JP2016133473A - 光学分析装置 - Google Patents
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Abstract
シンプルな光学系を用い、高い波長分解能が得られる分光分析装置を得る。
【解決手段】光源であるハロゲンランプ101、ハロゲンランプ101からの光を測定対象物に照射する照射光学系を構成する照射系レンズ104、照射系レンズ104と同軸な位置関係にあり、ハロゲンランプ101と測定対象物の間から検出光を分析部109に導く光学部材であるミラー106、ミラー106を介して受光する光に基づいて測定対象物を構成する材料を分析する分析部である分光器109を備え、ミラー106の位置において、ハロゲンランプ101から測定対象物に向かう光は照射系レンズ104の光軸上の周辺部を通り、分光器109で受光する光は照射系レンズ104の光軸上の中心部を通る。
【選択図】図1
Description
(1)波長0.9μm〜2.5μm程度の近赤外光を発光する。
(2)光源から被計測点までの距離が10m程度あっても診断が可能な光量が得られる。(3)野外での使用が前提であるので、温度変化等に対して安定性がある。
上記の条件を満たす光源としては、ハロゲンランプまたはハロゲンヒータが挙げられる。
ハロゲンランプ101からの光は、楕円鏡102で反射され、光チョッパー103の位置で集光する。この光は、光チョッパー103でチョッピングされ、照射系レンズ104で被計測点に集光する光束となり、被計測点に向けて照射される。被計測点からの反射光は、ミラー106で反射され、受光系レンズ107を介して検出光として受光ファイバ108に導かれる。受光ファイバ108に導かれた検出光は、分光器109に導かれ、分光器109では、検出光が分光解析され、被計測点の組成や材質の解析および評価が行われる。この解析および評価により、例えばコンクリート壁面の劣化の状態が診断される。
上述したように、フィラメント101aからの発光に起因して、照射系レンズ104の焦点の位置における照射光は、ある程度の大きさを有するぼやけた点像となる。この傾向は、照射系レンズ104の焦点の位置の前後においても見られる。すなわち、照射光の焦点は、照射系レンズ104の焦点の位置で明確な点像とならないが、光軸上の前後においても像の状態は大きく変化しない。言い換えると、照射光の焦点が明確でなく、光軸上のある程度の範囲において照射光のシャープでない結像が生じる。
図2には、図1とは異なる光学系の構成を有する分光計測装置200が示されている。分光計測装置200は、ミラー106を照射系レンズ104の光源側に配置し、図1の窓ガラス105を省いた構成を有している。その他の構成は、図1の分光計測装置100と同じである。
Claims (5)
- 光源と、
前記光源からの光を測定対象物に照射する照射光学系と、
前記照射光学系と同軸であって、前記光源と前記測定対象物の間から受光部に光を導く光学部材と、
前記光学部材を介して受光する受光部を有し、該受光部が受光した光に基づいて前記測定対象物を構成する材料を分析する分析部と
を備え、
前記光学部材の位置において、
前記光源から前記測定対象物に向かう光は光軸上の周辺部を通り、
前記受光する光は光軸上の中心部を通ることを特徴とする光学分析装置。 - 光源、前記光源からの光を集光して2次光源点を形成する楕円鏡および前記2次光源点からの光を測定対象物に照射するレンズ部材を備える照射光学系と、
前記測定対象物からの光の少なくとも一部を受光し、該受光した光に基づいて前記測定対象物を構成する材料を分析する分析部と、
前記照射光学系と同軸の位置に配置され、前記測定対象物からの光の少なくとも一部を前記分析部に導くための反射部材と
を備え、
前記反射部材で反射する前記測定対象物からの光の光束径が前記照射光学系から照射する照射光の光束径よりも小さいことを特徴とする光学分析装置。 - 光源、前記光源からの光を集光して2次光源点を形成する楕円鏡、前記2次光源点からの光を照射光としてビーム成形するレンズ部材および前記レンズ部材からの前記照射光を測定対象物に向けて反射する反射部材を備える照射光学系と、
前記測定対象物からの光の少なくとも一部を受光し、該受光した光に基づいて前記測定対象物を構成する材料を分析する分析部と
を備え、
前記反射部材の中心部は、前記測定対象物からの光が通過する構造を有し、
前記反射部材の中心部を通過した前記測定対象物からの光が前記分析部で受光されることを特徴とする光学分析装置。 - 前記光源がフィラメントを用いた発光を行うことを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の光学分析装置。
- 前記光源が波長0.9μm〜2.5μmの光を発するハロゲンランプまたはハロゲンヒータであることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の光学分析装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015010131A JP2016133473A (ja) | 2015-01-22 | 2015-01-22 | 光学分析装置 |
| PCT/JP2016/051366 WO2016117530A1 (ja) | 2015-01-22 | 2016-01-19 | 光学分析装置 |
| US15/545,387 US10557791B2 (en) | 2015-01-22 | 2016-01-19 | Optical Analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015010131A JP2016133473A (ja) | 2015-01-22 | 2015-01-22 | 光学分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2016133473A true JP2016133473A (ja) | 2016-07-25 |
| JP2016133473A5 JP2016133473A5 (ja) | 2018-01-25 |
Family
ID=56417072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2015010131A Pending JP2016133473A (ja) | 2015-01-22 | 2015-01-22 | 光学分析装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10557791B2 (ja) |
| JP (1) | JP2016133473A (ja) |
| WO (1) | WO2016117530A1 (ja) |
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