JP2000306978A - 基板処理装置、基板搬送装置、および基板処理方法 - Google Patents

基板処理装置、基板搬送装置、および基板処理方法

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JP2000306978A
JP2000306978A JP2000026703A JP2000026703A JP2000306978A JP 2000306978 A JP2000306978 A JP 2000306978A JP 2000026703 A JP2000026703 A JP 2000026703A JP 2000026703 A JP2000026703 A JP 2000026703A JP 2000306978 A JP2000306978 A JP 2000306978A
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Tomohiko Okayama
智彦 岡山
Takeshige Ishida
丈繁 石田
Tomohiko Takeda
智彦 竹田
Satoru Ichimura
悟 市村
Kazunori Suzuki
千典 鈴木
Akio Yoshino
晃生 吉野
Norinobu Akao
徳信 赤尾
Yukio Akita
幸男 秋田
Genichi Kanazawa
元一 金沢
Yasunobu Nakayama
恭伸 中山
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Kokusai Electric Co Ltd
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 成膜室内への処理前基板搬送動作と、基板予
備室への処理済み基板搬送動作とを同時に行って、基板
処理サイクルを短縮し、単位時間当たりの基板処理枚数
を増加する。 【解決手段】 真空搬送室T2を中心にして一軸上に成
膜室R、基板予備室L/Hを配置する。基板予備室L/
Hに2段構成の処理前基板収納スロットHと処理済み基
板収納スロットLとを設ける。真空搬送室T2に2段構
成の上段アーム201と下段アーム202とを伸縮自在
に設け、両アーム201、202は同時に直進動作をす
る。下段アーム202が成膜室Rに処理済み基板U2を
受取りに行く動作中に、上段アーム201が基板予備室
L/Hに処理前基板U1を受取りに行く。上段アーム2
01は受取った処理前基板U1を処理室Rへ、また下段
アーム202が受取った処理済み基板U2は処理済み基
板収納スロットLへ搬送する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は基板処理装置、基板
搬送装置および基板処理方法に係り、特にLCDまたは
半導体を製造するCVD装置、ドライエッチング装置、
アッシング装置、スパッタ装置などのドライプロセス装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の枚葉型の基板処理装置の構成例を
図27、図28に示す。
【0003】図27はインライン型のLCD用プラズマ
CVD装置の説明図である。ロード側カセットスタンド
S1に第1搬送室T1が連設され、第1搬送室T1には
ゲートバルブを介してロード側基板予備室L1が連設さ
れ、さらにロード側基板予備室L1にはゲートバルブを
介して第2搬送室T2が連設されている。第2搬送室T
2にはゲートバルブを介して予備加熱室Hが連設されて
いる。また、第2搬送室T2には第1成膜室R1、第3
搬送室T3、第2成膜室R2、第4搬送室T4、さらに
第3成膜室R3が順次ゲートバルブを介して連設され、
前記第4搬送室T4にはゲートバルブを介して基板冷却
室を兼ねるアンロード側基板予備室L2が連設され、さ
らにゲートバルブを介して第5搬送室T5、該第5搬送
室T5にアンロード側カセットスタンドS2が連設され
ている。
【0004】カセットスタンドS1、S2は基板が装填
された基板カセットを授受可能であり、第1搬送室T1
の搬送装置との協働により、基板を1枚ずつロード側基
板予備室L1に搬送可能となっており、また第2搬送室
T2の搬送装置はロード側基板予備室L1の基板を予備
加熱室Hに搬送し、また、予備加熱室Hの基板を第1成
膜室R1に搬送する。さらに、第3搬送室T3の搬送装
置は、第1成膜室R1から第2成膜室R2へ基板を搬送
し、第4搬送室T4の搬送装置は第2成膜室R2から第
3成膜室R3へ、或は第3成膜室R3からアンロード側
基板予備室L2へ基板を搬送し、第5搬送室T5の搬送
装置はアンロード側基板予備室L2からアンロード側カ
セットスタンドS2へ基板を搬送するようになってい
る。また、第1搬送室T1、第2搬送室T2、第3搬送
室T3、第4搬送室T4、第5搬送室T5の搬送装置は
それぞれ独立して基板を搬送可能となっている。
【0005】図28はクラスタ型のLCD用プラズマC
VD装置の説明図である。真空搬送室T2の外形7角形
状の側壁に、真空室を丸型に配置する。手前から右回り
に順に、基板加熱室H、成膜室となる第2処理室R2、
第4処理室R4、ロードロック室を備えた第2基板予備
室L2、第1基板予備室L1、成膜室となる第3処理室
R3、第1処理室R1がそれぞれゲートバルブを介して
気密に連設される。
【0006】中央の真空搬送室T2の真空搬送ロボット
Aは搬送アームを具備し、基板を搬送可能であり、上述
した複数の室H、R1〜R4、L1〜L2の任意の室に
対して基板を搬送または搬出できるようになっている。
第1基板予備室L1および第2基板予備室L2に対峙し
て、基板カセットを搬入または搬出する第1のカセット
スタンドS1と第2のカセットスタンドS2がそれぞれ
設けられる。第1基板予備室L1と第1のカセットスタ
ンドS1、および第2基板予備室L2と第2のカセット
スタンドS2の間に、1組の搬送アームを有する大気搬
送ロボットB1、B2をそれぞれ備えた大気搬送スタン
ドT1が設けられる。各大気搬送ロボットB1、B2
は、第1または第2のカセットスタンドS1、S2と、
第1または第2の基板予備室L1、L2との間で基板の
授受を行うようになっている。
【0007】真空搬送室T2内の真空搬送ロボットAの
搬送アームにより基板を第1の基板予備室L1から受取
り、基板加熱室Hに搬入する。加熱後真空搬送ロボット
Aで基板を基板加熱室Hから取り出し、第1〜第4処理
室R1〜R4のいずれかに搬入して、基板の処理を行
う。
【0008】基板の処理が完了すると、真空搬送ロボッ
トAの搬送アームにより基板を受取り、第2の基板予備
室L2に移載する。第2の基板予備室L2は第1の基板
予備室L1の全ての基板の処理が完了するまで処理済み
の基板を保管する。そして、保管している間に基板は冷
却される。
【0009】全ての基板の処理が完了すると、第2の大
気搬送ロボットB2により第2の基板予備室L2から基
板カセットを取り出し、第2のカセットスタンドS2に
払い出す。第1のカセットスタンドS1に投入された処
理前基板が装填された基板カセットを第1の大気搬送ロ
ボットB1により第1の基板予備室L1に搬入し、上述
した処理を続行する。
【0010】なお、上述したクラスタ型の基板処理装置
の説明では、LCD用プラズマCVD装置を例にとった
が、LCD用ドライエッチング、アッシング、あるいは
LCD用スパッタ装置についても同様である。処理室R
1〜R4は成膜、エッチング、スパッタに用いられ、成
膜やスパッタの前工程とする基板を加熱する工程が必要
でない場合は、基板加熱室Hを削除すればよい。
【0011】図27に示す従来のインライン型プラズマ
CVD装置では、それぞれの処理室を中心にロード・ア
ンロード専用のロボットをそれぞれ対称に配置し、反応
室R、基板予備室T、基板加熱室Hの無駄時間を削減
し、スループットの向上を図っている。しかし、このシ
ステムではロボットの数が多くなり、従ってコストが高
くなり、フットプリントも大きくなってしまうという欠
点があった。
【0012】また図28に示す従来のクラスタ型プラズ
マCVD装置も反応室Rが複数必要となる高スループッ
トを実現する装置に対しては有効である。しかし、より
高いスループットを実現するために、より多くの反応室
を1台のCVD装置に設置しようとする場合、同じ室構
成でより高いスループットを実現するには、(1)基板
加熱室Hのチャージ枚数(スロット数)を複数にする、
(2)処理室Rの無駄時間を削減するためロボットAを
フログレッグ式ダブルハンド化する、(3)360度旋
回可能な高速搬送ロボットの実現など、共通部の処理能
力も向上させる必要がある。
【0013】このため、真空搬送室T2及び基板加熱室
Hのコストが高くなり、真空室も巨大化してしまうとい
う欠点がある。特に基板の大型化が著しいLCD製造ラ
インにおいては、現在の延長線で上述のような高い処理
能力を実現するには技術的課題が大きく、過剰なコスト
が発生してしまうことになる。また、従来の基板サイズ
においても反応室1室〜2室程度で充分な低スループッ
トの装置の場合、先述とは逆にコスト及びフットプリン
トの面で共通部の占める割合が大きくなり、大きな無駄
を生じてしまうという問題があった。
【0014】上述した問題は、ドライエッチング、アッ
シング複合装置、スパッタ装置についても共通し、また
半導体製造装置においても当てはまる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】あらゆる目標スループ
ットに対しフレキシビリティのある装置を得るために
は、付加価値のある成膜室1室で1台の装置を構成し、
目標スループットに応じその装置台数を提供することが
必要である。この装置の総合パフォーマンスを高め、効
率的な装置とするためには低コスト化、省スペース化を
実現し、さらに従来のクラスタ型の成膜室1室当たりの
スループットと同等以上のスループットを排出すること
のできるシステムを構築する必要がある。
【0016】また、従来の課題の一つであるフットプリ
ントの無駄を排除し効率的な装置を提供するためには、
装置の室数を極力少なくし、室の大きさの極小化を図
り、室の配置を四角くする必要がある。さらに、もう一
つの課題であるコストの無駄を排除し、効率的な装置を
提供するためには、同じく装置を構成する室数を少なく
し、室の大きさの極小化を図り、さらに搬送系の簡略化
(駆動軸数を少なくする)および室内構造の簡略化を図
る必要がある。
【0017】そこで、図29に示すような一軸配列(イ
ンライン)のCVD装置が考えられている。まず室数を
少なくすることに対しては、従来独立した室により処理
を行ってきた基板加熱室と基板予備室の機能を統合し、
新たに基板加熱機構付き基板予備室L/Hを設けること
により、従来基板予備室1〜2室と基板加熱室1室の合
計2〜3室あった真空室を統合して1室にする。これに
より真空室は基板予備室L/H、真空搬送室T2、成膜
室Rの3室で構成することが可能となり、真空搬送室T
2を中心に一軸上に室を配置することにより、CVD装
置を四角く設置しフットプリントの無駄を排除すること
ができるようになる。なお、T1は大気搬送室である。
【0018】しかし、従来のクラスタ型のように基板を
順送りに搬送し、順次処理を開始していくことにより並
列処理をすることが図29の装置では不可能であるた
め、搬送を含めた各処理時間が直列的に装置の処理時間
間隔に加算されてしまう。例えば1枚処理の基板予備室
およびシングルハンドの基板搬送機構であれば、 基板ロード時間+予備室真空排気および加熱時間+搬送
時間(基板予備室から成膜室へ)+反応室処理時間+搬
送時間(成膜室から基板予備室へ)+予備室大気開放時
間+基板アンロード時間 が装置の処理時間間隔(基板排出間隔)となり、従来の
クラスタ型における成膜室1室当たりのスループットを
このシステムで実現することが不可能となる。本発明の
課題は、上述した従来技術の問題点を解消して、一軸配
列の基板処理装置でありながら、基板の搬送時間を低減
して基板処理サイクルを短縮でき、単位時間当たりの基
板処理枚数を増加することが可能な基板処理装置、基板
搬送装置および基板処理方法を提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1の基板処理装置
は、基板に所定の処理を施す基板処理室と、該基板処理
室内に基板を載置する基板載置部と、前記基板処理室で
所定の処理を施される処理前基板あるいは所定の処理が
施された処理済み基板を収納する基板収納部と、該基板
収納部から基板処理室内の基板載置部へ処理前基板を搬
送し、基板処理室内の基板載置部から基板収納部へ処理
済み基板を搬送する基板搬送装置とを備え、前記基板搬
送装置に同時に動作する基板搬送部を2つ設けて、一方
の基板搬送部で基板収納部から基板処理室内の基板載置
部へ処理前基板を搬送し、他方の基板搬送部で基板処理
室内の基板載置部から基板収納部へ処理済み基板を搬送
するようにした基板処理装置である。前述した基板処理
室、基板収納部、基板搬送装置は一軸配列である。
【0020】請求項1の基板処理装置により、基板搬送
装置に基板搬送部を2つ設けて、基板収納部から基板処
理室内の基板載置部へ基板を搬送する動作と基板処理室
内の基板載置部から基板収納部へ基板を搬送する動作を
同時に行うことにより、基板の搬送時間を約半分に低減
できる。これにより基板処理装置における基板処理サイ
クルを短縮でき、単位時間当たりの基板処理枚数を増加
することができる。本発明において、2つの基板搬送部
の並べかたは任意である。装置の大型化が問題にならな
い場合には、横並びに2つ設けるようにしても、上下に
2つ並べるようにしてもよい。また、2つの基板搬送部
は、それぞれ処理前基板専用、および処理済み基板専用
として固定使用するようにしてもよいが、そのように固
定せず、あるときは処理前基板を扱い、あるときは処理
済み基板を扱うというように、任意使用することが好ま
しい。
【0021】請求項2の基板処理装置は、前記基板収納
部を少なくとも2つ設けて、一方の基板収納部で前記処
理前基板を収納し、他方の基板収納部で前記処理済み基
板を収納するようにした請求項1に記載の基板処理装置
である。請求項2の基板処理装置により、少なくとも2
つの基板収納部を2つの基板搬送部と対応させること
で、基板搬送装置の余分な動作を省くことができ、基板
搬送時間を一層低減できる。
【0022】請求項3の基板処理装置は、前記処理前基
板を収納する基板収納部の基板載置面と前記基板載置部
の基板載置面との高さ位置に差をつけて配置し、該高さ
位置における差が処理前基板を搬送する基板搬送部の基
板載置面と処理済み基板を搬送する基板搬送部の基板載
置面との高さ位置の差とほぼ同じとした請求項2に記載
の基板処理装置である。好ましくは、基板搬送装置に、
処理前基板を搬送する基板搬送部および処理済み基板を
搬送する基板搬送部を同時に昇降する1台の昇降機構を
設け、基板収納部の処理前基板を収納する基板収納部か
らの処理前基板の受取りと、基板処理室の基板載置部か
らの処理前基板の受取りとを同時に行えるようにすると
良い。請求項3の基板処理装置により、処理前基板を収
納する基板収納部から処理前基板を受取る動作と、基板
処理室の基板載置部から処理済み基板を受取る動作とを
同時に行う場合、基板搬送装置に設けた昇降機構が1台
でも、その上下動作を最短にすることが可能となり、基
板搬送時間をより一層低減できる。
【0023】請求項4の基板処理装置は、前記処理済み
基板を収納する基板収納部の基板載置面と前記基板載置
部の基板載置面との高さ位置に差をつけて配置し、該高
さ位置における差が処理前基板を搬送する基板搬送部の
基板載置面と処理済み基板を搬送する基板搬送部の基板
載置面との高さ位置の差とほぼ同じとした請求項2また
は3に記載の基板処理装置。記載の基板処理装置であ
る。好ましくは、基板搬送装置に、処理前基板を搬送す
る基板搬送部および処理済み基板を搬送する搬送部を同
時に昇降する1台の昇降機構を設け、基板収納部の処理
済み基板を収納する基板収納部への処理済み基板の受渡
しと、基板処理室の基板載置部への処理前基板の受渡し
とを同時に行えるようにすると良い。請求項4の基板処
理装置により、処理済み基板を収納する基板収納部へ処
理済み基板を受け渡す動作と、基板処理室の基板載置部
へ処理前基板を受け渡す動作とを同時に行う場合、基板
搬送装置に設ける昇降機構が1台であっても、その上下
動作を最短にすることが可能となり、基板搬送時間をよ
り一層低減できる。
【0024】請求項5の基板処理装置は、前記基板収納
部を昇降させる昇降機を設け、前記昇降機により昇降す
る前記基板収納部を3段以上設け、前記昇降機で前記基
板収納部を昇降したとき、3段以上の基板収納部のう
ち、1つの基板収納部が、前記基板搬送装置の処理前基
板搬送部と対応する高さ位置に来て前記処理前基板搬送
部からアクセス可能となるようにし、他の1つの基板収
納部が、前記基板搬送装置の処理済み基板搬送部と対応
する高さ位置に来て前記処理済み基板搬送部からアクセ
ス可能となるようにしたことを特徴とする請求項1に記
載の基板処理装置である。請求項5の基板処理装置によ
り、基板収納部を3段以上設けて基板収納部での処理を
並行して行い、かつ昇降機構により3段以上の基板収納
部を昇降させて、いずれかの基板収納部にアクセスでき
るようにしたので、基板処理時間が基板処理のための準
備時間より短い場合に、装置の処理時間間隔で支配的と
なる基板収納部での処理が短縮できるので、処理時間間
隔を短縮させることができる。
【0025】請求項6の基板処理装置は、前記基板搬送
装置における基板搬送部は直進動作をし、処理前基板を
搬送する基板搬送部と処理済み基板を搬送する基板搬送
部とが相反する方向に伸縮する請求項1ないし5のいず
れかに記載の基板処理装置である。好ましくは、基板搬
送装置に設けた2つの基板搬送部を直進動作して伸縮自
在とし、待機時に処理前基板を搬送する基板搬送部およ
び処理済み基板を搬送する基板搬送部はともに縮んで基
板搬送装置内に納まる。基板搬送時に、一方の処理前基
板を搬送する基板搬送部は、基板搬送装置から処理前基
板を収納する基板収納部へ伸長して処理前基板を受け取
り、一旦縮んで基板搬送装置を経由して基板処理室へ伸
長して処理前基板を受渡す。他方の処理済み基板を搬送
する基板搬送部は、基板搬送装置から基板処理室へ伸長
して処理済み基板を受け取り、一旦縮んで基板搬送装置
を経由して処理済み基板を収納する基板収納部へ伸長し
て処理済み基板を受渡すように構成されると良い。請求
項6の基板処理装置により、基板を回転させない分、基
板搬送装置の設置面積を低減でき、基板処理装置が設置
されるクリーンルームの有効利用が図られる。
【0026】請求項7に記載の基板処理装置は、前記2
つの基板搬送部は、上から見てほぼ重なるように2段構
成となっている請求項1ないし6のいずれかに記載の基
板処理装置である。この請求項7の基板処理装置によれ
ば、基板搬送部を上下の2段構成としたので、横並びに
2つ並べるものに比して基板搬送部を収納する基板搬送
室が小さくなり、装置全体を小型化でき、装置コストも
低減できる。また基板搬送室を真空引きする場合には真
空引きに要する時間を低減でき、スループットが向上す
る。
【0027】請求項8の基板処理装置は、基板を処理す
る気密構造の1つの基板処理室と、1つの基板搬送室
と、1つの予備室とを順次設け、前記基板処理室と前記
基板搬送室との間に設けられた第1のハルブであって、
閉じた場合には前記基板処理室と前記基板搬送室との間
を気密にすることができ、開いた場合には前記基板がそ
の内部を通って移動可能な第1のハルブと、前記基板搬
送室と前記予備室との間に設けられた第2のバルブであ
って、閉じた場合には前記基板搬送室と前記予備室との
間を気密にすることができ、開いた場合には前記基板が
その内部を通って移動可能な第2のバルブと、前記予備
室と大気圧側の間に設けられた第3のバルブであって、
閉じた場合には前記予備室を気密にすることができ、開
いた場合には前記基板がその内部を通って移動可能な第
3のバルブとを設け、前記予備室の外の大気圧側には前
記予備室とほぼ同じ高さに複数枚の基板を積層保持可能
なカセットを設け、前記基板搬送室には前記1つの予備
室と前記1つの基板処理室との間で基板の受渡しが可能
な第1の基板搬送装置を設け、前記カセットと前記予備
室の間には基板の受渡しが可能な第2の基板搬送装置を
有することを特徴とする基板処理装置である。
【0028】カセットローダ室に対して、基板処理室、
基板搬送室、予備室、第1ないし第3のバルブからなる
複数の連結モジュールを鉛直方向に積み重ね、各連結モ
ジュールの予備室と、これらの予備室の高さと異なる位
置のカセットに基板を搬送することが可能な基板搬送装
置を設けた基板処理装置は知られている。これに対し
て、請求項8の発明では基板処理室、基板搬送室、予備
室、第1ないし第3のハルブからなるただ1つの連結モ
ジュールを設けるのみであり、またカセットも予備室の
高さとほぼ同じ高さにしている。このため、上記のよう
な公知の基板処理装置と比較して、大気圧側に設けた第
2の基板搬送装置における上下昇降機構が短くなるの
で、装置の製造コストを低減でき、また基板搬送におけ
る所用時間を短縮することができる。
【0029】請求項9の基板処理装置は、前記カセット
の複数枚積層基板の載置位置の高さ範囲内に、前記基板
予備室の基板収納部が位置することを特徴とする請求項
8に記載の基板処理装置である。これにより、更に効果
的に基板搬送装置の機構が簡略化するので、装置の製造
コストを一層低減でき、また基板搬送における所用時間
を更に短縮することができる。
【0030】請求項10の基板処理装置は、前記第2の
基板搬送装置が、前記カセットの複数枚積層基板の載置
位置の高さ範囲内に基板の搬入及び/または搬出動作可
能な範囲内で昇降する昇降機構を有することを特徴とす
る請求項9に記載の基板処理装置である。このように第
2の基板搬送装置に設ける機構を昇降機構とすると、更
に効果的に昇降機構が短くできるので、装置の製造コス
トを一層低減でき、また基板搬送における所用時間を更
に短縮することができる。
【0031】請求項11の基板搬送装置は、基板収納部
から基板処理室内の基板載置部へ処理前基板を搬送し、
基板処理室内の基板載置部から基板収納部へ処理済み基
板を搬送する基板搬送装置において、前記基板搬送装置
に同時に動作する基板搬送部を2つ設けて、一方の基板
搬送部で基板収納部から基板処理室内の基板載置部へ処
理前基板を搬送し、他方の基板搬送部で基板処理室内の
基板載置部から基板収納部へ処理済み基板を搬送するよ
うにした基板搬送装置である。請求項11の基板搬送装
置により、基板搬送装置に基板搬送部を2つ設けて、基
板収納部から基板処理室内の基板載置部へ基板を搬送す
る動作と基板処理室内の基板載置部から基板収納部へ基
板を搬送する動作を同時に行うことにより、基板の搬送
時間を約半分に低減できる。特に、前記2つの基板搬送
部は、上から見てほぼ重なるように2段構成とすること
が好ましい。基板搬送部を上下の2段構成とすると、基
板搬送部を収納する基板搬送室が小さくなり、装置コス
トを低減できる。また基板搬送室を真空引きする場合に
は真空引きに要する時間を低減でき、スループットが向
上する。
【0032】請求項12の基板処理方法は、第1の基板
支持部で基板処理室に処理済み基板を受け取りに行く動
作中に、第2の基板支持部で処理前基板を受け取りに行
き、前記第1の基板支持部で処理済み基板を受け取り、
第2の基板支持部で処理前基板を受け取った後、前記第
2の基板支持部で処理前基板を処理室に搬入し、前記処
理前基板を前記処理室で所定の処理を施す基板処理方法
である。ここで受取った処理前基板は処理室へ搬送する
が、受取った処理済み基板は基板収納部へ搬送するよう
にしても、あるいは次の処理工程の処理室へ搬送するよ
うにしてもよい。これにより、基板搬送時間を短縮で
き、基板処理装置における基板処理サイクルを短縮で
き、単位時間当たりの基板処理枚数を増加することがで
きる。
【0033】請求項13の基板処理方法は、前記第2の
基板支持部で処理前基板を処理室に搬入している動作中
に、前記受け取った処理済み基板を収納する請求項12
に記載の基板処理方法である。受取った処理済み基板を
収納する動作中に、前記受取った処理前基板を処理室内
に搬入することにより、基板搬送時間を一層短縮でき
る。
【0034】請求項14の基板処理方法は、前記処理済
み基板を受け取りに行く動作と処理済み基板を受け取り
に行く動作がほぼ同時に開始することを特徴とする請求
項12に記載の基板処理方法である。処理済み基板を受
取りに行く動作と処理前基板を受取りに行く動作がほぼ
同時に開始することにより、基板搬送時間を最短にで
き、基板処理装置における基板処理サイクルを更に短縮
でき、単位時間当たりの基板処理枚数を更に増加するこ
とができる。
【0035】
【発明の実施の形態】本発明の基板処理装置の実施の形
態として、LCD基板を処理する枚葉式のプラズマCV
D装置を例にとって説明する。
【0036】LCD用のCVD装置は、図29に示す一
軸配列のCVD装置と基本構成は共通する。すなわち大
気搬送ロボットBを備えた大気搬送室T1と複数の真空
室から構成される。複数の真空室は、基板加熱室と予備
室(ロードロック室)の機能を統合した基板収納部とし
ての基板予備室L/H、真空搬送ロボットを備えた基板
搬送室としての真空搬送室T2、成膜処理を行う基板処
理室としての成膜室Rの3室で構成する。真空搬送室T
2を中心に一軸上に3つの真空室を配置して、基板処理
装置を丸くではなく、四角く設置してフットプリントの
無駄を排除するようにしてある。また、独立した室によ
り処理を行ってきた基板加熱室と予備室とを1つの基板
予備室L/Hとして設けることにより、基板予備室1〜
2室と基板加熱室1室の合計2〜3室あった真空室を統
合して1室にしている。1軸配列および真空室の統合に
より装置設置のための床面積が縮小できる。
【0037】以下に図1を用いて具体的に説明する。図
1に前述したLCD用CVD装置の一軸方向に沿った縦
断面図を示す。複数枚の基板を積層保持可能な基板カセ
ットCが大気圧側に設けられる。この基板カセットC内
の基板を搬送する第2の基板搬送装置としての大気搬送
ロボットBを備えた大気搬送室T1が基板カセットCに
隣接される。この大気搬送室T1と隣接し、かつゲート
バルブG1を介して基板予備室L/Hが設けられる。前
記基板カセットCは、この基板予備室L/Hとほぼ同じ
高さに設置する。基板予備室L/HにはゲートバルブG
2を介して第1の基板搬送装置としての真空搬送ロボッ
トAを備えた真空搬送室T2が連設される。さらに真空
搬送室T2にはゲートバルブG3を介して成膜室Rが連
設される。
【0038】大気搬送室T1の大気搬送ロボットBは、
アーム1を有し、アーム1の先端は1軸駆動による正方
向の直進運動をして、旋回によりその方向を任意に変
え、再び直進運動することにより基板を搬送する。搬送
内容は、基板カセットCと基板予備室L/H間での基板
の受渡しである。すなわち、一方で基板カセットCへ処
理済み基板U2をロードし、基板カセットCから処理前
基板U1をアンロードし、他方で基板予備室L/Hへ処
理前基板U1をロードし、基板予備室L/Hから処理済
み基板U2をアンロードする。
【0039】基板予備室L/Hは、成膜室Rで所定の処
理を施される処理前基板U1、あるいは所定の処理が施
された処理済み基板U2を収納する(処理前基板U1又
は/及び処理済み基板U2を単に基板Uという)。基板
予備室L/H内の基板収納部は上下2段に設け、かつ真
空搬送ロボットAの基板搬送部28の上段アーム201
に対応する側を処理前基板収納スロットH(H室)と
し、基板搬送部28の下段アーム202に対応する側を
処理済み基板収納スロットL(L室)としている。ま
た、真空搬送ロボットAの基本搬送部28の上段アーム
201に対応する側を処理済み基板収納スロットL(L
室)とし、基板搬送部28の下段アーム202に対応す
る側を処理前基板収納スロットH(H室)としても良
い。これにより、処理前基板の加熱、処理済み基板の冷
却が必要であっても、別々に対応でき、処理時間の短縮
を図ることができる。
【0040】上段の処理前基板収納スロットHにはパネ
ルヒータ11および反射板12が設けられ、複数の支持
ピン13に水平支持される1枚の処理前基板U1を予備
加熱するようになっている。下段の処理済み基板収納ス
ロットLには冷却板14および反射板15が設けられ、
複数の支持ピン16に水平支持される1枚の処理済み基
板U2を冷却するようになっている。複数の基板支持ピ
ン13および16の各頂部と接するそれぞれの面が基板
載置面13S、16Sとなる。
【0041】真空搬送室T2は基板Uの受渡しが可能な
基板搬送装置としての真空搬送ロボットAを備える。基
板搬送ロボットAは基板Uを搬送する基板搬送部28
と、基板搬送部28を駆動する駆動伝達系としての搬送
機構部21とから構成される。さらに基板搬送部28は
基板Uを支持する基板支持部(エンドエフェクタ)と基
板支持部28を動かす搬送アーム200とから成る。
【0042】真空搬送ロボットAの搬送アーム200は
上下に2段設け、一方を基板予備室L/Hから成膜室R
内のアノードとなる基板載置台31へ1枚の処理前基板
U1を搬送する上段アーム201とする。他方を成膜室
R内の基板載置台31から基板予備室L/Hへ1枚の処
理済み基板U2を搬送する下段アーム202とし、これ
が前記一方の上段アーム201と同時に動作するように
なっている。
【0043】処理前基板収納スロットHの基板載置面1
3Sと、成膜室Rにおける基板支持ピン32の基板載置
面32Sとの高さ位置に差αをつけて配置し、この高さ
位置における差αが処理前基板U1を搬送する上段アー
ム201の基板載置面201Sと処理済み基板U1を搬
送する下段アーム202の基板載置面202Sとの高さ
位置の差γとほぼ同じとする。真空搬送ロボットAの余
分な上下動作を省くためである。
【0044】また処理済み基板収納スロットLの基板載
置面16Sと、基板支持ピン32の基板載置面32Sと
の高さ位置に差βをつけて配置し、この高さ位置におけ
る差βが処理前基板U2を搬送する上段アーム201の
基板載置面201Sと処理済み基板U2を搬送する下段
アーム202の基板載置面202Sとの高さ位置の差γ
とほぼ同じとする。真空搬送ロボットAの余分な上下動
作を省くためである。
【0045】真空搬送ロボットAにおける上下段アーム
201、202は、直進動作をし、上段アーム201と
下段アーム202とが相反する方向に伸縮するようにな
っている。下段アーム202が成膜室Rに処理済み基板
U2を受け取りに行く動作中に、上段アーム201が処
理前基板U1を受取りに行き、受取った処理済み基板U
2を基板予備室L/Hに収納する動作中に、受取った処
理前基板U1を成膜室R内に搬入するようになってい
る。このとき下段アーム202が処理済み基板U2を受
取りに行く動作と、上段アーム201が処理前基板U1
を受取りに行く動作がほぼ同時に開始するようになって
いる。
【0046】真空搬送室T2内の真空搬送ロボットAを
搭載する搬送台22は、真空搬送室T2の底部から内部
にZ軸方向に挿入された昇降軸23に連結され、上下に
昇降できるようになっている。その昇降機構20は、ボ
ールネジ24をモータ25により回転させることによ
り、ボールネジ24に螺合して上下動する前記昇降軸2
3を介して行われる。昇降軸23の周囲にはベローズ2
6が設けられ、駆動軸26の軸方向運動時の気密を確保
するようになっている。
【0047】成膜室Rは、その中央に基板載置台31に
設けられた基板載置部としての複数の基板支持ピン32
を備え、基板支持ピン32上に基板Uを支持するように
なっている。複数の基板支持ピン32の頂部と接する面
が基板載置面32Sとなる。基板載置台31は、成膜室
Rの底部から内部にZ軸方向に挿入された昇降軸33に
連結され、昇降できるようになっている。その昇降機構
30は、ボールネジ34をモータ35により回転させる
ことにより、ボールネジ34に螺合して上下動する前記
昇降軸33を介して行われる。昇降軸33の周囲にはベ
ローズ36が設けられ、昇降軸33の軸方向運動時の気
密を確保するようになっている。
【0048】成膜室Rは二槽構造になる。基板載置台3
1が上昇すると、成膜室Rのカソードとなる天井37に
突設した内槽上半部38と基板載置台31側に突設した
内槽下半部39とが閉じて内槽が形成され、支持ピン3
2が基板載置台31内へ引っ込んで、支持ピン32から
基板載置台31への基板の移載を可能にする。基板載置
台31が下降すると内槽が開くとともに、支持ピン32
が基板載置台31から飛出して支持ピン32への基板の
移載を可能とする。
【0049】図2、図3に真空搬送室T2内に設けられ
た搬送機構部21の具体例を示す。容器状の搬送台22
に、互いに逆方向(左右方向)の直線往復運動をする上
下2段の搬送アーム200が設けられる。上下2段のア
ーム201、202は、それぞれ平行配列された2本で
一組になっており、LCD基板Uの両側を支持して、L
CD基板Uを水平に搬送する。上下2段のアーム20
1、202は共に、搬送台22の左右の側壁に設けた2
つの開口203のうちの、一方の開口203から出てき
て一方の真空室内まで延出した後搬送台22内へ引き返
し、再び他方の開口203から出ていき他方の真空室内
まで延出した後搬送台22内へ引き返すという直線往復
運動ないし伸縮運動を行う。
【0050】このような直線往復運動を行わせるため
に、アーム側には、アーム201、202の下部にリニ
アガイドレール204とラックギヤ205を平行に設け
る。搬送台側には、搬送台22内に上下2段にベース2
06、207を設けて、そのベース206、207の両
端にピニオンギヤ208を設置する。上記アーム20
1、202の下部に設けたリニアガイドレール204を
ベース206、207に設けたリニアガイド217に離
脱しないように填め込んで、上下2段のアーム201、
202を各リニアガイド217に沿って摺動できるよう
にする。リニアガイド217上を往復直線運動できるア
ームを持つことにより、回転機構が不要となり機構の簡
略化により大幅なコストダウンが可能である。
【0051】また昇降軸23に主駆動軸209が軸方向
に挿通され、この主駆動軸209を1台の駆動源として
正逆回転するモータ210で回転させ、この回転を搬送
台22内に配置されるカサ歯車211を介して2つの反
対方向に延びた水平従動軸212、213に互いに逆方
向回転となるように伝達する。なお、主駆動軸209は
昇降軸23の下部で磁性流体214によってシールされ
ている。
【0052】各水平従動軸212、213は各プーリ2
15を回転させ、この回転をタイミングベルト216
で、連動軸218を介して上下2段のベース206、2
07の両端に設けた各ピニオンギヤ208に伝達する。
ピニオンギヤ208の回転は、ラックギヤ205を介し
て上下2段のアーム201、202に伝えられ、2つの
アーム201、202の動きは連動した正逆の直進運動
となる。アーム201、202が搬送台22内を通過す
る過程で、ラックギヤ205はベース206、207の
一端に設けたピニオンギヤ208から他端に設けたピニ
オンギヤ208に乗り移る。このように主駆動軸からカ
サ歯車で互いに逆向きの回転を与えた従動軸2軸に駆動
力を伝達することにより、アーム201、202は、互
いに逆向きに同時に移動することができる。
【0053】上記搬送機構部21においてアーム20
1、202のストロークが不足する場合は、アーム20
1、202を複数段の連動収縮型とするとよい。図3の
矢印で引出した拡大図例の連動収縮型搬送機構は、アー
ム201または202に対応するアーム300自体がさ
らに2段構成になっている場合を示す。第1アーム用ピ
ニオンギヤ303(ピニオンギヤ208に対応)により
ラックギヤ304を介して直進運動する下段の第1アー
ム301と、継手アーム305を介して第1アーム30
1と連動する上段の第2アーム302とを備える。
【0054】第1アーム用ピニオンギヤ303の回転に
よりラックギヤ304を介して第1アーム301が進退
し、その進退とともにタイミングベルト310を介して
第2アーム用プーリ306が回転し、この回転を第2ア
ーム用タイミングベルト307で、継手アーム305の
両端に設けた第2アーム用ピニオンギヤ308に伝達す
る。第2アーム用ピニオンギヤ308の回転は、ラック
ギヤ309を介して第2アーム302に伝えられる。し
たがって第1アーム301が伸びたときは、これに連動
して第2アーム302も伸び、逆に第1アーム301が
縮んだときはこれに連動して第2アーム302も縮むこ
とになり、直進運動のストロークが拡張する。
【0055】図1において、基板搬送部を2つ並べて同
時搬送する場合、基板予備室において、1基板収納部と
なるスロットは1段構成とする、2スロットは上下機構
を設けた2段構成とする、3上述した実施の形態のよう
に上下機構は基板搬送部側に担わせて、基板搬送部スロ
ットは上下機構を設けない上下2段構成とすることが考
えられる。
【0056】1については、加熱及び冷却を同じスロッ
トで行わなければならないため、スロット自体が加熱さ
れないような工夫が必要となるが、加熱されないように
することは困難である。スロット自体が加熱されると、
スロットの冷却が必要となるため、スループットの低下
を招く。加熱を抑えるには、ランプ加熱を採用する必要
があるが、ランプ加熱は特に低温下における温度制御性
に問題がある。さらに急激なヒートサイクルを伴うので
パーティクル発生の原因となる。
【0057】2については、2段構成のスロットを上下
する上下機構を基板予備室に設ける必要があるため、装
置の製造コストがアップする。
【0058】3の実施の形態については、基板Uをスロ
ットへ移動するための上下機構を基板予備室側に設ける
必要がないため、装置の製造コストの低減が可能とな
る。また、加熱スロットと冷却のスロットを反射板15
で隔てているため、各スロットは常にほぼ一定の温度を
保っていることから、基板予備室におけるパーティクル
の低減、低温化での温度安定性確保、スループットの向
上が期待できる。
【0059】つぎに図4を用いてCVD装置の基板搬送
順序を説明すると、まず成膜室Rおよび基板予熱室L/
HのゲートバルブG2、G3を開く(ステップ13
1)。両ゲートバルブG2、G3を開いたら、搬送アー
ム200を伸長して上段アーム201は基板予備室L/
Hの処理前基板収納スロットHに、下段アーム202は
反応室Rにそれぞれ挿入する(ステップ132)。真空
搬送室T2の昇降軸23を上昇して、処理前基板収納ス
ロットHの支持ピン13に支持されている処理前基板U
1を上段アーム201で受け取り、下段アーム202で
反応室Rの支持ピン32に支持されている処理済み基板
U2を受け取る(ステップ133)。
【0060】基板U1、U2を受け取ったら上下段のア
ーム201、202を収縮して一旦搬送台22内に納め
(ステップ134)、真空搬送室T2の昇降軸23を下
降して、2段のアーム201、202の高さを収納しよ
うとする処理済み基板収納スロットLおよび反応室Rの
挿入位置に高さをそれぞれ合せる(ステップ135)。
高さを合せた後、搬送アーム200を伸長し、上段アー
ム201は反応室Rへ、下段アーム202は処理済み基
板収納スロットLへそれぞれ挿入する(ステップ13
6)。挿入したら昇降軸23を下降して、下段アーム2
02に支持されていた処理済み基板U2を処理済み基板
収納スロットLの支持ピン16に受け渡し、上段アーム
201に支持されていた処理前基板U1は反応室Rの支
持ピン32に受け渡す(ステップ137)。受渡し完了
後、上下段のアーム201、202を収縮して(ステッ
プ138)、真空搬送室T2内に納めて、昇降軸23を
上昇して、上下段のアーム201、202を初期ないし
待機位置に戻し、反応室Rおよび基板予備室L/Hの各
ゲートバルブG2、G3を閉じる((ステップ13
9)。
【0061】図5を用いて、上述した上下2段のスロッ
トH、Lを有する基板予備室L/Hと、上下2段のアー
ム201、202を有する真空搬送室T2とを有するC
VD装置のLCD基板の処理の流れを説明する。なお、
図5において使用されている記号の意味をここにまとめ
て記す。
【0062】H:処理前基板収納スロット L:処理済み基板収納スロット T:真空搬送室 R:成膜室 ロード:基板ロード(処理前基板収納スロットHへ) アンロード:基板アンロード(処理済み基板収納スロッ
トLより) Evac:基板予備室真空排気 Vent:基板予備室大気開放 加熱:基板予備室の処理前基板収納スロットHにおける
基板予備加熱 搬送1:処理前基板収納スロットHから成膜室Rへ基板
搬送 搬送2:成膜室Rから処理済み基板収納スロットLへ基
板搬送 n−1枚目の処理前基板U1を基板予備室L/Hのスロ
ットHにロードし、基板予備室L/Hを真空排気(Ev
ac)した後、基板U1を所定温度まで加熱する。加熱
後、真空搬送室T2の上段アーム201で処理前基板U
1を成膜室Rに搬送する(搬送1)。成膜室Rで所定の
プロセスを行う。このプロセス終了に先立って、n枚目
の処理前基板U1を基板予備室L/Hにロードし、基板
予備室L/Hを真空排気(Evac)した後、所定温度
まで加熱する。この加熱の終了時間とプロセス終了時間
とを合せる。
【0063】加熱、プロセス両終了後、真空搬送室T2
の下段アーム202でn−1枚目の処理済み基板U2を
成膜室Rから基板予備室L/HのスロットLへ搬送し
(搬送2)、上段アーム201で先にロードしたn枚目
の処理前基板U1を成膜室Rに搬送する(搬送1)。こ
の両搬送2、1は、実施形態の構成によりパラレル処理
でかつ同時に行われる。
【0064】基板予備室L/Hにn−1枚目の処理済み
基板U2を搬送した後、基板予備室L/Hを大気開放し
(Vent)、基板予備室L/HのスロットLより外部
に大気搬送ロボットBでアンロードする。また成膜室R
にn枚目の処理前基板U1を搬送後、前記基板予備室L
/Hの大気開放と同時に成膜室Rで所定のプロセスを行
う。このプロセス終了に先立って、n+1枚目の処理前
基板U1を基板予備室L/HのスロットHにロードし、
基板予備室L/Hを真空排気(Evac)した後、所定
温度まで加熱する。この加熱の終了時間とプロセス終了
時間とを合せる。このn枚目の基板のプロセス前半の処
理とn−1枚目の予備・アンロード処理、およびn枚目
のプロセス後半の処理とn+1枚目のロード・予備処理
とは、ともに2つの処理(プロセス処理と予備・アンロ
ード処理/ロード・予備処理)を同時に行うパラレル処
理である。
【0065】前記n枚目の基板のプロセス処理、n+1
枚目の基板の加熱処理両終了後、真空搬送室T2の下段
アーム202でn枚目の処理済み基板U2を成膜室Rか
ら基板予備室L/HのスロットLへ搬送し(搬送2)、
上段アーム201でn+1枚目の処理前基板U1を基板
予備室L/HのスロットHから成膜室Rに搬送する(搬
送1)。この両搬送1、2は、実施形態の構成によりパ
ラレル処理でかつ同時に行われる。
【0066】基板予備室L/Hにn−1枚目の処理済み
基板U2を搬送した後、基板予備室L/Hを大気開放し
(Vent)、基板予備室L/HのスロットLより外部
に大気搬送ロボットBでアンロードする。また成膜室R
にn+1枚目の処理前基板U1を搬送後、前記基板予備
室L/Hの大気開放と同時に成膜室Rで所定のプロセス
を開始する。
【0067】以下、搬送(搬送2/搬送1)から搬送
(搬送2/搬送1)間の処理(これを処理時間間隔とい
う)を繰り返す。
【0068】次に、図6〜図10を用いてLCD用CV
D装置の成膜→成膜後の基板搬出→新規基板搬入の一連
動作をさらに具体的に説明する。図6は成膜中、図7は
成膜室からの処理済み基板の受け取り、図8は処理済み
基板の搬出、図9は処理前基板の成膜室への搬入、図1
0は成膜室での基板の受け取りをそれぞれ示す。
【0069】成膜時は図6に示すように、全ゲートバル
ブG1〜G3は閉じている。成膜室Rでは基板Uを成膜
中である。真空搬送室T2はアーム201、202を縮
めて待機中である。基板予備室L/Hは処理前基板収納
スロットHに収納されている処理前基板U1を予備加熱
中である。
【0070】成膜が終了したら図7に示すように、第2
及び第3ゲートバルブG2、G3を開いて、成膜室Rの
昇降機構30を駆動して昇降軸33を降下させる。これ
により基板載置台31から処理済み基板U2を浮かせ
る。真空搬送ロボットAを動かし、空の下段アーム20
2を真空搬送室T2から成膜室Rに伸ばして処理済み基
板U2の下に滑り込ませ、空の上段アーム201を基板
予備室L/H内の処理前基板収納スロットHの処理前基
板U1の下に滑り込ます。図において、成膜室Rは受渡
し前、真空搬送室T2は搬出動作中で受け取り前、基板
予備室L/Hは処理前基板収納スロットHでの受渡し前
をそれぞれ示している。
【0071】両段のアーム201、202を各基板U
1、U2の下に滑り込ませたら、図8に示すように、真
空搬送室T2の昇降機構20を駆動して昇降軸23を上
昇させ、両段のアーム201、202を上昇する。下段
アーム202は成膜室Rで処理前基板U1を基板支持ピ
ン32から受け取り、上段アーム201は基板予備室L
/Hの処理前基板収納スロットHで基板支持ピン13か
ら処理前基板U1を受け取る。これらの受取りは、基板
予備室の処理前基板収納部と成膜室の基板載置部間の高
さ位置の差α、およびアーム間の高さ位置の差γがほぼ
同じであるので、同時に行うことができる。図におい
て、成膜室Rは受渡し後、真空搬送室T2は搬出動作中
受取り後、基板予備室L/Hは処理前基板収納スロット
Hでの受渡し後をそれぞれ示している。
【0072】各アーム201、202が基板Uを受け取
ったら、両アーム201、202を収縮して一旦搬送台
22内の待機位置に戻したうえ、真空搬送室T2の昇降
機構20を駆動して真空搬送ロボットAを所定の位置ま
で下降する。下降後、図9に示すように、真空搬送ロボ
ットAを駆動して両アーム201、202を反対方向に
伸ばす。 上段アーム201は基板予備室L/Hから成
膜室Rへ伸ばし処理前基板U1を成膜室R内へ搬入し、
下段アーム202は成膜室Rから基板予備室L/Hへ伸
ばし処理済み基板収納スロットL内へ処理済み基板U2
を搬入する。図において、成膜室Rは受取り前を、真空
搬送室T2は搬入動作中受渡し前を、基板予備室L/H
は処理済み基板収納スロットLでの受け取り前をそれぞ
れ示す。
【0073】両段のアーム201、202を各室R、L
/H内へ挿入したら、図10に示すように、真空搬送室
T2の昇降機構20を駆動して駆動軸22を下降させ、
両段のアーム201、202を下降する。成膜室Rの基
板支持ピン32は上段アーム201から処理前基板U1
を受け取り、基板予備室L/Hの処理済み基板収納スロ
ットLの基板支持ピン16は下段アーム202から処理
済み基板U2を受け取る。これらの受取りも、基板予備
室の処理済み基板収納部と成膜室の基板載置部間の高さ
位置の差α、およびアーム間の高さ位置の差γがほぼ同
じであるので、同時に行うことができる。図において、
成膜室Rは受渡し後、真空搬送室Lは搬出動作中受渡し
後、基板予備室L/Hは処理済み基板収納スロットLで
の受渡し後をそれぞれ示している。
【0074】このように互いに逆方向に直線運動して基
板搬送室T2の両側に位置する成膜室Rと基板予備室L
/Hとに同時にアクセスできる2つのアーム201、2
02を備えた真空搬送ロボットAと、上下2段に処理前
基板U1と処理済み基板U2をそれぞれ収納可能な基板
予備室L/Hとを備えているので、成膜室Rで成膜し、
成膜後の処理済み基板U2を成膜室Rから搬出するとと
もに処理前基板U1を基板予備室L/Hから搬出し、さ
らに処理前基板U1を成膜室Rへ搬入するとともに処理
済み基板U2を基板予備室L/Hへ搬入するというパラ
レル処理が可能となる。
【0075】上述した本実施の形態によれば、まず基板
予備室においては、基板収納部を処理前基板収納スロッ
ト、処理済み基板収納スロットというように2つ以上持
ち、処理前基板と処理済み基板を同時に収納することに
より、プロセス中に相前後して、ロード時とアンロード
時の真空排気処理および大気開放処理を同時に行うこと
ができ、大幅な処理時間間隔(基板処理サイクル)の短
縮を実現できる。
【0076】図5に示すように X1=予備室大気開放時間+基板アンロード時間 X2=基板ロード時間+予備室真空排気および加熱時間 Y=搬送時間(基板予備室から成膜室へ(搬送1))/
搬送時間(成膜室から基板予備室へ(搬送2)) Z=成膜室の処理時間 としたとき、Zが通常の X=X1+X2 より短い場合、このときの処理時間間隔は、 X+Y+Z (1) となる。
【0077】逆の場合、すなわちZがXより長い場合、
このときの処理時間間隔は、 Y+Z (2) となり、X時間を短縮化できる。
【0078】さらに「基板予備室から成膜室への搬送」
(搬送1)と「成膜室から基板予備室への搬送」(搬送
2)とを同時に行っているため、Y時間を短縮化でき、
もって処理時間間隔の短縮を行うことができる。
【0079】そして、コストダウンのため、搬送機構の
簡略化(駆動軸数の低減)を図る手段として、まず室が
一軸上に配置されていることから搬送機構から旋回動作
を無くし直進動作のみで搬送を成立させている。アーム
下部にラックギヤを設け、移動ベースの両端にタイミン
グベルトで連動させたピニオンギヤを設置し、ラックが
これらのピニオンギヤを相互乗り上けすることにより往
復搬送動作を可能にした。つぎに2方向の同時搬送動作
を行うには上下2段のアームを設けそれぞれ逆方向の動
作をさせる必要があり、この動作は同時に逆方向への運
動を与えることで固定できることから、駆動源および主
駆動軸を1つとして、これをカサ歯車にて互いに逆方向
の回転となる2つの従動軸に伝達することにより、2つ
のアームの動きを連動させることで実現している。
【0080】さらに基板予備室内スロットの高さ、基板
搬送機構アーム間のピッチ、および成膜室の基板載置高
さの関係を規定することによって、一連の搬送動作をこ
の搬送機構の動作のみで完成させることができるように
したので、搬送に関する他のモジュール(基板予備室、
成膜室)の動作は不要となる。したがって搬送時間が短
縮しスループットが向上する。
【0081】従来基板予備室においては、高スループッ
トを実現するために複数のスロットが必要となり、その
ために大きなストロークの昇降機構が必要であったが、
本装置では成膜室1室の処理能力と同等の基板加熱処理
能力があれば良い。これまで述べた処理方法の効率化を
実現することにより、通常の場合であれば処理前基板収
納スロットは1段あれば十分である。また処理済み基板
収納スロットも真空排気および大気開放時間のみが制約
条件となるため、通常の場合、1段で充分となる。この
ように処理前基板収納スロット、処理済み基板収納スロ
ットがそれぞれ1段で構成される場合は、2段構成の搬
送機構の採用により基板予備室での昇降機構は不要とな
り、構造の簡略化から大幅なコストダウンが実現でき
る。
【0082】なお、上述した実施の形態では、成膜室が
1つのインラインの場合を説明したが、成膜室が2つ以
上の場合にも適用できる。第1の成膜室の次に第2の真
空搬送室を設け、第2の真空搬送室に第2の成膜室を接
続することで達成できる。このように一軸配列の基板処
理装置でありながら、コストおよびフットプリントの無
駄を無くし、あらゆる目標スループットに対しフレキシ
ビリティのある効率的な基板処理装置を得ることができ
る。
【0083】またLCD基板処理装置を例にとって説明
したが、本発明は半導体基板処理装置にも適用できる。
また搬送アームを2段構成としたが、原理的には複数段
とすることも可能である。
【0084】また基板予備室L/Hが処理前基板収納ス
ロットLと処理済み基板収納スロットLとを備えたCV
D装置について説明したが、本発明はスパッタ装置、ド
ライエッチング装置およびアッシング装置についても適
用できる。ドライエッチング装置およびアッシング装置
の場合は予備加熱が不要であるから、CVD装置の加熱
機構を削除して、図11に示すように加熱機構のない2
段構成のスロットHH、LLを備えた基板予備室LL/
HHを設置すればよく、真空搬送室T2および成膜室R
は全く同一である。
【0085】また実施の形態では、基板収納部で上側を
処理前基板、下側を処理済基板としているが、本発明は
これに限定されない。上下を入替えて使用してもよく、
その搬送も可能である。
【0086】またCVD装置やスパッタ装置の場合で
は、「成膜室処理時間」が通常の 予備室大気開放時間+基板アンロード時間+基板ロード
時間+予備室真空排気および加熱時間 (この合計時間を基板処理のための準備時間という) より短い場合、装置の処理時間間隔は加熱処理にかかる
時間が支配的となり、処理時間間隔が長くなることは前
述した通りである。これを改善して処理時間間隔を短く
するには図12に示すように、基板予備室L/Hの処理
前基板収納スロットHを複数段(H1、H2)とすれ
ば、この時間の関係が逆となり、処理時間間隔を短縮さ
せることができる。ただしこの場合、処理前基板収納・
処理済み基板収納スロットH1、H2、Lを上下させる
昇降機構10が必要となる。
【0087】ところで上記実施の形態では、基板予備室
L/Hについての概略的な構造について説明したので、
ここではさらにその具体的な構造について説明する。
【0088】図13に示すように、ロードロック室とし
ての基板予備室L/Hはチャンバ外壁40で囲まれて構
成される。外壁の天井部にチャンバ41内にN2ガスを
導入するN2ガス導入部42、底部に導入されたN2ガス
を排出する排気口43が設けられる。外壁の左側部に大
気側ゲートバルブ44、右側部の上方にH室側ゲートバ
ルブ45、下方にL室側ゲートバルブ46が設けられ
る。内部には加熱スロットとなるH室47と冷却スロッ
トとなるL室48とが設けられ、H室47とL室48と
は中央に配設した断熱材49によって上下2段に分けら
れる。上段のH室47に対応して前記H室側ゲートバル
ブ45が設けられ、下段のL室48に対応して前記L室
側ゲートバルブ46が設けられる。H室47の上部にN
2ガスを加熱するガス加熱部50が設けられる。ガス加
熱部50は上ヒータ51とシャワー板52とで区画形成
された空間である。その空間は前述した外壁天井部のN
2ガス導入部42と連通している。上ヒータ51にはこ
れを覆うように、反射板と同機能を有する断熱材49が
設けられる。図14に示すように、上ヒータ51はヒー
タ線53が埋め込まれた板状部材で構成され、シャワー
板52にはN2ガスを拡散してチャンバ41内に導入す
るための多数の孔54が設けられる。
【0089】H室47に搬入された基板Uは、複数の基
板支持ピン55によって支持され、板状の下ヒータ56
と接触することによってH室47内で加熱される。下ヒ
ータ56は下ヒータ駆動部57によって昇降自在に設け
られ、上昇によって基板Uと接触し、下降によって基板
Uとの接触を断つことができるようになっている。L室
48に搬入された基板Uは、複数の基板支持ピン55に
よって支持され、L室48内で自然冷却されるようにな
っている。
【0090】上記のような構成において、まず、基板U
を大気側ゲートバルブ44よりL室48上部のH室47
内に搬入して基板支持ピン55上にセットし、その後大
気側ゲートバルブ44を閉める。但し、基板Uを下ヒー
タ56に接触させた状態で加熱する場合は、大気側ゲー
トバルブ44を閉めるのと同時に、下ヒータ駆動部57
により下ヒータ56の上面に基板Uが乗る位置まで下ヒ
ータ56を押し上げる。なお、この時点ではチャンバ4
1内は大気圧のままである。
【0091】大気側ゲートバルブ44が閉まったことを
確認後、チャンバ41の上部にあるN2ガス導入部上流
のN2ガス用バルブ58を開けることにより、N2ガスは
2ガス導入部42を通過してガス加熱部50に入る(図
14参照)。ガス加熱部50は上ヒータ51の下面に接
している空間でるから、N2ガスはこの空間を通ること
により高温まで加熱される。ガス加熱部50において加
熱されたN2ガスは、多孔構造を持つことによりガス分
散機能を持つシャワー板52を通して拡散され、基板U
に全面的に吹き付けられる。基板Uは、チャンバ41内
の大気による対流伝熱・上ヒータ51の輻射伝熱に加
え、上ヒータ51を通過してきた高温のN2ガスを全面
的に吹き付けられる。これにより、基板加熱時間の短縮
と基板加熱ムラの防止が実現できる。また、コスト及び
装置設置面積(フットプリント)も低減できる。
【0092】また、下ヒータ56の上面に直接基板Uを
置く場合は、下ヒータ56からの熱伝導による加熱も加
わるため、さらに基板Uの加熱時間を短縮することが可
能になる。特にヒータに抵抗加熱ヒータを用いると、2
00〜300℃の低温領域で精度良く且つ短時間で基板
を加熱することができる。基板Uを成膜時温度まで加熱
した後、メイン排気弁59を開け排気口43よりチャン
バ41内のガスを排気することによりチャンバ41内を
減圧し、チャンバ41内を高真空状態にする。高真空に
なったことを確認する。その後、下ヒータ56を降下
し、H室側ゲートバルブ45を開けて真空搬送室T2
(単にT2室という)内にある真空搬送ロボットAを介
して成膜室R(単にR室という)に基板Uを搬送し、R
室内において成膜を行う(図1参照)。成膜処理終了
後、再びT2室を介してL室側ゲートバルブ46からL
室48内に基板Uを搬送する。L室48はH室47とは
断熱材49で仕切られたH室47の下部に位置してお
り、基板UはL室48内で低温まで冷却された後にL室
48内がベントされ、大気側ゲートバルブ44を通して
基板カセットCに戻される。
【0093】上述したようにロードロック室と基板加熱
室とを共通化したことにより、装置スループットの短
縮、製作コストダウン、およびフットプリントの小面積
化が実現し、真空搬送ロボットによる搬送回数が減少す
るために装置スループットが向上する。また、大気条件
下でのヒータ直接接触加熱方式の採用により基板昇温時
間を短縮し、装置スループットが向上する。さらに、加
熱されたN2ガスを加熱スロット内の基板に全面的に吹
き付けることにより、基板加熱時間の短縮と基板面内温
度偏差の縮小が可能となる。
【0094】上記実施の形態では、基板搬送室T2に設
ける真空搬送ロボットAを、回転機構を使わずにアーム
200が伸縮同時逆方向動作できるようにした構成につ
いて説明した。しかし本発明はこれに限定されない。回
転機構を使ってアームを伸縮させるように構成してもよ
い。図15〜図21は、そのような機構を有するダブル
アーム式スカラ型ロボットを説明したものである。
【0095】図15は2つ(ダブル)のアーム101、
104を収縮したときの平面図、図16は上下のアーム
101、104を伸長したときの平面図である。アーム
101、104を旋回中心Oに対して点対称に配置し、
さらに上下にオフセットさせることにより2つのアーム
101、104を互いに干渉させることなく同時に伸縮
させることができる。上アーム101は第1アーム10
2と第2アーム103とから構成される。下アーム10
4は第1アーム105と第2アーム106とから構成さ
れる。各第2アーム103、106の先端には、基板U
を載置する基板支持部としてのエンドエフェクタ107
がそれぞれ取り付けられている。2つのアーム101、
104は、収縮時、図15に示すように、それぞれ
「く」の字に点対称に折り曲げられて基板搬送室T2内
に収納される。このとき2つのエンドエフェクタ107
は上下に重なる。伸長時は、図16に示すように、それ
ぞれ略直線状に伸びて基板搬送室T2外に延出され、エ
ンドエフェクタ107を手に見立てると、ちょうど両手
を広げた恰好になる。2つのアーム101、104の旋
回によるエンドエフェクタ107の軌跡は直線となる。
【0096】図17にアーム収縮時の真空搬送ロボット
の正面図を示す。同図では上アーム101を構成する第
1アーム102と第2アーム103との連結軸116
を、下アーム104を構成する第1アーム105と第2
アーム106との連結軸117よりも長めに設定して、
前述したように2つのアーム101、104を上下にオ
フセットさせることで、収縮時に、下段のエンドエフェ
クタ107が上段の第1アーム102と第2アーム10
3との間に格納されるようにしている。タブルアーム伸
縮同時逆方向動作は、次のような機構で実現している。
【0097】共通駆動源115の駆動軸114に取り付
けた駆動軸プーリ113を共通駆動源115で回転さ
せ、その回転をベルト112、112を介して上アーム
駆動軸108と下アーム駆動軸109とにそれぞれ取り
付けた従動軸プーリ110、111に伝える。これによ
り上アーム駆動軸108と下アーム駆動軸109とが回
転して、ダブルアーム101、104を旋回させ、伸縮
同時逆方向に動作させる。アーム伸長時の真空搬送ロボ
ットAの正面図は図18に示してある。
【0098】次に上述したダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの駆動伝達系の詳細を説明する。図19は、2つの
アーム141、142にそれぞれ単独の駆動源143、
144を有する機構を示す。2つのアーム141、14
2を構成要素とする2つの基板搬送部145は、真空状
態の基板搬送室146内で、全体が昇降自在かつ、水平
面内で旋回自在に設けられる。基板搬送部145を昇降
自在とするために、基板搬送部145は基板搬送部下部
の駆動室147内に設けた昇降台148上に取り付けら
れる。昇降台148は右端側をZ軸用ボールネジ149
に螺合されるとともに、左端側がZ軸用ガイド150に
挿通される。ボールネジ149は駆動室147の下部に
設けたZ軸駆動源151によりZ軸減速機152を介し
て減速回転し、その回転により昇降台148が上下動し
て基板搬送部145の全体が昇降する。また、基板搬送
部145を水平面内で旋回自在とするために、昇降台1
48は、Z軸用ボールネジ149及びZ軸用ガイド15
0が挿通されている昇降台外周部153に対して、昇降
台中央部154がθ軸155を中心に回転自在に設けら
れる。昇降台中央部154は、θ軸上に設けられたθ軸
駆動源156によりθ軸減速機157を介して減速回転
し、それに伴って基板搬送部145が旋回する。
【0099】昇降台中央部154の下面には、上アーム
141と下アーム142とをそれぞれ独立して旋回させ
るための上アーム駆動源143と下アーム駆動源144
とが個別に設けられる。上アーム駆動源143と下アー
ム駆動源144の回転は上アーム減速機158、下アー
ム減速機159を介して減速されて、R軸上アーム駆動
シャフト160、R軸下アーム駆動シャフト161にそ
れぞれ伝えられ、R軸上アーム駆動シャフト160及び
R軸下アーム駆動シャフト161に連結されている上ア
ーム141及び下アーム142を旋回させる。駆動シャ
フト160、161は、軸受ハウジング162、163
内に挿通される。軸受ハウジング162、163の周囲
にはベローズ164が設けられ、軸受ハウジング16
2、163の軸方向運動時の基板搬送室146内の気密
を確保するようになっている。
【0100】ここで基板搬送部145の動きを説明す
る。基板搬送部145の上アーム141と下アーム14
2とは動きが共通するから、下アーム142で代表して
説明する。前記R軸下アーム駆動シャフト161の回転
は第1アーム165に伝達される。第1アーム165
は、前記回転を固定プーリ166からベルト167を介
して伝達プーリ168に伝え、連結軸169を介して第
2アーム170に伝達する。第2アーム170は、前記
回転を遊動プーリ171で受取り、ベルト172を介し
て従動プーリ173に伝え、最後にエンドエフェクタ1
74に伝える。なお、図19において、175はθ軸磁
性流体シール、176はR軸磁性流体シールである。
【0101】図19においては、2つのアームを2つの
駆動源143、144より個別に駆動させるようにした
機構について説明した。図20は、2つのアームを1つ
の共通駆動源180により駆動伝達させる機構を示して
いる。図20の機構は基本的には図19の機構と同じで
あるが、異なる点は、R軸駆動源180を1個にして、
その回転をベルト183とプーリ182、184、18
5でR軸上アーム駆動シャフト160とR軸下アーム駆
動シャフト161にそれぞれ伝達するようにした点であ
る。すなわち、昇降台中央部154の下部中央に設けた
1個のR軸駆動源180の回転をR軸減速機181で減
速した後、 R軸主動プーリ182からR軸伝達ベルト
183を介してR軸上アーム従動プーリ184とR軸下
アーム従動プーリ185とに分岐伝達し、R軸上アーム
駆動シャフト160とR軸下アーム駆動シャフト161
を回転するようになっている。これにより図19の機構
と比較して、構造の簡素化とコストダウンを図ってい
る。
【0102】また図21の機構は、図20のものをさら
に簡素化したものである。図20ではR軸駆動源180
の回転の分岐伝達部を、基板搬送室146の外部、すな
わち駆動室147内の昇降台中央部154に設けた。こ
れに対して図21のものは、分岐伝達部199を基板搬
送室146内に設けている。そのために中空のZ軸(昇
降台外周中空軸部)192に対して中空のθ軸(昇降台
中央軸部193及びθ軸駆動軸194)、R軸駆動軸1
86が軸芯を共通にして入れ子構造としている。
【0103】以下詳細に説明する。昇降台中央部197
の本体195を昇降台外周部196から引き出して基板
搬送室146内に配置する。昇降台中央部本体195の
下方に延長されてθ軸となる昇降台中央軸部193は、
昇降台外周部196の中央部を上方に延長してZ軸とし
た昇降台外周中空軸部192に回転自在に挿入される。
これにより昇降台外周部196の上下移動に伴って昇降
台中央部197は上下移動するとともに、昇降台外周部
196に対して回転自在に支持される。また、昇降台中
央軸部193はθ軸駆動源156の回転をθ軸減速機1
57を介して伝達する中空のθ軸駆動軸194と昇降台
外周中空軸部192内で連結され、基板搬送部145を
旋回できるようになっている。
【0104】基板搬送室146内に配置した昇降台中央
部本体195内にチャンバ198を設けて、このチャン
バ198内に前述した分岐伝達部199を設ける。この
分岐伝達部199にR軸駆動源180の回転が次のよう
に伝達される。1個のR軸駆動源180の回転をR軸減
速機181で減速した後、上方に延長したR軸駆動軸1
86でそのまま昇降台中央部本体195内に伝達する。
昇降台中央部本体195内でR軸主動プーリ187から
R軸伝達ベルト188を介してR軸上アーム駆動シャフ
ト160と連結されているR軸上アーム従動プーリ18
9、およびR軸下アーム駆動シャフト161と連結され
ているR軸下アーム従動プーリ190とに分岐伝達して
いる。このように真空導入後に駆動伝達を分岐するの
で、昇降台外周中空軸部192の軸方向運動時の気密を
確保するベローズ191を1つに集約でき、さらに構造
の簡素化及びコストダウンを図ることができる。
【0105】ところで、上述した基板搬送装置は、図1
7に示すように、共通駆動源115の駆動軸114の回
転をベルト112を介して上アーム駆動軸108と下ア
ーム駆動軸109とに直接伝えている。しかし、この構
造では片側のアーム101または104が故障などによ
って動作できなくなったとき、両アーム101、104
の駆動軸108、109がベルト112で接続されてい
るために、もう一方のアーム104または101は動作
できなくなる。したがって片側アームの故障だけで基板
搬送装置が全て停止してしまうという問題がある。そこ
で、次に示す実施の形態では、上アーム駆動軸108と
下アーム駆動軸109とのそれぞれにクラッチ機構、ブ
レーキ機構を設置することにより、上述した問題の解決
を図っている。
【0106】図22に示すLCD用プラズマCVD装置
の真空搬送室に設置した同時に逆方向へ動作する2アー
ムを持つ真空搬送ロボットにおいて、上アーム101お
よび下アーム104を動作させる上アーム駆動軸10
8、下アーム駆動軸109とにそれぞれクラッチ機構1
18、119を設置する。
【0107】クラッチ機構118、119は公知のもの
でよい。その概念図を図23に示す。コイル61に通電
するとフィールドコア62、ロータ63、アーマチュア
64間に磁束が発生し、アーマチュア64がロータ63
に吸引されて両方の歯がかみ合うことでクラッチは連結
する。一方、通電をとめるとバネ65によりアーマチュ
ア64は切断され、クラッチは開放される。このクラッ
チの設置により上アーム101だけを動作させたい場
合、下アームクラッチ機構119を切断することで駆動
源115からの動力を下アーム駆動軸109には伝達さ
せず上アーム駆動軸108のみに伝達させることができ
る。したがって上アーム101だけ動作することとな
る。また、下アーム104だけを動作させたい場合、そ
の逆で上アームクラッチ機構118を切断することで下
アーム駆動軸109のみに伝達させることができる。し
たがって下アーム104だけが動作することとなる。こ
れらの切替により1アームだけの動作が可能となる。
【0108】図24の実施の形態は、アーム駆動軸10
8、109にクラッチ機構118、119を設置した図
22の実施の形態において、搬送機構において、さらに
上アーム駆動軸108および下アーム駆動軸109にブ
レーキ機構121、122を設置したものである。この
ブレーキ機構121、122の概念図を図25、図26
に示す。ブレーキ機構121、122は例えば単動式の
エアシリンダ125の先にブレーキシュー126を取付
け、エアーを入れたときにブレーキシュー126をバネ
127の力に抗して上アーム駆動軸108もしくは下ア
ーム駆動軸109に押しつけ、ブレーキシュー126と
駆動軸108、109との間の摩擦力で駆動軸の動作を
静止させる。これによって、真空搬送ロボットAが旋回
動作しているときに、上アームクラッチ機構118を切
断しても、上アームブレーキ機構121にり駆動軸10
8を静止させることができるので、上アーム101が遠
心力によって動作しないようにすることができる。ま
た、真空搬送ロボットAが旋回動作しているときに、下
アームクラッチ機構119を切断しても、下アーム10
4を下アームブレーキ機構122によって静止させるこ
とができる。これらのクラッチ機構とブレーキ機構の切
替により、1アームのトラブル時に装置を全停止するこ
となく、処理後の基板を装置から搬出し、最小限の作業
だけで装置を復帰することができる。
【0109】以上、本発明のシステムは実施の形態を通
じて明らかであるが、多軸配列のクラスタ型システムで
はなく、一軸配列のモノライン型システムを採用してい
る。ここで、成膜室等の真空室が複数台必要なときで
も、モノライン型システムを採用することが良いか悪い
かが問題になる。例えば、1室多層成膜の成膜室が複数
台必要な場合には、モノライン型システムを増設するの
ではなく、クラスタ型のシステムにした方が、コストや
床下占有面積も低減できる場合もある。
【0110】いずれの型のシステムの方がコストや床下
占有面積を低減できるかは成膜室の数によって決まる。
成膜室の数が多ければクラスタの方が有利である。少な
ければモノラインの方が一般的には有利といえる。例え
ばある種のクラスタでは最大6チャンバの成膜室を設置
することが可能であるとする。この場合、1〜3チャン
バではモノラインが有利となるが、4〜6チャンバでは
クラスタが有利となる。ただし、これまで述べた手段に
より、基板予備室、真空搬送室など、処理室以外のコス
ト及びフットプリントを低減することができれば、その
分岐点は高くなり、全ての場合において、モノラインの
方が有利となることもある。これを前提に以下に、生産
量の調整という観点から、モノライン型システムのメリ
ットを述べる。
【0111】LCD業界は、市場動向に合わせて段階投
資でラインを構築している。生産ラインにおける設備の
能力(スループット)は、全設備の最小公倍数で構築する
のが最も効率的である。これに対し、必要とする生産量
は総じて少ない。これを解決するには、設備1台当たり
のスループット低減(当然「価格」、「フットプリン
ト」が必要)により、最小公倍数を小さくして必要とす
る生産量の約数にする必要がある。昨今のLCDの市場
動向は急激に変化するため、パネルメーカは1回の投資
を小規模なものに控えた段階投資とする傾向がある。
【0112】モノライン型システムは、このような段階
投資に対し有効なシステムであると考える。例えば生産
量5,000枚/月のラインを構築する場合、成膜室3
チャンバ必要としたとき、クラスタの場合は成膜室以外
のコスト及びフットプリントの比率が大きくなり無駄が
生じる。また、10,000枚/月に増産しようとした
とき、本来、成膜室6チャンバ構成のクラスタ1台あれ
ば十分であるのに対し、その手段は、成膜室3チャンバ
構成のクラスタをもう一台設置するか、既存のクラスタ
の余った辺に増設することになる。前者は、搬送系、ロ
ードロック、予備加熱などの付加機能が1式でよいとこ
ろ2式揃えなければならず、無駄なコストとフットプリ
ントを要することになる。後者は、生産を全面的に一時
止めなければならない。これに対し、モノライン型シス
テムは搬送系、ロードロック、予備加熱などの付加機能
を機能の集約等により低コスト、低フットプリントにし
ているため、コスト、フットプリントのデメリットを生
じさせること無く必要なスループットに対し、必要なと
きに最適な成膜室数を提供することが可能となる。ま
た、このメリットは生産量(または増産量)が少ない程有
効となると共に、三層膜より単膜のほうがより顕著であ
ると言える。単膜(保護膜用SiN,n+,SiO)は総
じて成膜時間が短いため、成膜室1室当たりのスループ
ットが多くなる。先例のように5,000枚/月の場
合、成膜室1〜2室で十分となるため、よりモノライン
型システムが有効となる。
【0113】
【発明の効果】本発明によれば、一軸配列の基板処理装
置でありながら、基板の搬送時間を低減して基板処理サ
イクルを短縮でき、単位時間当たりの基板処理枚数を増
加することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態によるCVD装置の概略断面図であ
る。
【図2】実施形態による基板搬送機構の概念図を示す平
面図である。
【図3】実施形態による基板搬送機構の概念図を示す正
断面図、及び連動収縮型とした場合の要部拡大図であ
る。
【図4】実施形態による搬送順序を示すフローチャート
である。
【図5】実施形態によるLCD基板の処理の流れを説明
するタイミングチャートである。
【図6】実施形態による成膜中の説明図である。
【図7】実施形態による成膜室からの処理済み基板の受
け取りの説明図である。
【図8】実施形態による処理前基板の成膜室への搬入の
説明図である。
【図9】実施形態による処理済み基板の搬出の説明図で
ある。
【図10】実施形態による成膜室での基板の受け取りの
説明図である。
【図11】実施形態によるエッチング装置またはアッシ
ング装置の構成図である。
【図12】実施形態による加熱スロット(ロード用スロ
ット)を多段化したCVD装置、スパッタ装置の構成図
である。
【図13】実施形態による基板予備室の具体的な構成図
である。
【図14】図13に示す基板予備室のガス加熱部拡大図
である。
【図15】実施形態によるダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの収縮時の平面図である。
【図16】実施形態によるダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの伸長時の平面図である。
【図17】実施形態によるダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの収縮時の正面図である。
【図18】実施形態によるダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの伸長時の正面図である。
【図19】実施形態によるダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの2駆動伝達系の断面図である。
【図20】実施形態によるダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの1駆動伝達系の断面図である。
【図21】実施形態によるダブルアーム式スカラ型ロボ
ットの1駆動伝達系の断面図である。
【図22】実施形態によるクラッチ機構を設けた駆動伝
達系の概略説明図である。
【図23】図22のクラッチ機構の詳細図である。
【図24】実施形態によるクラッチ機構にさらにブレー
キ機構をを設けた駆動伝達系の概略説明図である。
【図25】図24のブレーキ機構例の正面図である。
【図26】図24のブレーキ機構例の平面図である。
【図27】従来のインライン型LCD用プラズマCVD
装置の構成例である。
【図28】従来のLCD用プラズマCVD装置の構成例
である。
【図29】従来および実施形態に共通する一軸配列のC
VD装置の基本構成図である。
【符号の説明】
R 成膜室(基板処理室) T2 真空搬送室(基板搬送室) L/H 基板予備室(基板収納部) H 処理前基板収納スロット(処理前基板収納部) L 処理済み基板収納スロット(処理済み基板収納
部) U 基板 U1 処理前基板 U2 処理済み基板 A 真空搬送ロボット(基板搬送装置) 28 基板搬送部 32 基板支持ピン(基板載置部) 107 エンドエフェクタ(基板支持部) 201 上段アーム(搬送アーム) 202 下段アーム(搬送アーム)
フロントページの続き (72)発明者 竹田 智彦 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 (72)発明者 市村 悟 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 (72)発明者 鈴木 千典 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 (72)発明者 吉野 晃生 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 (72)発明者 赤尾 徳信 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 (72)発明者 秋田 幸男 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 (72)発明者 金沢 元一 東京都中野区東中野三丁目14番20号 国際 電気株式会社内 (72)発明者 中山 恭伸 東京都新宿区新宿2−1−9(第百生命新 宿ビル) 国際電気システムサービス株式 会社内

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板に所定の処理を施す基板処理室と、 該基板処理室内に基板を載置する基板載置部と、 前記基板処理室で所定の処理を施される処理前基板ある
    いは所定の処理が施された処理済み基板を収納する基板
    収納部と、 該基板収納部から基板処理室内の基板載置部へ処理前基
    板を搬送し、基板処理室内の基板載置部から基板収納部
    へ処理済み基板を搬送する基板搬送装置とを備え、 前記基板搬送装置に同時に動作する基板搬送部を2つ設
    けて、一方の基板搬送部で基板収納部から基板処理室内
    の基板載置部へ処理前基板を搬送し、他方の基板搬送部
    で基板処理室内の基板載置部から基板収納部へ処理済み
    基板を搬送するようにした基板処理装置。
  2. 【請求項2】前記基板収納部を少なくとも2つ設けて、
    一方の基板収納部で前記処理前基板を収納し、他方の基
    板収納部で前記処理済み基板を収納するようにした請求
    項1に記載の基板処理装置。
  3. 【請求項3】前記処理前基板を収納する基板収納部の基
    板載置面と前記基板載置部の基板載置面との高さ位置に
    差をつけて配置し、 該高さ位置における差が処理前基板を搬送する基板搬送
    部の基板載置面と処理済み基板を搬送する基板搬送部の
    基板載置面との高さ位置の差とほぼ同じとした請求項2
    に記載の基板処理装置。
  4. 【請求項4】前記処理済み基板を収納する基板収納部の
    基板載置面と前記基板載置部の基板載置面との高さ位置
    に差をつけて配置し、 該高さ位置における差が処理前基板を搬送する基板搬送
    部の基板載置面と処理済み基板を搬送する基板搬送部の
    基板載置面との高さ位置の差とほぼ同じとした請求項2
    または3に記載の基板処理装置。
  5. 【請求項5】前記基板収納部を昇降させる昇降機を設
    け、 前記昇降機により昇降する前記基板収納部を3段以上設
    け、 前記昇降機で前記基板収納部を昇降したとき、3段以上
    の基板収納部のうち、1つの基板収納部が、前記基板搬
    送装置の処理前基板搬送部と対応する高さ位置に来て前
    記処理前基板搬送部からアクセス可能となるようにし、 他の1つの基板収納部が、前記基板搬送装置の処理済み
    基板搬送部と対応する高さ位置に来て前記処理済み基板
    搬送部からアクセス可能となるようにしたことを特徴と
    する請求項1に記載の基板処理装置。
  6. 【請求項6】前記基板搬送装置における基板搬送部は直
    進動作をし、処理前基板を搬送する基板搬送部と処理済
    み基板を搬送する基板搬送部とが相反する方向に伸縮す
    る請求項1ないし5のいずれかに記載の基板処理装置。
  7. 【請求項7】前記2つの基板搬送部は、上から見てほぼ
    重なるように2段構成となっている請求項1ないし6の
    いずれかに記載の基板処理装置。
  8. 【請求項8】基板を処理する気密構造の1つの基板処理
    室と、 1つの基板搬送室と、 1つの予備室とを順次設け、 前記基板処理室と前記基板搬送室との間に設けられた第
    1のハルブであって、閉じた場合には前記基板処理室と
    前記基板搬送室との間を気密にすることができ、開いた
    場合には前記基板がその内部を通って移動可能な第1の
    ハルブと、 前記基板搬送室と前記予備室との間に設けられた第2の
    バルブであって、閉じた場合には前記基板搬送室と前記
    予備室との間を気密にすることができ、開いた場合には
    前記基板がその内部を通って移動可能な第2のバルブ
    と、 前記予備室と大気圧側の間に設けられた第3のバルブで
    あって、閉じた場合には前記予備室を気密にすることが
    でき、開いた場合には前記基板がその内部を通って移動
    可能な第3のバルブとを設け、 前記予備室の外の大気圧側には前記予備室とほぼ同じ高
    さに複数枚の基板を積層保持可能なカセットを設け、 前記基板搬送室には前記1つの予備室と前記1つの基板
    処理室との間で基板の受渡しが可能な第1の基板搬送装
    置を設け、 前記カセットと前記予備室の間には基板の受渡しが可能
    な第2の基板搬送装置を有することを特徴とする基板処
    理装置。
  9. 【請求項9】前記カセットの複数枚積層基板の載置位置
    の高さ範囲内に、前記基板予備室の基板収納部が位置す
    ることを特徴とする請求項8に記載の基板処理装置。
  10. 【請求項10】前記第2の基板搬送装置は、前記カセッ
    トの複数枚積層基板の載置位置の高さ範囲内に基板の搬
    入及び/または搬出動作可能な範囲内で昇降する昇降機
    構を有することを特徴とする請求項9に記載の基板処理
    装置。
  11. 【請求項11】基板収納部から基板処理室内の基板載置
    部へ処理前基板を搬送し、基板処理室内の基板載置部か
    ら基板収納部へ処理済み基板を搬送する基板搬送装置に
    おいて、 前記基板搬送装置に同時に動作する基板搬送部を2つ設
    けて、一方の基板搬送部で基板収納部から基板処理室内
    の基板載置部へ処理前基板を搬送し、他方の基板搬送部
    で基板処理室内の基板載置部から基板収納部へ処理済み
    基板を搬送するようにした基板搬送装置。
  12. 【請求項12】第1の基板支持部で基板処理室に処理済
    み基板を受け取りに行く動作中に、第2の基板支持部で
    処理前基板を受け取りに行き、 前記第1の基板支持部で処理済み基板を受け取り、第2
    の基板支持部で処理前基板を受け取った後、 前記第2の基板支持部で処理前基板を処理室に搬入し、
    前記処理前基板を前記処理室で所定の処理を施す基板処
    理方法。
  13. 【請求項13】前記第2の基板支持部で処理前基板を処
    理室に搬入している動作中に、前記受け取った処理済み
    基板を収納する請求項12に記載の基板処理方法。
  14. 【請求項14】前記処理済み基板を受け取りに行く動作
    と処理済み基板を受け取りに行く動作がほぼ同時に開始
    することを特徴とする請求項12に記載の基板処理方
    法。
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