that the switches of the individual parts are divided into the POWER ON switches 706 and 707 and the loop current switch 723, so that power is supplied to the AFE without flowing the loop current at the start of line connection.
  • it can be used for exchanging signals between modems and modems, such as caller ID notification.
  • the insertion position of the insulation bra in the AFE may be changed from that in Fig. 20.
  • an insulating plastic is placed between the ADC and DAC and the decimator and interpolator. Since the data transfer speed of this part is as fast as 2bit / wX2Msps or 6bit / wX2Msps, the insulated couplers are used in parallel, so that the delay time due to the transfer operation can be almost ignored. For this reason, for example, when the echo canceller or the termination is processed by the in-DSP, there is an advantage that the processing performance is less restricted than in the case of FIG.
  • a charge pump circuit may be used as the on / off control circuit of the NMOS switches 706 and 707.
  • the charge pump circuit includes a plurality of capacitors, a driver for supplying electric charges to the capacitors, and a plurality of switches and powers for controlling the supply of electric charges.
  • the driver and the switches supply electric charges to a certain capacitor, and then switch the switches.
  • This circuit obtains a voltage across another capacitor by repeating the operation of switching and transferring charges to another capacitor at high speed.
  • an on / off control circuit can be constituted only by silicon semiconductor elements by adding the insulation barrier according to the present invention, an inverter driver and a switching diode. Therefore, since the on / off control circuit can be integrated on the SOI substrate together with the I-AFE, the number of components of the modem device can be further reduced.
  • the chip layout has the effect of making the area smaller than 10% of the entire AFE.
  • the effect of significantly reducing the size is not changed as compared with the case where an insulating transformer or an insulating coupler using an external high withstand voltage capacitor is used.
  • Another characteristic of this integrated circuit is that it is economical because it is suitable for mass production.
  • FIG. 23 is a configuration diagram of an embodiment of a communication system in which a dem device and a host (PC) are combined.
  • reference numeral 810 is, for example, a discrete circuit portion described in FIG. 22, which includes a protection element, a connection switch, a DC closing circuit, a DC closing switch (DC loop), a call signal detection circuit, and the like.
  • DA A (Direct Access Arengment) means including: 81 1 is an isolation and filter such as I-AFE, AD and DA means, 81 2 is a modulation and demodulation means such as DSP, and 81 3 is a transmission control means consisting of 1 ⁇ [? 11, memory, software, etc. Yes, and these make up the modem section 800.
  • Reference numeral 801 denotes an application control means such as a PC, which includes an internal host CPU such as a WS, a PC, a PDA, a dedicated DSP, or a collective modem. This is the body control CPU, and is called the PC basic unit or host here.
  • an application control means such as a PC, which includes an internal host CPU such as a WS, a PC, a PDA, a dedicated DSP, or a collective modem. This is the body control CPU, and is called the PC basic unit or host here.
  • Fig. 23 (a) shows an embodiment in which signal processing is hierarchically divided among DSP, MPU, and PC, that is, an embodiment using I-AFE in a conventional modem configuration.
  • the expensive and large-sized insulating transformer in the DAA has been eliminated, reducing the number of photocobras, contributing to downsizing and economical equipment.
  • the monolithic insulating bra is built in the AFE, it can be combined with other parts if necessary. Further, the I-AFE and the DSP may be integrated so as to be integrated.
  • FIG. 23 (b) is a configuration diagram of one embodiment of a soft modem device using I-AFE.
  • the same reference numerals as those in FIG. 23 (a) have the same names
  • 822 is an interface (IZF) means for connecting the modulation / demodulation means 81 1 and the application control means 803. Includes 5Mbyte buffer memory and other control logic.
  • the feature of this configuration is that the modulation and demodulation means and transmission control means are batch-processed by the host CPU, thereby reducing the hardware of the modulation and demodulation means (DSP) 812 and the transmission control means (MPU) 913, and significantly reducing the number of modem devices. It achieves downsizing and economy.
  • the monolithic insulation bra may be combined with anything other than AFE.
  • the main function of the IZF means is to temporarily store AD and DA conversion data. If integrated with the I-AFE and integrated, the size of the modem device will be further reduced.
  • the 1 / means 822 may be integrated with the application control means 803. In modems such as notebook PCs, PDAs, collective modems, etc., where the modem and PC are integrated, Divisions are sparse and can be arranged according to other requirements.
  • I-AFE that is, the use of a monolithic insulating plug eliminates the insulating transformer, reduces the number of photocobblers, and reduces the size and cost. It is clear that this can be achieved.
  • the boundary between the modem section and the PC section includes a parallel bus such as the PCI standard and a serial bus such as IEEE1394 and USB, and the configuration of the present invention conforms to these. It is effective in expanding the application, and has the effect of downsizing and economy.
  • FIG. 24 is a system configuration diagram of still another embodiment.
  • 850 is a controller
  • 860 to 862 is an insulating plastic
  • 850 is a transceiver
  • 852 is a power regulator
  • 841 is an internal station that does not disclose but is another station, not shown, but further assumes a plurality of other stations, and these stations are a signal bus 871 and a power bus 87 2 and a control signal bus (not shown) and a network bus 870 including a power supply 880 are connected in parallel.
  • These stations consist of a controller and application circuit (controller-side circuit part) 850, a transceiver 851, and a power regulator 852 (network-side circuit part).
  • the transceiver 851 is connected to the controller and application circuit 8 through insulating brass 860 to 862 so that the network side circuit section is powered by the power bus 872. 50 and the signal bus 871 are connected.
  • the insulation bra connects the controller and application circuit 850 to the transceiver 851, and controls the standby operation of the transceiver 851.
  • a transceiver To communicate between one station 840 and another station, a transceiver must be By releasing the standby state and monitoring the received signal R, the signal bus 871 is found to be empty, and the transmission signal T addressed to another station is transmitted. Other stations sometimes release the transceiver from standby and monitor the received signal R, or monitor the status of the network bus control signal bus (not shown) to determine whether the signal is addressed to their own station.
  • control to continue receiving signals are merely examples, and modifications are possible.
  • the common thing about these devices connected to the network is the isolation of the network and the station. In other words, similarly to modems, it is essential that the network and the terminal do not spread the abnormal voltage even if it occurs due to other abnormal situations. Conventionally, expensive transformer photobras are required. It was used as this insulating means. For this reason, there was a problem of miniaturization and economy.
  • a monolithic insulating bra By applying a monolithic insulating bra, not only can the system be reduced in size and economy, but also it can be integrated into a IC by appropriately combining it with a controller circuit, transceiver circuit, etc. It also has the advantage of downsizing and economy.
  • Fig. 25 is a layout diagram of the insulation coupler corresponding to Fig. 16 when the insulator is not a one-stroke but allows a T-shaped or Y-shaped connection as shown in Fig. 15 (c). is there.
  • 201 to 207 are It has the same name as Figure 16.
  • the insulation band 206 which is a circle, has a Y-shaped connection at six locations, which insulate and isolate one input circuit area, two insulation barriers, and one output circuit area. are doing.
  • FIG. 26 is a block diagram of a digital insulating bra according to an embodiment of the present invention.
  • the primary circuit area, the insulation barrier, and the secondary circuit area are insulated and separated on the same semiconductor substrate.
  • P 1 s ⁇ in and P 1 s_out are an input pulse signal and an output pulse signal of the insulating bra, respectively.
  • Reference numeral 91 denotes a differential width circuit that generates a complementary pulse signal based on the input pulse signal P 1 s ⁇ in.
  • Reference numeral 902 denotes a capacitive insulating barrier that couples the complementary pulse signal driven by the differential amplifier circuit 91 with a high withstand voltage to the secondary side.
  • 90 3 is a differentiating circuit for differentiating the signal coupled from the primary side by the insulating barrier 90 2.
  • Reference numeral 944 denotes a transition detection circuit which receives the signal pair differentiated by the differentiation circuit 903, detects each edge of the differentiated signal pair, and amplifies it.
  • Reference numeral 905 denotes a pulse reproduction (demodulation) means for reproducing (demodulating) the input pulse signal P 1 s_in using the output signal of the transition detection circuit 4 and outputting the output pulse signal P 1 s_out.
  • all circuits including the insulating barrier 2 are configured in a monolithic IC, and the primary circuit region, the insulating barrier and the secondary circuit region are insulated and formed on the same semiconductor substrate.
  • Digital insulation bras can be downsized.
  • FIG. 27 is a specific circuit diagram of a digital insulation bra according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 28 is a diagram showing operation waveforms of the circuit of FIG. The operation of the circuit as a specific embodiment of the digital insulating bra according to the present invention will be described with reference to FIGS. 27 and 28.
  • reference numeral 910 denotes a differential amplifier circuit which receives an input pulse signal P 1 s-in and outputs a complementary pulse signal pair P 1 s-1.
  • the first stage consists of a CMOS differential amplifier, and outputs the result of comparison between the reference voltage Vref and the input pulse signal P1s_in as a complementary signal.
  • the driver of the next stage is composed of a CMOS inverter, and outputs a complementary pulse signal pair (output of differential amplifier circuit) P is-1 having an amplitude substantially equal to the power supply voltage.
  • 920 is a capacitive insulating barrier having a withstand voltage between the primary side and the secondary side.
  • the primary and secondary terminals are connected in the opposite direction to the high-potential power supply (VDD1 or VDD2) and to the low-potential power supply (VSS1 or VSS2), respectively.
  • a connection diode is provided to absorb surges due to noise and other factors.
  • the insulating barrier itself is also configured using a high withstand voltage capacitor (capacitor) formed in the same semiconductor integrated device.
  • Reference numeral 930 denotes a load resistor that constitutes differentiating means provided for outputting a differential waveform to the secondary terminal by capacitive coupling from the primary side.
  • the load resistance is provided so as to short-circuit the high-potential power supply VDD 2 and the terminal on the secondary side.
  • the secondary terminal is constantly fixed to the potential of the high-potential power supply VDD2, and when the primary terminal transitions from the “Hi” level to the “Lo” level, the “Lo” level Be A spike-like differential waveform is generated.
  • the 940 receives the differential signal pair P 1 s- 3, detects the rising edge and the falling edge of the input pulse signal P 1 s-in, and generates a one-shot pulse P 1 s- 4. Circuit.
  • a pair of CMOS differential amplifiers is used in which the differential signal pair P 1 s ⁇ 3 is connected in reverse to each other and used as an input signal.
  • Each pair of CMOS differential amplifiers outputs a single-ended signal. Since the input signal of the CMOS differential amplifier is constantly at the same level, the load was configured with a PMOS current mirror.
  • the CMOS differential amplifier outputs a differential output (individual CMOS differential amplifier) corresponding to the potential difference only when a potential difference occurs between the differential signal pair P 1 s-3 (the input pulse signal P 1 s-in transitions). Outputs single-ended output) PI s-40 is output. Therefore, the output P 1 s__40 of the pair of CMOS differential amplifiers is constantly at the same level. For this reason, it is necessary to design the output of the next-stage PMOS input level conversion circuit so as not to output an intermediate level (a level near the logic threshold value of the next-stage gate) when the input signal is at the same level.
  • the pulse regeneration (demodulation) circuit composed of the flip-flop at the next stage is received by the NAND gate of the CMOS, so that when the PI s-40 is at the same level, the “H i” level is output.
  • the gate width of the MOS of the level conversion circuit is designed. Therefore, the level conversion circuit calculates the ratio of the gate width Wp 1 of the PMOS 1 on the input side to the gate width Wn 1 of the NMOS 1 and the gate width Wp 2 of the PMOS 2 on the output side and the gate width Wn of the NMOS 2 The ratio of 2 should not be the same. Both outputs of the transition detection circuit 940 are normally at the “H i” level.
  • the output is switched to one at the rising edge and to the other at the falling edge.
  • Generates a level one-shot pulse. 950 reproduces the input pulse signal P 1 sin to the secondary side based on the output signal P 1 s— 4 of the transition detection circuit and outputs the output pulse P 1 s—
  • This is a pulse reproduction circuit composed of flip-flops that output ont.
  • the present embodiment is an example in which a pulse regeneration circuit is configured by a flip prop composed of two sets of CMOS-NAND gates and a driver of one set of CMOS inverters. If necessary, a means for resetting the flip-flop can be incorporated.
  • the output stage CMOS inverter of the differential amplifier circuit 910 sets the transition time of the falling edge when the logic threshold VLT is set lower than (VDD-VSS) 2 as in a CMOS inverter, for example. And the variation in timing can be suppressed.
  • the delay time of the circuit is not particularly mentioned, but the delay time of the circuit is sufficiently smaller / compared to the pulse width of the input pulse signal or the like related to the description of the operation. Although there is a delay time, no special consideration is given.
  • CMRR is an abbreviation for Coup on Mode Rejection Rate, which is the so-called common-mode signal rejection ratio.
  • the circuit is composed of simple CMOS gates, it can sufficiently cope with low voltages of 5 or less (up to about 1.8) and has the effect of reducing power consumption.
  • the SOI wafer substrate is normally used by grounding, the substrate is set to a floating potential so that the input circuit and the output circuit are doubled.
  • a buried insulating layer is included, so that higher withstand voltage can be achieved.
  • Fig. 29 shows how to reduce the effect of crosstalk between insulating bras, which can be a problem when the substrate is set at a floating potential, when multiple insulating bras are mounted on the same SOI semiconductor substrate. Means are shown.
  • Terminals POWER 1 and POWER 2 are power supply terminals for supplying the primary and secondary circuits of the insulating bra, respectively, and are connected to the substrate 965 of the SOI wafer by capacitors 963 and 964, respectively.
  • the capacitances 966 and 967 are stray capacitances existing between the insulating plugs 961 and 962 and the substrate 965, and most are coupling capacitances between the insulating barrier and the substrate.
  • the capacities 963 and 964 are described as separate components from the semiconductor.
  • the circuit area other than the insulating bra is large, such as IAFE, and as a result, the primary circuit and No additional capacitance is required if the combined doses of the secondary circuit and the substrate are large.
  • the same operation and effect can be obtained even when the plurality of insulating bras face different directions.
  • the above external capacitor can also be used as a crosstalk countermeasure. It is also possible to use a surge absorbing element as this capacitance, and in this case, in addition to the above-described effects, a surge suppression effect can be obtained.

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Description

明細書
容量性絶縁バリヤを用いるモデム装置及び絶縁力ブラ並びにモデム装 置に用いられる集積回路 技術分野
本発明は、 半導体素子、 半導体素子上に形成したキャパシタ、 特に 高電圧を印加しても、 素子を破壊せず危険電圧が二次側に通過しない 高耐圧のキャパシタである絶縁バリャ、 この絶縁バリャを用いて電気 信号を伝達する絶縁カプラあるいはアイソレータあるいは絶縁アンプ (以下、 絶縁力ブラと称す) 、 及び、 絶縁力ブラを用いた応用回路、 特にモデム装置等の回線インターフェイス回路及びその I c、 及び、 これらを用いたモデム装置及びシステムに関する。 背景技術
通信分野では、 公共性の高いネットワーク設備の保護と端末の保護 のために、 ネットワークと端末の境界 (以下、 回線インターフェイス と称す)に高い絶縁性を要求しており、 従来から絶縁性の高い通信用 の小型トランスが使われてきた。 しかし、 パーソナル端末の普及発展 に伴いポータブル端末用として更なる小型化及び軽量ィ匕が要求されて おり、 トランスに使用する材料や構造の改良では小型化の要求に十分 答えられない問題が出てきて、 絶縁力ブラの応用が検討されている。
また、 計測, 医療などの用途では、 センサと信号処理回路など、 信 号検出部分と信号処理部分とを絶縁する必要がある場合があり、 絶縁 力ブラは、 このような場合に、 絶縁分離手段として知られている。
これらは、 信号電圧が 1 0 O mV程度であるのに対して、 商用電源 が接触する場合も想定しているのでコモンモード雑音電圧は 1 0 0 V あるいはそれ以上の電圧が加わる場合がある。 これらの点から絶縁力 ブラと回線インターフェイスは、 高耐圧, 小型化, 低価格化という観 点で共通的な課題がある。 - 絶縁力ブラは、 絶縁トランスの機能そのものでもあるが、 信号伝達 時に雑音の混入する問題があり、 例えば、 商用電源からの大きなコモ ンモード雑音電圧が加わると小信号伝送用のトランスでは信号伝送の 用をなさない場合があり、 専用のパルストランスを用いたトランス型 絶縁力ブラが使われている。 また、 絶縁トランスを用いた絶縁力ブラ は、 一般にその実装形態が大きくなり、 また、 高価になりがちである これを改善するために、 発光素子と受光素子を組み合わせた光力プ ラを用いた絶縁増幅器が考案された。 しかし、 光力ブラ型絶縁増幅器 は、 温度などで特性が変化しやすく、 高精度化のために、 発光受光ダ ィオードの数や配置, 回路等の改善が提案されているが、 高価である 。 また、 ユーザーからは、 更に小型化の要求があるが、 特に、 モノリ シック半導体ィ匕しょうとすると、 シリコン半導体プロセス以外に発光 , 受光用の他の物質の半導体プロセスが必要で、 何種類もの製造プロ セスを使用することにより著しく高価になることが予想され現実的に は実現出来ない。
小型化, 高信頼化, 低価格化の目的で、 容量性絶縁力ブラが開発さ れている。 絶縁バリヤを構成する個別部品としての高耐圧のキャパシ タ技術は電力用あるいはサージ保護用セラミックキャパシタが知られ ており、 これを用いた信号伝送用の回路プロックは容量性絶縁アンプ または容量性絶縁力ブラと呼ばれ、 1 9 7 0年代から使われている。 容量性絶縁バリャを通じて信号を伝送する際の伝送方式には、 主に P WM方式 (パルス幅変調方式あるいはデューティ制御方式と呼ばれ る) が使われるが、 PWM技術は、 この容量性絶縁力ブラに使われる 以前に、 絶縁トランスや光力ブラを用いた絶縁バリヤの構成技術とし て知られている。
容量性絶縁力ブラでは、 さらに、 小型化, 低価格化, 高信頼化を目 的として、 セラミック基板上に形成した小容量キャパシタの絶縁バリ ャとフローティングコンパレータを用いて、 デューティサイクル変調 方式の絶縁増幅器が提案されている。 また、 さらに小型化するために 容量値を下げる提案があり、 約 1ないし 3 pFと小さい絶縁バリヤを用 いて伝達波形を微分波形とし、 微分波形から F M (周波数変調) や P WM変調波形を再生してから、 復調する絶縁増幅器の技術が提案され ている。
モデム等の回線インターフェイス応用では、 USP4, 757, 528
[Thermally coupled Information transmission across
electrical Isolation boundaries. ] (以下 5 2 8特許と称す) 及 び ISSCC86 conference record THPM14. 3 (以下 "発表,, と称す) で Scott し Falater (Harris Semiconductor) らは、 容量性絶縁ノくリャ を用いたモノリシック半導体化のアイディアについて開示している。 また、 モノリシック化ではないが、 特開平 7— 307708 号公報では、
3つの容量 1"生絶縁バリャとこれを用いたデジタル P WM信号伝送のモ デム応用回路方式が提案されている。
今後、 これらの回路は、 さらに、 小型化, 低価格化の要求があり、 この観点で、 これら従来技術を検討すると以下のような課題と問題点 力 Sめる。
5 2 8特許以前の技術は、 高耐圧性能を有する絶縁バリヤと、 入力 信号を受けて PWM波形を作成する入力回路と、 PWM波形を再生し 復調する出力回路とは別部品であり、 これらを組み合わせて実装し、 1つの絶縁力ブラとして構成している。 例えば、 セラミック基板上に 容量性絶縁バリヤを構成し、 同一パッケージ上に、 2つ以上の半導体 チップを実装して、 絶縁力ブラを構成している。 つまり、 多くの部品 を使用した構成になっている。
また、 5 2 8特許及び発表では、 モノリシック半導体で応用回路で ある回線インターフェイスを構成するアイデアとして、 原理となる回 路模式図と説明によつて容量性絶縁バリャと P WM伝送方式を用レ、る ことが示されている。 また製法は、 モノリシック半導体上に D I (誘 電体分離) プロセスによる容量性絶縁バリャと P WM回路からなる絶 縁力ブラを形成し、 この絶縁力ブラを組み合わせて、 音声帯域の信号 を伝送するとしている。 し力 し、 開示されているのは熱パルスによる 絶縁スィツチの制御に関する技術であり、 モノリシック半導体基板上 に、 どのような構造の絶縁バリヤや回路を、 どのような方法によって 構成するのか、 その結果どのように動作して、 どのような効果を示す のかは開示されていない。
さらに、 特開平 7— 307708 号公報では、 従来 1つの伝送パスに 2つ の絶縁バリヤが使われてきたのに対して、 3つの容量性絶縁バリヤで 3つの信号を伝送する回路構成が示されているが、 どのように動作さ せて信号伝送するのかは示されていない。 もちろん、 これらの回路を 絶縁バリヤを含めてモノリシック化する提案はない。
ユーザーは、 モデム回路や絶縁力ブラの更なる小型化と低価格を要 求しており、 この実現のためには、 モノリシック半導体化を進めるこ とが必要不可欠だと考えられる。 しかしながら、 以上のような従来の 技術は、 モノリシック I C化絶縁力ブラ, モノリシック I C化応用回 路、 及び、 モノリシック I C化回線インターフェイス回路を実現する に当たって、 容量性絶縁バリヤ, 容量性絶縁バリヤを用いるための回 路、 それらの配置, 配置した回路間の絶縁方法などを、 半導体基板の 上に、 どのように構成して、 どのように動作させるのかの技術につい ては、 開示されていない。 従って、 モノリシック I C化する際にどの ようにして絶縁耐圧を実現するのか、 また半導体上に作成した高耐圧 容量の特性もまつたく知られていなレ、。
また、 複数の絶縁力ブラを同時に平行して動作させる場合には、 一 般に、 ある絶縁力ブラの動作によって定常的にノイズが発生し、 発生 するノイズにより他の絶縁力ブラにクロストークが生じて絶縁カプラ の伝送特性に影響し、 これによつて、 絶縁バリヤを経由して伝送する 信号の S /Nが劣化する。 特にモデム応用のように信号レベルが小さ い上に、 上りと下りの信号の振幅が大きく違う場合には小さなクロス トークも問題である。 し力 し、 これらの問題点に着目して対応した公 知技術はない。 発明の開示
本発明の目的は、 回線と端末の間に必要な絶縁手段を内蔵しつつ、 小形で経済的な回線インターフェース回路およびモデム装置を実現す ることにあり、 この為に必要なモノリシックの絶縁バリヤ、 及び、 該 絶縁バリヤを用いたモノリシック絶縁力ブラ、 及びこれを用いた応用 回路 I C、 特に回線インターフェイス回路 I Cを実現することにある o
本発明の他の目的は、 半導体基板上に容量性絶縁バリャを構成する 技術を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、 半導体基板上に容量性絶縁バリヤを用 レ、た絶縁力プラを構成する技術を提供するにある。
本発明のさらに他の目的は、 半導体基板上に絶縁力ブラを複数用い た応用回路とくに回線インターフェイスにおいて、 その構造, 配置, 動作方法を提供する。 さらに、 絶縁力ブラ間のタイミングの同期方法 などタイミングハザ一ドゃクロストークによる信号の劣化を低減する 技術を提供するにある。 本発明のさらに他の目的は、 絶縁力プラを用いて回線ィンターフェ ィスを構成するに対して、 回線で通信じなレ、ときに低漏洩電流を実現 することにある。
本発明のさらに他の目的は、 絶縁カプラにおけるサージ電圧に対す る破壊耐カ改善技術を提供するにある。
本発明のさらに他の目的は、 絶縁力ブラを使用することによってモ デム装置およびシステムを小型化、 経済化することにある。
本発明では、 大サイズで、 且つ高価という従来の問題点を解決する ために以下の手段を用いる。
(1) 絶縁バリヤとして、 埋め込み絶縁層を内層とする半導体ゥエー ハ (SO Iゥエーハ) の表面に、 絶縁層に達する絶縁性の帯 (以下絶 縁帯と称す) を形成し、 該絶縁帯の側壁の間で絶縁バリヤを形成する よ
( 2 ) 絶縁バリャ及び絶縁帯で囲んだ複数の回路領域を形成して領域 間を絶縁し、 モノリシック化した絶縁力ブラを形成する。 なお、
(3) 絶縁力ブラには、 キャパシタ出力を受ける回路にはアンプゃコ ンパレータなどの少なくともキャパシタ出力信号用の増幅手段を設け る。 7こ、
(4) モデム装置等の回線インターフェイス回路には、 複数のモノリ シック絶縁力ブラと回線側回路と端末側回路とを設ける。
(5) I C集積化の形態は
①高耐圧デバィスを含む回線側回路
②低耐圧デバイスである AFE (Analog Front End) を含む端 末側回路
③全てを一体化する形態があり、
これらはモノリシック絶縁カプラによってサポートされる。
(6) 低圧側としては特に AFEに複数のモノリシック絶縁力ブラを 内蔵する形態がある。
( 7 ) モノリシック A F E集積回路 (Ί -A F E ) を用いて回線イン ターフェース回路を構成し、 モデム回路を実現する。
( 8 ) D S P (Digital Signal Processor) と I— A F Eとからなる モデム回路と接続して動作させるに、 D S Pの動作クロックを利用し て D S Pと I一 A F Eとこれら絶縁力ブラのタイミング同期を取る。
このようにすることで、 絶縁層と絶縁バリャによつて高耐圧を実現 し、 増幅手段によってストレーキャパシタによる信号振幅の低下を補 償し、 または動作タイミングを同期することによってクロストークに よる信号の劣化を低減して、 小型で高性能な絶縁力ブラ及びモデムィ ンターフェイス回路を実現することができる。
以下さらに、 本発明について、 若干具体的に説明する。
本発明では、 埋め込み絶縁層を内層とする半導体ゥエーハを加工し て、 絶縁バリヤ, 絶縁力ブラ, 絶縁力ブラの応用回路、 特に回線イン ターフェイス回路を形成し、 必要に応じて絶縁層と配線層を重ねて、 さらに、 絶縁を兼ねた保護層を形成して半導体 I Cとする。 各回路は 、 絶縁層と絶縁帯と絶縁保護層で囲み、 絶縁する。 絶縁帯とは、 例え ば半導体層の表面から絶縁層に達する 1ないし 3ミクロン幅程度の帯 状の絶縁パターンであり (厚さは半導体層の厚みに等しく、 例えば 1 0ないし 5 0ミクロンになる) 、 絶縁帯は、 半導体面から絶縁内層に 達する所定パターンの溝を形成しこれを絶縁物で埋め込むトレンチ法 、 また、 半導体層に酸素イオンを打込んで絶縁領域を作成するイオン 打込み法などによって形成する。 以下、 絶縁帯で囲んだ部分を電極領 域, 回路領域などと "領域" を付けて称す。
本発明の絶縁力ブラの回線インターフェイス応用では、 複数の絶縁 力ブラを内蔵する必要があるが、 この場合、 複数の容量性絶縁力ブラ と回線側回路と端末側回路とを設けたモノリシック回線ィンターフェ イス I Cを D S Pと A F Eとからなるモデム回路と接続して動作させ るに、 D S Pと A F Eとこれら絶縁力ブラの動作クロックのタイミン グの同期を取る。 また、 モデム信号受信用の絶縁力ブラの搬送波クロ ックは、 直流閉結制御信号伝達用力ブラのクロックから再生して用い る。 また、 直流閉結制御は、 絶縁バリヤを使用したチャージポンプ回 路によって CMO Sスィツチを駆動して直流閉結する。
本発明の絶縁力ブラにおける絶縁バリヤは、 絶縁帯で囲んで電極領 域を形成し、 複数の電極領域が絶縁帯の一部を共有するように、 また 、 共有長が必要な容量値を得る長さになるように配置してキャパシタ を構成する。 なお、 3つ以上の電極領域が 2つ以上の絶縁領域を共有 するように絶縁帯の形状及び配置を設定することによって、 つまり、 多重トレンチによって、 直列接続したキャパシタを形成するようにし てもよい。 また、 埋め込み絶縁層は、 該絶縁帯の幅に対応した絶縁性 能を持つ厚さとする。
本発明の絶縁力ブラは、 該絶縁バリヤと入力回路と出力回路とを同 ーゥエーハ上に形成することで実現する。 各回路は、 各々絶縁帯で囲 んで他の部分と絶縁する。 絶縁バリヤは、 原則として入力回路領域及 び出力回路領域の境界に配置する。 また、 これらの回路領域と絶縁バ リャを一まとめにしてさらに絶縁帯で囲むようにする。 入力回路及び 出力回路には各々 PWM変調回路及び PWM復調回路、 あるいは、 目 的によっては、 他の回路、 例えば、 音声周波数帯の信号では∑△変調 回路及び復調回路など、 振幅方向だけではなく時間軸方向もデジタル 化した回路を含める。 なお、 絶縁バリヤと入力回路及び出力回路との 間にダイォードなどの非線型素子で構成した保護回路を配置する。 保 護回路は回路領域の内部に配置する。
本発明の応用回路は、 絶縁力ブラに、 さらに、 絶縁帯で囲んだ応用 回路領域を配置することで実現する。 複数の該絶縁力ブラを含む場合 には、 絶縁バリャを絶縁バリャ配列ラィンに沿って配列してもよレ、。 複数の絶縁力ブラを動作させる場合には、 搬送クロックは必要に応じ て同期させる。 回線インターフェイス回路への該絶縁力ブラの応用で は回路領域に CMO S回路を含むように、 特に、 CMO S回路領域を さらに電源線に接続する PM〇 Sグループ及び接地線に接続する NM 〇Sグループに分けて、 絶縁帯によって分離してもよい。 電源配線は 複数の絶縁力ブラ間にレイァゥトする。 各絶縁力ブラの周囲を電源線 及び接地線で囲んでもよい。 例えば、 CMO S回路にすると、 制御電 流が不要な電圧制御、 および、 高オフ抵抗が得られる利点がある一方 で寄生トランジスタを含めた PM0Sと NMO Sの貫通現象つまりラッチ アップが生じがちであるがこのように領域を分離することで生じにく くできる利点がある。
絶縁内層ゥエーハを用いることで厚さ方向の高耐圧を実現し、 同一 ゥェ一ハ上に共有する絶縁帯を持つ 2つの電極領域を形成することで 極めて小型の絶縁バリヤを実現し、 また、 同一ゥエーハ上に該絶縁バ リャと入力回路及び出力回路の 2つの回路領域を形成することで極め て小型の絶縁力ブラを実現できる。 さらに、 電極領域を重ねることで 容量を直列に接続して水平方向の高耐圧を実現することにより、 プロ セスの制約から、 1つの絶縁帯の幅を広げられない場合でもさらなる 高耐圧を実現できる。 さらに、 直列容量の配置に際して中間電極をフ ローティングとすることで強電界部分の跨ぎ配線を少なくなくするこ とができる。
複数の絶縁力ブラを用いる応用の場合には、 電極及び絶縁帯など容 量性絶縁バリャの配置を揃えることで、 絶縁性能を均質にすることが でさる。
回線ィンターフェイス応用の場合に、 複数の絶縁力ブラの搬送ク口 ックを同期化することで、 伝送信号への PWMクロストークを最小に することができる。 また、 回路方式を CMO S回路方式とすることで 、 回線接続スィッチである直流閉結の制御回路を、 チャージポンプを 用いて、 電圧制御することができる。 CMO S回路方式は、 オフ時の スィッチの高インピーダンスを実現し、 低漏洩電流を実現する。 なお 、 絶縁バリヤの各端子には外部接続端子と同様に保護回路を設けるこ とで、 サージ雑音によるデバィス破壊を防止することができる。 図面の簡単な説明
第 1図は本発明の 1実施例のモデム装置の回路プロック図。
図 2は第 1図のモデム装置の動作タイミングチャート。
第 3図は第 1図内の絶縁力ブラの回路ブロック図。
第 4図は第 3図の絶縁力ブラの動作タイミングチヤ一ト。
第 5図はモデム信号処理と絶縁力ブラのタイミングチャート同期。 第 6図はタイミング同期の効果を示すタイミングチヤ一ト。
第 7図は第 1図の回路における回線インターフェイス回路の I Cの レイァゥト。
第 8図は第 7図の I Cにおける絶縁力ブラの構造図。
第 9図は第 7図の I Cにおける絶縁バリヤの構造図。
第 1 0図は回線インターフェイス I Cのレイァゥトの変形例。
第 1 1図は本発明に適用する絶縁力ブラ方式の回路ブロック図。 第 1 2図は本発明の他の実施例のモデム装置の回路プロック図。 第 1 3図はモデムの他の実施例の効果を示すタイミングチヤ一ト。 第 1 4図は回線インターフェイス回路の I Cの他の実施例の構造図 o
第 1 5図は本発明の絶縁バリャの他の実施例の構造図。
第 1 6図は本発明の絶縁力ブラの実施例の構造図。
第 1 7図は本発明の絶縁力ブラの他の実施例の構造図。 第 1 8図は本発明の絶縁力ブラのさらに他の実施例の構造図。
第 1 9図は本発明の回線インターフェイス I Cを使用したモデム装 置の構造図。
第 2 0図は本発明のモノリシック絶縁カップラを内蔵する回線イン ターフェイス回路の実施例の回路プロック図。
第 2 1図は第 2 0図の回線インターフェイス回路の I C (I- AFE)の レイァゥト構想図。
第 2 2図は第 2 1図の I C (I- AFE)を用いたモデム回路の実施例。 第 2 3図は第 2 1図の I C (I- AFE)を用いたモデム装置の実施例。 第 2 4図は本発明のモノリシック絶縁力ブラを用いた他の通信装置 の実施例。
第 2 5図は本発明のモノリシック絶縁力ブラの他のレイァゥトの実 施例。
第 2 6図は本発明のモノリシック絶縁力ブラの他の実施例の回路ブ ロック図。
第 2 7図は第 2 6図の詳細回路図。
第 2 8図は第 2 7図の詳細回路図の動作タイミングチャート。
第 2 9図は複数の絶縁力ブラを同一の S O I基板に搭載した実施例 の回路ブロック図。 発明を実施するための最良の形態
以下、 実施例にしたがって本発明を説明する。
第 1図から第 9図を用いて本発明の 1実施例であるモデム装置につ いて説明する。
第 1図は本発明の 1実施例のモデム装置の回路プロック図であり、 第 1図において、 1はモデム、 2は回線インターフェイス回路であり 、 モデム回路 1は D S P (Digital Signal Processor:デジタ ル信号処理専用プロセッサ) 3および A F E (Analog Front End) 4から、 また、 回線インターフェイス回路 2は端末側回路 5, 絶縁力 プラ 6, 回線側回路 7, 高電圧回路 8からなつている。 モデム 1の中 での DSP 3と AFE4の役割は、 D S P 3がデジタル信号処理、 A F Eがデジタル回路とアナログ回路とのィンターフェイスを受け持つ ている。 モデム機能の大部分は、 DSP 3が受け持つ。 即ち、 DSP 3は、 端末との間のデジタル情報をやり取りする一方で、 デジタル信 号処理によって変調, 復調, 符号化, 復号化, フィルタ処理の処理を 行い AFE4とデジタル信号をやり取りする。 AFE4は、 ADAnal og to
Digital) 変換や DA ( Digital to Analog ) 変換及びフィルタなど を受け持つている。 回線インターフェイス回路 2は DAA (Direct Access Arrangement) とも言い、 モデムのアナ口グ信号を直接に電話 回線に接続すると同時に、 モデムに応対する交■との間で、 回線側 回路 7及び高電圧回路 8によって、 回線接続, ダイヤル信号送出, 着 信信号検出などの信号をやり取りする機能を持つているほかに、 交換 機と端末との間の安全上のインターフェイス機能が必要で絶縁力ブラ 6は、 この安全上の境界になるものである。
DSP 3の内部は ROM (Read Only Memory:読み出し専用メモリ ) 31, PU (Processing Unit:演算ユニット) 32, RAM (
Random Access Memory:読み書きメモリ) 33, システムインターフ ェイス 34, SOR (シリアル出力インターフェイス) 35, S I R (シリアル入力インターフェイス) 36, I/O (入出力インターフ ヱイス) 37, CONT(DSP内部の制御部) 38からなつており、 3つのバス 39— 1, 39— 2, 39— 3で接続している。 D S P 3 は DSPのシステム制御回路 CONT38内のソフトによって制御さ れ、 約 40MHzで動作し、 HOST— I Fを通じた端末装置からの 指令により動作し、 またデータを授受する。 通常のモデムは送信と受 信の同時通信能力があり、 送信データは、 HOST— I Fから入力す ると一旦 RAM33に蓄積され ROM31内のデータ、 既に蓄積され た送信信号を用いて信号変換や符号化ゃフィルタ処理を施して S O R 35を通じて出力される。 また、 受信信号は AD信号を S I R36か ら入力した後、 RAMに格納してある送信信号や既に受信した信号と ROM31内のデータを用いて各種フィルタ処理や判定処理, 符号変 換、 などを行う。 I/O 37は DSP 3から外部の回路を制御するた めの制御信号入出力機能を持っている。
AFE4は、 DA変換器 41, 0変換器42, クロック分周器 4 3からなつており、 主として、 フィルタや変復調処理をつかさどる D SP 3がモデム信号を入出力するインターフェイス手段をになう。 端 末側回路 5は、 データ及びクロックの接続回路である。 絶縁力ブラ 6 は、 送信パス 61, 受信パス 62, OF HKパス 63, Rd e tパス 64からなつており内部構成や動作についての詳細は、 後述する。 回 線側回路 7は、 2線 Z4線変換回路 71, SW制御回路 72, OSC (ローカル発信回路) 73からなつており、 2線 Z4線変換回路 71 は送信信号パスと受信パスの計 4線と回線側の 2線とを送信信号が受 信側に回り込むのを抑制するハイプリッド回路手段である。 高電圧回 路 8は、 直流閉結回路 81及び呼出信号を検出する R i n g (呼出信 号) 検出回路 82からなつており、 直流閉結回路 81は回線接続する 2つの端子 T I P及び R I NGに接続して、 制御信号 OFHKのパス 63および SW制御回路 72により直流ループを作る手段である。 このモデム回路の構成上の第 1の特徴は 4つの絶縁力ブラ 6によつ て回線側と端末側の回路を分離していることである。 当然電源も分離 しており、 回線側電源は、 交換局からの給電を用い、 端末側は端末の 電源を用いる。 第 2の特徴は基本クロックを DS P 3から供給してい ることにあり、 図中太い矢印線で示したように、 タイミング信号は、 モデム 3の CONT 38かち供給したクロック信号 DS PCLKを用 いてクロック回路 43からモデム内の AFEの AD変換タイミング ( MCLKS) , DA変換タイミング (MCLKR) , モデム 3のデー タ伝送タイミングを得るとともに、 回線インターフェイス回路 2に供 給して絶縁力ブラ 6の送信パス 61及び制御信号送出用絶縁力ブラの OFHKパス 63に与える。 一方、 モデム信号の受信パス 62は OF HKパス 63の再生クロックを用い、 また、 制御信号受信用絶縁カプ ラの Rd e tパス 64は受信待機から R I NG信号受信時のみ有意な ので OF HK信号で発振を制御するものとする。 このようにすること で Rd e t信号パス以外はモデム 1内の DS P 3の動作タイミングに 同期してする。 このようにすることにより後述する効果が得られる。 次に、 第 2図用いてこの回路のモデム機能としての動作を説明する 。 第 2図には、 送信時 (a) と、 受信時 (b) に分けたタイミングチ ヤートの一例を示している。 送信時は、 最初に、 端末からの指令に従 つて D S P 3が I O 37を制御して直流閉結制御信号 OF HKをォ ンする (T 1) 。 直流閉結に対して、 回線 (即ち、 交換機) が応答し たならば (T2) 回線インターフェイス回路 2からダイヤル信号を送 出する。 これは、 OFHK端子を回線規格に合わせてオンオフし直流 閉結をオンオフすることで実施する。 例えば日本では 1 OPPS (pu lse per second以下同じ) または 2 OPPSである。 ダイヤル信号送 出を終えると(T 3)、 端末は、 回線が相手側モデムと接続されるのを 待って (T4) 、 モデム 1を起動し送信を開始する。 モデム 1は起動 指令にしたがって、 あらかじめ決められた手順にしたがって DS P 3 の SOR35および AFE4の DA変換器 41を通じて送信信号 TX A +および TXA—を発生し、 相手モデムとの通信を立ち上げる。 回 線インターフェイス回路は、 TX A信号を絶縁カプラ 6の送信パス 6 1を通じて 2線 Z 4線変換回路 71に供給する。 2線 4線変換回路 71では受信側への回り込みを低減して、 直流閉結回路 81を通じて T I P及び R I NG端子から回線に送信信号を送出する。 この送信信 号に相手モデムが応答する (T5) と回線上に相手モデムの信号が見 えて、 逆の経路をたどって、 2線 4線変換回路 71で受信信号が選 別され、 絶縁カプラ 6の受信パス 62, 八 £の八0変換器42, D S P 3の S I R 36を経由してモデム 1に引き渡され、 DS Pの信号 処理によって増幅し、 フィルタ処理し、 復調し、 デジタルデータを復 元し、 受信データとしてホストに引き渡す。 通信を停止するときには 、 端末は、 モデム信号のより上位のプロトコルによって端末同士の停 止情報をやり取りした後で夫々のモデムに停止指令を出し(R Sオフ) 、 モデムがこれに応じて信号を停止する (T6, Τ7) 。 このやり取 りを終えた時点で (Τ8) OFHKをオフする。 このようにすると、 回線接続端子 T I Ρと R I NG間には Τ 1から Τ 8までの各タイミン グに対応して概略第 2図の "T I Ρ— R ING間" のような信号が現 れる。
受信時には、 回線側から R I NG信号によって起動がかかり (T 1 ) 、 回線インターフェイス回路は、 これを R I NG検出回路 82で検 出すると、 速やかに絶縁カプラ 6の Rd e tパス 64を通じてモデム 3に伝達する。 モデム 3は、 これを 1ノ〇回路 37で知り、 これに応 答すると送信時同様に直流閉結制御信号◦ F HKを出力して直流閉結 する (T2) 。 直流を閉結すると局の交換機は R I NG信号を停止す る (T3) ので回線の整定時間を待って (T4) 相手モデムがモデム 信号を送信してくるので、 これを信号 RXA +および RXA—として 受信して、 受信側モデムがモデム信号であると認識すると、 これに応 答して送信を開始する (T5) 。 通信が完了するときも、 T6, T7 , Τ8と、 送信時とほぼ同様のシーケンスで終了する。 これらの受信 動作の間、 T 1から T 8までの各タイミングに対応して回線には図の ような信号 (模式的に示す) が現れる。 この動作自体は、 通常、 規格 に従ってレヽる。
図 3は、 第 1図の実施例内の絶縁カプラ 6の一パスの回路ブロック 図であり、 図 3において、 9—1および 9一 2は後述する容量性絶縁 バリヤ、 21は入力回路、 22は出力回路で、 この絶縁バリヤによつ てモデムの端末と交 ^との間の安全上の境界を実現している。 入力 回路 21は、 端子 103を電源及び信号入力とし、 変調回路 104, 駆動回路 105, 保護回路 106からなつており、 入力されたアナ口 グ信号を変換及び変調して PWM (Puis Width Modulation) 信号に 変換し、 絶縁バリヤ 9—1及び 9一 2を通じて出力回路 22に信号を 伝達する。 出力回路 22は、 保護回路 107, 検出回路 108, 復調 回路 109からなつており、 端子 1 10から電源を供給し、 絶縁バリ ャ 9を通じて来た信号を検出回路 108で検出し、 検出信号から積分 回路 1 35及び比較回路 1 37によって PWM信号を再生し、 また、 PWM信号から入力信号に対応したアナログ信号を再生する。 また、 検出した信号からタイミング信号を抽出して、 これらの信号を出力す る機能がある。
入力側の端子 103には、 電源端子 VDD 1および VDD2, 接地 端子 VSS 1、 信号入力として十と一の差動入力、 また、 変調タイミ ングとなるクロック入力端子がある。 変調回路 104は、 比較回路 1 1 1、 および搬送波発生回路 1 1 2からなつている。 駆動回路 105 は、 PMOSトランジスタ 1 1 3および 1 14と NMOSトランジス タ 1 1 7および 1 18とからなるインバータドライバである。 保護回 路 106は、 ダイオード 121, 122, 123, 124と抵抗 1 2 9, 130からなり、 出力回路 22側からのサージ電圧進入による回 路破壊を防止する。 出力回路 22側の保護回路 107は、 抵抗 1 31 , 1 32、 およびダイオード 1 25, 126, 127, 1 28からな り、 検出回路 108のトランジスタのゲートを保護している。 PMO S 1 1 5, 1 16および NMOS 1 1 9, 120は帰還抵抗 133及 び 1 34を持つィンバータ構成の検出回路である。 検出回路 108の 出力は積分回路 1 35に接続する。 積分回路 135は、 ィンバータ出 力信号から PWM波形を再生する。 1 36は搬送波のタイミングを再 生する回路であり、 1 37は比較回路である。 出力回路側の端子 1 1 0は、 電源端子 VDD3, VDD4と VS S 2から電力を供給して、 処理結果の相補型の信号出力十, —とタイミングクロックを出力する 。 この構成の特徴は、 (1) 2つの絶縁バリヤ 9— 1, 9一 2を用い ていること、 (2) 外部クロック入力であること、 (3) 再生クロッ ク出力があることである。 なお、 通常の入出力保護回路であるために 表記しなかったが、 この回路ブロック図における端子 103のうち、 信号入力十と一およびクロック入力には、 絶縁力ブラとして単独使用 する場合には、 入力保護回路を設ける。 また、 この回路構成の説明で は PMOS及び NMOSの組み合わせとして示したが、 目的によって は、 バイポーラプロセスや混在プロセスであってもよい。 また、 絶縁 力ブラを単体使用するのが目的であるときには、 クロックを内部発生 せさせるようにしてもよい。
次に、 第 4図を用いて、 この実施例の絶縁力ブラの動作を説明する 。 第 4図は、 図 3の絶縁力ブラの動作タイミングチャートであり、 信 号伝送方式は、 PWM (パルス幅変調) 方式である。 伝達すべき波形 である入力信号の周波数帯域 (ここでは最大約 3.4 kHz) より十 分高い (ここでは 1.2288 MHz : 256倍以上) 搬送波を用い 、 時間軸を細かい周期 T毎に分け、 各時刻における入力信号の大きさ を各々のパルス幅 tに変換して伝送する。 入力信号が 0ボルトのとき に t/T=0.5 、 つまり、 50%デューティで、 入力信号が正に大 きくなるほどパルス幅を大きくし、 入力信号が負に大きくなるほどパ ルス幅を狭くするように、 デューティ変換する。 なお、 入力信号は、 コモンモードノィズの影響を低減するために入力信号 +及び入力信号 —と差動入力としているが、 目的によっては他の入力方式を用いても 良い。
第 4図は正弦波を +—入力端子に加えた場合を模式的に示している 。 絶縁力ブラの外から入力した矩形のクロックを搬送波発生回路 1 1 2によって鋸波形に変換して、 搬送波とする。 変調回路 1 0 4は、 比 較回路 1 1 1であり、 これらの入力信号を受けてパルスのデューティ を変化させた出力 P WM +及び P WM—を出力する。 駆動回路 1 0 5 は、 この P WM +および P WM—波形を駆動回路 1 0 5に入力し、 保 護回路 1 0 6を通じて絶縁バリャ 9— 1, 9 - 2の一方の端子に与え る。 絶縁バリヤ 9— 1, 9— 2のキャパシタ値は、 約 l p Fである。 保護回路 1 0 6は、 数十 n s程度以下の高電圧サージ波形に効果があ るような定数にしてあるので、 この駆動波形にはほとんど影響しない 。 絶縁バリヤ 9— 1, 9— 2の他方の電極は、 保護回路 1 0 7を通じ て検出回路 1 0 8に入力する。 この検出回路 1 0 8は、 インバータ及 び積分回路 1 3 5である。 インバータ出力は検出信号 +及び一のよう に微分波形であり、 また、 ストレー容量のために著しく減衰している ので、 インバータで一旦増幅して積分回路 1 3 5に入力する。 積分回 路 1 3 5は +及び一の 2つの入力を有する積分器であり、 微分波形を 入力信号とすることにより図に示すような再生 P WM信号 +及び一を 出力する。 タイミング再生回路 1 3 6は、 P L L回路で、 再生 P WM 信号からタイミング信号成分を抽出する。 タイミング波形を用いて鋸 波形を作成し、 これを再生 P WM信号のタイミングでサンプルホール ドすると出力信号 +及び一のような復調波形を再生することができる なお、 この絶縁力ブラの回路動作について説明したが、 本発明の実 施に当たって、 PWMの実現方法は、 他の方法でもよい。 例えば、 変 調波形は、 三角波としてもよい。 三角波を用いると、 変調波形の中心 タイミングが一定となるので、 例えば、 復調回路において P L Lのよ うな高精度のタイミング再生方式を採用できる効果がある。 また、 出 力回路では、 積分回路の代わりにセットリセット型のフリップフロッ プを配置してもよレ、。 インバータ出力である微分波形の立ち上がりタ イミングは、 PWMのタイミング情報そのものであり、 負荷抵抗ゃィ ンバータの特性等を適当に選ぶことによって、 そのままフリップフ口 ップの制御信号とすることができる。 フリップフロップの出力は PW M波形そのものである。
この動作タイミングの特徴は、 送信信号, 受信信号, 回線接続制御 信号の 3つの制御信号伝達が平行していることである。 このために絶 縁力ブラを用いた回線インターフェイスでは、 信号のクロストークが 雑音となって SN比を劣化させる。 そこで、 この実施例では、 DS P の動作タイミングとモデム処理タイミングと絶縁力ブラのタイミング とを同期させて、 この劣化を抑制している。 これを、 次の第 5図を用 いて説明する。
第 5図 (a) (b) はモデム信号処理と絶縁力ブラの動作のタイミ ング関係を示しており、 本実施例の回路構成の特徴は、 回線インター フェイス回路の動作タイミングをモデムより供給し、 I C内部の回路 動作をこのクロックに同期していることである。 第 5図において (a ) はモデム信号処理部分であり、 タイミングチャートは模式的である がチャートの右側に示したような関係にしている。 即ち、 モデム信号 処理部分では、 DS Pを 3 9. 3 2 1 6MH z で動作させ、 AFEに は 1. 2288MH z を供給して D A変換タイミング MCLKSおよ び AD変換タイミング MC LKRとして用いる。 DA変換及び AD変 換方式は 25 6倍オーバーサンプル方式であるため実質は 9. 6ksps である。 (b) は回線インターフェイス部分のクロックタイミング関 係であり、 DS Pから供給したクロック信号 DS PCLKを NCLK Sとして絶縁力ブラ 6の送信信号パス 6 1および制御信号パス 6 3に 供給することでモデムの動作タイミングと同期させる。 受信信号パス NCL K Rは制御信号がオン状態のときのみ動作すれば良いので図の ようにゲートした波形になっている。 また、 R d e tパスのタイミン グ C LK 2は回線側回路にてローカル発振するがモデム間の信号のや り取りをする際に制御信号 OFHKによって停止させる。
このように DS P, AFE, 絶縁力ブラの動作タイミングを同期さ せることによる効果を第 6図を用いて説明する。
第 6図において、 (a) は鋸波形を搬送波とする場合の PWM変調 タイミングを示している。 変調は、 クロック信号を積分して搬送波形 となる鋸波形を作成し、 伝送信号と比較することで P WM変調波形が 得られる。 ここでは受信信号と送信信号と OFHK制御信号を示して いる。 受信信号は第 1図の RXA + , —に示すように、 回線での伝送 損失の影響を受けて振幅が小さく、 — 20から一 45 d Bm程度であ る。 これに対して送信信号は、 自分から送信するので振幅が大きく通 常は一 6から一 1 5 d Bm程度である。 制御信号は、 5Vのロジック レベルであり最大値である。 これらの振幅を PWMデューティに変換 すると図のように、 小振幅の信号は振れ幅が狭く、 大振幅の信号は大 きな振れになる。 また、 信号の性質は、 モデム波形は交流信号である ので図のように振れが見え、 制御信号は止まってみえる。 本実施例で は、 各絶縁力ブラのタイミングを同期しているので第 6図のように、 搬送波形, 変調波形, 制御信号の PWM波形が整列し、 相互の干渉を 最小にしている。 また、 モデム回路では、 送受信の信号を所定のタイ ミングで ADあるいは D A変換しているがモデムからもらうクロック をこれに同期したものとすることで PWM部分で周期 T毎にサンプリ ングしても、 影響を最小にすることができる (非同期ではビート雑音 の影響がある) 。
クロストーク低減の原理をもう少し詳しく説明すると以下のように なる。
パルス幅変調の絶縁力ブラを複数個同時に動作させると、 PWM波 形が重なって、 立ち上がりや立ち下がりの位置が近づくので、 デバイ スゃ回路の電気的な結合によって、 自回路の動作によって自回路に発 生した雑音が他の回路の動作に影響して、 他の回路の立ち上がりや立 ち下がりのタイミングを乱す相互干渉、 いわゆるクロストークが生じ る。 D A Α回路用に 3〜 5個の絶縁力ブラが必要な場合にアナログデ ータ伝送のために PWM絶縁力ブラを用いる応用では、 この乱れによ つて波形歪みが生じ、 この歪みによつて伝送信号の S ZNが劣化する ので、 例えば音声信号であれば雑音が增ぇ、 モデム応用では伝送誤り となる。 PWMの搬送クロックタイミングを同期すると図に示すよう に少なくともロジックレベルのタイミングとアナログ信号のタイミン グとの重なりを分けることができる効果がある。 また、 後述するよう なロジックレベルの PWMだけを用いるシステムの場合でもタイミン グの乱れがロジックレベル付近に限定されるのでクロストークの影響 を最小とする効果がある。
第 6図 (b ) は三角波形搬送波に適用した場合の、 PWM変調タイ ミングを示している。 この場合には、 搬送波が三角波形となるために 三角波の両側に PWM変調タイミングが現れる以外、 基本的には同じ 問題を含んでいるが、 この実施例のようにすることで、 同じ効果が得 られる。 なお、 着信検出信号 R d e tを伝達する絶縁力ブラ 1 0 5用 のクロックは回線側に配置した発振器 O S C 1 1 2にて発生している ために他の絶縁力プラの動作とタイミングが合わないが、 O F H K制 御信号を入力したときに発振を禁止するようにしており、 この作用に よって発振回路の動作が、 モデム通信を始める以前に停止するので、 これによつてクロストークの影響を抑制できる効果がある。
第 7図は、 この回線インターフェイス I Cのレイァゥト構想図であ る。 第 7図において、 2は回線インターフェイス I Cであり、 2 0 6 — 1, 2 0 6 - 2 , 2 0 6— 3は絶縁帯であり、 それぞれ、 回線側の 端子領域 2 0 1および回線側回路領域 2 0 2 , 端末側回路領域 2 0 4 及び端子領域 2 0 5を囲んでいる。 2 0 3は絶縁力ブラ配列領域で第 1図に示す 4つの絶縁力プラを 1列にならベて配列して!/、る。
このレイアウトの特徴は、 (1 ) 容量性絶縁バリヤを用いた絶縁力 ブラを 4個用いたこと、 (2 ) 回線側回路と端末側回路とを絶縁カブ ラを間に挟んで分離するように幾何学的に配列したこと、 及び、 (3 ) 回線側回路及び端末側回路の各々を絶縁帯で囲んだことである。 絶 縁帯とは、 これによつて、 回線側, 端末側、 夫々の回路が絶縁分離さ れて、 各領域の中は、 一次回路と二次回路間の耐圧を意識せずに自由 に設計でき、 また、 同時に、 絶縁能力の評価, 管理等が簡素化される 禾 IJ点がある。
なお、 この集積回路のパッケージ実装に当たっては、 最終的にはパ ッケージの外に出る部分の空気絶縁に耐える絶縁距離を確保するとと もに、 内部をモールドして絶縁処理を施すことは言うまでもない。 次に、 第 8図を用いて、 第 7図の絶縁力ブラ部分の構造について説 明する。 第 8図 (a ) は平面図、 第 8図 (b ) は断面図であり、 いず れも駆動回路及び検出回路のみを模式化して示している。 第 8図 (a ) において、 2 0 3は絶縁カプラ領域であり、 2 0 6は絶縁帯、 2 0 7は絶縁バリヤ、 2 1 1は入力回路領域、 2 1 2は出力回路領域であ る。 絶縁帯 2 0 6は、 2 0 6— 1から 2 0 6— 6まで多くのパターン を形成している。 なお、 絶縁バリヤ 2 0 7の部分の符号は、 煩雑なの で一部省略しているが同様である。 入力回路領域 21 1および出力回 路領域 212は、 さらに、 PMOS領域 21 3, 214, 215, 2 16および NMOS領域 21 7, 218からなつている。 入力回路の 入力端子としては駆動回路の 2つのィンバータ入力端子 I N 1, I N 2を示す。 また、 出力回路の出力端子としては、 検出回路の 2つのィ ンバータ出力端子 OUT 1, OUT 2を示す。 VDD 1から VDD4 は分離した電源端子、 VS S 1および VS S 2は、 分離した接地端子 である。 平面図 (a) の特徴は、 (1) 回路領域を絶縁帯によって分 離していること、 また、 (2) 絶縁バリヤとして、 絶縁帯を櫛の歯状 パターンに形成して、 対向面積を稼いでおり、 また、 (3) 4つのキ ャパシタを、 横方向に直列接続して 2組の絶縁バリャを形成している ことである。 これらは、 前述のように相補的な PWMデジタル波形で 駆動する。 2組の絶縁バリヤ間のクロストークは少ないが、 問題にす るような用途の場合には、 これらの間に、 即ち、 横方向に長いスぺー スゃ電源パターン VDD, VS Sの配線パターンを用意して、 絶縁バ リャの間に配置して結合を緩くすると効果がある。 また、 絶縁力ブラ を複数使用する場合にも同様な配置で効果がある。 また、 回路領域の 中で P M O Sの領域と NMOSの領域とは絶縁帯によって分離する。 この分離で、 仮に回路に予期せぬサージ電圧が印加されても寄生トラ ンジスタの導通による電源間の短絡, 貫通、 即ちラッチアップ現象は 原理的には生じない。
第 8図 (b) において、 231は基板、 232は絶縁層、 233は 半導体層、 234は保護層であり、 多くの絶縁帯 206によって半導 体の領域が形成され、 左から、 入力回路領域 21 1, 絶縁バリヤ 20 7, 出力回路領域 21 2を配列している。 この構造は、 この実施例で は、 約 2ミクロン厚さの S i O2 を絶縁層として内層としたシリコン ゥエーハ (SO I基板) を用意し、 この上にホトマスクを使用した薄 膜プロセスを用いて各領域を作成している。 第 8図 (b ) において、 2 0 6 - 1から 2 0 6— 6の絶縁帯は、 約 1 . 5 μ m 幅の S i 0 2 層である。 構造的には、 絶縁層を内層としたシリコンゥヱーハ上に、 入出力回路領域, 絶縁バリヤ領域等の、 各領域を絶縁帯 2 0 6によつ て区分して形成して、 さらに、 保護層 2 3 4を重ねたようにしている 。 シリコンゥエーハは、 単結晶シリコンの基板 2 3 1に、 S i〇2— 層、 あるいはさらに表面を酸化したポリシリコンを重ねた多層の絶縁 層 2 3 2を重ね、 さらに単結晶シリコンの半導体層を重ねた構成にな つている。 張り合わせは、 本実施例では、 ポリシリコン表面のシリコ ン酸化膜の表面を鏡面研磨して重ね合わせた後に特定温度で熱処理に よって接合する方法を用いる。 絶縁帯 2 0 6は、 S i 02 層であり絶 縁物である。 保護層 2 3 4は、 S i〇2 , H L Dあるいは S i Nなど の絶縁物でありこの層の中にポリシリコンゃアルミニウムによる配線 層を含んでいる。 絶縁帯 2 0 6は、 一旦、 溝 (トレンチ) を掘って S i 0 2や B P S Gで埋め込む方法, トレンチ側壁を薄く酸化してから ポリシリコンを埋め込む方法、 あるいは、 ? 1 0ゃ3〇0を塗布す る方法、 あるいは、 上面からの酸素イオン照射で半導体層を絶縁体に 変えるなどの方法で形成する。 キャパシタは、 3つの電極領域 2 3 6 , 2 3 7 , 2 3 8と絶縁帯 2 0 6で構成する。 このようにすると、 絶 縁層 2 3 2の厚さに比べて絶縁帯 2 0 6の幅に制限がある溝掘り方式 の場合でもキャパシタを直列接続することで絶縁耐圧を確保すること ができる。
また、 電気的な要求が絶縁帯 1つ分の耐圧で良い場合にも、 このよ うにして 2重絶縁を実現することで信頼性の高い部品とすることがで きる。 なお、 入力回路領域 2 1 1と出力回路領域 2 1 2は断面で示す と 2 3 5および 2 3 9であり、 これらは、 2つの絶縁帯で囲まれてお り、 高い絶縁耐圧が得られる構造になっている。 このように、 複数の 回路を基板から絶縁帯及び絶縁層によつて物理的に絶縁しているので 、 この集積回路は、 パッケージ実装に際して、 フレームに直接接着す ることができ、 熱放散が良い利点がある。
次に、 第 9図によって、 第 8図の絶縁力ブラにおける絶縁バリヤ部 分の構造をさらに説明する。 第 9図において、 (a) は平面図、 (b ) (c) は平面図 (a) における Α_Α' 断面図である。 第 9図 (a ) において、 207は絶縁バリヤ、 206— 1, 206- 2, 206 一 3は約 1.5 ミクロン幅の S i〇2 で形成した絶縁帯、 241, 2 42, 243は絶縁帯 206で囲んだ電極領域、 244および 245 は電極領域 241および 242上部の保護層に開けた穴である端子で ある。 第 9図 (b) において、 231は約 400ミクロン厚さの S i 基板、 232は約 2ミクロン厚さの絶縁層、 233は約 1 5ミクロン 厚さの半導体層、 234は約 5ミクロン厚さの保護層であり、 他の符 号は (a) と同じである。
断面図からわかるように、 絶縁層を内層としたシリコンゥエーハ上 にホトマスクを使用した薄膜プロセスを用いて各領域を作成している 。 絶縁帯は、 Si〇2層であり絶縁体である。 絶縁帯 206は、 一旦、 溝(トレンチ) を掘って S i O 2で埋め込む方法、 あるいは、 上面から の酸素ィオン照射で半導体層を絶縁体に変えるなどの方法で形成する 。 キャパシタは、 3つの電極領域 241, 242, 243と 2つの絶 縁帯 206— 1, 206— 3で構成する。 絶縁帯 206を図示したよ うに帯を折りたたむようにパターン化して電極 241, 242と 24 3が接する長さを長くすることで小さな半導体面積で効率よく容量値 を得るようにしている。 ちなみに、 この実施例では約 160ミクロン の正方形で約 2 p F、 耐圧は直流耐圧試験で 1絶縁帯当たり約 750 Vの絶縁性能が得られている。 端子 244および 245間に高電圧を 印加するが、 絶縁バリヤ 207の外側からみて、 電極領域 241, 2 4 2を絶縁帯で 2重に囲んだパターンになっている。 なお、 絶縁帯 2 0 6のパターンを形成するに当たっては、 鋭角のパターンが生じない ように、 折りたたむ部分や角部分には、 可能な限り円弧パターン (半 径 2ないし 5ミクロン) を用いる。 絶縁帯 2 0 6— 2の部分は他の回 路部分と絶縁分離するために必要である。 第 9図 (c ) は、 絶縁層 1 層当たりの厚さを厚くできなレ、場合の構造図で、 絶縁層を 2層とする ことで実効的な耐圧を稼ぐことができる。 また、 多層構造の I Cには 反りが少なからず見られるが、 絶縁層を多層とし各層の厚さを調節す ることで、 応力を分散して反りを軽減する効果もある。
なお、 第 7図のように絶縁力ブラを 1列に整列してレイアウトした 例を示したが、 第 1 0図に示すように絶縁バリヤの配列は変形可能で ある。 すなわち、 第 1 0図は回線インターフェイス I Cの他のレイァ ゥト構想であり、 同図のように、 絶縁力ブラを 2つずつ直角方向に配 列している。 回線側回路と端末側回路との間には 1 5 0 0 V d cの試 験電圧が印加されるが、 各々の回路領域は、 S O I基板上に夫々絶縁 帯で囲って配置してあるので、 かなり自在なレイァゥトが可能である 但し、 領域間の配線及び端子の配列やサイズによって、 制約を受ける 。なお、このレイアウトの場合、 回路領域や端子数にアンバランスがあ る場合に、 効率的な領域配置ができる特徴がある。
次に、 第 1 1図を用いて本発明の絶縁力ブラの伝送方式を説明する 。 第 1 1図には、 ブロック図により、 (a ) から (f ) までの各種の 伝送方式を示している。 絶縁バリヤは、 本発明のキャパシタである。 本発明の絶縁カプラは、 絶縁バリヤを 2個使用し、 レシーバ側をフロ 一ティングとしても正確に信号伝送できるように相補波形で駆動する 。 入力回路は、 電源端子 V D D 1と接地端子 V S S 1とから電源供給 を受け、 入力端子から受けた信号を絶縁バリヤの一方の端子を駆動す る波形に変換して出力する。 出力回路は、 電源端子 V D D 2と接地端 子 V S S 2とから電源供給を受け、 絶縁バリャの反対側の端子に現れ る波形を検出し出力信号に変換して出力する。 変換波形は、 振幅方向 のみデジタル化する PWM (パルスデューティ変換) あるいは FM ( 電圧—周波数変換)、 又は、 時間軸方向もデジタル化したデジタル伝 送方式など様々な方式を使用することができる。
第 1 1図 (b ) は、 PWM伝送方式の場合を示している。 PWM方 式は、 入力回路で、 入力したアナログ信号を信号帯域の数十倍以上の 一定周期 Tでサンプリングし、 振幅を時間軸方向のデューティ (0 V 入力を 5 0 %デューティ) に変換して伝送し、 出力回路では、 これを 検出して、 再びデューティを振幅値に変換することで入力波形を再生 し、 アナログ信号を出力するものである。 デューティをアナログ処理 することで、 原理的には高い分解能を得ることができる。 もちろんデ ジタル信号を伝送しても良い。
( c ) は、 本発明のデジタル伝送の場合を示している。 デジタル伝 送では、 伝送波形に同一レベルが続かないように例えばマンチヱスタ 符号などのような符号変換を施してから、 絶縁バリヤを駆動し、 出力 回路では、 これを検出して、 逆変換し元のデジタル信号を再生する。 この場合は入力デジタル信号の転送周波数に同期して符号変換および 逆変換を行う。 この方法は振幅方向の変換が少ないので雑音の影響を 受け難い特徴がある。
( d ) は、 AD変換入力を絶縁バリヤを通じて行う場合を示してい る。 入力回路では、 アナログの入力信号を AD変換し、 さらに、 (c ) と同じ符号変換を施してから絶縁バリヤを駆動する。 出力回路では 、 これを検出して、 逆符号変換してからデジタル信号を出力する。
( e ) は、 逆に D A変換出力を絶縁バリヤを通じて行う場合を示し ている。 入力回路では、 デジタルの入力信号を (c ) と同じ符号変換 を施してから絶縁バリヤを駆動する。 出力回路では、 これを検出して 、 逆符号変換してから D A変換してアナログ信号を出力する。
(f ) は、 (d) と (e) とを組み合わせてアナログ信号の入出力 を AD変換及び D A変換を用いて実施する場合を示している。 (d) から (f ) の信号伝送方式は、 デジタル信号の接続先を DSPとする ことにより、 モデムなどの音声信号処理アナ口グフロントエンド及び 回線インターフェイスに好適な構成である。
これらの方式は、 本発明によりモノリシック I Cに集積化すること が可能になる。 具体的に言えば、 上記した容量性絶縁バリヤは、 2つ の回路の間を結合するための回路であるが、 基板との間のストレー容 量が大きく、 入力回路, 出力回路, 絶縁バリヤを別々に作成して組み 合わせる場合とは大きな違いがある。 このため、 絶縁バリヤでの伝送 効率が数分の一と悪いのである。 上記した実施例では、 出力回路の初 段に増幅回路を配置して後に検出処理, 復調処理を行うようにしてい る。
第 12図は本発明の他の実施例のモデム装置の回路ブロック図であ 。
第 12図において、 251は、 この実施例の回線インターフェイス I Cであり、 252は端末側回路、 253は絶縁力プラ、 254回線 側回路、 255は高耐圧回路である。 また、 端末側回路 252は、 D S Pインターフェイス 256, モデムデータの出力インターフェイス SOR261, モデムデータの圧縮回路 262, 送信側マルチプレク サ 263, 汎用出力レジスタのマスタレジスタ GORM262 , 誤 り訂正回路 265, 受信側マルチプレクサ 266, 受信モデムデータ の伸長回路 267,モデムデータの入力インターフェイス S I R26 8, 汎用入力データの誤り訂正回路 269, 汎用入力レジスタのスレ ーブレジスタ G I RS 270からなつており、 絶縁バリヤ 253は、 送信パス用絶縁力ブラ 6— 1及び受信パス用絶縁力ブラ 6— 2からな つており、 回線側回路 2 5 4は、 送信パスは、 回線側送信パスのマル チプレクサ 2 7 1, 送信モデムデータの伸長回路 2 7 2, D A変換器 2 7 3, 汎用出力信号の誤り訂正回路 2 7 4, スレーブの汎用出カレ ジスタ 2 7 5, AD変換器 2 7 6, A D変換データの圧縮回路 2 7 7 , マルチプレクサ 2 7 8, マスタの汎用入力レジスタ G I RM 2 7 9 , 入力データの誤り訂正回路 2 8 0, 2線 4線変換回路 2 8 1, S W制御回路 2 8 3からなつており、 高耐圧回路 2 5 5は、 直流閉結 回路 2 8 2及び呼出信号検出回路 2 8 4からなつている。
この回路構成の特徴は、 第 1に AD変換器及び D A変換器を回線側 に配置して、 絶縁力ブラを通る信号をデジタルデータとしたことにあ る。 このために、 後述するように、 絶縁バリヤを通す際の耐雑音性能 が格段に改善する。 また、 第 2は、 A D変換信号および D A変換信号 を一旦圧縮して絶縁力ブラを通すこととし、 この空いた部分に制御信 号を誤り訂正符号化してはめ込み、 絶縁力ブラ 6を 6— 1及び 6— 2 の 2つと半減していることである。 絶縁バリャを半導体基板上に搭載 すると大きな面積を必要とするので、 データの圧縮伸長及び誤り訂正 などの回路追加部分の面積増加を考慮しても、 絶縁力ブラの個数が少 なくなることは、 チップ面積を小さくする上で有利である。 さらに、 第 3は、 機能的には図 1と殆ど同じであり、 高耐圧回路 2 5 5の内部 回路, 回線側回路 2 5 4における 2線 4線変換回路 2 8 1, S W 制御回路 2 8 3はまったく同じ機能である。 また、 第 4は、 マルチプ レクサ 2 6 6には絶縁カプラ 6— 2の再生クロック及び D S Pから のクロックの両方を入れてタイミング調整をしていることである。 1 ビットあるいは 2ビットのバッファメモリを配置することでタイミン グの調整をすることができる。 第 5は、 汎用入出力レジスタ G O R, G I尺が、 マスタレジスタの内容をスレーブレジスタに逐次転写して いることである。 もちろんこの回路の変形として、 技術が進歩して絶 縁力ブラがさらに小さくなつた場合に雑音が少なく誤りにくいときに は圧縮や、 誤り訂正やマルチプレクサを省略しても良い。
次に、 第 1 3図を用いてこの実施例の効果を説明する。
第 1 3図において、 (a ) は、 鋸波形を搬送波に用いた場合、 (b ) は三角波を搬送波に用いた場合を示しており、 両図のように送信信 号および受信信号がアナログ信号であっても、 絶縁バリャにはデジタ ル P WM信号しか通過せず、 D S P, モデム処理, 絶縁力ブラの動作 タイミングを同期していることにより、 絶縁バリャでの伝送誤りに最 も耐える性能とできる。
第 1 4図は、 回線インターフェイス I Cを 2チップ構成とした場合 を示している。 第 1 4図において、 2 9 1は、 回線インターフェイス チップ、 2 9 2は端末インターフェイスチップであり、 回線インター フェイスチップ 2 9 1には、 端子領域 2 9 3, 回線側高電圧回路領域 2 9 4, 端子領域 2 9 5を配置し、 端末インターフェイスチップ 2 9 2には端子領域 2 9 6, 回線側低電圧回路領域 2 9 7, 絶縁力プラ領 域 2 9 8 , 端末側回路領域 2 9 9 , 端子領域 3 0 0を配置した。 回 線側高耐圧回路領域 2 9 4には、 直流閉結回路及び着信 (R I N G ) 検出回路を配置した。 また、 端末インターフェイスチップ 2 9 2の回 線側低電圧回路領域 2 9 7には 2線 / 4線変換回路, O F H Kスイツ チ (S W) 制御回路及び発信回路を配置した。 このようにすることに より、 高電圧の回路素子が必要な回線インターフェイスチップ 2 9 1 のプロセス条件を絶縁バリヤや低電圧である回路素子の回路と切り離 すことにより効率の良いプロセスを選択できる利点がある。 また、 1 つの I Cチップのサイズを小さくすることでプロセスにおける総合的 な歩留まりの影饗を低減して、 ゥエーハ当たりの I Cチップ取得数を 増やす効果もある。 また、 回線インターフェイスチップは個別部品を 用いてディスクリート回路としても良い。 このようにすることにより 、 端末ィンターフェイスチップにはロジック信号及びモデムの信号レ ベルの信号だけになり、 直接回線と接続する部分がなくなるので、 モ デム以外の応用など、 例えば、 多機能電話機の内部回路に用いるなど 適用範囲を広げやすい効果が生まれる。
第 1 5図は、 絶縁バリヤの他の実施例の構造図で、 (a) は 1重絶 縁、 (b) は 2重絶縁、 (c) は 2重絶縁の他の変形した実施例の平 面図である。 第 1 5図において、 207は絶縁バリヤ、 206— 1, 206— 2, 206- 3は絶縁帯、 24 1, 242は絶縁帯 206 で囲んだ電極領域、 244および 245は電極領域 241および 24 2上部の保護層に開けた穴である端子、 30 1— 1及び 30 1— 2は しきりである。 第 1 5図 (a) 及び (b) は、 第 9図の実施例同様に 絶縁帯に一切の鋭角をもたないパターンの実施例を示している。
第 1 5図 (a) のパターンの特徴は、 絶縁帯 206— 1および 20 6— 2の一筆書きで端子 244, 245を有する電極領域 241 , 2 42を形成したことにあり、 このようにすると、 T字状に絶縁帯同士 が接続する部分を排除することができ、 トレンチ法で溝を埋めるとき の効率が良いばかりでなく、 電界の集中を軽減する効果がある。 第 1 5図 (b) も同様で、 このパターンの特徴は、 絶縁帯 206— 3およ び 206— 4の一筆書きで端子 244, 245を有する電極 241, 242を形成し、 これらをそれぞれ、 絶縁帯 206— 1, 206- 2 でさらに囲んだことにあり、 これによつて、 絶縁帯 206— 1と 20 6— 3との間、 絶縁帯 206— 3と 206— 4との間で形成した中間 電極が形成され、 このために 2倍の耐圧性能を出せる効果がある。 第 1 5図 (c) のパターンは、 第 1 5図 (a) 及び第 9図の実施例の変 形例であり、 2つの T字部を許せば絶縁帯 206— 3で囲ったことで 面積効率の良レ、絶縁バリャを実現することができる効果がある。 (a ) ( b ) の方法は、 さらに直列数を增やす場合にも効率よく展開でき る。
本発明は、 絶縁力ブラ単体としても有効であり、 これを第 1 6図を 用いて説明する。 第 1 6図は、 本発明の絶縁力ブラの 1実施例の構造 図であり、 第 1 6図における絶縁力ブラ 2 0 3は、 第 8図の絶縁カプ ラ部分に、 入力回路用の端子領域 2 0 1および出力回路用の端子領域 2 0 5を設けそれぞの端子を配置したもので、 約 2 mm平方の大きさ である。 このようにすることにより超小型のアナログ PWM方式のモ ノリシック絶縁力ブラ部品ができる。 これは、 もちろん後工程でパッ ケージに実装して使用するがモノリシックであるので極めて小型なた めに、 計測器のプローブや医療用の各種センサのような応用装置の内 部に実装し、 これらの装置の小型化, 高性能化に貢献することができ る。
また、 第 1 7図は、 第 1 6図の 2つの絶縁力ブラを 1チップに搭載 する場合のレイアウト構想図である。 第 1 7図において、 2 0 3は 2 カプラ内蔵 1チップ絶縁カプラであり、 2 0 3— 1, 2 0 3— 2はそ れぞれ内蔵する絶縁力ブラ 1および絶縁力ブラ 2であり、 各々絶縁帯 2 0 6— 1および 2 0 6— 2で囲んである。 このレイァゥトの特徴は 、 ( 1 ) 各絶縁力ブラを絶縁帯 6 2—1及び 6 2— 2で囲んだこと、 及び、 (2 ) 電界が集中する絶縁バリヤを整列したことである。 この ようにすることで、 2つの入力と 2つの出力間のいずれとの間に対し ても絶縁耐圧を確保することができ、 絶縁耐圧を維持しながら自由に 各回路要素を配置することができる効果がある。 また、 この構造によ り、 不要な電気回路的な結合を最小とすることができ、 応用範囲を広 げることができる。
第 1 8図は、 本発明の絶縁力ブラのさらに他の実施例であり、 絶縁 帯によつて各々絶縁した入力回路及び出力回路を集積回路化して、 セ ラミックキャパシタを絶縁バリヤと組み合わせて絶縁カプラとする場 合の集積回路と絶縁力ブラの構造を示している。 第 1 8図において、 ( a ) はチップレイアウトの概要であり、 (b ) はこの I Cとセラ ミックキャパシタの回路基板への実装断面図である。 第 1 8図 (a ) において、 3 0 3は絶縁力プラ用 I Cであり、 2 0 6— 1および 2 0 6 - 2はそれぞれ入力回路領域及び出力回路領域を囲む絶縁帯であり 、 3 0 4は外付け絶縁バリヤ、 端子領域 2 0 1および 2 0 5はそれぞ れ外付け絶縁バリヤ 3 0 4との接続端子 C 1一 Oおよび C 2—〇, C 1― Iおよび C 2— Iを加えている。 その他の符号は第 1 6図と同じ 意味である。
第 1 8図 (b ) において 3 0 3は絶縁力プラ用 I C、 3 0 5および 3 0 6はハンダである。 3 0 7は回路基板で、 両面に銅箔 3 0 8, 3 0 9, 3 1 0, 3 1 1の回路接続パターンを有し、 必要に応じてスル 一ホール 3 1 2 , 3 1 3を設けてある。 回路基板 3 0 7は絶縁性を損 なわぬ範囲で必要に応じて銅箔を多層にしても構わない。 絶縁バリヤ 3 0 4はチップキャパシタであり、 回路基板にハンダ 3 1 6, 3 1 7 によって表面実装する。 このようにすることで、 半導体集積回路で比 較的大きな面積を占める絶縁バリャを別チップとして、 絶縁力ブラの 形状寸法は大きくなるが現実的な価格としたり、 また、 絶縁バリヤの キャパシタ値を積極的に大きくして動作タイミング周波数を自由に選 択できる構成法も可能になる。 すなわち、 キャパシタ値を大きくする ことで低周波数特性が向上するので波形伝送しやすくなり、 例えば、 チャージポンプ回路などにより小さな電力伝達も可能になる利点があ 以上のように、 これらの実施例によれば、 半導体集積回路上に無理 なく絶縁力ブラを形成することが可能であり、 集積回路の用途を大き く広げることができる。 また、 このようにして形成した絶縁力ブラは 、 小型化と低価格化に大きく貢献する効果がある。
第 1 9図は、 本発明のモノリシック回線インターフェイスをカード モデム装置に応用した実施例の概念を示す構造図で、 第 1 9図 (a) は本発明の実施例、 第 19図 (b) は従来のカードモデムである。 第 1 9図 (a) において、 400は本実施例のカードモデム全体を、 4 01は本実施例の回路基板を、 402は本実施例の回線インターフ イス I Cを、 403は八?£を、 404は03 を、 405はその他 の I Cを、 406は回線側コネクタを、 407は PC側コネクタを、 408はバリスタを、 409は高耐圧キャパシタを、 410はキャパ シタを、 41 1から 416はその他の抵抗及びキャパシタ等のチップ 部品である。 第 19図 (b) において、 450は従来のカードモデム 全体を、 451は、 従来の回路基板を、 452は従来の回線インター フェイスであるライントランスを、 453は AFEを、 454は DS Pを、 455はその他の I Cを、 456は回線側コネクタを、 45 7は PC側コネクタを、 458はバリスタを、 459は高耐圧キャパ シタを、 460はキャパシタを、 461から 466はその他の抵 抗及びキャパシタ等のチップ部品である。 この図はカードモデムの断 面を模式的に示したもので、 比較して明らかなように、 従来のカード モデム 450は、 回路基板 451をくり貫いて、 くり貫いた部分にラ イントランス 452を配置しているのに対して、 本発明の実施例では 回線インターフェイス I C402を 402から 405に示す他の I C とほぼ同様に実装できる。 このために、 回路基板 401をくり貫く必 要がなく経済的である。 また、 特殊なトランスを使用しないことでも 経済的にできる可能性がある。 さらに、 トランスを省略できることで 、 更なる小型化の可能性を持っている。
第 20図は、 本発明のモノリシックデジタル絶縁力ブラを AFEに 応用した場合の 1実施例の回路ブロック図である。 この実施例の A F Eは、 音声帯域信号処理用で、 アナログとデジタルの変換をオーバー サンプル (2MHz) AD及び DA変換し、 デシメータ, インタポレ ータで一旦 32 k s p sに下げ、 さらに内部 DS Pによって低域フィ ルタ処理等をして、 最終的に 8 k s p sの速度でデジタルデータを入 出力するものである。
第 20図において、 500は、 デジタル絶縁カプラ 501ないし 5 06を内蔵したモノリシックアナログフロントエンド (I— AFE) であり、 I— AFE 500は AFE本来のマルチプレクサ (MUX) 51 1, パッドアンプ (PDA) 51 2, プレフィルタ (PF 1) 5 1 3, オーバーサンプル ·アナログ ·ツー ·デジタル変換器 ADC 5 14, デシメータフィルタ (DCM) 51 5, AD変換出力バッファ (ADCR) 516, 内蔵 ( i n—) DS P 51 7, 受信出力バッフ 了 (RXDR) 518とからなるアナログ入力ラインと、 送信バッフ 了 (TXDR) 521, DA変換入力バッファ (DACR) 522 , インタポレータ (I NT) 523, オーバーサンプル 'デジタル ' ツー 'アナログ変換器 D AC 514, ポストフィルタ (PF 2) 52 5, アツテネータ (ATT) 526からなるアナログ出力ラインと、 i n-DS P 51 7のデータ入出力転送制御 531, 533及びアナ ログ入出力端子の 2線 4線変換回路 533に制御回路を加えた構成に なっている。 I— AFE 500の内部は、 制御回路 (CONT) 5 41によってリセットゃパワーダウン制御する。 リセット信号は、 デ ジタル絶縁カプラ 506を通じて左側 (以下アナログ入出力側) の回 路に伝えられ、 リセット回路 542でアナログ入出力側の電源オンォ フに伴うリセット信号と合成されて、 アナログ入出力側回路のリセッ ト信号として用いる。 外部装置が I— AFE 500をきめ細かく制御 するために制御レジスタ (CONTR) 551及び(STATUS) 554を用いる。 CONTR551 ( (STATUS' ) 553 ) の内容はデジタル絶縁カプラ 504, 503を通じてアナログ (デ ジタル) 入出力回路の制御レジスタ (CONTR' ) 551, S TATUS 554にコピーされアナログ入出力側回路の SW1ないし SW3やその他の回路の制御及び汎用出力ポート (GPO) のレベル を設定する。 I— AFE 500の動作タイミングは、 外部(e x_)D S P 536によって与えられる 2MH zのクロック (MCLK) PL Lによって 8倍の 16MHzに変換して、 入力された 2MHzと合わ せて基本タイミングとして用いる。 もちろんアナログ入出力回路にも デジタル絶縁カプラ 505を通じて伝え、 タイミング回路 562によ つて各種タイミングを発生して用いる。
基準電圧発生回路 563はアナログ入出力回路に単一電源で動作さ せるための基準電圧を与えるための回路で、 基準電圧 VREF : (V DDI— VSS 1) 2を発生する。
次に動作を説明する。 2線 4線変換回路 533は、 I— AFE5 00をモデム装置に用いる場合に公衆回線の 2線と内部の送信及び受 信の 4線との変換をする回路で、 回線ィンピーダンス整合及び入出力 アンプ機能を持っている。 アナログ入力信号は 2線 4線変換回路 53 3を経由するか I N +, I N—端子より直接入力するが、 どちらかに 合わせてあらかじめ MUX 51 1を信号 SWlによって切り替えて用 いる。 PDA51 2は、 O dB, 6 d Bのゲインを信号 S W2切り替 えることができる。
PF 1 513は AD変換前に不要な周波数帯の信号を削除するた めのアナログフィルタであり、 この実施例ではカツトオフ周波数 48 kHzの 2次の低域通過フィルタである。 ADC514は 2Ms p s で動作する 2次の厶∑変調器であり、 0.5 / s ごとに 2ビットの AD変換結果を出力する。 この AD変換出力を D CM 51 5に伝え 3 2 k s p sに間引く。 DF 1 515の出力は 16 bitZwになるが 32 k s p sと速度が遅いのでこれを 2M s p sにシリアル変換し、 絶縁力ブラ 502を経由してタイミング信号とともにデジタル入出力 側回路の ADC516を経由して i n— DSP 517に伝える。 i n -DS P 51 7ではこのデシメータ出力を I I R, F I Rのデジタル 信号処理によつて平坦特性補正及び 4 kHz以下の L P F処理を行う 。 処理結果は 8kspsごとに 16 bitZw のデータとして受信バッフ ァ 518を通じてシリアルに e x-DS P 236に伝える。
次に、 アナログ出力ラインは、 e x—DS P 536から出力すべき データ TXD) を送信バッファ TXDR21 1から 8 k s p s毎に受 け取り、 i n— DS P 51 7によってアナログ入力と同様のフィル タ処理を行い、 この結果を 16bit/w のデータを DA出力バッファ (DACR) 522を経由して補間処理をしながら 32 k s p sの速 度で補間フィルタ (I NT) 523に渡すがここでもシリアル変換し て絶縁力ブラ 501を経由する。 I NT 523は、 さらに補間処理を して、 6 b i t/w のデータとして、 2Ms p sの速度で DA C 514に渡しアナログ値を出力する。 i n— DSP 517, I NT 523による処理で残った折り返し成分をポストフィルタ PF 2 5 25によって除去し、 O dB, 一 6 dB, 一∞dBを切り替えること が出来る ATT226を経由して出力する。 これらアナログ出力ライ ンの動作タイミングはアナログ入力ラインのタイミングを用いる。 これらの処理のタイミングは、 基本的に 2MHzのタイミングの中 に同じタイミングの ΔΣ変復調器の処理タイミング、 2Ms p sと 3 2 k s p sで入出力するインタポレータ及びデシメータ処理タイミン グ、 および 32 k s p sと 8 k s p sで入出力する DS P処理タイミ ングを整然と割り付けたタイミングになっている。 従って、 絶縁カプ ラ 201ないし 205でアナログ入出力側回路とデジタル入出力側回 路を分けたがこれらを同期して動作させることが必要不可欠でタイミ ング専用のアイソレータ設定の重要さがここにある。
次に、 この I — AF E 5 0 0を6 一03 ? 5 3 6とともにモデム への応用を説明する。
e x -D S P 5 3 6から見た I — AF E 5 0 0は、 アナログ信号の 入出力回路であるが、 そのサンプルタイミングが重要で、 このために 、 大抵のモデムは、 復調時に最も識別判定に有利なタイミングになる ように ADC 5 1 4のサンプルタイミングを調整する。 このために、 e x— D S P 5 3 6から I — AF E 5 0 0にはク口ック MC LKでタ イミングの遅れ進みを伝える。 すなわち、 タイミングを早めたいとき には A f を加え、 遅らせたいときには一 A f を加えて I —AF E 5 0 0に知らせる。 この処理は、 数 1 Om sないし数 1 0 Om s毎に行な われる。 I — AF E 5 0 0が勝手なタイミングで動作すると、 e x -D S P 5 3 6の要求するタイミングと合わないので、 データの過 不足が生じて処理タィミングの破綻が生じ大きな雑音が生じることに なる。 この遅れ進みするクロックに I —AF E 5 0 0を同期させるた めに I — AF E 5 0 0内部には P L Lを配置して内部タイミングを同 期させる。 もちろんタイミング精度要求が許すならばモデム内の自動 等化手段のタイミング誤差を用いて、 補完する方法も有りこの場合は 回路的なタイミング調整は実施しない。
この実施例では、 デシメータ, インタポレータと i n— D S Pの間 のデータ転送はシリアル高速転送にしたために絶縁力ブラ数を減らす 効果がある。 なお、 モデムには複数の規格を含むので複数のサンプル タイミングを要求する場合があるがこれに対応するために P L L 5 6 1及びタイミング回路 5 6 2の分周比を CONTR 5 6 2によって 制御可能にしている。 さらに、 これら制御信号を伝達する絶縁力ブラ には、 前述した誤り訂正手段を適用することで、 動作の安定化を図る ことができる。 なお、 本実施例では、 デジタルフィルタを内部 D S P 5 1 7によつ て信号処理する構成を示したが、 内部 D S Pの処理は AD変換及び D A変換のための専用処理であり、 これらの回路は、 適当な専用ロジッ クで形成してもかまわない。 専用ロジックで構成することにより、 よ り経済的な集積化がはかれる場合が有る。 また、 アナログ入力ライン とアナログ出力ラインの 2系統を一つの処理手段で処理してもよい。 次に、 第 2 1図によって、 第 2 0図の回路の集積回路上のレイァゥ ト概念を示す。 第 2 1図において、 全体 6 0 0が A F E集積回路全体 を示し、 S O I基板の上に形成している。 絶縁帯 6 0 1がアナログ入 出力回路領域を、 絶縁帯 6 0 2が絶縁力ップラ ( I s o 1 a t o r 5 0 1ないし 5 0 6で示す) を、 絶縁帯 6 0 3デジタル入出力回路領域 を、 絶縁帯 6 0 4がゥヱーハ上の他のチップ領域と、 領域間を絶縁を する手段であり、 また、 絶縁帯 6 0 4がスクライブ端面を通じた基板 との回路的な結合を防止する手段である。 各領域中のさらに細分化し た領域に付した名前はそれぞれ第 2 0図と対応している。
このレイァゥトの特徴は、 各回路領域をさらにトレンチで囲ってァ ナログ入出力側回路領域 6 0 1, 絶縁力ブラ領域 6 0 2, デジタル入 出力側回路領域 6 0 3とし、 ①各領域間に 2重トレンチほどこして領 域間絶縁をし、 さらに、 ②全体をトレンチ 6 0 4で囲むことでチップ 間の絶縁を取っていることである。 なおトレンチ 6 0 4は、 多重トレ ンチである。
なお、 回路領域 6 0 1ないし 6 0 3内の各回路ブロックはトレンチ で囲むことで回路間の絶縁分離及び素子分離をしているがこれをさら に多重トレンチとし、 トレンチ間を接地することで相互干渉による雑 音シールドを形成することが出来る。 また、 回路領域のトレンチの多 重度は高耐圧キャパシタ部のトレンチの多重度よりも 1段高い多重度 とすることで、 破壊モードをキャパシタ部に限定するように絶縁協調 を考慮している。 このことで、 規格以上の高電圧がかかった場合でも 被害を限定してシステムを構築できる効果がある。
次に、 第 22図は、 第 20図の I— AFEを適用した DS Pモデム の実施例の回路図である。 第 22図において 500は I一 AFE, 7 00は e X— DSPであり、 モデムを電話回線と接続すると接続する 端子を T I P, R I NGには、 抵抗 701, 702と容量 703, 704とサージ保護素子 705とで構成する保護回路を経由して接続 する。 706, 707は NMOSトランジスタで形成した SWでこれ は受光素子 (例えば太陽電池) 708に接続される。 受光素子 708 は発光ダイオード 709の光を受けて 706, 707をオンオフして このスィッチの右側の回路に T I P, R I NGを通じて供給される 電力を供給する。 発光ダイオード 709はトランジスタ 710, 抵抗 71 1, 71 2からなるスィッチ回路で発光を制御される。 このスィ ツチの制御信号は POWER 〇Nである。 ダイオード 71 3, 71 4, 715, 716はブリッジを構成して、 T I P, R I NGに加わ る直流電圧の方向に関わらず電流の方向を一定にする働きを持つ。 柢 抗 717, 71 8, 容量 71 9, トランジスタ 720, 721 ,抵抗 722,NMOSトランジスタ 723からなる回路は直流閉結回路で あり、 I一 AFE 500の制御出力端子 GPOがハイになると NMO Sトランジスタがオンして、 抵抗 717と 718のバイアスに従って ダーリントントランジスタ回路 720, 721が動作して、 帰還抵抗 722とバランスしたところのループ (閉結) 電流を流す。 抵抗 72 4, 18 Vツエナーダイオード 725からなる回路は 3端子レギュ レータ 726および I -AFE 500に過大な電圧印加を阻止する保 護回路である。 容量 727は平滑キャパシタ、 容量 728及び 740 は I—AFEの出力回路と信号結合用キャパシタである。
モデムで送信するときには、 最初に POWER ON信号を発生し て NMOSスィツチ 706, 707をオンして 3端子レギュレータ 7 26を回線と接続して AFEに電流を供給し、 次に、 TXDから CONTRを通じてGPOをハィレベルにして NMOSスィツチ 72 3オンして、 ループ電流を流して局の交換機にモデムを回線に接続し たことを知らせる。 次に、 モデムから I— AFE 500を容量 7 28、 440を通じてダイヤル信号を送出し、 交換機が相手モデムを 接続するのを待つ。 接続された相手モデムは、 通常のモデム信号を発 生するので、 以降お互いに AFEを通じてモデム通信を行う。 容量 7 29, ツエナーダイオード 730, 73 1は一定電圧以下の着信信 号に応答しなくする感度調整回路で、 抵抗 732はダイオード 733 又は発光ダイオード 734の電流制限抵抗であり、 ホトトランジスタ 735は抵抗 736を負荷として発光ダイオード 734に着信信号が 流れたときに、 発光光を検出してモデム 700に R I NG DETE CT信号として伝えるものである。 モデムの受信時はこの信号がモデ ムに通知され、 POWER ON端子がこれに応答して NMOSスィ ツチ 706, 707及び 723をオンしてループ電流を流して電源を 入れ、 容量 728および 740を通じてモデム応答信号を返す。 これ 以降のモデム信号の送受信は、 送信時とほぼ同じである。
以上、 第 20図から第 22図で説明した本実施例によれば、 以下の ような特徴と効果が得られる。 第 1の特徴は、 I一 AFEの絶縁カブ ラ配列から左側の個別部品の回路を含めてアナログ入出力側回路はす ベて右側のデジタル入出力回路を絶縁していることが特徴である。 従 来は絶縁トランスを用いて絶縁してむしろ右側においた部分であり、 本実施例の I一 AFEによってトランスを削除でき小型なモデム装置 を構築することが出来る。 また、 第 2の特徵は I— AFEのアナログ 入出力側の回路に局からの給電を受けて電源を供給していることであ り、 このためにアナ口グ入出力部の電源をモデム装置側から供給する 必要がなくなって、 全体の消費電力低減に貢献している。 第 3の特徴 は個別部品部のスィッチを POWER ONスィッチ 706, 70 7とループ電流スィツチ 723とに分けていることで、 これによつて 回線接続開始時にループ電流を流さずに AFEに電源を供給して例え ば、 発信者番号通知など、 交 ,とモデムでの信号のやりとりに利用 することが出来る。
AFE内の絶縁力ブラの挿入位置は第 20図とは変更してもよい。 例えば、 絶縁力プラを ADC, DACと、 デシメータ, インターポレ ータとの間に配置する。 この部分のデータ転送速度は 2 b i t/wX 2M s p sあるいは 6 b i t /wX 2M s p sと速いので絶縁カプラ を並列にして用いており、 このために、 転送動作による遅延時間がほ ぼ無視できる。 このために、 例えばエコーキャンセラや終端を i n— DSPで処理する場合には第 20図の場合に比べて、 処理性能の制約 が少ないメリットがある。
なお、 NMOSスィッチ 706, 707のオンオフ制御回路として 、 チャージポンプ回路を用いてもよい。 チャージポンプ回路は、 複数 の容量と、 この容量に電荷を供給するドライバと、 電荷供給を制御す る複数のスィツチと力 らなり、 ドライバとスィツチによりある容量に 電荷を供給し、 次にスィッチを切り替えて他の容量に電荷を移す、 と いう操作を高速で繰り返すことにより、 他の容量に電圧を得る回路で ある。 第 22図の回路にこのチャージポンプ回路を適用すれば、 本発 明による絶縁バリヤと、 インバータドライバとスイッチングダイォー ドとを加えることによって、 シリコン半導体素子のみでオンオフ制御 回路を構成できる。 従って、 オンオフ制御回路を I—AFEと一緒に SO I基板に集積化できるので、 モデム装置の部品点数をさらに少な くすることができる。
以上、 絶縁力ブラへの AFEへの応用例を示したが、 本実施例によ れば、 上記したように絶縁力プラは I—AFEあたり 8ないし 13個 使用するにもかかわらず、 チップレイァゥト上は AFE全体の 10% 以下と小面積に出来る効果がある。 もちろん絶縁力ップラを並列数の 倍数の高速度で動作させて使用することで、 絶縁カツブラの使用数を 減らすような構成をとつてもかまわなレ、。 いずれにしても、 絶縁トラ ンスや、 外付けの高耐圧キャパシタを用いる絶縁カップラを用いる場 合に比較して、 著しく小形化できる効果は変わらない。 なお、 この集 積回路は大量生産に適しているために、 経済化がはかれることも特長 である。 特に、 最近の高速モデムはトランスに高性能を要求し、 この 為にコア材にパーマロイなどの高価な材料用いているために、 安価な 、 珪素鋼板を用いる場合に比べて 2ないし 3倍も部品費用がかかって いる。 この意味で、 本実施例を適用すれば、 高速モデム分野では、 小 型化だけではなく、 経済化にも大きく寄与する効果がある。 なお、 以 上説明したように、 本実施例によれば、 極めて小型のオンチップ高耐 圧キャパシタ、 また、 極めて小型のモノリシック絶縁カップラを実現 でき、 これを用いることで小型な AFEを実現でき、 この AFEを用 いることで小形、 経済的なモデム装置を実現できる効果がある。
第 23図はデム装置と、 ホスト (PC) とを組み合わせた通信シス テムの 1実施例の構成図である。 第 23図 (a) において、 810は 例えば第 22図に記載されたディスクリート回路の部分で、 保護素子 、 接続スィッチ、 直流閉結回路、 直流閉結スィッチ (DC loop) 、 呼 出信号検出回路等を含む DA A (Direct Access Arengment) 手段。 81 1は I一 AFEのような絶縁、 フィルタ、 AD、 DA手段、 81 2は DS Pのような変調復調手段、 81 3は1^[?11、 メモリ、 ソフ ト等から成る伝送制御手段であり、 これらでモデム部 800を構成し ている。 また、 801は PCのような応用制御手段で、 WS、 PC、 PDA等の内部のホスト CPUや専用 DS P、 または集合モデムの全 体制御 CPUであり、 ここでは PC基本部又はホストと呼ぶ。
なお、 応用制御手段としては、 上述したもののほかに、 デジタル信号 を扱う各種のデジタル機器や端末機器が有る。
第 23図 (a) は、 DSP、 MPU、 P Cにより階層的に信号処理 を分担するように構成した、 いわば、 従来型モデム構成に I一 AFE を用いた実施例であり、 I—AFEによって、 従来は DAA内にあつ た高価で形状が大きい絶縁トランスを削除し、 ホトカブラ数を低減し て、 装置の小型化、 経済化に貢献している。 なお、 モノリシック絶縁 力ブラは A F E内に内蔵されたが、 必要に応じて他の部分と組み合わ せて構成することができる。 また、 I— AFEと DSPとを一体ィ匕す る集積化をしても良い。
第 23図 (b) は I—AFEを用いたソフトモデム装置の 1実施例 の構成図である。 第 23図 (b) において、 第 23図 (a) と同じ符 号は同一名称であり、 822は変調復調手段 81 1と応用制御手段 8 03とを接続するインタフェース (IZF) 手段で約 0. 5Mby t eのバッファメモリとその他の制御論理回路を含む。 この構成の特徴 は、 変調復調手段、 伝送制御手段をホスト CPUにより一括処理する ことで、 変調復調手段 (DSP) 812、 伝送制御手段 (MPU) 8 13のハードを削減し、 モデム装置の大幅な小型化、 経済化を実現す るものである。 この構成の場合はモデム部分のハードが少なくなつた 分、 際立ってモノリシック絶縁力ブラによる小型化、 経済化の効果が 大きく見える。 この構成でも、 モノリシック絶縁力ブラは AFE以外 と組み合わせても良い。 IZF手段は、 AD、 DA変換データを一時 記憶するのが主たる機能であり、 I一 AFEと一体化して集積化すれ ば、 一層モデム装置が小型になる。 一方、 1/ 手段822は、 応用 制御手段 803と一体化しても良い。 モデム部と PC部が一体となる 、 ノート PC、 PDA, 集合型モデム装置等では、 元々、 このモデム 部という区分は稀薄であり、 他の要請によって配置を決めて良い。 以上のように、 モデム装置及びモデムを用いた通信システムにおい ても、 I一 A F E、 つまり、 モノリシック絶縁力プラを用いること により絶縁トランスを削除し、 ホトカブラ数を低減して小型化、 経済 化が図れることが明らかである。
なお、 モデム部と P C部の境界は標準化という点では、 P C I規格 のような並列バス、 I E E E 1 3 9 4、 U S Bのようなシリアルバス があり、 これらに適合する構成をとるのが本発明の適用を広げるに有 効であり、 小型化、 経済化の効果がある。
第 2 4図は、 さらに他の実施例のシステム構成図である。 第 2 4図 において、 8 5 0はコントローラ、 8 6 0〜8 6 2は絶縁力プラ、 8 5 1はトランシーバ、 8 5 2は電源レギユレータで、 これらによって 1つのステーション 8 4 0を構成している。 8 4 1は内部を開示して いないが他のステーションであり、 図示していないが、 更に他の複数 のステーションを想定しており、 これらのステーションは、 信号バス 8 7 1と電源バス 8 7 2と図示していない制御信号バスと、 電源 8 8 0とを含むネットワークバス 8 7 0に各々並列に接続している。 こ れらのステーションは、 コントローラ及び応用回路 (コントローラ側 回路部分) 8 5 0と、 トランシーバ 8 5 1、 電源レギユレータ 8 5 2 (ネットワーク側回路部分) は、 絶縁力ブラ 8 6 0〜 8 6 2によ つて絶縁分離しており、 ネットワーク側回路部分は電源バス 8 7 2よ り電源を供給するように、 トランシーバ 8 5 1は、 絶縁力ブラ 8 6 0 〜8 6 2を通じてコントローラ及び応用回路 8 5 0と信号バス 8 7 1 とを接続している。 なお、 絶縁力ブラはコントローラ及び応用回路 8 5 0と トランシーバ 8 5 1を接続して、 トランシーバ 8 5 1のスタン バイ動作を制御する。 あるステーション 8 4 0と他のステーションと の間で通信を実行するには、 起動するステーションからトランシーバ のスタンバイを解除し、 受信信号 Rを監視することで、 信号バス 8 7 1の空きを知り、 他のステ シヨン宛の送信信号 Tを送信する。 他の ステーションは、 時々 トランシーバのスタンバイを解除して、 受信信 号 R監視したり、 図示せぬネットワークバスの制御信号バスの状態を 監視したりして、 自分のステーション宛の信号であるかどうかを知り 、 そうであれば引き続いて信号を受信するというように制御する。 な お、 これらの制御シーケンスは 1例であり変形は可能である。 これら ネットワークに接続する機器に共通して云えることは、 ネットワーク とステーションの絶縁分離である。 つまり、 モデム同様にネットヮー クと端末とは他に異常な事態で異常電圧が発生しても、 これを拡散さ せないようにすることが不可欠であり、 従来は高価なトランスゃホト 力ブラがこの絶縁手段として使われていた。 このために小型化、 経済 化の問題があった。
本実施例のように、 モノリシック絶縁力ブラを適用することで、 シ ステムとして小型化、 経済化が図れるばかりでなく、 コントローラ回 路、 トランシーバ回路等と適宜組み合わせて I C化することにより、 回路としても小型化、 経済化が図れる利点がある。
以上、 実施例で説明したように、 本発明によれば、 モデム装置だけ でなく、 ネットワーク装置の小型化、 経済化が実現できるメリットが ある。
なお、 これらの例では、 ネットワークから電源供給がある事例につ いて説明したが、 応用回路側から絶縁して電源供給すれば他の通信シ ステム及び装置にも適用できる。 この場合、 経済化の効果は幾分低下 するが、 小型化の利点と合わせて有効な場合がある。
第 2 5図は、 絶縁体が一筆書きではなく、 第 1 5図 (c ) のように T字或いは Y字形の接続を許す場合の、 第 1 6図に対応した絶縁カブ ラのレイァゥト図である。 第 2 5図において、 2 0 1から 2 0 7は第 1 6図と同一名称である。 絶縁帯 2 0 6, は丸で囲んだ 6個所の部分 で Y字形の接続部分があり、 これによつて、 一つの入力回路領域と二 つの絶縁バリヤと一つの出力回路領域とを各々絶縁分離している。 こ のように絶縁体 2 0 6 'を配置することで、 第 1 6図にあつたような 、 入力回路と絶縁バリヤの配線や、 絶縁バリヤと出力回路間の配線を する際に、 高レ、絶縁を考慮する必要があつた領域間の領域や絶縁バリ ャの中間電極領域との間の絶縁を考慮する必要がなくなる効果がある o
第 2 6図は本発明の実施例であるディジタル絶縁力ブラのプロック 図である。
まず、 1次側回路領域と、 絶縁バリヤと、 2次側回路領域とは、 同 一半導体基板上で絶縁分離されている。 P 1 s— i n及び、 P 1 s _ o u tはそれぞれ、 絶縁力ブラの入力パルス信号、 及び、 出力パルス 信号である。 9 0 1は入力パルス信号 P 1 s— i nを元に相補のパル ス信号を発生する差動增幅回路である。 9 0 2は差動増幅回路 9 0 1 により駆動された相補パルス信号を高い絶縁耐圧をもって、 2次側に 結合する容量性の絶縁バリァである。 9 0 3は絶縁バリァ 9 0 2によ り 1次側から結合された信号を微分する微分回路である。 9 0 4は微 分回路 9 0 3により微分された信号対を入力して、 微分信号対の各々 のエツヂを検出して増幅する遷移検出回路である。 9 0 5は遷移検出 回路 4の出力信号を用いて入力パルス信号 P 1 s _ i nを再生 (復調 ) して出力パルス信号 P 1 s _ o u tを出力するパルス再生 (復調) 手段である。
本実施例では絶縁バリア 2を含む全ての回路をモノリシック I C内 に構成すると共に、 1次側回路領域と絶縁バリヤと 2次側回路領域と を絶縁分離して同一半導体基板上に形成することによりディジタル絶 縁力ブラの小型化を実現できる。 また、 本実施例では、 1次側から 2 次側への信号転送をディジタノレ信号で行っているためディジタル絶縁 力ブラであるが、 本実施例の入力部および出力部にそれぞれ、 AD変 換回路および D A変換回路を設けることにより、 容易にアナ口グ絶縁 力ブラを実現することもできる。
第 27図は本発明の実施例であるディジタル絶縁力ブラの具体的な 回路図である
。 また、 第 28図は第 27図の回路の動作波形を示す図である。 第 2 7図及び第 28図を用いて本発明によるディジタル絶縁力ブラの具体 的な実施例である回路の動作を説明する。
第 27図において、 910は入力パルス信号 P 1 s— i nを入力し て相補のパルス信号対 P 1 s—1を出力する差動増幅回路である。 初 段は CMOSの差動アンプで構成され、 基準電圧 Vr e f と入力パル ス信号 P 1 s_i nとの比較結果を相補信号で出力する。 次段 (駆動 段) のドライバは CMOSインバータで構成され、 これにより、 ほぼ 電源電圧に等しい振幅を有する相補のパルス信号対 (差動増幅回路出 力) P i s— 1を出力する。 920は 1次側と 2次側との絶縁耐圧を 有する容量性の絶縁バリヤである。 1次側及び 2次側の各々の端子は それぞれ、 高電位電源( VDD 1又は、 VDD2)との間、 また、 低 電位電源(VS S 1又は、 VS S 2)との間とに逆方向接続のダイォー ドを設け、 ノイズ等によるサージを吸収する手段としている。 絶縁バ リャそのものも、 前述するように、 同一半導体集積装置内に形成した 高耐圧の容量 (キャパシタ) を用いて構成する。 930は、 1次側か らの容量性結合により 2次側の端子に微分波形を出力するために設け た微分手段を成す負荷抵抗である。 負荷抵抗は高電位電源 VDD 2と 2次側の端子間を短絡するように設けている。 このため、 2次側の端 子は定常的には高電位電源 VDD 2の電位に固定され、 1次側の端子 の "H i" レベルから "Lo" レベルに遷移した時に、 "Lo" レべ ル側ヘスパイク状の微分波形を発生する。 940は、 微分信号対 P 1 s— 3を入力して、 入力パルス信号 P 1 s— i nの立ち上がりエツヂ と立ち下がりエツヂの各々を検出してワンショットパルス P 1 s— 4 を発生する遷移検出回路である。 入力段は、 微分信号対 P 1 s— 3を 互いに逆接続して入力信号とする、 対の CMOS差動アンプを用いる 。 対の CMOS差動アンプは、 各々、 シングルエンドの信号を出力す る。 CMOS差動アンプの入力信号は定常的に同レベルとなるため、 負荷は PMO Sのカレントミラーで構成した。
CMOS差動アンプは微分信号対 P 1 s— 3に電位差が生じた (入 力パルス信号 P 1 s— i nが遷移した) 時にのみ、 その電位差に対す る差動出力 (個々の CMOS差動アンプはシングルエンド出力) P I s— 40を出力する。 よって、 対の CMOS差動アンプの出力 P 1 s__40は 定常的には同一のレベルとなる。 このため、 次段の PMOS入力のレ ベル変換回路の出力は入力信号が同一レベルの時に中間レベル (次段 のゲートの論理しきい値付近のレベル) を出力しないように設計する 必要がある。 例えば、 本実施例の場合、 次段のフリップフロップから なるパルス再生 (復調) 回路は CMOSの N ANDゲートで受けるた め、 P I s— 40が同一レベルの時は "H i " レベルを出力するよ うにレベル変換回路の MOSのゲート幅等を設計する。 よって、 レべ ル変換回路は、 入力側の PMOS 1のゲート幅 Wp 1と NMOS 1の ゲート幅 Wn 1との比と、 出力側の PMOS 2のゲート幅 Wp 2と N MOS 2のゲート幅 Wn 2との比は同じにならないようにする。 遷移 検出回路 940の出力は定常的には双方とも "H i " レベルであり、 入力パルス信号 P 1 s_i nの遷移に対応して、 立ち上がり時に一方 に、 また、 立ち下がり時に他方に "し o" レベルのワンショットパル スを発生する。 9 50は遷移検出回路の出力信号 P 1 s— 4により、 入力パルス信号 P 1 s i nを 2次側に再生して出力パルス P 1 s— o n tを出力するフリップフ口ップで構成されたパルス再生回路であ る。 本実施例は 2組の CMOS— NANDゲートで構成されるフ リッププロップと、 1組の CMOSインバータのドライバとでパルス 再生回路を構成した例である。 必要によりフリップフ口ップをリセッ トするための手段を盛り込むこともできる。
本実施例の絶縁力ブラでは 2次側の端子が負荷抵抗を介して高電位 電源 VDD 2に短絡されているため、 1次側の立ち下がり動作が重要 になってくる。 このため、 差動増幅回路 9 1 0の出力段 CMOSイン バータは、 例えば、 CMOSインバータのように論理しきい値 VLT を、 (VDD— VS S) ノ 2より低く設定すると、 立ち下がりの遷移 時間が短くなりタイミングのバラツキを抑えることができる。 本実施 例の説明に当たっては回路の遅延時間に関して特に触れていないが、 動作の説明に係わる入力パルス信号のパルス幅などに比して回路の遅 延時間が十分小さ/、場合であり、 回路の遅延時間はあるものの特に考 慮しない。
本実施例によれば、 回路の構成要素を全て同一の半導体集積回路装 置内に構成するため小型化, 低価格化, 高信頼化が図れる。 また、 本 実施例では絶縁バリヤ前後の回路を差動回路で構成しているためコモ ンモードノィズの耐性を図ることができ、 S /Nを向上することがで きる。 また、 絶縁バリヤ後段の回路を対の差動アンプで構成すること により、 CMRRに優れた増幅回路を実現できる。 ここで CMRRと は Co讓 on Mode Rejection Rateの略称であり、 いわゆる同相信号除去 比のことである。 更に回路を単純な CMOSゲートで構成しているた め、 5 以下(1. 8 程度まで) の低電圧化にも十分対応できると共 に、 消費電力を抑える効果もある。
SO Iゥエーハの基板は、 本来接地して使用するのが一般的である が、 基板を浮動電位とすることで、 入力回路と出力回路間には二重に 埋め込み絶縁層が入り、 より高い耐圧とすることができる。 しかし、 一方で、 以下のような問題がある。
第 29図は、 複数の絶縁力ブラを同一の SO I半導体基板上に搭載 した場合に、 基板を浮動電位とした場合に問題となる場合のある絶縁 力ブラ間のクロストークの影響を軽減する手段を示す。
第 29図において、 ① I N 1と② I N 1は絶縁カプラ 961および 962の信号入力端子を、 ① OUT 2と② OUT 2はアイソレータ 9 61と 962の信号出力端子を示す。 端子 POWER 1と POWER 2はそれぞれ絶縁力ブラの一次回路および 2次回路へ供給する電源端 子であり、 それぞれ容量 963および 964によって S O Iゥエー ハの基板 965に接続している。 なお、 容量 966と 967は絶縁力 プラ 961および 962の基板 965との間に存在する浮遊容量であ り、 大部分は絶縁バリヤと基板との間の結合容量である。 このような 構成においては、 第一の絶縁力ブラ 961が動作すると容量 966を 通じて基板に漏れた信号成分が生じ、 これが容量 967や図示せぬ 2 次回路と基板の結合容量によつて第二の絶縁力ブラの動作に影響を与 える心配があるが、 この場合に容量 963および 964を接続したた めにを基板に生じた雑音はこれらの容量を通じて低いインピーダンス の電源に吸収される。 これらの絶縁力ブラが逆の場合にも同じである 。 容量ィ直は 966, 967が l pF、 963, 964は l O O pFな レヽし 1000 pFにすると効果が著しい。 なお、 この実施例では、 容 量 963, 964は半導体とは別個の部品として説明したが、 I— A FEなどのように、 絶縁力ブラ以外の回路面積が大きくて、 結果的に 一次回路及び二次回路と基板に対するそれぞれの結合用量が大きい場 合には容量の付加は不要である。 このように、 複数の絶縁力ブラが異 なる方向を向いている場合にも同様の作用効果が得られる。
以上説明したように、 本実施例によれば、 基板が浮動電位のときに 、 一次回路及び二次回路と基板との間の結合容量を大きくとるか半導 体の外で基板と電源との間に大きな容量を接続することによってクロ ストークの影響を軽減することができる効果がある。
なお、 基板を浮動電位にしたときに最も高!/、耐圧性能が出せるの は、 基板と入力回路の間の結合容量と、 基板と出力側回路との結合 容量とが、 等しい値のときである。 しかし何らかの条件で、 この容量 のバランスが取れない場合には、 上記した外付け容量によって、 クロ ストーク対策をかねて兼用することができる。 なお、 この容量として サージ吸収素子を用いる事も可能であり、 この場合、 上記した効果の ほかにサージ抑圧の効果が得られる。 産業上の利用可能性
本発明によれば、 小型で高性能な絶縁力ブラ及びモデムィンターフ ェイス回路、 及び小型で経済的なモデム装置を実現できる効果がある

Claims

請求の範囲
1 . 応用制御手段と回線との間において信号を変調及び復調するモデ ム装置において、
応用制御手段と回線とを容量性絶縁バリャによつて分離する絶縁力 ブラを備え、
少なくとも容量性絶縁バリヤが S O I基板に形成されることを特徴 とするモデム装置。
2 . 請求項 1のモデム装置において、 回線と接続され回線との間で信 号を入出力する回線側回路と、 入出力信号を変調または復調する D S
Pと、 回線側回路と D S Pとの間のアナログ ·デジタルインターフエ ースと、 を備えることを特徴とするモデム装置。
3 . 請求項 2のモデム装置において、 絶縁力ブラは、 回線側回路とァ ナログ ·デジタルインターフェースとの間に接続され、 回線側回路及 び絶縁力ブラが S O I基板に集積されることを特徴とするモデム装置
4 . 請求項 2のモデム装置において、 絶縁カプラは、 アナログ 'デジ タルインターフェースと D S Pとの間に接続され、 回線側回路, アナ 口グ ·デジタルィンターフェース及び絶縁力ブラが S〇 I基板に集積 されることを特徴とするモデム装置。 ,
5 . 請求項 2のモデム装置において、 容量性絶縁バリヤを使用したチ ヤージポンプ回路によって CMO Sスィツチを駆動して、 回線側回路 を制御することを特徴とするモデム装置。
6 . 請求項 2のモデム装置において、 直流閉結制御信号をオンするこ とによつて着信検出信号パスを制御することを特徴とするモデム装置
7 . 請求項 2のモデム装置において、 制御信号と D A変換、 内部状態 信号と AD信号とをマルチプレタスすることを特徴とするモデム装置 o
8 . 請求項 8のモデム装置において、 音声帯域信号を圧縮することを 特徴とするモデム装置。
9 . 請求項 2のモデム装置において、 回線側回路, アナログ ·デジタ ルインターフェース及び絶縁力ブラの動作タイミングを D S Pの動作 クロックと同期させることを特徴とするモデム装置。
10. 請求項 2のモデム装置において、 制御信号を誤り訂正符号化して から絶縁力ブラを通じて信号伝送することを特徴とするモデム装置。
11. 応用制御手段と回線との間において信号を変調及び復調するモデ ム装置において、
回線と接続され回線との間で信号を入出力する回線側回路と、 入出 力信号を変調または復調する D S Pと、 回線側回路と D S Pとの間の アナログ ·デジタルインターフェースと、 応用制御手段と回線とを分 離する絶縁力ブラと、 を備え、
回線側回路, アナログ ·デジタルインターフェース及び絶縁力ブラ の動作タイミングを D S Pの動作クロックと同期させることを特徴と するモデム装置。
12. 請求項 1 0のモデム装置において、 モデム信号受信用絶縁カプラ の搬送波クロックを直流閉結制御信号パス用クロックから再生して用 いることを特徴とするモデム装置。
13. 応用制御手段と回線との間において信号を変調及び復調するモデ ム装置において、
回線と接続され回線との間で信号を入出力する回線側回路と、 入出 力信号を変調または復調する D S Pと、 回線側回路と D S Pとの間の アナログ ·デジタルインターフェースと、 応用制御手段と回線とを分 離する絶縁力ブラと、 を備え、 制御信号を誤り訂正符号化してから絶縁力ブラを通じて信号伝送す ることを特徴とするモデム装置。
14. 応用制御手段と、 応用制御手段と回線との間において信号を変調 及び復調するモデム装置と、 を備えるシステムにおいて、
モデム装置が、 応用制御手段と回線とを容量性絶縁バリヤによって 分離する絶縁力ブラを備え、 少なくとも容量性絶縁バリヤが S O I基 板に形成されることを特徴とするシステム。
15. 応用制御手段と回線との間において信号を変調及び復調するモデ ム装置に用いられる集積回路において、 回線と接続され回線との間で 信号を入出力する回線側回路と、 回線側回路に接続され、 回線と応用 制御手段との間を絶縁分離する容量性絶縁バリャとを同じ S O I基板 に形成したことを特徴とする集積回路。
16. 応用制御手段と回線との間において信号を変調及び復調するモデ ム装置に用いられる集積回路において、 アナログ ·デジタルインター フェースと、 アナログ ·デジタルインターフェースに接続され、 回線 と応用制御手段との間を絶縁分離する容量性絶縁バリャとを同じ S〇 I基板に形成したことを特徴とする集積回路。
17. S O I基板に、 埋め込み絶縁層に達する溝を形成し、 該溝を絶縁 物で埋め込むことによって絶縁帯を形成し、 該絶縁帯で S O I基板の シリコン領域を囲み容量を形成したことを特徴とする容量性絶縁バリ ャ。
18. 請求項 1 7の容量性絶縁バリヤにおいて、 多重の絶縁帯によって 直列容量を形成することを特徴とする容量性絶縁バリャ。
19. 請求項 1 7の容量性絶縁バリャにおいて、 S O I基板の表面に、 多層の配線層間膜を形成することを特徴とする容量性絶縁バリャ。
20. 同一の S O Iゥェ一ハに、 埋め込み絶縁層に達する溝を形成し 、 該溝を絶縁物で埋め込むことによって絶縁帯を形成し、 該絶縁帯で S O Iゥエーハ上のシリコン領域を囲み容量を形成した容量性絶縁バ リャと、 入力回路と、 出力回路と、 を形成し、 これらを絶縁帯で囲ん で各領域となして領域相互間を絶縁し、 入力回路と絶縁バリャの一方 の電極間及び容量性絶縁バリャの他方の電極間と出力回路とを配線す ることを特徴とする絶縁力ブラ。
21. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 S O I基板上に、 入力回路の 領域と出力回路の領域とを絶縁バリャを挟んで配置することを特徴と する絶縁力ブラ。
22. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 絶縁力プラを形成した領域を 絶縁帯で囲んだことを特徴とする絶縁力ブラ。
23. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 回路領域の内部を、 絶縁帯に よって、 電源に直接接続する回路領域及び接地端子に直接接続する領 域とに分離したことを特徴とする絶縁力ブラ。
24. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 複数の容量性絶縁バリゃを備 え、 複数の絶縁バリヤ間の中間領域を接地することを特徴とする絶縁 力ブラ。
25. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 チップ上の最外周に多重の絶 縁トレンチを配置したことを特徴とする絶縁力ブラ。
26. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 絶縁バリヤと入力回路及び出 力回路との間に非線型素子を有する保護回路を配置したことを特徴と する絶縁力ブラ。
27. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 入力回路または出力回路を C MO S回路とし、 該 CMO S回路の領域を、 絶縁帯によって P MO S 領域及び NMO S領域に分離したことを特徴とする絶縁力ブラ。
28. 請求項 2 0の絶縁力ブラにおいて、 入力回路領域, 出力回路領域 及び容量性絶縁バリヤが絶縁帯で囲まれ、 回路領域の絶縁帯の多重度 を容量性絶縁バリャの絶縁帯の多重度よりも少なくとも 1段高い多重 度とすることを特徴とする絶縁力ブラ。
29. 入力回路と、 出力回路と、 入力回路と出力回路とを絶縁分離する 容量性絶縁バリヤを有し、 少なくとも容量性絶縁バリャが S O I基板 に形成されることを特徴とする絶縁力ブラ。
30. 少なくとも、 入力回路と、 出力回路と、 入力回路と出力回路とを 絶縁分離する容量性絶縁バリャが同一半導体基板に集積化され、 容量 性絶縁バリヤの出力信号を検出する検出回路の前に前置増幅器を配置 したことを特徴とする絶緣カブラ。
31. 同一の S O Iゥエーハに、 埋め込み絶縁層に達する溝を形成し、 該溝を絶縁物で埋め込むことによって絶縁帯を形成し、 該絶縁帯で S O Iゥエーハ上のシリコン領域を囲み容量を形成した容量性絶縁バリ ャと、 入力回路と、 出力回路と、 を形成し、 容量性絶縁バリヤの領域 と、 入力回路の領域と、 出力回路の領域とを絶縁分離する絶縁帯が、
T字或いは Y字形の接続箇所を有することを特徴とする絶縁力ブラ。
32. 互いに絶縁分離された 1次側である第 1の回路領域と、 2次側 である第 2の回路領域とが、 同一の半導体基板上に形成され、 第 1の 回路領域にあって、 ディジタル信号である第 1のパルス信号を入力し て相補信号である第 2のパルス信号対を出力する差動増幅回路と、 前 記半導体基板上にあって、 第 2のパルス信号対を、 電気的に分離した 1次側から 2次側へ結合するキャパシタ対からなる絶縁分離手段と、 第 2の回路領域にあって、 1次側からの結合により、 第 2のパルス信 号対の遷移タイミングに対応した微分波形を有する第 3のパルス信号 対を発生する対の微分手段と、 第 2の回路領域にあって、 第 3のパル ス信号対を入力信号とし、 前記微分手段により得られた微分信号対の エツヂのタイミングから、 ディジタル信号である前記第 1のパルス信 号を再生するパルス復調手段とを有することを特徴とする絶縁力ブラ
33. 請求項 3 2の絶縁力ブラにおいて、 微分手段が絶縁分離手段の 2 次側の端子と 2次側の高電位電源との間に設けた抵抗素子で構成され 、 定常レベルが高電位電源レベルであることを特徴とする絶縁力ブラ o
34. 請求項 3 3の絶縁カプラにおいて、 第 1のパルス信号を入力して 相補信号である第 2のパルス信号対を出力する第 1の差動増幅回路の 出力段の論理しきい値が、 前記出力段の電源電圧の 2分の 1より低い レベルであることを特徴とする絶縁力プラ。
35. 請求項 3 2の絶縁力ブラにおいて、 前記差動増幅回路及び前記パ ルス復調手段が CMO Sで構成されていることを特徴とする絶縁力プ ラ。
36. 請求項 3 2において、 前記パルス復調手段の初段が対の差動回路 で構成されていることを特徴とする絶縁力ブラ。
37. S O Iウェハーに、 埋め込み絶縁層に達する溝を絶縁物で充填し た帯状の領域を誘電体とした容量領域と、 容量駆動回路を含む入力回 路領域と、 容量経由信号検出回路を含む出力回路領域とを備え、 S O Iウェハーの基板電位を浮動電位とすることを特徴とする絶縁力プラ
0
38. S〇 Iウェハー上に、 埋め込み絶縁層に達する溝を絶縁物で充填 した帯状の領域を誘電体とした容量領域と、 容量駆動回路を含む入力 回路領域と、 容量経由信号検出回路を含む出力回路領域とを備え、 S O Iウェハーの基板電位を浮動電位とし、 外付けコンデンサを基板と 電源あるいは接地との間に接続することを特徴とするモノリシック絶 縁力ブラ。
39. アナログ 'デジタルインターフェースである A F E (Analog
Front End) 回路と、 A F E回路のアナログ入出力回路とデジタル入 出力回路との間を絶縁分離する容量性絶縁バリャを有する絶縁力ブラ と、 を同一の SO I基板上に形成することを特徴とする AFE集積回 路。
40. 請求項 39の AFE集積回路において、 AFE回路の AD変換 回路及び D A変換回路がオーバーサンプル方式であり、 絶縁力ブラを 、 オーバーサンプル AD回路と AD用デジタル信号処理回路との間, 及びオーバーサンプル D A回路と D A用デジタル信号処理回路との間 に挿入したことを特徴とする A FE集積回路。
41. 請求項 39の AFE集積回路において、 アナログ入出力側回路と デジタル入出力側回路との間にタイミング同期用の絶縁力ブラを配置 したことを特徴とする A F E集積回路。
42. 請求項 40の AFE集積回路において、 モデム信号処理の結果生 じた ADCのサンプルタイミングの遅れ進みを、 オーバーサンプルタ ィミングク口ック周波数の微小変化として AF E回路に伝え、 AF E 回路ではこれに内部クロックを PLL (Phase Locked Loop) 同期し て内部タイミングを作成することを特徴とする AFE集積回路。
43. アナログ 'デジタルインターフェースである AFE (Analog Front End) 回路と、 A F E回路のアナログ入出力回路とデジタル入 出力回路との間を絶縁分離する容量性絶縁バリャを有する絶縁力ブラ と、 を備え、 アナログ入出力回路側及びデジタル入出力回路側にそれ ぞれ置いた一組のレジスタと絶縁力ブラとを制御レジスタ手段とする ことを特徴とする A FE集積回路。
44. アナログ ·デジタルインターフェースである AFE (Analog Fro nt End) 回路と、 AFE回路のアナログ入出力回路とデジタル入出 力回路との間を絶縁分離する容量性絶縁バリャを有する絶縁力ブラと 、 を備え、 アナログ入出力回路側及びデジタル入出力回路側にそれぞ れ置いた一組のレジスタとモノリシック絶縁力ブラとを汎用入出力手 段とすることを特徴とする AFE集積回路。
45. D A A手段, A F E (Analog Front End) 手段, 変調復調手段, 伝送制御手段, 及び回線と応用制御手段との間の絶縁手段から成り、 絶縁手段を容量性絶縁バリヤを備える絶縁力ブラとすることを特徴と するモデム装置。
46. D AA手段, A F E (Analog Front End) 手段, インダーフエ イス手段及び、 回線と応用制御手段との間の絶縁手段から成り、 絶縁 手段を容量性絶縁バリャを備える絶縁力ブラとすることを特徴とする モテム装置。
47. 請求項 4 5あるいは請求項 4 6のモデム装置において、 A F E手 段に変調復調手段を内蔵したことを特徴とするモデム装置。
48. 請求項 4 5あるいは請求項 4 6のモデム装置において、 A F E手 段に複数の絶縁力ブラ及び変調復調手段を内蔵したことを特徴とする モデム装置。
49. 請求項 4 5あるいは請求項 4 6のモデム装置において、 モデム部 と応用制御手段との間をシリアルバス接続する手段として、 モデム部 と応用制御手段の双方にシリアルバス接続ハード及びシリアルバス伝 送ソフトから成るインターフェイス手段を用いることを特徴とするモ デム装置。
50. 請求項 4 5あるいは請求項 4 6のモデム装置と、 モデム装置に接 続される応用制御手段と、 からなるシステム。
51. 少なくとも、 ネットワークコントロール及び応用回路手段, トラ ンシ一バ手段, ネットワークコントロール手段及び応用回路手段とト ランシーバ手段との間の絶縁手段, 及び電源レギユレータ手段と、 を 含む複数のステーションと、 各ステーションの間を接続するネットヮ ーク手段から成り、 絶縁手段が容量性絶縁バリヤを有する絶縁力ブラ であることを特徴とする通信装置。
52. 請求項 5 1の通信装置において、 絶縁力ブラと、 ネットワークコ ントロール及び応用回路手段あるいはトランシーバ手段と、 あるいは これら両方と、 を 1つの半導体チップに集積化したことを特徴とする
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