JP2000338156A - チップの測定端子 - Google Patents
チップの測定端子Info
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- JP2000338156A JP2000338156A JP15146999A JP15146999A JP2000338156A JP 2000338156 A JP2000338156 A JP 2000338156A JP 15146999 A JP15146999 A JP 15146999A JP 15146999 A JP15146999 A JP 15146999A JP 2000338156 A JP2000338156 A JP 2000338156A
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- measuring
- electrode
- measuring terminal
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】抵抗値その他を測定する測定端子の接触位置を
クリーニングするようにして、各チップの均一正確な測
定を行えるようにする。 【解決手段】チップの各電極１に各測定端子２を上方か
らばね３の弾力等によって圧接し、次でチップを押上げ
ピン４の垂直上昇で圧接状態のまま設定寸法垂直移動す
ると同時にチップの抵抗値その他を測定するように備え
たチップの測定装置において、各測定端子２をチップの
各電極１に対してそれぞれ設定角度傾斜した線上を上下
移動自在に備えたものであり、各測定端子２をばね３の
弾力等で傾斜線上を下降して各電極１の設定位置Ｐ１に
接触し、その状態で押上げピン４でチップを設定寸法垂
直上昇し各測定端子２を傾斜線上を設定寸法上昇移動す
ることにより、各測定端子２に対する各電極１の接触位
置Ｐ１を両者が圧接したまま設定位置Ｐ２まで摺動移動
（Ｐ１→Ｐ２）するようにした。
クリーニングするようにして、各チップの均一正確な測
定を行えるようにする。 【解決手段】チップの各電極１に各測定端子２を上方か
らばね３の弾力等によって圧接し、次でチップを押上げ
ピン４の垂直上昇で圧接状態のまま設定寸法垂直移動す
ると同時にチップの抵抗値その他を測定するように備え
たチップの測定装置において、各測定端子２をチップの
各電極１に対してそれぞれ設定角度傾斜した線上を上下
移動自在に備えたものであり、各測定端子２をばね３の
弾力等で傾斜線上を下降して各電極１の設定位置Ｐ１に
接触し、その状態で押上げピン４でチップを設定寸法垂
直上昇し各測定端子２を傾斜線上を設定寸法上昇移動す
ることにより、各測定端子２に対する各電極１の接触位
置Ｐ１を両者が圧接したまま設定位置Ｐ２まで摺動移動
（Ｐ１→Ｐ２）するようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】チップの製造装置において、各種
のチップの抵抗値その他を測定するのに用いるチップの
測定端子に係り、測定端子をチップの電極に対して設定
角度傾斜した線上を上下移動自在に備えて圧接すること
によって、チップを押上げピンで垂直上昇して測定する
ときに、測定端子とチップの電極が圧接摺動し、測定端
子の接触位置をクリーニングして、両者間にチップ毎の
ばらつきのない常に安定した接触抵抗が得られ、よっ
て、各チップの均一正確な測定を行えるようにしたこと
を特徴とする、チップの測定端子を提供する。
のチップの抵抗値その他を測定するのに用いるチップの
測定端子に係り、測定端子をチップの電極に対して設定
角度傾斜した線上を上下移動自在に備えて圧接すること
によって、チップを押上げピンで垂直上昇して測定する
ときに、測定端子とチップの電極が圧接摺動し、測定端
子の接触位置をクリーニングして、両者間にチップ毎の
ばらつきのない常に安定した接触抵抗が得られ、よっ
て、各チップの均一正確な測定を行えるようにしたこと
を特徴とする、チップの測定端子を提供する。
【０００２】
【従来技術の課題】従来、レジスター、コンデンサー、
インダクター、その他の各種のチップ型電子部品（以
下、単にチップ）の製造装置において、製造工程のチッ
プの抵抗値その他を測定して不良チップを排除するため
にチップの測定端子（プローブ）が使用されている。
インダクター、その他の各種のチップ型電子部品（以
下、単にチップ）の製造装置において、製造工程のチッ
プの抵抗値その他を測定して不良チップを排除するため
にチップの測定端子（プローブ）が使用されている。
【０００３】上記、従来の測定端子は図４、図５に示す
ようにチップｔの各電極１、１に対し垂直線上を設定寸
法上下移動自在に備えた各測定端子２ａ、２ａをばね３
の弾力等で垂直下降して各電極１、１に圧接した状態に
おいて（図４、図５の各（イ））、押上げピンを垂直上
昇しチップｔを設定寸法上昇移動して、各電極１、１と
測定端子２ａ、２ａの圧接状態を均等確実とすると同時
に計測電流を流してチップｔの抵抗値その他を計測する
ように備えたものである。（同図の各（ロ））
ようにチップｔの各電極１、１に対し垂直線上を設定寸
法上下移動自在に備えた各測定端子２ａ、２ａをばね３
の弾力等で垂直下降して各電極１、１に圧接した状態に
おいて（図４、図５の各（イ））、押上げピンを垂直上
昇しチップｔを設定寸法上昇移動して、各電極１、１と
測定端子２ａ、２ａの圧接状態を均等確実とすると同時
に計測電流を流してチップｔの抵抗値その他を計測する
ように備えたものである。（同図の各（ロ））
【０００４】然るところ、上記従来端子では、測定端子
もチップも共に垂直上下移動するように備えているた
め、チップの電極と測定端子との接触点が常に同一位置
であり、（図４、図５の各（ロ）参照）よって、多数個
のチップの測定を繰り返して行ううちに、測定端子の接
触面（点）が汚れ、変質し、摩耗して電気抵抗が増すた
め、チップ毎にばらつきのない高精度の測定値（特に低
い数値の計測時の測定値）が得られなくなる欠点があ
り、そのため、常に測定端子のクリーニング、交換等の
メンテナンスを必要とする課題があった。
もチップも共に垂直上下移動するように備えているた
め、チップの電極と測定端子との接触点が常に同一位置
であり、（図４、図５の各（ロ）参照）よって、多数個
のチップの測定を繰り返して行ううちに、測定端子の接
触面（点）が汚れ、変質し、摩耗して電気抵抗が増すた
め、チップ毎にばらつきのない高精度の測定値（特に低
い数値の計測時の測定値）が得られなくなる欠点があ
り、そのため、常に測定端子のクリーニング、交換等の
メンテナンスを必要とする課題があった。
【０００５】そこで、図５に示すように、測定端子２、
２の接触面を三角形に形成し設定角度傾斜して備えたも
のも使用されているが、この場合も上記と同じく測定端
子２ａ、２ａ、チップｔ共に垂直上下移動するだけのも
のであるため、チップｔの電極１、１と測定端子２ａ、
２ａとの接触点が常に同一位置であり、測定端子２、２
の傾斜面に対し電極１、１の角が接触するため、その位
置が削られて新しい面が露出する効果はあるにしても、
狭い接触点に汚れや微細屑を一緒に押し付けてしまう欠
点や、測定端子の損耗が早いなどの欠点があり、やはり
クリーニング、交換等のメンテナンスを欠かせない課題
があった。
２の接触面を三角形に形成し設定角度傾斜して備えたも
のも使用されているが、この場合も上記と同じく測定端
子２ａ、２ａ、チップｔ共に垂直上下移動するだけのも
のであるため、チップｔの電極１、１と測定端子２ａ、
２ａとの接触点が常に同一位置であり、測定端子２、２
の傾斜面に対し電極１、１の角が接触するため、その位
置が削られて新しい面が露出する効果はあるにしても、
狭い接触点に汚れや微細屑を一緒に押し付けてしまう欠
点や、測定端子の損耗が早いなどの欠点があり、やはり
クリーニング、交換等のメンテナンスを欠かせない課題
があった。
【０００６】
【発明が解決した課題】そこで、本発明は、チップの電
極に対して測定端子を設定角度傾斜した線上を上下移動
自在に備えることにより、該測定端子の斜方向下降移動
とチップの押上げピンによる垂直上昇移動が競合して、
測定端子に対する電極の接触位置が設定寸法圧接摺動
（摩擦クリーニング）するようにして、上記従来の課題
を有効に解決したものである。
極に対して測定端子を設定角度傾斜した線上を上下移動
自在に備えることにより、該測定端子の斜方向下降移動
とチップの押上げピンによる垂直上昇移動が競合して、
測定端子に対する電極の接触位置が設定寸法圧接摺動
（摩擦クリーニング）するようにして、上記従来の課題
を有効に解決したものである。
【０００７】
【課題を解決する手段】即ち、本発明は、各種のチップ
の各電極に各測定端子を上方からばねの弾力等によって
圧接し、次で該チップを押上げピンの垂直上昇で前記圧
接状態のまま設定寸法垂直移動すると同時にチップの抵
抗値その他を測定するように備えたチップの測定装置に
おいて、
の各電極に各測定端子を上方からばねの弾力等によって
圧接し、次で該チップを押上げピンの垂直上昇で前記圧
接状態のまま設定寸法垂直移動すると同時にチップの抵
抗値その他を測定するように備えたチップの測定装置に
おいて、
【０００８】各測定端子をチップの各電極に対してそれ
ぞれ設定角度傾斜した線上を上下移動自在に備えたもの
であり、各測定端子をばねの弾力等で傾斜線上を下降し
て各電極の設定位置に接触し、その状態で押上げピンで
チップを設定寸法垂直上昇し各測定端子を傾斜線上を設
定寸法上昇移動することにより、各測定端子に対する各
電極の接触位置を両者が圧接したまま設定位置まで摺動
移動するように備えたことを特徴とする、チップの測定
端子によって課題を解決したものである。
ぞれ設定角度傾斜した線上を上下移動自在に備えたもの
であり、各測定端子をばねの弾力等で傾斜線上を下降し
て各電極の設定位置に接触し、その状態で押上げピンで
チップを設定寸法垂直上昇し各測定端子を傾斜線上を設
定寸法上昇移動することにより、各測定端子に対する各
電極の接触位置を両者が圧接したまま設定位置まで摺動
移動するように備えたことを特徴とする、チップの測定
端子によって課題を解決したものである。
【０００９】
【実施例】本発明の実施例につき説明する。（図１、図
２、図３） 各種のチップｔの各電極１、１に各測定端子２、２を上
方からばね３の弾力等によって圧接し、次で該チップｔ
を押上げピン４の垂直上昇で前記圧接状態のまま設定寸
法垂直移動すると同時にチップｔの抵抗値その他を測定
するように備えたチップの測定装置において、
２、図３） 各種のチップｔの各電極１、１に各測定端子２、２を上
方からばね３の弾力等によって圧接し、次で該チップｔ
を押上げピン４の垂直上昇で前記圧接状態のまま設定寸
法垂直移動すると同時にチップｔの抵抗値その他を測定
するように備えたチップの測定装置において、
【００１０】各測定端子２、２をチップｔの各電極１、
１に対してそれぞれ設定角度（例、４５度）傾斜した線
上を上下移動自在に備えたものであり、各測定端子２、
２をばね３の弾力等で傾斜線上を下降して各電極１、１
の設定位置Ｐ１に接触し、その状態で押上げピン４でチ
ップｔを設定寸法垂直上昇し各測定端子２、２を傾斜線
上を設定寸法上昇移動することにより、各測定端子２、
２に対する各電極１、１の接触位置Ｐ１を両者が圧接し
たまま設定位置Ｐ２まで摺動移動（Ｐ１→Ｐ２）するよ
うに備えた、チップの測定端子である。（図１、図２の
（イ）→（ロ）参照）
１に対してそれぞれ設定角度（例、４５度）傾斜した線
上を上下移動自在に備えたものであり、各測定端子２、
２をばね３の弾力等で傾斜線上を下降して各電極１、１
の設定位置Ｐ１に接触し、その状態で押上げピン４でチ
ップｔを設定寸法垂直上昇し各測定端子２、２を傾斜線
上を設定寸法上昇移動することにより、各測定端子２、
２に対する各電極１、１の接触位置Ｐ１を両者が圧接し
たまま設定位置Ｐ２まで摺動移動（Ｐ１→Ｐ２）するよ
うに備えた、チップの測定端子である。（図１、図２の
（イ）→（ロ）参照）
【００１１】図１に示す実施例は、各測定端子２、２の
先端を傾斜（例、４５度）した三角形に形成し、該先端
が設定角度（例、４５度）傾斜した線上を下降してチッ
プｔの電極１、１の上面に圧接するように備えたもので
ある。
先端を傾斜（例、４５度）した三角形に形成し、該先端
が設定角度（例、４５度）傾斜した線上を下降してチッ
プｔの電極１、１の上面に圧接するように備えたもので
ある。
【００１２】また、図２に示す実施例は、各測定端子
２、２の先端を角形に形成し、該先端が設定角度（例、
４５度）傾斜した線上を下降してチップｔの電極１、１
の角に圧接するように備えたものである。
２、２の先端を角形に形成し、該先端が設定角度（例、
４５度）傾斜した線上を下降してチップｔの電極１、１
の角に圧接するように備えたものである。
【００１３】然して、測定端子２、２の形状は上記実施
例に限らず、チップの電極との良好な接触導電に適した
形状であれば任意である。
例に限らず、チップの電極との良好な接触導電に適した
形状であれば任意である。
【００１４】
【作用】チップｔを押上げピン４上に載せ、各測定端子
２、２を設定角度（図示例、４５度）傾斜した線上を下
降して、チップｔの各電極１、１の設定位置（点）にば
ね３の弾力等で圧接する。
２、２を設定角度（図示例、４５度）傾斜した線上を下
降して、チップｔの各電極１、１の設定位置（点）にば
ね３の弾力等で圧接する。
【００１５】押上げピン４を設定寸法垂直上昇しチップ
ｔを同寸法上昇移動して、チップｔの電極１、１と測定
端子２、２の圧接状態をチップ毎にばらつきの生じない
均等確実な状態とする。
ｔを同寸法上昇移動して、チップｔの電極１、１と測定
端子２、２の圧接状態をチップ毎にばらつきの生じない
均等確実な状態とする。
【００１６】上記の状態で測定端子２、２とチップｔに
計測電流を流して抵抗値（レジスター）その他を測定す
る。
計測電流を流して抵抗値（レジスター）その他を測定す
る。
【００１７】測定終了後、押上げピン４を垂直下降復元
して、測定済みチップｔを取り出す。
して、測定済みチップｔを取り出す。
【００１８】上記の作用において、当初、接触位置Ｐ１
でチップｔの電極１、１と測定端子２、２が圧接し、次
で押上げピン４により電極１、１の垂直上昇移動し、そ
れに押し上げられて測定端子２、２が斜上昇移動して、
両者の移動（垂直方向と傾斜方向）が競合するため、電
極１、１と測定端子２、２の接触位置Ｐ１が圧接したま
ま接触位置Ｐ２（測定位置）まで摺動移動する。そし
て、上記のように圧接したまま摺動するため、その間測
定端子２、２の接触部分が摩擦クリーニングされる。
でチップｔの電極１、１と測定端子２、２が圧接し、次
で押上げピン４により電極１、１の垂直上昇移動し、そ
れに押し上げられて測定端子２、２が斜上昇移動して、
両者の移動（垂直方向と傾斜方向）が競合するため、電
極１、１と測定端子２、２の接触位置Ｐ１が圧接したま
ま接触位置Ｐ２（測定位置）まで摺動移動する。そし
て、上記のように圧接したまま摺動するため、その間測
定端子２、２の接触部分が摩擦クリーニングされる。
【００１９】
【効果】チップの測定時に、チップ即ちその電極の垂直
方向上昇移動に対して測定端子の方を斜方向上昇移動す
るようにしたので、両方向移動の競合によって測定端子
に対する電極の接触位置が設定寸法摺動移動し、その摩
擦運動によって測定端子の接触部分がクリーニングされ
て、常に接触部分を新規、清浄にして極めて良好な通電
状態を維持できることになり、よって、測定端子のメン
テナンスなしに長期に亙って、チップ毎のばらつきのな
い高精度の測定を行うことができる多大の効果がある。
方向上昇移動に対して測定端子の方を斜方向上昇移動す
るようにしたので、両方向移動の競合によって測定端子
に対する電極の接触位置が設定寸法摺動移動し、その摩
擦運動によって測定端子の接触部分がクリーニングされ
て、常に接触部分を新規、清浄にして極めて良好な通電
状態を維持できることになり、よって、測定端子のメン
テナンスなしに長期に亙って、チップ毎のばらつきのな
い高精度の測定を行うことができる多大の効果がある。
【図１】本発明の実施例の（イ）は構成概略を示す正面
図、（ロ）はその作用説明図。
図、（ロ）はその作用説明図。
【図２】図１の一部拡大図でその作用を説明する図。
【図３】本発明の他の実施例の（イ）は構成概略を示す
正面図、（ロ）はその作用説明図。
正面図、（ロ）はその作用説明図。
【図４】従来例の（イ）は構成概略を示す正面図、
（ロ）はその作用説明図。
（ロ）はその作用説明図。
【図５】他の従来例の（イ）は構成概略を示す正面図、
（ロ）はその作用説明図。
（ロ）はその作用説明図。
ｔ 各種のチップ Ｐ１ 最初の接触位置 Ｐ２ 上昇移動後の接触位置（測定位置） １ チップの電極 ２ 測定端子 ３ ばね ４ 押上げピン
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G011 AA14 AB01 AC06 AC13 AC14 AE22 2G028 BB01 BB06 BB07 BB20 CG02 HM05 HM08 HN09 2G036 AA03 AA27 BB01 BB02 BB22 CA12 5E082 AA01 BC38 MM11 MM21 MM22 MM35
Claims (3)
- 【請求項１】各種のチップの各電極に各測定端子を上方
からばねの弾力等によって圧接し、次で該チップを押上
げピンの垂直上昇で前記圧接状態のまま設定寸法垂直移
動すると同時にチップの抵抗値その他を測定するように
備えたチップの測定装置において、 各測定端子をチップの各電極に対してそれぞれ設定角度
傾斜した線上を上下移動自在に備えたものであり、 各測定端子をばねの弾力等で傾斜線上を下降して各電極
の設定位置に接触し、その状態で押上げピンでチップを
設定寸法垂直上昇し各測定端子を傾斜線上を設定寸法上
昇移動することにより、各測定端子に対する各電極の接
触位置を両者が圧接したまま設定位置まで摺動移動する
ように備えたことを特徴とする、 チップの測定端子。 - 【請求項２】各測定端子の先端を傾斜した三角形に形成
し、該先端が設定角度傾斜した線上を下降してチップの
電極の上面に圧接するように備えた、 請求項１のチップの測定端子。 - 【請求項３】各測定端子の先端を角形に形成し、該先端
が設定角度傾斜した線上を下降してチップの電極の角に
圧接するように備えた、 請求項１のチップの測定端子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15146999A JP2000338156A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | チップの測定端子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15146999A JP2000338156A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | チップの測定端子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000338156A true JP2000338156A (ja) | 2000-12-08 |
Family
ID=15519212
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15146999A Pending JP2000338156A (ja) | 1999-05-31 | 1999-05-31 | チップの測定端子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000338156A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002296320A (ja) * | 2001-03-28 | 2002-10-09 | Koa Corp | 電気特性値測定用ユニットおよび測定装置 |
| JP2008509423A (ja) * | 2004-08-09 | 2008-03-27 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | 自浄式下部コンタクト |
| JP2015155809A (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | 四国計測工業株式会社 | 電力量計自動結線装置 |
| JP7661958B2 (ja) | 2022-11-11 | 2025-04-15 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の通電装置 |
-
1999
- 1999-05-31 JP JP15146999A patent/JP2000338156A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002296320A (ja) * | 2001-03-28 | 2002-10-09 | Koa Corp | 電気特性値測定用ユニットおよび測定装置 |
| JP2008509423A (ja) * | 2004-08-09 | 2008-03-27 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | 自浄式下部コンタクト |
| JP2015155809A (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | 四国計測工業株式会社 | 電力量計自動結線装置 |
| JP7661958B2 (ja) | 2022-11-11 | 2025-04-15 | 株式会社村田製作所 | 電子部品の通電装置 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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|
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Effective date: 20090616 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |