JPH0770982B2 - 近接スイッチ - Google Patents
近接スイッチInfo
- Publication number
- JPH0770982B2 JPH0770982B2 JP62266804A JP26680487A JPH0770982B2 JP H0770982 B2 JPH0770982 B2 JP H0770982B2 JP 62266804 A JP62266804 A JP 62266804A JP 26680487 A JP26680487 A JP 26680487A JP H0770982 B2 JPH0770982 B2 JP H0770982B2
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- Japan
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- circuit
- test
- proximity switch
- detection signal
- signal
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は被検出物体が接近すると発振電圧が上昇または
低下する発振回路を利用してこの被検出物体が接近した
ことを検出する近接スイッチに関する。
低下する発振回路を利用してこの被検出物体が接近した
ことを検出する近接スイッチに関する。
発振回路を利用した近接スイッチの従来例を第２図に示
す。ここで近接スイッチは、発振回路１、検波平滑回路
２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路５を備え、
電源端子6,7の間に接続された外部電源８により駆動さ
れる。端子６および出力回路４の出力端の間に例えばプ
ログラマブルコントローラに付属するリレー10が接続さ
れる。発振回路１は検出コイル11およびコンデンサ12か
らなる共振回路を有し、この共振回路の共振周波数で一
定電圧の発振をしている。検出コイル11に金属体のよう
な被検出物体13が接近するとこの被検出物体13で発振回
路１のエネルギーが消費され、発振回路１はその発振電
圧が減衰し、または発振を停止する。発振回路１の発振
出力は検波平滑回路２で検波され、さらに平滑化されて
コンパレータ３で基準値と比較され、この出力が検出信
号として出力回路４に印加され、出力回路４の図示しな
いトランジスタをオンさせてリレー10を動作させる。
す。ここで近接スイッチは、発振回路１、検波平滑回路
２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路５を備え、
電源端子6,7の間に接続された外部電源８により駆動さ
れる。端子６および出力回路４の出力端の間に例えばプ
ログラマブルコントローラに付属するリレー10が接続さ
れる。発振回路１は検出コイル11およびコンデンサ12か
らなる共振回路を有し、この共振回路の共振周波数で一
定電圧の発振をしている。検出コイル11に金属体のよう
な被検出物体13が接近するとこの被検出物体13で発振回
路１のエネルギーが消費され、発振回路１はその発振電
圧が減衰し、または発振を停止する。発振回路１の発振
出力は検波平滑回路２で検波され、さらに平滑化されて
コンパレータ３で基準値と比較され、この出力が検出信
号として出力回路４に印加され、出力回路４の図示しな
いトランジスタをオンさせてリレー10を動作させる。
上述のような近接スイッチでは、内部回路に故障がある
と被検出物体がこの近接スイッチに接近しているか否か
に関係なく、出力端子からオンまたはオフの信号が継続
して出力されるという問題があり、例えばこの近接スイ
ッチにより駆動されるリレーを介して入力信号が印加さ
れるプログラマブルコントローラのような主装置の動作
に重大な影響を与えるおそれがあった。このため近接ス
イッチの機能が正常であるかどうかをテストする必要が
ある。近接スイッチの動作をテストするために人為的に
被検出物体を接近または離反させることも考えられる
が、この方法はテストに手間がかかり主装置を比較的長
い時間停止しなければならないという欠点があった。
と被検出物体がこの近接スイッチに接近しているか否か
に関係なく、出力端子からオンまたはオフの信号が継続
して出力されるという問題があり、例えばこの近接スイ
ッチにより駆動されるリレーを介して入力信号が印加さ
れるプログラマブルコントローラのような主装置の動作
に重大な影響を与えるおそれがあった。このため近接ス
イッチの機能が正常であるかどうかをテストする必要が
ある。近接スイッチの動作をテストするために人為的に
被検出物体を接近または離反させることも考えられる
が、この方法はテストに手間がかかり主装置を比較的長
い時間停止しなければならないという欠点があった。
本発明の目的は、被検出物体が検出コイルに接近してい
るか否かにかかわらず、簡単な方法で近接スイッチの機
能が正常か否かを外部からテストできるテスト回路を有
する近接スイッチを提供することにある。
るか否かにかかわらず、簡単な方法で近接スイッチの機
能が正常か否かを外部からテストできるテスト回路を有
する近接スイッチを提供することにある。
前述の目的を達成するため本発明は、検出コイルを有す
る発振回路を備え、前記検出コイルの近傍を被検出物体
が通過すると前記発振回路の発振が減衰または増加して
検出信号を発する近接スイッチにおいて、テストスイッ
チが接続される１個のテスト端子を有し、このテスト端
子に接続されたテストスイッチが操作されてテスト信号
が入力する都度前記検出信号を記憶し、前記テスト信号
が入力している間のみ前記記憶された検出信号を前記発
振回路にフィードバックしてその検出信号の状態に応じ
て発振回路の増幅度を向上または低減させて検出信号の
状態を反転させるテスト回路を設けたことを特徴とす
る。
る発振回路を備え、前記検出コイルの近傍を被検出物体
が通過すると前記発振回路の発振が減衰または増加して
検出信号を発する近接スイッチにおいて、テストスイッ
チが接続される１個のテスト端子を有し、このテスト端
子に接続されたテストスイッチが操作されてテスト信号
が入力する都度前記検出信号を記憶し、前記テスト信号
が入力している間のみ前記記憶された検出信号を前記発
振回路にフィードバックしてその検出信号の状態に応じ
て発振回路の増幅度を向上または低減させて検出信号の
状態を反転させるテスト回路を設けたことを特徴とす
る。
本発明によるテスト回路は、近接スイッチが検出して出
力した検出信号をテストスイッチが操作される都度記憶
し、この記憶された検出信号を発振回路にフィードバッ
クし、外部からのテスト信号が入力している間のみ発振
回路の増幅度を変化させることにより、検出コイルに被
検出物体が接近して発振電圧が低いときでもこれを強制
的に大きくし、被検出物体が検出コイルから十分離れて
発振電圧が高いときでもこれを強制的に減衰させ、被検
出物体が検出コイルに接近しているか否かにかかわらず
近接スイッチのテストを行える。
力した検出信号をテストスイッチが操作される都度記憶
し、この記憶された検出信号を発振回路にフィードバッ
クし、外部からのテスト信号が入力している間のみ発振
回路の増幅度を変化させることにより、検出コイルに被
検出物体が接近して発振電圧が低いときでもこれを強制
的に大きくし、被検出物体が検出コイルから十分離れて
発振電圧が高いときでもこれを強制的に減衰させ、被検
出物体が検出コイルに接近しているか否かにかかわらず
近接スイッチのテストを行える。
第１図に本発明による近接スイッチの実施例を示し、第
２図と同一のものには第２図と同一の符号を付し詳細な
説明を省略した。第１図において、14は第２図に示した
回路と全く同じ近接スイッチであり、発振回路１、検波
平滑回路２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路５
などを備えている。出力回路４はコンパレータ３の出力
端が抵抗16を介してトランジスタ17のベースに接続され
コンパレータ３の検出信号でスイッチング用トランジス
タ17が閉じる。このトランジスタ17のコレクタには第２
図と同様にリレー10が接続されている。発振回路１は後
述するようにこの近接スイッチの検出信号がフィードバ
ックされることによりその発振電圧が制御される。テス
ト回路18はＤ形フリップフロップ19およびスリーステー
トバッファ回路20を備え、フリップフロップ19の入力端
子Ｄはコンパレータ３の出力端に接続され、クロック端
子Ｔはテスト端子21とテストスイッチ22を介して外部電
源８の負極に接続され、出力端子Ｑはスリーステートバ
ッファ回路20の入力端に接続され、このスリーステート
バッファ回路20の出力端はこの出力を発振回路１にフィ
ードバックするように接続されている。またバッファ回
路20の制御端子にはフリップフロップ19のクロック端子
Ｔが接続されて、テスト信号が印加される。フリップフ
ロップ19はそのクロック端子Ｔにテスト信号が印加され
るとそのとき入力端子Ｄに印加されている検出信号が出
力端子Ｑに出力され、バッファ回路20に入力する。バッ
ファ回路20はその制御端子にテスト信号が印加されたと
きのみ入力端に入力した検出信号がその出力端に伝達さ
れ、制御端子にテスト信号が入力しないときは、その出
力回路は入力に関係なくハイインピーダンスとなって発
振回路１の増幅度への影響を無くしている。
２図と同一のものには第２図と同一の符号を付し詳細な
説明を省略した。第１図において、14は第２図に示した
回路と全く同じ近接スイッチであり、発振回路１、検波
平滑回路２、コンパレータ３、出力回路４、電源回路５
などを備えている。出力回路４はコンパレータ３の出力
端が抵抗16を介してトランジスタ17のベースに接続され
コンパレータ３の検出信号でスイッチング用トランジス
タ17が閉じる。このトランジスタ17のコレクタには第２
図と同様にリレー10が接続されている。発振回路１は後
述するようにこの近接スイッチの検出信号がフィードバ
ックされることによりその発振電圧が制御される。テス
ト回路18はＤ形フリップフロップ19およびスリーステー
トバッファ回路20を備え、フリップフロップ19の入力端
子Ｄはコンパレータ３の出力端に接続され、クロック端
子Ｔはテスト端子21とテストスイッチ22を介して外部電
源８の負極に接続され、出力端子Ｑはスリーステートバ
ッファ回路20の入力端に接続され、このスリーステート
バッファ回路20の出力端はこの出力を発振回路１にフィ
ードバックするように接続されている。またバッファ回
路20の制御端子にはフリップフロップ19のクロック端子
Ｔが接続されて、テスト信号が印加される。フリップフ
ロップ19はそのクロック端子Ｔにテスト信号が印加され
るとそのとき入力端子Ｄに印加されている検出信号が出
力端子Ｑに出力され、バッファ回路20に入力する。バッ
ファ回路20はその制御端子にテスト信号が印加されたと
きのみ入力端に入力した検出信号がその出力端に伝達さ
れ、制御端子にテスト信号が入力しないときは、その出
力回路は入力に関係なくハイインピーダンスとなって発
振回路１の増幅度への影響を無くしている。
検出コイル11に被検出物体が接近し、発振回路１の発振
電圧が低下すると、この電圧が検波平滑回路２を介して
コンパレータ３に印加され、コンパレータ３の出力端か
らハイレベルの検出信号が出力する。したがって、トラ
ンジスタ17はオンし、リレー10に通電する。この状態で
この近接スイッチをテストするためにスイッチ22を閉じ
るとフリップフロップ19のクロック端子の印加電圧が立
下がり、この立下がり時にフリップフロップ19の入力端
子Ｄにハイレベルの検出信号が印加されているからフリ
ップフロップ19はこのハイレベルの検出信号を記憶し、
出力端子Ｑにハイレベルの信号を出力する。このときバ
ッファ回路20はその制御端子に負の印加電圧が印加され
て禁止入力が解除されているのでハイレベルの検出信号
がそのまま出力され、この信号が発振回路１にフィード
バックされる。これにより発振回路１の増幅度は高くな
り、この発振電圧は被検出物体13が接近していないとき
と同じ状態にまで高められる。したがってトランジスタ
17はオフし、リレー10の電流は断たれる。このときフリ
ップフロップ19の入力端子Ｄの信号はローレベルに反転
するがクロック端子Ｔに印加される信号の立下がりがな
ければ、すなわち第２回目のテストスイッチ22の操作が
行なわれなければ出力端子Ｑの信号は不変である。ここ
でスイッチ22を開くとバッファ回路20の出力回路はハイ
インピーダンスになり、発振回路１は通常の状態に戻
る。
電圧が低下すると、この電圧が検波平滑回路２を介して
コンパレータ３に印加され、コンパレータ３の出力端か
らハイレベルの検出信号が出力する。したがって、トラ
ンジスタ17はオンし、リレー10に通電する。この状態で
この近接スイッチをテストするためにスイッチ22を閉じ
るとフリップフロップ19のクロック端子の印加電圧が立
下がり、この立下がり時にフリップフロップ19の入力端
子Ｄにハイレベルの検出信号が印加されているからフリ
ップフロップ19はこのハイレベルの検出信号を記憶し、
出力端子Ｑにハイレベルの信号を出力する。このときバ
ッファ回路20はその制御端子に負の印加電圧が印加され
て禁止入力が解除されているのでハイレベルの検出信号
がそのまま出力され、この信号が発振回路１にフィード
バックされる。これにより発振回路１の増幅度は高くな
り、この発振電圧は被検出物体13が接近していないとき
と同じ状態にまで高められる。したがってトランジスタ
17はオフし、リレー10の電流は断たれる。このときフリ
ップフロップ19の入力端子Ｄの信号はローレベルに反転
するがクロック端子Ｔに印加される信号の立下がりがな
ければ、すなわち第２回目のテストスイッチ22の操作が
行なわれなければ出力端子Ｑの信号は不変である。ここ
でスイッチ22を開くとバッファ回路20の出力回路はハイ
インピーダンスになり、発振回路１は通常の状態に戻
る。
被検出物体13が接近していないとき、スイッチ22を閉じ
ると、コンパレータ３の出力すなわち検出信号はローレ
ベルでこの信号をフリップフロップ19が記憶するととも
にバッファ回路20を介して発振回路１にフィードバック
され、この信号がローレベルであるから発振回路１の増
幅度は低減し、発振電圧は被検出物体13があたかも検出
コイル11に接近しているときと同じ状態に低下し、各回
路2,3が動作してトランジスタ17がオンする。
ると、コンパレータ３の出力すなわち検出信号はローレ
ベルでこの信号をフリップフロップ19が記憶するととも
にバッファ回路20を介して発振回路１にフィードバック
され、この信号がローレベルであるから発振回路１の増
幅度は低減し、発振電圧は被検出物体13があたかも検出
コイル11に接近しているときと同じ状態に低下し、各回
路2,3が動作してトランジスタ17がオンする。
もし、検出コイル11からトランジスタ17までの間に断
線，短絡などの故障があった場合は、上述のように被検
出物体の接近，離反の２つのモードのうちのいずれかで
テストスイッチ22を閉じたとき、リレー10の通電が反転
することなく、近接スイッチが故障していることが分か
る。なおテスト回路18そのものが故障を生じても同様な
結果が得られる。さらにスイッチ22がリレー接点などで
チャタリングを生じる場合は、テスト結果に誤りを生ず
ることもあるがこの場合はコンパレータ３の出力とフリ
ップフロップ19との間に時限回路を設ければ解決でき
る。
線，短絡などの故障があった場合は、上述のように被検
出物体の接近，離反の２つのモードのうちのいずれかで
テストスイッチ22を閉じたとき、リレー10の通電が反転
することなく、近接スイッチが故障していることが分か
る。なおテスト回路18そのものが故障を生じても同様な
結果が得られる。さらにスイッチ22がリレー接点などで
チャタリングを生じる場合は、テスト結果に誤りを生ず
ることもあるがこの場合はコンパレータ３の出力とフリ
ップフロップ19との間に時限回路を設ければ解決でき
る。
本発明によれば、近接スイッチの検出信号をテスト回路
に記憶させ、この信号をテスト信号で発振回路にフィー
ドバックすることにより被検出物体の有無にかかわら
ず、検出信号を反転させることを可能にし、外部に接続
されたリレーなどの負荷をチェックすることにより近接
スイッチの故障の有無をテストできる。したがって、こ
の近接スイッチを使用する装置を稼動する直前、または
装置に異常が生じた場合に、この近接スイッチの動作を
簡単にテストすることができる。
に記憶させ、この信号をテスト信号で発振回路にフィー
ドバックすることにより被検出物体の有無にかかわら
ず、検出信号を反転させることを可能にし、外部に接続
されたリレーなどの負荷をチェックすることにより近接
スイッチの故障の有無をテストできる。したがって、こ
の近接スイッチを使用する装置を稼動する直前、または
装置に異常が生じた場合に、この近接スイッチの動作を
簡単にテストすることができる。
第１図は本発明による近接スイッチの一実施例を示し、
主要部結線図を含むブロック図、第２図は従来の近接ス
イッチの一例を示すブロック図である。 1:発振回路、11:検出コイル、18:テスト回路、22:テス
トスイッチ。
主要部結線図を含むブロック図、第２図は従来の近接ス
イッチの一例を示すブロック図である。 1:発振回路、11:検出コイル、18:テスト回路、22:テス
トスイッチ。
Claims (1)
- 【請求項１】検出コイルを有する発振回路を備え、前記
検出コイルの近傍を被検出物体が通過すると前記発振回
路の発振が減衰または増加して検出信号を発する近接ス
イッチにおいて、テストスイッチが接続される１個のテ
スト端子を有し、このテスト端子に接続されたテストス
イッチが操作されてテスト信号が入力する都度前記検出
信号を記憶し、前記テスト信号が入力している間のみ前
記記憶された検出信号を前記発振回路にフィードバック
してその検出信号の状態に応じて発振回路の増幅度を向
上または低減させて検出信号の状態を反転させるテスト
回路を設けたことを特徴とする近接スイッチ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62266804A JPH0770982B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | 近接スイッチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62266804A JPH0770982B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | 近接スイッチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01109823A JPH01109823A (ja) | 1989-04-26 |
| JPH0770982B2 true JPH0770982B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=17435908
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62266804A Expired - Fee Related JPH0770982B2 (ja) | 1987-10-22 | 1987-10-22 | 近接スイッチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0770982B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH083068Y2 (ja) * | 1990-06-15 | 1996-01-29 | サンクス株式会社 | 光電スイッチ |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3007929C2 (de) * | 1980-03-01 | 1986-10-23 | Gebhard Balluff, Fabrik Feinmechanischer Erzeugnisse, 7303 Neuhausen | Berührungslos steuerbarer Näherungsschalter |
-
1987
- 1987-10-22 JP JP62266804A patent/JPH0770982B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01109823A (ja) | 1989-04-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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