JP2000294868A - 半導体レーザモジュール及び半導体レーザモジュールに用いられるペルチェモジュール - Google Patents

半導体レーザモジュール及び半導体レーザモジュールに用いられるペルチェモジュール

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高出力、高環境温度下で使用可能な半導体レ
ーザモジュールを提供する。 【解決手段】 半導体レーザ素子13が固定された基板
16がパッケージ11に固定されたペルチェモジュール
12の冷却側基板に固定される際に、半導体レーザ素子
13はペルチェモジュール12の略中央部に配置されて
固定される。このペルチェモジュール12は、周辺部が
中央部よりも吸熱量が大きくなっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザモジ
ュール、特に高温環境下での使用に適した半導体レーザ
モジュールおよび半導体レーザモジュールに適したペル
チェモジュールに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体レーザは、光通信において
信号用光源や光ファイバ増幅器の励起用光源として大量
に用いられるようになってきた。半導体レーザが光通信
において信号用光源や励起用光源として用いられる場合
には、半導体レーザからのレーザ光を光ファイバに光学
的に結合させたデバイスである半導体レーザモジュール
として使用される場合が多い。
【0003】図6は、このような半導体レーザモジュー
ルの構造の一例を示したものである。図6に示す半導体
レーザモジュール40は、パッケージ11内においてペ
ルチェモジュール42がパッケージ底板11aに固定さ
れている。このペルチェモジュール42の上には半導体
レーザ素子13とサーミスタ14及びレンズ15を固定
した基板16が固定されている。また、パッケージ11
の側壁11bに設けられた貫通孔11cには、光ファイ
バ17が固定されている。図6において50はヒートシ
ンクである。
【0004】この半導体レーザモジュール40は、半導
体レーザ素子13から出射されたレーザ光がレンズ15
により集光され、光ファイバ17の端面に入射されてこ
れが光ファイバ17内を導波し所望の用途に供される。
【0005】半導体レーザモジュール40は、半導体レ
ーザ素子13を駆動するために電流を流すと発熱により
半導体レーザ素子13の温度が上昇する。この温度上昇
は半導体レーザ素子13の発振波長と光出力の変化を引
き起こす原因となる。
【0006】このため、半導体レーザ素子13の近傍に
固定されたサーミスタ14により半導体レーザ素子13
の温度を測定し、この測定値を用いてペルチェモジュー
ル42に流す電流を制御することによって半導体レーザ
素子13の温度を一定に保つことでその特性を安定化し
ている。
【0007】半導体レーザモジュール40に使用される
ペルチェモジュール42は、一般に図7に示すように、
P型半導体であるP型熱電変換素子18と、N型半導体
であるN型熱電変換素子19とが交互に並べられて2枚
の例えばセラミックからなる絶縁層12a、12bの間
に配置され、P型熱電変換素子18とN型熱電変換素子
19とが電気的に直列に接続されている。このP型熱電
変換素子18とN型熱電変換素子19に直流電圧を印加
することによって絶縁層12a、12bの表面に発熱又
は吸熱を生ぜしめることにより対象物の加熱又は冷却が
行われる。
【0008】図7(a)は、ペルチェモジュール42の
断面を示したもので、このペルチェモジュール42は、
アルミナ又は窒化アルミからなる2枚のセラミック製の
絶縁基板12a、12bの間に、P型熱電変換素子18
とN型熱電変換素子19が挟持されている。これらの熱
電効果素子18、19が絶縁基板12a、12bの表面
に形成された電極12cにより電気的に接続されてい
る。
【0009】図7(b)は、絶縁基板12a、12bを
省略して図示したペルチェモジュール42の斜視図であ
る。ペルチェモジュール42は、多数の熱電変換素子1
8、19が絶縁基板12a及び12b上に二次元的に均
一に配置して形成されている。
【0010】図7(c)は、各熱電効果素子18、19
の電気的接続を示すもので、P型熱電変換素子18とN
型熱電変換素子19とがそれぞれ交互に直列に接続され
ている。
【0011】接続される熱電素子18、19の数は、用
途に応じて種々あるが、例えばP型熱電変換素子18と
N型熱電変換素子19の対数が20乃至40対のものが
半導体レーザモジュール用として一般に用いられてい
る。
【0012】このようなペルチェモジュール42は次の
ようにして製造される。まず、ビスマス(Bi)及びテ
ルル(Te)を主成分とする原料粉末から単結晶法やホ
ットプレス法によりインゴットを作製し、これをチップ
状に切断してP型熱電変換素子18とN型熱電変換素子
19を作製する(例えば、特開平1−202343号公
報や特開平1−106478号公報に開示されている公
知の技術)。
【0013】次に、図8(a)に示すように、絶縁基板
12aの上に複数の電極12cを設けると共に各電極1
2cの上に半田ペースト12eを塗布する。次に図8
(b)に示すように各電極12cの上に上記のチップ状
のP型熱電変換素子18を一つずつ載置する。その後図
8(c)に示すように各電極12cの上に上記のチップ
状のN型熱電変換素子19を一つずつ載置することによ
って、P型熱電変換素子18とN型熱電変換素子19を
交互に配置する。
【0014】そして、上記の図8(a)と同様にして絶
縁基板12bの上に複数の電極12cを設けると共に各
電極12cの上に半田ペースト12eを塗布し、この絶
縁基板を図8(d)に示すようにP型熱電変換素子18
とN型熱電変換素子19を載置した絶縁基板12aの上
に、相互の電極12cが互いに跨がるように配置して、
下の絶縁基板12aの電極12c上のP型熱電変換素子
18とN型熱電変換素子19にそれぞれ上の絶縁基板1
2bの隣合う電極12cを重ねる。
【0015】この状態で、図示していない半田リフロー
炉内で半田ペースト12eをリフローすることによっ
て、P型熱電変換素子18とN型熱電変換素子19を二
枚の絶縁基板12a、12b間に接合すると共に、P型
熱電変換素子18とN型熱電変換素子19を電極12c
を介して電気的に直列に接続して、図8(e)に示すよ
うなペルチェモジュール42が製造される。
【0016】ペルチェモジュールに通電することによ
り、加熱、冷却作用が生じる理由は、次のように説明さ
れる。すなわち、図7(a)に示すようにペルチェモジ
ュール42に外部より直流電圧を印加すると、P型熱電
変換素子18とN型熱電変換素子19とは2枚の絶縁基
板12a、12bによって挟持されかつ電気的には交互
に直列接続されているために、P型熱電変換素子18中
では絶縁基板12aから絶縁基板12bに向かって、ま
たN型熱電変換素子19中では12bから12aに向か
って電流が流れる。
【0017】しかし、P型熱電変換素子18中では正孔
が多数キャリアであり、N型熱電変換素子19中では電
子がそれぞれ多数キャリアである。この電流を担う粒子
の移動はともに絶縁基板12aから12bに向かう方向
に起こる。一方、この電流を担う正孔及び電子は、熱の
移動をも担うものでもある。このため、電流がP型熱電
変換素子18中とN型熱電変換素子19中とで互いに反
対の方向に流れるのに対して、熱の流れは常に一方向に
起こることとなり、かくしてペルチェモジュール42の
一方の面では冷却が、他方の面では加熱が起こるのであ
る。
【0018】このようなペルチェモジュール42を有す
る図6に示す半導体レーザモジュール40の作動中の熱
的な環境について以下に説明する。
【0019】半導体レーザモジュール40が光ファイバ
増幅器等の通信機器内に搭載され使用される場合、同時
に搭載される他の半導体レーザモジュールや電気回路素
子等の発熱、及びその通信機器がおかれる場所の環境に
より、常温よりも高い環境温度で使用されることが多
い。このため、半導体レーザモジュール40は、排熱効
率の高い状態で使用するため、通常ヒートシンク50に
固定されて使用される。
【0020】図9は、半導体レーザモジュール40が、
ヒートシンク50に固定されて使用される場合の熱的な
環境を模式的に表した図で同図においては説明上の関係
でレンズ15や光ファイバ17などは省略して描いてあ
る。
【0021】図9に示すように、半導体レーザモジュー
ル40の置かれる環境温度がTa、ヒートシンク50の
温度がThsとする。ここで、サーミスタ14の温度(サ
ーミスタ温度)Tsを一定に保ちつつ半導体レーザ素子
13に電流を供給すると、半導体レーザ素子13から発
生した熱量QLDは、基板16を伝導してペルチェモジュ
ール42の冷却側の絶縁基板12aに達し、続いて加熱
側の絶縁基板12bに向かって排熱される。
【0022】同時に、ペルチェモジュール42に電流が
流れていることによるペルチェモジュール自身の発熱量
QTMも絶縁基板12bに排熱される。そして、この熱量
(QLD+QTM)が、パッケージ11の底板11aを経て
ヒートシンク50に排熱される。
【0023】ペルチェモジュール42の冷却側の絶縁基
板12a、加熱側の絶縁基板12bの温度をそれぞれT
c、Th、半導体レーザ素子13と冷却側の絶縁基板12
aとの間の熱抵抗をK1、加熱側の絶縁基板12bとヒ
ートシンク50の間の熱抵抗をK2とすると、 Th=Ths+K2(QLD+QTM)・・・・・・(1) Tc=Ts −K1QLD・・・・・・・・・・・・(2) なる関係があるから、ペルチェモジュール42の絶縁基
板12a,12b間の温度差△T=Th−Tcは、 △T=(Ths−Ts)+(K1+K2)QLD+K2 QTM・・・(3) と表せる。
【0024】(3)式において、右辺第一項の(Ths−
Ts)は、半導体レーザモジュール40として使用され
る場合の内外温度差を意味する。
【0025】すなわち、(1)式より加熱側の絶縁基板
12bとヒートシンク50の間に熱抵抗K2が存在する
ことにより、ペルチェモジュール42の加熱側基板12
bの温度Thは、ヒートシンクの温度Thsに比べてK2
(QLD+QTM)だけ高くなる。
【0026】また、(2)式より半導体レーザ素子13
と冷却側の絶縁基板12aとの間に熱抵抗をK1が存在
することにより、冷却側の絶縁基板12aの温度Tc
は、サーミスタ温度(半導体レーザ素子の温度)Tsに
比べてK1 QLDだけ低くなる。
【0027】これらによって、半導体レーザモジュール
40として使用する場合の内外温度差(Ths−Ts)
は、ペルチェモジュール42の絶縁基板間の温度差△T
に比べて(K1+K2)QLD+K2 QTMだけ小さくなるの
である。
【0028】
【発明が解決しようとする課題】ところで、最近、上記
の半導体レーザモジュールは、システム全体の高出力化
に伴い、光出力の高出力化と高環境温度下での動作が要
求されるようになってきた。
【0029】半導体レーザモジュール高出力化のために
半導体レーザ素子を高出力化すると、必然的にその発熱
量(QLD)が増加する。このような高出力半導体レーザ
モジュールを、高温環境下で使用するためには、半導体
レーザ素子からの発熱を従来よりも効率よく排熱しなけ
ればならない。
【0030】ところが、前述した従来の半導体レーザモ
ジュールでは、次に述べるような問題があった。
【0031】図9に示す半導体レーザモジュール40に
より説明すれば、半導体レーザ素子13から発生した熱
量QLDは、基板16、ペルチェモジュール42、パッケ
ージ底板11aを経てヒートシンク50に排熱される。
【0032】ここで、半導体レーザモジュール40全体
の厚さは機器への実装上の理由により所定の厚さに薄く
設計されるため、基板16及びパッケージ底板11aも
薄く設計される。このため、半導体レーザ素子13から
発生した熱QLDが基板16を厚さ方向に伝導する間、及
びパッケージの底板11aを通過してヒートシンク50
に排熱されるまでの間に、横方向(ペルチェモジュール
の絶縁基板12a又は12bの面と平行な方向)には十
分広がらない。
【0033】また、ペルチェモジュール42による熱の
移動は、熱電変換素子内部の正孔及び電子を介したもの
であるから原理的に横方向に広がることはない。
【0034】すなわち、半導体レーザ素子13から発生
した熱量QLDは、半導体レーザ素子の直下及びその近傍
に集中して流れて外部に排出されることになる。このた
め、この排出される熱の経路の実効的な熱抵抗は、熱が
十分に広がって均一に排熱されると仮定した場合に比べ
て大きくなる。
【0035】これは、(1)式乃至(3)式においてK
1及びK2の実効的な値が大きいことを意味する。このよ
うに排熱の実効的な熱抵抗の大きな状況で半導体レーザ
モジュールを使用する場合には、この熱抵抗によって生
じる温度差が、均一に排熱されると仮定した場合に比べ
て大きくなるのである。
【0036】そしてこの温度差は、半導体レーザ素子1
3から発生する熱量QLDが大きくなるほど、また半導体
レーザモジュール40がより高い環境温度下で使用され
る場合(QTMが大きい場合)ほど顕著になる。
【0037】このような状況の下で半導体レーザモジュ
ール40を使用すると、ペルチェモジュール42の加熱
側・冷却側の絶縁基板12a、12b間の温度差△Tが
非常に大きくなり、ペルチェモジュール42の負荷が大
きくなってその消費電力が増大し、これがさらに環境温
度を高くするという悪循環を引き起こす。
【0038】したがって、半導体レーザモジュールを高
出力化し、またより高温環境下で使用するためには、半
導体レーザ素子13からヒートシンク50に至る熱の流
れを均一化することが必要である。このためには、基板
16やパッケージの底板11a等、排熱の経路上に存在
する部品の厚さを厚くすることで、横方向への熱の拡散
が起こるようにすればよいが、上記したように部品の厚
さは半導体レーザモジュールの機器への実装条件によっ
て制約されるため、このような方策は事実上採用するこ
とができない。
【0039】本発明は、上記した従来の半導体レーザモ
ジュールが有する排熱の問題を解決するためになされた
ものであり、その目的は、半導体レーザモジュールに用
いられる部品の厚さを厚くすることなく半導体レーザ素
子からヒートシンクに至る熱の流れを均一化することで
ヒートシンクとペルチェモジュールの加熱側基板の温度
差及びサーミスタとペルチェモジュールの冷却側基板の
温度差を小さくし、もってペルチェモジュールの負荷を
軽減し、その消費電力を小さくするとともに、より高い
光出力で、かつより高い環境温度下で使用可能な半導体
レーザモジュールを提供することにある。
【0040】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は次のような構成をもって課題を解決するた
めの手段としている。
【0041】すなわち、半導体レーザモジュールの本第
1の発明は、半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ素
子を載置した基板と、前記半導体レーザ素子から出射さ
れる光を受光する光ファイバと、前記半導体レーザ素子
と前記光ファイバの間に介設され前記半導体レーザ素子
から出射されるレーザ光を前記光ファイバに光学的に結
合する光結合手段と、前記半導体レーザ素子を載置した
前記基板を冷却するペルチェモジュールと、前記半導体
レーザ素子、前記基板、前記ペルチェモジュールを収容
するパッケージを有する半導体レーザモジュールであっ
て、前記半導体レーザ素子は前記ペルチェモジュールの
略中央部上方に配置されるとともに、前記ペルチェモジ
ュールの吸熱量は略中央部において小さく、周辺部で大
きくなるように形成されている構成をもって課題を解決
する手段としている。
【0042】また、半導体レーザモジュールの本第2の
発明は、半導体レーザ素子と、該半導体レーザ素子を載
置した基板と、該基板を冷却するペルチェモジュール
と、前記半導体レーザ素子、前記基板および前記ペルチ
ェモジュールを収容するパッケージとを有する半導体レ
ーザモジュールであって、前記基板、ペルチェモジュー
ル、該ペルチェモジュールを載置したパッケージの底板
を含んで形成された、前記半導体レーザ素子からの熱を
排熱する排熱経路の少なくとも一部分には、前記半導体
レーザ素子から前記ペルチェモジュールに向かう方向よ
りも該方向に垂直な方向の熱の熱伝導率が高い熱拡散部
が形成されている構成をもって課題を解決する手段とし
ている。
【0043】また、半導体レーザモジュールの本第3の
発明は、上記第2の発明の構成に加え、前記パッケージ
の底板にはペルチェモジュール固定領域に熱拡散部が形
成され、該熱拡散部として繊維強化複合材が用いられて
おり、かつ、ペルチェモジュール固定領域よりも外側に
は通気性のない気密保持部が形成されている構成をもっ
て課題を解決する手段としている。
【0044】また、半導体レーザモジュールの本第4の
発明は、上記第1乃至第3のいずれか一つの発明の構成
に加え、前記ペルチェモジュールはP型及びN型の複数
の熱電変換素子対と、前記複数の熱電変換素子対を挟持
する2枚のセラミック板を有し、複数の熱電変換素子対
がセラミック板上において周辺部が略中央部よりも密に
配列されている構成をもって課題を解決する手段として
いる。
【0045】また、半導体レーザモジュールの本第5の
発明は、上記第1乃至第4のいずれか一つの発明の構成
に加え、前記ペルチェモジュールはP型及びN型の複数
の熱電変換素子対と、前記複数の熱電変換素子対を挟持
する2枚のセラミック板を有し、複数の熱電変換素子対
は、個々の熱電変換素子対が電気的に直列に接続された
第一の部分と複数個の熱電変換素子対が並列に接続され
た第二の部分とから成り、第一の部分に対応する熱電変
換素子対が前記セラミック板の周辺部に配置され第2の
部分に対応する熱電変換素子対が前記セラミック板の略
中央部に配置されている構成をもって課題を解決する手
段としている。
【0046】また、ペルチェモジュールの本第1の発明
は、吸熱量が略中央部において小さく、周辺部で大きい
構成をもって課題を解決する手段としている。
【0047】また、ペルチェモジュールの本第2の発明
は、上記第1の発明に加え、P型及びN型の複数の熱電
変換素子対と、前記複数の熱電変換素子対を挟持する2
枚の絶縁層を有し、前記複数の熱電変換素子対が絶縁層
間において周辺部が略中央部よりも密に配列されている
構成をもって課題を解決する手段としている。
【0048】また、ペルチェモジュールの本第3の発明
は、上記第1の発明に加え、P型及びN型の複数の熱電
変換素子対と、前記複数の熱電変換素子対を挟持する2
枚の絶縁層を有し、前記複数の熱電変換素子対は、個々
の熱電変換素子対が電気的に直列に接続された第一の部
分と複数個の熱電変換素子対が並列に接続された第二の
部分とから成り、第一の部分に対応する熱電変換素子対
が前記絶縁層間の周辺部に配置され第2の部分に対応す
る熱電変換素子対が前記絶縁層絶縁層間の略中央部に配
置されている構成をもって課題を解決する手段としてい
る。
【0049】上記構成の本発明においては、ペルチェモ
ジュールの吸熱量が半導体レーザ素子の配置された略中
央部と比較して周辺部で大きくなるように形成されてい
るため、半導体レーザ素子の固定された基板上の温度分
布が、周辺部分でより低くなり、したがって、基板上に
おいて略中央部から周辺部分に向かって温度勾配に基づ
く熱の移動がより効果的に起こる。
【0050】また、半導体レーザ素子を固定した基板の
ペルチェモジュールの冷却面と平行な面内の熱伝導率
が、ペルチェモジュールの冷却面と垂直な方向の熱伝導
率よりも大きい構成とすると、基板上において略中央部
から周辺部分に向かう熱の移動量を多くすることが可能
になる。
【0051】さらに、ペルチェモジュールの加熱側基板
が固定されたパッケージの底板や底板のペルチェモジュ
ール固定領域に設けた繊維強化複合材のペルチェモジュ
ールの加熱面と平行な面内の熱伝導率が、垂直な方向の
熱伝導率よりも大きい構成とすると、パッケージの底板
上において略中央部から周辺部分に向かう熱の移動量を
多くすることが可能になる。
【0052】このため、半導体レーザ素子から発生する
熱が、ペルチェモジュールの絶縁基板面と平行な面内に
おいて、より均一な状態で排熱されることとなるため、
排熱経路の実効的な熱抵抗が小さくなって上記課題が解
決される。
【0053】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。なお、本実施の形態例の説
明において、従来例と同一名称部分には同一符号を付
し、その重複説明は省略する。
【0054】図1は、本発明に係る半導体レーザモジュ
ールの実施形態例を適用する一例を示すものである。
【0055】図1に示すように、本実施形態例の半導体
レーザモジュール10は、半導体レーザ素子13が基板
16に固定されている。(なお、図示していないが、半
導体レーザ素子13はAlN(窒化アルミ)等のヒート
シンクを介して基板16に固定されていてもよい)。ま
た基板16は、パッケージ11の底板11a上に半田固
定されたペルチェモジュール12の上に半導体レーザ素
子13がペルチェモジュール12の略中央部の上部に配
置される位置で半田固定されている。
【0056】パッケージ11の側壁11bの貫通孔11
cには、光ファイバ17が固定されている。この光ファ
イバ17は、基板16上に固定されたレンズにより集光
された半導体レーザ素子13からの光が結合される位置
に固定されている。
【0057】また、基板16上には、半導体レーザ素子
13の近傍にサーミスタ14が固定されている。この半
導体レーザモジュール10では、基板16、ペルチェモ
ジュール12、パッケージ11の底板11aを含んで、
半導体レーザ素子13からの熱を排熱する排熱経路が形
成されている。
【0058】ここで、本発明に係る半導体レーザモジュ
ール10に使用されるペルチェモジュール12は、半導
体レーザ素子13の真下にあたる略中央部の吸熱量に比
べて周辺部の吸熱量が大きくなっている。図2は、この
ペルチェモジュール12の加熱側基板12b及び冷却側
基板12a上における熱電変換素子の配置と電極のパタ
ーンの一例を示したものである。
【0059】図2(a)は加熱側基板12bを冷却側基
板12aから見た図、図2(b)は、冷却側基板12a
を加熱側基板12bから見た図である。
【0060】図2の(a)、(b)においてP型熱電変
換素子18及びN型熱電変換素子19は、周辺部ほど密
に中心部ほど疎に配列され、これらが電極12cによっ
て直列に接続されている。ここで、各熱電変換素子1
8、19に流れる電流はすべて同じであるから、熱電変
換素子18、19が冷却側基板12aから加熱側基板1
2bへ運ぶ熱量は、P型熱電変換素子18及びN型熱電
変換素子19それぞれにおいてすべて等しい。従って、
熱電変換素子18、19が密に配置されている周辺部ほ
ど吸熱量が大きく、熱電変換素子18、19が疎に配置
されている中心部ほど吸熱量が小さいペルチェモジュー
ル12となる。
【0061】なお、このようなペルチェモジュール12
は、絶縁基板12a、12b上の電極パターンの形成位
置及び熱電変換素子の配置を変更する点を除き、従来よ
り公知のペルチェモジュールの作製方法と同一の方法で
作製可能である。
【0062】また、図3は、本発明の半導体レーザモジ
ュールに使用されるペルチェモジュール22の加熱側基
板12b及び冷却側基板12a上における熱電変換素子
18、19の配置と電極のパターンの他の例を示したも
のである。図3(a)は加熱側基板12bを冷却側基板
12aから見た図、図3(b)は、冷却側基板12aを
加熱側基板12bから見た図、また図4は、図3に示す
ペルチェモジュール22の各熱電変換素子18、19の
電気的な配線を示した図である。本実施形態において
は、熱電変換素子は2次元的に均一に配置固定されてい
る。熱電変換素子18、19の電気的接続は、図4に示
すように、P型電変換素子18及びN熱電変換素子19
が直列に接続された第1の部分20と、並列に接続され
た第2の部分21とがあり、これらの各部分が、図3
(a)及び図3(b)のように、第1の部分20が周辺
部に、第2の部分21が略中央部に配置してなってい
る。
【0063】このようなペルチェモジュール22におい
ては、第2の部分21にある熱電変換素子1個当たりに
流れる電流は、第1の部分20にある熱電変換素子1個
当たりに流れる電流に比べて小さいため、第2の部分2
1にある熱電変換素子1個当たりが運ぶ熱量は、第1の
部分20にある熱電変換素子1個当たりが運ぶ熱量に比
べて小さい。したがって、第1の部分20の熱電変換素
子18、19が周辺部に、第2の部分の熱電変換素子1
8、19が略中央部に配置されていることにより、吸熱
量が略中央部において小さく、周辺部で大きいペルチェ
モジュール22ができる。
【0064】図2(又は図3)に示した吸熱量が略中央
部において小さく周辺部で大きいペルチェモジュール1
2(又はペルチェモジュール22)を半導体レーザモジ
ュール10に使用する場合には、半導体レーザ素子13
をペルチェモジュール12(又はペルチェモジュール2
2)の略中央部に配置するのが望ましい。
【0065】すなわち、ペルチェモジュール12(又は
ペルチェモジュール22)の吸熱量が半導体レーザ素子
13の固定された略中央部と比較して周辺部で大きくな
るように形成されているため、従来のペルチェモジュー
ル42を使用した場合に比べて、半導体レーザ素子13
の固定された基板16上の温度分布が、半導体レーザ素
子13の周辺部分でより低くなる。
【0066】したがって、基板16上において半導体レ
ーザ素子13が固定された略中央部から周辺部分に向か
って温度勾配に基づく熱の移動がより効果的に起こる。
【0067】この結果、排熱の流れを周辺部にまで広げ
ることが可能となり、排熱経路の実効的な熱抵抗が小さ
くなる。そして、ペルチェモジュール12(又はペルチ
ェモジュール22)の加熱側基板12bと冷却側基板1
2aの温度差が小さくなってペルチェモジュール12
(又はペルチェモジュール22)の負荷が低減され、よ
り高温動作の可能な、また消費電力の小さい半導体レー
ザモジュール10となる。
【0068】また、本実施形態の半導体レーザモジュー
ル10に使用されるペルチェモジュールは、図2又は図
3に示したペルチェモジュール12又はペルチェモジュ
ール22の形態のものに限定されず、吸熱量が略中央部
において小さく、周辺部で大きいものであれば、上記の
作用を奏することができることはいうまでもない。
【0069】例えば、図4に示す熱電変換素子18、1
9の配線方法としては、直列・並列の接続方法を種々組
み合わせることも可能であることはいうまでもない。
【0070】さらに、本発明では、ペルチェモジュール
の冷却面と平行な面内の熱伝導率がペルチェモジュール
の冷却面と垂直な方向の熱伝導率よりも大きい(すなわ
ち半導体レーザ素子からペルチェモジュールに向かう方
向よりも、それに垂直な方向の熱伝導率が大きい)熱伝
導異方性を有する材料で半導体レーザ素子13を固定す
る基板16を作製することによっても、半導体レーザ素
子13からの熱を横方向に効率的に広げることが可能と
なり、これによって上記した作用と同様の作用を得るこ
とができる。
【0071】このような熱伝導異方性を有する基板16
の材料としては、金属をマトリクスとする繊維強化複合
材を使用することができる。このような複合材として
は、例えばカーボン(C)、アルミナ(Al2O
3 )、シリコンカーバイト(SiC)等を分散材と
し、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、タングステン
(W)、アルミニウム(Al)、チタン(Ti)等をマ
トリクスとするものが知られている。
【0072】このような複合材の製法は、例えば銅もし
くは銅合金をマトリクスとしカーボン繊維を分散材とす
る複合材としては、次のようなものがある。すなわち、
銅粉末若しくは銅合金粉末、モリブデン粉末又はタング
ステン粉末若しくはこれらの混合物の粉末を、炭素及び
/又は黒鉛質の繊維とともにボールミル等の方法で混合
し、この原料混合物をプレスして混合物の圧縮成型物を
得、これをさらに熱間静水圧加圧によって一軸方向に圧
縮する。このようにして作製された複合材料では、炭素
及び/又は黒鉛質からなる繊維が金属マトリクスに圧縮
方向に垂直な2次元面方向にランダムに配向する。な
お、このような複合材料およびその製法に関しては、例
えば特開平11―140559に開示されている。
【0073】上記の複合材料を用いて、基板16の上
面、下面がこの炭素繊維の配向面と平行になるように形
成することによりペルチェモジュール12の冷却面と平
行な面内の熱伝導率がペルチェモジュール12の冷却面
と垂直な方向の熱伝導率よりも大きいような熱伝導異方
性を有する基板が得られる。なお、基板16の全部を上
記の複合材料で形成する必要はなく、その一部を上記の
複合材料で形成するだけでも十分効果は得られる。
【0074】基板16全体を複合材で形成したもので
は、ペルチェモジュール12の冷却面と平行な面内、及
び垂直な方向の熱伝導率は、それぞれ例えば約250W
/mK、100W/mKのようなものが得られる。な
お、繊維の配向の方向を2次元でなく1次元的にするこ
とも可能であり、この場合にはさらに大きな熱伝導異方
性が得られる。
【0075】また、上記熱伝導異方性材料として、例え
ばアドバンストセラミックス社(アメリカ合衆国)から
販売されているような熱伝導異方性を有するカーボン材
料も利用できる。このようなカーボン材料としては、最
大の熱伝導率が1700W/mK程度のものも入手可能
であり、このようなカーボン材料に金属被覆を施した
り、ペルチェモジュール12の絶縁基板であるアルミナ
や窒化アルミ等と熱膨張率が近いSiC/Al(熱膨張
率6.7ppm/℃)を前記カーボン材料に被覆したり
することにより、本発明に好適に適用できる。
【0076】そして、上記のような熱伝導異方性を有す
る基板16を使用することにより、半導体レーザ素子1
3から発生した熱が効率よくペルチェモジュール12の
冷却面に平行な方向に広がるため、排熱の実効的な熱抵
抗が小さくなる。この結果ペルチェモジュール12の負
荷が軽減し、高温環境下でも動作可能で、消費電力の少
ない半導体レーザモジュール10ができる。さらに、こ
のような熱伝導異方性を有する材料で作製された基板1
6を、上記した吸熱量が略中央部において小さく、周辺
部で大きいペルチェモジュール12と同時に使用すれ
ば、本発明の効果はさらに顕著になる。
【0077】さらに、半導体レーザ素子13を固定した
基板16のほか、パッケージ11の底板11aをこのよ
うな熱伝導異方性を有する材料を使用して、ペルチェモ
ジュール12の加熱面と平行な面内の熱伝導率がペルチ
ェモジュール12の加熱面と垂直な方向の熱伝導率より
も大きいように作製すれば、本発明の効果はさらに顕著
となる。
【0078】なお、上記のような熱伝導異方性を有する
材料として、例えば銅又は銅合金をマトリクスとしてカ
ーボンの分散材を配列したCu−C等の繊維強化複合材
により底板11aを形成すると、パッケージ11の気密
を得ることができないことが考えられる。それというの
は、上記のような繊維強化複合材は、分散材の配列状態
に応じて形成される孔に起因する微細な孔を有し、通気
性を有しているからである。
【0079】そこで、例えば図5の(a)、(b)に示
すように、パッケージ11の底板11aのペルチェモジ
ュール12の固定領域に、Cu−C等の熱伝導異方性を
有する繊維強化複合材30を設け、この繊維強化複合材
30を銅タングステン合金(Cu−W)やコバール(F
e−Ni−Co系合金の商標)等の金属材料のような通
気性のない材料から成る板材の底板11a(本発明の気
密保持部)上に配置するとよい。すなわち、ペルチェモ
ジュール12の固定領域の外側に通気性のない気密保持
部を形成するとよい。そして、この金属材料の底板11
aに側壁11bを接着固定してパッケージ11とすれ
ば、パッケージ11の気密を確保でき、かつ、本発明の
前記効果を顕著に発揮することができる。
【0080】なお、同図の(a)に示す構成例は、底板
11aのペルチェモジュール12が固定される領域をえ
ぐり、このえぐり部分にCu−C等の板材からなる繊維
強化複合材30を埋め込んだ例であり、繊維強化複合材
30の底板11aへの固定は例えば銀鑞付けにより行わ
れる。また、同図の(b)に示す構成例は、底板11a
の上側に繊維強化複合材30を接着固定し、この繊維強
化複合材30の上にペルチェモジュール12にを固定し
た例であり、図の簡略化のために、ペルチェモジュール
12の底板11aへの固定部位周辺の構成のみ示してあ
る。
【0081】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の半導体レ
ーザモジュールによれば、ペルチェモジュールの吸熱量
が半導体レーザ素子の固定された略中央部と比較して周
辺部で大きくなるように形成されているため、半導体レ
ーザ素子の固定された基板上の温度分布が半導体レーザ
素子の周辺部分でより低くなって、基板上において半導
体レーザ素子が固定された略中央部から周辺部分に向か
って温度勾配に基づく熱の移動がより効果的に起こる。
この結果、半導体レーザモジュールの厚さを厚くするこ
となく、排出される熱の流れを周辺部にまで広げること
が可能となり、排熱経路の実効的な熱抵抗が小さくな
る。そして、ペルチェモジュールの冷却側及び加熱側の
絶縁基板の温度差が小さくなってペルチェモジュールの
負荷が低減される結果、より高温動作の可能な、また消
費電力の小さい半導体レーザモジュールが作製可能とな
る。
【0082】また、基板、ペルチェモジュール、該ペル
チェモジュールを載置したパッケージの底板を含んで形
成された、前記半導体レーザ素子からの熱を排熱する排
熱経路の少なくとも一部分には、前記半導体レーザ素子
から前記ペルチェモジュールに向かう方向よりも該方向
に垂直な方向の熱の熱伝導率が高い熱拡散部が形成され
ている本発明によれば、この熱拡散部によって効率的に
熱を拡散し、上記効果を発揮することができる。
【0083】なお、上記熱拡散部の構成例として、例え
ばペルチェモジュールの冷却面と平行な面内の熱伝導率
がペルチェモジュールの冷却面と垂直な方向の熱伝導率
よりも大きいような熱伝導異方性を有する材料で半導体
レーザ素子を固定する基板を作製する例が挙げられ、こ
のようにすると、半導体レーザ素子からの熱を横方向に
効率的に広げることが可能となり、これによって上記し
た効果と同様の効果を得ることができる。
【0084】さらに、上記熱拡散部の別の構成例とし
て、例えばペルチェモジュールを固定したパッケージの
底板が、ペルチェモジュールの加熱面と平行な面内の熱
伝導率がペルチェモジュールの加熱面と垂直な方向の熱
伝導率よりも大きいように作製する例が挙げられ、この
ようにすると、ヒートシンクに排出される熱の流れを周
辺部にまで広げることが可能となり、排熱経路の実効的
な熱抵抗が小さくなる。その結果、ペルチェモジュール
の加熱側の絶縁基板とヒートシンクとの温度差が小さく
なってペルチェモジュールの負荷が低減される結果、よ
り高温動作の可能な、また消費電力の小さい半導体レー
ザモジュールが作製可能となるのである。
【0085】さらに、パッケージの底板にはペルチェモ
ジュール固定領域に熱拡散部が形成され、該熱拡散部と
して繊維強化複合材が用いられており、かつ、ペルチェ
モジュール固定領域よりも外側には通気性のない気密保
持部が形成されている構成の本発明によれば、上記と同
様に、ヒートシンクに排出される熱の流れを周辺部にま
で広げて排熱経路の実効的な熱抵抗を小さくし、より高
温動作の可能な、また消費電力の小さい半導体レーザモ
ジュールにできる効果を発揮できると共に、パッケージ
に気密性を確実に保つことができる。
【0086】さらにまた、本発明のペルチェモジュール
によれば、吸熱量が略中央部と比較して周辺部で大きく
なっているので、例えば半導体レーザモジュールに使用
された場合に、基板上において半導体レーザ素子の固定
された略中央部から周辺部分に向かって温度勾配に基づ
く熱の移動がより効果的に起こる。
【0087】この結果、半導体レーザモジュールの厚さ
を厚くすることなく、排出される熱の流れを周辺部にま
で広げることが可能となり、排熱経路の実効的な熱抵抗
が小さくなる。
【0088】さらに、ペルチェモジュールの冷却側及び
加熱側の絶縁基板の温度差が小さくなってペルチェモジ
ュールの負荷が低減され、より高温動作の可能な、また
消費電力の小さい半導体レーザモジュールが作製可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係る半導体レーザモジュー
ルの断面図である。
【図2】本発明の実施形態に係る半導体レーザモジュー
ルに用いられるペルチェモジュールの熱電効果素子の配
置及び配線パターンを示す図で、(a)は加熱側基板を
冷却側基板から見た図、(b)は冷却側基板を加熱側基
板から見た図である。
【図3】本発明の他の実施形態に係る半導体レーザモジ
ュールに用いられるペルチェモジュールの熱電効果素子
の配置及び配線パターンを示す図で、(a)は加熱側基
板を冷却側基板から見た図、(b)は冷却側基板を加熱
側基板から見た図である。
【図4】本発明の他の実施形態に係る半導体レーザモジ
ュールに用いられるペルチェモジュールの熱電効果素子
の配線図である。
【図5】本発明の他の実施形態に係る半導体レーザモジ
ュールに用いられるペルチェモジュールの底板への固定
構造を示す説明図である。
【図6】従来の半導体レーザモジュールの断面図であ
る。
【図7】従来の半導体レーザモジュールに使用されてい
るペルチェモジュールを示す図で、(a)はペルチェモ
ジュールの断面図、(b)は上下の絶縁基板を省略して
描いた斜視図、(c)は熱電効果素子の配線図である。
【図8】ペルチェモジュールの製造方法を示す説明図で
ある。
【図9】半導体レーザモジュールの熱的な環境を説明す
るための説明図である。
【符号の説明】
10 半導体レーザモジュール 11 パッケージ 12 ペルチェモジュール 13 半導体レーザ素子 14 サーミスタ 15 レンズ 16 基板 17 光ファイバ 18 P型熱電変換素子 19 N型熱電変換素子 22 ペルチェモジュール 30 繊維強化複合材 50 ヒートシンク

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザ素子と、前記半導体レーザ
    素子を載置した基板と、前記半導体レーザ素子から出射
    される光を受光する光ファイバと、前記半導体レーザ素
    子と前記光ファイバの間に介設され前記半導体レーザ素
    子から出射されるレーザ光を前記光ファイバに光学的に
    結合する光結合手段と、前記半導体レーザ素子を載置し
    た前記基板を冷却するペルチェモジュールと、前記半導
    体レーザ素子、前記基板、前記ペルチェモジュールを収
    容するパッケージを有する半導体レーザモジュールであ
    って、前記半導体レーザ素子は前記ペルチェモジュール
    の略中央部上方に配置されるとともに、前記ペルチェモ
    ジュールの吸熱量は略中央部において小さく、周辺部で
    大きくなるように形成されていることを特徴とする半導
    体レーザモジュール。
  2. 【請求項2】 半導体レーザ素子と、該半導体レーザ素
    子を載置した基板と、該基板を冷却するペルチェモジュ
    ールと、前記半導体レーザ素子、前記基板および前記ペ
    ルチェモジュールを収容するパッケージとを有する半導
    体レーザモジュールであって、前記基板、ペルチェモジ
    ュール、該ペルチェモジュールを載置したパッケージの
    底板を含んで形成された、前記半導体レーザ素子からの
    熱を排熱する排熱経路の少なくとも一部分には、前記半
    導体レーザ素子から前記ペルチェモジュールに向かう方
    向よりも該方向に垂直な方向の熱の熱伝導率が高い熱拡
    散部が形成されていることを特徴とする半導体レーザモ
    ジュール。
  3. 【請求項3】 パッケージの底板にはペルチェモジュー
    ル固定領域に熱拡散部が形成され、該熱拡散部として繊
    維強化複合材が用いられており、かつ、ペルチェモジュ
    ール固定領域よりも外側には通気性のない気密保持部が
    形成されていることを特徴とする請求項2記載の半導体
    レーザモジュール。
  4. 【請求項4】 ペルチェモジュールはP型及びN型の複
    数の熱電変換素子対と、前記複数の熱電変換素子対を挟
    持する2枚のセラミック板を有し、複数の熱電変換素子
    対がセラミック板上において周辺部が略中央部よりも密
    に配列されていることを特徴とする請求項1乃至請求項
    3のいずれか一つに記載の半導体レーザモジュール。
  5. 【請求項5】 ペルチェモジュールはP型及びN型の複
    数の熱電変換素子対と、前記複数の熱電変換素子対を挟
    持する2枚のセラミック板を有し、複数の熱電変換素子
    対は、個々の熱電変換素子対が電気的に直列に接続され
    た第一の部分と複数個の熱電変換素子対が並列に接続さ
    れた第二の部分とから成り、第一の部分に対応する熱電
    変換素子対が前記セラミック板の周辺部に配置され第2
    の部分に対応する熱電変換素子対が前記セラミック板の
    略中央部に配置されていることを特徴とする請求項1乃
    至請求項4のいずれか一つに記載の半導体レーザモジュ
    ール。
  6. 【請求項6】 吸熱量が略中央部において小さく、周辺
    部で大きいことを特徴とするペルチェモジュール。
  7. 【請求項7】 P型及びN型の複数の熱電変換素子対
    と、前記複数の熱電変換素子対を挟持する2枚の絶縁層
    を有し、前記複数の熱電変換素子対が絶縁層間において
    周辺部が略中央部よりも密に配列されていることを特徴
    とする請求項7に記載のペルチェモジュール。
  8. 【請求項8】 P型及びN型の複数の熱電変換素子対
    と、前記複数の熱電変換素子対を挟持する2枚の絶縁層
    を有し、前記複数の熱電変換素子対は、個々の熱電変換
    素子対が電気的に直列に接続された第一の部分と複数個
    の熱電変換素子対が並列に接続された第二の部分とから
    成り、第一の部分に対応する熱電変換素子対が前記絶縁
    層間の周辺部に配置され第2の部分に対応する熱電変換
    素子対が前記絶縁層絶縁層間の略中央部に配置されてい
    ることを特徴とする請求項7に記載のペルチェモジュー
    ル。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144361A (ja) * 1999-11-10 2001-05-25 Furukawa Electric Co Ltd:The 光半導体素子用パッケージ
KR20030073207A (ko) * 2002-03-09 2003-09-19 주식회사 엘지이아이 히트싱크에 실장된 반도체 레이저 다이오드 어레이
JP2007103685A (ja) * 2005-10-05 2007-04-19 Nec Schott Components Corp レーザダイオード用ステム
JP2008034520A (ja) * 2006-07-27 2008-02-14 Daikin Ind Ltd 基板冷却装置
JP2009200209A (ja) * 2008-02-21 2009-09-03 Anritsu Corp 半導体レーザ用パッケージおよび半導体レーザモジュール
WO2011118847A1 (ja) * 2010-03-25 2011-09-29 東京エレクトロン株式会社 領域温度制御構造体
WO2013084746A1 (ja) * 2011-12-06 2013-06-13 コニカミノルタ株式会社 光半導体パッケージ、マイケルソン干渉計、およびフーリエ変換分光分析装置
JP2016042525A (ja) * 2014-08-18 2016-03-31 パナソニックIpマネジメント株式会社 熱電変換モジュール

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05275795A (ja) * 1992-03-25 1993-10-22 Fujitsu Ltd 温度制御装置を具えた半導体レーザ装置とその製造方法
JPH10247708A (ja) * 1997-03-04 1998-09-14 Akutoronikusu Kk 面間伝熱プレート
JPH11307826A (ja) * 1998-04-22 1999-11-05 Yamaha Corp 熱電モジュール

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05275795A (ja) * 1992-03-25 1993-10-22 Fujitsu Ltd 温度制御装置を具えた半導体レーザ装置とその製造方法
JPH10247708A (ja) * 1997-03-04 1998-09-14 Akutoronikusu Kk 面間伝熱プレート
JPH11307826A (ja) * 1998-04-22 1999-11-05 Yamaha Corp 熱電モジュール

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001144361A (ja) * 1999-11-10 2001-05-25 Furukawa Electric Co Ltd:The 光半導体素子用パッケージ
KR20030073207A (ko) * 2002-03-09 2003-09-19 주식회사 엘지이아이 히트싱크에 실장된 반도체 레이저 다이오드 어레이
JP2007103685A (ja) * 2005-10-05 2007-04-19 Nec Schott Components Corp レーザダイオード用ステム
JP2008034520A (ja) * 2006-07-27 2008-02-14 Daikin Ind Ltd 基板冷却装置
JP2009200209A (ja) * 2008-02-21 2009-09-03 Anritsu Corp 半導体レーザ用パッケージおよび半導体レーザモジュール
WO2011118847A1 (ja) * 2010-03-25 2011-09-29 東京エレクトロン株式会社 領域温度制御構造体
JP2011204812A (ja) * 2010-03-25 2011-10-13 Tokyo Electron Ltd 複数温度領域分割制御構造体
TWI509685B (zh) * 2010-03-25 2015-11-21 東京威力科創股份有限公司 Regional temperature control constructs
US9484232B2 (en) 2010-03-25 2016-11-01 Tokyo Electron Limited Zone temperature control structure
WO2013084746A1 (ja) * 2011-12-06 2013-06-13 コニカミノルタ株式会社 光半導体パッケージ、マイケルソン干渉計、およびフーリエ変換分光分析装置
JP2016042525A (ja) * 2014-08-18 2016-03-31 パナソニックIpマネジメント株式会社 熱電変換モジュール

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