JP3147062B2 - センスアンプ回路 - Google Patents

センスアンプ回路

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JP3147062B2 JP32216297A JP32216297A JP3147062B2 JP 3147062 B2 JP3147062 B2 JP 3147062B2 JP 32216297 A JP32216297 A JP 32216297A JP 32216297 A JP32216297 A JP 32216297A JP 3147062 B2 JP3147062 B2 JP 3147062B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、センスアンプ回路
に関し、特にCMOS集積回路化された読み出し専用記
憶装置(ROM)に用いて好適なセンスアンプ回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】読み出し専用記憶装置(以下「ROM」
という)における、従来のセンスアンプ回路として、例
えば特開平6−28881号公報には、読出対象のデー
タセル回路に並列接続した電流源回路を備え、データ読
出しに要する応答時間の増大を抑えるようにしたセンス
アンプ回路が提案されている。図4乃至図6を参照し
て、従来のセンスアンプ回路について説明する。
【0003】図4を参照すると、従来のセンスアンプ回
路は、N−チャネルトランジスタN1とインバータ回路
IV1とから成るソースフォロワ回路1と、ゲート及び
ドレインを短絡したP−チャネル型トランジスタP1及
び、ゲートがトランジスタP1のゲート及びドレインと
接続されたP−チャネルトランジスタP2とから構成さ
れる電流ミラー回路2と、ソースが接地されゲートに基
準電圧源VRが接続されたN−チャネルトランジスタN
2による電流源回路3と、を備えている。
【0004】そして、上記特開平6−28881号公報
に提案されるセンスアンプ回路においては、図6に示す
ように、データセル回路4に並列に電流源回路5を接続
して構成されている。
【0005】図6を参照すると、ソースフォロワ回路1
の出力にはデータセル回路4が接続され、インバータ回
路IV1の入力と出力はそれぞれトランジスタN1のソ
ースとゲートとに接続され、電流ミラー回路2の入力は
トランジスタN1のドレインに接続され、電流源回路3
の出力は電流ミラー回路2の出力に接続されてデータ出
力点となり、上記出力点に、バッファとしてインバータ
回路IV2が接続され、電流源回路5の出力はソースフ
ォロワ回路1の出力にデータセル回路4と並列に接続さ
れている。
【0006】次に、従来のセンスアンプ回路の動作につ
いて図5を参照して説明する。図5は、図4及び図6に
おいて可変抵抗で表されたデータセル回路4の具体例を
示したものである。
【0007】図5において、M00〜M33の4×4=16
個のトランジスタがデータセル、MS0〜MS3の4個のト
ランジスタが、X=0〜3の4本のデータセルアレイの
いずれかを選択するためのセレクト回路である。各デー
タセルは、データ保持のものはデプレッション型、デー
タ非保持のものはエンハンスメント型のトランジスタで
それぞれ構成される。
【0008】個々のデータセルのアドレス指定方法は、
以下の通りである。
【0009】セレクト回路は、選択するラインのトラン
ジスタのゲートにのみ“H”レベルを与え、それ以外に
は“L”レベルを与える。
【0010】データセル部は、選択する列のゲートにの
み“L”レベルを与え、それ以外には“H”レベルを与
える。
【0011】これにより、セレクト回路で選択されたデ
ータセルアレイのうち、注目するセルにのみゲートに
“L”レベルが与えられ、直列に接続されたその他のセ
ルには“H”レベルが与えられる。この場合、セレクト
回路を含めたデータセルの出力抵抗は、選択されたデー
タセルがデプレッション型、つまりデータ保持の時だ
け、データセルアレイとセレクタの各トランジスタのド
レイン/ソース間オン抵抗の直列分となる。データ非保
持の時は、出力抵抗はほぼ無限大となる。
【0012】例えば、図5において、M03、M21のふた
つだけがデータ保持のものである。ここでM21のデータ
を読み出すものととすると、セレクタ部とデータセル部
のアドレスH、アドレスLは表1のように設定する。
【0013】
【表1】
【0014】この時、データセルの出力抵抗は、以下の
ようになる。
【0015】RO=RONS2+RON20+RON21+RON22+
RON23 但し、 RONS2…MS2のドレイン・ソース間オン抵抗、 RON20…M20のドレイン・ソース間オン抵抗、 RON21…M21のドレイン・ソース間オン抵抗、 RON22…M22のドレイン・ソース間オン抵抗、 RON23…M23のドレイン・ソース間オン抵抗。
【0016】また、M23のデータを読み出すときには、
セレクタ部とデータセル部のアドレスH、アドレスLは
表2のように設定する。
【0017】
【表2】
【0018】このとき、データセルの出力抵抗は、 RO=RONS2+RON20+RON21+RON22+RCF23 但し、 RCF23 … M23のカットオフ時の抵抗であり、 ほぼRO → ∞ となる。
【0019】次に、センスアンプ部の動作について以下
に説明する。
【0020】ソースフォロワ回路1は、データセル回路
4の出力点、すなわち、トランジスタN1のソースにあ
る一定の電位を出力するための回路である。このソース
フォロワ回路1の入力には、ソースフォロワ回路1自身
の出力であるトランジスタN1のソース電位がインバー
タ回路IV1によって高利得で反転増幅され、ゲートに
負帰還されている。
【0021】ここで、トランジスタN1のソースには、
負荷として、データセル回路4の等価抵抗の他に、イン
バータ回路IV1の入力容量、及び、トランジスタN1
とデータセル回路4の各トランジスタの拡散層に生じる
寄生容量等から成る浮遊容量CS1も接続されている。
【0022】このため、データセル回路4の各データセ
ルがロウインピーダンスとなる場合はもちろん、ハイイ
ンピーダンスとなる場合でも、このソースフォロワ回路
1の出力、つまり、データセル回路4の出力点には、定
常状態において、インバータ回路IV1の入力しきい値
電圧VT(IV1)にほぼ近い電圧が発生する。
【0023】今、データセル回路4の選択したデータセ
ルがデータ保持のものである場合、上記データセルの出
力抵抗ROに、VT(IV1)の電圧が印加され、 i2=VT(IV1)/RO という信号電流i2が電流ミラー回路2の入力であるト
ランジスタP1のドレインから流出する。
【0024】この信号電流i2は、選択したデータセル
アレイのうち、注目する上記データセルに直列接続され
た他のデータセルにデータ保持のものがどれだけあるか
によって変化する。すなわち、上記他のデータセルがす
べてデプレッション型の時に最大値i2MAXとなり、全
てエンハンスメント型の時に最小値i2MINをとる。ま
た、選択した上記データセルがデータ非保持のものであ
る場合、トランジスタP1のドレインからは電流は流出
しない。
【0025】ここで、トランジスタP2の動作点が飽和
領域にある時の電流ミラー回路2の出力電流が入力に対
して、仮に1:1であれば、同様にその動作点が飽和領
域にあるときの電流源回路3のトランジスタN2が、例
えば、 iDS=i2MIN/2 という電流を流すようなバイアスをトランジスタN2の
ゲート端子に与える。これにより、データセル回路4の
選択した上記データセルがデータ保持のものであり、信
号電流i2が流れる場合、このセンスアンプ回路の出力
電位は“H”になり、反対に、データ非保持のものであ
る場合には“L”になる。つまり、ディプレッション型
とエンハンスメント型というMOSトランジスタのしき
い値の差として保存したデータを、電位差に変換して出
力することができるというものである。
【0026】図7は、ソースフォロワ回路1の動作の一
例を示す電圧及び電流の波形を示す図である。図中、破
線で示したものが、従来のセンスアンプ回路のうち電流
源回路5を備えない一般的なセンスアンプ回路におい
て、データ保持のデータセルを選択した状態からデータ
非保持のセルを選択し再びデータ保持のセルを選択した
時のセンスアンプ回路の各部の電圧、電流波形であり、
VG1はソースフォロワ回路1のトランジスタN1のゲ
ート電圧、VS1はソース電圧、i1はソースから流れ
る電流、i3は図6の電流源回路5に流れ込む電流であ
る。
【0027】電流源回路5を備えない一般的なセンスア
ンプ回路においては、アドレス信号の変化と共に、デー
タセルがハイインピーダンスに変化すると、ソースフォ
ロワ回路1のトランジスタN1からの流入電流により、
浮遊容量CS1(図5参照)が充電され、トランジスタN
1のソース電位VS1は上昇する。するとインバータIV
1の負帰還によりトランジスタN1のゲート端子に接続
された寄生容量が接地電位まで放電され、ゲート電位V
G1は接地電位となりトランジスタN1はカットオフし、
これにより、信号電流i1は0となる。
【0028】一方、データセル回路がロウインピーダン
スに変化すると、まだソースフォロワ回路1のトランジ
スタN1がカットオフしているため、浮遊容量CS1がデ
ータセルの等価抵抗ROによって放電し、トランジスタ
N1のソース電位VS1は、時定数τ=CS1×ROで下降
する。すると、インバータIV1の負帰還により、トラ
ンジスタN1のゲート端子に接続された寄生容量が充電
され、ゲート電位VG1は上昇を始め、Δtの時間を経
て、トランジスタN1がオンする。これにより、浮遊容
量CS1の充電と、データセルへの電流供給が開始され
て、トランジスタN1のソース電位VS1も上昇を始め、
VS1の上昇につれて、信号電流i1も増加する。トラン
ジスタN1のゲート電位VG1の上昇は、ソース電位VS1
がVT(IV1)に達したところで止まる。
【0029】このような一般的なセンスアンプ回路で
は、信号電流i1の立ち上がりのプロセスにおいて、ア
ドレス変化後Δtの間は、信号電流i1はまったく流れ
ず、更に、トランジスタN1がオンしたところで、ゲー
ト・ソース間バイアスが浅いうちは、ドレイン・ソース
間抵抗が大きく、信号電流i1の立ち上がりは鈍い。
【0030】こうして、信号電流i3が、スレッショル
ドを横切るまでに、アドレス変化から、Δt+α=td2
の遅延が生じる。
【0031】逆に、信号電流i1の立ち下がりはアドレ
ス切り替えと共に行えるため、遅延は少ない。
【0032】つまり、信号電流i1の立ち上がりのプロ
セスがネックとなって、データ読み出しに要する応答時
間が大きくなっていた。
【0033】このような問題を解決すべく、本願と同一
発明者は、上記特開平6−28881号公報で、図6に
示したように、電流源回路5をデータセル回路4と並列
に接続した構成を提案した。図7において、実線で示し
たものは、図6に示した電流源回路5を備えた構成のセ
ンスアンプ回路において、データ保持のデータセルを選
択した状態からデータ非保持のセルを選択し再びデータ
保持のセルを選択した時のセンスアンプ回路各部の電
圧、電流波形である。
【0034】図7の電圧・電流波形図を参照すると、図
4に示した一般的なセンスアンプ回路の動作との相違点
は、データセルがハイインピーダンスとなり、データセ
ル回路に流れる電流i2が0であっても、電流源回路5
によって、ソースフォロワ回路1には電流i3が流れ、
これによって、ソースフォロワ回路1は、全動作期間を
通じてカットオフすることが無くなる、という事であ
る。
【0035】信号電流i1の立ち上がり時のソースフォ
ロワ回路1の不感期間が解消されるとともに、ソースフ
ォロワ回路1の出力インピーダンスが初めから小さいこ
とにより、信号電流i1の立ち上がりもスムーズにな
り、上記信号電流がスレッショルドを横切るまでの遅延
td1は、ソースフォロワ回路1のゲート容量の充電時間
を支配的とした遅延のみに抑えられる。
【0036】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図6に
示した従来のセンスアンプ回路は、消費電力が増加す
る、という問題点を有している。
【0037】その理由は、信号電流の立ち上がり時のタ
イムラグを抑えるために、データセル回路と並列に接続
した電流源回路により、常に、ソースフォロワ回路に電
流が流れるような構成とされている、ためである。
【0038】したがって、本発明は、上記問題点に鑑み
てなされたものであって、その目的は、データセル回路
と並列に接続した電流源回路からソースフォロワ回路に
供給する電流を選択的に制御し、不要な電流のみ削減す
ることにより、性能を低下させること無く、低消費電力
化を実現するセンスアンプ回路を提供することにある。
【0039】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明のセンスアンプ回路は、読み出し対象のメモ
リのデータセル回路をソースに、負荷である電流ミラー
回路の入力をドレインに、それぞれ接続した第一導電型
のトランジスタを有するソースフォロワ回路と、前記デ
ータセル回路に並列に接続され、読み出しデータによっ
て制御される電流源回路を備えて構成されている。
【0040】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について説明
する。本発明のセンスアンプ回路は、その好ましい実施
の形態において、読み出し対象のデータセル回路(図1
の4)に並列接続され、読み出しデータによって出力電
流が制御される電流源回路(図1の5a)と、読み出し
データを入力とし電流源回路(図1の5a)の出力電流
のオン・オフを制御するための制御回路(図1の6)
と、を備える。本発明の実施の形態によれば、図6に示
した従来のセンスアンプ回路同様、データ読み出しにお
ける応答時間の増大を防止できる、という効果が得られ
る他に、さらに、消費電流の増加分を一例として約50
%低減することができる、という作用効果を奏する。
【0041】
【実施例】次に、上記した本発明の実施の形態について
更に詳細に説明すべく、本発明の実施例について図面を
参照して説明する。
【0042】図1は、本発明のセンスアンプ回路の一実
施例の回路構成を示す図である。図1において、図6に
示した要素と同一又は同等の要素には同一の参照符号が
付されている。
【0043】図1を参照すると、本発明の一実施例にお
いて、センスアンプ回路は、N−チャネルトランジスタ
N1とインバータ回路IV1とから成るソースフォロワ
回路1と、P−チャネルトランジスタP1及びトランジ
スタP2から構成される電流ミラー回路2と、ソースが
接地されたNchトランジスタN2による電流源回路3
と、制御回路6と、制御回路6によって出力電流を制御
される電流源回路5aと、を備えて構成されている。
【0044】電流ミラー回路2の出力と電流源回路3と
の接続点であるデータ出力点に、出力バッファとして、
インバータ回路IV2が接続される。
【0045】本発明の一実施例においては、このインバ
ータ回路IV2の出力を入力とする制御回路6は、読み
出しデータによって、電流源回路5aの出力電流i3を
制御し、電流源回路5aの出力は、ソースフォロワ回路
1の出力にデータセル回路4と並列に接続されている。
【0046】図2は、本発明の一実施例の動作を説明す
るための図であり、データ保持のデータセルを選択した
状態から、データ非保持のセルを選択し、再びデータ保
持のセルを選択した時のセンスアンプ回路の各部の電
圧、電流波形を示す図である。VG1はソースフォロワ回
路1のトランジスタN1のゲート電圧、VS1はソース電
圧、i1はソースから流れる電流、i3は図6の電流源
回路5に流れる電流である。図2を参照して、本発明の
一実施例の動作について以下に説明する。
【0047】本発明の一実施例の動作と、図6に示した
従来のセンスアンプ回路との相違点は、本発明の一実施
例では、データセル回路4がハイインピーダンスとな
り、電流i2=0となった場合にのみ、電流源回路5a
によってソースフォロワ回路1に電流i3が流れる、と
いう事である。
【0048】これによって、本発明の一実施例において
は、ソースフォロワ回路1は、信号電流i1の立ち下が
り時に、トランジスタN1に一時的にカットオフ状態を
生じたとしても、信号電流i1の立ち上がりよりも先に
不感状態を解消することができる。
【0049】つまり、本発明の一実施例では、データの
“0”と“1”が統計的に50%ずつ読み出されると仮
定した場合、図6に示した従来のセンスアンプ回路で問
題となった消費電流の増加分を、50%まで低減できる
と共に、図6に示した従来のセンスアンプ回路で得られ
た作用効果は、ほぼそのまま、信号電流i1の立ち上が
り時に、スレッショルドを横切るまでの遅延td1は、ソ
ースフォロワ回路1のゲート寄生容量の充電時間を支配
的とした遅延のみに抑えられる。
【0050】この他の動作については、図6及び図7を
参照して説明した従来のセンスアンプ回路と同様である
ため、その説明を省略する。
【0051】本発明は上記実施例の構成にのみ限定され
るものでなく、本発明の原理に準ずる範囲内で種々の変
形が可能である。
【0052】図3は、図1に示した本発明の一実施例に
おける制御回路6として、N−チャネルトランジスタN
3及びP−チャネルトランジスタP3から成るトランス
ファゲート回路と、インバータIV3とで構成される制
御回路6を用い、ソース接地のN−チャネルトランジス
タN4から成る電流源回路5aの出力が、制御回路6の
トランスファゲート回路を経て、ソースフォロワ回路1
の出力に、データセル回路4と並列に接続され、出力バ
ッファを構成するインバータIV2の出力OUTを入力
とするインバータIV3の出力は、P−チャネルトラン
ジスタP3のゲートに接続され、インバータIV2の出
力はN−チャネルトランジスタN3のゲートに接続され
た構成とされる。
【0053】前述したように、データセル回路がハイイ
ンピーダンス状態となると、ソースフォロワ回路1のト
ランジスタN1からの流入電流により浮遊容量CS1(図
5参照)が充電され、トランジスタN1のソース電位V
S1が上昇しインバータIV1の負帰還によりトランジス
タN1のゲート電位VG1は接地電位となりトランジスタ
N1はカットオフし、これにより、信号電流i1は0と
なる。このときデータ出力点(電流ミラー回路2の出力
と電流源回路3の接続点)はLowレベルに遷移し、イ
ンバータIV2の出力OUTはHighレベルとなり、
トランスファゲートのトランジスタN3、P3が共にオ
ンし、電流源回路5aであるトランジスタN4の出力が
ソースフォロワ回路1のトランジスタN1のソースに接
続されソースフォロワ回路1に電流(シンク電流)i3
が流れ、ソース電位が下がり、インバータIV1を介し
てトランジスタN1のゲート電位が上昇しトランジスタ
N1は導通状態となる。
【0054】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のセンスア
ンプ回路によれば、上記特開平6−28881号公報に
記載されるセンスアンプ回路と同様に、データ読み出し
における応答時間の増大を防止できる、という効果を奏
するとともに、消費電流の増加分を約50%低減するこ
とできる、という効果を奏する。
【0055】その理由は、本発明においては、読み出し
対象のデータセル回路に並列接続され、読み出しデータ
によって制御される電流源回路を備えたことによる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のセンスアンプ回路の一実施例の回路構
成を示す図である。
【図2】本発明のセンスアンプ回路の一実施例の動作を
説明するための波形図である。
【図3】本発明のセンスアンプ回路の一実施例における
具体的な回路構成の一例を示す図である。
【図4】従来の一般的なセンスアンプ回路の回路構成の
一例を示す図である。
【図5】従来のセンスアンプ回路の動作を説明するため
にデータセル回路を含む回路構成の一例を示す図であ
る。
【図6】別の従来のセンスアンプ回路として、特開平6
−28881号公報に提案されるセンスアンプ回路の回
路構成の一例を示す図である。
【図7】従来のセンスアンプ回路の動作の一例を示す波
形図である。
【符号の説明】
1 ソースフォロワ回路 2 電流ミラー回路 3,5,5a 電流源回路 4 データセル回路 6 制御回路 N1,N2,N3,N4 N−チャネルトランジスタ P1,P2,P3 P−チャネルトランジスタ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】読み出し対象のメモリのデータセル回路を
    ソースに接続し、負荷である電流ミラー回路の入力端を
    ドレインに接続した第一導電型のトランジスタを有する
    ソースフォロワ回路と、 前記データセル回路に並列接続した電流源回路と、 を含むセンスアンプ回路において、 前記電流源回路の出力電流を読み出しデータによって制
    御する手段を備えたことを特徴とするセンスアンプ回
    路。
  2. 【請求項2】前記電流源回路が、前記データセル回路に
    信号電流が流れない場合にだけ電流を出力するように制
    御される、ことを特徴とする請求項1記載のセンスアン
    プ回路。
  3. 【請求項3】読み出し対象のメモリのデータセル回路を
    ソースに接続し、負荷である電流ミラー回路の入力端を
    ドレインに接続した第一導電型のトランジスタを有する
    ソースフォロワ回路と、 前記第一導電型のトランジスタのソースに、前記データ
    セル回路とともに、並列接続される電流源回路と、 前記電流源回路の出力電流を、読み出しデータによっ
    て、オン・オフ制御する回路手段を備え、 前記電流源回路が、前記データセル回路に信号電流が流
    れない場合にだけ電流を出力するように制御されること
    を特徴とするセンスアンプ回路。
  4. 【請求項4】読み出し対象のメモリのデータセル回路を
    ソースに接続し、負荷である電流ミラー回路の入力端を
    ドレインに接続した第一導電型のトランジスタを有する
    ソースフォロワ回路と、 電流源回路と、 前記電流ミラー回路の出力端ノードであるデータ出力点
    の電位に基づき、前記第一導電型のトランジスタのソー
    スに、読み出し対象の前記データセル回路と並列に前記
    電流源回路を接続又は非接続とするスイッチ回路と、 前記データセル回路に信号電流が流れずに前記ソースフ
    ォロワ回路がカットオフした時に、前記スイッチ回路が
    オンし前記第一導電型のトランジスタに前記電流源回路
    から電流を流すようにしたことを特徴とするセンスアン
    プ回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP5475975B2 (ja) * 2008-09-19 2014-04-16 スパンション エルエルシー 半導体装置およびその調整方法
CN112040157B (zh) * 2019-06-04 2023-11-28 半导体元件工业有限责任公司 具有减少的信号采样反冲的图像传感器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011159086A3 (ko) * 2010-06-14 2012-04-19 Han Yong Duk 책 베개

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