JP2000295081A - レジスタ回路及びラッチ回路 - Google Patents
レジスタ回路及びラッチ回路Info
- Publication number
- JP2000295081A JP2000295081A JP11101479A JP10147999A JP2000295081A JP 2000295081 A JP2000295081 A JP 2000295081A JP 11101479 A JP11101479 A JP 11101479A JP 10147999 A JP10147999 A JP 10147999A JP 2000295081 A JP2000295081 A JP 2000295081A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transistor
- gate
- nmos transistor
- latch circuit
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 7
- 101100508840 Daucus carota INV3 gene Proteins 0.000 description 17
- 101100286980 Daucus carota INV2 gene Proteins 0.000 description 16
- 101100397045 Xenopus laevis invs-b gene Proteins 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 101150070189 CIN3 gene Proteins 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 3
- 101150110971 CIN7 gene Proteins 0.000 description 2
- 101150110298 INV1 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100397044 Xenopus laevis invs-a gene Proteins 0.000 description 2
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/027—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
- H03K3/037—Bistable circuits
- H03K3/0372—Bistable circuits of the primary-secondary type
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/01—Details
- H03K3/012—Modifications of generator to improve response time or to decrease power consumption
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
- H03K3/356113—Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
- H03K3/356147—Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit using pass gates
- H03K3/356156—Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit using pass gates with synchronous operation
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/3562—Bistable circuits of the primary-secondary type
- H03K3/35625—Bistable circuits of the primary-secondary type using complementary field-effect transistors
Abstract
スレーブラッチ回路2からなる。スレーブラッチ回路2
の入力端子とPMOSトランジスタM1のゲートとの間
には、NMOSトランジスタM3が設けられ、入力端子
とNMOSトランジスタM2のゲートとの間には、PM
OSトランジスタM4が設けられている。トランスファ
回路を構成するNMOSトランジスタM3でPMOSト
ランジスタM1を駆動し、PMOSトランジスタM4で
NMOSトランジスタM2を駆動する。
Description
ラッチ回路に関するものである。
する。レジスタ回路は、直列に接続された2つのラッチ
回路からなり、クロック信号CLKの立ち上がりエッジ
で入力データINを取り込み、出力端子から出力データ
OUTを出力する。マスターラッチ回路21は、クロッ
ク信号CLKが「L」レベルのとき入力データINをス
ルーで伝達し、スレーブラッチ回路22は、そのデータ
をラッチし保持する。
ック信号CLKが「H」レベルのとき入力データINを
回路内部から切り離して、内部データをホールド(ラッ
チ)状態にするが、スレーブラッチ回路22がスルー状
態となるので、マスターラッチ回路21で保持されたデ
ータがスレーブラッチ回路22の出力端子(レジスタ回
路の出力端子)に出力されることになる。クロック信号
CLKは「H」と「L」が交互に切り替わるため、レジ
スタ回路の出力端子にはクロック信号CLKが「L」か
ら「H」に切り換わるタイミングに合わせて出力データ
OUTが出力されることになる。
構成を詳しく説明する。スレーブラッチ回路22には、
マスターラッチ回路21からの出力を入力とする、PM
OSトランジスタM21及びNMOSトランジスタM2
2を並列接続したトランスファ回路が設けられている。
トランジスタM22,M21のゲートには、クロック信
号CLK、クロック信号CLKの論理反転信号がそれぞ
れ入力される。
動用のインバータINV22が接続され、INV22の
出力がレジスタ回路の出力となる。レジスタ回路の出力
端子には、ラッチパス用のインバータINV23が接続
され、インバータINV23の出力には、PMOSトラ
ンジスタM23及びNMOSトランジスタM24を並列
接続したトランスファ回路が接続されている。トランジ
スタM23,M24のゲートには、クロック信号CL
K、クロック信号CLKの論理反転信号がそれぞれ入力
される。このトランジスタM23,M24からなるトラ
ンスファ回路の出力は、インバータINV22の入力に
接続されている。
ク信号CLKが「H」レベルのとき、トランジスタM2
1,M22がオンし、トランジスタM23,M24がオ
フするので、マスターラッチ回路21から入力されたデ
ータがインバータINV22を介して出力端子に出力さ
れる。一方、クロック信号CLKが「L」のときは、ト
ランジスタM21,M22がオフとなり、トランジスタ
M23,M24がオンとなるので、この状態に切り換わ
った瞬間に残っていた出力端子のデータがインバータI
NV23によって反転されてインバータINV22の入
力にフィードバックされる。こうして、2個のインバー
タINV22,INV23によるフリップフロップが完
成し、データが保持(ラッチ)される。
レジスタ回路の次段以降はチップ内部を駆動する回路や
チップからデータを出力する駆動バッファであり、大き
な負荷を伴うことが多い。また、クロック信号CLK
は、多数存在するレジスタ回路を制御する信号であり、
ここも大きな負荷となる。したがって、高速動作を実現
するためには、クロック信号CLKが入力されてから出
力データOUTが確定するまでの遅延時間を改善する必
要があるが、その条件としてCLK入力容量を小さくす
ることが必要であった。しかし、従来のレジスタ回路で
は、トランジスタM21,M22からなるトランスファ
回路とインバータINV22にてその遅延と駆動能力が
決まってしまうため、トランジスタサイズによる最適化
調整によるポイントが最適化の限界であり、データリリ
ース速度を高速化することができないという問題点があ
った。同様に、トランジスタM21,M22からなるト
ランスファ回路とインバータINV22とを用いるラッ
チ回路においても、データリリース速度を高速化するこ
とができないという問題点があった。本発明は、上記課
題を解決するためになされたもので、データリリース速
度の高速化が可能なレジスタ回路及びラッチ回路を提供
することを目的とする。
は、マスターラッチ回路(1)とスレーブラッチ回路
(2,2a,2b,2c,2e)とを直列に接続するも
のである。スレーブラッチ回路(2)は、第1電位の電
源(VCC)とレジスタ回路の出力端子との間に設けら
れた第1のPMOSトランジスタ(M1)と、第1電位
より低い第2電位の電源(接地)と出力端子との間に設
けられた第1のNMOSトランジスタ(M2)と、マス
ターラッチ回路の出力に接続されたスレーブラッチ回路
の入力端子と第1のPMOSトランジスタのゲートとの
間に設けられた第2のNMOSトランジスタ(M3)
と、入力端子と第1のNMOSトランジスタのゲートと
の間に設けられた第2のPMOSトランジスタ(M4)
とを有している。そして、第2のNMOSトランジスタ
のゲートにクロック信号(CLK)を与え、第2のPM
OSトランジスタのゲートにクロック信号を反転させた
信号を与える。このように、本発明では、トランスファ
回路を構成する第2のNMOSトランジスタの出力と出
力駆動用の第1のPMOSトランジスタのゲートを直接
接続し、同トランスファ回路を構成する第2のPMOS
トランジスタの出力と出力駆動用の第1のNMOSトラ
ンジスタのゲートを直接接続し、第2のNMOSトラン
ジスタで第1のPMOSトランジスタを駆動し、第2の
PMOSトランジスタで第1のNMOSトランジスタを
駆動する。これにより、高速動作が可能となる。また、
スレーブラッチ回路の1構成例は、スレーブラッチ回路
がラッチ状態となるとき、第1のPMOSトランジスタ
及び第1のNMOSトランジスタが共にオフとなるよう
に、これらトランジスタのゲート電位を固定する手段
(M5,M6)を有するものである。
第1、第2のNMOSトランジスタ及び第1、第2のP
MOSトランジスタより小面積のトランジスタからな
る、データホールド用のフリップフロップ(INV2,
INV3)を出力端子に接続したものである。また、ス
レーブラッチ回路の1構成例は、フリップフロップの出
力とレジスタ回路の出力端子との間に、PMOSトラン
ジスタ(M11)とNMOSトランジスタ(M12)を
並列に接続したトランスファ回路を設け、このPMOS
トランジスタのゲートにクロック信号を与え、NMOS
トランジスタのゲートにクロック信号を反転させた信号
を与えるようにしたものである。また、スレーブラッチ
回路の1構成例は、スレーブラッチ回路がスルー状態
で、かつ第1のPMOSトランジスタ(M1)がオフの
とき、第1のPMOSトランジスタのゲート電位を固定
するために、第2のNMOSトランジスタ(M3)と並
列に第3のPMOSトランジスタ(M7)を設け、この
第3のPMOSトランジスタのゲートにクロック信号を
反転させた信号を与えるようにしたものである。第3の
PMOSトランジスタを設けることにより、オフ状態の
第1のPMOSトランジスタのゲート電位を第1電位に
固定することができる。また、スレーブラッチ回路の1
構成例は、第3のPMOSトランジスタのゲートにクロ
ック信号を反転させた信号を与える代わりに、マスター
ラッチ回路の出力データを反転させた信号を与えるよう
にしたものである。これにより、クロック信号の負荷を
増加させることなく、オフ状態の第1のPMOSトラン
ジスタのゲート電位を第1電位に固定することができ
る。
スレーブラッチ回路がスルー状態で、かつ第1のNMO
Sトランジスタ(M2)がオフのとき、第1のNMOS
トランジスタのゲート電位を固定するために、第2のP
MOSトランジスタ(M4)と並列に第3のNMOSト
ランジスタ(M8)を設け、この第3のNMOSトラン
ジスタのゲートにクロック信号を与えるようにしたもの
である。第3のNMOSトランジスタを設けることによ
り、オフ状態の第1のNMOSトランジスタのゲート電
位を第2電位に固定することができる。また、スレーブ
ラッチ回路の1構成例は、第3のNMOSトランジスタ
のゲートにクロック信号を与える代わりに、マスターラ
ッチ回路の出力データを反転させた信号を与えるように
したものである。これにより、クロック信号の負荷を増
加させることなく、オフ状態の第1のNMOSトランジ
スタのゲート電位を第2電位に固定することができる。
また、スレーブラッチ回路の1構成例は、スレーブラッ
チ回路の入力端子と並列にコンデンサ(C)を設けたも
のである。これにより、第2のNMOSトランジスタ
(M3)及び第2のPMOSトランジスタ(M4)のソ
ース電位の過渡的な浮き上がり若しくは沈み込みを抑え
ることができる。
電源(VCC)と出力端子との間に設けられた第1のP
MOSトランジスタ(M1)と、第1電位より低い第2
電位の電源(接地)と出力端子との間に設けられた第1
のNMOSトランジスタ(M2)と、クロック信号の反
転入力端子と第1のPMOSトランジスタのゲートとの
間に設けられ、並列接続された第2のNMOSトランジ
スタ(M3a)と第2のPMOSトランジスタ(M9
a)とからなる第1のトランスファ回路と、クロック信
号の入力端子と第1のNMOSトランジスタのゲートと
の間に設けられ、並列接続された第3のNMOSトラン
ジスタ(M10a)と第3のPMOSトランジスタ(M
4a)とからなる第2のトランスファ回路と、第1電位
の電源と第1のPMOSトランジスタのゲートとの間に
設けられた第4のPMOSトランジスタ(M5a)と、
第2電位の電源と第1のNMOSトランジスタのゲート
との間に設けられた第4のNMOSトランジスタ(M6
a)とを有している。そして、第2のNMOSトランジ
スタ、第2のPMOSトランジスタ、第4のPMOSト
ランジスタ及び第4のNMOSトランジスタの各ゲート
に入力データ(IN)を与え、第2のPMOSトランジ
スタ及び第3のNMOSトランジスタの各ゲートに入力
データを反転させた信号を与えるようにしたものであ
る。また、ラッチ回路の1構成例は、第1、第2、第
3、第4のNMOSトランジスタ並びに第1、第2、第
3、第4のPMOSトランジスタより小面積のトランジ
スタからなる、データホールド用のフリップフロップ
(INV2,INV3)を出力端子に接続したものであ
る。
の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
図1は、本発明の第1の実施の形態となるレジスタ回路
の回路図である。図1のレジスタ回路は、マスターラッ
チ回路1と、スレーブラッチ回路2とから構成される。
LKを論理反転させるインバータINV1と、ソースに
電源電圧VCCが与えられ、ドレインがスレーブラッチ
回路2の出力端子に接続されたPMOSトランジスタM
1と、ソースが接地され、ドレインがスレーブラッチ回
路2の出力端子に接続されたNMOSトランジスタM2
と、ゲートにクロック信号CLKが与えられ、ソースが
スレーブラッチ回路2の入力端子(マスターラッチ回路
1の出力端子)と接続され、ドレインがトランジスタM
1のゲートと接続されたNMOSトランジスタM3と、
ゲートにクロック信号CLKを論理反転させた信号が与
えられ、ソースがスレーブラッチ回路2の入力端子と接
続され、ドレインがトランジスタM2のゲートと接続さ
れたPMOSトランジスタM4と、ゲートにクロック信
号CLKが与えられ、ソースに電源電圧VCCが与えら
れ、ドレインがトランジスタM1のゲート及びトランジ
スタM3のドレインと接続されたPMOSトランジスタ
M5と、ゲートにクロック信号CLKを論理反転させた
信号が与えられ、ソースが接地され、ドレインがトラン
ジスタM2のゲート及びトランジスタM4のドレインと
接続されたNMOSトランジスタM6と、入力がスレー
ブラッチ回路2の出力端子と接続されたインバータIN
V2と、入力がインバータINV2の出力と接続され、
出力がスレーブラッチ回路2の出力端子と接続されたイ
ンバータINV3とを有している。
ンジスタM2は、出力駆動用のインバータを構成してお
り、トランジスタM1,M2の共通ドレインがレジスタ
回路(スレーブラッチ回路2)の出力端子となってい
る。インバータINV2,INV3は、データホールド
用のフリップフロップを構成している。このインバータ
INV2,INV3を構成する各トランジスタ(不図
示)のサイズは、トランジスタM1,M2,M3,M
4,M5,M6のサイズよりも十分に小さいサイズとす
る。
る。マスターラッチ回路1は、クロック信号CLKが
「H」レベルのとき入力データINの値を保持し(ラッ
チ)、クロック信号CLKが「L」レベルのとき入力デ
ータINの値を通過させる(スルー)。なお、マスター
ラッチ回路1は、入力データINの値を論理反転して出
力する。そして、スレーブラッチ回路2は、クロック信
号CLKが「H」レベルのときマスターラッチ回路1の
出力データの値を通過させ(スルー)、クロック信号C
LKが「L」レベルのときマスターラッチ回路1の出力
データの値を保持する(ラッチ)。
き、スレーブラッチ回路2では、トランジスタM5,M
6が共にオフとなり、トランジスタM3若しくはM4の
いずれかがマスターラッチ回路1の出力データに応じて
オンする。
「L」の場合には、NMOSトランジスタM3がオン、
PMOSトランジスタM4がオフとなる。これにより、
出力駆動用のPMOSトランジスタM1のゲートが
「L」となって、トランジスタM1がオンし(トランジ
スタM2はオフ)、レジスタ回路の出力データOUTが
「H」レベルとなる。
が「H」の場合には、NMOSトランジスタM3がオ
フ、PMOSトランジスタM4がオンとなる。これによ
り、出力駆動用のNMOSトランジスタM2のゲートが
「H」となって、トランジスタM2がオンし(トランジ
スタM1はオフ)、レジスタ回路の出力データOUTが
「L」レベルとなる。
成されるフリップフロップは、出力データOUTをホー
ルドするラッチ回路として働くため、出力データOUT
の反転時にはこのデータ反転を妨げる方向に働くが、イ
ンバータINV2,INV3を構成している各トランジ
スタを非常に小さいサイズとしているため、このフリッ
プフロップのデータホールド能力は十分に小さい。した
がって、トランジスタM1若しくはM2のオンにより、
出力データOUTの値は確定する。
のとき、スレーブラッチ回路2では、トランジスタM
3,M4が共にオフとなり、トランジスタM5,M6が
共にオンとなるので、PMOSトランジスタM1のゲー
トが「H」、NMOSトランジスタM2のゲートが
「L」となる。これにより、トランジスタM1,M2が
共にオフとなるので、スレーブラッチ回路2の出力端子
がハイインピーダンス状態となる。
端子に接続されたデータホールド用のフリップフロップ
(INV2,INV3)がその時点で出力端子に残され
ていたデータを維持する。
変化するエッジをトリガにしてデータを取り込むのがレ
ジスタ回路の目的であり、その際のレジスタからの出力
速度は、クロック信号CLKが「H」に変化してから出
力データOUTが出力されるまでの遅延時間で決まる。
「H」レベルになると、トランジスタM3若しくはM4
の一方がオンし、その先のトランジスタM1若しくはM
2がオンする動作となる。これに対して、図7に示す従
来のレジスタ回路では、トランジスタM21とM22で
駆動インバータINV22内のPMOSトランジスタ及
びNMOSトランジスタのゲートを駆動し、駆動インバ
ータINV22のスイッチング時間を通してデータが出
力されることになる。
の形態では、トランジスタM3若しくはM4によって駆
動インバータのPMOSトランジスタM1若しくはNM
OSトランジスタM2の一方のゲートのみを駆動するだ
けとなる。
21,M22の両方でインバータINV22を駆動する
ように見える。しかし、マスターラッチ回路21の出力
データが「H」の場合は、PMOSトランジスタM21
が駆動能力のほとんどを受け持ち、同出力データが
「L」の場合は、NMOSトランジスタM22が駆動能
力のほとんどを受け持つので、トランジスタM21若し
くはM22の一方がインバータINV22内のPMOS
トランジスタ及びNMOSトランジスタを駆動すること
になり、本実施の形態と比べてトランスファ回路での駆
動能力はあまり向上しない。
トランジスタM1若しくはNMOSトランジスタM2の
一方のゲートのみを駆動する本実施の形態のレジスタ回
路によれば、高速動作が可能となる。次に、出力駆動用
インバータのスイッチングについて説明する。図7に示
す従来のレジスタ回路では、インバータINV22内の
PMOSトランジスタとNMOSトランジスタの一方が
オンするときにもう一方がオンからオフに向かう。この
切り換わりの途中では両方のトランジスタがオンする期
間が存在し、その引っ張り合いで決まる出力反転しきい
値は通常VCC/2とされる(VCCは電源電圧)。
しきい値(0.5V程度)だけゲート電位が上昇すれば
NMOSトランジスタM2がオンし、VCCからしきい
値だけゲート電位が低下すればPMOSトランジスタM
1がオンするので、出力端子に素早くデータを出力する
ことができる。このとき、データホールド用のフリップ
フロップがデータ反転を妨げる方向に働くが、フリップ
フロップのデータホールド能力は十分に小さいので、フ
リップフロップによる遅延時間はほとんど無視できる。
(本実施の形態では立ち上がりのエッジ入力)に応じて
出力データOUTが確定する速度、すなわちデータリリ
ース速度は10〜20%改善される。同時に、サイズの
大きな出力駆動用インバータのゲート負荷を一方しかド
ライブしない点と、出力駆動用インバータを構成するP
MOSトランジスタM1とNMOSトランジスタM2の
両方がオンする期間が存在しない点から消費電流の低減
も可能となる。
負荷や回路レイアウト上の面積も従来のレジスタ回路と
差が無いことが分かる(データホールド用フリップフロ
ップのインバータINV2,INV3の分だけ素子数は
2個増えるが、面積比率は出力駆動用インバータM1,
M2とその前段のトランスファ回路M3,M4が支配的
なので差としては無視できる)。
の実施の形態となるレジスタ回路の回路図であり、図1
と同一の構成には同一の符号を付してある。本実施の形
態のスレーブラッチ回路2aは、図1のスレーブラッチ
回路2に対して、PMOSトランジスタM1のゲートを
駆動するNMOSトランジスタM3に並列接続したPM
OSトランジスタM7と、NMOSトランジスタM2の
ゲートを駆動するPMOSトランジスタM4に並列接続
したNMOSトランジスタM8とを追加している。
トランジスタM3のソース,ドレインと接続され、トラ
ンジスタM8のソース,ドレインは、トランジスタM4
のソース,ドレインと接続されている。そして、トラン
ジスタM7のゲートには、クロック信号CLKを論理反
転させた信号が与えられ、トランジスタM8のゲートに
は、クロック信号CLKが与えられる。
SトランジスタM8の働きを説明する。トランジスタM
7,M8は、クロック信号CLKが「H」レベルとなっ
て、マスターラッチ回路1の出力データをスレーブラッ
チ回路2aからスルーで出力しているとき、オフ状態と
なっている出力駆動用のトランジスタM1若しくはM2
のゲート電位を補正するものである。
「H」レベルで、マスターラッチ回路1の出力データが
「L」の場合には、PMOSトランジスタM1がオンし
て、レジスタ回路の出力データOUTが「H」レベルと
なる。このとき、NMOSトランジスタM8がオンする
ことにより、オフ状態のNMOSトランジスタM2のゲ
ート電位が接地電位に固定される。
スタM8が省略されているが、その場合はPMOSトラ
ンジスタM4がオフとなっている範囲で、NMOSトラ
ンジスタM2のゲート電位がフローティングとなる。そ
の範囲は、接地電位〜PMOSトランジスタM4のしき
い値電圧まで(0〜約0.5V)なので、NMOSトラ
ンジスタM2のしきい値電圧以下であれば問題無い。
スの電位が電源電圧VCCより低い動作条件では、しき
い値は絶対値として増加してみえるので、NMOSトラ
ンジスタM2のゲート電位がしきい値を若干超える可能
性がある。NMOSトランジスタM2のオフ状態の不確
実性による微小リーク電流が設計上許容できない場合
は、本実施の形態のように、トランジスタM8を追加す
ることにより、NMOSトランジスタM2のオフ状態を
確実にすることができる。
も同様である。すなわち、クロック信号CLKが「H」
レベルで、マスターラッチ回路1の出力データが「H」
の場合には、NMOSトランジスタM2がオンして、レ
ジスタ回路の出力データOUTが「L」レベルとなる。
このとき、PMOSトランジスタM7がオンすることに
より、オフ状態のPMOSトランジスタM1のゲート電
位がVCCに固定される。
のオフ状態の不確実性による微小リーク電流が設計上許
容できない場合は、本実施の形態のように、トランジス
タM7を追加することにより、PMOSトランジスタM
1のオフ状態を確実にすることができる。
位を固定することが目的なので、トランジスタM7,M
8のサイズは、トランジスタM1,M2,M3,M4,
M5,M6よりも小さいサイズで十分である。トランジ
スタM7,M8のサイズを小さくすることにより、これ
らを追加したことによる動作速度の低下の影響は微小で
済む。
の実施の形態となるレジスタ回路の回路図であり、図1
と同一の構成には同一の符号を付してある。本実施の形
態のスレーブラッチ回路2bは、スレーブラッチ回路2
bの入力端子(マスターラッチ回路1の出力端子)と並
列に高速化のためのコンデンサCを設けたものであり、
その他の構成は図1のスレーブラッチ回路2と全く同じ
である。
トランジスタM1、NMOSトランジスタM2のゲート
を駆動するためには、クロック信号CLKをゲート入力
したNMOSトランジスタM3、PMOSトランジスタ
M4をオンさせればよいが、これらをオンさせるときの
速度はトランジスタM3,M4のオン能力がどれくらい
高いかで決まる。
させようとした場合、その過程で生じる放電電流によ
り、NMOSトランジスタM3のソースの電位が浮き上
がる。このソース電位の浮き上がりはゲート電圧が低下
することを意味するので、このソース電位の浮き上がり
をできるだけ抑えることが高速化に効果がある。
させようとした場合、PMOSトランジスタM4のソー
スの電位が沈み込むので、このソース電位の沈み込みを
できるだけ抑えることが高速化に効果がある。
M3,M4のソース電位の過渡的な浮き上がり若しくは
沈み込みを抑えるために、スレーブラッチ回路2bの入
力端子(マスターラッチ回路1の出力端子)と並列にコ
ンデンサCを接続し、ここから充放電の電荷を供給する
ようにしている。こうして、データリリース速度を、実
施の形態の1よりも高速化することができる。
の実施の形態となるレジスタ回路の回路図であり、図1
と同一の構成には同一の符号を付してある。本実施の形
態のスレーブラッチ回路2cは、図1のスレーブラッチ
回路2に対して、PMOSトランジスタM1のゲートを
駆動するNMOSトランジスタM3に並列接続したPM
OSトランジスタM9と、NMOSトランジスタM2の
ゲートを駆動するPMOSトランジスタM4に並列接続
したNMOSトランジスタM10と、マスターラッチ回
路1の出力データを論理反転させるインバータINV4
とを追加している。
トランジスタM3のソース,ドレインと接続され、トラ
ンジスタM10のソース,ドレインは、トランジスタM
4のソース,ドレインと接続されている。そして、トラ
ンジスタM9,M10のゲートは、インバータINV4
の出力と接続されている。
1の出力データをスレーブラッチ回路からスルーで出力
しているときに、オフ状態となっている出力駆動用のト
ランジスタM1若しくはM2のゲート電位を補正した
が、本実施の形態のトランジスタM9,M10及びIN
V4は、実施の形態の2と同様の効果を得ることを目的
としている。
「H」レベルで、マスターラッチ回路1の出力データが
「L」の場合には、PMOSトランジスタM1がオンし
て、レジスタ回路の出力データOUTが「H」レベルと
なる。このとき、インバータINV4の出力が「H」レ
ベルとなるので、NMOSトランジスタM10がオンし
て、オフ状態のNMOSトランジスタM2のゲート電位
が接地電位に固定される。
で、マスターラッチ回路1の出力データが「H」の場合
には、NMOSトランジスタM2がオンして、レジスタ
回路の出力データOUTが「L」レベルとなる。このと
き、インバータINV4の出力が「L」レベルとなるの
で、PMOSトランジスタM9がオンして、オフ状態の
PMOSトランジスタM1のゲート電位がVCCに固定
される。
でゲートが駆動されるトランジスタM7,M8を追加し
たことにより、実施の形態の1に比べてクロック信号C
LKの負荷が増加している。これに対して、本実施の形
態では、トランジスタM9,M10をクロック信号CL
Kで駆動しないので、クロック信号CLKの負荷が増加
しない。したがって、トランジスタM9,M10を追加
しても、データリリース速度には影響を与えない。
ータINV4の追加が必要となる。素子数と速度とを考
慮して、実施の形態の2と本実施の形態のどちらを選択
するのが良いかは設計者が判断できる。
の実施の形態となるラッチ回路の回路図であり、図1と
同一の構成には同一の符号を付してある。本実施の形態
は、ラッチ回路単体で使用する場合に高速データリリー
スを可能にする例を示すものである。
MOSトランジスタM1と、出力駆動用のNMOSトラ
ンジスタM2と、ゲートに入力データINが与えられ、
ソースにクロック信号CLKを論理反転させた信号バー
CLKが与えられ、ドレインがPMOSトランジスタM
1のゲートと接続されたNMOSトランジスタM3a
と、ゲートに入力データINが与えられ、ソースにクロ
ック信号CLKが与えられ、ドレインがNMOSトラン
ジスタM2のゲートと接続されたPMOSトランジスタ
M4aと、ゲートに入力データINが与えられ、ソース
に電源電圧VCCが与えられ、ドレインがトランジスタ
M1のゲート及びトランジスタM3aのドレインと接続
されたPMOSトランジスタM5aと、ゲートに入力デ
ータINが与えられ、ソースが接地され、ドレインがト
ランジスタM2のゲート及びトランジスタM4aのドレ
インと接続されたNMOSトランジスタM6aと、イン
バータINV2,INV3と、入力データINを論理反
転させるインバータINV4と、ゲートがインバータI
NV4の出力と接続され、ソース,ドレインがトランジ
スタM3aのソース,ドレインと接続されたPMOSト
ランジスタM9aと、ゲートがインバータINV4の出
力と接続され、ソース,ドレインがトランジスタM4a
のソース,ドレインと接続されたNMOSトランジスタ
M10aとを有している。
ホールド用のフリップフロップを構成し、このインバー
タINV2,INV3を構成する各トランジスタのサイ
ズが、トランジスタM1,M2,M3a,M4a,M5
a,M6a,M9a,M10aのサイズよりも小さいこ
とは実施の形態の1と同様である。
Kが「H」レベル、反転信号バーCLKが「L」レベル
のとき、入力データINの値を通過させ(スルー)、ク
ロック信号CLKが「L」レベル、反転信号バーCLK
が「H」レベルのとき、入力データINの値を保持する
(ラッチ)。
CLKが「L」)で、入力データINが「L」の場合に
は、NMOSトランジスタM3aがオフ、PMOSトラ
ンジスタM4aがオン、PMOSトランジスタM5aが
オン、NMOSトランジスタM6aがオフ、PMOSト
ランジスタM9aがオフ、NMOSトランジスタM10
aがオフとなる。これにより、出力駆動用のNMOSト
ランジスタM2がオンし(PMOSトランジスタM1は
オフ)、ラッチ回路2dの出力データOUTが「L」レ
ベルとなる。
で、入力データINが「H」の場合には、NMOSトラ
ンジスタM3aがオン、PMOSトランジスタM4aが
オフ、PMOSトランジスタM5aがオフ、NMOSト
ランジスタM6aがオン、PMOSトランジスタM9a
がオフ、NMOSトランジスタM10aがオフとなる。
これにより、出力駆動用のPMOSトランジスタM1が
オンし(NMOSトランジスタM2はオフ)、ラッチ回
路2dの出力データOUTが「H」レベルとなる。
NによりトランジスタM3a,M4aのうち一方をオン
にし、もう一方をオフにすると共に、このオフとなった
トランジスタと同じ側にある出力駆動用トランジスタが
オフ固定となるようにトランジスタM5a若しくはM6
aをオンにする。
(バーCLKが「H」)で、入力データINが「L」の
場合には、トランジスタM3a,M4a,M6a,M9
aがオフ、トランジスタM5a,M10aがオンとな
る。これにより、トランジスタM1,M2が共にオフと
なり、ラッチ回路2dの出力端子がハイインピーダンス
状態となる。したがって、ラッチ回路2dの出力端子に
接続されたデータホールド用のフリップフロップ(IN
V2,INV3)がその時点で出力端子に残されていた
データ「L」を維持する。
で、入力データINが「H」の場合には、トランジスタ
M3a,M4a,M5a,M10aがオフ、トランジス
タM6a,M9aがオンとなる。これにより、トランジ
スタM1,M2が共にオフとなり、データホールド用の
フリップフロップ(INV2,INV3)がその時点で
出力端子に残されていたデータ「H」を維持する。
クロック信号CLKが「H」(バーCLKが「L」)に
変化してから出力データOUTが出力されるまでの遅延
時間で決まる。本実施の形態のラッチ回路2dでは、ク
ロック信号の反転信号バーCLKを第1のトランスファ
回路(トランジスタM3a,M9a)のソースに直接入
力すると共に、クロック信号CLKを第2のトランスフ
ァ回路(トランジスタM4a,M10a)のソースに直
接入力しているため、高速化が可能となる。
をインバータで生成していないため、更なる高速化が可
能となる。ただし、実施の形態の1〜4と同様に、バー
CLKをインバータで生成してもよい。
チ回路では、スルー時に出力駆動用トランジスタM1,
M2がインバータとして働くため、マスターラッチ回路
1の出力データを論理反転して出力していた。これに対
し、本実施の形態のラッチ回路2dでは、出力駆動用ト
ランジスタM1,M2がバッファとして働くため、入力
データINの値をそのまま出力する。
いて、入力データINとクロック信号CLK(バーCL
K)の配線を入れ替えてもよい。この場合には、スルー
状態において、入力データINが入力されてから出力デ
ータOUTが出力されるまでの遅延時間を短縮すること
ができる。
の実施の形態となるレジスタ回路の回路図であり、図1
と同一の構成には同一の符号を付してある。本実施の形
態のスレーブラッチ回路2eは、図1のスレーブラッチ
回路2に対して、フリップフロップの出力(インバータ
INV3の出力)とスレーブラッチ回路2eの出力端子
との間に、PMOSトランジスタM11とNMOSトラ
ンジスタM12を並列に接続したトランスファ回路を追
加したものである。
ートにクロック信号CLKを与え、NMOSトランジス
タM12のゲートにクロック信号CLKを論理反転させ
た信号を与えている。トランジスタM11,M12から
なるトランスファ回路は、データホールド用のフリップ
フロップ(INV2,INV3)により出力データ変化
時に流れる若干の貫通電流を完全にカットすることを目
的としている。
状態になるとき、トランスファ回路をオフにする。これ
により、出力駆動用のトランジスタM1,M2で出力デ
ータOUTを確定している間、データホールド用のフリ
ップフロップは機能しないことになる。したがって、出
力データOUTを出力する時点で、貫通電流の心配も一
切無くなる。ただし、クロック信号CLKとその反転信
号バーCLKに負荷が若干増えるデメリットがある。
成する第2のNMOSトランジスタの出力と出力駆動用
の第1のPMOSトランジスタのゲートを直接接続し、
同トランスファ回路を構成する第2のPMOSトランジ
スタの出力と出力駆動用の第1のNMOSトランジスタ
のゲートを直接接続し、第2のNMOSトランジスタで
第1のPMOSトランジスタを駆動し、第2のPMOS
トランジスタで第1のNMOSトランジスタを駆動す
る。これにより、データリリース速度を高速化すること
ができる。また、サイズの大きな第1のPMOSトラン
ジスタ及び第1のNMOSトランジスタのゲート負荷を
一方しかドライブしない点と、これらのトランジスタが
共にオンする期間が存在しない点から消費電流の低減も
可能となる。
回路の出力端子との間に、PMOSトランジスタとNM
OSトランジスタを並列に接続したトランスファ回路を
設けることにより、データホールド用のフリップフロッ
プにより出力データ変化時に流れる貫通電流を完全にカ
ットすることができる。
ることにより、オフ状態の第1のPMOSトランジスタ
のゲート電位を第1電位に固定することができ、第1の
PMOSトランジスタのオフ状態を確実にすることがで
きる。
トにクロック信号を反転させた信号を与える代わりに、
マスターラッチ回路の出力データを反転させた信号を与
えることにより、クロック信号の負荷を増加させること
なく、すなわちデータリリース速度に影響を与えること
なく、第1のPMOSトランジスタのオフ状態を確実に
することができる。
ることにより、オフ状態の第1のNMOSトランジスタ
のゲート電位を第2電位に固定することができ、第1の
NMOSトランジスタのオフ状態を確実にすることがで
きる。
トにクロック信号を与える代わりに、マスターラッチ回
路の出力データを反転させた信号を与えることにより、
クロック信号の負荷を増加させることなく、すなわちデ
ータリリース速度に影響を与えることなく、第1のNM
OSトランジスタのオフ状態を確実にすることができ
る。
列にコンデンサを設けることにより、第2のNMOSト
ランジスタ及び第2のPMOSトランジスタのソース電
位の過渡的な浮き上がり若しくは沈み込みを抑えること
ができ、データリリース速度を更に高速化することがで
きる。
ンジスタ、第1のNMOSトランジスタ、第2のNMO
Sトランジスタと第2のPMOSトランジスタとからな
る第1のトランスファ回路、第3のNMOSトランジス
タと第3のPMOSトランジスタとからなる第2のトラ
ンスファ回路、第4のPMOSトランジスタ、第4のN
MOSトランジスタから構成することにより、ラッチ回
路のデータリリース速度を高速化することができる。
路の回路図である。
路の回路図である。
路の回路図である。
路の回路図である。
の回路図である。
路の回路図である。
…スレーブラッチ回路、2d…ラッチ回路、C…コンデ
ンサ、INV1、INV2、INV3、INV4…イン
バータ、M2、M3、M6、M8、M10、M3a、M
10a、M11…NMOSトランジスタ、M1、M4、
M5、M7、M9、M4a、M9a、M12…PMOS
トランジスタ。
Claims (11)
- 【請求項1】 マスターラッチ回路とスレーブラッチ回
路とを直列に接続したレジスタ回路において、 前記スレーブラッチ回路は、第1電位の電源とレジスタ
回路の出力端子との間に設けられた第1のPMOSトラ
ンジスタと、 前記第1電位より低い第2電位の電源と前記出力端子と
の間に設けられた第1のNMOSトランジスタと、 マスターラッチ回路の出力に接続されたスレーブラッチ
回路の入力端子と第1のPMOSトランジスタのゲート
との間に設けられた第2のNMOSトランジスタと、 前記入力端子と第1のNMOSトランジスタのゲートと
の間に設けられた第2のPMOSトランジスタとを有
し、 第2のNMOSトランジスタのゲートにクロック信号を
与え、第2のPMOSトランジスタのゲートにクロック
信号を反転させた信号を与えることを特徴とするレジス
タ回路。 - 【請求項2】 請求項1記載のレジスタ回路において、 前記スレーブラッチ回路がラッチ状態となるとき、前記
第1のPMOSトランジスタ及び第1のNMOSトラン
ジスタが共にオフとなるように、これらトランジスタの
ゲート電位を固定する手段を有することを特徴とするレ
ジスタ回路。 - 【請求項3】 請求項1記載のレジスタ回路において、 第1、第2のNMOSトランジスタ及び第1、第2のP
MOSトランジスタより小面積のトランジスタからな
る、データホールド用のフリップフロップを前記出力端
子に接続することを特徴とするレジスタ回路。 - 【請求項4】 請求項3記載のレジスタ回路において、 前記フリップフロップの出力とレジスタ回路の出力端子
との間に、PMOSトランジスタとNMOSトランジス
タを並列に接続したトランスファ回路を設け、このPM
OSトランジスタのゲートにクロック信号を与え、NM
OSトランジスタのゲートにクロック信号を反転させた
信号を与えることを特徴とするレジスタ回路。 - 【請求項5】 請求項1記載のレジスタ回路において、 前記スレーブラッチ回路がスルー状態で、かつ第1のP
MOSトランジスタがオフのとき、第1のPMOSトラ
ンジスタのゲート電位を固定するために、前記第2のN
MOSトランジスタと並列に第3のPMOSトランジス
タを設け、この第3のPMOSトランジスタのゲートに
クロック信号を反転させた信号を与えることを特徴とす
るレジスタ回路。 - 【請求項6】 請求項5記載のレジスタ回路において、 前記第3のPMOSトランジスタのゲートにクロック信
号を反転させた信号を与える代わりに、マスターラッチ
回路の出力データを反転させた信号を与えることを特徴
とするレジスタ回路。 - 【請求項7】 請求項1記載のレジスタ回路において、 前記スレーブラッチ回路がスルー状態で、かつ第1のN
MOSトランジスタがオフのとき、第1のNMOSトラ
ンジスタのゲート電位を固定するために、前記第2のP
MOSトランジスタと並列に第3のNMOSトランジス
タを設け、この第3のNMOSトランジスタのゲートに
クロック信号を与えることを特徴とするレジスタ回路。 - 【請求項8】 請求項7記載のレジスタ回路において、 前記第3のNMOSトランジスタのゲートにクロック信
号を与える代わりに、マスターラッチ回路の出力データ
を反転させた信号を与えることを特徴とするレジスタ回
路。 - 【請求項9】 請求項1記載のレジスタ回路において、 前記スレーブラッチ回路の入力端子と並列にコンデンサ
を設けたことを特徴とするレジスタ回路。 - 【請求項10】 第1電位の電源と出力端子との間に設
けられた第1のPMOSトランジスタと、 前記第1電位より低い第2電位の電源と前記出力端子と
の間に設けられた第1のNMOSトランジスタと、 クロック信号の反転入力端子と第1のPMOSトランジ
スタのゲートとの間に設けられ、並列接続された第2の
NMOSトランジスタと第2のPMOSトランジスタと
からなる第1のトランスファ回路と、 クロック信号の入力端子と第1のNMOSトランジスタ
のゲートとの間に設けられ、並列接続された第3のNM
OSトランジスタと第3のPMOSトランジスタとから
なる第2のトランスファ回路と、 第1電位の電源と第1のPMOSトランジスタのゲート
との間に設けられた第4のPMOSトランジスタと、 第2電位の電源と第1のNMOSトランジスタのゲート
との間に設けられた第4のNMOSトランジスタとを有
し、 第2のNMOSトランジスタ、第2のPMOSトランジ
スタ、第4のPMOSトランジスタ及び第4のNMOS
トランジスタの各ゲートに入力データを与え、第2のP
MOSトランジスタ及び第3のNMOSトランジスタの
各ゲートに入力データを反転させた信号を与えることを
特徴とするラッチ回路。 - 【請求項11】 請求項10記載のラッチ回路におい
て、 第1、第2、第3、第4のNMOSトランジスタ並びに
第1、第2、第3、第4のPMOSトランジスタより小
面積のトランジスタからなる、データホールド用のフリ
ップフロップを前記出力端子に接続することを特徴とす
るラッチ回路。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10147999A JP3789251B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | レジスタ回路及びラッチ回路 |
| TW089106361A TW471222B (en) | 1999-04-08 | 2000-04-05 | Register and latch circuits |
| US09/544,786 US6407604B1 (en) | 1999-04-08 | 2000-04-07 | Register and latch circuits |
| KR1020000018406A KR100346002B1 (ko) | 1999-04-08 | 2000-04-08 | 레지스터 및 래치 회로 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10147999A JP3789251B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | レジスタ回路及びラッチ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000295081A true JP2000295081A (ja) | 2000-10-20 |
| JP3789251B2 JP3789251B2 (ja) | 2006-06-21 |
Family
ID=14301866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10147999A Expired - Fee Related JP3789251B2 (ja) | 1999-04-08 | 1999-04-08 | レジスタ回路及びラッチ回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6407604B1 (ja) |
| JP (1) | JP3789251B2 (ja) |
| KR (1) | KR100346002B1 (ja) |
| TW (1) | TW471222B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009022021A (ja) * | 2002-03-13 | 2009-01-29 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI309831B (en) | 2002-09-25 | 2009-05-11 | Semiconductor Energy Lab | Clocked inverter, nand, nor and shift register |
| KR100951658B1 (ko) * | 2007-11-13 | 2010-04-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 신호 라인 제어 회로 및 그의 제어 방법 |
| US9559671B1 (en) * | 2015-12-17 | 2017-01-31 | Nxp Usa, Inc. | Devices and methods with capacitive storage for latch redundancy |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07183771A (ja) * | 1993-12-22 | 1995-07-21 | Fujitsu Ltd | フリップフロップ回路 |
| US5764089A (en) * | 1995-09-11 | 1998-06-09 | Altera Corporation | Dynamic latching device |
| US5767718A (en) * | 1996-09-04 | 1998-06-16 | Etron Technology, Inc. | High speed conditional synchronous one shot circuit |
| US5905393A (en) * | 1997-10-06 | 1999-05-18 | Motorola, Inc. | Unbuffered latch resistant to back-writing and method of operation therefor |
| US6026011A (en) * | 1998-09-23 | 2000-02-15 | Intel Corporation | CMOS latch design with soft error immunity |
-
1999
- 1999-04-08 JP JP10147999A patent/JP3789251B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-04-05 TW TW089106361A patent/TW471222B/zh not_active IP Right Cessation
- 2000-04-07 US US09/544,786 patent/US6407604B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-04-08 KR KR1020000018406A patent/KR100346002B1/ko not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009022021A (ja) * | 2002-03-13 | 2009-01-29 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
| US7705843B2 (en) | 2002-03-13 | 2010-04-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electric circuit, latch circuit, display apparatus and electronic equipment |
| JP2012050147A (ja) * | 2002-03-13 | 2012-03-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3789251B2 (ja) | 2006-06-21 |
| KR100346002B1 (ko) | 2002-07-26 |
| TW471222B (en) | 2002-01-01 |
| US6407604B1 (en) | 2002-06-18 |
| KR20000077011A (ko) | 2000-12-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5880608A (en) | Pulsed domino latches | |
| US6121807A (en) | Single phase edge-triggered dual-rail dynamic flip-flop | |
| US6633188B1 (en) | Sense amplifier-based flip-flop with asynchronous set and reset | |
| US4929854A (en) | Clock circuit having a clocked output buffer | |
| KR890016391A (ko) | 개량된 입·출력 인터페이스 회로를 구비한 반도체 집적 회로장치 | |
| KR20060040384A (ko) | 고속 저전력 클록 게이티드 로직 회로 | |
| US5742192A (en) | Circuit for generating a pulse signal to drive a pulse latch | |
| JP3144374B2 (ja) | 信号変化加速バス駆動回路 | |
| US6972601B2 (en) | Sense amplifier having synchronous reset or asynchronous reset capability | |
| JPH10190416A (ja) | フリップフロップ回路 | |
| JP2001244804A (ja) | レベルコンバータ回路 | |
| US4570085A (en) | Self booting logical AND circuit | |
| JPH03192915A (ja) | フリップフロップ | |
| JP3502116B2 (ja) | 単一ワイヤクロックを有する2段cmosラッチ回路 | |
| US7528630B2 (en) | High speed flip-flop | |
| US5789956A (en) | Low power flip-flop | |
| JPH09312553A (ja) | 論理回路 | |
| JP3789251B2 (ja) | レジスタ回路及びラッチ回路 | |
| JPH11103240A (ja) | クロック信号レベル変換機能付ラッチ回路及びフリップフロップ回路 | |
| JPH09180452A (ja) | メモリのアドレス遷移検出回路 | |
| JP3024397B2 (ja) | ダブル・エッジトリガ・フリップフロップ | |
| US6134686A (en) | Technique to detect drive strength of input pin | |
| KR20000069742A (ko) | 처음과 마지막 스테이지에는 클록을 그리고 마지막 스테이지에는 래치를 구비한 단일-위상 도미노 시간 빌림 논리 | |
| JPH10335992A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US6737888B1 (en) | Method for skipping a latch in timing-sensitive dynamic circuits of a multi-clocked system with unspecific underlap requirement |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050726 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060328 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100407 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110407 Year of fee payment: 5 |
|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110407 Year of fee payment: 5 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120407 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120407 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130407 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140407 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |