JPH04158237A - 光パルス試験器 - Google Patents
光パルス試験器Info
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- JPH04158237A JPH04158237A JP28400090A JP28400090A JPH04158237A JP H04158237 A JPH04158237 A JP H04158237A JP 28400090 A JP28400090 A JP 28400090A JP 28400090 A JP28400090 A JP 28400090A JP H04158237 A JPH04158237 A JP H04158237A
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- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 16
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 15
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、出力のＳＮ比に応じて平均加算回数を増減
する光パルス試験器（以下、０ＴＤＲという。）につい
てのものである。
する光パルス試験器（以下、０ＴＤＲという。）につい
てのものである。
［従来の技術］
０ＴＤＲは、光方向性結合器を通して光パルスを光ファ
イバに送出し、戻ってくる光を検出することによって光
ファイバの障害点の検出、損失、接続損失などを測定す
るものである。
イバに送出し、戻ってくる光を検出することによって光
ファイバの障害点の検出、損失、接続損失などを測定す
るものである。
次に、０ＴＤＲの構成を第７図により説明する。
第７図の１はタイミング発生部、２は駆動回路、３はレ
ーザなどの光源、４は光方向性結合器、５は受光器、６
は増幅部、７は加算平均処理部、８は対数変換部、９は
表示部、１０は測定される光ファイバである。
ーザなどの光源、４は光方向性結合器、５は受光器、６
は増幅部、７は加算平均処理部、８は対数変換部、９は
表示部、１０は測定される光ファイバである。
第７図では、タイミング発生部１からの電気パルスによ
り、駆動回路２でパルス電流を作り、光源３を発光させ
る。光源３から出た光パルスは、光方向性結合器４を通
過し、光ファイバ１０に入射される。光ファイバ１０か
らの後方散乱光や反射光などの戻り光は光方向性結合器
４から受光器５へ送られる。受光器５では光を電気信号
に変換し、受光器５の出力は増幅部６で増幅され、平均
加算処理部７でディジタル信号に変換され、加算平均さ
れる。平均加算処理部７の出力は対数変換部８で対数変
換され、表示部９に表示される。
り、駆動回路２でパルス電流を作り、光源３を発光させ
る。光源３から出た光パルスは、光方向性結合器４を通
過し、光ファイバ１０に入射される。光ファイバ１０か
らの後方散乱光や反射光などの戻り光は光方向性結合器
４から受光器５へ送られる。受光器５では光を電気信号
に変換し、受光器５の出力は増幅部６で増幅され、平均
加算処理部７でディジタル信号に変換され、加算平均さ
れる。平均加算処理部７の出力は対数変換部８で対数変
換され、表示部９に表示される。
第７図の光ファイバ１０から戻ってくる後方散乱光は光
フアイバ１０内で生じるレーリ散乱に起因するものであ
る。この後方散乱光のレベルは、光ファイバ１０が通常
のシングルモード光ファイバで、入射される光パルス幅
がｌＸｌ０−６秒のとき、入射パルス光レベルよりも約
５０ｄＢ低い値となる。このような微小な信号を扱うた
めに繰り返して測定し、その平均をとることによりＳＮ
比を改善する。加算平均処理部は７はこのためのもので
、Ａ／Ｄ変換器の量子化ビットが８のとき、−第８図の
ような平均回数と、ＳＮ比の関係がある。
フアイバ１０内で生じるレーリ散乱に起因するものであ
る。この後方散乱光のレベルは、光ファイバ１０が通常
のシングルモード光ファイバで、入射される光パルス幅
がｌＸｌ０−６秒のとき、入射パルス光レベルよりも約
５０ｄＢ低い値となる。このような微小な信号を扱うた
めに繰り返して測定し、その平均をとることによりＳＮ
比を改善する。加算平均処理部は７はこのためのもので
、Ａ／Ｄ変換器の量子化ビットが８のとき、−第８図の
ような平均回数と、ＳＮ比の関係がある。
第８図に類似したデータは岡田賢治、小林郁太部［電子
通信学会論文誌’８０／２Ｖｏ１．８３−ＢＮｏ、２
Ｊの図５にも記載されている。第８図では例えば、平均
回数が１００回であり、ＳＮ比が一３０ｄＢのとき、１
０２回平均をとるとＳＮ比が一１０ｄＢになり、２０ｄ
Ｂ改善される。
通信学会論文誌’８０／２Ｖｏ１．８３−ＢＮｏ、２
Ｊの図５にも記載されている。第８図では例えば、平均
回数が１００回であり、ＳＮ比が一３０ｄＢのとき、１
０２回平均をとるとＳＮ比が一１０ｄＢになり、２０ｄ
Ｂ改善される。
次に、○ＴＤＲの測定波形を第９図により説明する。第
９図は、光ファイバＩＯＡ・ＩＯＢを接続して測定した
ものであり、横軸は光ファイバの距離を表わし、縦軸は
受信光レベルを表わす。受信光レベルは、第７図の対数
変換部８で対数変換をすることにより右下がりの直線と
して示され、接続部の損失は段差として表れ、破断点で
生じる反射光は上向きの不連続波形として表れる。受信
光レベルが小さくなるとＳＮ比が悪くなり、測定波形に
はノイズが重畳し、幅をもった波形となり、正確な測定
をすることができなくなる。
９図は、光ファイバＩＯＡ・ＩＯＢを接続して測定した
ものであり、横軸は光ファイバの距離を表わし、縦軸は
受信光レベルを表わす。受信光レベルは、第７図の対数
変換部８で対数変換をすることにより右下がりの直線と
して示され、接続部の損失は段差として表れ、破断点で
生じる反射光は上向きの不連続波形として表れる。受信
光レベルが小さくなるとＳＮ比が悪くなり、測定波形に
はノイズが重畳し、幅をもった波形となり、正確な測定
をすることができなくなる。
加算平均の回数をさらに増やせば、ＳＮ比を改善できる
が、繰り返し測定による平均のために、測定時間が増え
る。例えば第８図によりＳＮ比を２０ｄＢ改善するため
には、さらに１０２回の平均回数が必要で、時間も１０
２倍が必要になる。
が、繰り返し測定による平均のために、測定時間が増え
る。例えば第８図によりＳＮ比を２０ｄＢ改善するため
には、さらに１０２回の平均回数が必要で、時間も１０
２倍が必要になる。
［発明が解決しようとする課題］
第８図かられかるように、ＳＮ比のよいところは平均回
数は少なくてもよく、ＳＮ比の悪いところの平均回数を
ふやせばよい。
数は少なくてもよく、ＳＮ比の悪いところの平均回数を
ふやせばよい。
この発明は、ＳＮ比検出手段と記憶手段を追加し、ＳＮ
比に応じて平均回数をかえて、測定波形上のＳＮ比の均
一化を図る０ＴＤＲの提供を目的とする。
比に応じて平均回数をかえて、測定波形上のＳＮ比の均
一化を図る０ＴＤＲの提供を目的とする。
［課題を解決するための手段］
この目的を達成するため、この発明では、光源３から出
射される光パルスを光方向性結合器４から光ファイバ１
０に入射し、光ファイバ１０からの戻り光を光方向性結
合器４から受光器５へ送り、受光器５の出力を増幅部６
で増幅し、平均加算処理部７でディジタル信号に変換し
て加算平均し、平均加算処理部７の出力を対数変換部８
で対数変換し、表示部９で表示する光パルス試験器にお
いて、ＳＮ比が設定され、対数変換部８の出力と設定さ
れたＳＮ比とを比較するＳＮ比較手段１１と、平均加算
データを記憶するデータ記憶手段１２とを備え、対数変
換部８の出力がＳＮ比の設定値よりよいときは対数変換
部８の出力をデータ記憶手段１２に詑憶し、対数変換部
８の出力がＳＮ比の設定値より悪いときは増Ｓ部６の利
得を上げてＳＮ比を改善するか、または平均加算処理部
７の平均回数を増やして対数変換部８の出力のＳＮ比を
改善し、データ記憶手段１２が記憶しているＳＮ比のよ
いデータを結合して表示部９に表示する。
射される光パルスを光方向性結合器４から光ファイバ１
０に入射し、光ファイバ１０からの戻り光を光方向性結
合器４から受光器５へ送り、受光器５の出力を増幅部６
で増幅し、平均加算処理部７でディジタル信号に変換し
て加算平均し、平均加算処理部７の出力を対数変換部８
で対数変換し、表示部９で表示する光パルス試験器にお
いて、ＳＮ比が設定され、対数変換部８の出力と設定さ
れたＳＮ比とを比較するＳＮ比較手段１１と、平均加算
データを記憶するデータ記憶手段１２とを備え、対数変
換部８の出力がＳＮ比の設定値よりよいときは対数変換
部８の出力をデータ記憶手段１２に詑憶し、対数変換部
８の出力がＳＮ比の設定値より悪いときは増Ｓ部６の利
得を上げてＳＮ比を改善するか、または平均加算処理部
７の平均回数を増やして対数変換部８の出力のＳＮ比を
改善し、データ記憶手段１２が記憶しているＳＮ比のよ
いデータを結合して表示部９に表示する。
［作用］
次に、この発明による０ＴＤＲの構成を第１図により説
明する。第１図の１１はＳＮ比比較手段、１２はデータ
記憶手段であり、その他は第１図と同じものである。
明する。第１図の１１はＳＮ比比較手段、１２はデータ
記憶手段であり、その他は第１図と同じものである。
対数変換部８で対数変換されたデータをＳＮ比比較手段
１１に送り、ＳＮ比比較手段１１の設定値と比較する。
１１に送り、ＳＮ比比較手段１１の設定値と比較する。
設定値のＳＮ比よりもよいデータは、データ記憶手段１
２に送って記憶し、設定値のＳＮ比よりも悪いデータは
、さらに増幅部６の利得を上げて信号レベルを高くし、
再び平均を加算する。そして、対数変換部８で対数変換
し、もう−度ＳＮ比比較手段１１へ送り、設定値のＳＮ
比かどうかを判定する。
２に送って記憶し、設定値のＳＮ比よりも悪いデータは
、さらに増幅部６の利得を上げて信号レベルを高くし、
再び平均を加算する。そして、対数変換部８で対数変換
し、もう−度ＳＮ比比較手段１１へ送り、設定値のＳＮ
比かどうかを判定する。
以下、同じようにしてＳＮ比のよいデータは記憶手段１
２へ送って記憶し、ＳＮ比の悪いデータは、さらに増幅
部６の利得を上げて平均を加算する。増＠部６の利得が
最大になり、それでも設定値のＳＮ比が得られないとき
、加算平均処理部７の平均回数を増やす。平均加算後の
データを対数変換部８で対数変換し、データ記憶手段１
２へ送り、記憶していたデータと結合して１つの測定波
形データとする。
２へ送って記憶し、ＳＮ比の悪いデータは、さらに増幅
部６の利得を上げて平均を加算する。増＠部６の利得が
最大になり、それでも設定値のＳＮ比が得られないとき
、加算平均処理部７の平均回数を増やす。平均加算後の
データを対数変換部８で対数変換し、データ記憶手段１
２へ送り、記憶していたデータと結合して１つの測定波
形データとする。
次に、第１図のフローチャートを第２図により説明する
。
。
ステップ２１では対数変換部８のデータをＳＮ比較手段
１１へ送り、ステップ２２ではＳＮ比較手段１１に設定
されている設定値と対数変換部８から送られてきたデー
タとを比較する。
１１へ送り、ステップ２２ではＳＮ比較手段１１に設定
されている設定値と対数変換部８から送られてきたデー
タとを比較する。
設定値よりも対数変換部８のデータの方がよい場合は、
ステップ２８に進み、設定値よりも対数変換部８のデー
タの方が悪い場合は、ステップ２３に進む。
ステップ２８に進み、設定値よりも対数変換部８のデー
タの方が悪い場合は、ステップ２３に進む。
ステップ２３では増幅部６の利得は最大かを判断し、最
大の場合はステップ２４へ進み、最大でない場合はステ
ップ２５へ進む。
大の場合はステップ２４へ進み、最大でない場合はステ
ップ２５へ進む。
ステップ２５では増幅部６の利得を上げ、ステップ２６
では平均加算処理部７で平均加算をする。
では平均加算処理部７で平均加算をする。
ステップ２７では、平均加算回数を増やすかを判断し、
平均加算回数を増やす場合はステップ２８に進み、平均
加算回数を増やさない場合はステップ２２に進む。
平均加算回数を増やす場合はステップ２８に進み、平均
加算回数を増やさない場合はステップ２２に進む。
ステップ２８ではデータをデータ記憶手段１１へ送り、
ステップ２９では送られてきたデータをデータ記憶手段
１１に記憶する。
ステップ２９では送られてきたデータをデータ記憶手段
１１に記憶する。
ステップ３０ではデータ記憶手段１１内のデータを結合
し、ステップ３１では結合したデータを表示部９に表示
する。
し、ステップ３１では結合したデータを表示部９に表示
する。
［実施例］
次に、平均加算処理部７でＸ回の平均を加算し、対数変
換部８で対数変換をした後の○ＴＤＲの測定波形を第３
図により説明する。
換部８で対数変換をした後の○ＴＤＲの測定波形を第３
図により説明する。
第１図のＳＮ比比較手段１１に設定する設定値を例えば
ＳＮ比２０ｄＢとし、第３図のＡ点がＳＮ比２０ｄＢと
すると、Ａ点よりも左側のデータはＳＮ比２０ｄＢ以上
になる。そこで、Ａ点から左側のデータをデータ記憶手
段１２へ送って記憶する。
ＳＮ比２０ｄＢとし、第３図のＡ点がＳＮ比２０ｄＢと
すると、Ａ点よりも左側のデータはＳＮ比２０ｄＢ以上
になる。そこで、Ａ点から左側のデータをデータ記憶手
段１２へ送って記憶する。
第３図のＢ点はノイズフロアと同じレベルなのでＳＮ比
ＯｄＢである。第１図の増幅部６で利得を２０ｄＢ上げ
て信号を大きくし、Ｘ回の平均を加算し、第４図の測定
波形を得る。そして、Ａ点からＢ点までのデータを記憶
手段１２へ送り、記憶する。
ＯｄＢである。第１図の増幅部６で利得を２０ｄＢ上げ
て信号を大きくし、Ｘ回の平均を加算し、第４図の測定
波形を得る。そして、Ａ点からＢ点までのデータを記憶
手段１２へ送り、記憶する。
第４図の０点は、ノイズフロアと同じレベルな（７）で
ＳＮ比ＯｄＢである。０点をＳＮ比２０ｄＢに上げるた
めには、Ｂ点と同じように増幅部６の利得を２０ｄＢ上
げてからＸ回の平均を加算する。
ＳＮ比ＯｄＢである。０点をＳＮ比２０ｄＢに上げるた
めには、Ｂ点と同じように増幅部６の利得を２０ｄＢ上
げてからＸ回の平均を加算する。
第５図はこの状態を示したものである。第５図のデータ
をデータ記憶手段１２へ送って記憶する。
をデータ記憶手段１２へ送って記憶する。
データ記憶手段１２では、先頭からＡ点、Ａ点からＢ点
、Ｂ点から０点、そして０点から末尾まで、送られたデ
ータのすべてを順番に並べ、かつそのレベルを合せて１
つの波形として結合し、第６図のように表示する。
、Ｂ点から０点、そして０点から末尾まで、送られたデ
ータのすべてを順番に並べ、かつそのレベルを合せて１
つの波形として結合し、第６図のように表示する。
［発明の効果］
この発明によれば、従来の○ＴＤＲにＳＮ比比較手段と
データ記憶手段を追加し、ＳＮ比に応じて平均回数をか
えているので、測定波形上のＳＮ比の均一化を図ること
ができ、測定時間を短縮することができる。また、これ
らの手段は、ソフトウェアとメモリで実現できるので、
簡単な回路で実現することができる。
データ記憶手段を追加し、ＳＮ比に応じて平均回数をか
えているので、測定波形上のＳＮ比の均一化を図ること
ができ、測定時間を短縮することができる。また、これ
らの手段は、ソフトウェアとメモリで実現できるので、
簡単な回路で実現することができる。
第１図はこの発明による０ＴＤＲの構成図、第２図は第
１図のフローチャート、第３図から第６図は０ＴＤＲの
測定波形の変化図、第７図は０ＴＤＲの構成図、第８図
は平均回数とＳＮ比の関係図、第９図は０ＴＤＲの測定
波形図である。 １・・・・・・タイミング発生部、２・・・・・・駆動
回路、３・・・・・・光源、４・・・・・・光方向性結
合器、５・・・・・・受光器、６・・・・・・増幅部、
７・・・・・・加算平均処理部、８・・・・・・対数変
換部、９・・・・・・表示部、１０・・・・・・測定さ
れる光ファイバ、１１・・・・・・ＳＮ比比較手段、１
２・・・・・・データ記憶手段。 代理人 弁理士 小 俣 欽 同 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図
１図のフローチャート、第３図から第６図は０ＴＤＲの
測定波形の変化図、第７図は０ＴＤＲの構成図、第８図
は平均回数とＳＮ比の関係図、第９図は０ＴＤＲの測定
波形図である。 １・・・・・・タイミング発生部、２・・・・・・駆動
回路、３・・・・・・光源、４・・・・・・光方向性結
合器、５・・・・・・受光器、６・・・・・・増幅部、
７・・・・・・加算平均処理部、８・・・・・・対数変
換部、９・・・・・・表示部、１０・・・・・・測定さ
れる光ファイバ、１１・・・・・・ＳＮ比比較手段、１
２・・・・・・データ記憶手段。 代理人 弁理士 小 俣 欽 同 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光源（３）から出射される光パルスを光方向性結合
器（４）から光ファイバ（１０）に入射し、光ファイバ
（１０）からの戻り光を光方向性結合器（４）から受光
器（５）へ送り、受光器（５）の出力を増幅部（６）で
増幅し、平均加算処理部（７）でディジタル信号に変換
して加算平均し、平均加算処理部（７）の出力を対数変
換部（８）で対数変換し、表示部（９）で表示する光パ
ルス試験器において、 ＳＮ比が設定され、対数変換部（８）の出力と設定され
たＳＮ比とを比較するＳＮ比較手段（１１）と、平均加
算データを記憶するデータ記憶手段（１２）とを備え、 対数変換部（８）の出力がＳＮ比の設定値よりよいとき
は対数変換部（８）の出力をデータ記憶手段（１２）に
記憶し、対数変換部（８）の出力がＳＮ比の設定値より
悪いときは増幅部 （６）の利得を上げてＳＮ比を改善するか、または平均
加算処理部（７）の平均回数を増やして対数変換部（８
）の出力のＳＮ比を改善し、データ記憶手段（１２）が
記憶しているＳＮ比のよいデータを結合して表示部（９
）に表示することを特徴とする光パルス試験器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284000A JP3014134B2 (ja) | 1990-10-22 | 1990-10-22 | 光パルス試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2284000A JP3014134B2 (ja) | 1990-10-22 | 1990-10-22 | 光パルス試験器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04158237A true JPH04158237A (ja) | 1992-06-01 |
| JP3014134B2 JP3014134B2 (ja) | 2000-02-28 |
Family
ID=17672997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2284000A Expired - Lifetime JP3014134B2 (ja) | 1990-10-22 | 1990-10-22 | 光パルス試験器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3014134B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5870184A (en) * | 1996-10-09 | 1999-02-09 | Ando Electric Co., Ltd. | Optical pulse tester |
| WO2008004443A1 (en) | 2006-07-03 | 2008-01-10 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse |
| US7620513B2 (en) | 2005-11-04 | 2009-11-17 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer, and optical fiber measuring method and optical fiber measuring system using the same |
-
1990
- 1990-10-22 JP JP2284000A patent/JP3014134B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5870184A (en) * | 1996-10-09 | 1999-02-09 | Ando Electric Co., Ltd. | Optical pulse tester |
| US7620513B2 (en) | 2005-11-04 | 2009-11-17 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer, and optical fiber measuring method and optical fiber measuring system using the same |
| WO2008004443A1 (en) | 2006-07-03 | 2008-01-10 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse |
| US8237921B2 (en) | 2006-07-03 | 2012-08-07 | Anritsu Corporation | Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse |
| EP2037250A4 (en) * | 2006-07-03 | 2015-03-25 | Anritsu Corp | OPTICAL TIME DOMAIN REFLECTOMETER AND METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER USING OPTICAL IMPULSE |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3014134B2 (ja) | 2000-02-28 |
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