ATE249111T1 - Integrierte testanordnung für einen analog- digital-wandler und entsprechendes verfahren - Google Patents

Integrierte testanordnung für einen analog- digital-wandler und entsprechendes verfahren

Info

Publication number
ATE249111T1
ATE249111T1 AT00960825T AT00960825T ATE249111T1 AT E249111 T1 ATE249111 T1 AT E249111T1 AT 00960825 T AT00960825 T AT 00960825T AT 00960825 T AT00960825 T AT 00960825T AT E249111 T1 ATE249111 T1 AT E249111T1
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
analog
digital converter
corresponding method
converter
test arrangement
Prior art date
Application number
AT00960825T
Other languages
English (en)
Inventor
Michel Renovell
Florence Azais
Serge Bernard
Yves Bertrand
Original Assignee
Centre Nat Rech Scient
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Centre Nat Rech Scient filed Critical Centre Nat Rech Scient
Application granted granted Critical
Publication of ATE249111T1 publication Critical patent/ATE249111T1/de

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1071Measuring or testing
    • H03M1/109Measuring or testing for DC performance, i.e. static testing
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
AT00960825T 1999-09-09 2000-09-07 Integrierte testanordnung für einen analog- digital-wandler und entsprechendes verfahren ATE249111T1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9911304A FR2798539B1 (fr) 1999-09-09 1999-09-09 Procede et dispositif de test integre pour un convertisseur analogique-numerique et convertisseur muni d'un tel dispositif
PCT/FR2000/002474 WO2001018969A1 (fr) 1999-09-09 2000-09-07 Procede et dispositif de test integre pour un convertisseur anologique-numerique

Publications (1)

Publication Number Publication Date
ATE249111T1 true ATE249111T1 (de) 2003-09-15

Family

ID=9549685

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
AT00960825T ATE249111T1 (de) 1999-09-09 2000-09-07 Integrierte testanordnung für einen analog- digital-wandler und entsprechendes verfahren

Country Status (9)

Country Link
US (1) US6642870B1 (de)
EP (1) EP1210772B1 (de)
AT (1) ATE249111T1 (de)
AU (1) AU7300000A (de)
DE (1) DE60005026T2 (de)
DK (1) DK1210772T3 (de)
ES (1) ES2206300T3 (de)
FR (1) FR2798539B1 (de)
WO (1) WO2001018969A1 (de)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI241071B (en) * 2004-06-30 2005-10-01 Univ Nat Cheng Kung Test framework and test method of analog to digital converter
US8682613B2 (en) 2010-03-16 2014-03-25 Ateeda Ltd. ADC testing
US8803716B1 (en) * 2013-04-10 2014-08-12 Stmicroelectronics International N.V. Memoryless sliding window histogram based BIST

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR336715A (fr) 1903-11-14 1904-03-16 Leon Tampier Speculum
US4897650A (en) * 1988-04-05 1990-01-30 General Electric Company Self-characterizing analog-to-digital converter
TW364950B (en) * 1996-06-17 1999-07-21 Koninkl Philips Electronics Nv Method of testing an analog-to-digital converter
US5793642A (en) * 1997-01-21 1998-08-11 Tektronix, Inc. Histogram based testing of analog signals

Also Published As

Publication number Publication date
DE60005026T2 (de) 2004-06-17
EP1210772A1 (de) 2002-06-05
AU7300000A (en) 2001-04-10
FR2798539A1 (fr) 2001-03-16
FR2798539B1 (fr) 2002-01-25
DE60005026D1 (de) 2003-10-09
WO2001018969A1 (fr) 2001-03-15
DK1210772T3 (da) 2004-01-05
ES2206300T3 (es) 2004-05-16
US6642870B1 (en) 2003-11-04
EP1210772B1 (de) 2003-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2004040324A3 (en) A method of and apparatus for testing for integrated circuit contact defects
DE60001254D1 (de) Testgerät für integrierte Schaltungen mit Multiportprüffunktionalität
AU2003233923A1 (en) Method and device for functionally testing an analog-to-digital converter, and a corresponding analog-to-digital converter
EP1045438B8 (de) Testsondenkarte und Testverfahren für eine Halbleitervorrichtung
DE69019402D1 (de) Prüfverfahren und -gerät für integrierte Schaltungen.
ATE272841T1 (de) Versuchsanordnung mit erweiterter bandbreite
ATE433121T1 (de) Anordnung und verfahren zur prüfung von integrierten schaltungseinrichtungen
DE60040150D1 (de) Diagnostika für fragile plaque störung
MY124258A (en) Method of testing electronic components and testing apparatus for electronic components
WO2003041122A3 (en) Preconditioning integrated circuit for integrated circuit testing
ATE348340T1 (de) Verfahren und system zur prüfung von rf chips
SG132667A1 (en) Planar voltage contrast test structure and method
WO2002029824A3 (en) System and method for testing integrated circuit devices
WO2002014883A3 (en) Analog signal testing circuit and -method
DE60234693D1 (de) Testverfahren für aktiven folge- und halte-leseverstärker (komparator) in einem einmal programmierbaren salizidierten poly-schmelzsicherungsarray
MY130358A (en) Low leakage technique for determining power spectra of non-coherently sampled data
DE60005026D1 (de) Integrierte testanordnung für einen analog-digital-wandler und entsprechendes verfahren
WO2004042786A3 (en) High-frequency scan testability with low-speed testers
DE59801360D1 (de) Testschaltung und verfahren zum prüfen einer digitalen halbleiter-schaltungsanordnung
DE69020191D1 (de) Bandlageranordnung für Prüfvorrichtung.
DE69833123D1 (de) Schaltungsanordnung zum testen eines kerns
DE69822694D1 (de) Verfahren zum prüfgerechten Entwurf, Verfahren zur Prüfsequenzerzeugung und integrierte Halbleiterschaltung
ATE415621T1 (de) Verfahren und verwendung einer vorrichtung zur wirkstoffsuche
ATE486419T1 (de) Störungscharakterisierung und beseitigung
DE69518034D1 (de) Verfahren und Anordnung für einen Analog-Digital-Konverter

Legal Events

Date Code Title Description
RER Ceased as to paragraph 5 lit. 3 law introducing patent treaties