ATE249111T1 - Integrierte testanordnung für einen analog- digital-wandler und entsprechendes verfahren - Google Patents

Integrierte testanordnung für einen analog- digital-wandler und entsprechendes verfahren

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ATE249111T1
ATE249111T1 AT00960825T AT00960825T ATE249111T1 AT E249111 T1 ATE249111 T1 AT E249111T1 AT 00960825 T AT00960825 T AT 00960825T AT 00960825 T AT00960825 T AT 00960825T AT E249111 T1 ATE249111 T1 AT E249111T1
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AT
Austria
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analog
digital converter
corresponding method
converter
test arrangement
Prior art date
Application number
AT00960825T
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Michel Renovell
Florence Azais
Serge Bernard
Yves Bertrand
Original Assignee
Centre Nat Rech Scient
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1071Measuring or testing
    • H03M1/109Measuring or testing for DC performance, i.e. static testing
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
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    • H03M1/12Analogue/digital converters

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AT00960825T 1999-09-09 2000-09-07 Integrierte testanordnung für einen analog- digital-wandler und entsprechendes verfahren ATE249111T1 (de)

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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI241071B (en) * 2004-06-30 2005-10-01 Univ Nat Cheng Kung Test framework and test method of analog to digital converter
US8682613B2 (en) 2010-03-16 2014-03-25 Ateeda Ltd. ADC testing
US8803716B1 (en) * 2013-04-10 2014-08-12 Stmicroelectronics International N.V. Memoryless sliding window histogram based BIST

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR336715A (fr) 1903-11-14 1904-03-16 Leon Tampier Speculum
US4897650A (en) * 1988-04-05 1990-01-30 General Electric Company Self-characterizing analog-to-digital converter
TW364950B (en) * 1996-06-17 1999-07-21 Koninkl Philips Electronics Nv Method of testing an analog-to-digital converter
US5793642A (en) * 1997-01-21 1998-08-11 Tektronix, Inc. Histogram based testing of analog signals

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