HK46292A - High throughput circuit tester and test technique avoiding overdriving damage - Google Patents

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HK46292A
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HK
Hong Kong
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test
circuit
damage
junction
cool down
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Application number
HK462/92A
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German (de)
English (en)
Inventor
William A. Groves
Vance Russel Harwood
Thomas R. Fay
Elton Curtis Bingham
Michael Anthony Teska
Original Assignee
Agilent Technologies, Inc.
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Publication date
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31915—In-circuit Testers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Claims (5)

  1. Procédé pour tester des circuits, du type dans lequel des signaux de test (96, 97) sont appliqués à un circuit testé (98), le circuit contenant des composants semi-conducteurs individuels, et dans lequel des signaux de sortie (99, 96) du circuit testé sont surveillés, le procédé étant caractérisé par l'étape (92) consistant à intercaler, au cours du test, des intervalles de refroidissement ayant des durées minimales suffisantes pour éviter l'endommagement du circuit par échauffement excessif des composants semi-conducteurs du circuit, les durées étant calculées en utilisant les caractéristiques thermiques des jonctions et des fils de connexion des composants.
  2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel chaque intervalle de refroidissement est intercalé dans le test avant la partie du test pour laquelle la longueur de cet intervalle a été déterminée.
  3. Testeur de circuits pour tester un circuit contenant des composants semi-conducteurs individuels, le testeur comprenant: un moyen (96, 97) pour appliquer des signaux de test à des noeuds du circuit testé (98), ainsi qu'un moyen (99, 96) Pour surveiller des signaux sur les noeuds du circuit testé, caractérisé par un moyen (92) pour intercaler des intervalles de refroidissement dans des tests de circuit; des fichiers de données (91) contenant de l'information relative à la topologie du circuit et de l'information relative aux caractéristiques thermiques de jonctions et de fils de connexion de composants semi-conducteurs du circuit; un analyseur de dommages (95) sensible à l'information relative à la topologie du circuit et à l'information thermique sur les jonctions et les fils de connexion dans les fichiers de données pour calculer des intervalles de refroidissement de longueur minimale suffisants pour empêcher l'endommagement des composants semi-conducteurs par suite d'un échauffement excessif; ainsi qu'un dispositif de commande (96) sensible à des signaux provenant de l'analyseur de dommages et servant à ajuster la longueur de chaque intervalle de refroidissement.
  4. Testeur de circuits selon la revendication 3, dans lequel le moyen pour intercaler les intervalles de refroidissement est conçu pour pouvoir intercaler chaque intervalle de refroidissement dans le test avant la partie du test pour laquelle est déterminée sa longueur.
  5. Testeur de circuits selon la revendication 3 ou 4, dans lequel la pente des signaux de test peut être variée.
HK462/92A 1983-06-13 1992-06-25 High throughput circuit tester and test technique avoiding overdriving damage HK46292A (en)

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