JP3459018B2 - 電子部品の製造方法 - Google Patents

電子部品の製造方法

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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
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  • Manufacturing Cores, Coils, And Magnets (AREA)
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  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Dicing (AREA)
  • Details Of Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、基板上に形成された
電極パターン等を保護するための絶縁保護膜を持ち、か
つ、角部や稜部が滑らかに削られてチッピング等の不具
合の発生のない電子部品の製造方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】表面にパターンを有するチップ形電子部
品の製造方法としては、図に示すように、セラミック
のマザー基板1上に電極パターン2をリソグラフィー等
を用いて複数個のパターンを形成し、その後ダイサー等
によりマザー基板1を分離カットして図に示すような
基板12を切り出し、その後、必要な部分に外部電極を
形成して一つの電子部品としている。
【0003】これらのダイサー等でカットされた直後の
基板12は、切り口の角部13や稜部14のエッジが立
っていたりバリが出たりしているために、基板12がも
ろい場合、電子部品を扱う際に角部13や部14のエ
ッジやバリの部分から基板12が大きく割れ欠けする等
の欠損を生じてチッピングを生じ易いという問題があっ
た。
【0004】この問題解決のためには、カット後の基板
12に対し、バレル研磨やブラスト処理を行なうことに
より、切り口の角部13及び稜部14を微小除去してエ
ッジを滑らかに形成すればよい。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、基板表面に
電極パターンが形成されている電子部品の場合、パター
ンがバレル研磨やブラスト処理により損傷してしまうの
で、一般的方法として、バレルやブラスト処理から電極
パターンを保護するために、パターンの上に絶縁保護膜
を形成することが考えられる。
【0006】この絶縁保護膜として、セラミック、ガラ
スグレーズ等の無機の材料は一般的にアルカリ性であり
セラミック基板を侵すので場合によっては使用できず、
この場合はポリイミドからなる絶縁保護膜が用いられる
ことがある。この絶縁保護膜は、マザー基板の状態で電
極パターンを保護すべき所定部分に予め形成しておき、
バレル研磨やブラスト処理からパターンを保護する。
【0007】しかし、バレルの際のチップ同士のこすれ
やブラスト砥粒等により絶縁保護膜自体が削れ、そのカ
スが基板の絶縁保護膜が覆われていない部分に再付着し
てしまう恐れがある。
【0008】この絶縁保護膜として用いられるポリイミ
ドは耐溶剤性が高く容易に除去することができず、この
ポリイミドが付着した上に直接外部電極を形成すると、
電極と基板との密着力は極端に低下し、電極剥れ等の問
題が生じてしまう。
【0009】この発明は上記のような課題を解決し、基
板上に形成されたパターン等を保護するためのポリイミ
ド等の絶縁保護膜を持ち、かつ、基板の割れ、欠け、あ
るいはチッピングの発生のない電子部品の製造方法を提
供することを課題とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、この発明は、基板上に電極パターンを形成する工
程と、電極パターンを外部電極を形成する部分を除いて
絶縁樹脂で保護する工程と、バレル研磨或いはブラスト
処理により基板の角部および稜部のエッジを滑らかにす
る工程と、外部電極形成前に再付着した絶縁樹脂を除去
することなしに、外部電極が形成される部分に導電性接
着剤を塗布し、その上に半田付け可能な金属をメッキし
て外部電極を形成する工程とからなる電子部品の製造方
法である。
【0011】又、上記発明において、絶縁樹脂がポリイ
ミドである電子部品の製造方法である。
【0012】
【実施例】以下、この発明の実施例を図1乃至図に基
づいて説明するが、従来の技術での説明と同一の部分は
同一の符号を付す。
【0013】図1に示すように、リソグラフィー等を用
いてマザー基板1上に複数個の電極パターン2を形成
し、更にポリイミドからなる絶縁保護膜3を保護すべき
電極パターン2部分の表面上に形成する。
【0014】その後ダイサー等により基板をカットして
分離する。この状態ではカットされた基板は、角部分が
尖り部はカット時のバリが残っている。
【0015】これらのカット後の基板の多数個を研磨剤
と共にバレルに収納し、バレルを回転させて、各基板の
エッジ部を摩滅させて除去する。このバレル研磨に代え
て、チップに微細砥粒を吹き付けることによりコーナー
部を摩滅除去するブラスト処理を行なってもよい。
【0016】図2は、上記バレル研磨あるいはブラスト
処理を行なった後の基板4を示すものであり、基板4の
角部5及び稜部6のエッジは削られ、滑らかなRを形成
している。尚、基板4の両端部の電極パターン2を保護
する絶縁保護膜3に覆われていない部分には、端部で電
極パターン2と導通する外部電極が後に形成される。
【0017】次に、外部電極を形成する前に、図3のよ
うに、基板4を外部電極形状に合わせてスキージ7によ
って導電性接着剤8を塗布する。この場合、外部電極形
成部分以外に導電性接着剤8が付着しないように、外部
電極形状に合わせたマスク9を使用する。
【0018】導電性接着剤8の塗布後、この導電性接着
剤8の上から1層目にNi合金を1μm、2層目にSn
合金を2μmとする電解メッキを行ない、外部電極を形
成して電子部品を得た。
【0019】上記の方法によって形成された電子部品の
端子強度の測定及びヒートショックによる評価試験を行
なった。又、比較例として上記処理を全く行なわない電
子部品についても同様の試験を行ない、それらの結果を
表1に示す。
【0020】
【表1】
【0021】
【発明の効果】以上のように、この発明の製造方法によ
り得られた電子部品は、マザー基板からカットして切り
出され、リソグラフィー等により表面に電極が形成され
ている電子部品を取り扱い際、角部および稜部が滑らか
なRに形成されているため、チッピングの発生が極端に
少なく、チッピングによるオープン不良がなくなる。
【0022】又、この発明の電子部品の製造方法によれ
ば、ポリイミドのカスが基板表面に残っていても、ポリ
イミドのカスが端子電極と基板の密着性を阻害するのを
基板と端子電極の間にある導電性接着剤が防ぐので、端
子強度の劣化は少ない。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例のマザー基板の一部拡大図で
ある。
【図2】この発明の電子部品の外部電極形成前の状態を
示す斜視図である。
【図3】この発明の製造方法を示す断面図である。
【図4】マザー基板の平面図である。
【図5】従来の電子部品の切り出し直後の基板を示す斜
視図である。
【符号の説明】
1 マザー基板 2 電極パターン 3 ポリイミドからなる絶縁保護膜 4,12 基板 5,13 角部 6,14 稜部 7 スキージ 8 導電性接着剤 マスク
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01F 41/04 H05K 3/28 B H05K 3/28 H01F 15/10 C (56)参考文献 特開 平2−54903(JP,A) 特開 平2−155205(JP,A) 特開 平5−144666(JP,A) 特開 平5−283272(JP,A) 特開 昭55−113559(JP,A) 特開 平5−205944(JP,A) 実開 平5−21404(JP,U) 実開 平2−17829(JP,U)

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に電極パターンを形成する工程
    と、電極パターンを外部電極を形成する部分を除いて
    縁樹脂で保護する工程と、バレル研磨或いはブラスト処
    理により基板の角部および稜部のエッジを滑らかにする
    工程と、外部電極形成前に再付着した絶縁樹脂を除去す
    ることなしに、外部電極が形成される部分に導電性接着
    剤を塗布し、その上に半田付け可能な金属をメッキして
    外部電極を形成する工程とからなる電子部品の製造方
    法。
  2. 【請求項2】 絶縁樹脂がポリイミドである請求項1に
    記載の電子部品の製造方法。
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