WO2004082018A3 - Elektronisches bauteil mit halbleiterchip und kunststoffgehäuse und verfahren zur herstellung desselben - Google Patents

Elektronisches bauteil mit halbleiterchip und kunststoffgehäuse und verfahren zur herstellung desselben Download PDF

Info

Publication number
WO2004082018A3
WO2004082018A3 PCT/DE2004/000461 DE2004000461W WO2004082018A3 WO 2004082018 A3 WO2004082018 A3 WO 2004082018A3 DE 2004000461 W DE2004000461 W DE 2004000461W WO 2004082018 A3 WO2004082018 A3 WO 2004082018A3
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
semiconductor chip
producing
electronic component
plastic housing
same
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/DE2004/000461
Other languages
English (en)
French (fr)
Other versions
WO2004082018A2 (de
Inventor
Robert-Christian Hagen
Simon Jerebic
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Priority to US10/548,854 priority Critical patent/US7508083B2/en
Priority to EP04718612A priority patent/EP1606841A2/de
Publication of WO2004082018A2 publication Critical patent/WO2004082018A2/de
Publication of WO2004082018A3 publication Critical patent/WO2004082018A3/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
    • H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
    • H10W74/111—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition the semiconductor body being completely enclosed
    • H10W74/127—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition the semiconductor body being completely enclosed characterised by arrangements for sealing or adhesion
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D62/00—Semiconductor bodies, or regions thereof, of devices having potential barriers
    • H10D62/10—Shapes, relative sizes or dispositions of the regions of the semiconductor bodies; Shapes of the semiconductor bodies
    • H10D62/117—Shapes of semiconductor bodies
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
    • H10W74/01—Manufacture or treatment
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
    • H10W74/10—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
    • H10W74/111—Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition the semiconductor body being completely enclosed

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft ein elektronisches Bauteil, das einen Halbleiterchip (1). Dieser Halbleiterchip (1) ist in einem Kunststoffgehäuse (6) derart eingebettet, dass seine Rückseite (3) und seine Randseiten (4, 5) in einer Kunststoffmasse (7) eingebettet sind. Die Randseiten (4, 5) und/oder die Rückseite (3) des Halbleiterchips (2) weisen einen Verankerungsbereich (10) auf, über den der Halbleiterchip (1) mit der umgebenden Kunststoffmasse (7) formschlüssig in Eingriff steht. Ferner betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Herstellung des Bauteils.
PCT/DE2004/000461 2003-03-11 2004-03-09 Elektronisches bauteil mit halbleiterchip und kunststoffgehäuse und verfahren zur herstellung desselben Ceased WO2004082018A2 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US10/548,854 US7508083B2 (en) 2003-03-11 2004-03-09 Electronic component comprising a semiconductor chip and a plastic housing, and method for producing the same
EP04718612A EP1606841A2 (de) 2003-03-11 2004-03-09 Elektronisches bauteil mit halbleiterchip und kunststoffgehäuse und verfahren zur herstellung desselben

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10310842A DE10310842B4 (de) 2003-03-11 2003-03-11 Elektronisches Bauteil mit Halbleiterchip und Kunststoffgehäuse
DE10310842.4 2003-03-11

Publications (2)

Publication Number Publication Date
WO2004082018A2 WO2004082018A2 (de) 2004-09-23
WO2004082018A3 true WO2004082018A3 (de) 2004-11-11

Family

ID=32920753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/DE2004/000461 Ceased WO2004082018A2 (de) 2003-03-11 2004-03-09 Elektronisches bauteil mit halbleiterchip und kunststoffgehäuse und verfahren zur herstellung desselben

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7508083B2 (de)
EP (1) EP1606841A2 (de)
DE (1) DE10310842B4 (de)
WO (1) WO2004082018A2 (de)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005023949B4 (de) 2005-05-20 2019-07-18 Infineon Technologies Ag Verfahren zur Herstellung eines Nutzens aus einer Verbundplatte mit Halbleiterchips und einer Kunststoffgehäusemasse und ein Verfahren zur Herstellung von Halbleiterbauteilen mittels eines Nutzens
US20070111399A1 (en) * 2005-11-14 2007-05-17 Goida Thomas M Method of fabricating an exposed die package
DE102006060629A1 (de) * 2006-12-21 2008-06-26 Robert Bosch Gmbh Elektrisches Bauelement
JP4525786B2 (ja) * 2008-03-31 2010-08-18 Tdk株式会社 電子部品及び電子部品モジュール
JP2012199420A (ja) * 2011-03-22 2012-10-18 Fujitsu Ltd 半導体装置
JP2014192347A (ja) * 2013-03-27 2014-10-06 Murata Mfg Co Ltd 樹脂封止型電子機器およびそれを備えた電子装置
GB2514547A (en) 2013-05-23 2014-12-03 Melexis Technologies Nv Packaging of semiconductor devices
KR101933424B1 (ko) * 2017-11-29 2018-12-28 삼성전기 주식회사 팬-아웃 반도체 패키지
EP3800660B1 (de) 2019-10-02 2025-02-19 STMicroelectronics S.r.l. Siliciumcarbid-leistungsvorrichtung mit verbesserter robustheit und entsprechendes herstellungsverfahren
JP7247124B2 (ja) * 2020-01-07 2023-03-28 三菱電機株式会社 半導体モジュール
JP7758501B2 (ja) 2020-09-04 2025-10-22 エスティーマイクロエレクトロニクス エス.アール.エル. 信頼性を改善した電子装置の要素の製造方法、及び関連要素、電子装置、及び電子機器
CN216413051U (zh) 2020-09-04 2022-04-29 意法半导体股份有限公司 半导体设备
KR20230034783A (ko) * 2021-09-03 2023-03-10 삼성전자주식회사 반도체 패키지 및 그의 제조 방법
US12315836B2 (en) * 2022-01-03 2025-05-27 Wolfspeed, Inc. Limiting failures caused by dendrite growth on semiconductor chips
US20240421044A1 (en) * 2023-06-16 2024-12-19 Wolfspeed, Inc. Die-Attach Fillet Height Reduction

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63143851A (ja) * 1986-12-08 1988-06-16 Nec Corp 半導体装置
JPH02144946A (ja) * 1988-11-26 1990-06-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
DE19509262A1 (de) * 1995-03-15 1996-09-19 Siemens Ag Halbleiterbauelement mit Kunststoffumhüllung
US6184064B1 (en) * 2000-01-12 2001-02-06 Micron Technology, Inc. Semiconductor die back side surface and method of fabrication
DE10206661A1 (de) * 2001-02-20 2002-09-26 Infineon Technologies Ag Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0563112A (ja) 1991-09-03 1993-03-12 Sony Corp 半導体装置
DE4401588C2 (de) * 1994-01-20 2003-02-20 Gemplus Gmbh Verfahren zum Verkappen eines Chipkarten-Moduls und Chipkarten-Modul
DE19940564C2 (de) 1999-08-26 2002-03-21 Infineon Technologies Ag Chipkartenmodul und diesen umfassende Chipkarte, sowie Verfahren zur Herstellung des Chipkartenmoduls
US6869894B2 (en) * 2002-12-20 2005-03-22 General Chemical Corporation Spin-on adhesive for temporary wafer coating and mounting to support wafer thinning and backside processing

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63143851A (ja) * 1986-12-08 1988-06-16 Nec Corp 半導体装置
JPH02144946A (ja) * 1988-11-26 1990-06-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
DE19509262A1 (de) * 1995-03-15 1996-09-19 Siemens Ag Halbleiterbauelement mit Kunststoffumhüllung
US6184064B1 (en) * 2000-01-12 2001-02-06 Micron Technology, Inc. Semiconductor die back side surface and method of fabrication
DE10206661A1 (de) * 2001-02-20 2002-09-26 Infineon Technologies Ag Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 012, no. 403 (E - 674) 26 October 1988 (1988-10-26) *
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 014, no. 391 (E - 0968) 23 August 1990 (1990-08-23) *

Also Published As

Publication number Publication date
US20060255478A1 (en) 2006-11-16
WO2004082018A2 (de) 2004-09-23
DE10310842B4 (de) 2007-04-05
US7508083B2 (en) 2009-03-24
DE10310842A1 (de) 2004-09-30
EP1606841A2 (de) 2005-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2003067657A3 (de) Halbleiterbauteil mit sensor- bzw. aktoroberfläche und verfahren zu seiner herstellung
WO2002001634A3 (de) Systemträger für halbleiterchips und elektronische bauteile sowie herstellungsverfahren für einen systemträger und für elektronische bauteile
EP1498456A4 (de) Organische halbleiterzusammensetzung, organisches halbleiterelement und herstellungsverfahren dafür
ZA200704795B (en) Optically variable element comprising an electrically active layer
WO2005053784A3 (en) Lead stabilization devices and methods
AU2002236231A1 (en) Insert and electronic component handler comprising it
TWI346591B (en) Laser processing method and semiconductor chip
SG96686A1 (en) Multi-level integrated circuit for wide-gap substrate bonding
EP1552555A4 (de) Kapselungstechnik für elektronische und optoelektronische komponenten
DE60238389D1 (de) Verfahren zur herstellung von elektronikbauteilmaterial
WO2007065404A3 (de) Chipkarte und verfahren zur herstellung einer chipkarte
AU2003248770A8 (en) Integrated circuit including field effect transistor and method of manufacture
EP1755069A4 (de) Dünnes ic-etikett und herstellungsverfahren dafür
WO2004003991A3 (de) Elektronisches bauteil mit einer gehäusepackung
WO2005081316A3 (de) Halbleiterbauteil mit einem umverdrahtungssubstrat und verfahren zur herstellung desselben
AU2002351666A1 (en) Molecular electronic component used to construct nanoelectronic circuits, molecular electronic component, electronic circuit and method for producing the same
FR2848024B1 (fr) Encapsulage de circuit integre permettant d'ameliorer la surface de montage de puces
GB0312399D0 (en) Inline formed crossfold package and method
DE602005026448D1 (de) Mikrowellen-miniaturgehäuse und verfahren zur herstellung dieses gehäuses
SG105014A1 (en) Optoelectronic component and method for producing it
AU2002357592A1 (en) Flip-chip mounting electronic component and method for producing the same, circuit board and method for producing the same, method for producing package
AU2003223130A1 (en) Combination-type ic card and method of manufacturing the combination-type ic card
WO2004109590A3 (de) Datenträger und herstellungsverfahren
WO2003078348A3 (en) Method of improving material comprising a pozzolanic component
WO2003031319A3 (de) Adhäsionsverminderte mikromechanische bauelemente

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A2

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IT LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2004718612

Country of ref document: EP

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 2004718612

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2006255478

Country of ref document: US

Ref document number: 10548854

Country of ref document: US

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 10548854

Country of ref document: US