ATE220809T1 - Verfahren zur analyse eines programms zum testen elektronischer bauteile - Google Patents

Verfahren zur analyse eines programms zum testen elektronischer bauteile

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ATE220809T1
ATE220809T1 AT01400681T AT01400681T ATE220809T1 AT E220809 T1 ATE220809 T1 AT E220809T1 AT 01400681 T AT01400681 T AT 01400681T AT 01400681 T AT01400681 T AT 01400681T AT E220809 T1 ATE220809 T1 AT E220809T1
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AT
Austria
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program
electronic components
analyzing
testing
software tool
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AT01400681T
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M Philippe Lejeune
Original Assignee
Bealach No Bo Finne Teo Ta Gal
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2201/00Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
    • G06F2201/88Monitoring involving counting

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