IT1265428B1 - Dispositivo di memoria a semiconduttore con disposizione di bit di dati di ingresso / uscita cambiabile - Google Patents

Dispositivo di memoria a semiconduttore con disposizione di bit di dati di ingresso / uscita cambiabile

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IT1265428B1
IT1265428B1 IT93MI002712A ITMI932712A IT1265428B1 IT 1265428 B1 IT1265428 B1 IT 1265428B1 IT 93MI002712 A IT93MI002712 A IT 93MI002712A IT MI932712 A ITMI932712 A IT MI932712A IT 1265428 B1 IT1265428 B1 IT 1265428B1
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Italy
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data input
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IT93MI002712A
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Takahiko Fukiage
Yoshinori Inoue
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

Un dispositivo di memoria a semiconduttore di tipo dinamico include una pluralità di nodi di ingresso/uscita di dati (251a-251d), una pluralità di memorie temporanee /CAS (141-143) per generare segnali di comando di indirizzo di colonna (/CASO- /CAS3) corrispondenti ad ognuno di detti nodi di ingresso/uscita ed un nodo di ingresso (271a) che esegue solo l'ingresso di dati. Un circuito 200 di generazione di segnale di commutazione genera primo e secondo segnale di commutazione (?1, ?2) indicanti modalità di controllo di ingresso/uscita di dati. Celle di memoria corrispondenti in numero ai nodi di ingresso/uscita di dati vengono selezionate in modo simultaneo da una matrice (170) a celle di memoria. Durante l'operazione di modalità A di controllo, l'ingresso/uscita di dati viene effettuato utilizzando un nodo di ingresso ed un nodo di ingresso/uscita di dati. Nel caso di modalità B di controllo, la scrittura/lettura, di dati viene effettuata tramite una pluralità di nodi di ingresso/uscita di dati secondo un segnale di comando o riferimento di indirizzo di colonna. Nel caso della modalità C di controllo, l'ingresso/uscita di dati viene eseguito individualmente per ogni nodo di ingresso/uscita secondo una pluralità di segnali comando di indirizzo di colonna. Le modalità A, B e C possono essere realizzate in una DRAM. In modo particolare, nella modalità C che controlla l'ingresso/uscita di dati secondo rispettivi segnali di comando di indirizzo di colonna, la scrittura/lettura di bit di dati non necessari può essere impedita per ridurre il consumo di potenza ed impedire la scrittura errata di bit di parità.
IT93MI002712A 1992-12-25 1993-12-22 Dispositivo di memoria a semiconduttore con disposizione di bit di dati di ingresso / uscita cambiabile IT1265428B1 (it)

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Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07226079A (ja) * 1994-02-14 1995-08-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体メモリ装置
US6525971B2 (en) 1995-06-30 2003-02-25 Micron Technology, Inc. Distributed write data drivers for burst access memories
US5682354A (en) * 1995-11-06 1997-10-28 Micron Technology, Inc. CAS recognition in burst extended data out DRAM
US5610864A (en) 1994-12-23 1997-03-11 Micron Technology, Inc. Burst EDO memory device with maximized write cycle timing
US5526320A (en) 1994-12-23 1996-06-11 Micron Technology Inc. Burst EDO memory device
US5729504A (en) * 1995-12-14 1998-03-17 Micron Technology, Inc. Continuous burst edo memory device
US7681005B1 (en) * 1996-01-11 2010-03-16 Micron Technology, Inc. Asynchronously-accessible memory device with mode selection circuitry for burst or pipelined operation
US5724281A (en) * 1996-01-31 1998-03-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor integrated circuit having improved wiring in input terminal
US6209071B1 (en) 1996-05-07 2001-03-27 Rambus Inc. Asynchronous request/synchronous data dynamic random access memory
US6401186B1 (en) 1996-07-03 2002-06-04 Micron Technology, Inc. Continuous burst memory which anticipates a next requested start address
US6981126B1 (en) * 1996-07-03 2005-12-27 Micron Technology, Inc. Continuous interleave burst access
US6088285A (en) * 1998-01-20 2000-07-11 Oki Electric Industry Co., Ltd. Semiconductor memory circuit in which pattern widths of switching circuit and buffers are formed within a pattern width of a column unit
KR100317498B1 (ko) * 1999-06-23 2001-12-24 박종섭 입력 패드 제어 회로
US6275407B1 (en) * 1999-06-29 2001-08-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory device having sense and data lines for use to read and write operations
JP4216415B2 (ja) 1999-08-31 2009-01-28 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
JP3881477B2 (ja) 1999-09-06 2007-02-14 沖電気工業株式会社 シリアルアクセスメモリ
JP2006024886A (ja) * 2004-06-07 2006-01-26 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
US7927948B2 (en) 2005-07-20 2011-04-19 Micron Technology, Inc. Devices with nanocrystals and methods of formation
US7352649B2 (en) * 2005-07-21 2008-04-01 Micron Technology, Inc. High speed array pipeline architecture
JP2011081553A (ja) * 2009-10-06 2011-04-21 Renesas Electronics Corp 情報処理装置及びその制御方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60179984A (ja) * 1984-02-27 1985-09-13 Nec Corp メモリ回路方式
JPS6260193A (ja) * 1985-09-11 1987-03-16 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
EP0299697B1 (en) * 1987-07-15 1993-09-29 Hitachi, Ltd. Semiconductor integrated circuit device
US4956811A (en) * 1987-09-16 1990-09-11 Hitachi, Ltd. Semiconductor memory
JPH03232196A (ja) * 1990-02-07 1991-10-16 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPH03241587A (ja) * 1990-02-19 1991-10-28 Hitachi Ltd 半導体メモリ素子
US5053999A (en) * 1990-03-28 1991-10-01 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor memory device having redundancy and capable of sequentially selecting memory cell lines
JP2533404B2 (ja) * 1990-09-11 1996-09-11 三菱電機株式会社 半導体記憶装置
JPH05290584A (ja) * 1992-04-08 1993-11-05 Nec Corp 半導体記憶装置

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DE4344254A1 (de) 1994-06-30
DE4344254C2 (de) 1996-04-11
ITMI932712A0 (it) 1993-12-22
JP3218103B2 (ja) 2001-10-15
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US5400292A (en) 1995-03-21

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