JP2002017676A - オートレフラクトメータ - Google Patents
オートレフラクトメータInfo
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- JP2002017676A JP2002017676A JP2000202655A JP2000202655A JP2002017676A JP 2002017676 A JP2002017676 A JP 2002017676A JP 2000202655 A JP2000202655 A JP 2000202655A JP 2000202655 A JP2000202655 A JP 2000202655A JP 2002017676 A JP2002017676 A JP 2002017676A
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- JP
- Japan
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- pupil
- measurement
- light beam
- optical axis
- light
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 瞳孔径が測定光束径よりも小さな小瞳孔眼で
も容易かつ確実に眼屈折測定する。 【解決手段】 測定光軸が瞳孔の中心の周りを円を描く
ように、光源を点灯したまま駆動手段により測定部を二
次元的に駆動する。1回転した光電センサに(a)〜(d)の
ように蓄積された光束は、(e)に示すようにリング光束
Ldとなる。このようにして得られた光束Ldを、偏芯
せずに一度に受光した場合と同様に演算して屈折値を求
める。
も容易かつ確実に眼屈折測定する。 【解決手段】 測定光軸が瞳孔の中心の周りを円を描く
ように、光源を点灯したまま駆動手段により測定部を二
次元的に駆動する。1回転した光電センサに(a)〜(d)の
ように蓄積された光束は、(e)に示すようにリング光束
Ldとなる。このようにして得られた光束Ldを、偏芯
せずに一度に受光した場合と同様に演算して屈折値を求
める。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、眼科病院や眼鏡店
などで使われるオートレフラクトメータに関するもので
ある。
などで使われるオートレフラクトメータに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】オートレフラクトメータにおいては、測
定光束径よりも瞳孔が小さいときは測定が難しい。この
ような小瞳孔眼の測定に関して、3方向に逐次に偏芯し
て瞳孔の片側から投影した眼底光束を逐次に検出し、乱
視を含む屈折測定をする技術が特開平4−141133
号公報に開示されている。
定光束径よりも瞳孔が小さいときは測定が難しい。この
ような小瞳孔眼の測定に関して、3方向に逐次に偏芯し
て瞳孔の片側から投影した眼底光束を逐次に検出し、乱
視を含む屈折測定をする技術が特開平4−141133
号公報に開示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述の従
来例においては、受光光束の受光画面上の座標位置で屈
折力を測定している。
来例においては、受光光束の受光画面上の座標位置で屈
折力を測定している。
【0004】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
瞳孔径が測定光束径よりも小さな場合でも容易かつ確実
に眼屈折測定できるオートレフラクトメータを提供する
ことにある。
瞳孔径が測定光束径よりも小さな場合でも容易かつ確実
に眼屈折測定できるオートレフラクトメータを提供する
ことにある。
【0005】また、本発明の他の目的は、座標位置を使
わずに、精度良く小瞳孔眼の眼屈折測定をするオートレ
フラクトメータを提供することにある。
わずに、精度良く小瞳孔眼の眼屈折測定をするオートレ
フラクトメータを提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明に係るオートレフラクトメータは、眼底に光束
を投影し反射光を検出し眼屈折測定をするオートレフラ
クトメータにおいて、測定光学系をアライメント駆動す
る駆動手段により測定光学系の光軸が瞳孔中心の周りを
回るように駆動しながら検出した信号により、乱視を合
む眼屈折測定をすることを特徴とする。
の本発明に係るオートレフラクトメータは、眼底に光束
を投影し反射光を検出し眼屈折測定をするオートレフラ
クトメータにおいて、測定光学系をアライメント駆動す
る駆動手段により測定光学系の光軸が瞳孔中心の周りを
回るように駆動しながら検出した信号により、乱視を合
む眼屈折測定をすることを特徴とする。
【0007】また、本発明に係るオートレフラクトメー
タは、瞳孔と共役位置に設け光軸中心と周辺で光束を分
割する光分割部材と、該光分割部材を介して眼底に光束
を投影する投影系と眼底反射光を撮像素子で受光する受
光系とを含む測定光学系と、該測定光学系をアライメン
ト駆動する駆動手段と、該駆動手段により前記測定光学
系をその光軸が瞳孔中心の周囲を移動しながら前記撮像
素子で受光した信号により屈折測定をすることを特徴と
する。
タは、瞳孔と共役位置に設け光軸中心と周辺で光束を分
割する光分割部材と、該光分割部材を介して眼底に光束
を投影する投影系と眼底反射光を撮像素子で受光する受
光系とを含む測定光学系と、該測定光学系をアライメン
ト駆動する駆動手段と、該駆動手段により前記測定光学
系をその光軸が瞳孔中心の周囲を移動しながら前記撮像
素子で受光した信号により屈折測定をすることを特徴と
する。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明を図示の実施の形態に基づ
いて詳細に説明する。図1は第1の実施の形態のオート
レフラクトメータの構成図を示す。測定光学系を収納す
る測定部1は、基台2上に3個のステップモータ等から
構成される駆動手段3を介して三次元的に移動可能なよ
うに載置されている。基台2には、頂部に測定ボタン4
を設けた操作桿5が設けられ、被検者Sの顔を固定する
図示しない額当てなどの顔固定部材が取り付けられてい
る。
いて詳細に説明する。図1は第1の実施の形態のオート
レフラクトメータの構成図を示す。測定光学系を収納す
る測定部1は、基台2上に3個のステップモータ等から
構成される駆動手段3を介して三次元的に移動可能なよ
うに載置されている。基台2には、頂部に測定ボタン4
を設けた操作桿5が設けられ、被検者Sの顔を固定する
図示しない額当てなどの顔固定部材が取り付けられてい
る。
【0009】被検者Sの視線方向の光軸O1上には、被
検眼E側から測定光波長を透過するダイクロイックミラ
ーである光分割部材6、対物レンズ7、孔あきミラー
8、瞳孔Pと略共役な中心開口絞り9、レンズ10、赤
外LEDから成る測定光源11が配列されている。光分
割部材6の反射方向の光軸O2上には、レンズ12、可
視光を透過するダイクロイックミラーである光分割部材
13、ミラー14、光軸方向に動き視標視度を変えるレ
ンズ15、固視視標16が設けられている。光分割部材
13の反射方向の前眼部光軸O3上には、前眼部を結像
するレンズ17、ビデオカメラである撮像手段18が設
けられている。また、孔あきミラー8の反射方向の受光
光軸O4上には、瞳孔Pに略共役でリング開口を有する
受光絞り19、光束を光軸O4の外方向に偏向する逆円
錐プリズムである光偏向部材20、レンズ21、正視眼
底に共役なCCDなどの撮像素子である光電センサ22
が配列されている。
検眼E側から測定光波長を透過するダイクロイックミラ
ーである光分割部材6、対物レンズ7、孔あきミラー
8、瞳孔Pと略共役な中心開口絞り9、レンズ10、赤
外LEDから成る測定光源11が配列されている。光分
割部材6の反射方向の光軸O2上には、レンズ12、可
視光を透過するダイクロイックミラーである光分割部材
13、ミラー14、光軸方向に動き視標視度を変えるレ
ンズ15、固視視標16が設けられている。光分割部材
13の反射方向の前眼部光軸O3上には、前眼部を結像
するレンズ17、ビデオカメラである撮像手段18が設
けられている。また、孔あきミラー8の反射方向の受光
光軸O4上には、瞳孔Pに略共役でリング開口を有する
受光絞り19、光束を光軸O4の外方向に偏向する逆円
錐プリズムである光偏向部材20、レンズ21、正視眼
底に共役なCCDなどの撮像素子である光電センサ22
が配列されている。
【0010】光電センサ22の信号は演算制御手段23
に接続され、撮像手段18の出力はテレビモニタ24、
演算制御手段23に接続されている。また、測定部1の
検者側には小瞳孔測定時に押しボタン25が設けられて
おり、この押しボタン25は演算制御手段23に接続さ
れている。
に接続され、撮像手段18の出力はテレビモニタ24、
演算制御手段23に接続されている。また、測定部1の
検者側には小瞳孔測定時に押しボタン25が設けられて
おり、この押しボタン25は演算制御手段23に接続さ
れている。
【0011】測定時において、検者はテレビモニタ24
を見て瞳孔Pが映るように操作桿5を操作して駆動手段
3を駆動する。瞳孔Pがテレビモニタ24の画面に入る
ことを確認して測定ボタン4を押すと、撮像手段18の
信号が逐次に演算制御手段23に取り込まれ、瞳孔Pの
位置が認識される。瞳孔P内は暗く映るので、輝度レベ
ルの低い部分として瞳孔Pを認識できる。瞳孔Pの中心
が測定光軸O1に合うように駆動手段3を制御する。合
致すると測定光源11を点灯し測定を開始する。
を見て瞳孔Pが映るように操作桿5を操作して駆動手段
3を駆動する。瞳孔Pがテレビモニタ24の画面に入る
ことを確認して測定ボタン4を押すと、撮像手段18の
信号が逐次に演算制御手段23に取り込まれ、瞳孔Pの
位置が認識される。瞳孔P内は暗く映るので、輝度レベ
ルの低い部分として瞳孔Pを認識できる。瞳孔Pの中心
が測定光軸O1に合うように駆動手段3を制御する。合
致すると測定光源11を点灯し測定を開始する。
【0012】瞳孔Pの中心からスポット光束を眼底に投
影し、瞳孔Pで投影測定の周りからリング状に取り出し
た光束を光電センサ22にリング光束として受光する。
得られたリング像の大きさを基に被検眼Eの球面度数を
演算し、楕円の程度により乱視度数を演算し、その方向
で乱視角度をそれぞれ演算する。この予備測定による視
度に基づいてレンズ21の位置を制御し、視度誘導を行
って本測定を行い屈折値を求める。
影し、瞳孔Pで投影測定の周りからリング状に取り出し
た光束を光電センサ22にリング光束として受光する。
得られたリング像の大きさを基に被検眼Eの球面度数を
演算し、楕円の程度により乱視度数を演算し、その方向
で乱視角度をそれぞれ演算する。この予備測定による視
度に基づいてレンズ21の位置を制御し、視度誘導を行
って本測定を行い屈折値を求める。
【0013】瞳孔Pが測定光束よりも小さい小瞳孔眼の
場合に、押しボタン25を押すと偏芯しながら測定する
ように制御される。測定光軸O1が瞳孔Pの中心の周り
を円を描くように、測定光源11を点灯したまま駆動手
段3により測定部1を二次元的に駆動する。図2はこの
場合の瞳孔Pでの光軸O1の軌跡Tを示す。
場合に、押しボタン25を押すと偏芯しながら測定する
ように制御される。測定光軸O1が瞳孔Pの中心の周り
を円を描くように、測定光源11を点灯したまま駆動手
段3により測定部1を二次元的に駆動する。図2はこの
場合の瞳孔Pでの光軸O1の軌跡Tを示す。
【0014】図3は瞳孔と偏芯された光束の関係を示
し、光軸O1は投影光束Laと受光光束Lbの中心にあ
る。図3(a)、(b)、(c)、(d)はそれぞれ左上右下に偏芯
した位置の関係を示している。瞳孔Pに投影光束Laと
受光光束Lbの異なる一部が入射している。図4は偏芯
した場合の光電センサ22上の受光光束Lcをそれぞれ
示している。
し、光軸O1は投影光束Laと受光光束Lbの中心にあ
る。図3(a)、(b)、(c)、(d)はそれぞれ左上右下に偏芯
した位置の関係を示している。瞳孔Pに投影光束Laと
受光光束Lbの異なる一部が入射している。図4は偏芯
した場合の光電センサ22上の受光光束Lcをそれぞれ
示している。
【0015】図2に示すように、1回転した光電センサ
22に蓄積された光束は、図4(e)に示すようにリング
光束Ldとなる。このようにして得られた光束Ldを、
偏芯せずに一度に受光した場合と同様に演算して屈折値
を求める。ただし、視度誘導の雲霧時には一方向に偏芯
して行う。睫の影響のない図3(b)に示すように、下方
に偏芯した状態で予備測定により視度誘導を行い、本測
定では上述のように偏芯方向を変えながら測定する。
22に蓄積された光束は、図4(e)に示すようにリング
光束Ldとなる。このようにして得られた光束Ldを、
偏芯せずに一度に受光した場合と同様に演算して屈折値
を求める。ただし、視度誘導の雲霧時には一方向に偏芯
して行う。睫の影響のない図3(b)に示すように、下方
に偏芯した状態で予備測定により視度誘導を行い、本測
定では上述のように偏芯方向を変えながら測定する。
【0016】このように、円周状に偏芯しながら測定す
ることにより、瞳孔P内の平均的な屈折力が測定できる
ので、小瞳孔に限らず大きな瞳孔の眼や瞳孔の一部分に
混濁を有する被検眼Eにも、このような測定を行うこと
ができる。
ることにより、瞳孔P内の平均的な屈折力が測定できる
ので、小瞳孔に限らず大きな瞳孔の眼や瞳孔の一部分に
混濁を有する被検眼Eにも、このような測定を行うこと
ができる。
【0017】アライメント時に瞳孔Pの位置と共に大き
さを認識し、測定光束よりも小さい場合は、自動的に上
述の偏芯測定をするようにプログラムしておいてもよ
い。上述の説明では、瞳孔Pの中心から投影し、その周
囲から受光する形態としたが、その逆に周辺から投影し
中心から受光する形態でも同様である。また、リング光
束は3経線方向に配置した6つの光束によってもよい。
さを認識し、測定光束よりも小さい場合は、自動的に上
述の偏芯測定をするようにプログラムしておいてもよ
い。上述の説明では、瞳孔Pの中心から投影し、その周
囲から受光する形態としたが、その逆に周辺から投影し
中心から受光する形態でも同様である。また、リング光
束は3経線方向に配置した6つの光束によってもよい。
【0018】図5、図6、図7は第2の実施の形態を示
している。これらの実施の形態は共に第1の実施の形態
のように、測定部を駆動する駆動手段3と前眼部を撮像
する撮像手段18を備えている。
している。これらの実施の形態は共に第1の実施の形態
のように、測定部を駆動する駆動手段3と前眼部を撮像
する撮像手段18を備えている。
【0019】図5は通常測定時の瞳孔P上の測定光束を
示し、測定光軸O1を瞳孔Pの中心に合わせる。2個の
LEDによる投影光束Le、Lfは瞳孔Pの両側周辺か
ら交互に投影し、受光光束Lgは瞳孔Pの中心から取り
出し、図6に示す2分割光電センサ31、32上に受光
光束Lhを受光する。光電センサ31、32の差信号を
検出し、その差が無くなるようにフォーカスを変えてゆ
く過程で、眼底と光電センサ31、32とが共役になる
と差が無くなるので、そのフォーカス位置を基に視度を
測定する。
示し、測定光軸O1を瞳孔Pの中心に合わせる。2個の
LEDによる投影光束Le、Lfは瞳孔Pの両側周辺か
ら交互に投影し、受光光束Lgは瞳孔Pの中心から取り
出し、図6に示す2分割光電センサ31、32上に受光
光束Lhを受光する。光電センサ31、32の差信号を
検出し、その差が無くなるようにフォーカスを変えてゆ
く過程で、眼底と光電センサ31、32とが共役になる
と差が無くなるので、そのフォーカス位置を基に視度を
測定する。
【0020】この場合に、投影光束Le、Lfを光軸O
1の周りに180度回転するように、測定系の一部を回
動しながらフォーカスを変え、各経線の屈折力を測定し
乱視を求める。
1の周りに180度回転するように、測定系の一部を回
動しながらフォーカスを変え、各経線の屈折力を測定し
乱視を求める。
【0021】図7は小瞳孔眼の測定時の瞳孔Pと測定光
束を示す。投影光束Leを照明するLEDを連続点灯
し、投影光束Lfを照明する測定光源11を消灯する。
光電センサ31、32の出力の差が無くなるように、光
軸方向に測定系部材を動かしてフォーカスするのは通常
の測定と同様である。測定部1は駆動手段3により光軸
O1が半円Qを描くように駆動する。同時に、各経線の
屈折力を測定するために、測定系の一部を測定光軸O1
を中心として測定部1と同期して180度回動する。
束を示す。投影光束Leを照明するLEDを連続点灯
し、投影光束Lfを照明する測定光源11を消灯する。
光電センサ31、32の出力の差が無くなるように、光
軸方向に測定系部材を動かしてフォーカスするのは通常
の測定と同様である。測定部1は駆動手段3により光軸
O1が半円Qを描くように駆動する。同時に、各経線の
屈折力を測定するために、測定系の一部を測定光軸O1
を中心として測定部1と同期して180度回動する。
【0022】図8、図9、図10は第3の実施の形態
で、検影法の原理による測定系のオートレフラクトメー
タの例で示している。図8は瞳孔P上の投影光束Liを
示し、矢印の方向にスリット状の投影光束Liが瞳孔P
を横切るように動き、その眼底反射光を瞳孔Pと共役位
置にある光電センサ33、34、35により検出する。
で、検影法の原理による測定系のオートレフラクトメー
タの例で示している。図8は瞳孔P上の投影光束Liを
示し、矢印の方向にスリット状の投影光束Liが瞳孔P
を横切るように動き、その眼底反射光を瞳孔Pと共役位
置にある光電センサ33、34、35により検出する。
【0023】図9は正視眼底からの光電センサ33、3
4、35上の反射光を示している。正視の場合には、瞳
孔Pは投影光束の位置に拘わらず一様に明るくなる。屈
折異常があると、瞳孔Pでの明るさに分布が生じ、その
分布は光束Liの位置で変化するので、この分布を検出
して屈折力を求める。乱視を測定するには、ロータリプ
リズム等により光軸O1を中心として測定光束を180
度回転する。通常の測定には、瞳孔Pの周囲の2個所の
センサ33、35で足りる。小瞳孔眼を測定するため
に、光軸O1上に更に1つの光電センサ34を設けられ
ているが、通常の測定時にはこの光電センサ34は使わ
なくともよい。
4、35上の反射光を示している。正視の場合には、瞳
孔Pは投影光束の位置に拘わらず一様に明るくなる。屈
折異常があると、瞳孔Pでの明るさに分布が生じ、その
分布は光束Liの位置で変化するので、この分布を検出
して屈折力を求める。乱視を測定するには、ロータリプ
リズム等により光軸O1を中心として測定光束を180
度回転する。通常の測定には、瞳孔Pの周囲の2個所の
センサ33、35で足りる。小瞳孔眼を測定するため
に、光軸O1上に更に1つの光電センサ34を設けられ
ているが、通常の測定時にはこの光電センサ34は使わ
なくともよい。
【0024】図10は小瞳孔の測定時の測定光束を示
す。瞳孔像が光電センサ33、34に掛かるように偏芯
させ、光電センサ35の信号は使用しない。測定部1を
駆動手段3で瞳孔上で半円Rを描くように駆動する。そ
の動きに同期して、測定光束を光軸O1を中心として1
80度回転する。光電センサ33、34により瞳孔P上
の反射光強度分布を検出し屈折値を求める。小瞳孔の測
定時には、虹彩からの反射を遮光する瞳孔程度の大きさ
の絞りを、瞳孔Pの共役位置に光軸O1に偏芯して挿入
することが望ましい。
す。瞳孔像が光電センサ33、34に掛かるように偏芯
させ、光電センサ35の信号は使用しない。測定部1を
駆動手段3で瞳孔上で半円Rを描くように駆動する。そ
の動きに同期して、測定光束を光軸O1を中心として1
80度回転する。光電センサ33、34により瞳孔P上
の反射光強度分布を検出し屈折値を求める。小瞳孔の測
定時には、虹彩からの反射を遮光する瞳孔程度の大きさ
の絞りを、瞳孔Pの共役位置に光軸O1に偏芯して挿入
することが望ましい。
【0025】なお、従来の装置では、光軸中心にはアラ
イメント用の光電センサが設けられているが、これを小
瞳孔眼屈折測定に兼用してもよい。
イメント用の光電センサが設けられているが、これを小
瞳孔眼屈折測定に兼用してもよい。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係るオート
レフラクトメータは、小瞳孔眼を容易にかつ確実に屈折
測定できる。
レフラクトメータは、小瞳孔眼を容易にかつ確実に屈折
測定できる。
【0027】また、本発明に係るオートフラクトメータ
は、撮像素子画面の座標位置を使用せずに、屈折値の演
算ができるので精度の良く小瞳孔眼の屈折測定ができ
る。
は、撮像素子画面の座標位置を使用せずに、屈折値の演
算ができるので精度の良く小瞳孔眼の屈折測定ができ
る。
【図1】第1の実施形態のオートレフラクトメータの構
成図である。
成図である。
【図2】瞳孔上の光軸の軌跡の説明図である。
【図3】瞳孔と測定光束の関係図である。
【図4】光電センサ上の受光光束の説明図である。
【図5】第2の実施形態の瞳孔上の測定光束の説明図で
ある。
ある。
【図6】光電センサ上の受光光束の説明図である。
【図7】小瞳孔と測定光束の説明図である。
【図8】第3の実施形態の瞳孔上の測定光束の説明図で
ある。
ある。
【図9】光電センサ上の受光光束の説明図である。
【図10】小瞳孔眼の光電センサ上の受光光束の説明図
である。
である。
1 測定部 3 駆動手段 11 測定光源 18 撮像手段 22、31、32、33、34、35 光電センサ 23 演算制御手段 24 テレビモニタ
Claims (3)
- 【請求項1】 眼底に光束を投影し反射光を検出し眼屈
折測定をするオートレフラクトメータにおいて、測定光
学系をアライメント駆動する駆動手段により測定光学系
の光軸が瞳孔中心の周りを回るように駆動しながら検出
した信号により、乱視を合む眼屈折測定をすることを特
徴とするオートレフラクトメータ。 - 【請求項2】 瞳孔と共役位置に設け光軸中心と周辺で
光束を分割する光分割部材と、該光分割部材を介して眼
底に光束を投影する投影系と眼底反射光を撮像素子で受
光する受光系とを含む測定光学系と、該測定光学系をア
ライメント駆動する駆動手段と、該駆動手段により前記
測定光学系をその光軸が瞳孔中心の周囲を移動しながら
前記撮像素子で受光した信号により屈折測定をすること
を特徴とするオートレフラクトメータ。 - 【請求項3】 前眼部像から瞳孔径を求め、該瞳孔径に
応じて瞳孔中心と測定光軸での偏芯量を変える請求項1
又は2に記載のオートレフラクトメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000202655A JP2002017676A (ja) | 2000-07-04 | 2000-07-04 | オートレフラクトメータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000202655A JP2002017676A (ja) | 2000-07-04 | 2000-07-04 | オートレフラクトメータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002017676A true JP2002017676A (ja) | 2002-01-22 |
Family
ID=18700150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000202655A Pending JP2002017676A (ja) | 2000-07-04 | 2000-07-04 | オートレフラクトメータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002017676A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002112965A (ja) * | 2000-10-10 | 2002-04-16 | Topcon Corp | 眼光学特性測定装置 |
| JP2006263082A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Topcon Corp | 眼光学特性測定装置 |
| US7416301B2 (en) | 2003-12-25 | 2008-08-26 | Nidek Co., Ltd. | Eye refractive power measurement apparatus |
-
2000
- 2000-07-04 JP JP2000202655A patent/JP2002017676A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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