WO2008004443A1 - Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse - Google Patents

Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse Download PDF

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Shigeo Hori
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Anritsu Corp
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • G01M11/3145—Details of the optoelectronics or data analysis

Definitions

  • the present invention relates to an optical time domain reflectometer and an optical fiber test method using an optical pulse, and in particular, an optical pulse is incident on an optical fiber to be measured, and the measurement is performed according to the incident light pulse.
  • an optical pulse tester that detects the failure point position of the measured optical fiber based on the detection result of the reflected light returning from the optical fiber, and measures the transmission loss characteristics and connection loss characteristics of the measured optical fiber. Petit Caltime Domain Reflectometer
  • the present invention relates to a method of testing an optical fiber using (OTDR) and an optical pulse.
  • An optical time domain reflectometer as an optical noise tester injects an optical pulse into a measurement optical fiber, and returns from the optical fiber under measurement with the incidence of the optical pulse. It is used to detect reflected light, detect the failure point position of the measured optical fiber based on the detection result of this reflected light, and measure the transmission loss characteristics and connection loss characteristics of the measured optical fiber, etc. Ru.
  • FIG. 9 is an example of an optical time domain reflectometer (OTDR) as an optical pulse tester generally known from the prior art and disclosed in Patent Document 1 below! It is a block diagram shown in order to demonstrate the structure of a loop tester.
  • OTDR optical time domain reflectometer
  • the optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG. 9 has a timing generation unit 52 and a drive circuit 53.
  • a light source 54 an optical directional coupler 55, a light receiver 56, an amplification unit 57, an averaging processing unit 58, a logarithmic conversion unit 59, and a display unit 60.
  • OTDR optical pulse tester
  • the light pulse emitted from the light source 54 passes through the light directional coupler 55 and is incident on the measured optical fiber 61 to be tested.
  • Return light such as backscattered light and reflected light from the measured optical fiber 61 is a light directional coupler From 55, it is sent to the light receiver 56.
  • the light receiver 56 converts return light such as backscattered light and reflected light from the measured optical fiber 61 sent from the optical directional coupler 55 to the light receiver 56 into an electric signal.
  • the electrical signal output from the light receiver 56 is amplified by the amplification unit 57.
  • the average addition processing unit 58 converts the analog electrical signal amplified by the amplification unit 57 into a digital signal by analog Z digital (AZD) conversion, and cumulatively adds up a predetermined number of times. , Averaging process.
  • the averaged output from the average addition processing unit 58 is logarithmically converted by the logarithmic conversion unit 59, and the result of the logarithmic conversion is displayed on the display unit 60 as a normally falling measurement waveform.
  • the average measurement is a measurement waveform having a good signal-to-noise ratio (S / N ratio) by accumulating and averaging a predetermined number of repeated measurement waveforms over a relatively long time of several seconds and tens of seconds. It is a measurement to obtain.
  • S / N ratio signal-to-noise ratio
  • the optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG. 9 is configured to include the SN ratio comparison unit 50 and the data storage unit 51 in addition to the above-described configuration.
  • the data storage portion 51 stores the data of the portion of the measurement waveform, which has a good SN ratio improved to a predetermined value or more.
  • the data storage portion 51 stores the data of the portion of the measurement waveform, which has a good SN ratio improved to a predetermined value or more.
  • the hardware setting including the gain and frequency characteristics of the amplification unit 57 and the number of additions by the average addition processing unit 58 (average number) are usually made.
  • the attenuator value that is optimal according to the S / N ratio of the measurement waveform can be appropriately determined by expressing a plurality of attenuator values in attenuation amounts in dB units in advance. You can see it as you set it.
  • the amplification unit 57 and the average addition processing unit 58 constitute an attenuator equivalent to the optical signal before being converted into the electrical signal.
  • the gain of the amplification unit 57 is obtained according to the SN ratio of the measurement waveform with respect to the equivalent attenuator by the amplification unit 57 and the average addition processing unit 58. And, by performing measurement while appropriately changing a specific attenuator value by a plurality of combinations of hardware setting including frequency characteristics and average addition number in average addition processing unit 58, as a result, the SN ratio of a predetermined value or more is obtained. Only good measurement waveforms can be joined together.
  • the real-time measurement is performed for a relatively short time of 0.1 second to 1 second with the attenuator value fixed. Since the measured waveforms are cumulatively added and averaged, and such measured results are updated one after another, they are suitable for measurement to observe the condition and change of the optical fiber at that time.
  • real-time measurement is carried out, for example, in the case of checking the connection state of the optical fiber while connecting the optical fiber by connector connection or fusion. As such, it is often used in applications requiring quick response.
  • the backscattered light returning from the measured optical fiber 61 to be measured is due to the Rayleigh scattering generated in the optical fiber 61.
  • the level of this backscattered light is such that the measured optical fiber 61 has a normal single-mode optical fiber.
  • the light pulse width incident on the optical fiber to be measured is 1 ⁇ 10 — 6 seconds, the value is about 50 dB lower than the incident pulse light level.
  • the optical pulse tester (OTDR) 49 uses digital averaging, which repeatedly measures and accumulates a predetermined number of times to process such a minute signal, and averages it. It is necessary to improve the SN ratio.
  • the averaging processor 58 of the optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG. 9 is intended to improve the SN ratio by using such digital averaging.
  • FIG. 10 for example, an average number of 10 times, SN ratio - at 30 dB, SN ratio Taking average of 10 twice becomes 10 dB, it will be 20dB improvement.
  • Non-Patent Document 1 A technique for improving the SN ratio using such digital averaging is also described in Non-Patent Document 1 below.
  • FIG. 11 is a view exemplifying a measurement waveform when measurement of return loss with a large level difference in the measurement waveform is performed by average measurement using the conventional optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG. It is.
  • OTDR optical pulse tester
  • each end face of the optical fiber to be connected to the installation site of the optical fiber at a remote place away from the measurement end by 20 Km or more I think that it will be done when the work of fusion bonding is done by a different operator than the measurer.
  • the fusion worker since it takes time to measure the return loss in the average measurement, the fusion worker is already aware that the return loss measurement result is out of the acceptable range. It often happens that the operation is shifted to the next optical fiber fusion operation, and there is a problem that the measurement timing and the fusion operation timing do not match.
  • the number of additions (average number of times) of the measured waveform is smaller than that of average measurement, and the attenuator value is fixed for measurement, resulting in a good SN ratio in the obtained measured waveform.
  • the waveform level of the object to be measured largely fluctuates in the obtained measurement waveform, or the situation of another distance is If you try to look at it, there is a problem that the waveform level of the distance at which the operator is watching tends to deviate from the area suitable for measurement.
  • the conventional optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG. 9 in real time measurement, when it is desired to know the loss value between two points in the obtained measurement waveform, or the loss value between two points If you want to measure the return loss calculated from the above, if the waveform level difference between the two points is large, set the attenuator value so that the waveform levels of the two points are simultaneously included in the area suitable for measurement. There is a problem that can not.
  • FIGS. 12 and 13 are diagrams illustrating measurement waveforms when real-time measurement is performed using the conventional optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG.
  • OTDR optical pulse tester
  • the attenuator value is selected so that the waveform level at the top of the Fresnel reflection where the marker 2 is located can be measured. Then, the SN ratio of the waveform level immediately before the Fresnel reflection where the marker 1 is located becomes worse and the waveform can not be seen.
  • the waveform level is adjusted to the level immediately before the Fresnel reflection at which the marker 1 is located. If the attenuator value is selected, the waveform level at the top of the Fresnel reflection where marker 2 is located is saturated and can not be measured correctly!
  • the measurer needs to change the attenuator value manually.
  • the waveform observation of the desired position is performed with a good SN ratio of a predetermined value or more, simply by moving the marker, which is the measurement position specification means displayed on the display unit 60, to the target position. Requested to be able to be done! .
  • the SN ratio at a predetermined value or less is worse, the marker (not shown) is moved on the display section 60 to the portion of the measurement waveform, and the SN ratio at the marker position
  • the marker (not shown) is moved on the display section 60 to the portion of the measurement waveform, and the SN ratio at the marker position
  • the conventional optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG. 9 has many problems as described above in real time measurement, and it is extremely difficult to meet this kind of request. The fact is that there is!
  • Patent Document 1 Japanese Patent Application Laid-Open No. 04-158237
  • Non-Patent Document 1 BacK Scattenng Measurement and Fault Location Fibers "Kenji OKADA et al. THE TRANSACTION OF THE IECE JAPAN. VOL. E 63. NO. 2. ABSTRACTS FEBRUARY 1980 ppl 45-146
  • the object of the present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and for real-time measurement
  • the attenuator value is set to the optimum value based on the judgment result of whether the waveform level of the marker that is the measurement position specification means to be displayed on the display unit is within the effective measurement level range set in advance.
  • a marker setting unit (63) configured to set a marker arbitrarily on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit (60) and to move the setting position of the marker;
  • the equivalent attenuator (ATT) is preset corresponding to each setting position of the marker set on the measurement waveform on the screen of the display unit (60) by the marker setting unit (63).
  • a plurality of attenuator (ATT) value setting conditions for real time measurement which is also a combination force of the gain a of the amplification unit (57) and the number m of additions of the average addition processing unit (58) ,
  • the waveform memory (62) stores the waveform level at the set position of the marker set to be movable by the marker setting unit (63) on the measured waveform displayed on the screen of the display unit (60).
  • Marker level acquisition unit (5) for acquiring acquired waveform data strength, and waveform level at the set position of the marker acquired by the marker level acquisition unit (5) is the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6)
  • the level comparison unit (8) which determines whether or not the force is within the effective measurement level range ( ⁇ ) stored in the above and the marker level acquisition unit (5) by the level comparison unit (8) If it is determined that the acquired waveform level is not within the effective measurement level range ( ⁇ Li) stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6), the attenuator (ATT) Determine change of value setting condition Attenuator (ATT) value change determination unit (9),
  • the attenuator (ATT) value setting condition stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) is Attenuator (ATT) that changes the waveform level at the setting position of the marker acquired by the marker level acquisition unit (5) to a new attenuator (ATT) value setting condition included in the effective measurement level range (A Li) ) Value setting condition change unit (7),
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) stores the modified attenuator (ATT) value setting condition or the modified new attenuator (ATT M direct setting condition equivalent to the equivalent condition.
  • the measurement of the optical fiber to be measured (61) is performed based on the attenuator (ATT) setting condition set in the equivalent attenuator (ATT) (11) by the attenuator (ATT) setting unit (10).
  • the waveform data stored in the waveform memory (62) is read out and displayed on the screen of the display unit (60) sequentially, thereby enabling real-time measurement to sequentially update the display of the measured waveform.
  • ⁇ Li effective measurement level range
  • the marker (1) set at the first position on the measurement waveform on the screen of the display unit (60) by the marker setting unit (63) has a poor SN ratio less than a predetermined value on the measurement waveform.
  • the attenuator (ATT) setting condition corresponding to the marker (1) at the second position is set to the optimum value to perform measurement on the measured optical fiber (61)
  • ATT attenuator
  • the marker designating unit (2) is further provided,
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) for each setting position of a plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit (60) by the marker setting unit (63)
  • the combination of the gain a of the amplification unit (57) constituting the equivalent attenuator (ATT) (11) and the number m of additions of the average addition processing unit (58) are correspondingly set in advance.
  • a plurality of attenuator (ATT) value setting conditions for real-time measurement which is also a force, and an effective measurement level range ( ⁇ Li) preset for each of the plurality of attenuator (ATT) value setting conditions are stored,
  • the marker level acquisition unit (5) designates by the marker designation unit (2) among a plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit (60) by the marker setting unit (63).
  • the waveform level corresponding to the set position of the measured marker to be measured is acquired from the waveform data stored in the waveform memory (62),
  • the level comparison unit (8) stores the waveform level corresponding to the setting position of the marker to be measured acquired by the marker level acquisition unit (5) in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6). It is stored, and it is determined whether or not it is within the effective measurement level range (A Li) corresponding to the set position of the marker to be measured.
  • the attenuator (ATT) value change determination unit (9) causes the waveform level corresponding to the set position of the marker to be measured by the level comparison unit (8) to be the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6).
  • the change of the attenuator (ATT) value setting condition is determined,
  • the attenuator (ATT) value setting condition changing unit (7) receives the change determination from the attenuator (ATT) value change determining unit (9), and stores the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6).
  • the waveform level corresponding to the setting position of the marker to be measured, which is stored as the attenuator (ATT) value setting condition acquired by the marker level acquiring unit (5) is the effective measurement level range ( ⁇ Li Change to the new attenuator (ATT) value setting conditions included in
  • the attenuator (ATT) value setting unit (10) is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) corresponding to the marker to be measured, and the attenuator does not change. (ATT) value setting condition or the changed new attenuator (ATT) value setting condition is set to the equivalent attenuator (ATT) (11),
  • the control unit (3) sets the equivalent attenuator (ATT) (11) by the attenuator (ATT) direct setting unit (10) corresponding to the marker to be measured.
  • the waveform data stored in the waveform memory (62) corresponding to the marker to be measured is obtained.
  • each waveform data corresponding to the marker to be measured obtained by measurement is read out from the waveform memory (62) and synthesized, and each synthesized waveform data is displayed on the screen of the display unit (60).
  • a waveform synthesizing unit (4) to be displayed is further provided, and each waveform level of a plurality of markers as measurement position specifying means set on the screen of the display unit (60) by the marker setting unit (63)
  • the plurality of markers are set with the attenuator (ATT) value to be set to the equivalent attenuator (ATT) (11) based on the judgment result of whether or not the force is within the preset effective measurement level range ( ⁇ ).
  • Set the optimal value sequentially for each of By repeating the measurement of the optical fiber to be measured (61), the waveform observation of the desired position over a wide range based on the synthesized waveform data displayed on the screen of the display unit (60).
  • An optical time domain reflectometer which makes it possible to easily measure even the amount of attenuation.
  • a plurality of marker forces set on the measurement waveform on the screen of the display unit (60) by the marker setting unit (63) A first marker (1) set at a position immediately before the Fresnel reflection in the measurement waveform And a second marker (2) set at the position of the vertex of the Fresnel reflection in the measurement waveform, each attenuator corresponding to the first marker (1) and the second marker (2)
  • Optical time reflectometer which enables simultaneous observation of the waveform level immediately before the Fresnel reflection and the level of the apex of the Fresnel reflection in a state with a good SN ratio of a predetermined value or more.
  • a measurement frequency storage unit (14) storing a measurement frequency Nimax indicating the number of continuous repeated measurements for each of the plurality of markers.
  • the attenuator (ATT) value setting corresponding to the marker to be measured is set based on the measurement frequency Nimax corresponding to the marker to be measured stored in the measurement frequency storage unit (14). After the measurement on the marker is repeatedly performed according to the condition, the next measurement target is determined based on the measurement frequency Nimax corresponding to the next measurement target marker stored in the measurement frequency storage unit (14).
  • An optical time domain reflectometer according to a third mode of repeating measurement for a marker according to the attenuator (ATT) value setting condition corresponding to the marker is provided.
  • a level fluctuation detection unit (12) that detects a fluctuation in waveform level corresponding to the marker to be measured acquired by the marker level acquisition unit (5);
  • An optical time domain reflectometer according to a fifth aspect is provided, further comprising a measurement frequency setting unit (13) for changing the frequency.
  • the waveform synthesis section (4) selects only waveform data of waveform levels included in the effective measurement level range ( ⁇ ) corresponding to the marker to be measured among waveform data measured repeatedly.
  • the equivalent attenuator (ATT) (11) is configured in advance corresponding to each setting position of the marker set on the measurement waveform on the screen of the display unit (60).
  • a plurality of attenuator (ATT) value setting conditions for real time measurement which is also a combination force of the gain a of the amplification unit (57) and the number m of additions of the average addition processing unit (58), and the plurality of attenuators ATT)
  • the waveform level at the set position of the marker acquired from the waveform data stored in the waveform memory (62) is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6), and the effective measurement level is obtained. Determining whether it is within a range ( ⁇ Li); and the effective measurement level stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) and the waveform level at the setting position of the marker.
  • the attenuator (AT T) value setting condition storage unit (6) Determining the change of the attenuator (ATT) value setting condition when it is determined to be within the range ( ⁇ Li); and receiving the change determination of the attenuator (ATT) value setting condition, the attenuator (AT T) value setting condition storage unit (6)
  • the waveform level at the setting position of the marker is included in the effective measurement level range ( ⁇ ) as the attenuator (ATT) value setting condition stored in the memory.
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) stores the modified attenuator (ATT) value setting condition or the modified new attenuator (ATT M direct setting condition equivalent to the equivalent condition.
  • Step of setting to the attenuator (ATT) (11), and measurement of the optical fiber to be measured (61) based on the setting condition of the attenuator (ATT) set to the equivalent attenuator (ATT) (11) By reading out the waveform data stored in the waveform memory (62) and sequentially displaying it on the screen of the display unit (60), real-time measurement in which the display of the measured waveform is successively updated is performed. Including the steps to enable
  • the force (1) set at the first position on the measurement waveform on the screen of the display unit (60) is moved to the second position where the SN ratio is lower than the predetermined value on the measurement waveform.
  • the display unit (60) is measured by setting the attenuator (ATT) value setting condition corresponding to the marker (1) at the second position to an optimal value and performing measurement on the measured optical fiber (61).
  • ATT attenuator
  • a light pulse according to an eighth aspect which enables waveform observation at the second position to be performed in a good state of an SN ratio equal to or greater than a predetermined value based on the synthesized waveform data displayed on the screen of An optical fiber test method using the
  • the method further comprises the step of designating a marker to be a measurement target of the plurality of markers when a plurality of markers are arbitrarily set on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit (60).
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) is preset according to the setting positions of a plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit (60), In real time measurement, the combined force of the gain (a) of the amplification unit (57) and the number of additions (m) of the average addition processing unit (58) that constitute the equivalent attenuator (ATT) (11)
  • a plurality of attenuator (ATT) value setting conditions for setting and an effective measurement level range (.DELTA. Li) set in advance for each of the plurality of attenuator (ATT) value setting conditions are stored,
  • the step of acquiring the waveform level at the setting position of the marker corresponds to the setting position of the marker to be measured of the plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit (60).
  • Waveform levels are obtained from the waveform data stored in the waveform memory (62);
  • the waveform level corresponding to the setting position of the marker to be measured is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6), To determine whether the car is within the effective measurement level range ( ⁇ Li) corresponding to the marker to be
  • the waveform level corresponding to the setting position of the marker to be measured is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6).
  • the change of the attenuator (ATT) value setting condition is determined,
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) stores the value in response to a decision to change the attenuator (A TT) value setting condition. Change the Attenuator (ATT) value setting condition to a new Attenuator (ATT) value setting condition in which the waveform level corresponding to the setting position of the force to be measured is included in the effective measurement level range ( ⁇ ). ,
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) is stored corresponding to the marker to be measured and not changed.
  • the condition for setting the attenuator (ATT) value or the new value after changing Set the conditions for setting the attenuator (ATT) value,
  • the step of enabling the real-time measurement is performed based on the attenuator (ATT) value setting condition set in the equivalent attenuator (ATT) (11) corresponding to the marker to be measured.
  • the waveform data stored in the waveform memory (62) corresponding to the marker to be measured is sequentially displayed on the screen of the display (60). By displaying, it is possible to perform real-time measurement in which the display of the measured waveform is successively updated,
  • each waveform data corresponding to the marker to be measured obtained by measurement is read out from the waveform memory (62) and synthesized, and each synthesized waveform data is displayed on the screen of the display unit (60). Further comprising the step of displaying,
  • the waveform level of each of a plurality of markers which are measurement position designation means to be displayed on the screen of the display unit (60)
  • a Li effective measurement level range
  • the attenuator (ATT) value to be set to the equivalent attenuator (ATT) (11) is sequentially set to an optimum value corresponding to each of the plurality of markers based on the above to measure the measured optical fiber (61).
  • the waveform observation of the desired position is performed over a wide range based on the synthesized waveform data displayed on the screen of the display unit (60) with a good SN ratio of a predetermined value or more.
  • ATT Attenuator
  • the measurement is continuously repeated for the marker, and then the next measurement is performed based on the measurement frequency Nimax corresponding to the next measurement target marker stored in the measurement frequency storage unit (14).
  • a method of testing an optical fiber using an optical pulse according to a tenth aspect of the present invention, which performs continuous repetitive measurement on the marker according to the attenuator (ATT) value setting condition corresponding to the target marker.
  • the step of displaying each of the synthesized waveform data on the screen of the display unit (60) is performed within the effective measurement range (A Li) corresponding to the marker to be measured among the waveform data to be repeatedly measured.
  • the waveform level of the marker which is the measurement position designating means set on the screen of the display section 60
  • the attenuator (A TT) value it is determined whether the waveform level of the marker, which is the measurement position designating means set on the screen of the display section 60, is within the effective measurement level range set in advance.
  • the attenuator (A TT) value it is determined whether the waveform level of the marker, which is the measurement position designating means set on the screen of the display section 60, is within the effective measurement level range set in advance.
  • the attenuator (A TT) value to be set to the equivalent attenuator (ATT) (11) to the optimum value based on the measurement on the measured optical fiber (61)
  • the above marker can be set to the target position. It is possible to perform waveform observation at a desired position with a good SN ratio of a predetermined value or more based on the waveform data displayed on the screen of the display unit (60) simply by moving.
  • the optical time domain reflectometer according to the second aspect of the present invention as described above and the optical fiber testing method using the optical pulse according to the ninth aspect of the present invention, in real time measurement When the marker set at the first position on the measurement waveform is moved to the second position with a poor SN ratio below the predetermined value on the measurement waveform, the marker corresponding to the second position By setting the attenuator (ATT) value setting condition to the optimal value and performing measurement on the measured optical fiber (61), based on the synthesized waveform data displayed on the screen of the display unit (60). It becomes possible to perform waveform observation at the second position in a state of good SN ratio of a predetermined value or more.
  • ATT attenuator
  • the measurement position designation means set on the screen of the display unit (60) is equivalent based on the determination result of whether or not the waveform level of each of the plurality of markers is within the valid measurement level range set in advance.
  • Attenuator (ATT) (11) Set the attenuator (ATT) value to the optimum value sequentially and repeat the measurement on the measured optical fiber (61) to display on the screen of the display unit (60). It becomes possible to perform waveform observation of a desired position over a wide range in a good state of an SN ratio of a predetermined value or more based on each of the synthesized waveform data displayed in.
  • the optical time domain reflectometer according to the fourth aspect of the present invention as described above and the optical fiber testing method using the optical pulse according to the eleventh aspect of the present invention in real time measurement, In particular, it is possible to simultaneously observe the waveform level immediately before the Fresnel reflection and the level of the apex of the Fresnel reflection in a good state of the SN ratio above a predetermined value. In addition, it is possible to observe the change in the return loss almost in real time.
  • the optical time domain reflectometer of the present invention and the optical fiber test method using the optical pulse of the present invention, it is easy to measure the return loss with a large level difference of the measuring object in real time. It can be done to
  • the measuring person manually adjusts the waveform according to the level of the waveform during real time measurement. There is no need to adjust the attenuator (gain, attenuation, etc.) appropriately.
  • the measurer can move the marker to the desired position on the display screen as needed, and the waveform of the desired position can be adjusted to the SN of the specified value or more. It can be observed by ratio.
  • the measurement frequency can be changed according to the fluctuation of the level of the waveform position specified by the marker, so that the level fluctuation of the waveform position specified by the marker is small. In this case, it is easier to catch changes in the measurement waveform more quickly by decreasing the measurement frequency and temporarily increasing the measurement frequency if the level fluctuation is large.
  • FIG. 1 shows the configuration of an optical time tester (OTDR) to which an optical time domain reflectometer and an optical fiber test method using optical pulses according to an embodiment of the present invention are applied. It is a block diagram shown for explaining.
  • OTDR optical time tester
  • FIG. 2 is a flowchart shown to explain the operation of the measurement level changing function of the optical time domain reflectometer of FIG.
  • FIG. 3 is a flow chart for explaining the operation of measurement in which the level is matched to the marker position in FIG.
  • FIG. 4A is a flowchart shown to describe an example of operation of determination processing of change presence / absence of marker number i in FIG.
  • FIG. 4B is a flowchart shown to explain another example of the operation of determining whether the marker number i is changed or not in FIG.
  • FIG. 4C is a flowchart shown to describe still another example of the operation of the change presence / absence determination process of the marker number i in FIG.
  • FIG. 5A is a view shown to explain an example of real-time measurement by the optical time domain reflectometer of FIG.
  • FIG. 5B is a figure shown to explain an example of real-time measurement by the optical time domain reflectometer of FIG.
  • FIG. 5C is a figure shown to illustrate another example of real time measurement by the optical time domain reflectometer of FIG.
  • FIG. 5D is a figure shown to explain another example of real time measurement by the optical time domain reflectometer of FIG.
  • FIG. 5E is a view showing another example of real time measurement by the optical time domain reflectometer of FIG.
  • FIG. 6 is a view for explaining a display screen when a plurality of markers are set on the measurement waveform in the optical time domain reflectometer of FIG. 1.
  • FIG. 6 is a view for explaining a display screen when a plurality of markers are set on the measurement waveform in the optical time domain reflectometer of FIG. 1.
  • FIG. 7 shows an attenuator (A) of the optical time domain reflectometer of FIG.
  • FIG. 8 is a diagram shown to explain an example of the measurement frequency Nimax for each marker set on the measurement waveform of FIG.
  • FIG. 9 is a block diagram for explaining the configuration of a conventional optical pulse tester (OTDR) disclosed in Patent Document 1.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining the relationship between the number of averages and the SN ratio disclosed in Non-Patent Document 1.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining an example of a measurement waveform when measurement of return loss with a large level difference is performed by average measurement using a conventional optical pulse tester (OTDR). is there.
  • OTDR optical pulse tester
  • FIG. 12 is a view for explaining an example of a measurement waveform when an attenuator is aligned with the peak position of Fresnel reflected light in real time measurement using a conventional optical pulse tester (OTDR). is there.
  • Figure 13 is for real-time measurement using a conventional optical pulse tester (OTDR)!
  • FIG. 12 is a diagram for explaining an example of a measurement waveform when an attenuator is adjusted to a position immediately before Fresnel reflection light.
  • FIG. 1 is a view for explaining the configuration of an optical pulse tester (OTDR) to which an optical time domain reflectometer and an optical fiber test method using an optical pulse according to an embodiment of the present invention are applied. It is a block diagram shown.
  • OTDR optical pulse tester
  • the optical time domain reflectometer basically comprises a light source 54 for emitting an optical pulse for incidence on an optical fiber to be measured 61, and the light source 54.
  • a light receiving unit 56 for receiving the backscattered light returned from the measured optical fiber 61 in accordance with the light pulse emitted from the light source 61, and an amplifying unit 57 for amplifying the output signal from the light receiving unit 56 with a predetermined gain.
  • the equivalent attenuator (ATT) 11 which comprises an averaging processing unit 58 for averaging the output signals amplified by the amplification unit 57 by adding a predetermined number of times, and the equivalent attenuator (ATT) 11)
  • Logarithmic conversion unit 59 for logarithmically converting the output signal from 11, waveform memory 62 for storing the output signal from logarithmic conversion unit 59 as waveform data, and waveform data stored in waveform memory 62 as a measured waveform
  • a display unit 60 for displaying on the screen, a marker setting unit 63 for arbitrarily setting a marker on the measured waveform displayed on the screen of the display unit 60, and allowing the set position of the marker to be moved;
  • the marker setting unit 63 is preset corresponding to each setting position of the marker set on the measurement waveform on the screen of the display unit 60, and constitutes the equivalent attenuator (ATT) 11 To set a plurality of attenuator (ATT) values for real time measurement, which is a combination
  • the waveform level acquired by the marker level acquisition unit (5) by the level comparison unit 8 that determines whether or not the force is within the level range ⁇ Li, and the level comparison unit 8 is the attenuator (A TT) value setting condition Attenuator (Attenuator (ATT) value setting condition change is determined when it is determined that V ⁇ within the effective measurement level range ⁇ Li stored in the storage unit (6).
  • ATT Value change determination unit 9 and the determination of change from the attenuator (ATT) value change determination unit 9 are stored and stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6.
  • Attenuator (ATT) value that changes the waveform level at the set position of the marker acquired by the marker level acquisition unit 5 to a new attenuator (ATT) value setting condition included in the effective measurement level range ⁇ Li
  • the setting condition changing unit 7 and the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 store the unchanged attenuator (ATT) value setting condition or the changed new attenuator (ATT) value setting condition. It is set to the equivalent attenuator (ATT) 11 by the attenuator (ATT) value setting unit 10 to be set to the equivalent attenuator (ATT) 11 and the attenuator (ATT) value setting unit 10.
  • Attenuator (ATT) value to be set to the equivalent attenuator (ATT) 11 is optimum based on the result of judgment whether the waveform level of the marker which is the means is within the effective measurement level range ⁇ Li set in advance.
  • the marker setting unit 63 can be displayed on the screen of the display unit 60 simply by moving the marker to the target position.
  • the waveform data group Based on this, it becomes possible to perform waveform observation at a desired position in a state of good SN ratio above a predetermined value.
  • the basic configuration of such an optical time domain reflectometer includes the case where one or more markers are set by the marker setting unit 63.
  • the marker 1 set by the marker setting unit 63 at the first position on the measurement waveform is less than or equal to a predetermined value on the measurement waveform.
  • the attenuator (ATT) setting condition corresponding to the marker 1 at the second position is set to the optimum value, and the measurement for the measured optical fiber 61 is performed.
  • the optical time domain reflectometer of the present invention includes the case where there are two or more markers set by the marker setting unit 63.
  • the measurement target is selected from among the plurality of markers. It further comprises a marker designating unit 2 for designating a marker to be selected.
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 stores the setting positions of the plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit 60 by the marker setting unit 63. And the combination of the gain a of the amplification unit 57 constituting the equivalent attenuator (ATT) 11 and the number of additions m of the average addition processing unit 58.
  • a plurality of attenuator ATT value setting conditions for real-time measurement, and an effective measurement level range ⁇ Li preset for each of the plurality of attenuator (ATT) value setting conditions are stored!
  • the marker level acquisition unit 5 is specified by the marker specification unit 2 of the intermediate force of the plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit 60 by the marker setting unit 63.
  • the waveform level corresponding to the set position of the marker to be measured is obtained so as to acquire the waveform data stored in the waveform memory 62.
  • the level comparison unit 8 stores in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 a waveform level corresponding to the set position of the marker to be measured acquired by the marker level acquisition unit 5. It is determined whether or not it is within the effective measurement level range ⁇ Li corresponding to the set position of the marker to be measured.
  • the attenuator (ATT) value change determination unit 9 stores the waveform level corresponding to the set position of the marker to be measured by the level comparison unit 8 as the attenuator (A TT) value setting condition storage. It is determined that the change of the attenuator (ATT) value setting condition is determined when it is determined that the effective measurement level range ⁇ Li corresponding to the measurement target marker stored in the part 6 is not within the range ⁇ Li. It is done.
  • the attenuator (ATT) value setting condition calculation unit 7 receives the change determination from the attenuator (ATT) value change determination unit 9 and stores the same in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6.
  • the waveform level corresponding to the setting position of the marker to be measured acquired by the marker level acquisition unit 5 as the attenuator (ATT) value setting condition is included in the effective measurement level range ⁇ Li. It is made to change to the attenuator (ATT) value setting condition.
  • the attenuator (ATT) value setting unit 10 stores the attenuation (ATT) value setting condition storage unit 6 corresponding to the marker to be measured, and it is not necessary to change it. Attenuator (ATT) value setting condition or the changed new attenuator (ATT) value setting condition is set to the equivalent attenuator (ATT) 11!
  • control unit 3 sets the attenuator (ATT) 11 to the equivalent attenuator (ATT) 11 by the attenuator (A TT) value setting unit 10 corresponding to the marker to be measured.
  • the waveform data stored in the waveform memory 62 corresponding to the marker to be measured is displayed on the display unit 60 by performing measurement on the measured optical fiber 61 based on the value setting conditions.
  • the sequential display on the screen of (1) makes it possible to perform real-time measurement to sequentially update the display of the measurement waveform.
  • the optical time domain reflectometer in this case is the attenuator (ATT) value setting unit 10 or the like corresponding to the marker to be measured.
  • Each waveform data corresponding to the marker to be measured obtained by measurement based on the attenuator (ATT) value setting condition set in the value attenuator (ATT) 11 is read out from the waveform memory 62 and synthesized.
  • the waveform synthesizing unit 4 is further provided to display the synthesized waveform data on the screen of the display unit 60.
  • the waveform of each of the plurality of force is used as the measurement position specifying means set on the screen of the display unit 60 by the marker setting unit 63.
  • the attenuator (ATT) value to be set to the equivalent attenuator (ATT) 11 is determined for each of the plurality of markers based on the determination result of whether or not the level is within the preset effective measurement level range ⁇ Li.
  • the measurement wave automatically follows the level fluctuation accompanying the state change of the measured optical fiber 61. Even if the level difference between the shapes is large, the return loss can be measured easily.
  • the optical time domain reflectometer in this case is preferably set to a position immediately before the Fresnel reflection in the measurement waveform, with a plurality of marker forces set on the measurement waveform by the marker setting unit 63.
  • the second marker 2 set to the position of the apex of the Fresnel reflection in the measurement waveform, the first marker 1 corresponding to the first marker 1 and the second marker 2
  • the Fresnel is displayed based on the synthesized waveform data displayed on the screen of the display unit 60. It is possible to simultaneously observe the waveform level immediately before the reflection and the level of the apex of the Fresnel reflection at a good SN ratio of a predetermined value or more.
  • the optical time domain reflectometer in this case preferably further includes a measurement frequency storage unit 14 storing a measurement frequency Nimax indicating the number of times of continuous and repeated measurement for each of the plurality of markers.
  • a measurement frequency storage unit 14 Based on the measurement frequency Nimax corresponding to the measurement target marker stored in the frequency storage unit 14, the attenuator (ATT) value setting condition corresponding to the measurement target marker is applied to the marker according to the measurement frequency Nimax.
  • the measurement frequency storage unit 14 stores the measurement frequency corresponding to the next measurement target marker based on the measurement frequency Nimax corresponding to the next measurement target marker. Repeat the measurement for that marker according to the attenuator (ATT) value setting condition.
  • the optical time domain reflectometer in this case is preferably a level fluctuation detection for detecting a fluctuation in waveform level corresponding to the marker to be measured acquired by the marker level acquiring unit 5.
  • the measurement frequency corresponding to the marker stored in the measurement frequency storage unit 14 according to the presence or absence of the fluctuation of the waveform level corresponding to the marker to be measured detected by the unit 12 and the level fluctuation detection unit 12 The measurement frequency setting unit 13 is further provided.
  • the waveform combination section 4 corresponds to the effective measurement level range corresponding to the marker to be measured among the waveform data repeatedly measured. Select the waveform data of waveform level included in Li and synthesize the measurement waveform.
  • the method of testing an optical fiber using an optical pulse comprises, as a basic configuration, a step of causing an optical pulse to be incident on an optical fiber to be measured 61; A step of receiving the backscattered light returning from the optical fiber 61 and converting it into an electric signal, a step of amplifying the electric signal by a predetermined gain by an amplification unit 57, and an output amplified by the amplification unit 57 And adding the signal a predetermined number of times by the averaging processing unit 58 constituting the equivalent attenuator (ATT) 11 together with the amplification unit 57, averaging the signal, and an output signal from the equivalent attenuation (ATT) 11 Are logarithmically converted by the logarithmic conversion unit 59, and the output signal from the logarithmic conversion unit 59 is stored as waveform data in the waveform memory 62, and the wave stored in the waveform memory 62.
  • the step of displaying the data as a measurement waveform on the screen of the display unit 60, the step of arbitrarily setting the marker so as to be movable on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit 60, and the step of The gain a of the amplification unit 57 constituting the equivalent attenuator (ATT) 11 and the average are set beforehand corresponding to each setting position of the marker set on the measurement waveform on the screen.
  • the combination power of the number of additions m of the addition processing unit 58 is also Conditions for setting the attenuator (ATT) value for the real-time measurement, and an effective measurement level range ( ⁇ Li) set in advance for each of the plurality of attenuator (ATT) setting conditions.
  • the step of storing in the storage unit 6 and the waveform level at the set position of the marker arbitrarily set on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit 60 are obtained from the waveform data stored in the waveform memory 62.
  • ATT attenuator
  • the step of determining whether or not there is a force within ⁇ Li, and the waveform level at the setting position of the marker is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6
  • the attenuator (ATT ) Attenuator (ATT) value setting condition is stored in the value setting condition storage section 6), and the waveform level at the setting position of the marker is included in the effective measurement level range ⁇ Li.
  • the waveform data stored in the waveform memory (62) is read out and sequentially displayed on the screen of the display unit 60, thereby displaying the measured waveform.
  • the attenuator (ATT) value to be set to the equivalent attenuator (ATT) 11 to an optimum value based on the determination result of whether or not there is a force, and performing measurement on the measured optical fiber 61. It is possible to perform waveform observation at a desired position based on the waveform data displayed on the screen of the display unit 60 simply by moving the marker to the target position in a state with a good SN ratio of a predetermined value or more. It becomes. That is, the basic configuration of an optical fiber test method using such an optical pulse includes the case where one or more markers are set on the measurement waveform.
  • marker 1 set at the first position on the measurement waveform has a bad SN ratio less than a predetermined value on the measurement waveform.
  • ATT attenuator
  • test method of the optical fiber using the light pulse of the present invention includes the case where two or more markers are set on the measurement waveform.
  • a marker to be a measurement target is specified from among the plurality of markers. Further comprising the step of
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 is set in advance corresponding to setting positions of a plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit 60.
  • Setting a plurality of attenuator (ATT) values for real time measurement which is also a combination force of gain a of the amplification unit 57 constituting the equivalent attenuator (ATT) 11 and number m of additions of the average addition processing unit 58
  • a valid measurement level range ⁇ Li preset for each condition and the plurality of attenuator (ATT) value setting conditions is stored.
  • the intermediate force of a plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit 60 is the set position of the marker to be measured
  • the corresponding waveform level is obtained from the waveform data stored in the waveform memory 62.
  • the waveform level corresponding to the setting position of the marker to be measured is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6. It is made to determine whether or not the user is within the effective measurement level range ⁇ Li corresponding to the target marker! Further, in the step of determining the change in the attenuator (ATT) value setting condition, the waveform level corresponding to the setting position of the marker to be measured is the attenuator (ATT) value setting condition storage unit (6) When it is determined that it is not within the effective measurement level range ⁇ Li corresponding to the marker to be measured stored in, the change of the attenuator (ATT) value setting condition is determined, Ru.
  • the step of changing the attenuator (ATT) value setting condition is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 in response to the change determination of the attenuator (ATT) value setting condition.
  • V is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 corresponding to the marker to be measured and changed.
  • the equivalent attenuator (ATT) value setting condition or the changed new attenuator (ATT) value setting condition is set to the equivalent attenuator (ATT) 11.
  • the attenuator (the AT M direct setting condition set) is set to the equivalent attenuator (ATT) 11 corresponding to the marker to be measured.
  • the waveform data stored in the waveform memory 62 corresponding to the marker to be measured is sequentially displayed on the screen of the display unit 60. , Is made to enable real-time measurement to sequentially update the display of the measured waveform.
  • the test method of the optical fiber using the optical pulse in this case is preferably performed by the attenuator (ATT) value setting unit 10 in correspondence with the equivalent attenuator (ATT) corresponding to the marker to be measured.
  • Each waveform data corresponding to the marker to be measured obtained by measurement based on the attenuator (ATT) setting condition set to 11 is read out from the waveform memory 62, synthesized, and synthesized
  • the method further comprises the step of displaying the data on the screen of the display unit 60.
  • the test method of the optical fiber using the light pulse in this case is as follows. Based on the determination result of whether or not the waveform level of each of the plurality of markers, which is the measurement position specifying means to be displayed on the screen, is within the effective measurement level range ⁇ Li set in advance.
  • the attenuator (ATT) value to be set to the equivalent attenuator (ATT) 11 is sequentially set to an optimum value corresponding to each of the plurality of markers, and the measurement on the measured optical fiber 61 is repeated.
  • ATT attenuator
  • ATT equivalent attenuator
  • a plurality of marker forces set on the measurement waveform is set to the first position immediately before the Fresnel reflection in the measurement waveform.
  • the respective attenuator (ATT) values corresponding to the first marker 1 and the second marker 2 when including the marker 1 and the second marker 2 set to the position of the vertex of the Fresnel reflection in the measurement waveform
  • the test method of the optical fiber using the light pulse in this case preferably further includes storing in the measurement frequency storage unit 14 the measurement frequency Nimax indicating the number of times of continuous repeated measurement for each of the plurality of markers. And the measurement frequency storage unit 14 stores the attenuation (ATT) value setting condition corresponding to the marker to be measured based on the measurement frequency Nimax corresponding to the marker to be measured. After the measurement on the marker is repeatedly performed by the above, the marker to be the next measurement target is stored in the measurement frequency storage unit 14 and is based on the measurement frequency Nimax corresponding to the next measurement target marker. Repeat the measurement for the marker according to the attenuator (ATT) value setting condition corresponding to.
  • ATT attenuation
  • test method of the optical fiber using the light pulse in this case is preferably the above-mentioned measurement
  • the step of displaying each of the synthesized waveform data on the screen of the display unit 60 is the waveform data to be repeatedly measured. Among them, only waveform data of waveform levels included in the effective measurement level range ⁇ Li corresponding to the marker to be measured is selected, and measurement waveforms are synthesized.
  • An optical pulse tester (OTDR) 1 as a specific embodiment to which an optical time domain reflectometer and an optical fiber test method using optical pulses according to the present invention are applied is as described above.
  • the optimum attenuator (ATT) value is automatically selected and set in conjunction with the position of the marker specified by the measurer on the measurement waveform display screen. It has a measurement level change function that changes the measurement level so that the measured waveform can be observed in a good / good condition of the SN ratio above a predetermined value.
  • This measurement level changing function automatically selects and sets an optimum attenuator for each of one or more markers, and obtains an SN ratio equal to or higher than a predetermined value.
  • ATT attenuator
  • TDR 1 is a basic configuration of the conventional optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG.
  • ODR optical pulse tester
  • the marker specification unit 2 the control unit 3
  • the waveform Combining unit 4 marker level acquisition unit 5, attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6, attenuator (ATT) value setting condition calculation unit 7, level comparison unit 8, attenuator (ATT) value change determination unit 9, attenuator ATT) value setting unit 10
  • level fluctuation detection unit 12 measurement frequency setting unit 13, measurement frequency storage unit 14, waveform memory 62, marker setting unit 63, and operation unit 64.
  • the marker setting unit 63 the marker specification unit 2, the measurement frequency storage unit 14 and the operation members related to the instruction to start the real-time measurement are mounted on the operation unit 64.
  • control unit 3 includes a CPU, a ROM, a RAM, etc., and the present invention is applied. Automatic control for real-time measurement as described later by the optical pulse tester (OTDR) 1 It controls the entire optical pulse tester (OTDR) 1 including.
  • FIG. 1 the same components as in the conventional optical pulse tester (OTDR) 49 shown in FIG. 9 will be assigned the same reference numerals and detailed explanations thereof will be omitted.
  • the combination of the amplification unit 57 and the average addition processing unit 58 is expressed as an equivalent attenuator (ATT) 11, and the gain a and the frequency characteristic of the amplification unit 57 are described.
  • a combination of the obtained hard setting and the average number of times of addition m executed by the average addition processing unit 58 is expressed as an attenuator (ATT) value.
  • the light pulse emitted from the light source 54 passes through the optical directional coupler 55 and is then incident on the measured optical fiber 61.
  • the return light from the optical fiber to be measured 61 is sent to the light receiver 56 via the light directional coupler 55 and converted into an electrical signal by the light receiver 56.
  • the electric signal converted by the light receiver 56 is amplified by a gain a by an amplification unit 57 in an attenuator (ATT) 11 in which an attenuator (A TT) value is set as described later.
  • the average addition processing unit 58 converts the signal into a digital signal by the built-in AZD converter, and the signal is averaged m times.
  • the output signal that has been averaged m times by the average addition processing unit 58 of the attenuator (ATT) 11 is logarithmically converted by the logarithmic conversion unit 59 and then set to the attenuator (ATT) 11 (attenuator (ATT B) stored in the waveform memory 62 as different waveform data for each value.
  • the waveform data stored in the waveform memory 62 for each attenuator (ATT) value is waveform-synthesized by the waveform synthesis unit 4 as necessary, and then displayed as a measurement waveform on the screen of the display unit 60. .
  • the marker setting unit 63 arbitrarily sets a force on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit 60, and makes the set position of the marker movable.
  • the marker setting unit 63 arbitrarily sets a marker on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit 60 from the operation unit 64 through which the operator performs marker setting operation via the control unit 3. It is made to set up.
  • marker designating unit 2 When a plurality of markers set on the measurement waveform is set, marker designating unit 2 indicates a marker for which the waveform level is to be measured, from among the plurality of markers set on the measurement waveform. Do.
  • the marker designating unit 2 is arbitrarily set on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit 60 through the control unit 3 from the operation unit 64 where the marker designating operation is performed by the measurer. It is possible to specify the marker for which the waveform level is to be measured from among the plurality of markers being measured, and based on the marker number i attached to the plurality of markers as described later.
  • the control unit 3 can automatically specify a marker for which the waveform level is to be measured.
  • FIG. 6 is a diagram illustrating a measurement screen displaying a measurement waveform in which a marker is set.
  • the markers set on the leftmost side on the measurement screen (the marker at which the distance between the measurement point force and the like is closest to the end) )
  • the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 is preset corresponding to setting positions of a plurality of markers set on the measurement waveform on the screen of the display unit 60.
  • Setting of multiple attenuator (ATT) values for real-time measurement which is also a combination force of the gain (a) of the amplification unit 57 and the number of additions (m) of the average addition processing unit 58 constituting the dynamic attenuator (ATT) 11
  • a valid measurement level range ⁇ Li preset for each condition and the plurality of attenuator (ATT) setting conditions is stored.
  • the marker marker number i l, 200 as the gain a of the amplifier 57 is set, is 2 8 set as the average number of additions m average addition processing unit 58, the effective measurement level range ⁇ 25 to 1 45 are set as Li (dBm)!
  • the marker with marker number i 2
  • 100 is set as the gain a of the amplification unit 57
  • 2 8 is set as the average addition number m of the average addition processing unit 58
  • the effective measurement level range ⁇ 10 to 30 are set as Li (dBm)!
  • 300 is set as the gain a of the amplification unit 57, 2 8 is set as the average addition number m of the average addition processing unit 58, and the effective measurement level range ⁇ 40 to 60 is set as Li (dBm)!
  • the numerical values set for each of these markers can be divided and assigned in advance for each of the level value on the vertical axis and the distance value of the measurement point force on the horizontal axis in FIG.
  • the attenuator (ATT) value setting unit 10 is stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 corresponding to the marker number i instructed by the marker specification unit 2. Based on the information of the combination of the gain a and the number of average additions m, the gain a of the amplification unit 57 and the average number of additions m of the average addition processing unit 58 that constitute the attenuator (ATT) 11 are set.
  • the marker level acquisition unit 5 receives the instruction from the marker specification unit 2 and is measured under the condition of setting the attenuator (ATT) value corresponding to the marker number i and stored in the waveform memory 62.
  • the waveform level of the marker number i selected by the marker designation unit 2 is acquired from the data.
  • the level comparison unit 8 uses the attenuator (ATT) value currently set in the attenuator (ATT) 11 corresponding to the waveform level force marker number i of the marker number i acquired by the marker level acquisition unit 5. It is judged by level comparison whether it falls within the corresponding effective measurement level range ⁇ Li.
  • Attenuation (ATT) value change determination unit 9 changes the setting condition of the attenuator (ATT) value currently set to attenuator 11 based on the determination result by the level comparison by level comparison unit 8. Determine if necessary or not. In this case, when the attenuator (ATT) value change determination unit 9 determines that the acquired waveform level is within the effective measurement level range ⁇ Li by the level comparison unit 8, It is currently set to attenuator (ATT) 11 !, and it is determined that the setting condition of attenuation (ATT) value needs to be changed.
  • the attenuator (ATT) value setting condition changing unit 7 is currently set to the attenuator (ATT) 11 by the attenuator (ATT) value change judging unit 9 and changes the setting condition of the attenuator (ATT) value.
  • a new attenuator (ATT) value whose waveform level acquired by the marker level acquisition unit 5 is included in the effective measurement level range ⁇ Li is the attenuator (ATT) value setting condition until then. Change to setting conditions.
  • the new attenuator (ATT) value setting condition changed by the attenuator (ATT) value setting condition changing unit 7 is updated and stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6, and the attenuator (ATT) value setting condition changing unit 7 is The attenuator (ATT) value setting condition of the attenuator (ATT) 11 corresponding to the marker i to be measured is changed by the value setting unit 10.
  • the attenuator (ATT) value setting condition changing unit 7 may calculate SZN from the measurement waveform as described in Patent Document 1 described above to obtain the effective measurement level range.
  • the level at which the waveform saturates is calculated for each attenuator (ATT) value, and the level power is also 1 level, and the waveform at the attenuator (ATT) value that can measure the level waveform can be effectively measured up to the level Even if it is made to be a level range,
  • the attenuator (ATT) value setting condition (a, m) and the effective measurement level range previously obtained by experiment etc. are stored in the memory of the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 etc. It is also good to select the attenuator (ATT) value setting condition from inside!
  • the measurement frequency storage unit 14 stores, for each marker number i, a measurement frequency (Nimax) indicating the number of times of continuous measurement under the corresponding attenuator (ATT) value setting condition.
  • FIG. 8 is a diagram for explaining an example of the storage content of the measurement frequency storage unit 14.
  • marker number i indicates the same marker number as the marker on the measurement waveform shown in FIG.
  • the optical pulse tester (OTDR) 1 to which the present invention is applied is measured and displayed twice continuously under the control of the control unit 3 under the attenuator (ATT) setting condition of the marker number 1.
  • the optical pulse tester (OTDR) 1 to which the present invention is applied repeats measurement as described above with one measurement of marker numbers 1 to 6 as one cycle.
  • the level fluctuation detection unit 12 detects the presence or absence of the fluctuation of the waveform level of the marker acquired by the marker level acquisition unit 5, for example, by comparison with the waveform level of the marker acquired at the time of the previous measurement.
  • the measurement frequency setting unit 13 changes the measurement frequency stored in the measurement frequency storage unit 14 to the optimal number of times according to the presence or absence of the fluctuation of the waveform level of the marker by the level fluctuation detection unit 12 and changes it. .
  • the measurement frequency setting unit 13 increases the measurement frequency stored in the measurement frequency storage unit 14 and changes the fluctuation.
  • the measurement frequency stored in the measurement frequency storage unit 14 is reduced.
  • the marker even if the marker is displayed on the measurement waveform, it corresponds to the marker number i which is not required to be measured by the instruction of the measurer instructed via the operation unit 64 and the control unit 3 or the like.
  • the measurement frequency stored in the measurement frequency storage unit 14 By setting the measurement frequency stored in the measurement frequency storage unit 14 to 0 times, the level difference between the two points is measured, as in the case of real-time measurement of the Fresnel reflection described later.
  • the waveform level of the marker (indicating the two points in the case) can be measured in real time.
  • FIG. 5A shows a state in which one marker is set by the marker setting unit 63 at the position of the apex of the Fresnel reflection displayed on the screen of the display unit 60.
  • the marker setting unit 63 moves the position force of the apex of the Fresnel reflection to the position of the foot portion just before the Fresnel reflection.
  • a measurement waveform improved such that the SN ratio of the portion corresponding to the position of the moved marker becomes equal to or more than a predetermined value is displayed.
  • the marker setter 63 sets the marker set to the first position on the measurement waveform on the measurement waveform.
  • the display unit 60 is set by setting the attenuator (ATT) value setting condition corresponding to the marker at the second position to an optimal value when moved to the second position where the SN ratio is bad. On the basis of the waveform data displayed on the screen, it is possible to observe the waveform at the second position in a state with a good SN ratio of a predetermined value or more.
  • ATT attenuator
  • FIG. 5C shows a measurement waveform measured in real time under the attenuator (ATT) value setting condition of marker number 1.
  • FIG. 5D shows a measurement waveform measured in real time under the attenuator (ATT) value setting condition of marker number 2.
  • FIG. 5E shows measured waveforms displayed on the screen of the display unit 60 by combining the waveform data in the effective measurement ranges of FIG. 5C and FIG. 5D by the waveform synthesis unit 4.
  • the Fresnel reflection (the level difference between the marker 1 and the merge force 2) can be measured accurately.
  • ⁇ and AL 2 indicate the range of the effective measurement range for the sake of convenience in order to help the understanding of the waveform synthesis.
  • (OTDR) 1 Not displayed on the screen of the display unit 60.
  • the plurality of markers set on the measurement waveform by the marker setting unit 63 are immediately before the Fresnel reflection in the measurement waveform.
  • each attenuator corresponding to the first marker and the second marker ⁇ By setting the value setting conditions sequentially and repeating the measurement, the waveform level immediately before the Fresnel reflection is based on the synthesized waveform data displayed on the screen of the display unit 60. It is possible to simultaneously observe the level of the top of the Fresnel reflection and the SN ratio in a good condition of a predetermined value or more.
  • optical pulse tester (OTDR) 1 configured as described above will be described with reference to FIGS. 2 to 4A, B, and C.
  • optical pulse tester (OTDR) 1 configured as described above, when start of real-time measurement is instructed by the measurer via the operation unit 64, under the control of the control unit 3, as shown in FIG. Real-time measurement is started.
  • ATT attenuator
  • control unit 3 initializes marker number i to 1 via marker designation unit 2 (step ST1).
  • control unit 3 automatically changes marker number i or changes marker number i by marker designating unit 2 through operation unit 64 (or a marker setting unit
  • the process proceeds to a subroutine of measurement processing (marker position measurement processing) in which the measurement level is matched to the marker position of marker number i in FIG. 3 (step ST3).
  • control unit 3 causes attenuator (ATT) value setting unit 10 to set the attenuator (ATT) value setting condition corresponding to the change of marker number i in step ST2.
  • Attenuator (ATT) value setting values (amplifying unit gain a, average addition number m) for real-time measurement corresponding to the marker number i stored in the storage unit 6 are set in the attenuator (ATT) 11 (step ST11).
  • control unit 3 causes the optical pulse tester (OTDR) 1 to perform real-time measurement to acquire waveform data, and stores the acquired waveform data at the acquired marker number i in the waveform memory 62. (Step ST12).
  • control unit 3 causes the marker level acquisition unit 5 to acquire the waveform level of the marker position of the marker number i stored in the waveform memory 62 (step ST13).
  • control unit 3 causes the level comparison unit 8 to compare the acquired waveform level with the effective measurement level range ⁇ Li of the marker number i stored in the attenuator (ATT) value setting condition storage unit 6 (see FIG. Step ST14).
  • the control unit 3 executes this subroutine. The process is ended, and the process proceeds to the change presence determination process (step ST4) of the marker number i in FIG.
  • the change presence / absence determination process of marker number i (step ST 4) is a force that is subroutine-ized as the change presence / absence determination process of marker number i. This will be described later with reference to FIGS. 4A, B, C. It shall be.
  • control unit 3 determines that the waveform level at the marker position of marker number i is not included in the valid measurement level range of marker number i by level comparison unit 8 (step ST14-NG)
  • Attenuator (ATT) value setting condition changing unit 7 sets new attenuator (ATT) value setting condition (amplifying part gain a, average addition addition) that the waveform level will be included in the effective measurement level range.
  • controller 3 determines that it is not necessary to change marker number i (step ST4—No) in the change presence / absence determination process (step ST4) of marker number i in FIG.
  • the measurement waveform for each marker number i stored in 2 is read out, and the waveform synthesis section 4 is made to synthesize the plurality of measurement waveforms read out (step ST5).
  • step ST6 After the control unit 3 causes the display unit 60 to display the measurement waveform subjected to the synthesis process (step ST6), the measurement is performed with the measurement position adjusted to the marker position of the marker number i.
  • the process proceeds to the subroutine of the process (marker position measurement process) (step ST3), and the process as described above is repeated.
  • control unit 3 determines that the change of marker number i is necessary in step ST4 (step ST4—Yes)
  • step ST6 the measurement is performed in which the measurement level is adjusted to the marker position of the marker number i.
  • step ST3 the subroutine of the process (marker position measurement process)
  • step ST 8 When controller 3 determines in step ST 8 that the incremented marker number i does not exceed the set number of markers (step ST 8 —No), the marker stored in waveform memory 62 is stored. The measurement waveform for each number i is read out, and the waveform synthesis section 4 is made to synthesize the plurality of measurement waveforms read out (step ST5).
  • step ST6 measurement is performed with the measurement level adjusted to the marker position of the marker number i.
  • step ST3 the subroutine of the process (marker position measurement process)
  • the change presence / absence determination processing of the marker number i in the above-described step ST4 is classified in the following three cases.
  • FIGS. It is possible to selectively execute the change presence / absence determination process of the marker number i shown in C.
  • FIG. 4A is a flowchart showing the process of determining whether or not the marker number i is changed, in the case of (1) above.
  • the control unit 3 ends the process as the change of the marker number i is required immediately (step ST41).
  • FIG. 4B is a flowchart showing the process of determining whether or not the marker number i has been changed in the case of (2) above.
  • FIG. 4B shows that, in the case where there is no level change that requires the change of the attenuator (ATT) setting condition to the waveform level of any marker, measurement is performed by changing the marker number i in order.
  • the marker number i is one, Since this is a case where measurement is continuously performed, in the change presence / absence processing of this marker number i (step ST4), the control unit 3 first makes the waveform memory 62 from the waveform memory 62 via the marker level acquisition unit 5 as described above. It is judged by the level fluctuation detection unit 12 whether or not there is a fluctuation in the waveform level of the acquired marker number i (step ST21).
  • control unit 3 determines that level fluctuation is present by level fluctuation detection unit 12 (step ST 21-Yes)
  • control unit 3 stores measurement frequency storage unit 14 via measurement frequency setting unit 13.
  • the change presence / absence determination process of the marker number i is ended.
  • control unit 3 causes level fluctuation detection unit 12 to set the waveform level of marker number i. If it is determined that there is no change (step ST21—No), it is determined that the change of the marker number i is necessary (step ST24), and the change presence / absence determination process of the marker number i is ended.
  • FIG. 4C is a flowchart showing the process of determining whether or not the marker number i is changed in the case of (3) above.
  • FIG. 4C shows that the waveform level of any marker number i does not have the level change necessary to change the setting of the attenuator setting condition of the attenuator (ATT) value, and the specific specification specified in advance.
  • Measure the marker number i by increasing the measurement frequency (for the marker numbers other than the specific marker number i, measure at a rate of once with respect to the number of measurements of the specific marker number i)
  • the control unit 3 firstly acquires the marker number i acquired from the waveform memory 62 through the marker level acquisition unit 5 as described above. There is fluctuation in the waveform level of As to whether or not to determine the level variation detection section 12 (step ST31).
  • control unit 3 determines that level fluctuation is present by level fluctuation detection unit 12 (step ST 31 —Yes)
  • control unit 3 determines that level change detection unit 12 does not change the waveform level of marker number i (step ST 31 —No)
  • control unit 3 determines that the number of measurements ni exceeds the measurement frequency Nimax (step ST36—No), it determines that the change of the marker number i is unnecessary (step ST32). ), And the process of determining whether or not the marker number i is changed is ended.
  • step ST34 If it is determined that the marker number i needs to be changed (step ST34), the change presence / absence determination process of the marker number i ends.
  • the measurement frequency Nimax is set for each marker number i and stored in the measurement frequency storage unit 14.
  • the measurement frequency Nimax can be set as an arbitrary value in the measurement frequency storage unit 14 via the control unit 3 by the measurer operating the corresponding operation member of the operation unit 64. .
  • control unit 3 temporarily increases the measurement frequency Nimax of the marker number i in order to intensively monitor the marker number i having a level fluctuation. It can also be set automatically.
  • control unit 3 determines that the change of the marker number i is unnecessary by the change presence / absence determination process of the marker number i, the control unit 3 shifts to the process of step ST5 of FIG.
  • an optical pulse tester (OTDR) 1 to which an optical time domain reflectometer and an optical fiber test method using optical pulses according to an embodiment of the present invention is applied is used in real time measurement.
  • the measurement position is specified by marker number i
  • the optimum attenuator (ATT) value setting conditions that fall within the valid measurement level range are automatically set, and the SN ratio is better than a predetermined value, and waveform observation is possible. It is supposed to be
  • the optical noise tester (OTDR) of the present invention as described above is used in real time measurement.
  • the optimum attenuator (ATT) value is automatically set for each measurement according to the waveform level at which each marker is positioned.
  • the measurement waveform is synthesized and displayed.
  • the optical pulse tester (OTDR) 1 of the present invention as described above automatically measures the plurality of markers according to the amount of fluctuation of the waveform level of each marker or By making it possible to vary the measurement frequency of each marker independently on the basis of the setting by the above, the measurement frequency between the markers is made to have a difference.
  • the optical noise tester (OTDR) 1 of the present invention as described above can set each of the markers by setting a plurality of markers (at least two markers) even in real time measurement.
  • the optimum attenuator is automatically selected and set, and the measurement level is changed. Therefore, it is possible to observe the measurement waveform in a wide range where the SN ratio is better than or equal to a predetermined value.
  • the optical pulse tester (OTDR) 1 is particularly in a state in which the waveform level immediately before the Fresnel reflection and the level of the apex of the Fresnel reflection have a good SN ratio of a predetermined value or more. Observations can be made simultaneously, and changes in return loss can be observed almost in real time.
  • the optical pulse tester (OTDR) 1 of the present invention as described above does not require any manual adjustment of the attenuator (gain and average number of additions) according to the level of the measurement waveform. By moving the marker on the display screen to the target position, the waveform of the desired position can be observed in a good state of the SN ratio above the predetermined value.
  • the optical pulse tester (OTDR) 1 of the present invention makes the measurement frequency of each marker independent of the plurality of markers according to the amount of fluctuation of the waveform level of each marker.
  • the measurement frequency By changing the measurement frequency between markers, even if it is the measurement of return loss with a large level difference like Fresnel reflection, the measurement frequency temporarily for the marker in which the level change occurs. By doing this, it is possible to realize real-time measurement that responds quickly to changes in the measured waveform.
  • the present invention is not limited to the above-described and illustrated embodiments, and various modifications can be applied within the scope without departing from the gist of the present invention.
  • ATT attenuator
  • the marker set on the measurement waveform displayed on the screen of the display unit is not limited to the arrow-shaped marker as shown in the figure, but includes any marker including a linear marker that vertically crosses the measurement waveform.
  • a marker of the shape of can be adopted appropriately.
  • the waveform level of the marker which is the measurement position designation means to be displayed on the display unit, is preset. Move the marker to the target position by measuring the measured optical fiber by setting the attenuator (ATT) value to the optimum value based on the judgment result of whether it is within the effective measurement level range It is possible to perform waveform observation at a desired position with good signal-to-noise ratio of a predetermined value or more, and also to automatically track the level fluctuation accompanying the state change of the optical fiber to be measured.
  • ATT attenuator
  • the measurement of the level of the measured optical fiber can be easily performed even if the level difference of the optical fiber is large, it is suitable for the measurement for observing the condition of the measured optical fiber, particularly in the installation of the optical fiber. For example, it can be used for applications that require responsiveness, such as when checking the quality of the connection state of the optical fiber while connecting the optical fiber by connector connection or fusion.

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Description

明 細 書
ォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファイバ の試験方法
技術分野
[0001] 本発明はォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファイバ の試験方法に係り、特に、被測定光ファイバに光パルスを入射し、この光パルスの入 射に伴って被測定光ファイバから戻ってくる反射光の検出結果に基づいて被測定光 ファイバの障害点位置を検出したり、被測定光ファイバの伝送損失特性や接続損失 特性などを測定する光パルス試験器としてのォプチカルタイムドメインリフレクトメータ
(OTDR)及び光パルスを用いる光ファイバの試験方法に関する。
背景技術
[0002] 光ノ ルス試験器としてのォプチカルタイムドメインリフレクトメータ（OTDR)は、被測 定光ファイバに光パルスを入射し、この光パルスの入射に伴って被測定光ファイバか ら戻ってくる反射光を検出し、この反射光の検出結果に基づいて被測定光ファイバ の障害点位置を検出したり、被測定光ファイバの伝送損失特性や接続損失特性など を測定するために用いられて 、る。
[0003] 図 9は、従来から一般的に知られている光パルス試験器としてのォプチカルタイムド メインリフレクトメータ (OTDR)の一例として、下記特許文献 1に開示されて!ヽる光パ ルス試験器の構成を説明するために示すブロック図である。
[0004] この図 9に示す光パルス試験器（OTDR) 49は、タイミング発生部 52、駆動回路 53
、光源 54、光方向性結合器 55、受光器 56、増幅部 57、加算平均処理部 58、対数 変換部 59、表示部 60を備えて構成される。
[0005] この種の光パルス試験器（OTDR) 49では、タイミング発生部 52からの電気パルス により、駆動回路 53でパルス電流を作り、光源 54を発光させる。
[0006] 光源 54から出射される光パルスは、光方向性結合器 55を通過し、試験対象となる 被測定光ファイバ 61に入射される。
[0007] 被測定光ファイバ 61からの後方散乱光や反射光などの戻り光は、光方向性結合器 55から受光器 56へ送られる。
[0008] 受光器 56は、光方向性結合器 55から受光器 56へ送られる被測定光ファイバ 61か らの後方散乱光や反射光などの戻り光を電気信号に変換する。
[0009] 受光器 56から出力される電気信号は、増幅部 57で増幅される。
[0010] 平均加算処理部 58は、増幅部 57で増幅されたアナログの電気信号を内蔵のアナ ログ Zディジタル (AZD)変翻によりディジタル信号に変換すると共に、所定回数 に渡って累積加算した後、平均化処理する。
[0011] 平均加算処理部 58からの平均化出力は、対数変換部 59で対数変換された後、そ の対数変換結果が通常右下がりの測定波形として表示部 60に表示される。
[0012] ところで、この種の光パルス試験器（OTDR) 49では、大きく分けて、アベレージ測 定とリアルタイム測定との 2種類の測定方法が知られている。
[0013] アベレージ測定は、数秒力も数十秒間の比較的長い時間にわたる所定回数の繰り 返し測定波形を累積加算して、平均化することにより、信号対雑音比 (SN比)の良い 測定波形を得るための測定である。
[0014] そして、このアベレージ測定では、特許文献 1に開示される光パルス試験器 (OTD
R) 49のように、 SN比の悪い測定波形の部分では増幅部 57の利得及び平均加算処 理部 58での加算回数 (平均回数)を値を適宜切り替えながら測定を行って、結果的 に、 SN比の良い測定波形の部分だけをつなぎ合わせることにより、広範囲にわたつ て所定値以上の SN比の良い観測に利用可能な領域を得ることができるようにしてい る。
[0015] この場合、図 9に示す光ノ ルス試験器 (OTDR) 49では、上述した構成にカ卩えて、 さらに、 SN比比較部 50とデータ記憶部 51とを備えるようにしている。
[0016] そして、 SN比比較部 50の比較結果によって所定値以上の SN比の良い測定波形 の部分のデータをそのままデータ記憶部 51に記憶しておく。
[0017] 次に、 SN比比較部 50の比較結果によって所定値以下の SN比の悪い測定波形の 部分での増幅部 57の利得及び平均加算処理部 58での加算回数 (平均回数)を値を 適宜切り替えながら測定を行うことにより、結果的に、所定値以上に SN比が改善され た SN比の良 、測定波形の部分のデータを順次にデータ記憶部 51に記憶しておく。 [0018] これにより、結果的に、データ記憶部 51に記憶されている所定値以上の SN比の良 い測定波形の部分のデータをだけをつなぎ合わせて表示部 60に表示させることによ り、広範囲にわたって所定値以上の SN比の良い観測に利用可能な領域を得ること ができる。
[0019] これは、増幅部 57の利得は連続的に変更できるわけではないので、通常、増幅部 57の利得及び周波数特性を含むハード設定と平均加算処理部 58での加算回数（ 平均回数）との特定の組み合わせをアツテネータ値と表現するとき、予め、複数組の アツテネータ値を dB単位の減衰量で表記しておくことにより、測定波形の SN比に応 じて最適となるアツテネータ値を適宜設定するようにして 、ると見ることもできる。
[0020] 従って、この場合、増幅部 57と平均加算処理部 58とは、電気信号に変換される前 の光信号に対して等価的なアツテネータを構成していると見ることもできる。
[0021] そして、アベレージ測定を行う場合には、このような増幅部 57と平均加算処理部 58 とによる等価的なアツテネータに対して、測定波形の SN比に応じて、増幅部 57の利 得及び周波数特性を含むハード設定と平均加算処理部 58での平均加算回数との 複数の組み合わせによる特定のアツテネータ値を適宜変更しながら測定を行うことに より、結果的に、所定値以上の SN比の良い測定波形の部分だけをつなぎ合わせる ことができるようにしている。
[0022] ところで、上述したように、アツテネータ値を適宜変更しながら測定を行うアベレージ 測定に対して、リアルタイム測定は、アツテネータ値を固定して 0. 1秒〜 1秒間程度 の比較的短い時間にわたる測定波形を累積加算して平均化し、そのような測定結果 を次々と表示更新を行うので、その時点での光ファイバの状況 ·変化を観察するため の測定に適している。
[0023] このため、リアルタイム測定は、光ファイバの敷設工事において、例えば、コネクタ 接続ゃ融着による光ファイバの接続を行いながら、その光ファイバの接続状態の善し 悪しをチ ックする場合のように、即応性が必要な用途で良く用いられる。
[0024] ところで、測定対象である被測定光ファイバ 61から戻ってくる後方散乱光は光ファ ィバ 61内で生じるレーリ散乱に起因するものである。
[0025] この後方散乱光のレベルは、被測定光ファイバ 61が通常のシングルモード光フアイ バであって、当該被測定光ファイバに入射される光パルス幅が 1 X 10_6秒のとき、入 射パルス光レベルよりも約 50dB低!、値となる。
[0026] 従って、光パルス試験器 (OTDR) 49は、このような微小な信号を扱うために、所定 回繰り返し測定して累積加算し、それを平均化処理するディジタルアベレージングを 用いることにより、 SN比を改善する必要がある。
[0027] 図 9に示す光パルス試験器（OTDR) 49の加算平均処理部 58は、このようなデイジ タルアベレージングを用いることにより、 SN比を改善するためのものである。
[0028] そして、このディジタルアベレージングを用いる場合、加算平均処理部 58に内蔵さ れる AZD変^^の量子化ビットが 8のとき、平均回数と SN比との間には、図 10に示 すような関係があることが知られて 、る。
[0029] 図 10において、例えば、平均回数が 10回、 SN比が— 30dBのときに、 102回の平 均をとれば SN比が 10dBになり、 20dB改善されることになる。
[0030] なお、このようなディジタルアベレージングを用いる SN比の改善テクニックに関して は、下記非特許文献 1にも記載されている。
[0031] 図 11は、図 9に示す従来の光パルス試験器 (OTDR) 49を用いてアベレージ測定 によって測定波形におけるレベル差の大きい反射減衰量の測定を行ったときの測定 波形を例示する図である。
[0032] すなわち、図 11に示すように、アベレージ測定によって測定波形におけるレベル差 の大きい反射減衰量の測定を行なう場合には、時間をかけることによって測定波形 の加算回数 (平均回数)を十分に増やすことができるため、マーカ 1が位置するフレ ネル反射の直前の波形レベルと、マーカ 2が位置するフレネル反射の頂点のレベル とを同時に観測できるので、これらの差力 反射減衰量を測定することができる。
[0033] そして、上述した反射減衰量の測定は、例えば、当該測定端から 20Km以上も離 れて 、る遠隔地における光ファイバの敷設現場にぉ 、て接続すべき光ファイバの各 端面同士を融着して接続する作業が測定者とは別の作業者によって行われている 際に、行われること〖こなる。
[0034] しかるに、アベレージ測定では反射減衰量の測定に時間が力かるため、反射減衰 量の測定結果が合格範囲を外れていることが判明する頃には、融着作業者が既に 次の光ファイバの融着作業に移ってしまっていることが往々にして生じ、測定タイミン グと融着作業タイミングとが合わな 、と 、う問題がある。
[0035] 一方、この種の光パルス試験器（OTDR) 49にお!/、て行われて!/、るリアルタイム測 定では、反射減衰量の測定に時間が力からないため、測定タイミングと融着作業タイ ミングとが合わな 、と 、う問題につ!ヽては回避することができる。
[0036] しかるに、リアルタイム測定では、アベレージ測定に比べて測定波形の加算回数（ 平均回数）が少ないと共に、アツテネータ値を固定して測定するので、結果的に、得 られる測定波形において良好な SN比を持つ波形の観測に適した領域が狭くなる。
[0037] このため、図 9に示す従来の光パルス試験器 (OTDR) 49では、リアルタイム測定に おいて、得られる測定波形において測定対象の波形レベルが大きく変動したり、別の 距離の状況を見ようとした場合に、操作者が注目している距離の波形レベルが測定 に適した領域から外れやす ヽと ヽぅ問題がある。
[0038] また、図 9に示す従来の光パルス試験器 (OTDR) 49では、リアルタイム測定にお いて、得られる測定波形において 2点間の損失値が知りたい場合や、 2点間の損失 値から計算される反射減衰量を測定したい場合に、 2点間の波形レベル差が大きい と、測定に適した領域に、その 2点の波形レベルが同時に含まれるようにアツテネータ 値を設定することができな 、と 、う問題がある。
[0039] 従って、このような状況下において、図 9に示す従来の光パルス試験器（OTDR) 4 9では、上述したような反射減衰量の測定を含めて良好なリアルタイム測定を行うこと が極めて困難である。
[0040] 図 12及び図 13は、図 9に示す従来の光パルス試験器（OTDR) 49を用いてリアル タイム測定を行なったときの測定波形を例示する図である。
[0041] 図 12に示すように、リアルタイム測定によってレベル差の大きい反射減衰量の測定 を行なう場合には、マーカ 2が位置するフレネル反射の頂点の波形レベルを測定で きるようにアツテネータ値を選択すると、マーカ 1が位置するフレネル反射の直前の波 形レベルの SN比が悪くなつて波形が見えなくなる。
[0042] 図 13に示すように、リアルタイム測定によってレベル差の大きい反射減衰量の測定 を行なう場合には、マーカ 1が位置するフレネル反射の直前の波形レベルに合わせ てアツテネータ値を選択すると、マーカ 2が位置するフレネル反射の頂点の波形レべ ルが飽和して正しく測定することができな!/、。
[0043] 従って、図 12及び図 13に示すリアルタイム測定では、何れの場合においても、正 確に反射減衰量を測定することが困難である。
[0044] また、リアルタイム測定は、被測定光ファイバの状態の変化に対する即応性が求め られる用途で行われて ヽる。
[0045] し力るに、測定対象となる被測定光ファイバの状態が変化したり、ある光ファイバの 測定を行ったまま測定対象となる被測定光ファイバを別の光ファイバに変更した場合 には、測定レンジを合せるため、アツテネータ値を測定者が手動で変更する必要があ る。
[0046] 一方、リアルタイム測定においても、表示部 60に表示させる測定位置指定手段で あるマーカを目的位置に移動するだけで所望の位置の波形観測を所定値以上の S N比の良 、状態で行うことができるようにすることが要望されて！、る。
[0047] 例えば、リアルタイム測定にお!、て、所定値以下の SN比の悪 、測定波形の部分に 表示部 60上でマーカ（図示せず)を移動させて、当該マーカ位置での SN比に応じ てアツテネータ値を自動的に最適値に変更して測定を行うことにより、当該マーカ位 置の部分で SN比を改善して結果的に所定値以上の SN比の良い測定波形を自動 的に観測することができるようにすることが要望されて 、る。
[0048] しかるに、図 9に示す従来の光パルス試験器 (OTDR) 49では、リアルタイム測定に おいて、上述したような幾多の問題もあって、この種の要望に応じることは極めて困 難であると!/、のが実情である。
特許文献 1 :特開平 04— 158237号公報
非特干文献 1： BacKscattenng Measurement and Fault Location m O ptical Fibers"Kenji OKADA et al. THE TRANSACTION OF THE IECE JAPAN . VOL. E 63. NO. 2. ABSTRACTS FEBRUARY 1980 ppl45- 146
発明の開示
[0049] 本発明の目的は、上記問題点に鑑みてなされたものであって、リアルタイム測定に おいて、表示部に表示させる測定位置指定手段であるマーカの波形レベルが予め 設定される有効測定レベル範囲内にある力否かの判定結果に基づいて、アツテネー タ値を最適値に設定して被測定光ファイバに対する測定を行うことにより、マーカを 目的位置に移動するだけで所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状 態で行うことができるようにすると共に、被測定光ファイバの状態変化に伴うレベル変 動に自動的に追従して、測定波形のレベル差が大きい反射減衰量であっても容易 に測定を行うことができるようにしたォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パ ルスを用いる光ファイバの試験方法を提供することである。
本発明の第 1の態様によれば、上記目的を達成するために、
被測定光ファイバ（61)に入射させる光パルスを出射する光源（54)と、
前記光源 (54)から出射される光パルスに応じて、前記被測定光ファイバ（61)から 戻ってくる後方散乱光を受光する受光部 (56)と、
前記受光部（56)からの出力信号を所定の利得で増幅する増幅部（57)と、該増幅 部（57)によって増幅された出力信号を所定回数加算して平均化処理する平均加算 処理部（58)とから構成される等価的なアツテネータ (ATT) (11)と、
前記等価的なアツテネータ (ATT) ( 11)からの出力信号を対数変換する対数変換 部（59)と、
前記対数変換部（59)力 の出力信号を波形データとして記憶する波形メモリ（62) と、
前記波形メモリ (62)に記憶された波形データを測定波形として画面上に表示する 表示部（60)と、
前記表示部（60)の画面上に表示される測定波形上に任意にマーカを設定すると 共に、当該マーカの設定位置を移動可能とするマーカ設定部 (63)と、
前記マーカ設定部（63)によって前記表示部（60)の画面上における測定波形上 に設定される前記マーカの設定位置毎に対応して予め設定されるもので、前記等価 的なアツテネータ (ATT) (11)を構成する前記増幅部（57)の利得 aと前記平均加算 処理部（58)の加算回数 mの組合わせ力もなるリアルタイム測定のための複数のアツ テネータ (ATT)値設定条件、及び、該複数のアツテネータ (ATT)値設定条件毎に 予め設定される有効測定レベル範囲（ Δ Li)を記憶するアツテネータ (ATT)値設定 条件記憶部 (6)と、
前記表示部（60)の画面上に表示される測定波形上に前記マーカ設定部（63)に よって移動可能に設定される前記マーカの設定位置における波形レベルを前記波 形メモリ（62)に記憶された波形データ力 取得するマーカレベル取得部（5)と、 前記マーカレベル取得部（5)によって取得された前記マーカの設定位置における 波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて ヽる前 記有効測定レベル範囲（ Δ )内にある力否かを判定するレベル比較部（8)と、 前記レベル比較部（8)により、前記マーカレベル取得部（5)によって取得された波 形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて ヽる前記 有効測定レベル範囲（Δ Li)内にないと判定されたときに、前記アツテネータ (ATT) 値設定条件の変更を決定するアツテネータ (ATT)値変更判定部（9)と、
前記アツテネータ (ATT)値変更判定部（9)からの変更決定を受けて、前記アツテ ネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて 、る前記アツテネータ (ATT)値 設定条件を前記マーカレベル取得部（5)によって取得された前記マーカの設定位 置における波形レベルが前記有効測定レベル範囲（ A Li)内に含まれる新たなアツ テネータ (ATT)値設定条件に変更するアツテネータ (ATT)値設定条件変更部（7) と、
前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて 、る変更しな力つた 前記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した前記新たなアツテネータ (ATT M直設定条件を前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定するアツテネータ (A TT)値設定部（10)と、
前記アツテネータ (ATT)値設定部（10)によって前記等価的なアツテネータ (ATT ) (11)に設定される前記アツテネータ (ATT)値設定条件に基づいて前記被測定光 ファイバ (61)に対する測定を行わせることにより、前記波形メモリ (62)に記憶された 波形データを読み出して前記表示部（60)の画面上に逐次表示することにより、前記 測定波形の表示を逐次更新するリアルタイム測定を可能とする制御部（3)とを具備し 前記マーカ設定部（63)によって前記表示部（60)の画面上に設定される測定位置 指定手段であるマーカの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範囲（ Δ Li) 内にある力否かの判定結果に基づいて、前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に 設定するアツテネータ (ATT)値を最適値に設定して前記被測定光ファイバ（61)に 対する測定を行うことにより、前記マーカ設定部（63)によって前記マーカを目的位置 に移動するだけで前記表示部（60)の画面上に表示される前記波形データに基づ！/、 て所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことを可能とする ォプチカルタイムドメインリフレクトメータが提供される。
[0051] また、本発明の第 2の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記マーカ設定部（63)によって、前記表示部（60)の画面上における測定波形上 の第 1の位置に設定されているマーカ（1)が前記測定波形上で所定値以下の SN比 の悪い第 2の位置に移動されたとき、前記第 2の位置におけるマーカ（1)に対応する アツテネータ (ATT)値設定条件を最適値に設定して前記被測定光ファイバ (61)に 対する測定を行うことにより、前記表示部（60)の画面上に表示される前記波形デー タに基づいて前記第 2の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うこ とを可能とする第 1の態様に従うォプチカルタイムドメインリフレクトメータが提供される
[0052] また、本発明の第 3の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記マーカ設定部（63)によって、前記表示部（60)の画面上における測定波形上 に複数のマーカが任意に設定されたとき、前記複数のマーカの中から測定対象とす るマーカを指定するマーカ指定部（2)をさらに具備し、
前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)には、前記マーカ設定部（63)に よって前記表示部（60)の画面上における測定波形上に設定される複数のマーカの 設定位置毎に対応して予め設定されるもので、前記等価的なアツテネータ (ATT) (1 1)を構成する前記増幅部（57)の利得 aと前記平均加算処理部（58)の加算回数 m の組合わせ力もなるリアルタイム測定のための複数のアツテネータ (ATT)値設定条 件、及び、該複数のアツテネータ (ATT)値設定条件毎に予め設定される有効測定 レベル範囲（ Δ Li)が記憶されており、 前記マーカレベル取得部（5)は、前記マーカ設定部（63)によって前記表示部（60 )の画面上における測定波形上に設定される複数のマーカの中から前記マーカ指定 部（2)によって指定された測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベル を前記波形メモリ (62)に記憶された波形データ力 取得し、
前記レベル比較部（8)は、前記マーカレベル取得部（5)によって取得される前記 測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (ATT )値設定条件記憶部（6)に記憶されて 、る前記測定対象とするマーカの設定位置に 対応する有効測定レベル範囲（ A Li)内にあるか否かを判定し、
前記アツテネータ (ATT)値変更判定部（9)は、前記レベル比較部（8)により、前記 測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (ATT )値設定条件記憶部（6)に記憶されて ヽる前記測定対象とするマーカに対応する有 効測定レベル範囲（Δ Li)内にないと判定されたときに、前記アツテネータ (ATT)値 設定条件の変更を決定し、
前記アツテネータ (ATT)値設定条件変更部（7)は、前記アツテネータ (ATT)値変 更判定部（9)からの変更決定を受けて、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶 部（6)に記憶されて 、るアツテネータ (ATT)値設定条件を前記マーカレベル取得部 (5)によって取得された前記測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レべ ルが前記有効測定レベル範囲（ Δ Li)内に含まれる新たなアツテネータ (ATT)値設 定条件に変更し、
前記アツテネータ (ATT)値設定部（10)は、前記測定対象とするマーカに対応して 前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて 、る変更しな力つた前 記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した前記新たなアツテネータ (ATT) 値設定条件を前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定し、
前記制御部（3)は、前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ (ATT )直設定部（10)によって前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定される前記 アツテネータ (ATT)値設定条件に基づ!/、て前記被測定光ファイバ（61)に対する測 定を行わせることにより、前記測定対象とするマーカに対応して前記波形メモリ (62) に記憶された波形データを前記表示部（60)の画面上に逐次表示することにより、前 記測定波形の表示を逐次更新するリアルタイム測定を可能とし、
前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ (ATT)値設定部（10)に よって前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定された前記アツテネータ (ATT )値設定条件に基づ 、た測定によって得られる前記測定対象とするマーカに対応す る各波形データを前記波形メモリ (62)力 読み出して合成し、合成された各波形デ ータを前記表示部（60)の画面上に表示させる波形合成部 (4)をさらに具備し、 前記マーカ設定部（63)によって前記表示部（60)の画面上に設定される測定位置 指定手段である複数のマーカのそれぞれの各波形レベルが予め設定される有効測 定レベル範囲（ Δ )内にある力否かの判定結果に基づいて、前記等価的なアツテ ネータ (ATT) (11)に設定するアツテネータ (ATT)値を前記複数のマーカのそれぞ れに対応して最適値に順次設定して前記被測定光ファイバ（61)に対する測定を繰 返すことにより、前記表示部（60)の画面上に表示される前記合成された各波形デー タに基づいて広範囲にわたって所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良 い状態で行うことを可能とすると共に、前記被測定光ファイバ（61)の状態変化に伴う レベル変動に自動的に追従して、測定波形のレベル差が大きい反射減衰量であつ ても容易に測定を行うこと可能とする第 1の態様に従うォプチカルタイムドメインリフレ タトメータが提供される。
また、本発明の第 4の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記マーカ設定部（63)によって前記表示部（60)の画面上における測定波形上 に設定される複数のマーカ力 前記測定波形におけるフレネル反射の直前の位置に 設定される第 1のマーカ（1)と、前記測定波形におけるフレネル反射の頂点の位置 に設定される第 2のマーカ（2)とを含むとき、前記第 1のマーカ（1)及び第 2のマーカ (2)に対応する各アツテネータ (ATT)値設定条件を順次設定して前記被測定光フ アイバ（61)に対する測定を繰返すことにより、前記表示部（60)の画面上に表示され る前記合成された各波形データに基づ ヽて前記フレネル反射の直前の波形レベル と、前記フレネル反射の頂点のレベルとを所定値以上の SN比の良い状態で同時に 観測を行うこと可能とする第 3の態様に従うォプチカルタイムドメインリフレクトメータが 提供される。 [0054] また、本発明の第 5の態様によれば、上記目的を達成するために、 前記複数のマーカ毎における連続繰り返し測定回数を示す測定頻度 Nimaxを記 憶した測定頻度記憶部（14)をさらに具備し、
前記測定頻度記憶部（14)に記憶されている前記測定対象とするマーカに対応す る前記測定頻度 Nimaxに基づ ヽて、前記測定対象とするマーカに対応する前記ァ ッテネータ (ATT)値設定条件により当該マーカに対する測定を繰り返し行った後、 前記測定頻度記憶部（14)に記憶されている次の測定対象とするマーカに対応する 前記測定頻度 Nimaxに基づ 、て、次の測定対象とするマーカに対応する前記アツ テネータ (ATT)値設定条件によりそのマーカに対する測定を繰り返し行う第 3の態 様に従うォプチカルタイムドメインリフレクトメータが提供される。
[0055] また、本発明の第 6の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記マーカレベル取得部（5)によって取得された前記測定対象とするマーカに対 応する波形レベルの変動を検出するレベル変動検出部（12)と、
前記レベル変動検出部（12)によって検出される前記測定対象とするマーカに対 応する波形レベルの変動の有無に応じて前記測定頻度記憶部（14)に記憶されてい る該マーカに対応した測定頻度を変更する測定頻度設定部（13)とをさらに具備する 第 5の態様に従うォプチカルタイムドメインリフレクトメータが提供される。
[0056] また、本発明の第 7の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記波形合成部 (4)は、繰返し測定された波形データのうち前記測定対象とする マーカに対応する前記有効測定レベル範囲（ Δ Π)内に含まれる波形レベルの波形 データのみを選択して、測定波形の合成を行う第 3乃至第 6の態様に従うォプチカル タイムドメインリフレクトメータが提供される。
[0057] また、本発明の第 8の態様によれば、上記目的を達成するために、
被測定光ファイバ（61)に光パルスを入射させるステップと、
前記被測定光ファイバ (61)から戻ってくる後方散乱光を受光して電気信号に変換 するステップと、
前記電気信号を増幅部（57)によって所定の利得で増幅するステップと、 前記増幅部（57)によって増幅された出力信号を前記増幅部（57)と共に等価的な アツテネータ (ATT) (11)を構成する平均加算処理部（58)によって所定回数加算し て平均化処理するステップと、
前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)力もの出力信号を対数変換部（59)によつ て対数変換するステップと、
前記対数変換部（59)力 の出力信号を波形データとして波形メモリ（62)に記憶 するステップと、
前記波形メモリ (62)に記憶された波形データを測定波形として表示部（60)の画面 上に表示するステップと、
前記表示部（60)の画面上に表示される測定波形上に任意にマーカを移動可能に 設定するステップと、
前記表示部（60)の画面上における測定波形上に設定される前記マーカの設定位 置毎に対応して予め設定されるもので、前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)を構 成する前記増幅部（57)の利得 aと前記平均加算処理部（58)の加算回数 mの組合 わせ力もなるリアルタイム測定のための複数のアツテネータ (ATT)値設定条件、及 び、該複数のアツテネータ (ATT)値設定条件毎に予め設定される有効測定レベル 範囲（ Δ Li)をアツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶するステップと、 前記表示部（60)の画面上に表示される測定波形上に任意に設定されるマーカの 設定位置における波形レベルを前記波形メモリ（62)に記憶された波形データから取 得するステップと、
前記波形メモリ (62)に記憶された波形データから取得される前記マーカの設定位 置における波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶さ れて 、る前記有効測定レベル範囲（ Δ Li)内にあるか否かを判定するステップと、 前記マーカの設定位置における波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条 件記憶部（6)に記憶されて ヽる前記有効測定レベル範囲（ Δ Li)内にな ヽと判定さ れたときに、前記アツテネータ (ATT)値設定条件の変更を決定するステップと、 前記アツテネータ (ATT)値設定条件の変更決定を受けて、前記アツテネータ (AT T)値設定条件記憶部（6)に記憶されて ヽるアツテネータ (ATT)値設定条件を前記 マーカの設定位置における波形レベルが前記有効測定レベル範囲（ Δ )内に含ま れる新たなアツテネータ (ATT)値設定条件に変更するステップと、
前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて 、る変更しな力つた 前記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した前記新たなアツテネータ (ATT M直設定条件を前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定するステップと、 前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定された前記アツテネータ (ATT)値 設定条件に基づいて前記被測定光ファイバ（61)に対する測定を行わせることにより 、前記波形メモリ (62)に記憶された波形データを読み出して前記表示部（60)の画 面上に逐次表示することにより、前記測定波形の表示を逐次更新するリアルタイム測 定を可能とするステップとを具備し、
前記表示部（60)の画面上に設定される測定位置指定手段であるマーカの波形レ ベルが予め設定される有効測定レベル範囲（ Δ )内にあるか否かの判定結果に基 づいて、前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定するアツテネータ (ATT)値 を最適値に設定して前記被測定光ファイバ（61)に対する測定を行うことにより、前記 マーカを目的位置に移動するだけで前記表示部（60)の画面上に表示される前記波 形データに基づいて所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行 うことを可能とする光パルスを用いる光ファイバの試験方法が提供される。
[0058] また、本発明の第 9の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記表示部（60)の画面上における測定波形上の第 1の位置に設定されているマ 一力（1)が前記測定波形上で所定値以下の SN比の悪い第 2の位置に移動されたと き、前記第 2の位置におけるマーカ（1)に対応するアツテネータ (ATT)値設定条件 を最適値に設定して前記被測定光ファイバ（61)に対する測定を行うことにより、前記 表示部（60)の画面上に表示される前記合成された各波形データに基づいて前記第 2の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことを可能とする第 8の 態様に従う光パルスを用いる光ファイバの試験方法が提供される。
[0059] また、本発明の第 10の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記表示部（60)の画面上に表示される測定波形上に複数のマーカが任意に設定 されたとき、前記複数のマーカの中力 測定対象とするマーカを指定するステップを さらに具備し、 前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)には、前記表示部（60)の画面上 における測定波形上に設定される複数のマーカの設定位置に対応して予め設定さ れるもので、前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)を構成する前記増幅部（57)の 利得 (a)と前記平均加算処理部（58)の加算回数 (m)の組合わせ力もなるリアルタイ ム測定のための複数のアツテネータ (ATT)値設定条件、及び、該複数のアツテネー タ (ATT)値設定条件毎に予め設定される有効測定レベル範囲（ Δ Li)が記憶されて おり、
前記マーカの設定位置における波形レベルを取得するステップは、前記表示部（6 0)の画面上における測定波形上に設定される複数のマーカの中力 前記測定対象 とするマーカの設定位置に対応する波形レベルを前記波形メモリ（62)に記憶された 波形データから取得し、
前記マーカの波形レベルを判定するステップは、前記測定対象とするマーカの設 定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に 記憶されて ヽる前記測定対象とするマーカに対応する有効測定レベル範囲（ Δ Li) 内にあるカゝ否かを判定し、
前記アツテネータ (ATT)値設定条件の変更を決定するステップは、前記測定対象 とするマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定 条件記憶部（6)に記憶されている前記測定対象とするマーカに対応する有効測定レ ベル範囲（ Δ Li)内にな ヽと判定されたときに、前記アツテネータ (ATT)値設定条件 の変更を決定し、
前記アツテネータ (ATT)値設定条件を変更するステップは、前記アツテネータ (A TT)値設定条件の変更決定を受けて、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 (6)に記憶されて ヽる前記アツテネータ (ATT)値設定条件を前記測定対象とするマ 一力の設定位置に対応する波形レベルが前記有効測定レベル範囲（ Δ Π)内に含ま れる新たなアツテネータ (ATT)値設定条件に変更し、
前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定するステップは、前記測定対象とす るマーカに対応して前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて ヽ る変更しな力つた前記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した前記新たなァ ッテネータ (ATT)値設定条件を設定し、
前記リアルタイム測定を可能とするステップは、前記測定対象とするマーカに対応 して前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定される前記アツテネータ (ATT) 値設定条件に基づいて前記被測定光ファイバ（61)に対する測定を行わせることによ り、前記測定対象とするマーカに対応して前記波形メモリ (62)に記憶された波形デ ータを前記表示部（60)の画面上に逐次表示することにより、前記測定波形の表示を 逐次更新するリアルタイム測定を可能とし、
前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ (ATT)値設定部（10)に よって前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定された前記アツテネータ (ATT )値設定条件に基づ 、た測定によって得られる前記測定対象とするマーカに対応す る各波形データを前記波形メモリ (62)力 読み出して合成し、合成された各波形デ ータを前記表示部（60)の画面上に表示させるステップをさらに具備し、
前記表示部（60)の画面上に表示させる測定位置指定手段である複数のマーカの それぞれの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範囲（ A Li)内にあるカゝ否 かの判定結果に基づいて、前記等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定するアツ テネータ (ATT)値を前記複数のマーカのそれぞれに対応して最適値に順次設定し て前記被測定光ファイバ（61)に対する測定を繰返すことにより、前記表示部（60)の 画面上に表示される前記合成された各波形データに基づいて広範囲にわたって所 望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことを可能とすると共 に、前記被測定光ファイバ（61)の状態変化に伴うレベル変動に自動的に追従して、 測定波形のレベル差が大き 、反射減衰量であっても容易に測定を行うことを可能と する第 8の態様に従う光パルスを用いる光ファイバの試験方法が提供される。
また、本発明の第 11の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記表示部（60)の画面上における測定波形上に設定される複数のマーカが、前 記測定波形におけるフレネル反射の直前の位置に設定される第 1のマーカ（1)と、 前記測定波形におけるフレネル反射の頂点の位置に設定される第 2のマーカ（2)と を含むとき、前記第 1のマーカ（1)及び第 2のマーカ（2)に対応する各アツテネータ（ ATT)値設定条件を順次設定して前記被測定光ファイバ (61)に対する測定を繰返 すことにより、前記表示部（60)の画面上に表示される前記合成された各波形データ に基づ!/ヽて前記フレネル反射の直前の波形レベルと、前記フレネル反射の頂点のレ ベルとを所定値以上の SN比の良い状態で同時に観測を行うことを可能とする第 10 の態様に従う光パルスを用いる光ファイバの試験方法が提供される。
[0061] また、本発明の第 12の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記複数のマーカ毎における連続繰り返し測定回数を示す測定頻度 (Nimax)を 測定頻度記憶部（14)に記憶するステップをさらに具備し、
前記測定頻度記憶部（14)に記憶されている前記測定対象とするマーカに対応す る前記測定頻度 (Nimax)に基づいて、前記測定対象とするマーカに対応する前記 アツテネータ (ATT)値設定条件により当該マーカに対する連続繰り返し測定を行つ た後、前記測定頻度記憶部（14)に記憶されている次の測定対象とするマーカに対 応する前記測定頻度 Nimaxに基づ ヽて、次の測定対象とするマーカに対応する前 記アツテネータ (ATT)値設定条件によりそのマーカに対する連続繰り返し測定を行 う第 10の態様に従う光パルスを用いる光ファイバの試験方法が提供される。
[0062] また、本発明の第 13の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記測定対象とするマーカに対応する波形レベルの変動を検出するステップと、 前記測定対象とするマーカに対応する波形レベルの変動の有無に応じて前記測 定頻度記憶部（14)に記憶されている該マーカに対応した測定頻度を変更するステ ップとをさらに具備する第 12の態様に従う光パルスを用いる光ファイバの試験方法が 提供される。
[0063] また、本発明の第 14の態様によれば、上記目的を達成するために、
前記合成された各波形データを前記表示部（60)の画面上に表示させるステップ は、前記繰返し測定される波形データのうち前記測定対象とするマーカに対応する 前記有効測定範囲（ A Li)内に含まれる波形レベルの波形データのみを選択して、 測定波形の合成を行う第 12の態様に従う光パルスを用いる光ファイバの試験方法が 提供される。
[0064] 以上のような本発明の第 1の態様によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及 び本発明の第 8の態様による光パルスを用いる光ファイバの試験方法によれば、リア ルタイム測定にぉ 、て、表示部（60)の画面上に設定される測定位置指定手段であ るマーカの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範囲内にある力否かの判 定結果に基づいて、等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設定するアツテネータ (A TT)値を最適値に設定して被測定光ファイバ (61)に対する測定を行うことにより、前 記マーカを目的位置に移動するだけで表示部（60)の画面上に表示される前記波形 データに基づ 、て所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良 、状態で行う ことが可能となる。
[0065] また、以上のような本発明の第 2の態様によるォプチカルタイムドメインリフレクトメー タ及び本発明の第 9の態様による光パルスを用いる光ファイバの試験方法によれば、 リアルタイム測定において、測定波形上の第 1の位置に設定されているマーカが測 定波形上で所定値以下の SN比の悪い第 2の位置に移動されたとき、前記第 2の位 置におけるマーカに対応するアツテネータ (ATT)値設定条件を最適値に設定して 被測定光ファイバ（61)に対する測定を行うことにより、表示部（60)の画面上に表示 される前記合成された各波形データに基づいて前記第 2の位置の波形観測を所定 値以上の SN比の良い状態で行うことが可能となる。
[0066] また、以上のような本発明の第 3の態様によるォプチカルタイムドメインリフレクトメー タ及び本発明の第 10の態様による光パルスを用いる光ファイバの試験方法によれば 、リアルタイム測定において、表示部（60)の画面上に設定される測定位置指定手段 である複数のマーカのそれぞれの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範 囲内にある力否かの判定結果に基づいて、等価的なアツテネータ (ATT) (11)に設 定するアツテネータ (ATT)値を最適値に順次設定して被測定光ファイバ（61)に対 する測定を繰返すことにより、表示部（60)の画面上に表示される合成された各波形 データに基づいて広範囲にわたって所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比 の良い状態で行うことが可能となる。
[0067] また、以上のような本発明の第 4の態様によるォプチカルタイムドメインリフレクトメー タ及び本発明の第 11の態様による光パルスを用いる光ファイバの試験方法によれば 、リアルタイム測定において、特に、フレネル反射の直前の波形レベルと、フレネル反 射の頂点のレベルとを所定値以上の SN比の良い状態で同時に観測することができ ると共に、反射減衰量の変化をほぼリアルタイムで観察することができる。
[0068] その結果、本発明のォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び本発明の光パル スを用いる光ファイバの試験方法によれば、測定対象のレベル差の大きい反射減衰 量の測定をリアルタイムで容易に行なうことができる。
[0069] し力も、本発明のォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び本発明の光パルスを 用いる光ファイバの試験方法によれば、リアルタイム測定時に、測定者が波形のレべ ルに合わせて手動でアツテネータ (利得や減衰量など）を適宜調節する必要も無ぐ 測定者が必要に応じていずれかのマーカを表示画面上の目的位置に移動するだけ で所望の位置の波形を所定値以上の SN比で観測することができる。
[0070] また、以上のような本発明の第 6の態様によるォプチカルタイムドメインリフレクトメー タ及び本発明の第 13の態様による光パルスを用いる光ファイバの試験方法によれば 、リアルタイム測定において、複数のマーカに対するそれぞれのアツテネータを設定 する際に、マーカで指定された波形位置のレベルの変動に応じて測定頻度を変更で きるようにして、マーカで指定された波形位置のレベル変動が小さ 、場合は測定頻 度を下げ、レベル変動が大きい場合は測定頻度を一時的に上げることで、より迅速 に測定波形の変化を捉えやすくなる。
図面の簡単な説明
[0071] [図 1]図 1は、本発明の一実施形態によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及 び光パルスを用いる光ファイバの試験方法が適用される光パルス試験器 (OTDR) の構成を説明するために示すブロック図である。
[図 2]図 2は、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータの測定レベル変更機能の 動作を説明するために示すフローチャートである。
[図 3]図 3は、図 2におけるマーカ位置にレベルを合わせた測定の動作を説明するた めに示すフローチャートである。
[図 4A]図 4Aは、図 2におけるマーカ番号 iの変更有無判別処理の動作の一例を説 明するために示すフローチャートである。
[図 4B]図 4Bは、図 2におけるマーカ番号 iの変更有無判別処理の動作の他の例を説 明するために示すフローチャートである。 [図 4C]図 4Cは、図 2におけるマーカ番号 iの変更有無判別処理の動作のさらに別の 例を説明するために示すフローチャートである。
[図 5A]図 5Aは、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータによるリアルタイム測 定の一例を説明するために示す図である。
[図 5B]図 5Bは、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータによるリアルタイム測 定の一例を説明するために示す図である。
[図 5C]図 5Cは、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータによるリアルタイム測 定の他の例を説明するために示す図である。
[図 5D]図 5Dは、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータによるリアルタイム測 定の他の例を説明するために示す図である。
[図 5E]図 5Eは、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータによるリアルタイム測 定の他の例を示す図である。
[図 6]図 6は、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータにおいて測定波形上に 複数のマーカを設定したときの表示画面を説明するために示す図である。
[図 7]図 7は、図 1のォプチカルタイムドメインリフレクトメータにおいてアツテネータ（A
TT)値設定条件記憶部の内容の一例を説明するために示す図である。
[図 8]図 8は、図 6の測定波形上に設定された各マーカ毎の測定頻度 Nimaxの一例 を説明するために示す図である。
[図 9]図 9は、特許文献 1に開示される従来の光パルス試験器 (OTDR)の構成を説 明するために示すブロック図である。
圆 10]図 10は、非特許文献 1に開示される平均回数と SN比との関係を説明するた めに示す図である。
[図 11]図 11は、従来の光パルス試験器 (OTDR)を用いてアベレージ測定によって レベル差の大きい反射減衰量の測定を行ったときの測定波形の一例を説明するた めに示す図である。
[図 12]図 12は、従来の光パルス試験器 (OTDR)を用いたリアルタイム測定において 、フレネル反射光のピーク位置にアツテネータを合わせたときの測定波形の一例を説 明するために示す図である。 [図 13]図 13は、従来の光パルス試験器 (OTDR)を用いたリアルタイム測定にお！、て 、フレネル反射光の直前の位置にアツテネータを合わせたときの測定波形の一例を 説明するために示す図である。
発明を実施するための最良の形態
[0072] 以下、本発明によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる 光ファイバの試験方法についての実施の形態を図面を参照しながら具体的に説明 する。
[0073] 図 1は、本発明の一実施形態によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光 パルスを用いる光ファイバの試験方法が適用される光パルス試験器 (OTDR)の構 成を説明するために示すブロック図である。
[0074] (基本的な構成）
まず、図 1に示すように、本発明によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、 基本的な構成として、被測定光ファイバ 61に入射させるための光ノ ルスを出射する 光源 54と、前記光源 54から出射される光パルスに応じて、前記被測定光ファイバ 61 から戻ってくる後方散乱光を受光する受光部 56と、前記受光部 56からの出力信号を 所定の利得で増幅する増幅部 57と、該増幅部 57によって増幅された出力信号を所 定回数加算して平均化処理する平均加算処理部 58とから構成される等価的なアツ テネータ (ATT) 11と、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11からの出力信号を対数 変換する対数変換部 59と、前記対数変換部 59からの出力信号を波形データとして 記憶する波形メモリ 62と、前記波形メモリ 62に記憶された波形データを測定波形とし て画面上に表示する表示部 60と、前記表示部 60の画面上に表示される測定波形上 に任意にマーカを設定すると共に、当該マーカの設定位置を移動可能とするマーカ 設定部 63と、前記マーカ設定部 63によって前記表示部 60の画面上における測定 波形上に設定される前記マーカの設定位置毎に対応して予め設定されるもので、前 記等価的なアツテネータ (ATT) 11を構成する前記増幅部 57の利得 aと前記平均カロ 算処理部 58の加算回数 mの組合わせ力 なるリアルタイム測定のための複数のアツ テネータ (ATT)値設定条件、及び、該複数のアツテネータ (ATT)値設定条件毎に 予め設定される有効測定レベル範囲 Δ Liを記憶するアツテネータ (ATT)値設定条 件記憶部 6と、前記表示部 60の画面上に表示される測定波形上に前記マーカ設定 部 63によって任意に設定されるマーカの設定位置における波形レベルを前記波形 メモリ 62に記憶された波形データ力 取得するマーカレベル取得部 5と、前記マーカ レベル取得部 5によって取得された前記マーカの設定位置における波形レベルが前 記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶されて ヽる前記有効測定レベル 範囲 Δ Li内にある力否かを判定するレベル比較部 8と、前記レベル比較部 8により、 前記マーカレベル取得部（5)によって取得された波形レベルが前記アツテネータ (A TT)値設定条件記憶部（6)に記憶されて ヽる前記有効測定レベル範囲 Δ Li内にな Vヽと判定されたときに、前記アツテネータ (ATT)値設定条件の変更を決定するアツ テネータ (ATT)値変更判定部 9と、前記アツテネータ (ATT)値変更判定部 9からの 変更決定を受けて、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶されて ヽる 前記アツテネータ (ATT)値設定条件を前記マーカレベル取得部 5によって取得され た前記マーカの設定位置における波形レベルが前記有効測定レベル範囲 Δ Li内に 含まれる新たなアツテネータ (ATT)値設定条件に変更するアツテネータ (ATT)値 設定条件変更部 7と、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶されてい る変更しな力つた前記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した前記新たなァ ッテネータ (ATT)値設定条件を前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定するァ ッテネータ (ATT)値設定部 10と、前記アツテネータ (ATT)値設定部 10によって前 記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定される前記アツテネータ (ATT)値設定条 件に基づいて前記被測定光ファイバ 61に対する測定を行わせることにより、前記波 形メモリ 62に記憶された波形データを読み出して前記表示部 60の画面上に逐次表 示することにより、前記測定波形の表示を逐次更新するリアルタイム測定を可能とす る制御部 3とを具備し、前記マーカ設定部 63によって前記表示部 60の画面上に設 定される測定位置指定手段であるマーカの波形レベルが予め設定される有効測定 レベル範囲 Δ Li内にある力否かの判定結果に基づいて、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定するアツテネータ (ATT)値を最適値に設定して前記被測定光ファ ィバ 61に対する測定を行うことにより、前記マーカ設定部 63によって前記マーカを目 的位置に移動するだけで前記表示部 60の画面上に表示される前記波形データに基 づいて所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことが可能と なる。
[0075] すなわち、このようなォプチカルタイムドメインリフレクトメータの基本的な構成では、 マーカ設定部 63によって設定されるマーカが一つ以上である場合を含んでいる。
[0076] この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、好ましくは、前記マーカ設定 部 63によって、前記測定波形上の第 1の位置に設定されたマーカ 1が前記測定波形 上で所定値以下の SN比の悪い第 2の位置に移動されたとき、前記第 2の位置にお けるマーカ 1に対応するアツテネータ (ATT)値設定条件を最適値に設定して前記被 測定光ファイバ 61に対する測定を行うことにより、前記表示部 60の画面上に表示さ れる測定波形に基づ 、て前記第 2の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良 ヽ 状態で行うことが可能となる。
[0077] そして、本発明のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、マーカ設定部 63によ つて設定されるマーカが二つ以上の複数である場合を含んでいる。
[0078] この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、好ましくは、前記マーカ設定 部 63によって前記測定波形上に複数のマーカが任意に設定されたとき、前記複数 のマーカの中から測定対象とするマーカを指定するマーカ指定部 2をさらに具備して いる。
[0079] そして、この場合、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6には、前記マーカ 設定部 63によって前記表示部 60の画面上における測定波形上に設定される複数 のマーカの設定位置毎に対応して予め設定されるもので、前記等価的なアツテネー タ (ATT) 11を構成する前記増幅部 57の利得 aと前記平均加算処理部 58の加算回 数 mの組合わせカゝらなるリアルタイム測定のための複数のアツテネータ ATT値設定 条件、及び、該複数のアツテネータ (ATT)値設定条件毎に予め設定される有効測 定レベル範囲 Δ Liが記憶されて!、る。
[0080] また、前記マーカレベル取得部 5は、前記マーカ設定部 63によって前記表示部 60 の画面上における前記測定波形上に設定される複数のマーカの中力 前記マーカ 指定部 2によって指定された測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レべ ルを前記波形メモリ 62に記憶された波形データ力 取得するようになされて 、る。 [0081] また、前記レベル比較部 8は、前記マーカレベル取得部 5によって取得される前記 測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (ATT )値設定条件記憶部 6に記憶されて 、る前記測定対象とするマーカの設定位置に対 応する有効測定レベル範囲 Δ Li内にあるか否かを判定するようになされて 、る。
[0082] また、前記アツテネータ (ATT)値変更判定部 9は、前記レベル比較部 8により、前 記測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (A TT)値設定条件記憶部 6に記憶されて ヽる前記測定対象とするマーカに対応する有 効測定レベル範囲 Δ Li内にないと判定されたときに、前記アツテネータ (ATT)値設 定条件の変更を決定するようになされて 、る。
[0083] また、前記アツテネータ (ATT)値設定条件算出部 7は、前記アツテネータ (ATT) 値変更判定部 9からの変更決定を受けて、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記 憶部 6に記憶されて 、るアツテネータ (ATT)値設定条件を前記マーカレベル取得部 5によって取得された前記測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベル が前記有効測定レベル範囲 Δ Li内に含まれる新たなアツテネータ (ATT)値設定条 件に変更するようになされて 、る。
[0084] また、前記アツテネータ (ATT)値設定部 10は、前記測定対象とするマーカに対応 して前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶されて ヽる変更しなカゝつた 前記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した前記新たなアツテネータ (ATT )値設定条件を前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定するようになされて!、る
[0085] また、前記制御部 3は、前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ (A TT)値設定部 10によって前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定される前記ァ ッテネータ (ATT)値設定条件に基づ!/、て前記被測定光ファイバ 61に対する測定を 行わせることにより、前記測定対象とするマーカに対応して前記波形メモリ 62に記憶 された波形データを前記表示部 60の画面上に逐次表示することにより、前記測定波 形の表示を逐次更新するリアルタイム測定を可能とするようになされて 、る。
[0086] なお、この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、好ましくは、前記測定 対象とするマーカに対応して前記アツテネータ (ATT)値設定部 10によって前記等 価的なアツテネータ (ATT) 11に設定された前記アツテネータ (ATT)値設定条件に 基づいた測定によって得られる前記測定対象とするマーカに対応する各波形データ を前記波形メモリ 62から読み出して合成し、合成された各波形データを前記表示部 60の画面上に表示させる波形合成部 4をさらに具備している。
[0087] そして、この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、前記マーカ設定部 6 3によって前記表示部 60の画面上に設定される測定位置指定手段である複数のマ 一力のそれぞれの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範囲 Δ Li内にある か否かの判定結果に基づいて、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定するァ ッテネータ (ATT)値を前記複数のマーカのそれぞれに対応して最適値に順次設定 して前記被測定光ファイバ 61に対する測定を繰返すことにより、前記表示部 60の画 面上に表示される前記合成された各波形データに基づいて広範囲にわたって所望 の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことを可能とすると共に、 前記被測定光ファイバ 61の状態変化に伴うレベル変動に自動的に追従して、測定 波形のレベル差が大き 、反射減衰量であっても容易に測定を行うこと可能とする。
[0088] この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、好ましくは、前記マーカ設定 部 63によって前記測定波形上に設定される複数のマーカ力 前記測定波形におけ るフレネル反射の直前の位置に設定される第 1のマーカ 1と、前記測定波形における フレネル反射の頂点の位置に設定される第 2のマーカ 2とを含むとき、前記第 1のマ 一力 1及び第 2のマーカ 2に対応する各アツテネータ (ATT)値設定条件を順次設定 して前記被測定光ファイバ 61に対する測定を繰返すことにより、前記表示部 60の画 面上に表示される前記合成された各波形データに基づいて前記フレネル反射の直 前の波形レベルと、前記フレネル反射の頂点のレベルとを所定値以上の SN比の良 い状態で同時に観測を行うことを可能とする。
[0089] また、この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、好ましくは、前記複数 のマーカ毎における連続繰り返し測定回数を示す測定頻度 Nimaxを記憶した測定 頻度記憶部 14をさらに具備し、前記測定頻度記憶部 14に記憶されている前記測定 対象とするマーカに対応する前記測定頻度 Nimaxに基づ 、て、前記測定対象とす るマーカに対応する前記アツテネータ (ATT)値設定条件により当該マーカに対する 連続繰り返し測定を行った後、前記測定頻度記憶部 14に記憶されて 、る次の測定 対象とするマーカに対応する前記測定頻度 Nimaxに基づ 、て、次の測定対象とす るマーカに対応する前記アツテネータ (ATT)値設定条件によりそのマーカに対する 測定を繰り返し行う。
[0090] また、この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、好ましくは、前記マー カレベル取得部 5によって取得された前記測定対象とするマーカに対応する波形レ ベルの変動を検出するレベル変動検出部 12と、前記レベル変動検出部 12によって 検出される前記測定対象とするマーカに対応する波形レベルの変動の有無に応じて 前記測定頻度記憶部 14に記憶されている該マーカに対応した測定頻度を変更する 測定頻度設定部 13とをさらに具備する。
[0091] また、この場合のォプチカルタイムドメインリフレクトメータは、好ましくは、前記波形 合成部 4が、繰返し測定された波形データのうち前記測定対象とするマーカに対応 する前記有効測定レベル範囲 Δ Li内に含まれる波形レベルの波形データのみを選 択して、測定波形の合成を行う。
[0092] 次に、図 1に示すように、本発明による光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、 基本的な構成として、被測定光ファイバ 61に光パルスを入射させるステップと、前記 被測定光ファイバ 61から戻ってくる後方散乱光を受光して電気信号に変換するステ ップと、前記電気信号を増幅部 57によって所定の利得で増幅するステップと、前記 増幅部 57によって増幅された出力信号を前記増幅部 57と共に等価的なアツテネー タ (ATT) 11を構成する平均加算処理部 58によって所定回数加算して平均化処理 するステップと、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11からの出力信号を対数変換部 59によって対数変換するステップと、前記対数変換部 59からの出力信号を波形デ ータとして波形メモリ 62に記憶するステップと、前記波形メモリ 62に記憶された波形 データを測定波形として表示部 60の画面上に表示するステップと、前記表示部 60の 画面上に表示される測定波形上に任意にマーカを移動可能に設定するステップと、 前記表示部 60の画面上における測定波形上に設定される前記マーカの設定位置 毎に対応して予め設定されるもので、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11を構成す る前記増幅部 57の利得 aと前記平均加算処理部 58の加算回数 mの組合わせ力もな るリアルタイム測定のための複数のアツテネータ (ATT)値設定条件、及び、該複数 のアツテネータ (ATT)値設定条件毎に予め設定される有効測定レベル範囲（ Δ Li) をアツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶するステップと、前記表示部 60の 画面上に表示される測定波形上に任意に設定されるマーカの設定位置における波 形レベルを前記波形メモリ 62に記憶された波形データから取得するステップと、前記 波形メモリ 62に記憶された波形データ力 取得される前記マーカの設定位置におけ る波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶された前記有 効測定レベル範囲 Δ Li内にある力否かを判定するステップと、前記マーカの設定位 置における波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶され ている前記有効測定レベル範囲 Δ Li内にないと判定されたときに、前記アツテネータ (ATT)値設定条件の変更を決定するステップと、前記アツテネータ (ATT)値設定 条件の変更決定を受けて、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6)に記憶さ れて 、るアツテネータ (ATT)値設定条件を前記マーカの設定位置における波形レ ベルが前記有効測定レベル範囲 Δ Li内に含まれる新たなアツテネータ (ATT)値設 定条件に変更するするステップと、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に 記憶されて 、る変更しな力つた前記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した 前記新たなアツテネータ (ATT)値設定条件を前記等価的なアツテネータ (ATT) 11 に設定するステップと、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定された前記アツ テネータ (ATT)値設定条件に基づ!/、て前記被測定光ファイバ 61に対する測定を行 わせることにより、前記波形メモリ (62)に記憶された波形データを読み出して前記表 示部 60の画面上に逐次表示することにより、前記測定波形の表示を逐次更新するリ アルタイム測定を可能とするステップとを具備し、前記表示部 60の画面上に表示させ る測定位置指定手段であるマーカの波形レベルが予め設定される有効測定レベル 範囲 Δ Li内にある力否かの判定結果に基づいて、前記等価的なアツテネータ (ATT ) 11に設定するアツテネータ (ATT)値を最適値に設定して前記被測定光ファイバ 6 1に対する測定を行うことにより、前記マーカを目的位置に移動するだけで前記表示 部 60の画面上に表示される前記波形データに基づいて所望の位置の波形観測を 所定値以上の SN比の良い状態で行うことが可能となる。 [0093] すなわち、このような光パルスを用いる光ファイバの試験方法の基本的な構成では 、前記測定波形上に設定されるマーカが一つ以上である場合を含んでいる。
[0094] この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、好ましくは、前記測定波形 上の第 1の位置に設定されているマーカ 1が前記測定波形上で所定値以下の SN比 の悪い第 2の位置に移動されたとき、前記第 2の位置におけるマーカ 1に対応するァ ッテネータ (ATT)値設定条件を最適値に設定して前記被測定光ファイバ 61に対す る測定を行うことにより、前記表示部 60の画面上に表示される前記波形データに基 づいて前記第 2の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことが可 能となる。
[0095] そして、本発明の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、前記測定波形上に 設定されるマーカが二つ以上の複数である場合を含んでいる。
[0096] この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、好ましくは、前記測定波形 上に複数のマーカが任意に設定されたとき、前記複数のマーカの中から測定対象と するマーカを指定するステップをさらに具備している。
[0097] そして、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6には、前記表示部 60の画面 上における測定波形上に設定される複数のマーカの設定位置に対応して予め設定 されるもので、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11を構成する前記増幅部 57の利 得 aと前記平均加算処理部 58の加算回数 mの組合わせ力もなるリアルタイム測定の ための複数のアツテネータ (ATT)値設定条件、及び、該複数のアツテネータ (ATT )値設定条件毎に予め設定される有効測定レベル範囲 Δ Liが記憶されて 、る。
[0098] また、前記マーカの設定位置における波形レベルを取得するステップは、前記表 示部 60の画面上における測定波形上に設定される複数のマーカの中力 前記測定 対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベルを前記波形メモリ 62に記憶され た波形データから取得するようになされて 、る。
[0099] また、前記マーカの波形レベルを判定するステップは、前記測定対象とするマーカ の設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6 に記憶されて 、る前記測定対象とするマーカに対応する有効測定レベル範囲 Δ Li 内にあるカゝ否かを判定するようになされて!ヽる。 [0100] また、前記アツテネータ (ATT)値設定条件の変更を決定するステップは、前記測 定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ (ATT) 値設定条件記憶部（6)に記憶されている前記測定対象とするマーカに対応する有 効測定レベル範囲 Δ Li内にないと判定されたときに、前記アツテネータ (ATT)値設 定条件の変更を決定するようになされて 、る。
[0101] また、前記アツテネータ (ATT)値設定条件を変更するステップは、前記アツテネー タ (ATT)値設定条件の変更決定を受けて、前記アツテネータ (ATT)値設定条件記 憶部 6に記憶されて ヽる前記アツテネータ (ATT)値設定条件を前記測定対象とする マーカの設定位置に対応する波形レベルが前記有効測定レベル範囲 Δ Li内に含ま れる新たなアツテネータ (ATT)値設定条件に変更するようになされて!、る。
[0102] また、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定するステップは、前記測定対象 とするマーカに対応して前記アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶されて V、る変更しな力つた前記アツテネータ (ATT)値設定条件または変更した前記新たな アツテネータ (ATT)値設定条件を前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定する ようになされている。
[0103] また、前記リアルタイム測定を可能とするステップは、前記測定対象とするマーカに 対応して前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定される前記アツテネータ (ATT M直設定条件に基づいて前記被測定光ファイバ 61に対する測定を行わせることによ り、前記測定対象とするマーカに対応して前記波形メモリ 62に記憶された波形デー タを前記表示部 60の画面上に逐次表示することにより、前記測定波形の表示を逐次 更新するリアルタイム測定を可能とするようになされて 、る。
[0104] なお、この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、好ましくは、前記測 定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ (ATT)値設定部 10によって前記 等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定された前記アツテネータ (ATT)値設定条件 に基づいた測定によって得られる前記測定対象とするマーカに対応する各波形デー タを前記波形メモリ 62から読み出して合成し、合成された各波形データを前記表示 部 60の画面上に表示させるステップをさらに具備している。
[0105] そして、この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、前記表示部 60の 画面上に表示させる測定位置指定手段である複数のマーカのそれぞれの波形レべ ルが予め設定される有効測定レベル範囲 Δ Li内にあるか否かの判定結果に基づ！/、 て、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11に設定するアツテネータ (ATT)値を前記 複数のマーカのそれぞれに対応して最適値に順次設定して前記被測定光ファイバ 6 1に対する測定を繰返すことにより、前記表示部 60の画面上に表示される前記合成 された各波形データに基づいて広範囲にわたって所望の位置の波形観測を所定値 以上の SN比の良い状態で行うことを可能とすると共に、前記被測定光ファイバ 61の 状態変化に伴うレベル変動に自動的に追従して、測定波形のレベル差が大きい反 射減衰量であっても容易に測定を行うことを可能とする。
[0106] この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、好ましくは、前記測定波形 上に設定される複数のマーカ力 前記測定波形におけるフレネル反射の直前の位 置に設定される第 1のマーカ 1と、前記測定波形におけるフレネル反射の頂点の位 置に設定される第 2のマーカ 2とを含むとき、前記第 1のマーカ 1及び第 2のマーカ 2 に対応する各アツテネータ (ATT)値設定条件を順次設定して前記被測定光フアイ バ 61に対する測定を繰返すことにより、前記表示部 60の画面上に表示される前記 合成された各波形データに基づ 、て前記フレネル反射の直前の波形レベルと、前記 フレネル反射の頂点のレベルとを所定値以上の SN比の良い状態で同時に観測を 行うことを可能とする。
[0107] また、この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、好ましくは、前記複数 のマーカ毎における連続繰り返し測定回数を示す測定頻度 Nimaxを測定頻度記憶 部 14に記憶するステップをさらに具備し、前記測定頻度記憶部 14に記憶されて ヽる 前記測定対象とするマーカに対応する前記測定頻度 Nimaxに基づ ヽて、前記測定 対象とするマーカに対応する前記アツテネータ (ATT)値設定条件により当該マーカ に対する測定を繰り返し行った後、前記測定頻度記憶部 14に記憶されて 、る次の 測定対象とするマーカに対応する前記測定頻度 Nimaxに基づ 、て、次の測定対象 とするマーカに対応する前記アツテネータ (ATT)値設定条件によりそのマーカに対 する測定を繰り返し行う。
[0108] また、この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、好ましくは、前記測定 対象とするマーカに対応する波形レベルの変動を検出するステップと、前記測定対 象とするマーカに対応する波形レベルの変動の有無に応じて前記測定頻度記憶部
14に記憶されている該マーカに対応した測定頻度を変更するステップとをさらに具 備する。
[0109] また、この場合の光パルスを用いる光ファイバの試験方法は、好ましくは、前記合成 された各波形データを前記表示部 60の画面上に表示させるステップは、前記繰返し 測定される波形データのうち前記測定対象とするマーカに対応する前記有効測定レ ベル範囲 Δ Li内に含まれる波形レベルの波形データのみを選択して、測定波形の 合成を行う。
[0110] (具体的な実施形態）
次に、図 1に基づいて、本発明によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ (OT DR)及び光パルスを用いる光ファイバの試験方法が適用される光パルス試験器 (O TDR)の具体的な実施形態につ!、て説明する。
[0111] 本発明によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファ ィバの試験方法が適用される具体的な実施形態としての光パルス試験器 (OTDR) 1 は、上述したような基本的な構成の説明から明らかなように、リアルタイム測定におい て、測定波形の表示画面上で測定者が指定するマーカの位置に連動して最適なァ ッテネータ (ATT)値を自動的に選択設定して所定値以上の SN比の良 、状態で測 定波形を観測することができるように測定レベルを変更する測定レベル変更機能を 備えている。
[0112] この測定レベル変更機能は、一つまたは二つ以上の複数のマーカに対してそれぞ れ最適なアツテネータを自動的に選択設定して所定値以上の SN比が得られるように 測定レベルを変更して測定し、一つのマーカの場合には測定レベルの変更の前後 の測定波形を表示する機能、二つ以上の複数のマーカの場合にはそれぞれの測定 波形を合成処理して表示する機能、さらには複数のマーカに対するそれぞれのアツ テネータ (ATT)値を設定する際に測定波形のレベル変動に応じて測定頻度に差を 持たせる機能を含んでいる。
[0113] そして、本発明によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用い る光ファイバの試験方法が適用される具体的な実施形態としての光パルス試験器 (o
TDR) 1は、上記測定レベル変更機能を実現するため、図 1に示すように、図 9に示さ れる従来の光パルス試験器 (OTDR) 49の基本的な構成であるタイミング発生部 52 、駆動回路 53、光源 54、光方向性結合器 55、受光器 56、増幅部 57、加算平均処 理部 58、対数変換部 59、表示部 60に加えて、マーカ指定部 2、制御部 3、波形合成 部 4、マーカレベル取得部 5、アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6、アツテネー タ (ATT)値設定条件算出部 7、レベル比較部 8、アツテネータ (ATT)値変更判定部 9、アツテネータ (ATT)値設定部 10、レベル変動検出部 12、測定頻度設定部 13、 測定頻度記憶部 14、波形メモリ 62、マーカ設定部 63及び操作部 64を備えている。
[0114] この場合、操作部 64は、少なくともマーカ設定部 63、マーカ指定部 2、測定頻度記 憶部 14及びリアルタイム測定開始の指示に関連した操作部材が搭載されており、そ れらの操作部材の操作に応じて制御部 3を介して後述するようにマーカ設定部 63に よるマーカの設定、マーカ指定部 2によるマーカの指定、測定頻度記憶部 14に対す る測定頻度の設定及び光パルス試験器 (OTDR) 1によるリアルタイム測定開始を指 示するようになされて 、る。
[0115] また、制御部 3は、 CPU, ROM. RAM等を含んで構成され、本発明が適用される 光パルス試験器 (OTDR) 1による後述するようなリアルタイム測定のための自動的な 制御を含む光パルス試験器 (OTDR) 1全体の制御を司る。
[0116] なお、図 1において、図 9に示される従来の光パルス試験器（OTDR) 49と同じ構成 部分については同一の参照符号を付して、それらの詳細な説明を省略する。
[0117] また、図 1において、前述したように、増幅部 57と平均加算処理部 58との組み合わ せを等価的なアツテネータ (ATT) 11と表現し、増幅部 57の利得 a及び周波数特性 を得られるハード設定と平均加算処理部 58で実行される平均加算回数 mとの組み 合わせをアツテネータ (ATT)値と表現して 、る。
[0118] 具体的には、光源 54から出射された光パルスは、光方向性結合器 55を通過した 後、被測定光ファイバ 61に入射される。
[0119] そして、被測定光ファイバ 61からの戻り光は、光方向性結合器 55を介して受光器 5 6へ送られ、この受光器 56によって電気信号に変換される。 [0120] この受光器 56によって変換された電気信号は、後述するようにしてアツテネータ (A TT)値が設定されるアツテネータ (ATT) 11において、増幅部 57によって利得 aで増 幅された後、平均加算処理部 58で内蔵の AZD変換器によりディジタル信号に変換 されて m回加算平均される。
[0121] アツテネータ (ATT) 11の平均加算処理部 58で m回加算平均された出力信号は、 対数変換部 59で対数変換された後、アツテネータ (ATT) 11に設定されるアツテネ ータ (ATT)値毎に異なる波形データとして波形メモリ 62に記憶される。
[0122] この波形メモリ 62にアツテネータ (ATT)値毎に記憶された波形データは、必要に 応じて波形合成部 4で波形合成された後、表示部 60の画面上に測定波形として表 示される。
[0123] マーカ設定部 63は、前記表示部 60の画面上に表示される測定波形上に任意にマ 一力を設定すると共に、当該マーカの設定位置を移動可能とする。
[0124] この場合、マーカ設定部 63は、測定者によってマーカ設定の操作がなされる操作 部 64から制御部 3を介して前記表示部 60の画面上に表示される測定波形上に任意 にマーカを設定するようになされて 、る。
[0125] マーカ指定部 2は、測定波形上に設定された複数のマーカが設定されたとき、その 測定波形上に設定された複数のマーカうちから、波形レベルを測定する対象とする マーカを指示する。
[0126] この場合、マーカ指定部 2は、測定者によってマーカ指定の操作がなされる操作部 64から制御部 3を介して前記表示部 60の画面上に表示される測定波形上に任意に 設定されている複数のマーカのうちから波形レベルを測定する対象とするマーカを指 定することが可能となされていると共に、後述するように複数のマーカに対して付され ているマーカ番号 iに基づいて制御部 3により自動的に波形レベルを測定する対象と するマーカを指定することが可能となされて 、る。
[0127] 図 6は、マーカが設定された測定波形を表示する測定画面を説明するために例示 する図である。
[0128] この例では、測定波形上に表示されている 6個のマーカに対し、測定画面上の一 番左側に設定されたマーカ (測定地点力ゝらの距離が最も近端に位置するマーカ)お = 1として、マーカ番号 i (i= l〜6)が付されている。
[0129] アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6には、前記表示部 60の画面上における 測定波形上に設定される複数のマーカの設定位置に対応して予め設定されるもので 、前記等価的なアツテネータ (ATT) 11を構成する前記増幅部 57の利得 (a)と前記 平均加算処理部 58の加算回数 (m)の組合わせ力もなるリアルタイム測定のための 複数のアツテネータ (ATT)値設定条件、及び、該複数のアツテネータ (ATT)値設 定条件毎に予め設定される有効測定レベル範囲 Δ Liが記憶されている。
[0130] 具体的には、図 7に例示するように、アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6には 、マーカ番号 i毎に、マーカ番号 i(i= l〜6)に対応したアツテネータ（ATT)値として 設定されるアツテネータ (ATT) 11を構成して 、る増幅部 57の利得 aと平均加算処理 部 58の平均加算回数 mの組合せ、及び、アツテネータ (ATT)値として設定される利 得 aと平均加算回数 mの組合せ毎に予め設定されるマーカ番号 i (i= 1〜6)毎の有 効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)が記憶されて!、る。
[0131] この場合、マーカ番号 i= lのマーカには、増幅部 57の利得 aとして 200が設定され 、平均加算処理部 58の平均加算回数 mとして 28が設定され、有効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)として 25〜一 45が設定されて!、る。
[0132] また、マーカ番号 i= 2のマーカには、増幅部 57の利得 aとして 100が設定され、平 均加算処理部 58の平均加算回数 mとして 28が設定され、有効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)として 10〜一 30が設定されて!、る。
[0133] また、マーカ番号 i= 3のマーカには、増幅部 57の利得 aとして 300が設定され、平 均加算処理部 58の平均加算回数 mとして 28が設定され、有効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)として 40〜 - 60が設定されて!、る。
[0134] また、マーカ番号 i=4のマーカには、増幅部 57の利得 aとして 400が設定され、平 均加算処理部 58の平均加算回数 mとして 28が設定され、有効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)として一 55〜一 75が設定されて!、る。
[0135] また、マーカ番号 i= 5のマーカには、増幅部 57の利得 aとして 300が設定され、平 均加算処理部 58の平均加算回数 mとして 28が設定され、有効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)として 40〜 - 60が設定されて!、る。 [0136] また、マーカ番号 i= 6のマーカには、増幅部 57の利得 aとして 500が設定され、平 均加算処理部 58の平均加算回数 mとして 21(>が設定され、有効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)として 70 90が設定されて!、る。
[0137] すなわち、このような図 7に示されているマーカ番号 i (i= l 6)毎のアツテネータ（ ATT)値として設定される利得 aと平均加算回数 mの組合せ毎に予め設定されるマ 一力番号 i (i= 1 6)毎の有効測定レベル範囲 Δ Li (dBm)として設定される数値は 、図 6に示されているように、マーカ 1 6の設定位置が測定地点力もの距離として順 次に遠ざ力つていると共に、それらの波形レベルも順次に低下していることに対応し て設定される数値となって 、る。
[0138] 但し、この場合、マーカ番号 i= 2のマーカ及びマーカ番号 i= 5のマーカは、それぞ れ隣接するマーカに比して高レベルの測定波形となっているので、その点を考慮し た数値として設定されて 、る。
[0139] なお、これらの各マーカに対して設定する数値は、図 6の縦軸のレベル値及び横軸 の測定地点力もの距離値毎に予め区分けして割り当てておくことができる。
[0140] 図 1に戻って、アツテネータ (ATT)値設定部 10は、マーカ指定部 2で指示されたマ 一力番号 iに対応して、アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶された利得 a と平均加算回数 mの組合せの情報に基づいて、アツテネータ (ATT) 11を構成する 増幅部 57の利得 aと平均加算処理部 58の平均加算回数 mを設定する。
[0141] マーカレベル取得部 5は、マーカ指定部 2の指示を受けて、マーカ番号 iに対応し たアツテネータ (ATT)値の設定条件で測定されて波形メモリ 62に記憶されて 、る波 形データから、マーカ指定部 2で選択されたマーカ番号 iの波形レベルを取得する。
[0142] レベル比較部 8は、マーカレベル取得部 5によって取得されたマーカ番号 iの波形 レベル力 マーカ番号 iに対応して現在アツテネータ (ATT) 11に設定されているアツ テネータ (ATT)値に対応する有効測定レベル範囲 Δ Li内に含まれて るか否かを レベル比較によって判定する。
[0143] アツテネータ (ATT)値変更判定部 9は、レベル比較部 8によるレベル比較による判 定結果に基づき、現在アツテネータ (ATT) 11に設定されているアツテネータ (ATT) 値の設定条件の変更が必要力否かを判定して 、る。 [0144] この場合、アツテネータ (ATT)値変更判定部 9は、前記レベル比較部 8により、前 記取得された波形レベルが前記有効測定レベル範囲 Δ Li内にな ヽと判定されたとき に、現在アツテネータ (ATT) 11に設定されて!、るアツテネータ (ATT)値の設定条 件の変更が必要であると判定する。
[0145] そして、アツテネータ (ATT)値設定条件変更部 7は、アツテネータ (ATT)値変更 判定部 9により現在アツテネータ (ATT) 11に設定されて!、るアツテネータ (ATT)値 の設定条件の変更が必要であると判定されたとき、それまでのアツテネータ (ATT) 値設定条件をマーカレベル取得部 5が取得した波形レベルが前記有効測定レベル 範囲 Δ Li内に含まれる新たなアツテネータ (ATT)値設定条件に変更する。
[0146] このアツテネータ (ATT)値設定条件変更部 7によって変更された新たなアツテネー タ (ATT)値設定条件は、アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6に更新記憶され ると共に、アツテネータ (ATT)値設定部 10により測定対象であるマーカ iに対応する アツテネータ (ATT) 11のアツテネータ (ATT)値設定条件が変更される。
[0147] なお、アツテネータ (ATT)値設定条件変更部 7は、前述した特許文献 1のように測 定波形から SZNを算出して有効測定レベル範囲を求めるようにしても良い。
[0148] あるいは、アツテネータ (ATT)値毎に波形が飽和するレベルを計算し、そのレベル 力も 1っ低 、レベルの波形を測定できるアツテネータ (ATT)値での波形が飽和する レベルまでを有効測定レベル範囲とするようにしても良 、。
[0149] あるいは、予め実験等で求めたアツテネータ (ATT)値設定条件 (a, m)と有効測定 レベル範囲をアツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6等のメモリに記憶しておき、そ の中からアツテネータ (ATT)値設定条件を選択するようにしても良!、。
[0150] また、上記 、ずれの場合でも、アツテネータ (ATT)値毎の有効測定レベル範囲の 境界で一部重複するように設定することにより、有効測定レベル範囲の境界付近で アツテネータ (ATT)値設定条件 (a, m)の変更が頻繁に起こらな 、ようにしても良!ヽ
[0151] 測定頻度記憶部 14は、マーカ番号 i毎に、対応するアツテネータ (ATT)値設定条 件で連続して測定する回数を示す測定頻度 (Nimax)を記憶して 、る。
[0152] 図 8は、測定頻度記憶部 14の記憶内容の一例を説明するために示す図である。 [0153] 図 8において、マーカ番号 iは、図 6に示される測定波形上のマーカと同じマーカ番 号を示している。
[0154] 次に、この図 8の測定頻度による測定動作を説明する。
[0155] 本発明が適用される光パルス試験器 (OTDR) 1は、制御部 3の制御の下に、マー 力番号 1のアツテネータ (ATT)値設定条件で 2回連続して測定と画面表示を行なつ た後、マーカ番号 2のアツテネータ (ATT)値設定条件で 5回連続して測定と画面表 示を行い、次に、マーカ番号 3のアツテネータ (ATT)値設定条件で 1回のみ測定と 画面表示を行い、以後、同様にマーカ番号 4、 5、 6について、順次、測定と画面表示 を行う。
[0156] そして、本発明が適用される光パルス試験器 (OTDR) 1は、制御部 3の制御の下 に、マーカ番号 1〜6の測定を 1サイクルとして前述したような測定を繰り返す。
[0157] レベル変動検出部 12は、マーカレベル取得部 5によって取得されたマーカの波形 レベルの変動の有無を、例えば、前回の測定時に取得されたマーカの波形レベルと の比較により検出する。
[0158] 測定頻度設定部 13は、レベル変動検出部 12によるマーカの波形レベルの変動の 有無に応じて、測定頻度記憶部 14に記憶されている測定頻度を最適な回数に増減 して変更する。
[0159] この場合、測定頻度設定部 13は、例えば、レベル変動検出部 12によるマーカの波 形レベルの変動量が大きいときには、測定頻度記憶部 14に記憶されている測定頻 度を増やし、変動量が小さいときは測定頻度記憶部 14に記憶されている測定頻度を 少なくするようになされて 、る。
[0160] また、測定波形上に表示されたマーカであっても、操作部 64及び制御部 3を介して 指示される測定者の指示等により測定が不要とされたマーカ番号 iに対応して測定頻 度記憶部 14に記憶されている測定頻度を 0回とすることにより、必要なマーカ（例え ば、後述するフレネル反射をリアルタイム測定するときのように、 2点間のレベル差を 測定する場合のその 2点を示すマーカ）の波形レベルをリアルタイムで測定すること ができる。
[0161] 次に、上記構成による光パルス試験器 (OTDR) 1による具体的な測定例として表 示部 60の画面上に設定されている一つのマーカが移動された場合の波形観測につ いて図 5A, Bを参照しながら説明する。
[0162] 図 5Aは、表示部 60の画面上に表示されているにおけるフレネル反射の頂点の位 置に一つのマーカがマーカ設定部 63によって設定されている状態を示している。
[0163] そして、この状態から、図 5Bに示すように、当該マーカがマーカ設定部 63によって フレネル反射の頂点の位置力 フレネル反射の直前の裾部分の位置に移動された 場合を想定する。
[0164] この場合、上述したように、本発明が適用される光パルス試験器 (OTDR) 1では、 移動されたマーカの位置に対応する最適のアツテネータ (ATT)値設定条件でリア ルタイム測定が行われる。
[0165] この結果、図 5Bに示すように、当該移動されたマーカの位置に対応する部分の SN 比が所定値以上となるように改善された測定波形が表示される。
[0166] 従って、本発明が適用される光パルス試験器 (OTDR) 1では、マーカ設定部 63に よって、前記測定波形上の第 1の位置に設定されているマーカが前記測定波形上で
SN比の悪い第 2の位置に移動されたとき、前記第 2の位置におけるマーカに対応す るアツテネータ (ATT)値設定条件を最適値に設定して測定を行うことにより、前記表 示部 60の画面上に表示される前記波形データに基づいて前記第 2の位置の波形観 測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことが可能となる。
[0167] 次に、本発明に係る光パルス試験器 (OTDR) 1でフレネル反射をリアルタイム測定 するときの波形合成例を図 5C, D, Eを参照して説明する。
[0168] 図 5Cは、マーカ番号 1のアツテネータ (ATT)値設定条件でリアルタイム測定した 測定波形を示している。
[0169] 図 5Dは、マーカ番号 2のアツテネータ (ATT)値設定条件でリアルタイム測定した 測定波形を示している。
[0170] 図 5Eは、図 5Cと図 5Dのそれぞれの有効測定範囲にある波形データを波形合成 部 4で合成して表示部 60の画面上に表示した測定波形を示している。
[0171] 図 5Cに示される測定波形では、フレネル反射の頂点のレベル (マーカ 1)が飽和し て 、ることにより、正しく測定することができな 、。 [0172] また、図 5Dに示される測定波形では、フレネル反射の直前の裾部分のレベル (マ 一力 2)がノイズに埋もれていることにより、正しく測定することができない。
[0173] これに対し、図 5Eに示される合成された測定波形では、フレネル反射 (マーカ 1とマ 一力 2のレベル差）を正確に測定することができる。
[0174] なお、図 5C、図 5D、図 5Eにおいて、 Δ ΙΛ、 A L2は、波形合成の理解を助けるた め便宜上、それぞれ有効測定範囲のレンジを示したもので、実際の光パルス試験器 (OTDR) 1の表示部 60の画面上には表示されない。
[0175] また、このような波形合成は、全測定範囲を対象とするアベレージ測定と異なり、必 要最小限の測定範囲（ Δ L1と Δ L2)のみを対象としてアツテネータ (ΑΤΤ)値を設定 してそれぞれリアルタイム測定した波形を合成するので、ほぼリアルタイムに近 、測 定でレベル差の大きな波形の評価を行うことができる。
[0176] 従って、本発明が適用される光パルス試験器 (OTDR) 1では、マーカ設定部 63に よって前記測定波形上に設定される複数のマーカが、前記測定波形におけるフレネ ル反射の直前の位置に設定される第 1のマーカと、前記測定波形におけるフレネル 反射の頂点の位置に設定される第 2のマーカとを含むとき、前記第 1のマーカ及び第 2のマーカに対応する各アツテネータ (ΑΤΤ)値設定条件を順次設定して測定を繰 返すことにより、前記表示部 60の画面上に表示される前記合成された各波形データ に基づ!/ヽて前記フレネル反射の直前の波形レベルと、前記フレネル反射の頂点のレ ベルとを所定値以上の SN比の良い状態で同時に観測することが可能となる。
[0177] 次に、上記構成による光パルス試験器 (OTDR) 1の動作について図 2乃至図 4A, B, Cを参照しながら説明する。
[0178] 上記構成による光パルス試験器 (OTDR) 1では、操作部 64を介して測定者による リアルタイム測定開始が指示されると、制御部 3の制御の下に、図 2に示すようにリア ルタイム測定がスタートされる。
[0179] 但し、説明の都合上、リアルタイム測定のスタートに先立ってマーカ設定部 63によ つて測定波形上に複数のマーカ（マーカ番号 i= 1〜6が付されている 6個のマーカ） が予め設定されているか、または前回のリアルタイム測定の際に設定された複数のマ 一力 (マーカ番号 i= 1〜6が付されて!、る 6個のマーカ）が設定されて!、るものとする [0180] また、これにより、アツテネータ (ATT)値設定条件記憶部 6には、マーカ設定部 63 によって測定波形上に設定される複数のマーカ（マーカ番号 i= 1〜6が付されて 、る 6個のマーカ）のそれぞれに対応して、等価的なアツテネータ (ATT) 11を構成する 増幅部 57の利得 aと平均加算処理部 58の加算回数 mの組合わせ力もなるリアルタイ ム測定のための複数のアツテネータ (ATT)値設定条件、及び、該複数のアツテネー タ (ATT)値設定条件毎に対応して予め設定される有効測定レベル範囲 Δ Liが記憶 されているものとする。
[0181] まず、制御部 3は、マーカ指定部 2を介してマーカ番号 iを 1に初期化する (ステップ ST1)。
[0182] 次に、制御部 3は、後述するようにマーカ番号 iの変更が自動的になされる力 また は操作部 64を介してマーカ指定部 2によるマーカ番号 iの変更 (またはマーカ設定部 63によるマーカの移動操作）がなされると (ステップ ST2)、図 3のマーカ番号 iのマー 力位置に測定レベルを合わせた測定処理 (マーカ位置測定処理）のサブルーチンに 移行する (ステップ ST3)。
[0183] 図 3に示すマーカ位置測定処理のサブルーチンでは、制御部 3は、アツテネータ（ ATT)値設定部 10により、ステップ ST2のマーカ番号 iの変更に対応してアツテネー タ (ATT)値設定条件記憶部 6に記憶されて ヽるマーカ番号 iに対応するリアルタイム 測定のためのアツテネータ (ATT)値設定値 (増幅部利得 a、平均加算回数 m)をアツ テネータ (ATT) 11に設定させる（ステップ ST11)。
[0184] そして、制御部 3は、光パルス試験器 (OTDR) 1によるリアルタイム測定を実施させ ることにより、波形データを取得させると共に、この取得したマーカ番号 iにおける波形 データを波形メモリ 62に記憶させる (ステップ ST12)。
[0185] 次に、制御部 3は、波形メモリ 62に記憶されているマーカ番号 iのマーカ位置の波 形レベルをマーカレベル取得部 5により取得させる（ステップ ST13)。
[0186] そして、制御部 3は、取得した波形レベルと、アツテネータ (ATT)値設定条件記憶 部 6に記憶されたマーカ番号 iの有効測定レベル範囲 Δ Liとをレベル比較部 8により 比較させる（ステップ ST14)。 [0187] そして、制御部 3は、取得したマーカ番号 iのマーカ位置の波形レベルが有効測定 レベル範囲内のレベルであるとレベル比較部 8により判断されたとき（ステップ ST14 OK)、このサブルーチンを終了させて、図 2のマーカ番号 iの変更有無判別処理（ ステップ ST4)に移行させる。
[0188] なお、マーカ番号 iの変更有無判別処理 (ステップ ST4)は、マーカ番号 iの変更有 無判定処理としてサブルーチン化されている力 これについては図 4A, B, Cを参照 して後述するものとする。
[0189] これに対し、制御部 3は、レベル比較部 8によりマーカ番号 iのマーカ位置の波形レ ベルが、マーカ番号 iの有効測定レベル範囲内に含まれないと判断されたとき (ステツ プ ST14—NG)、アツテネータ (ATT)値設定条件変更部 7により、その波形レベル が有効測定レベル範囲内に含まれることになる新たなアツテネータ (ATT)値設定条 件 (増幅部利得 a、平均加算回数 m)に変更させると共に、この新たなアツテネータ (A TT)値設定条件 (増幅部利得 a、平均加算回数 m)をアツテネータ (ATT)値設定条 件記憶部 6に更新記憶させ (ステップ ST16)た後、このサブルーチンを終了させて、 図 2のマーカ番号 iの変更有無判別処理 (ステップ ST4)に移行させる。
[0190] そして、制御部 3は、図 2のマーカ番号 iの変更有無判別処理 (ステップ ST4)にお いて、マーカ番号 iの変更の必要なしと判断すると (ステップ ST4— No)、波形メモリ 6 2に記憶されているマーカ番号 i毎の測定波形を読み出して、波形合成部 4に対し読 み出された複数の測定波形の合成処理をさせる (ステップ ST5)。
[0191] そして、制御部 3は、この合成処理された測定波形を表示部 60の画面上に表示さ せ (ステップ ST6)た後、上記マーカ番号 iのマーカ位置に測定レベルを合わせた測 定処理（マーカ位置測定処理）（ステップ ST3)のサブルーチンに移行して、上述した ような処理を繰り返す。
[0192] また、制御部 3は、ステップ ST4において、マーカ番号 iの変更が必要であると判断 すると（ステップ ST4— Yes)、マーカ番号 iを i =i+ lにインクリメントし (ステップ ST7) 、そのインクリメントされたマーカ番号 iが測定波形上に設定されているマーカの個数（ この例では 6個）を超えて 、るか否かを判別する (ステップ ST8)。
[0193] そして、制御部 3は、ステップ ST8において、インクリメントされたマーカ番号 iがマー 力の設定個数を超えていると判断すると (ステップ ST8— Yes)、マーカ番号 iを i= l に書き替え (ステップ ST9)た後、波形メモリ 62に記憶されているマーカ番号 i毎の測 定波形を読み出して、波形合成部 4に対し読み出された複数の測定波形の合成処 理をさせる（ステップ ST5)。
[0194] そして、制御部 3は、この合成処理された測定波形を表示部 60の画面上に表示さ せ (ステップ ST6)た後、上記マーカ番号 iのマーカ位置に測定レベルを合わせた測 定処理（マーカ位置測定処理）（ステップ ST3)のサブルーチンに移行して、上述した ような処理を繰り返す。
[0195] なお、制御部 3は、ステップ ST8において、インクリメントされたマーカ番号 iがマー 力の設定個数を超えていないと判断すると (ステップ ST8— No)、波形メモリ 62に記 憶されているマーカ番号 i毎の測定波形を読み出して、波形合成部 4に対し読み出さ れた複数の測定波形の合成処理をさせる (ステップ ST5)。
[0196] そして、制御部 3は、この合成処理された測定波形を表示部 60の画面上に表示さ せ (ステップ ST6)た後、上記マーカ番号 iのマーカ位置に測定レベルを合わせた測 定処理（マーカ位置測定処理）（ステップ ST3)のサブルーチンに移行して、上述した ような処理を繰り返す。
[0197] ここで、上述したステップ ST4におけるマーカ番号 iの変更有無判別処理は、以下 の 3つの場合に分別される。
[0198] (1)マーカ番号 i (i= l, 2, 3, …；)の順に測定波形を交互に測定する場合。
[0199] (2)いずれのマーカの波形レベルにも、アツテネータ（ATT)値設定条件の変更が必 要な程度のレベル変動がな 、場合に、マーカ番号 iを順に変更して測定波形を交互 に測定し、いずれかのマーカ番号 iの波形レベルに、アツテネータ (ATT)値設定条 件の変更が必要な大きさのレベル変動がある場合にぉ 、て、そのマーカ番号 iにつ いて連続して測定する場合。
[0200] (3) V、ずれのマーカ番号 iの波形レベルにも、アツテネータ (ATT)値設定条件のアツ テネータの設定変更が必要な程度のレベル変動がな 、場合に、予め指定された特 定のマーカ番号 iの測定頻度を上げて測定し (その特定のマーカ番号 i以外のマーカ 番号については、特定マーカ番号 iの測定回数に対して 1回の割合で測定を行う）、 ヽずれかのマーカ番号 iの波形レベルにアツテネータ (ATT)値設定条件の変更が 必要となる大きさのレベル変動がある場合にぉ 、て、そのマーカ番号 iにつ 、て連続 して測定する場合。
[0201] そこで、本発明が適用される光パルス試験器 (OTDR) 1では、上記（1)〜（3)の場 合について、選択的な対応を可能とするために、図 4A, B, Cに示すマーカ番号 iの 変更有無判別処理を選択的に実行可能とするようにして 、る。
[0202] 図 4Aは、上記（1)の場合についてのマーカ番号 iの変更有無判別処理を示すフロ 一チャートである。
[0203] すなわち、図 4Aは、マーカ番号 i (i= l, 2, 3, ···)の順にマーカ番号 iを自動的に 変更して測定波形を交互に測定する場合であるので、このマーカ番号 iの変更有無 処理 (ステップ ST4)では、制御部 3は、直ちにマーカ番号 iの変更が必要 (ステップ S T41)として、処理を終了する。
[0204] 図 4Bは、上記（2)の場合にっ 、てのマーカ番号 iの変更有無判別処理を示すフロ 一チャートである。
[0205] すなわち、図 4Bは、いずれのマーカの波形レベルにも、アツテネータ（ATT)値設 定条件の変更が必要な程度のレベル変動がな 、場合に、マーカ番号 iを順に変更し て測定波形を交互に測定し、いずれかのマーカ番号 iの波形レベルに、アツテネータ (ATT)値設定条件の変更が必要な大きさのレベル変動がある場合にぉ 、て、その マーカ番号 iにつ 、て連続して測定する場合であるので、このマーカ番号 iの変更有 無処理 (ステップ ST4)では、制御部 3は、まず、上述したようにして波形メモリ 62から マーカレベル取得部 5を介して取得されたマーカ番号 iの波形レベルに変動が有るか 否かをレベル変動検出部 12により判別させる (ステップ ST21)。
[0206] そして、制御部 3は、レベル変動検出部 12によりレベル変動有りと判断されると (ス テツプ ST21— Yes)、測定頻度設定部 13を介して測定頻度記憶部 14に記憶されて いる測定頻度 (測定回数) niを ni = 1に書き換え (ステップ ST22)た後、マーカ番号 i の変更は不要と判断し (ステップ ST23)、マーカ番号 iの変更有無判別処理を終了 する。
[0207] これに対し、制御部 3は、レベル変動検出部 12によりマーカ番号 iの波形レベルに 変動がないと判断されると (ステップ ST21—No)、マーカ番号 iの変更が必要と判断 し (ステップ ST24)、マーカ番号 iの変更有無判別処理を終了する。
[0208] 図 4Cは、上記（3)の場合につ 、てのマーカ番号 iの変更有無判別処理を示すフロ 一チャートである。
[0209] すなわち、図 4Cは、いずれのマーカ番号 iの波形レベルにも、アツテネータ（ATT) 値設定条件のアツテネータの設定変更が必要な程度のレベル変動がない場合に、 予め指定された特定のマーカ番号 iの測定頻度を上げて測定し (その特定のマーカ 番号 i以外のマーカ番号については、特定マーカ番号 iの測定回数に対して 1回の割 合で測定を行う）、 V、ずれかのマーカ番号 iの波形レベルにアツテネータ (ATT)値設 定条件の変更が必要となる大きさのレベル変動がある場合にぉ 、て、そのマーカ番 号 iにつ 、て連続して測定する場合であるので、このマーカ番号 iの変更有無処理 (ス テツプ ST4)では、制御部 3は、まず、上述したようにして波形メモリ 62からマーカレべ ル取得部 5を介して取得されたマーカ番号 iの波形レベルに変動が有るか否かをレべ ル変動検出部 12により判別させる (ステップ ST31)。
[0210] そして、制御部 3は、レベル変動検出部 12によりレベル変動有りと判断されると (ス テツプ ST31— Yes)、測定頻度設定部 13を介して測定頻度記憶部 14に記憶されて いる測定頻度 (測定回数) niを ni = 1に書き換え (ステップ ST32)た後、マーカ番号 i の変更は不要と判断し (ステップ ST33)、マーカ番号 iの変更有無判別処理を終了 する。
[0211] これに対し、制御部 3は、レベル変動検出部 12によりマーカ番号 iの波形レベルに 変動がな 、と判断されると (ステップ ST31— No)、測定頻度設定部 13を介して測定 頻度記憶部 14に記憶されている測定頻度 (測定回数) niを ni =ni + 1に書き換え（ ステップ ST35)、その測定回数が測定頻度 Nimaxを超えている力否かを判断する（ ステップ ST36)。
[0212] そして、制御部 3は、測定回数 niが測定頻度 Nimaxを超えて 、な 、と判断した場 合には (ステップ ST36— No)、マーカ番号 iの変更は不要と判断し (ステップ ST32) 、マーカ番号 iの変更有無判別処理を終了する。
[0213] これに対し、制御部 3は、測定回数 niが測定頻度 Nimaxを超えて 、ると判断した 場合には (ステップ ST36— Yes)、測定頻度設定部 13を介して測定頻度記憶部 14 に記憶されている測定頻度 (測定回数) niを ni = 1に書き換え (ステップ ST37)た後
、マーカ番号 iの変更が必要であると判断して (ステップ ST34)、マーカ番号 iの変更 有無判別処理を終了する。
[0214] ここで、測定頻度 Nimaxは、図 8に例示するように、マーカ番号 i毎に設定されて測 定頻度記憶部 14に記憶されて ヽる。
[0215] そして、この測定頻度 Nimaxは、測定者が操作部 64の対応する操作部材を操作 することによって、制御部 3を介して測定頻度記憶部 14に任意の値としてに設定する ことができる。
[0216] そして、この測定頻度 Nimaxについては、制御部 3により、レベル変動があったマ 一力番号 iについて、重点的に監視するため、そのマーカ番号 iの測定頻度 Nimaxを 一時的に上げるように自動的に設定することもできる。
[0217] 図 8の例では、フレネル反射のレベル変動を重点的に測定するために、フレネル反 射の頂点と近傍のマーカ番号 i (i= l, 2, 4, 5)の測定頻度 Nimaxを、他のマーカ番 号よりも大きく設定している。
[0218] そして、制御部 3は、上記マーカ番号 iの変更有無判別処理によってマーカ番号 iの 変更が不要であると判断したときには、図 2のステップ ST5の処理に移行する。
[0219] これに対し、制御部 3は、マーカ番号 iの変更が必要であると判断したときには、図 2 のステップ ST7 (マーカ番号 iを i=i+ 1に書き替え）の処理に移行する。
[0220] 以上のように、本発明の一実施形態によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ 及び光パルスを用いる光ファイバの試験方法が適用される光パルス試験器 (OTDR ) 1は、リアルタイム測定時において、マーカ番号 iによって測定位置が指定されたとき に、そのマーカ番号 iの波形レベルが現在選択されて ヽるアツテネータ (ATT)値設 定条件の有効測定レベル範囲内にあるか否かを判別し、有効測定レベル範囲内に ないと判断したときには有効測定レベル範囲内に収まる最適なアツテネータ (ATT) 値設定条件を自動的に設定し、所定値以上の SN比が良 、状態で波形観測が可能 となるようにしている。
[0221] また、以上のような本発明の光ノ ルス試験器 (OTDR)は、リアルタイム測定時にお いて、波形上に設定された複数のマーカに対して、各マーカの位置する波形レベル に応じてそれぞれ最適なアツテネータ (ATT)値を、測定毎に、自動的に設定し、そ れぞれの測定波形を合成処理して表示するようにして 、る。
[0222] さらには、以上のような本発明の光パルス試験器（OTDR) 1は、複数のマーカにつ いて、各々のマーカの波形レベルの変動量に応じて自動的に、あるいは、測定者に よる設定に基づいて、各々のマーカの測定頻度を独立して可変できるようにすること により、マーカ間の測定頻度に差を持たせるようにしている。
[0223] これにより、以上のような本発明の光ノルス試験器 (OTDR) 1は、リアルタイム測定 時においても、複数のマーカ（少なくとも 2つのマーカ）を設定すれば、各マーカのそ れぞれに連動して最適なアツテネータを自動的に選択設定して測定レベルを変更す るので、広範囲にわたって所定値以上の SN比の良 、状態で測定波形を観測するこ とがでさる。
[0224] そして、以上のような本発明の光パルス試験器（OTDR) 1は、特にフレネル反射の 直前の波形レベルと、フレネル反射の頂点のレベルとが所定値以上の SN比の良い 状態で同時に観測することが可能となり、反射減衰量の変化をほぼリアルタイムで観 察することができる。
[0225] その結果、測定対象のレベル差の大きい反射減衰量の測定をリアルタイムで容易 に行なうことができる。
[0226] しかも、以上のような本発明の光パルス試験器 (OTDR) 1は、測定波形のレベルに 合わせて手動でアツテネータ (利得や平均加算回数)を適宜調節する必要も無ぐュ 一ザが表示画面上のマーカを目的位置に移動するだけで所望の位置の波形を所定 値以上の SN比の良い状態で観測することができる。
[0227] さらに、以上のような本発明の光パルス試験器（OTDR) 1は、複数のマーカについ て、各々のマーカの波形レベルの変動量に応じて、各々のマーカの測定頻度を独立 して可変できるようにし、マーカ間の測定頻度に差を持たせることによって、フレネル 反射のようにレベル差の大きな反射減衰量の測定であっても、レベル変動が生じた マーカについて一時的に測定頻度を上げることで、測定波形の変化に迅速に対応し たリアルタイム測定を実現することができる。 [0228] なお、本発明は、上記し且つ図示した実施の形態に限定されることなぐ本発明の 要旨を逸脱しな 、範囲で種々の変形が適用が可能であることは 、うまでもな!/、、 例えば、上記し且つ図示した実施の形態による光パルス試験器 (OTDR) 1のように 、リアルタイム測定時において、複数のアツテネータ (ATT)値設定条件を時間的に 切り替えて複数回の測定を行うのでなぐ複数のアツテネータ (ATT)値設定条件が 各別に設定されている複数のアツテネータ (ATT)を設けて同時に 1回の測定を行う ことにより、上述したような測定レベル変更機能を有する光パルス試験器 (OTDR) 1 を実現することも可能である。
[0229] また、表示部の画面上に表示される測定波形上に設定するマーカは、図示のような 矢印状のマーカに限らず、測定波形を垂直方向に横切る直線状のマーカを含む任 意の形状のマーカを適宜採用することができる。
[0230] 従って、以上詳述したような本発明によれば、リアルタイム測定において、表示部に 表示させる測定位置指定手段であるマーカの波形レベルが予め設定される有効測 定レベル範囲内にあるか否かの判定結果に基づいて、アツテネータ (ATT)値を最 適値に設定して被測定光ファイバに対する測定を行うことにより、マーカを目的位置 に移動するだけで所望の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行う ことができるようにすると共に、被測定光ファイバ光ファイバの状態変化に伴うレベル 変動に自動的に追従して、測定波形のレベル差が大きい反射減衰量であっても容 易に測定を行うことができるようにしたォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光 パルスを用いる光ファイバの試験方法を提供することができる。
産業上の利用可能性
[0231] 本発明によるォプチカルタイムドメインリフレクトメータ及び光パルスを用いる光ファ ィバの試験方法は、リアルタイム測定において、表示部に表示させる測定位置指定 手段であるマーカの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範囲内にあるか 否かの判定結果に基づ 、て、アツテネータ (ATT)値を最適値に設定して被測定光 ファイバに対する測定を行うことにより、マーカを目的位置に移動するだけで所望の 位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことができるようにすると共 に、被測定光ファイバの状態変化に伴うレベル変動に自動的に追従して、測定波形 のレベル差が大き 、反射減衰量であっても容易に測定を行うことができるので、被測 定光ファイバの状況 ·変化を観察するための測定に適しており、特に、光ファイバの 敷設工事において、例えば、コネクタ接続ゃ融着による光ファイバの接続を行いなが ら、その光ファイバの接続状態の善し悪しをチェックする場合のように、即応性が必要 な用途に用いることができる。

Claims

請求の範囲
被測定光ファイバに入射させる光パルスを出射する光源と、
前記光源から出射される光パルスに応じて、前記被測定光ファイバから戻ってくる 後方散乱光を受光する受光部と、
前記受光部からの出力信号を所定の利得で増幅する増幅部と、該増幅部によって 増幅された出力信号を所定回数加算して平均化処理する平均加算処理部とから構 成される等価的なアツテネータと、
前記等価的なアツテネータカ の出力信号を対数変換する対数変換部と、 前記対数変換部力 の出力信号を波形データとして記憶する波形メモリと、 前記波形メモリに記憶された波形データを読み出して測定波形として画面上に表 示する表示部と、
前記表示部の画面上に表示される測定波形上に任意にマーカを設定すると共に、 当該マーカの設定位置を移動可能とするマーカ設定部と、
前記マーカ設定部によって前記表示部の画面上における測定波形上に設定され る前記マーカの設定位置毎に対応して予め設定されるもので、前記等価的なアツテ ネータを構成する前記増幅部の利得と前記平均加算処理部の加算回数の組合わせ 力 なるリアルタイム測定のための複数のアツテネータ値設定条件、及び、該複数の アツテネータ値設定条件毎に予め設定される有効測定レベル範囲を記憶するアツテ ネータ値設定条件記憶部と、
前記表示部の画面上に表示される測定波形上に前記マーカ設定部によって移動 可能に設定されるマーカの設定位置における波形レベルを前記波形メモリに記憶さ れた波形データから取得するマーカレベル取得部と、
前記マーカレベル取得部によって取得された前記マーカの設定位置における波形 レベルが前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されて!、る前記有効測定レべ ル範囲内にあるカゝ否かを判定するレベル比較部と、
前記レベル比較部により、前記マーカレベル取得部によって取得された前記マー 力の設定位置における波形レベルが前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶さ れている前記有効測定レベル範囲内にないと判定されたときに、前記アツテネータ値 設定条件の変更を決定するアツテネータ値変更判定部と、
前記アツテネータ値変更判定部からの変更決定を受けて、前記アツテネータ値設 定条件記憶部に記憶されている前記アツテネータ値設定条件を前記マーカレベル 取得部によって取得された前記マーカの設定位置における波形レベルが前記有効 測定レベル範囲内に含まれる新たなアツテネータ値設定条件に変更するアツテネー タ値設定条件変更部と、
前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されている変更しなかった前記アツテ ネータ値設定条件または変更した前記新たなアツテネータ値設定条件を前記等価 的なアツテネータに設定するアツテネータ値設定部と、
前記アツテネータ値設定部によって前記等価的なアツテネータに設定される前記ァ ッテネータ値設定条件に基づいて前記被測定光ファイバに対する測定を行わせるこ とにより、前記波形メモリに記憶された波形データを読み出して前記表示部の画面上 に逐次表示させることにより、前記表示部の画面上に表示される測定波形を逐次更 新するリアルタイム測定を可能とする制御部とを具備し、
前記マーカ設定部によって前記表示部の画面上に設定される測定位置指定手段 であるマーカの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範囲内にあるか否かの 判定結果に基づ 、て、前記等価的なアツテネータに設定するアツテネータ値を最適 値に設定して前記被測定光ファイバに対する測定を行うことにより、前記マーカ設定 部によって前記マーカを目的位置に移動するだけで前記表示部の画面上に表示さ れる測定波形に基づ 、て所望の位置の波形観測を所定値以上の信号対雑音比 (S N比）の良 、状態で行うことを可能とするォプチカルタイムドメインリフレクトメータ。 前記マーカ設定部によって、前記表示部の画面上における測定波形上の第 1の位 置に設定されたマーカが前記測定波形上で所定値以下の SN比の悪い第 2の位置 に移動されたとき、前記第 2の位置におけるマーカに対応するアツテネータ値設定条 件を最適値に設定して前記被測定光ファイバに対する測定を行うことにより、前記表 示部の画面上に表示される測定波形に基づいて前記第 2の位置の波形観測を所定 値以上の SN比の良 、状態で行うことを可能とする請求項 1に記載のォプチカルタイ ムドメインリフレクトメータ。 前記マーカ設定部によって前記表示部の画面上における測定波形上に複数のマ 一力が任意に設定されたとき、前記複数のマーカの中から測定対象とするマーカを 指定するマーカ指定部をさらに具備し、
前記アツテネータ値設定条件記憶部には、前記マーカ設定部によって前記表示部 の画面上における測定波形上に設定される複数のマーカの設定位置毎に対応して 予め設定されるもので、前記等価的なアツテネータを構成する前記増幅部の利得と 前記平均加算処理部の加算回数の組合わせ力 なるリアルタイム測定のための複数 のアツテネータ値設定条件、及び、該複数のアツテネータ値設定条件毎に予め設定 される有効測定レベル範囲が記憶されており、
前記マーカレベル取得部は、前記マーカ設定部によって前記表示部の画面上に おける測定波形上に設定される複数のマーカの中から前記マーカ指定部によって指 定された測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レベルを前記波形メモリ に記憶された波形データから取得し、
前記レベル比較部は、前記マーカレベル取得部によって取得される前記測定対象 とするマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ値設定条件記 憶部に記憶されている前記測定対象とするマーカの設定位置に対応する有効測定 レベル範囲内にあるか否かを判定し、
前記アツテネータ値変更判定部は、前記レベル比較部により、前記測定対象とする マーカの設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ値設定条件記憶部に 記憶されている前記測定対象とするマーカに対応する有効測定レベル範囲内にな いと判定されたときに、前記アツテネータ値設定条件の変更を決定し、
前記アツテネータ値設定条件変更部は、前記アツテネータ値変更判定部力 の変 更決定を受けて、前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されている前記アツテ ネータ値設定条件を前記マーカレベル取得部によって取得される前記測定対象とす るマーカの設定位置に対応する波形レベルが前記有効測定レベル範囲内に含まれ る新たなアツテネータ値設定条件に変更し、
前記アツテネータ値設定部は、前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネ ータ値設定条件記憶部に記憶されている変更しなかった前記アツテネータ値設定条 件または変更した前記新たなアツテネータ値設定条件を前記等価的なアツテネータ に設定し、
前記制御部は、前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ値設定部 によって前記等価的なアツテネータに設定される前記アツテネータ値設定条件に基 づいて前記被測定光ファイバに対する測定を行わせることにより、前記測定対象とす るマーカに対応して前記波形メモリに記憶された波形データを読み出して前記表示 部の画面上に逐次表示することにより、前記表示部の画面上に表示される測定波形 を逐次更新するリアルタイム測定を可能とし、
前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ値設定部によって前記等 価的なアツテネータに設定された前記アツテネータ値設定条件に基づいた測定によ つて得られる前記測定対象とするマーカに対応する各波形データを前記波形メモリ から読み出して合成し、合成された各波形データを前記表示部の画面上に表示させ る波形合成部をさらに具備し、
前記マーカ設定部によって前記表示部の画面上に設定される測定位置指定手段 である複数のマーカのそれぞれの各波形レベルが予め設定される有効測定レベル 範囲内にある力否かの判定結果に基づいて、前記等価的なアツテネータに設定する アツテネータ値を前記複数のマーカのそれぞれに対応して最適値に順次設定して前 記被測定光ファイバに対する測定を繰返すことにより、前記表示部の画面上に表示 される前記合成された各波形データの測定波形に基づいて広範囲にわたって所望 の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態で行うことを可能とすると共に、 前記被測定光ファイバの状態変化に伴うレベル変動に自動的に追従して、測定波形 のレベル差が大き 、反射減衰量であっても容易に測定を行うこと可能とする請求項 1 に記載のォプチカルタイムドメインリフレクトメータ。
前記マーカ設定部によって前記表示部の画面上における測定波形上に設定され る複数のマーカが、前記測定波形におけるフレネル反射の直前の位置に設定される 第 1のマーカと、前記測定波形におけるフレネル反射の頂点の位置に設定される第 2のマーカとを含むとき、前記第 1のマーカ及び前記第 2のマーカに対応する各アツ テネータ値設定条件を順次設定して前記被測定光ファイバに対する測定を繰返すこ とにより、前記表示部の画面上に表示される前記合成された各波形データの測定波
Figure imgf000055_0001
、て前記フレネル反射の直前の波形レベルと、前記フレネル反射の頂点の レベルとを所定値以上の SN比の良い状態で同時に観測を行うこと可能とする請求 項 1に記載のォプチカルタイムドメインリフレクトメータ。
[5] 前記複数のマーカ毎における連続繰り返し測定回数を示す測定頻度を記憶した測 定頻度記憶部をさらに具備し、
前記測定頻度記憶部に記憶されて！ヽる前記測定対象とするマーカに対応する前 記測定頻度に基づいて、前記測定対象とするマーカに対応する前記アツテネータ値 設定条件により当該マーカに対する測定を繰り返し行った後、前記測定頻度記憶部 に記憶されている次の測定対象とするマーカに対応する前記測定頻度に基づいて、 前記次の測定対象とするマーカに対応する前記アツテネータ値設定条件により前記 次のマーカに対する測定を繰り返し行う請求項 3に記載のォプチカルタイムドメインリ フレクトメータ。
[6] 前記マーカレベル取得部によって取得された前記測定対象とするマーカに対応す る波形レベルの変動を検出するレベル変動検出部と、
前記レベル変動検出部によって検出される前記測定対象とするマーカに対応する 波形レベルの変動の有無に応じて前記測定頻度記憶部に記憶されている該マーカ に対応した測定頻度を変更する測定頻度設定部とをさらに具備する請求項 5に記載 のォプチカルタイムドメインリフレクトメータ。
[7] 前記波形合成部は、前記繰返し測定によって得られる波形データのうち前記測定 対象とするマーカに対応する前記有効測定レベル範囲内に含まれる波形レベルの 波形データのみを選択して、前記各波形データの合成を行う請求項 5に記載のォプ チカルタイムドメインリフレクトメータ。
[8] 被測定光ファイバに光パルスを入射させるステップと、
前記被測定光ファイバから戻ってくる後方散乱光を受光して電気信号に変換する ステップと、
前記電気信号を増幅部によって所定の利得で増幅するステップと、
前記増幅部によって増幅された出力信号を前記増幅部と共に等価的なアツテネー タを構成する平均加算処理部によって所定回数加算して平均化処理するステップと 前記等価的なアツテネータカ の出力信号を対数変換部によって対数変換するス テツプと、
前記対数変換部力 の出力信号を波形データとして波形メモリに記憶するステップ と、
前記波形メモリに記憶された波形データを読み出して測定波形として表示部の画 面上に表示するステップと、
前記表示部の画面上に表示される測定波形上に任意にマーカを移動可能に設定 するステップと、
前記表示部の画面上における測定波形上に設定される前記マーカの設定位置毎 に対応して予め設定されるもので、前記等価的なアツテネータを構成する前記増幅 部の利得と前記平均加算処理部の加算回数の組合わせ力 なるリアルタイム測定の ための複数のアツテネータ値設定条件、及び、該複数のアツテネータ値設定条件毎 に予め設定される有効測定レベル範囲をアツテネータ値設定条件記憶部に記憶す るステップと、
前記表示部の画面上に表示される測定波形上に任意に設定されるマーカの設定 位置における波形レベルを前記波形メモリに記憶された波形データ力 取得するス テツプと、
前記波形メモリに記憶された波形データ力 取得される前記マーカの設定位置に おける波形レベルが前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されている前記有 効測定レベル範囲内にあるか否かを判定するステップと、
前記マーカの設定位置における波形レベルが前記アツテネータ値設定条件記憶 部に記憶されている前記有効測定レベル範囲内にないと判定されたときに、前記ァ ッテネータ値設定条件の変更を決定するステップと、
前記アツテネータ値設定条件の変更決定を受けて、前記アツテネータ値設定条件 記憶部に記憶されている前記アツテネータ値設定条件を前記マーカの設定位置に おける波形レベルが前記有効測定レベル範囲内に含まれる新たなアツテネータ値設 定条件に変更するステップと、
前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されている変更しなかった前記アツテ ネータ値設定条件または変更下前記新たなアツテネータ値設定条件を前記等価的 なアツテネータに設定するステップと、
前記等価的なアツテネータに設定される前記アツテネータ値設定条件に基づいて 前記被測定光ファイバに対する測定を行わせることにより、前記波形メモリに記憶さ れた波形データを前記表示部の画面上に逐次表示することにより、前記表示部の画 面上に表示される測定波形を逐次更新するリアルタイム測定を可能とするステップと を具備し、
前記表示部の画面上に設定される測定位置指定手段であるマーカの波形レベル が予め設定される有効測定レベル範囲内にある力否かの判定結果に基づいて、前 記等価的なアツテネータに設定するアツテネータ値を最適値に設定して前記被測定 光ファイバに対する測定を行うことにより、前記マーカを目的位置に移動するだけで 前記表示部の画面上に表示される測定波形に基づいて所望の位置の波形観測を 所定値以上の SN比の良い状態で行うことを可能とする光ノ ルスを用いる光ファイバ の試験方法。
[9] 前記表示部の画面上における測定波形上の第 1の位置に設定されたマーカが前 記測定波形上で所定値以下の SN比の悪い第 2の位置に移動されたとき、前記第 2 の位置におけるマーカに対応するアツテネータ値設定条件を最適値に設定して前記 被測定光ファイバに対する測定を行うことにより、前記表示部の画面上に表示される 測定波形に基づいて前記第 2の位置の波形観測を所定値以上の SN比の良い状態 で行うことを可能とする請求項 8に記載の光パルスを用いる光ファイバの試験方法。
[10] 前記測定波形上に複数のマーカが任意に設定されたとき、前記複数のマーカの中 力も測定対象とするマーカを指定するステップをさらに具備し、
前記アツテネータ値設定条件記憶部には、前記表示部の画面上における測定波 形上に設定される複数のマーカの設定位置毎に対応して予め設定されるもので、前 記等価的なアツテネータを構成する前記増幅部の利得と前記平均加算処理部の加 算回数の組合わせ力もなるリアルタイム測定のための複数のアツテネータ値設定条 件、及び、該複数のアツテネータ値設定条件毎に予め設定される有効測定レベル範 囲が記憶されており、
前記マーカの設定位置における波形レベルを取得するステップは、前記表示部の 画面上における測定波形上に設定される複数のマーカの中から前記測定対象とす るマーカの設定位置に対応する波形レベルを前記波形メモリに記憶された波形デー タカゝら取得し、
前記マーカの波形レベルを判定するステップは、前記測定対象とするマーカの設 定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されて V、る前記測定対象とするマーカに対応する有効測定レベル範囲内にある力否かを 判定し、
前記アツテネータ値設定条件の変更を決定するステップは、前記測定対象とするマ 一力の設定位置に対応する波形レベルが前記アツテネータ値設定条件記憶部に記 憶されて 、る前記測定対象とするマーカに対応する有効測定レベル範囲内にな 、と 判定されたときに、前記アツテネータ値設定条件の変更を決定し、
前記アツテネータ値設定条件を変更するステップは、前記アツテネータ値設定条件 の変更決定を受けて、前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されている前記ァ ッテネータ値設定条件を前記測定対象とするマーカの設定位置に対応する波形レ ベルが前記有効測定レベル範囲内に含まれる新たなアツテネータ値設定条件に変 更し、
前記等価的なアツテネータに設定するステップは、前記測定対象とするマーカに対 応して前記アツテネータ値設定条件記憶部に記憶されている変更しなかった前記ァ ッテネータ値設定条件または変更した前記新たなアツテネータ値設定条件を設定し 前記リアルタイム測定を可能とするステップは、前記測定対象とするマーカに対応 して前記等価的なアツテネータに設定される前記アツテネータ値設定条件に基づい て前記被測定用光ファイバに対する測定を行わせることにより、前記測定対象とする マーカに対応して前記波形メモリに記憶された波形データを読み出して前記表示部 の画面上に逐次表示することにより、前記表示部の画面上に表示される測定波形を 逐次更新するリアルタイム測定を可能とし、
前記測定対象とするマーカに対応して前記アツテネータ値設定部によって前記等 価的なアツテネータに設定された前記アツテネータ値設定条件に基づいた測定によ つて得られる前記測定対象とするマーカに対応する各波形データを前記波形メモリ 力 読み出して合成し、合成された各波形データを前記表示部の画面上に表示させ るステップをさらに具備し、
前記表示部の画面上に表示させる測定位置指定手段である複数のマーカのそれ ぞれの波形レベルが予め設定される有効測定レベル範囲内にあるか否かの判定結
Figure imgf000059_0001
、て、前記等価的なアツテネータに設定するアツテネータ値を前記複数の マーカのそれぞれに対応して最適値に順次設定して前記被測定用光ファイバに対 する測定を繰返すことにより、前記表示部の画面上に表示される前記合成された各 波形データの測定波形に基づいて広範囲にわたって所望の位置の波形観測を所定 値以上の SN比の良い状態で行うことを可能とすると共に、前記被測定用光ファイバ の状態変化に伴うレベル変動に自動的に追従して、測定波形のレベル差が大きい 反射減衰量であっても容易に測定を行うこと可能とする請求項 8に記載の光パルスを 用いる光ファイバの試験方法。
[11] 前記表示部の画面上における測定波形上に設定される複数のマーカが、前記測 定波形におけるフレネル反射の直前の位置に設定される第 1のマーカと、前記測定 波形におけるフレネル反射の頂点の位置に設定される第 2のマーカとを含むとき、前 記第 1のマーカ及び第 2のマーカに対応する各アツテネータ値設定条件を順次設定 して前記被測定用光ファイバに対する測定を繰返すことにより、前記表示部の画面 上に表示される前記合成された各波形データの測定波形に基づいて前記フレネル 反射の直前の波形レベルと、前記フレネル反射の頂点のレベルとを所定値以上の S N比の良い状態で同時に観測を行うことを可能とする請求項 10に記載の光パルスを 用いる光ファイバの試験方法。
[12] 前記複数のマーカ毎における連続繰り返し測定回数を示す測定頻度を測定頻度 記憶部に記憶するステップをさらに具備し、
前記測定頻度記憶部に記憶されて！ヽる前記測定対象とするマーカに対応する前 記測定頻度に基づいて、前記測定対象とするマーカに対応する前記アツテネータ値 設定条件により当該マーカに対する測定を繰り返し行った後、前記測定頻度記憶部 に記憶されている次の測定対象とするマーカに対応する前記測定頻度に基づいて、 前記次の測定対象とするマーカに対応する前記アツテネータ値設定条件により前記 次のマーカに対する測定を繰り返し行う請求項 10に記載の光パルスを用いる光ファ ィバの試験方法。
[13] 前記測定対象とするマーカに対応する波形レベルの変動を検出するステップと、 前記測定対象とするマーカに対応する波形レベルの変動の有無に応じて前記測 定頻度記憶部に記憶されて!、る該マーカに対応した測定頻度を変更するステップと をさらに具備する請求項 12に記載の光パルスを用いる光ファイバの試験方法。
[14] 前記合成された各波形データを前記表示部の画面上に表示させるステップは、前 記繰返し測定によって得られる波形データのうち前記測定対象とするマーカに対応 する前記有効測定レベル範囲内に含まれる波形レベルの波形データのみを選択し て、各波形データの合成を行う請求項 12に記載の光パルスを用いる光ファイバの試 験方法。
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