JP2000347193A - 液晶表示素子用スペーサ及び液晶表示素子 - Google Patents
液晶表示素子用スペーサ及び液晶表示素子Info
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Abstract
乱す等、液晶に悪影響を与えることなく、高品位な表示
性能を有する液晶表示素子が得られるスペーサ、及び、
上記スペーサを用いた液晶表示素子を提供する。 【解決手段】 液晶表示素子に用いられるスペーサであ
って、前記スペーサをカラムに充填して固定相に用い、
溶解度パラメータが8.5〜23.5(cal/cm
3 )である液体を移動相に用いた系に、液晶分子を流入
させた際に得られる溶出ピーク形状において、溶出ピー
クの保持時間をt(分)、溶出ピーク高さの50%部に
おけるピーク幅をW1/2 (分)、測定に使用したカラム
長さをL(mm)、カラムに充填した液晶表示素子用ス
ペーサの平均粒径をD(mm)とするとき、下記式
(1)で表されるパラメータ(P値)が25以上である
スペーサ。 P値=(t/W1/2 )2 ×D/L (1)
Description
ペーサ、及び、上記液晶表示素子用スペーサを用いた液
晶表示素子に関する。
明電極等を形成した基板を、スペーサを介して所定の間
隔に対向配置し、周辺をシール材によりシールした後、
その間隙に液晶を注入し、注入口を封止することにより
製造される。
枚の基板の間隔を一定に保つために用いられているが、
このスペーサは、液晶中において化学的に安定に存在す
ること、液晶の配向を乱さないこと、移動しないこと等
が要求される。
おいて、液晶とスペーサとの界面で液晶分子の配向が変
則的になる場合がある。このような異常配向が生じる
と、液晶表示素子を点灯、作動させたときに、バックラ
イトからの光が透過するいわゆる光抜けという現象が生
じる。このため、液晶表示素子のコントラストが低下
し、表示品位を損なうおそれがあることが知られてい
る。
けは、特に、液晶表示素子画面に強い衝撃を与えたとき
に発生・増大しやすく、一旦光抜けが発生すると、通常
の条件では、その後に光抜けが消えることはないため、
液晶表示素子のコントラストを著しく低下せしめ、大き
な問題となる。
かの方法が提案されており、例えば、特開平6−117
19号公報には、液晶の異常配向を防止するために、微
粒子の表面をアルキル基を有するシランカップリング剤
で被覆することにより、表面にアルキル基を有する層を
形成したスペーサが開示されている。
基を導入したスペーサであっても、液晶表示素子画面に
強い衝撃を与えると、スペーサ周囲から光り抜けが発生
する場合がある。そして画素内に存在する多くのスペー
サに光抜けが生じると、液晶表示素子のコントラストは
著しく低下し、表示品質を損なうこととなる。
ては、いまだ明確に解明されていないが、その原因の一
つとして、液晶表示素子が衝撃を受けるとスペーサ表面
と液晶とが激しく振動し、この機械的衝撃によって表面
分子構造が変化又は破壊され、表面層の疎水性が変動す
るためと考えられる。この構造変化は表面の疎水性部分
の密度が粗であるほど生じやすく、また表面層中に水酸
基等の親水性部分を含有する場合では、表面の疎水性は
更に大きく変化する。その結果、液晶とスペーサとの界
面において、液晶分子の配向に乱れを生じ、光抜けを発
生・増大させると考えられる。このため、液晶表示素子
が衝撃を受けても、スペーサ周囲の液晶が異常配向を示
さない液晶表示素子用スペーサが必要とされている。
鑑み、液晶表示素子に衝撃を与えても液晶の配向を乱す
等、液晶に悪影響を与えることなく、高品位な表示性能
を有する液晶表示素子が得られる液晶表示素子用スペー
サ、及び、上記液晶表示素子用スペーサを用いた液晶表
示素子を提供することを目的とする。
に用いられる液晶表示素子用スペーサであって、前記液
晶表示素子用スペーサをカラムに充填して固定相に用
い、溶解度パラメータが8.5〜23.5(cal/c
m3 )である液体を移動相に用いた系に、液晶分子を流
入させた際に得られる溶出ピーク形状において、溶出ピ
ークの保持時間をt(分)、溶出ピーク高さの50%部
におけるピーク幅をW1/2 (分)、測定に使用したカラ
ム長さをL(mm)、カラムに充填した液晶表示素子用
スペーサの平均粒径をD(mm)とするとき、下記式
(1)で表されるパラメータ(P値)が25以上である
液晶表示素子用スペーサである。 P値=(t/W1/2 )2 ×D/L (1) 以下に本発明を詳述する。
は、上記液晶表示素子用スペーサをカラムに充填して固
定相に用い、溶解度パラメータが8.5〜23.5(c
al/cm3 )である液体を移動相に用いた系に、液晶
分子を流入させた際に得られる溶出ピーク形状におい
て、上記P値が25以上となる。
(1)から求められ、tは液晶分子を注入してから溶出
ピークのピークトップが溶出するまでの時間、W1/2 は
溶出ピークの50%部におけるピーク幅、即ち半値幅を
示す。上記式(1)中の(t/W1/2 )2 は溶出ピーク
の尖鋭度を示す理論段数と比例する項である。Dはカラ
ムに充填した液晶表示素子用スペーサの平均粒径を示
し、一般的にDが大きくなるほど理論段数は小さくな
り、Dが小さくなるほど理論段数は大きくなる。また、
Lは測定に使用したカラム長さを示し、Lが大きくなる
ほど理論段数は大きくなり、Lが小さくなるほど理論段
数は小さくなる。通常、理論段数はDやLに影響を受け
る指標であるが、本発明における上記P値は溶出ピーク
の尖鋭度を平均粒径とカラム長さで補正したパラメータ
であり、カラムに充填した液晶表示素子用スペーサの平
均粒径やカラム長さに関わらず、粒子自信が持つ溶出ピ
ークの分解能の程度を表すものである。
カラムに充填して固定相に用い、溶解度パラメータが
8.5〜23.5(cal/cm3 )である液体を移動
相に用いた系に、液晶分子を流入させた際に得られる溶
出ピーク形状において、上記P値が25以上である液晶
表示素子用スペーサは、衝撃を与えても異常配向を生じ
ないことを見いだした。
ーサを充填したカラムに導入した場合、移動相に溶け込
んだ液晶分子は当該カラム内に充填されているスペーサ
の表面に存在する疎水性部分との間で疎水的相互作用に
よる吸着・脱離を繰り返しながら、移動相とともにカラ
ムエンドに向かって流れていく。個々の液晶分子のカラ
ム内での線速度は、疎水的相互作用により固定相に保持
されるので移動相の線速度よりも相対的に遅くなる。そ
のため液晶分子は溶出ピークとなってクロマトグラム上
で検出され、保持力が強いほど保持時間が長くなり、逆
に保持力が小さいほど保持時間が短くなる。このとき個
々の液晶分子とスペーサ表面との間で、吸着脱離の速度
が早く、かつ個々に大きな差異がない場合、溶出ピーク
は尖鋭なものになるが、吸着脱離の速度が遅く、かつ個
々にバラツキがある場合、溶出ピークはブロードにな
る。
の疎水性部分の密度に大きく依存し、スペーサ表面の疎
水性部分が密であれば、液晶分子の脱着はスペーサのご
く表面のみで行われるので吸着脱離速度は早くなるが、
疎水性部分が粗であるほど、液晶分子はスペーサ表面の
深層まで進入し、吸着脱離速度が遅くなる。その結果、
得られる溶出ピークはブロードになり上記P値を低下さ
せる。
性部分を含有すると、液晶分子の一部が脱着異常を起こ
し、個々の液晶分子の吸着脱離速度にバラツキを生じ
る。その結果得られる溶出ピークはブロードになり同じ
く上記P値を低下させる。
サ表面と液晶とが激しく振動し、この機械的衝撃によっ
て表面分子構造が変化又は破壊され、表面層の疎水性が
変化することで液晶の配向に乱れを生じ、光抜けの発生
・増大をきたす。このような構造変化は表面の疎水性部
分の密度が粗であるほど生じやすく、また表面層中に水
酸基等の親水性部分を含有する場合は、より強くその影
響が生じやすい。このため上記P値の低い液晶表示素子
用スペーサは液晶とスペーサとの界面において、液晶分
子の配向に乱れを生じ、光抜けを発生・増大させやすい
と考えられる。
の吸着脱離速度は、前述の表面層の疎水性密度や、スペ
ーサ最表面に露出した親水性部分だけでなく、表面近傍
の組成の影響も受けると考えられる。このため、親水性
部分が表面に露出していなくとも振動等により変化・露
出等するような親水性部分も溶出ピークの尖鋭度を低下
させ、上記P値を低下させる。このようなスペーサを液
晶表示素子に使用した場合も、同様に衝撃によりスペー
サ周囲で液晶の配向を乱し、光抜けを発生・増大する。
また、振動により変化・露出等しないような「安定」な
親水性部分は、液晶分子の吸着脱離速度に影響を及ぼす
ことはなく、液晶表示素子に使用しても衝撃により光抜
けを発生・増大しない。なお、前述の粒子表面の疎水性
部分の密度は、例えばTOF−SIMSや熱分解GC等
の既知の分析方法で相対比較することができる。
スペーサを液晶表示素子に使用した場合、異常配向防止
性能が充分ではなく、スペーサ周りに初期より光り抜け
を生じるか、又は、初期は異常配向を起こさなくても衝
撃を与えることによりスペーサ周りに光り抜けを来し、
液晶表示素子の品質低下をもたらす。一方、液晶表示素
子に本発明における上記P値が25以上の液晶表示素子
用スペーサを使用した場合には、液晶表示素子が衝撃を
受けても、液晶の配向状態が変則的にならず、異常配向
を起こして液晶表示素子に光り抜け等の悪影響を生じる
ことはない。
ータが8.5〜23.5(cal/cm3 )のものであ
れば特に限定されず、例えば、水、メタノール、エタノ
ール、n−プロパノール、i−ブタノール、アセトニト
リル、テトラヒドロフラン等が挙げられる。このような
溶解度パラメータを有する液体は、単独で用いても良い
し、2種以上併用してもよい。移動相に用いる液体の溶
解度パラメータが8.5(cal/cm3 )未満では、
液晶表示素子用スペーサと液晶分子との疎水的相互作用
が小さくなり、測定が困難になる。一方、溶解度パラメ
ータが23.5(cal/cm3 )を超えると、疎水性
相互作用が強くなりすぎ、液晶分子を非可逆的に吸着し
てしまい溶出ピークとして得られなくなる。なお、上記
溶解度パラメータとは、(ΔEV /V)1/2 で定義され
る量である。ここでΔEV は液体のモル蒸発エネルギ
ー、Vはモル体積である。
ーサとしては、例えば、表面に液晶と疎水的相互作用を
示す官能基が導入されたもの等が挙げられる。上記液晶
と疎水的相互作用を示す官能基としては特に限定され
ず、例えば、ラウリル基、メチル基、エチル基、セチル
基、ステアリル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル
基、ベヘニル基、イソブチル基、t−ブチル基、フェニ
ル基、t−ブチルフェニル基、イソボルニル基、ノルボ
ルニル基、アダマンチル基等のアルキル基;オクタノイ
ル基、ラウロイル基、ミリストイル基、パルミトイル
基、ステアロイル基等のアシル等が挙げられる。
面に導入する方法としては、例えば、還元性基を有する
スペーサ表面に上記官能基を有する重合性単量体を含浸
した後、セリウム塩、過硫酸塩等の酸化剤を反応させる
ことにより上記スペーサの表面にラジカルを発生させ、
上記ラジカルを起点としてスペーサ表面にグラフト重合
層を形成する方法等が挙げられる。
特に限定されず、例えば、ラウリル(メタ)アクリレー
ト、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アク
リレート、ステアリル(メタ)アクリレート、セチル
(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、
ヘキシル(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アク
リレート、ベヘニル(メタ)アクリレート、イソブチル
(メタ)アクリレート、t−ブチル(メタ)アクリレー
ト、フェニル(メタ)アクリレート、t−ブチルフェニ
ル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリ
レート、ノルボルニル(メタ)アクリレート、アダマン
チル(メタ)アクリレート、オクタン酸ビニル、ラウリ
ン酸ビニル、ミリスチン酸ビニル、パルミチン酸ビニ
ル、ステアリン酸ビニル等が挙げられる。これらの官能
基を有する重合性単量体は、単独で用いてもよく、2種
以上併用してもよい。
合性単量体を導入した後、上記官能基を有する化合物を
反応させる方法等も挙げられる。上記反応性基を有する
重合性単量体としては特に限定されず、例えば、カルボ
キシル基、水酸基、アミノ基、アミド基、エポキシ基、
スルホン基、メルカプト基、イソシアネート基等の反応
性基を有する重合性単量体;加水分解、付加、縮合、開
環等の手段により上記したような反応性基を生成するビ
ニル系単量体等が挙げられる。具体的には、例えば、
(メタ)アクリル酸、2−ヒドロキシエチル(メタ)ア
クリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレ
ート、グリシジル(メタ)アクリレート、グリセロイル
(メタ)アクリレート、(メタ)アクリルアミド、ジメ
チルアミノプロピル(メタ)アクリレート、ポリエチレ
ングリコール(メタ)アクリレート等が挙げられる。こ
れらの反応性基を有する重合性単量体は、単独で用いて
もよく、2種以上併用してもよい。
定されず、例えば、カルボン酸類、そのハロゲン化物や
塩;アルコール類;スルホン酸類、そのハロゲン化物や
塩;アミン類等が挙げられる。これらの官能基を有する
化合物は、単独で用いてもよく、2種以上併用してもよ
い。このような方法を用いることにより、液晶と疎水的
相互作用を示す官能基をスペーサ表面に導入することが
できる。
用いられる微粒子の材料としては特に限定されず、無機
材料であっても、有機材料であってもよい。上記無機材
料としては特に限定されず、例えば、珪酸ガラス、ホウ
珪酸ガラス、鉛ガラス、曹達石灰ガラス、アルミナ、ア
ルミナシリケート等が挙げられる。
用する場合、液晶と熱膨張率が大きく異なるため温度変
化に追従しきれず低温発泡等の不良を生じることがあ
る。このため液晶と熱膨張率が大きく変わらない有機材
料を用いることが好ましい。
が、エチレン性不飽和基を有する重合性単量体の重合体
等が好適に用いられる。更に、微粒子は本発明の液晶表
示装置用スペーサのコア粒子として機能することから、
その機械的強度を考えれば、エチレン性不飽和基を有す
る重合性単量体を重合して得られる微粒子であって、そ
のエチレン性不飽和基を有する重合性単量体は、少なく
とも20重量%が、2個以上のエチレン性不飽和基を有
する重合性単量体であることが好ましい。
えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、メラミン樹脂、
不飽和ポリエステル樹脂等が挙げられる。しかしなが
ら、その機械的強度を考えれば、エチレン性不飽和基を
有する単量体を重合させて得られる微粒子であって、そ
のエチレン性不飽和基を有する重合性単量体は、少なく
とも20重量%が、2個以上のエチレン性不飽和基を有
する重合性単量体であることが好ましい。
る重合性単量体としては特に限定されず、例えば、テト
ラメチロールメタンテトラ(メタ)アクリレート、テト
ラメチロールメタントリ(メタ)アクリレート、テトラ
メチロールメタンジ(メタ)アクリレート、トリメチロ
ールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリ
スリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ジペンタエリ
スリトールペンタ(メタ)アクリレート、グリセロール
トリ(メタ)アクリレート、グリセロールジ(メタ)ア
クリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリ
レート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレ
ート等の多官能(メタ)アクリレート類;トリアリル
(イソ)シアヌレート、トリアリルトリメリテート等;
ジビニルベンゼン、ジアリルフタレート、ジアリルアク
リルアミド等が挙げられる。
不飽和基を有する重合性単量体のみからなるものであっ
てもよく、2個以上のエチレン性不飽和基を有する重合
性単量体とその他のエチレン性不飽和基を有する重合性
単量体とを共重合して得られるものであってもよい。上
記その他の重合性単量体としては特に限定されず、例え
ば、スチレン、α−メチルスチレン等のスチレン系単量
体、メチル(メタ)アクリレート等の(メタ)アクリレ
ート類等が挙げられる。上記2個以上のエチレン性不飽
和基を有する重合性単量体及びその他のエチレン性不飽
和基を有する重合性単量体は単独で用いてもよく、2種
以上を併用してもよい。
度は10%K値が2500〜15000であることが好
ましい。2500未満では、粒子の強度が充分でないた
め、液晶表示装置を組む際にスペーサが破壊されて適切
なギャップが出にくい。また、カラムに充填する際、充
填時の圧力で粒子が潰れてしまうことがある。1500
0を超えると、表示装置に組み込んだ際に、低温発泡を
生じる場合がある。
開平6−503180号公報に準拠して微小圧縮試験器
(島津製作所社製、PCT−200)を用いてダイヤモ
ンド製の直径50μmの円柱の平滑端面で得られたスペ
ーサの微粒子を圧縮硬度0. 27g/秒、最大試験荷重
10gで圧縮し、下記の式より求める値をいう。 K=(3/√2)・F・S-3/2・R-1/2 (N/mm2) F:微粒子の10%圧縮変形における荷重値(N) S:微粒子の10%圧縮変形における圧縮変位(mm) R:微粒子の半径(mm)
は特に限定されず、例えば、球状、楕円球状、円柱状等
が挙げられるが、カラムに充填しP値を測定するために
は球状が好ましい。上記液晶表示素子用スペーサの粒径
は、形状が球状の場合には、0.1〜100μmが好ま
しく、更には1〜10μmがより好ましい。本発明の液
晶表示素子用スペーサは既知の種々の方法で着色してい
てもよい。
配向防止の観点から、その表面に炭素数4〜22の長鎖
アルキル基を有することが好ましく、更には炭素数8〜
22である長鎖アルキル基を有することがより好まし
い。これらのアルキル基を有する液晶表示素子用スペー
サを液晶表示素子に使用した場合、液晶分子が垂直配向
することにより光抜けを抑制することが知られており、
同時に疎水性の長鎖の影響で親水性部分への液晶分子の
吸着を阻害する働きも有すると考えられる。
素子用スペーサは、液晶の配向を乱す等の液晶に悪影響
を与えることがない。また、本発明の上記液晶表示素子
用スペーサは、液晶表示素子に好適に用いることができ
る。上記液晶表示素子について、その要部断面図である
図1を参照しながら説明する。
光シート1が一面に設けられ、偏光シート1が設けられ
た面と反対の面に絶縁膜3、透明電極4及び配向膜5が
順次積層され、配向膜5が対向するように配置された一
対の透明基板2と、対向する配向膜5の間に狭持された
液晶表示素子用スペーサ7と配向膜5の間に注入された
液晶6、周辺に形成されたシール材8とから構成されて
いる。
を用いて作製することができる。まず、偏光シート1が
一面に設けられた2枚の透明基板2の偏光シート1が設
けられた面と反対側の面に、SiO2 等からなる絶縁膜
3を形成し、絶縁膜3の上にITO等からなる透明電極
4をフォトリソグラフィーによりパターンニングして形
成する。その後、それぞれの透明電極4上に、ポリイミ
ド等からなる配向膜5を形成し、1枚の透明基板2の配
向膜5上に液晶表示素子用スペーサ7を散布する。
した基板に、他のスペーサが散布されていない基板を、
配向膜5が対向するように配置し、これらの基板の周囲
に、シール材8を用いて周辺部に接着層を形成し、液晶
表示素子用スペーサを散布した基板とスペーサが散布さ
れていない基板とを貼り合わせ、更に液晶6をこれら基
板間に注入することにより液晶セルを作製し、得られた
液晶セルに配線を設けることにより液晶表示素子10を
作製する。
布する際の、その散布密度は、10〜1000個/mm
2 が好ましい。散布密度が10個/mm2 未満では、液
晶セルのギャップが均一にならない場合があり、散布密
度が1000個/mm2 を超えると、液晶表示素子用ス
ペーサの存在により液晶表示素子のコントラストが低下
する場合がある。このような構成からなる液晶表示素子
は、高品位な表示性能を有する。上記液晶表示素子もま
た本発明の一つである。
示素子用スペーサを用いてなるため、衝撃を受けた場合
でもスペーサ周囲の液晶が異常配向を起こしにくく、高
品位表示性能を有するものである。
明するが、本発明はこれら実施例のみに限定されるもの
ではない。
00重量部に、ジビニルベンゼン50重量部、テトラメ
チロールメタンテトラアクリレート50重量部、過酸化
ベンゾイル3重量部の混合液を加え、ホモジナイザーに
て攪拌して粒度調整を行った。その後、攪拌しながら窒
素気流化にて、80℃まで昇温し、15時間反応を行っ
た。得られた微粒子を熱イオン交換水及びメタノールに
て洗浄後、分級操作を行った。得られた微粒子は、平均
粒径5.2μm、CV値3%、10%K値5600N/
mm2であった。
に、上記操作で作製した微粒子10重量部、イオン交換
水50重量部、ヒドロキシエチルメタクリレート30重
量部を加え、撹拌を行った。次に、系に窒素ガスを導入
し、50℃にて5時間撹拌した。これに1Nの硝酸水溶
液で調製した0.1mol/Lの硝酸第二セリウムアン
モニウム溶液20重量部を添加し5時間反応させた。反
応終了後、反応液を取り出し、孔径3μmのメンブレン
フィルターにて、粒子と反応液とを濾別した。得られた
微粒子をメタノール及びアセトンにて洗浄し、真空乾燥
機にて、減圧乾燥した。
ドロフラン100重量部に分散し、トリエチルアミン4
0重量部を加えた。窒素還流下でミリスチン酸クロライ
ド10重量部及びアセチルクロライド10重量部の混合
液を滴下した後、60℃で3時間反応させた。反応終了
後、孔径3μmのメンブレンフィルターにて粒子と反応
液を濾別した。得られた粒子をメタノール及びテトラヒ
ドロフランにて各数回洗浄したあと、真空乾燥器により
減圧乾燥を行い、表面処理された液晶表示素子用スペー
サを得た。得られたスペーサを固定相に用いて下記の評
価方法により、液晶分子の溶出ピークのP値を測定し
た。また、得られたスペーサを下記に示す液晶異常配向
の評価方法に従い光抜けの状態を観察した。これらの結
果を表1に示した。
HPLC(高速液体クロマトグラフィー)用ポンプを用
いてn−プロパノールを定圧(20MPa)で流しなが
ら、得られた液晶表示素子用スペーサをこのカラムに充
填し、評価用カラムとした。また、下記構造式(1)及
び下記構造式(2)に示す液晶分子5CB及びPTP−
502のそれぞれ0.01molをn−プロパノール1
000mLに溶解し測定試料とした。
マトグラフィー装置により下記の測定条件で分析した。
液体クロマトグラフィー装置20では、送液ポンプ22
により送液される移動相21中に、測定試料がオートサ
ンプラー23で自動的に注入される。その後、測定試料
及び移動相21は、スペーサ充填カラム24に送り込ま
れて、更に、紫外線検出器25で検出され、レコーダ2
6でクロマトグラムを得ることができる。この得られた
クロマトグラムから上記液晶分子の溶出ピークにおける
P値を算出することができる。なお、P値測定に使用し
たすべてのカラムにおいて、カラムイン側のフィッティ
ングを外し、カラム入り口に隙間が発生していないこと
を確認した。
使用した。 移動相(1) メタノール(溶解度パラメータ;14.
5):水(溶解度パラメータ;23.4)=1:1 移動相(2) アセトニトリル(溶解度パラメータ;1
1.9):水=1:1 移動相(3) テトラヒドロフラン(溶解度パラメー
タ:9.1):水=1:1 (2)流量 1mL/分 (3)カラム温度 40℃ (4)紫外線検出に使用される波長 280nm
ぞれSTN型液晶表示装置、TN型液晶表示装置、IP
S型液晶表示装置の指標になるよう、以下の(1)〜
(3)の3モードの液晶表示素子を作製して評価を行っ
た。評価は○、△、×の3段階で行い、それぞれ以下よ
うに評価した。 ○;光抜けが殆どないか、極めてわずかであった △;少し光抜けが発生した ×;大きく光抜けが発生した
に、CVD法によりSiO2 膜を蒸着した後、SiO2
膜の表面全体にスパッタリングによりITO膜を形成し
て得たITO膜付きガラス基板に、スピンコート法によ
りポリイミド中間体(東レ社製、LP−64)を形成
し、280℃で90分間焼成することによりポリイミド
配向膜を形成した。このガラス板にラビング処理を行っ
た後、上記基板のうちの一枚の基板の配向膜の側に、合
成したスペーサを乾式散布機(日清エンジニアリング社
製、DISPA−μR)を用いて1mm2 当たり100
〜200個になるよう散布した。もう一方の基板の周辺
に周辺シール剤(主剤:SE4500、硬化剤:HAV
EN CHEMICAL社製)を形成した後、ラビング
方向(ツイスト角)が240°になるように対抗配置さ
せ、両者を張り合わせた後、160℃で90分間処理し
てシール材を硬化させ、空セルを作製した。得られた空
セルに、STN型液晶(メルク社製、S−811)を注
入した後、注入口を接着剤で塞いで液晶セルを作製し、
更に、120℃で30分間熱処理した。
セルをノーマリブラック表示モードになるように2枚の
偏光フィルムで挟み込み、約5Vの電圧を印加しながら
顕微鏡で光抜けの程度を観察した。続いて、この液晶セ
ルの端部を頭がゴムの槌で100回強く叩いて衝撃を与
え、同様にスペーサ周囲の光抜けの程度を観察した。
ガラス板に、スピンコート法によりポリイミド配向膜
(日産化学社製、SE−7210)を配置し、同様に焼
成した後ラビング処理を行った。次に、合成したスペー
サをSTNセルと同様にして散布し、ラビング方向が9
0°になるように対向配置させ、同様のシール剤を用い
て両者を張り合わせた。この後、160℃で90分間処
理してシール材を硬化させ、空セルを作製した。得られ
た空セルに、TN型液晶(メルク社製、MLC−622
2)を注入した後、注入口を接着剤で塞いで液晶セルを
作製し、更に、120℃で30分間熱処理した。
リホワイト表示モードになるようクロスニコルに配置し
た偏光フィルムで挟み込み、7Vの電圧を印加しながら
顕微鏡を用いてSTNモード液晶セルと同様に衝撃付与
前後の光抜けの程度を観察した。
たITO膜なしの一対のガラス板に、ラビング処理を行
い、合成したスペーサをSTNセルと同様にして散布
し、ラビング方向が180°になるように対向配置さ
せ、同様のシール剤を用いて両者を張り合わせた。この
後、160℃で90分間処理してシール材を硬化させ、
空セルを作製した。得られた空セルに、カイラル剤を含
んでいないIPS型液晶(チッソ社製、MLC−660
1)を注入した後、注入口を接着剤で塞いで液晶セルを
作製し、更に、120℃で30分間熱処理した。
リブラック表示モードになるようクロスニコルに配置し
た偏光フィルムで挟み込み、電圧印加を行わない状態で
顕微鏡を用いてSTNセルと同様に衝撃付与前後の光抜
けの程度を観察した。
ドを用いた以外は、実施例1と同様にして液晶表示素子
用スペーサを得た。得られたスペーサを固定相に用いて
実施例1と同様の評価方法により、液晶分子の溶出ピー
クのP値を測定した。また、上記液晶表示素子用スペー
サを用いて液晶表示素子を作製し、実施例1と同様にし
て液晶異常配向を評価した。結果を表1に示した。
00重量部に、ジビニルベンゼン30重量部、テトラメ
チロールメタンテトラアクリレート70重量部、過酸化
ベンゾイル3重量部の混合液を加え、ホモジナイザーに
て攪拌して粒度調整を行った。その後、攪拌しながら窒
素気流化にて、80℃まで昇温し、15時間反応を行っ
た。得られた微粒子を熱イオン交換水及びメタノールに
て洗浄後、分級操作を行った。得られた微粒子は、平均
粒径4.0μm、CV値3%、10%K値6300N/
mm2であった。
に、上記操作で作製した微粒子10重量部、イオン交換
水50重量部、ラウリルメタクリレート10重量部、メ
チルメタクリレート5重量部、イソボルニルメタクリレ
ート5重量部を加え、攪拌を行った。次に、系に窒素ガ
スを導入し、30℃にて3時間攪拌を続けた。これに、
1Nの硝酸水溶液で調製した0.1mol/Lの硝酸第
二セリウムアンモニウム溶液10を添加し5時間反応さ
せた。反応終了後、反応液を取り出し、孔径3μmのメ
ンブレンフィルターにて粒子と反応液とを濾別した。得
られた微粒子をテトラヒドロフラン及びアセトンにて充
分洗浄し、真空乾燥機にて、減圧乾燥した。乾燥終了
後、得られた液晶表示素子用スペーサを固定相に用いて
実施例1と同様の評価方法により、液晶分子の溶出ピー
クのP値を測定した。また、上記液晶表示素子用スペー
サを用いて液晶表示素子を作製し、実施例1と同様にし
て液晶異常配向を評価した。結果を表1に示した。
セチルメタクリレートを用いた以外は、実施例3と同様
にして液晶表示素子用スペーサを得た。得られた液晶表
示素子用スペーサを固定相に用いて実施例1と同様の評
価方法により、液晶分子の溶出ピークのP値を測定し
た。また、上記液晶表示素子用スペーサを用いて液晶表
示素子を作製し、実施例1と同様にして液晶異常配向を
評価した。結果を表1に示した。
00重量部に、ジビニルベンゼン70重量部、ジペンタ
エリスリトールヘキサアクリレート30重量部、アクリ
ロニトリル15重量部、過酸化ベンゾイル3重量部の混
合液を加え、ホモジナイザーにて攪拌して粒度調整を行
った。その後、攪拌しながら窒素気流化にて、80℃ま
で昇温し、15時間反応を行った。得られた微粒子を熱
イオン交換水及びメタノールにて洗浄後、分級操作を行
った。得られた微粒子は、平均粒径6.0μm、CV値
3%、10%K値5000N/mm2であった。
実施例1と同様の方法で表面処理を行った。得られた液
晶表示素子用スペーサを固定相に用いて実施例1と同様
の評価方法により、液晶分子の溶出ピークのP値を測定
した。また、上記液晶表示素子用スペーサを用いて液晶
表示素子を作製し、実施例1と同様にして液晶異常配向
を評価した。結果を表1に示した。
固定相に用いて実施例1と同様の評価方法により、液晶
分子の溶出ピークのP値を測定した。また、上記液晶表
示素子用スペーサを用いて液晶表示素子を作製し、実施
例1と同様にして液晶異常配向を評価した。結果を表1
に示した。
で作製した微粒子10重量部、ヘキサン100重量部、
トリデシルトリエトキシシラン1重量部を加え、45℃
で1時間攪拌しながら反応させた。反応終了後、反応液
を取り出し、孔径3μmのメンブレンフィルターにて粒
子と反応液とを濾別した。得られた微粒子を真空乾燥機
にて、140℃で1時間減圧乾燥した。乾燥終了後、得
られた液晶表示素子用スペーサを固定相に用いて実施例
1と同様の評価方法により、液晶分子の溶出ピークのP
値を測定した。また、上記液晶表示素子用スペーサを用
いて液晶表示素子を作製し、実施例1と同様にして液晶
異常配向を評価した。結果を表1に示した。
ビニルベンゼン30重量部、テトラメチロールメタンテ
トラアクリレート50重量部、セチルメタクリレート2
0重量部、過酸化ベンゾイル3重量部の混合液を加え、
ホモジナイザーにて攪拌して粒度調整を行った。その
後、攪拌しながら窒素気流化にて、80℃まで昇温し、
15時間反応を行った。反応終了後、反応液を取り出
し、孔径3μmのメンブレンフィルターにて粒子と反応
液とを濾別した。得られた微粒子を熱イオン交換水及び
メタノールにて洗浄後、分級操作を行った。この微粒子
は、平均粒径5.0μm、CV値3%、10%K値42
00N/mm2であった。
に用いて実施例1と同様の評価方法により、液晶分子の
溶出ピークのP値を測定した。また、上記液晶表示素子
用スペーサを用いて液晶表示素子を作製し、実施例1と
同様にして液晶異常配向を評価した。結果を表1に示し
た。
25以上である実施例1〜5で得られた液晶表示素子用
スペーサを用いた液晶表示素子は衝撃を与えても異常配
向を増大させることがなく、良好な表示品質を示した。
一方、比較例1〜3で得られた液晶表示素子用スペーサ
を用いた液晶表示素子は衝撃付与後異常配向の増大が見
られた。
スペーサと実施例4で得られた液晶表示素子用スペーサ
との疎水性部分の密度の比較を行うべく、TOF−SI
MSを用いて、両者のセチルメタクリレートの表面量を
相対比較したところ明らかに実施例4のほうが高い値を
示した。
した構成からなるので、強い衝撃を受けても液晶の配向
を乱す等の液晶に悪影響を与えることなく、高品位な表
示性能を有する液晶表示素子を得ることができる。ま
た、本発明の液晶表示素子用スペーサを用いれば、強い
衝撃を受けても液晶の配向を乱す等の液晶に悪影響を与
えることなく、高品位な表示性能を有する液晶表示素子
が得られる。
液晶表示素子を模式的に示した断面図である。
模式図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 液晶表示素子に用いられる液晶表示素子
用スペーサであって、前記液晶表示素子用スペーサをカ
ラムに充填して固定相に用い、溶解度パラメータが8.
5〜23.5(cal/cm3 )である液体を移動相に
用いた系に、液晶分子を流入させた際に得られる溶出ピ
ーク形状において、溶出ピークの保持時間をt(分)、
溶出ピーク高さの50%部におけるピーク幅をW1/2
(分)、測定に使用したカラム長さをL(mm)、カラ
ムに充填した液晶表示素子用スペーサの平均粒径をD
(mm)とするとき、下記式(1)で表されるパラメー
タ(P値)が25以上であることを特徴とする液晶表示
素子用スペーサ。 P値=(t/W1/2 )2 ×D/L (1) - 【請求項2】 表面に炭素数4〜22の長鎖アルキル基
を有することを特徴とする請求項1記載の液晶表示素子
用スペーサ。 - 【請求項3】 請求項1又は2記載の液晶表示素子用ス
ペーサを用いてなることを特徴とする液晶表示素子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000097592A JP2000347193A (ja) | 1999-04-02 | 2000-03-31 | 液晶表示素子用スペーサ及び液晶表示素子 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9665599 | 1999-04-02 | ||
| JP11-96655 | 2000-02-04 | ||
| JP2000097592A JP2000347193A (ja) | 1999-04-02 | 2000-03-31 | 液晶表示素子用スペーサ及び液晶表示素子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000347193A true JP2000347193A (ja) | 2000-12-15 |
Family
ID=26437832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000097592A Pending JP2000347193A (ja) | 1999-04-02 | 2000-03-31 | 液晶表示素子用スペーサ及び液晶表示素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000347193A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110081850A (zh) * | 2019-05-22 | 2019-08-02 | 成都中电熊猫显示科技有限公司 | 柱高测量方法、柱高测量装置和柱高测量系统 |
| EP3489741B1 (en) * | 2016-07-19 | 2022-06-22 | Sekisui Chemical Co., Ltd. | Light control laminate and resin spacer for light control laminates |
-
2000
- 2000-03-31 JP JP2000097592A patent/JP2000347193A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3489741B1 (en) * | 2016-07-19 | 2022-06-22 | Sekisui Chemical Co., Ltd. | Light control laminate and resin spacer for light control laminates |
| CN110081850A (zh) * | 2019-05-22 | 2019-08-02 | 成都中电熊猫显示科技有限公司 | 柱高测量方法、柱高测量装置和柱高测量系统 |
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