JP3060376U - メモリ装置 - Google Patents
メモリ装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 メモリの動作不良に起因するプログラムの暴
走を防止する。 【解決手段】 CPU1は、操作部7から電源オンの操
作に応じて生成されたパワーオンリセット信号を与えら
れたとき、RAM3aの全域にわたってバイト毎に55
(16)を書き込み、これを完了すると、RAM3aに書き込
まれている値をバイト毎に読み出し、読み出した値と書
き込んだ55(16)とを比較して、書き込みが正常に行わ
れたか否かを判別する。書き込みが正常に行われたと判
別したとき、RAM3aの全域にわたってバイト毎にAA
(16)を書き込み、これを完了すると、RAM3aに書き込
まれている値をバイト毎に読み出し、読み出した値と書
き込んだAA(16)とを比較して、書き込みが正常に行わ
れたか否かを判別する。書き込みが正常に行われたと判
別したとき、プログラム8を起動する。
走を防止する。 【解決手段】 CPU1は、操作部7から電源オンの操
作に応じて生成されたパワーオンリセット信号を与えら
れたとき、RAM3aの全域にわたってバイト毎に55
(16)を書き込み、これを完了すると、RAM3aに書き込
まれている値をバイト毎に読み出し、読み出した値と書
き込んだ55(16)とを比較して、書き込みが正常に行わ
れたか否かを判別する。書き込みが正常に行われたと判
別したとき、RAM3aの全域にわたってバイト毎にAA
(16)を書き込み、これを完了すると、RAM3aに書き込
まれている値をバイト毎に読み出し、読み出した値と書
き込んだAA(16)とを比較して、書き込みが正常に行わ
れたか否かを判別する。書き込みが正常に行われたと判
別したとき、プログラム8を起動する。
Description
【0001】
本考案は、プログラムの実行制御を行うメモリ装置、特にシステムプログラム の起動に先立ってメモリの自己診断を行い、その結果に基づきシステムプログラ ムの実行制御を行うことに特徴を有するメモリ装置に関する。
【0002】
コンピュータ又はその他の各種の制御機器などプログラムにより制御される機 器は、電源投入直後に実行される初期設定処理において、プログラムが破損して いないことの自己診断などを行うように構成してある。
【0003】 特開平4−318628号公報において提案されている中央演算処理装置は、前述の 如き機器の一例であって、外部メモリからマイクロプログラムを読み出したとき 、所定の規則に則って生成したチェックサムデータを前記マイクロプログラムに 付加してCPU内部に格納しておき、またプログラム実行中には実行されないチ ェックモードにおいて、CPU内部に格納してあるマイクロプログラムを読み出 し、前記チェックサムデータを利用して前記マイクロプログラムの破損を自己診 断すべくなすことにより、マイクロプログラムを格納するためのメモリ容量の削 減及び実行速度の高速化を図ることを目的とする。
【0004】 また、プログラムにより制御される装置は、そのプログラムの実行に使用する ためのメモリを備えている。 一般に、電源投入直後はメモリセルの値が不定、即ち0又は1のいずれである かが保証されておらず、このような状態においてプログラムを実行すると動作障 害を生じる虞れがある。従って、前述の如き装置においてはプログラムの実行に 先立ち、具体的には電源投入直後に実行される初期設定処理によって、全てのメ モリセルの値を0(零)に設定する(クリアする)構成にしてある。
【0005】 特公平8−27730 号公報において提案されているシングルチップマイクロコン ピュータ及びそのテスト方法は、メモリセルの値をクリアする条件に特徴を有す る発明であって、秘密情報を格納するシングルチップコンピュータについて、そ の動作テストを行う動作モードとして設けられたテストモードを設定する信号に 応答して、既に格納してある情報を初期化、即ちクリアする初期化ルーチンを実 行すべくなすことにより、出荷後の再テストに必要なテストモードの存続と、読 み出されてはならない秘密情報の機密保護とを両立させることを目的とする。
【0006】
ところで、動作テストに合格して出荷された製品が、出荷後の不適切な取扱い 又は動作環境の不適合などが原因となって動作不良を生じることがある。例えば 、メモリにおいては隣接するメモリセルのショート(短絡)が挙げられる。また 、メモリセルの値が0又は1のいずれかに固定されて記憶動作が不可能な場合も ある。 このように動作不良を生じたメモリは、その不良発生箇所において正常な値を 記憶することができないため、これをプログラムの実行に使用するとプログラム が暴走する、即ち異常動作を引き起こす虞れがある。また、プログラムが暴走す ることによって、被害が装置の他の部分に及ぶ可能性もある。
【0007】 しかし、従来の装置において、メモリの動作不良に起因するプログラムの暴走 についての対策は何ら施されてはいなかった。
【0008】 本考案は斯かる事情に鑑みてなされたものであって、プログラムの実行に先立 ちメモリの自己診断を行って、その動作不良を関知したとき、プログラムの実行 を拒否すべくなすことで、プログラムの暴走を予防することが可能なメモリ装置 の提供を目的とする。
【0009】
第1考案に係るメモリ装置は、メモリの状態に応じてプログラムの実行制御を 行うメモリ装置であって、メモリと、プログラムを格納してあるプログラムメモ リと、予め設定してある複数の所定値を一つずつ選択し、その都度、選択した所 定値を前記メモリに書き込む書込手段と、メモリへの所定値の書き込みが完了す る都度、前記メモリに書き込まれている値を読み出す手段と、読み出した値が書 き込んだ所定値と一致するか否かを判別する手段と、読み出した値について、書 き込んだ所定値と一致すると判別したとき、プログラムメモリに格納してあるプ ログラムを実行し、また、読み出した値が書き込んだ所定値と一致しないと判別 したとき、前記プログラムを実行しない実行制御手段とを備えることを特徴とす る。
【0010】 第2考案に係るメモリ装置は、前記書込手段には、所定値として55(16)及び AA(16)の2値を設定してあることを特徴とする。
【0011】 第1,第2考案において、隣接するメモリセルのショートについては、隣接す る2つのメモリセルにおいて異なる値を夫々書き込み、その後、各メモリセルに 書き込まれている値を夫々読み出して、読み出した各値が書き込んだ値と一致す るか否かに基づいて検出する。 メモリアクセスをバイト (Byte) 単位で行う状況においては、検出のために書 き込む値として隣接するビット値が異なる値、具体的には55(16)又はAA(16) などを選択することが望ましい。例えば、55(16)はビット列に変換すると01 010101(2) となり、またAA(16)は10101010(2) となる。
【0012】 また、メモリセルの記憶動作については、所定のメモリセルにおいて相異なる 値を2度に分けて夫々書き込み、その書き込みの都度、前記メモリセルに書き込 まれている値を読み出して、2度の読み出し処理において夫々読み出した値が書 き込んだ値と一致するか否かに基づいて診断する。 例えば、1度目に55(16)を書き込んだとき、2度目にAA(16)を書き込むこ とで、各ビット位置について2度の書き込み処理により相異なる値を夫々書き込 むことができる。 なお、書き込み処理により書き込む所定値の順序について、前述した順序とは 逆に、1度目にはAA(16)を書き込み、また2度目には55(16)を書き込むよう にしても同様である。
【0013】 更にまた、記憶動作の診断のために使用する値は、2つに限定されない。すな わち、所定のメモリセルにおいて3つの値を3度に分けて夫々書き込む構成にし ても良く、この場合には例えば、1度目に24(16)を書き込み、2度目に49(1 6) を書き込み、3度目に92(16)を書き込み、その書き込みの都度、前記メモリ セルに書き込まれている値を読み出して、夫々読み出した値が書き込んだ値と一 致するか否かを判別することにより、同等の効果を得ることが可能である。
【0014】 これらの考案においては、メモリについて、その隣接するメモリセルのショー ト及び記憶動作を自己診断し、動作不良を関知したとき、暴走する虞れのあるプ ログラムを実行しないようにすることができる。
【0015】
図1は本考案に係るメモリ装置の構成を示すブロック図であって、その実施の 形態の一例として印刷装置について表している。 図において、1はプログラム制御を行うためのCPUである。CPU1はバス 2を介して、プログラムの実行に使用されるシステムメモリ3と、フィードモー タなどの図示しない駆動部を制御する印刷制御部4と、印刷すべきデータを格納 するためのバッファメモリ5と、発光ダイオードなどを用いてなり、装置の動作 状態を表示する表示部6と、電源オン及びプリント開始などの操作を受け付けて 所定の信号を生成する操作部7と接続してある。 システムメモリ3はRAM3a及びROM3bで構成してあって、ROM3bには制 御のためのプログラム8を格納してある。CPU1がROM3bからプログラム8 を読み出し、これをRAM3aを使用して実行することにより、印刷装置がプログ ラム制御される。
【0016】 図2は、前記プログラム8の実行制御に係る処理手順を示すフローチャートで ある。CPU1は、操作部7から電源オンの操作に応じて生成されたパワーオン リセット信号 (Power On Reset:POR) を与えられたとき、RAM3aの全域に わたってバイト毎に55(16)を書き込む(S1)。書き込みを完了すると、RAM3a に書き込まれている値をバイト毎に読み出し、読み出した値と書き込んだ55(16) とを比較して、書き込みが正常に行われたか否かを判別する(S2)。 書き込みが正常に行われたと判別したとき、RAM3aの全域にわたってバイト 毎にAA(16)を書き込む(S3)。書き込みを完了すると、RAM3aに書き込まれて いる値をバイト毎に読み出し、読み出した値と書き込んだAA(16)とを比較して 、書き込みが正常に行われたか否かを判別する(S4)。
【0017】 書き込みが正常に行われたと判別したとき、表示部6の電源オンを表す電源ラ ンプを点灯し(S5)、プログラム8を起動する。 S2において、55(16)の書き込みが正常に行われなかったと判別したとき、 またはS4において、AA(16)の書き込みが正常に行われなかったと判別したと き、プログラム8を起動しない。
【0018】 以上の如く、前記印刷装置はメモリの自己診断の結果に応じて、プログラムの 暴走が予測される状況において、前記プログラムを起動させないため、プログラ ムの暴走を予防することができる。 また、前記印刷装置はメモリの自己診断により動作良好であることを関知した ときに電源ランプを点灯させ、また動作不良であるときには電源ランプを点灯さ せないため、その使用者は前記電源ランプの点灯状況に基づき、メモリの動作不 良を関知することができる。
【0019】
以上の如き第1,第2考案のメモリ装置によっては、プログラムの実行に先立 ってメモリを自己診断し、その動作不良を関知したときはプログラムを実行しな いから、メモリの動作不良に起因するプログラムの暴走の予防に優れた効果を奏 する。
【図1】本考案に係るメモリ装置の構成を示すブロック
図である。
図である。
【図2】プログラムの実行制御に係る処理手順を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
1 CPU 3 システムメモリ 3a RAM 3b ROM 8 プログラム
Claims (2)
- 【請求項1】 メモリの状態に応じてプログラムの実行
制御を行うメモリ装置であって、 メモリと、 プログラムを格納してあるプログラムメモリと、 予め設定してある複数の所定値を一つずつ選択し、その
都度、選択した所定値を前記メモリに書き込む書込手段
と、 メモリへの所定値の書き込みが完了する都度、前記メモ
リに書き込まれている値を読み出す手段と、 読み出した値が書き込んだ所定値と一致するか否かを判
別する手段と、 読み出した値について、書き込んだ所定値と一致すると
判別したとき、プログラムメモリに格納してあるプログ
ラムを実行し、また、読み出した値が書き込んだ所定値
と一致しないと判別したとき、前記プログラムを実行し
ない実行制御手段とを備えることを特徴とするメモリ装
置。 - 【請求項2】 前記書込手段には、所定値として55
(16)及びAA(16)の2値を設定してあることを特徴とす
る請求項1記載のメモリ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1998009552U JP3060376U (ja) | 1998-12-02 | 1998-12-02 | メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1998009552U JP3060376U (ja) | 1998-12-02 | 1998-12-02 | メモリ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP3060376U true JP3060376U (ja) | 1999-08-31 |
Family
ID=32983416
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1998009552U Expired - Lifetime JP3060376U (ja) | 1998-12-02 | 1998-12-02 | メモリ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3060376U (ja) |
-
1998
- 1998-12-02 JP JP1998009552U patent/JP3060376U/ja not_active Expired - Lifetime
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