JP2000266852A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JP2000266852A JP2000266852A JP11074838A JP7483899A JP2000266852A JP 2000266852 A JP2000266852 A JP 2000266852A JP 11074838 A JP11074838 A JP 11074838A JP 7483899 A JP7483899 A JP 7483899A JP 2000266852 A JP2000266852 A JP 2000266852A
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】測定距離の大小に係わらず一定の精度を確保
し、且つ測定の高速化を図る。 【解決手段】パルス光の投射時点から受光時点までの時
間を測定して対物間距離データを出力する測距装置１に
おいて、互いに異なる波長のパルス光を射出する複数の
光源と、複数の光源のそれぞれから射出されたパルス光
の光軸を一致させる光学部材１３と、受光したパルス光
を分離する分光手段と、分離されたパルス光のそれぞれ
に１個ずつ対応する複数の光電変換デバイスとを設け、
複数の光源を互いに異なる出力強度で同時又は順に発光
させて投射を行い、複数の光電変換デバイスの出力信号
のうち、ピーク値が適正範囲内で最も大きい出力信号に
基づいて受光時点を検出する。
し、且つ測定の高速化を図る。 【解決手段】パルス光の投射時点から受光時点までの時
間を測定して対物間距離データを出力する測距装置１に
おいて、互いに異なる波長のパルス光を射出する複数の
光源と、複数の光源のそれぞれから射出されたパルス光
の光軸を一致させる光学部材１３と、受光したパルス光
を分離する分光手段と、分離されたパルス光のそれぞれ
に１個ずつ対応する複数の光電変換デバイスとを設け、
複数の光源を互いに異なる出力強度で同時又は順に発光
させて投射を行い、複数の光電変換デバイスの出力信号
のうち、ピーク値が適正範囲内で最も大きい出力信号に
基づいて受光時点を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光を反射する物体
までの光の往復伝搬時間を距離情報として測定する測距
装置に関する。
までの光の往復伝搬時間を距離情報として測定する測距
装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光のパルスの送信から物体で反射して戻
ったパルスの受信までのいわゆる飛行時間（ＴＯＦ：ti
me of flight）を測定することにより、既知の光伝搬速
度を適用して対物間距離を求めることができる。この手
法は土木や天文をはじめとする各種分野で応用されてい
る。原理的にはパルス幅が零に近いほど測定精度は高ま
るが、実際には光源の応答性や受信感度などの制約で決
まる値以上のパルス幅となる。一般の測距装置におい
て、パルス幅は数ｃｍ程度の分解能が得られる５０〜１
００ｎｓ程度の値とされており、波形は単峰の山状であ
る。
ったパルスの受信までのいわゆる飛行時間（ＴＯＦ：ti
me of flight）を測定することにより、既知の光伝搬速
度を適用して対物間距離を求めることができる。この手
法は土木や天文をはじめとする各種分野で応用されてい
る。原理的にはパルス幅が零に近いほど測定精度は高ま
るが、実際には光源の応答性や受信感度などの制約で決
まる値以上のパルス幅となる。一般の測距装置におい
て、パルス幅は数ｃｍ程度の分解能が得られる５０〜１
００ｎｓ程度の値とされており、波形は単峰の山状であ
る。
【０００３】パルス光を反射する物体が近いほど受信光
量が多く、光電変換のＳＮ比が良好となる。しかし、物
体が近すぎると、光電変換信号が飽和してしまい、正確
に受光時点を特定することができなくなる。そこで、従
来において、適正レベルの光電変換信号を得ることので
きる測定範囲を拡げるために、強度の異なる複数のレー
ザ光を光軸を若干ずらして同時に投射する装置が提案さ
れている（特許第２７６５２９１号）。提案の装置は、
外部で反射して戻った複数のレーザ光をそれらの光軸の
ずれを利用して区別し、複数の受光素子を用いて電気信
号に変換する。
量が多く、光電変換のＳＮ比が良好となる。しかし、物
体が近すぎると、光電変換信号が飽和してしまい、正確
に受光時点を特定することができなくなる。そこで、従
来において、適正レベルの光電変換信号を得ることので
きる測定範囲を拡げるために、強度の異なる複数のレー
ザ光を光軸を若干ずらして同時に投射する装置が提案さ
れている（特許第２７６５２９１号）。提案の装置は、
外部で反射して戻った複数のレーザ光をそれらの光軸の
ずれを利用して区別し、複数の受光素子を用いて電気信
号に変換する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来の装置では、強度
の異なる複数のパルス光の光軸に差異があるので、どの
パルス光に基づいて測定を行うかによって測定結果に微
妙な差異が生じるという問題があった。この差異を無く
すには投射角度を微小変化させて複数回の投射を行う必
要があり、それによって測定の所要時間が長くなる。特
に複数の方向に投射して物体の形状を測定する場合に
は、投射角度の変更（走査）の制御が複雑になる。
の異なる複数のパルス光の光軸に差異があるので、どの
パルス光に基づいて測定を行うかによって測定結果に微
妙な差異が生じるという問題があった。この差異を無く
すには投射角度を微小変化させて複数回の投射を行う必
要があり、それによって測定の所要時間が長くなる。特
に複数の方向に投射して物体の形状を測定する場合に
は、投射角度の変更（走査）の制御が複雑になる。
【０００５】本発明は、測定距離の大小に係わらず一定
の精度を確保し且つ測定の高速化を図ることを目的とし
ている。
の精度を確保し且つ測定の高速化を図ることを目的とし
ている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明においては、強度
及び波長の異なる複数のパルス光を投射する。強度の異
なる投射を行うことにより、単一強度の投射を行う場合
と比べて飽和していない適正な受信信号の得られる距離
範囲が拡がる。また、波長の異なる投射を行うことによ
り、複数のパルス光の光路を一致させても、分光によっ
て各パルス光を区別して光電変換をすることができる。
光路が同一であれば、どのパルス光に基づいて測定を行
っても結果は同一となる。
及び波長の異なる複数のパルス光を投射する。強度の異
なる投射を行うことにより、単一強度の投射を行う場合
と比べて飽和していない適正な受信信号の得られる距離
範囲が拡がる。また、波長の異なる投射を行うことによ
り、複数のパルス光の光路を一致させても、分光によっ
て各パルス光を区別して光電変換をすることができる。
光路が同一であれば、どのパルス光に基づいて測定を行
っても結果は同一となる。
【０００７】請求項１の発明の装置は、外部へパルス光
を投射する投光手段と、外部で反射した前記パルス光を
受光して光電変換をする受光手段とを備え、前記パルス
光の投射時点から受光時点までの時間を測定して対物間
距離データを出力する測距装置であって、前記投光手段
は互いに異なる波長のパルス光を射出する複数の光源
と、当該複数の光源のそれぞれから射出されたパルス光
の光軸を一致させる光学部材とを有し、前記受光手段
は、前記複数の光源のそれぞれから射出されたパルス光
を分離する分光手段と、分離されたパルス光のそれぞれ
に１個ずつ対応する複数の光電変換デバイスとを有し、
前記複数の光源を互いに異なる出力強度で同時又は順に
発光させて投射を行い、前記複数の光電変換デバイスの
出力信号のうち、ピーク値が適正範囲内で最も大きい出
力信号に基づいて前記受光時点を検出するものである。
を投射する投光手段と、外部で反射した前記パルス光を
受光して光電変換をする受光手段とを備え、前記パルス
光の投射時点から受光時点までの時間を測定して対物間
距離データを出力する測距装置であって、前記投光手段
は互いに異なる波長のパルス光を射出する複数の光源
と、当該複数の光源のそれぞれから射出されたパルス光
の光軸を一致させる光学部材とを有し、前記受光手段
は、前記複数の光源のそれぞれから射出されたパルス光
を分離する分光手段と、分離されたパルス光のそれぞれ
に１個ずつ対応する複数の光電変換デバイスとを有し、
前記複数の光源を互いに異なる出力強度で同時又は順に
発光させて投射を行い、前記複数の光電変換デバイスの
出力信号のうち、ピーク値が適正範囲内で最も大きい出
力信号に基づいて前記受光時点を検出するものである。
【０００８】請求項２の発明の測距装置は、前記パルス
光をその光軸の向き又は位置を変更して複数回投射し、
複数回分の前記対物間距離データを形状データとして出
力するものである。
光をその光軸の向き又は位置を変更して複数回投射し、
複数回分の前記対物間距離データを形状データとして出
力するものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１は本発明に係る測距装置の全
体構成図である。測距装置１は、投光手段としての送信
光学系１０、受光手段としての受信光学系２０、受信処
理回路３０、コントローラ４０、クロック発生器４５、
及び出力ポート４６から構成されている。送信光学系１
０は、２個の発光部１１，１２とこれらのそれぞれから
射出されたパルス光Ｐ１，Ｐ２の光軸を一致させる光路
統一部１３とからなり、コントローラ４０からの指示に
呼応して１００ｎｓ程度のパルス幅のパルス光Ｐ１，Ｐ
２を外部へ射出する。時点ｔｐ０に射出されたパルス光
Ｐ１，Ｐ２は物体Ｑで反射して測距装置１へ戻り、時点
ｔｐ１に受信光学系２０によって受光される。受信光学
系２０は受光量に応じた受信信号（光電変換信号）Ｓ２
０を受信処理回路３０へ出力し、受信処理回路３０は受
信信号Ｓ２０に基づいて時点ｔｐ１を示すデータＤ３０
を生成する。時点ｔｐ０から時点ｔｐ１までの時間を光
伝搬時間（距離Ｌの往復の所要時間）Ｔａとして求め、
さらに既知の光伝搬速度（３×１０8 ｍ／ｓ）を適用し
て距離Ｌを算出する演算はコントローラ４０が受け持
つ。算出された距離Ｌは測定データＤＬとして出力ポー
ト４６から他の装置（ディスプレイ、コンピュータな
ど）へ転送される。
体構成図である。測距装置１は、投光手段としての送信
光学系１０、受光手段としての受信光学系２０、受信処
理回路３０、コントローラ４０、クロック発生器４５、
及び出力ポート４６から構成されている。送信光学系１
０は、２個の発光部１１，１２とこれらのそれぞれから
射出されたパルス光Ｐ１，Ｐ２の光軸を一致させる光路
統一部１３とからなり、コントローラ４０からの指示に
呼応して１００ｎｓ程度のパルス幅のパルス光Ｐ１，Ｐ
２を外部へ射出する。時点ｔｐ０に射出されたパルス光
Ｐ１，Ｐ２は物体Ｑで反射して測距装置１へ戻り、時点
ｔｐ１に受信光学系２０によって受光される。受信光学
系２０は受光量に応じた受信信号（光電変換信号）Ｓ２
０を受信処理回路３０へ出力し、受信処理回路３０は受
信信号Ｓ２０に基づいて時点ｔｐ１を示すデータＤ３０
を生成する。時点ｔｐ０から時点ｔｐ１までの時間を光
伝搬時間（距離Ｌの往復の所要時間）Ｔａとして求め、
さらに既知の光伝搬速度（３×１０8 ｍ／ｓ）を適用し
て距離Ｌを算出する演算はコントローラ４０が受け持
つ。算出された距離Ｌは測定データＤＬとして出力ポー
ト４６から他の装置（ディスプレイ、コンピュータな
ど）へ転送される。
【００１０】図２は送信光学系のブロック図、図３は投
射動作のタイムチャートである。発光部１１は、レーザ
光を射出する光源（半導体レーザ）１１１、発光用のド
ライバ１１２、発光時間を規定するパルス回路１１３、
及び投光用のレンズ（コリメータレンズ）１１４からな
る。発光部１２も同様に光源１２１、ドライバ１２２、
パルス回路１２３、及びレンズ１２４からなる。ただ
し、本実施形態において、光源１２１の発光波長λ２は
光源１１１の発光波長λ１と異なる値に選定されている
（λ１≠λ２）。
射動作のタイムチャートである。発光部１１は、レーザ
光を射出する光源（半導体レーザ）１１１、発光用のド
ライバ１１２、発光時間を規定するパルス回路１１３、
及び投光用のレンズ（コリメータレンズ）１１４からな
る。発光部１２も同様に光源１２１、ドライバ１２２、
パルス回路１２３、及びレンズ１２４からなる。ただ
し、本実施形態において、光源１２１の発光波長λ２は
光源１１１の発光波長λ１と異なる値に選定されている
（λ１≠λ２）。
【００１１】これら発光部１１，１２にはコントローラ
４０から投射タイミング信号Ｓ１が与えられる。パルス
回路１１３，１２３は投射タイミング信号Ｓ１の立上が
りｔ１，ｔ２，ｔ３，…に呼応して、所定幅のパルス信
号ＳＰ１，ＳＰ２を出力する。パルス信号ＳＰ１がアク
ティブのときに、ドライバ１１２から光源１１１に所定
の駆動電流が供給されて光源１１１が発光する。同様に
パルス信号ＳＰ２がアクティブのときに、ドライバ１２
２から光源１２１に所定の駆動電流が供給されて光源１
２１が発光する。このとき、光源１１１の射出するパル
ス光Ｐ１の強度（発光分布のピーク値）Ｐｐ１と光源１
２１の射出するパルス光Ｐ２の強度Ｐｐ２とが異なるよ
うに発光が制御される。本例ではＰｐ１＞Ｐｐ２であ
る。例えばＰｐ１をＰｐ２の１．５〜２倍程度とする。
同時に発光したパルス光Ｐ１，Ｐ２は、光路統一部１３
を経た後、同一の光路を通って物体Ｑに向かう。
４０から投射タイミング信号Ｓ１が与えられる。パルス
回路１１３，１２３は投射タイミング信号Ｓ１の立上が
りｔ１，ｔ２，ｔ３，…に呼応して、所定幅のパルス信
号ＳＰ１，ＳＰ２を出力する。パルス信号ＳＰ１がアク
ティブのときに、ドライバ１１２から光源１１１に所定
の駆動電流が供給されて光源１１１が発光する。同様に
パルス信号ＳＰ２がアクティブのときに、ドライバ１２
２から光源１２１に所定の駆動電流が供給されて光源１
２１が発光する。このとき、光源１１１の射出するパル
ス光Ｐ１の強度（発光分布のピーク値）Ｐｐ１と光源１
２１の射出するパルス光Ｐ２の強度Ｐｐ２とが異なるよ
うに発光が制御される。本例ではＰｐ１＞Ｐｐ２であ
る。例えばＰｐ１をＰｐ２の１．５〜２倍程度とする。
同時に発光したパルス光Ｐ１，Ｐ２は、光路統一部１３
を経た後、同一の光路を通って物体Ｑに向かう。
【００１２】なお、上述の時点ｔｐ０は、投射タイミン
グ信号Ｓ１の立上がりエッジから予め定めた時間が経過
した時点（発光強度の推定ピーク時期）としてもよい
し、発光強度のピーク検出によって設定してもよい。
グ信号Ｓ１の立上がりエッジから予め定めた時間が経過
した時点（発光強度の推定ピーク時期）としてもよい
し、発光強度のピーク検出によって設定してもよい。
【００１３】図４は光路統一部の具体例を示す図であ
る。図示のようにプリズム１３１，１３２，１３３を組
み合わせることにより、コリメータレンズ１１４で平行
化された光の光軸とコリメータレンズ１２４で平行化さ
れた光の光軸とを一致させることができる。プリズム１
３１は光路長の調整のために設けられる。
る。図示のようにプリズム１３１，１３２，１３３を組
み合わせることにより、コリメータレンズ１１４で平行
化された光の光軸とコリメータレンズ１２４で平行化さ
れた光の光軸とを一致させることができる。プリズム１
３１は光路長の調整のために設けられる。
【００１４】図５は受信光学系のブロック図である。受
信光学系２０は、２個の受光素子（例えばフォトダイオ
ード）２１，２２、受光用のドライバ２３，２４、光電
流を電圧に変換する増幅器２５，２６、受光用のレンズ
２７、及び光路分岐部２８からなる。増幅器２５，２６
の出力Ｓ２５，Ｓ２６が受信信号Ｓ２０として後段へ送
られる。光路分岐部２８は、レンズ２７で集光された受
信光を分光し、波長λ１のパルス光Ｐ１を受光素子２１
へ導き、波長λ２のパルス光Ｐ２を受光素子２２へ導
く。
信光学系２０は、２個の受光素子（例えばフォトダイオ
ード）２１，２２、受光用のドライバ２３，２４、光電
流を電圧に変換する増幅器２５，２６、受光用のレンズ
２７、及び光路分岐部２８からなる。増幅器２５，２６
の出力Ｓ２５，Ｓ２６が受信信号Ｓ２０として後段へ送
られる。光路分岐部２８は、レンズ２７で集光された受
信光を分光し、波長λ１のパルス光Ｐ１を受光素子２１
へ導き、波長λ２のパルス光Ｐ２を受光素子２２へ導
く。
【００１５】図６は光路分岐部の具体例を示す図であ
る。所定特性の多層反射膜２８１とそれを挟む一対の三
角プリズム２８２，２８３とからなるダイクロイックプ
リズムにより、光路分岐部２８の機能を実現することが
できる。
る。所定特性の多層反射膜２８１とそれを挟む一対の三
角プリズム２８２，２８３とからなるダイクロイックプ
リズムにより、光路分岐部２８の機能を実現することが
できる。
【００１６】図７は受信処理回路のブロック図、図８は
重心演算の概念図である。受信処理回路３０は、信号セ
レクタ３１、Ａ／Ｄ変換器３２、メモリ３３、及び重心
演算回路３４からなる。強度の異なるパルス光Ｐ１，Ｐ
２のそれぞれを光電変換した受信信号Ｓ２５，Ｓ２６の
一方が信号セレクタ３１によって選択され、Ａ／Ｄ変換
器３２へ送られる。Ａ／Ｄ変換器３２は、クロック発生
器４５からのクロックに同期したタイミングで、入力信
号をサンプリングホールドして量子化する。Ａ／Ｄ変換
器３２の出力はメモリ３３に時系列に格納された後、重
心演算回路３４へ送られる。重心演算回路３４は、クロ
ック周期より短い時間単位で受光時点ｔｐ１を特定して
測定精度を高めるために設けられており、次の式で表さ
れる時間重心ｉｐをデータＤ３０として算出する。
重心演算の概念図である。受信処理回路３０は、信号セ
レクタ３１、Ａ／Ｄ変換器３２、メモリ３３、及び重心
演算回路３４からなる。強度の異なるパルス光Ｐ１，Ｐ
２のそれぞれを光電変換した受信信号Ｓ２５，Ｓ２６の
一方が信号セレクタ３１によって選択され、Ａ／Ｄ変換
器３２へ送られる。Ａ／Ｄ変換器３２は、クロック発生
器４５からのクロックに同期したタイミングで、入力信
号をサンプリングホールドして量子化する。Ａ／Ｄ変換
器３２の出力はメモリ３３に時系列に格納された後、重
心演算回路３４へ送られる。重心演算回路３４は、クロ
ック周期より短い時間単位で受光時点ｔｐ１を特定して
測定精度を高めるために設けられており、次の式で表さ
れる時間重心ｉｐをデータＤ３０として算出する。
【００１７】
【数１】
【００１８】図８のとおり、時間重心ｉｐは、パルス光
の受光量を周期的にサンプリングして得られた所定数ｎ
（図ではｎ＝３０）の受光データの分布における時間軸
上の重心であって、受光量が最大となるピーク時点に相
当する。
の受光量を周期的にサンプリングして得られた所定数ｎ
（図ではｎ＝３０）の受光データの分布における時間軸
上の重心であって、受光量が最大となるピーク時点に相
当する。
【００１９】図９は信号セレクタの動作を説明するため
の図である。信号セレクタ３１は、受信信号Ｓ２５，Ｓ
２６のピーク値Ｖｐ１，Ｖｐ２を検出し、ピーク値Ｖｐ
１，Ｖｐ２と閾値Ｖｍａｘとを比較する。図９（ａ）の
ようにＶｐ１＜Ｖｍａｘの場合（すなわち遠距離測定
時）には、受信信号Ｓ２６よりのノイズの影響の少ない
受信信号Ｓ２５を出力として選択する。図９（ｂ）のよ
うにＶｐ１＞Ｖｍａｘの場合（すなわち近距離測定時で
受光素子２１が飽和している状態）には受信信号Ｓ２５
を選択する。重心演算及びピーク検出のどちらであって
も、受信信号が飽和していると正確に受信時点ｔｐ１を
特定することができない。
の図である。信号セレクタ３１は、受信信号Ｓ２５，Ｓ
２６のピーク値Ｖｐ１，Ｖｐ２を検出し、ピーク値Ｖｐ
１，Ｖｐ２と閾値Ｖｍａｘとを比較する。図９（ａ）の
ようにＶｐ１＜Ｖｍａｘの場合（すなわち遠距離測定
時）には、受信信号Ｓ２６よりのノイズの影響の少ない
受信信号Ｓ２５を出力として選択する。図９（ｂ）のよ
うにＶｐ１＞Ｖｍａｘの場合（すなわち近距離測定時で
受光素子２１が飽和している状態）には受信信号Ｓ２５
を選択する。重心演算及びピーク検出のどちらであって
も、受信信号が飽和していると正確に受信時点ｔｐ１を
特定することができない。
【００２０】以上の実施形態では、光路統一及び光路分
岐にプリズムを用いた例を挙げたが、光ファイバーのス
ターカプラを用いてもよい。光源の数は２に限らず、３
個以上の光源を用いればより広範囲の測定が可能とな
る。また、投射角度を変更し又は投射の起点を平行移動
させる走査機構を設け、２方向の走査を行うことによ
り、３次元形状の計測が可能である。
岐にプリズムを用いた例を挙げたが、光ファイバーのス
ターカプラを用いてもよい。光源の数は２に限らず、３
個以上の光源を用いればより広範囲の測定が可能とな
る。また、投射角度を変更し又は投射の起点を平行移動
させる走査機構を設け、２方向の走査を行うことによ
り、３次元形状の計測が可能である。
【００２１】
【発明の効果】請求項１又は請求項２の発明によれば、
測定距離の大小に係わらず一定の精度を確保し且つ測定
の高速化を図ることができる。
測定距離の大小に係わらず一定の精度を確保し且つ測定
の高速化を図ることができる。
【図１】本発明に係る測距装置の全体構成図である。
【図２】送信光学系のブロック図である。
【図３】投射動作のタイムチャートである。
【図４】光路統一部の具体例を示す図である。
【図５】受信光学系のブロック図である。
【図６】光路分岐部の具体例を示す図である。
【図７】受信処理回路のブロック図である。
【図８】重心演算の概念図である。
【図９】信号セレクタの動作を説明するための図であ
る。
る。
１ 測距装置 Ｐ１，Ｐ２ パルス光 １０ 送信光学系（投光手段） ２０ 受信光学系（受光手段） ｔｐ０ 時点（投射時点） ｔｐ１ 時点（受光時点） Ｔａ 光伝搬時間（時間） ＤＬ 距離データ（対物間距離データ） １１１，１２１ 光源 １３ 光路統一部（光学部材） ４０ コントローラ（投射制御手段） ２８ 光路分岐部（分光手段） λ１，λ２ 発光波長 ２１，２２ 受光素子（光電変換デバイス）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杭迫 真奈美 大阪府大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 八木 史也 大阪府大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 井手 英一 大阪府大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 近藤 尊司 大阪府大阪市中央区安土町二丁目３番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 Ｆターム(参考） 2F065 AA06 DD03 FF31 GG04 JJ05 LL04 LL46 2F112 AD01 5J084 AA05 AD01 BA03 BA12 BA19 BA36 BA38 BB02 BB04 BB11 BB24 CA03 CA57 CA61 CA70 DA09 EA04
Claims (2)
- 【請求項１】外部へパルス光を投射する投光手段と、外
部で反射した前記パルス光を受光して光電変換をする受
光手段とを備え、前記パルス光の投射時点から受光時点
までの時間を測定して対物間距離データを出力する測距
装置であって、 前記投光手段は互いに異なる波長のパルス光を射出する
複数の光源と、当該複数の光源のそれぞれから射出され
たパルス光の光軸を一致させる光学部材とを有し、 前記受光手段は、前記複数の光源のそれぞれから射出さ
れたパルス光を分離する分光手段と、分離されたパルス
光のそれぞれに１個ずつ対応する複数の光電変換デバイ
スとを有し、 前記複数の光源を互いに異なる出力強度で同時又は順に
発光させて投射を行い、前記複数の光電変換デバイスの
出力信号のうち、ピーク値が適正範囲内で最も大きい出
力信号に基づいて前記受光時点を検出することを特徴と
する測距装置。 - 【請求項２】前記パルス光をその光軸の向き又は位置を
変更して複数回投射し、複数回分の前記対物間距離デー
タを形状データとして出力する請求項１記載の測距装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11074838A JP2000266852A (ja) | 1999-03-19 | 1999-03-19 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11074838A JP2000266852A (ja) | 1999-03-19 | 1999-03-19 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000266852A true JP2000266852A (ja) | 2000-09-29 |
Family
ID=13558887
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11074838A Pending JP2000266852A (ja) | 1999-03-19 | 1999-03-19 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000266852A (ja) |
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- 1999-03-19 JP JP11074838A patent/JP2000266852A/ja active Pending
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20050615 |
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