JP2000323353A - セラミック電子部品 - Google Patents
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Abstract
電極に端子部材を半田付けするための半田として、端子
部材を配線基板に半田付けするための作業温度より高い
融点を有しながら、鉛を含まないSn−Zn系半田を用
いることを可能にする。 【解決手段】 端子電極3を、アルミニウム粉末を含む
導電性ペーストを焼き付けて形成された厚膜によって構
成しながら、端子部材4を、アルミニウムを主成分とす
る金属板から構成し、これら両者をSn−Zn系半田5
を介して接合する。
Description
部品に関するもので、特に、たとえば積層セラミックコ
ンデンサのようにチップ状のセラミック電子部品本体を
備えるセラミック電子部品の端子部分の材質に関するも
のである。
ムからなる配線基板上に積層セラミックコンデンサのよ
うなセラミック電子部品を表面実装すると、アルミニウ
ム基板とセラミック電子部品との熱膨張の差が大きいた
め、温度の上昇および下降を繰り返す温度サイクルにお
いて、セラミック電子部品の破壊等を生じやすい、とい
う問題がある。特に、電源市場で求められている高容量
のPb系セラミック誘電体を用いた積層セラミックコン
デンサの場合には、その抗折強度が比較的低いため、こ
の問題がより生じやすい。
子部品に備えるセラミック電子部品本体の表面に形成さ
れた端子電極を、直接、配線基板上に半田付けするので
はなく、端子電極にたとえば金属板からなる端子部材を
取り付け、この端子部材を配線基板に半田付けすること
が提案され、かつ実用に供されている。
子部品によれば、端子部材の変形または動きによって、
温度変化による配線基板の膨張・収縮に基づいて生じる
応力を吸収し、電子部品本体が熱衝撃によって破壊され
ることを防止することができる。
て、通常、端子電極は、銀粉末を含む導電性ペーストを
焼き付けて形成されるもので、銀を主成分とする材質か
ら構成される。また、端子部材は、たとえば、ステンレ
ス鋼、鉄−ニッケル合金等からなる金属板によって構成
される。また、端子部材は、端子電極に対して、通常、
半田付けされることによって接合される。なお、この半
田付けをより容易にするため、端子部材の表面には、た
とえば錫、半田、銀、金等のめっきが施されることがあ
る。
電子部品に備える端子部材を配線基板に半田付けする場
合、たとえば共晶半田を用いたリフロー法によって行な
われ、この場合の作業温度としては、たとえば230℃
が適用される。したがって、端子部材を端子電極に取り
付けている半田としては、この230℃以上の温度で接
合強度を保証できるものでなければならない。
る高温半田は、通常、鉛を多く含む半田によって実現さ
れる。しかしながら、環境問題の点で、鉛を含む半田の
使用はできるだけ避けることが望まれているものの、鉛
を含まない半田によって高温半田を実現することは困難
である。
の中には、かなりの高温での接合強度を保証できるもの
があることが知られている。したがって、環境問題を考
慮したとき、このようなSn−Zn系半田を使用すれば
よいことがわかる。
銀を含む場合、この端子電極に端子部材を半田付けする
ためにSn−Zn系半田を用いても、端子部材を端子電
極に十分な強度をもって取り付けることが困難であるこ
とも確認されている。
子電極に取り付けるにあたって、鉛の使用を避けること
ができる、セラミック電子部品を提供しようとすること
である。
端子電極が形成された、セラミック電子部品本体と、一
方側端部が端子電極に取り付けられ、かつ他方側端部が
配線基板への接続部となる、端子部材とを備える、セラ
ミック電子部品に向けられるものであって、上述した技
術的課題を解決するため、端子電極が、アルミニウムを
主成分とする材質からなり、かつ、端子部材が、少なく
とも端子電極側に向く面においてアルミニウムを主成分
とする材質からなることを特徴としている。
は、アルミニウム粉末を含む導電性ペーストを焼き付け
て形成されたものである。
端子部材の各材質が前述したように選ばれることによっ
て、Sn−Zn系半田による半田付けが端子部材を端子
電極に取り付けるために適用することが可能となる。し
たがって、この発明の好ましい実施態様では、端子部材
が、端子電極に対して、Sn−Zn系半田を介して接合
されている、セラミック電子部品が提供される。
子電極に対して、電気溶接または超音波溶接のような溶
接によって接合されてもよい。
電極は、アルミニウム粉末を含む導電性ペーストを焼き
付けて形成されたアルミニウム層およびその上に銀粉末
を含む導電性ペーストを焼き付けて形成された銀層を備
えることが好ましい。
型的には、アルミニウムを主成分とする金属板から構成
される。
とする金属板と他の金属を主成分とする金属板とを貼り
合わせた構造を有していてもよい。
が配線基板に実装されるとき、端子部材を配線基板に半
田付けするための半田として鉛を含む半田が用いられる
場合には、アルミニウムはこのような鉛系半田による半
田付け性が悪いので、端子部材の、少なくとも配線基板
への接続部には、アルミニウムを主成分とする金属板に
ニッケルを主成分とする金属板が張り合わされ、かつニ
ッケルを主成分とする金属板上に錫または半田めっき膜
が形成されていることが好ましい。
は、複数のセラミック電子部品本体を備え、これら複数
のセラミック電子部品本体の各々の端子電極に端子部材
が共通に接続されている構造を有していてもよい。
態によるセラミック電子部品1の外観を示す正面図であ
る。
ラミックコンデンサを構成するチップ状のセラミック電
子部品本体2を備え、電子部品本体2の両端部には、端
子電極3がそれぞれ形成されている。各端子電極3に
は、端子部材4が取り付けられている。
ムを主成分とする材質からなり、また、端子部材4は、
アルミニウムを主成分とする金属板から構成される。ま
た、端子部材4は、端子電極3に対して、半田付けされ
るが、この半田付けにおいて、Sn−Zn系半田5が用
いられる。
電子部品1を得るため、チタン酸バリウム系セラミック
誘電体を用いて積層セラミックコンデンサが構成された
電子部品本体2が用意され、この電子部品本体2の両端
部に端子電極3をそれぞれ形成するため、アルミニウム
粉末を含む導電性ペーストが電子部品本体2の両端部に
塗布され、乾燥された後、大気中において650℃で焼
成される。
が用意される。これら端子部材4は、各々の一方側端部
が端子電極3に取り付けられ、かつ他方側端部が配線基
板(図示せず。)への接続部6となるもので、接続部6
は、L字状に折り曲げられた形態を有している。接続部
6の外側に向く面には、通常の鉛を含む半田に対する半
田付け性を良好なものとするため、端子部材4を構成す
る前述したアルミニウム板にニッケル板7が貼り合わさ
れ、さらに、このニッケル板7上に錫または半田めっき
膜8が形成される。
む厚膜からなる端子電極3に端子部材4を取り付けるた
め、Sn−Zn系半田5として、Sn80Zn10Ag
10の半田が用意され、この半田を用いながら、超音波
を加えることによって、Sn−Zn系半田5による端子
部材4と端子電極3との半田付けが達成される。
セラミック電子部品11の主要部を拡大して示す断面図
である。
ミックコンデンサを構成するセラミック電子部品本体1
2を備えているが、図2には、積層セラミックコンデン
サのための内部電極13および誘電体層14の各一部が
図示されている。
部に形成される端子電極15は、アルミニウム粉末を含
む導電性ペーストを焼き付けて形成されたアルミニウム
層16およびその上に銀粉末を含む導電性ペーストを焼
き付けて形成された銀層17から構成される。銀層17
は、アルミニウム層16の酸化を防止する機能を果た
し、その厚みは、アルミニウム層16の厚みに比べて薄
くされる。
た端子部材4の場合と同様、アルミニウム板からなるも
のが用いられ、その配線基板への接続部には、図示しな
いが、ニッケル板が貼り合わされ、かつこのニッケル板
上には錫または半田めっき膜が形成される。
端子電極15に取り付けるため、電気溶接のような溶接
が適用される。図2において、溶接部19が図解的に示
されている。図2によれば、銀層17を介して端子部材
18と端子電極15とが接合されているように図示され
ているが、銀層17は、前述したように薄いので、多く
の場合、端子部材18とアルミニウム層16とが実質的
に接触した状態でこれらの間での接合が達成される。
セラミック電子部品21の外観を示す正面図であり、図
4は、図3の部分IVを拡大して示す断面図である。
子部品21は、たとえば積層セラミックコンデンサを構
成する、2つのチップ状のセラミック電子部品本体22
を備え、各電子部品本体22の両端部には、端子電極2
3が形成されている。これら電子部品本体22は、同じ
方向に向けられながら上下に積み重ねられ、たとえば接
着剤24によって接合されている。
端子電極23に共通に端子部材25が取り付けられてい
る。端子部材25は、逆U字状に折り曲げられた金属板
をもって構成される。より詳細には、図4に示すよう
に、端子部材25は、アルミニウムを主成分とする第1
の金属板26とFe−Ni合金からなる第2の金属板2
7とを貼り合わせた構造を有している。なお、アルミニ
ウムを含む第1の金属板26は、端子部材25の折り曲
げ状態における外側に位置するようにされる。
とえば半田付けにより端子電極23に取り付けられる。
この半田付けにあたり、第1の実施形態の場合と同様、
Sn−Zn系半田28が用いられる。また、図3に示す
ように、端子部材25の他方側端部は、配線基板(図示
せず。)への接続部29となるもので、この接続部29
は、第1の実施形態の場合と同様、L字状に折り曲げら
れ、その外側に向く面には、半田付け性を良好なものと
するため、端子部材25に備えるアルミニウムを含む第
1の金属板26にニッケル板30が貼り合わされ、かつ
このニッケル板30上に錫または半田めっき膜31が形
成されている。
形態に関連して説明したが、この発明の範囲内におい
て、その他、種々の変形例が可能である。
ラミック電子部品本体の数については、1つまたは2つ
のものを図示したが、3つ以上に変更されてもよい。
実施形態では、積層セラミックコンデンサを構成するも
のであったが、他の機能を有するセラミック電子部品の
ための電子部品本体を構成するものであってもよい。
その両端部に端子電極を形成するものであったが、これ
に加えて、あるいはこれに代えて、他の部分に端子電極
を形成するものであってもよい。
付けて形成された厚膜をもって構成されるのではなく、
薄膜形成技術によって形成された薄膜をもって構成され
てもよい。
ミック電子部品本体上に形成される端子電極がアルミニ
ウムを主成分とする材質からなるとともに、この端子電
極に取り付けられる端子部材が少なくとも端子電極側に
向く面においてアルミニウムを主成分とする材質からな
るので、端子部材を端子電極に取り付けるために半田付
けが適用される場合、半田としてSn−Zn系半田を用
いることができる。
を用いると、鉛を含まないため、環境問題を引き起こさ
ないばかりでなく、300℃以上の融点を与えることが
可能であるので、セラミック電子部品の端子部材を配線
基板に実装するための半田付け作業をたとえばリフロー
法を用いて問題なく行なえるようになる。
に、端子電極および端子部材が電気伝導度の高いアルミ
ニウムを含んでいるので、セラミック電子部品の等価直
列抵抗を低く抑えることができる。
も配線基板への接続部において、アルミニウムを主成分
とする金属板にニッケルを主成分とする金属板が貼り合
わされ、さらにニッケルを主成分とする金属板上に錫ま
たは半田めっき膜が形成されると、セラミック電子部品
を配線基板に実装するための半田付けにおいて、端子部
材の半田付け性を良好なものとすることができる。
子部品1の外観を示す正面図である。
子部品11の一部を拡大して示す断面図である。
子部品21の外観を示す正面図である。
Claims (9)
- 【請求項1】 その表面に端子電極が形成された、セラ
ミック電子部品本体と、 一方側端部が前記端子電極に取り付けられ、かつ他方側
端部が配線基板への接続部となる、端子部材とを備え、 前記端子電極は、アルミニウムを主成分とする材質から
なり、かつ、 前記端子部材は、少なくとも前記端子電極側に向く面に
おいてアルミニウムを主成分とする材質からなることを
特徴とする、セラミック電子部品。 - 【請求項2】 前記端子電極は、アルミニウム粉末を含
む導電性ペーストを焼き付けて形成されたものである、
請求項1に記載のセラミック電子部品。 - 【請求項3】 前記端子部材は、前記端子電極に対し
て、Sn−Zn系半田を介して接合されている、請求項
1または2に記載のセラミック電子部品。 - 【請求項4】 前記端子部材は、前記端子電極に対し
て、溶接によって接合されている、請求項1または2に
記載のセラミック電子部品。 - 【請求項5】 前記端子電極は、アルミニウム粉末を含
む導電性ペーストを焼き付けて形成されたアルミニウム
層およびその上に銀粉末を含む導電性ペーストを焼き付
けて形成された銀層を備える、請求項4に記載のセラミ
ック電子部品。 - 【請求項6】 前記端子部材は、アルミニウムを主成分
とする金属板からなる、請求項1ないし5のいずれかに
記載のセラミック電子部品。 - 【請求項7】 前記端子部材は、アルミニウムを主成分
とする金属板と他の金属を主成分とする金属板とを貼り
合わせた構造を有する、請求項1ないし5のいずれかに
記載のセラミック電子部品。 - 【請求項8】 前記端子部材の、少なくとも配線基板へ
の前記接続部には、前記アルミニウムを主成分とする金
属板にニッケルを主成分とする金属板が貼り合わされ、
かつ前記ニッケルを主成分とする金属板上に錫または半
田めっき膜が形成されている、請求項6または7に記載
のセラミック電子部品。 - 【請求項9】 複数の前記セラミック電子部品本体を備
え、前記複数のセラミック電子部品本体の各々の前記端
子電極に前記端子部材が共通に取り付けられている、請
求項1ないし8のいずれかに記載のセラミック電子部
品。
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|---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
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Family
ID=15010440
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP12947699A Expired - Lifetime JP3624740B2 (ja) | 1999-05-11 | 1999-05-11 | セラミック電子部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3624740B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013026293A (ja) * | 2011-07-15 | 2013-02-04 | Nippon Chemicon Corp | コンデンサおよびその製造方法 |
| JP2014072373A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Tdk Corp | 金属端子付きセラミック電子部品 |
| KR20200042860A (ko) * | 2018-10-16 | 2020-04-24 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 전자부품 |
-
1999
- 1999-05-11 JP JP12947699A patent/JP3624740B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2014072373A (ja) * | 2012-09-28 | 2014-04-21 | Tdk Corp | 金属端子付きセラミック電子部品 |
| KR20200042860A (ko) * | 2018-10-16 | 2020-04-24 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 전자부품 |
| KR102294680B1 (ko) * | 2018-10-16 | 2021-08-27 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | 적층 세라믹 전자부품 |
| US11501921B2 (en) | 2018-10-16 | 2022-11-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Multilayer ceramic electronic component |
Also Published As
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| JP3624740B2 (ja) | 2005-03-02 |
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