JPH01109823A - 近接スイッチ - Google Patents
近接スイッチInfo
- Publication number
- JPH01109823A JPH01109823A JP26680487A JP26680487A JPH01109823A JP H01109823 A JPH01109823 A JP H01109823A JP 26680487 A JP26680487 A JP 26680487A JP 26680487 A JP26680487 A JP 26680487A JP H01109823 A JPH01109823 A JP H01109823A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test
- proximity switch
- signal
- detection signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は被検出物体が接近すると発振電圧が上昇または
低下する発振回路を利用してこの被検出物体が接近した
ことを検出する近接スイッチに関する。
低下する発振回路を利用してこの被検出物体が接近した
ことを検出する近接スイッチに関する。
発振回路を利用した近接スイッチの従来例を第２図に示
す、ここで近接スイッチは、発振回路１、検波平滑回路
２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路５を備え、
電源端子６．７の間に接続された外部量Ｈ８により駆動
される。端子６および出力回路４の出力端の間に例えば
プログラマブルコントローラに付属するリレー１０が接
続される。
す、ここで近接スイッチは、発振回路１、検波平滑回路
２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路５を備え、
電源端子６．７の間に接続された外部量Ｈ８により駆動
される。端子６および出力回路４の出力端の間に例えば
プログラマブルコントローラに付属するリレー１０が接
続される。
発振回路１は検出コイル１１およびコンデンサ１２から
なる共振回路を有し、この共振回路の共振周波数で一定
電圧の発振をしている。検出コイル１１に金属体のよう
な被検出物体１３が接近するとこの被検出物体１３で発
振回路ｌのエネルギーが消費され、路２で検波され、さ
らに平滑化されてコンパレータ３で基準値と比較され、
この出力が検出信号として出力回路４に印加され、出力
回路４の図示しないトランジスタをオンさせてリレー１
０を動作させる。
なる共振回路を有し、この共振回路の共振周波数で一定
電圧の発振をしている。検出コイル１１に金属体のよう
な被検出物体１３が接近するとこの被検出物体１３で発
振回路ｌのエネルギーが消費され、路２で検波され、さ
らに平滑化されてコンパレータ３で基準値と比較され、
この出力が検出信号として出力回路４に印加され、出力
回路４の図示しないトランジスタをオンさせてリレー１
０を動作させる。
（発明が解決しようとする問題点〕
上述のような近接スイッチでは、内部回路に故障がある
と被検出物体がこの近接スイッチに接近しているか否か
に関係なく、出力端子からオンまたはオフの信号が′ｍ
続して出力されるという問題があり、例えばこの近接ス
イッチにより駆動されるリレーを介して入力信号が印加
されるプログラマブルコントローラのような主′４ｊｔ
置の動作に重大な影響を与えるおそれがあった。このた
め近接スイッチの機能が正常であるかどうかをテストす
る必要がある。近接スイッチの動作をテストするために
人為的に被検出物体を接近または離反させることも考え
られるが、この方法はテストに手間がかかり主装置を比
較的長い時間停止しなければならないという欠点があっ
た。
と被検出物体がこの近接スイッチに接近しているか否か
に関係なく、出力端子からオンまたはオフの信号が′ｍ
続して出力されるという問題があり、例えばこの近接ス
イッチにより駆動されるリレーを介して入力信号が印加
されるプログラマブルコントローラのような主′４ｊｔ
置の動作に重大な影響を与えるおそれがあった。このた
め近接スイッチの機能が正常であるかどうかをテストす
る必要がある。近接スイッチの動作をテストするために
人為的に被検出物体を接近または離反させることも考え
られるが、この方法はテストに手間がかかり主装置を比
較的長い時間停止しなければならないという欠点があっ
た。
本発明の目的は、被検出物体が検出コイルに接近してい
るか否かにかかわらず、簡単な方法で近力 接スイッチの機能が正常か否収を外部からテストできる
テスト回路を有する近接スイッチを提供することにある
。
るか否かにかかわらず、簡単な方法で近力 接スイッチの機能が正常か否収を外部からテストできる
テスト回路を有する近接スイッチを提供することにある
。
本発明は上述の問題点を解決するため、検出コイルを有
する発振回路を備え、前記検出コイルの近傍を被検出物
体が通過すると前記発振回路の発振が減衰または増加し
て検出信号を出力する近接スイッチにおいて、テストス
イッチを有し、該テストスイッチが操作される都度検出
信号を記憶してこの記憶された検出信号を前記発振回路
にフィードバックし、前記テスト信号が入力している間
のみ前記発振回路の増幅度を変化させるテスト回路を設
けるものである。
する発振回路を備え、前記検出コイルの近傍を被検出物
体が通過すると前記発振回路の発振が減衰または増加し
て検出信号を出力する近接スイッチにおいて、テストス
イッチを有し、該テストスイッチが操作される都度検出
信号を記憶してこの記憶された検出信号を前記発振回路
にフィードバックし、前記テスト信号が入力している間
のみ前記発振回路の増幅度を変化させるテスト回路を設
けるものである。
本発明によるテスト回路は、近接スイッチが検出して出
力した検出信号をテストスイッチが操作される都度記憶
し、この記憶された検出信号を発振回路にフィードバッ
クし、外部からのテスト信号が入力している間のみ発振
回路の増幅度を変化させることにより、検出コイルに被
検出物体が接近して発振電圧が低いときでもこれを強制
的に大きくし、被検出物体が検出コイルから十分離れて
発振電圧が高いときでもこれを強制的に減衰させ、被検
出物体が検出コイルに接近しているか否かにかかわらず
近接スイッチのテストを行える。
力した検出信号をテストスイッチが操作される都度記憶
し、この記憶された検出信号を発振回路にフィードバッ
クし、外部からのテスト信号が入力している間のみ発振
回路の増幅度を変化させることにより、検出コイルに被
検出物体が接近して発振電圧が低いときでもこれを強制
的に大きくし、被検出物体が検出コイルから十分離れて
発振電圧が高いときでもこれを強制的に減衰させ、被検
出物体が検出コイルに接近しているか否かにかかわらず
近接スイッチのテストを行える。
第１図に本発明による近接スイッチの実施例を示し、第
２図と同一のものには第２図と同一の符号を付し詳細な
説明を省略した。第１図において、１４は第２図に示し
た回路と全く同じ近接スイッチであり、発振回路１、検
波平滑回路２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路
５などを備えている。出力回路４はコンパレータ３の出
力端が抵抗１６を介してトランジスタ１７のベースに接
続されコンパレータ３の検出信号でスイッチング用トラ
ンジスタ１７が閉じる。このトランジスタ１７のコレク
タには第２図と同様にリレー１０が接続されている。
２図と同一のものには第２図と同一の符号を付し詳細な
説明を省略した。第１図において、１４は第２図に示し
た回路と全く同じ近接スイッチであり、発振回路１、検
波平滑回路２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路
５などを備えている。出力回路４はコンパレータ３の出
力端が抵抗１６を介してトランジスタ１７のベースに接
続されコンパレータ３の検出信号でスイッチング用トラ
ンジスタ１７が閉じる。このトランジスタ１７のコレク
タには第２図と同様にリレー１０が接続されている。
発振回路１は後述するようにこの近接スイッチの検出信
号がフィードバックされることによりその発振電圧が制
御される。テスト回路１ＢはＤ形フリップフロップ１９
およびスリーステートバッファ回路２０を備え、フリッ
プフロップ１９の入力端子りはコンパレータ３の出力端
に接続され、クロック端子Ｔはテスト端子２１とテスト
スイッチ２２を介して外部電ａ！８の負極に接続され、
出力端子Ｑはスリーステートバッファ回路２０の入力端
に接続され、このスリーステートバッファ回路２０の出
力端はこの出力を発振回路１にフィードバックするよう
に接続されている。またバッフ１回路２０の制？１１端
子にはフリップフロップ１９のクロック端子Ｔが接続さ
れて、テスト信号が印加される。フリップフロップ１９
はそのクロック端子Ｔにテス１１を号が印加されるとそ
のとき入力端子りに印加されている検出信号が出力端子
Ｑに出力され、バッファ回路２０に入力する。バッフ１
回路２０はその制′ａ端子にテスト信号が印加されたと
きのみ入力端に入力した検出信号がその出力端に伝達さ
れ、制御端子にテスト信号が入力しないときは、その出
力回路は入力に関係なくハイインピーダンスとなって発
振回路１の増幅度への影響を無くしている。
号がフィードバックされることによりその発振電圧が制
御される。テスト回路１ＢはＤ形フリップフロップ１９
およびスリーステートバッファ回路２０を備え、フリッ
プフロップ１９の入力端子りはコンパレータ３の出力端
に接続され、クロック端子Ｔはテスト端子２１とテスト
スイッチ２２を介して外部電ａ！８の負極に接続され、
出力端子Ｑはスリーステートバッファ回路２０の入力端
に接続され、このスリーステートバッファ回路２０の出
力端はこの出力を発振回路１にフィードバックするよう
に接続されている。またバッフ１回路２０の制？１１端
子にはフリップフロップ１９のクロック端子Ｔが接続さ
れて、テスト信号が印加される。フリップフロップ１９
はそのクロック端子Ｔにテス１１を号が印加されるとそ
のとき入力端子りに印加されている検出信号が出力端子
Ｑに出力され、バッファ回路２０に入力する。バッフ１
回路２０はその制′ａ端子にテスト信号が印加されたと
きのみ入力端に入力した検出信号がその出力端に伝達さ
れ、制御端子にテスト信号が入力しないときは、その出
力回路は入力に関係なくハイインピーダンスとなって発
振回路１の増幅度への影響を無くしている。
検出コイル１１に被検出物体が接近し、発振回路１の発
振電圧が低下すると、この電圧が検波平滑回路２を介し
てコンパレータ３に印加され、コンパレータ３の出力端
からハイレベルの検出信号が出力する。したがって、ト
ランジスタ１７はオンし、リレー１０に通電する。この
状態でこの近接スイッチをテストするためにスイッチ２
２を閉じるとフリップフロップ１９のクロック端子の印
加電圧が立下がり、この立下がり時にフリップフロップ
１９の入力端子りにハイレベルの検出信号が印加されて
いるからフリップフロップ１９はこのハイレベルの検出
信号を記憶し、出力端子Ｑにハイレベルの信号を出力す
る。このときバッファ回路２０はその制御端子に負の印
加電圧が印加されて禁止入力が解除されているのでハイ
レベルの検出信号がそのまま出力され、この信号が発振
回路１にフィードバックされる。これにより発振回路１
の増幅度は高くなり、この発振電圧は被検出物体１３が
接近していないときと同じ状態にまで高められる。した
がってトランジスタ１７はオフし、リレー１０の電流は
断たれる。このときフリップフロップ１９の入力端子り
の信号はローレベルに反転するがクロック端子Ｔに印加
される信号の立下がりがなければ、すなわち第２回目の
テストスイッチ２２の操作が行なわれなければ出力端子
Ｑの信号は不変である。ここでスイッチ２２を開くとバ
ッファ回路２０の出力回路はハイインピーダンスになり
、発振回路１は通常の状態に戻る。
振電圧が低下すると、この電圧が検波平滑回路２を介し
てコンパレータ３に印加され、コンパレータ３の出力端
からハイレベルの検出信号が出力する。したがって、ト
ランジスタ１７はオンし、リレー１０に通電する。この
状態でこの近接スイッチをテストするためにスイッチ２
２を閉じるとフリップフロップ１９のクロック端子の印
加電圧が立下がり、この立下がり時にフリップフロップ
１９の入力端子りにハイレベルの検出信号が印加されて
いるからフリップフロップ１９はこのハイレベルの検出
信号を記憶し、出力端子Ｑにハイレベルの信号を出力す
る。このときバッファ回路２０はその制御端子に負の印
加電圧が印加されて禁止入力が解除されているのでハイ
レベルの検出信号がそのまま出力され、この信号が発振
回路１にフィードバックされる。これにより発振回路１
の増幅度は高くなり、この発振電圧は被検出物体１３が
接近していないときと同じ状態にまで高められる。した
がってトランジスタ１７はオフし、リレー１０の電流は
断たれる。このときフリップフロップ１９の入力端子り
の信号はローレベルに反転するがクロック端子Ｔに印加
される信号の立下がりがなければ、すなわち第２回目の
テストスイッチ２２の操作が行なわれなければ出力端子
Ｑの信号は不変である。ここでスイッチ２２を開くとバ
ッファ回路２０の出力回路はハイインピーダンスになり
、発振回路１は通常の状態に戻る。
被検出物体１３が接近していないとき、スイッチ２２を
閉じると、コンパレータ３の出力すなわち検出信号はロ
ーレベルでこの信号をフリップフロップ１９が記憶する
とともにバッファ回路２０を介して発振回路１にフィー
ドバックされ、この信号がローレベルであるから発振回
路１の増幅度は低減し、発振電圧は被検出物体１３があ
たかも検出コイル１１に接近しているときと同じ状態に
低下し、各回路２．３が動作してトランジスタ１７がオ
ンする。
閉じると、コンパレータ３の出力すなわち検出信号はロ
ーレベルでこの信号をフリップフロップ１９が記憶する
とともにバッファ回路２０を介して発振回路１にフィー
ドバックされ、この信号がローレベルであるから発振回
路１の増幅度は低減し、発振電圧は被検出物体１３があ
たかも検出コイル１１に接近しているときと同じ状態に
低下し、各回路２．３が動作してトランジスタ１７がオ
ンする。
もし、検出コイル１１からトランジスタ１７までの間に
断線、短絡などの故障があった場合は、上述のように被
検出物体の接近、１１反の２つのモードのうちのいずれ
かでテストスイッチ２２を閉じたとき、リレー１０の通
電が反転することなく、近接スイッチが故障しているこ
とが分かる。なお、テスト回路１８そのものが故障を生
じても同様な結果が得られる。さらにスイッチ２２がリ
レー接点などでチャタリングを生じる場合は、テスト結
果に誤りを生ずることもあるがこの場合はコンパレータ
３の出力とフリップフロップ１９との間に時限回路を設
ければ解決できる。
断線、短絡などの故障があった場合は、上述のように被
検出物体の接近、１１反の２つのモードのうちのいずれ
かでテストスイッチ２２を閉じたとき、リレー１０の通
電が反転することなく、近接スイッチが故障しているこ
とが分かる。なお、テスト回路１８そのものが故障を生
じても同様な結果が得られる。さらにスイッチ２２がリ
レー接点などでチャタリングを生じる場合は、テスト結
果に誤りを生ずることもあるがこの場合はコンパレータ
３の出力とフリップフロップ１９との間に時限回路を設
ければ解決できる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、近接スイッチの検出信号をテスト回路
に記憶させ、この信号をテスト信号で発振回路にフィー
ドバックすることにより被検出物体の有無にかかわらず
、検出信号を反転させることを可能にし、外部に接続さ
れたリレーなどの負荷をチエツクすることにより近接ス
イッチの故障の有無をテストできる。したがって、この
近接スイッチを使用する装置を稼動する直前、または装
置に異常が生じた場合に、この近接スイッチの動作を簡
単にテストすることができる。
に記憶させ、この信号をテスト信号で発振回路にフィー
ドバックすることにより被検出物体の有無にかかわらず
、検出信号を反転させることを可能にし、外部に接続さ
れたリレーなどの負荷をチエツクすることにより近接ス
イッチの故障の有無をテストできる。したがって、この
近接スイッチを使用する装置を稼動する直前、または装
置に異常が生じた場合に、この近接スイッチの動作を簡
単にテストすることができる。
第１図は本発明による近接スイッチの一実施例を示し、
主要部結線図を含むブロック図、第２図は従来の近接ス
イッチの一例を示すブロック図である。 １：発振回路、１１：検出コイル、１８：テスト回路、
２２：テストスイッチ。 Ｉ。 代理人ずト理士 山 口 巌゛
主要部結線図を含むブロック図、第２図は従来の近接ス
イッチの一例を示すブロック図である。 １：発振回路、１１：検出コイル、１８：テスト回路、
２２：テストスイッチ。 Ｉ。 代理人ずト理士 山 口 巌゛
Claims (1)
- １）検出コイルを有する発振回路を備え、前記検出コイ
ルの近傍を被検出物体が通過すると前記発振回路の発振
が減衰または増加して検出信号を発する近接スイッチに
おいて、テストスイッチを有し、このテストスイッチが
操作される都度前記検出信号を記憶し、この記憶された
検出信号を前記発振回路にフィードバックし、前記テス
ト信号が入力している間のみ前記発振回路の増幅度を変
化させるテスト回路を設けたことを特徴とする近接スイ
ッチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62266804A JPH0770982B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | 近接スイッチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62266804A JPH0770982B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | 近接スイッチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01109823A true JPH01109823A (ja) | 1989-04-26 |
| JPH0770982B2 JPH0770982B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=17435908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62266804A Expired - Fee Related JPH0770982B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | 近接スイッチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0770982B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0423334U (ja) * | 1990-06-15 | 1992-02-26 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS572126A (en) * | 1980-03-01 | 1982-01-07 | Gepuharuto Barufu Fuaburiku Fu | Proximity switch |
-
1987
- 1987-10-22 JP JP62266804A patent/JPH0770982B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS572126A (en) * | 1980-03-01 | 1982-01-07 | Gepuharuto Barufu Fuaburiku Fu | Proximity switch |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0423334U (ja) * | 1990-06-15 | 1992-02-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0770982B2 (ja) | 1995-07-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |