JPH01112600A - 記憶素子の寿命判定装置 - Google Patents
記憶素子の寿命判定装置Info
- Publication number
- JPH01112600A JPH01112600A JP62269608A JP26960887A JPH01112600A JP H01112600 A JPH01112600 A JP H01112600A JP 62269608 A JP62269608 A JP 62269608A JP 26960887 A JP26960887 A JP 26960887A JP H01112600 A JPH01112600 A JP H01112600A
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- Japan
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- memory element
- data
- writes
- write
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- Pending
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はE2FROMなどの半導体不揮発性記憶素子が
制御回数を越えて使用されることがないようにした記憶
素子の寿命’l’lJ定装置に関する。
制御回数を越えて使用されることがないようにした記憶
素子の寿命’l’lJ定装置に関する。
従来の技術
従来の記憶素子の寿命ヤJ定装置としては、例えば特開
昭62−200800号公報にある第5図のような構成
が提案されている。第5図中1は、中央演算処理装置(
以下CPUと略す)である。
昭62−200800号公報にある第5図のような構成
が提案されている。第5図中1は、中央演算処理装置(
以下CPUと略す)である。
今、E 2 F ROMなどの記憶素子2にデータを書
き込む必要があるとき、CPU1はリード/ライト制御
装置3に書き込み信号WRを送出するとともに、乱数発
生器5を参照し、一定確率で起こる事象に遭遇した場合
にのみ、記憶素子2内の1個の書き込み回数カウントエ
リアの内容を更新し、この更新値にもとづき記憶素子2
への書き込み回数が制限値に達したか否かを1’lJ断
するものである。
き込む必要があるとき、CPU1はリード/ライト制御
装置3に書き込み信号WRを送出するとともに、乱数発
生器5を参照し、一定確率で起こる事象に遭遇した場合
にのみ、記憶素子2内の1個の書き込み回数カウントエ
リアの内容を更新し、この更新値にもとづき記憶素子2
への書き込み回数が制限値に達したか否かを1’lJ断
するものである。
さらに書き込み回数が制限値に達した時、記憶素子2中
の未使用データエリアがなければ、記憶素子2の寿命と
ヤj断し警報装置4から外部に警報を発するしくみにな
っている。なお、記憶素子2はE2PROM(7)ほか
、EAROM−?NVRAMなどの半導体不揮発性メモ
リであり、書き込み回数の限界値が例えばルジスタにつ
き(すなわち各アドレスごとに)10000回までとな
っている。
の未使用データエリアがなければ、記憶素子2の寿命と
ヤj断し警報装置4から外部に警報を発するしくみにな
っている。なお、記憶素子2はE2PROM(7)ほか
、EAROM−?NVRAMなどの半導体不揮発性メモ
リであり、書き込み回数の限界値が例えばルジスタにつ
き(すなわち各アドレスごとに)10000回までとな
っている。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら上記のような構成では、データ書き込み時
に更新される内容を格納するカウントエリアは第6図の
メモリマツプに示されるように、各アドレスごとに対応
して設けられてはいない。
に更新される内容を格納するカウントエリアは第6図の
メモリマツプに示されるように、各アドレスごとに対応
して設けられてはいない。
そのため記lJ!素子2に対して合計何回の書き込み動
作がなされたかは知ることができるが、頃発に書き込み
動作がなされるアドレスとそうでないアドレスとの差異
を識別し、各アドレスごとの書き込み回数をカウントで
きない、すなわち記憶素子が保証している本当の限界値
を把握できないという問題点を有していた。
作がなされたかは知ることができるが、頃発に書き込み
動作がなされるアドレスとそうでないアドレスとの差異
を識別し、各アドレスごとの書き込み回数をカウントで
きない、すなわち記憶素子が保証している本当の限界値
を把握できないという問題点を有していた。
本発明はかかる従来の問題を解消するもので、この記憶
素子にデータを書き込むごとに、対応する各アドレスの
書き込み回数を更新し、その内容を合わせて記憶素子に
書き込むことによって、各アドレスごとに制御値を越え
て記憶素子へ嘗き込むことを未然に防止することを目的
とする。
素子にデータを書き込むごとに、対応する各アドレスの
書き込み回数を更新し、その内容を合わせて記憶素子に
書き込むことによって、各アドレスごとに制御値を越え
て記憶素子へ嘗き込むことを未然に防止することを目的
とする。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明の記憶素子の寿命判
定装置は、記憶素子の所定数のデータエリアの中で、書
き込み/読み出しされる任意データの格納されるデータ
エリアと、そのデータエリアに1対1で対応する書き込
み回数カウントエリアを設けることによって、各アドレ
スごとの書き込み回数を把握するという構成を備えたも
のである。
定装置は、記憶素子の所定数のデータエリアの中で、書
き込み/読み出しされる任意データの格納されるデータ
エリアと、そのデータエリアに1対1で対応する書き込
み回数カウントエリアを設けることによって、各アドレ
スごとの書き込み回数を把握するという構成を備えたも
のである。
作 用
本発明は上記した構成によって、記憶素子への書き込み
回数合計だけではなく各アドレスごとに独立して書き込
み回数を把握できるため、その記憶素子で定められてい
る寿命を最大限に生かすことになる。例えば、あるアド
レスへの書き込み回数だけが制限数を越えた場合、該当
するデータエリア及びカウントエリアのみを記憶素子内
の未使用エリアに切り換えたり、警報を発することがで
きる。
回数合計だけではなく各アドレスごとに独立して書き込
み回数を把握できるため、その記憶素子で定められてい
る寿命を最大限に生かすことになる。例えば、あるアド
レスへの書き込み回数だけが制限数を越えた場合、該当
するデータエリア及びカウントエリアのみを記憶素子内
の未使用エリアに切り換えたり、警報を発することがで
きる。
実施例
以下、本発明の実施例を添付図面にもとすいて説明する
。、第1図は記憶素子の寿命判定装置を示すブロック図
であり、第2図は記憶素子のメモリマツプ図である。例
えばn個あるデータエリアに対し、各々のデータエリア
の一部をカウントエリアに割りあてるものとする。すな
わち各アドレスAi(i二1.n)にはデータDiおよ
び書き込み回数Ciが複合された構成で格納されている
。
。、第1図は記憶素子の寿命判定装置を示すブロック図
であり、第2図は記憶素子のメモリマツプ図である。例
えばn個あるデータエリアに対し、各々のデータエリア
の一部をカウントエリアに割りあてるものとする。すな
わち各アドレスAi(i二1.n)にはデータDiおよ
び書き込み回数Ciが複合された構成で格納されている
。
まずCPU1が記憶素子2のアドレスAtにデータD
i’の書き込みをする必要が生じた七きの処理を第3図
フローチャートにしたがって説明する。
i’の書き込みをする必要が生じた七きの処理を第3図
フローチャートにしたがって説明する。
CPU1はリード/ライト制御装置3に対し、アドレス
Atを指定して読み出し要求信号DRを送出する。次に
記憶素子2は、リード/ライト制御装置3からこの要求
信号を受け、以前からアドレスAtに格納されているデ
ータDiie込み回数Ciの内容をリード/ライト制御
装置3に受は渡す。そこでCPU1はこれを読み取りデ
ータDiを新たに書き込みたい内容Di’に置きかえる
とともに、書き込み回数Ciのカウントデータをインク
リメントしてci’とすム(Ci’=Ci+1)このよ
うに新たにアドレスAiに格納すべきデータD(および
書き込み回数Ci’の内容を構成して、CPU1はリー
ド/ライト制御装置3に書き込み要求信号WRを送出す
る。これを受けてリード/ライト制御装置3は記憶素子
2のアドレスAtに対し新たに構成された内容(Di’
およびCi’)を書き込む。ところで、もしCPU1が
データDtおよび書き込み回数Ciの内容を読み出した
時点で書き込み回数Ciが制限値に達していた場合は、
Atデータエリアは抹消し警報装置6によって外部に報
知する等の異常処理に入るものである。ここで書き込み
回数Ciの更ffr(インクメント)は、毎回の書き込
み動作ごとではなく、例えば10回や100回に1度行
なうものとしてもよい。
Atを指定して読み出し要求信号DRを送出する。次に
記憶素子2は、リード/ライト制御装置3からこの要求
信号を受け、以前からアドレスAtに格納されているデ
ータDiie込み回数Ciの内容をリード/ライト制御
装置3に受は渡す。そこでCPU1はこれを読み取りデ
ータDiを新たに書き込みたい内容Di’に置きかえる
とともに、書き込み回数Ciのカウントデータをインク
リメントしてci’とすム(Ci’=Ci+1)このよ
うに新たにアドレスAiに格納すべきデータD(および
書き込み回数Ci’の内容を構成して、CPU1はリー
ド/ライト制御装置3に書き込み要求信号WRを送出す
る。これを受けてリード/ライト制御装置3は記憶素子
2のアドレスAtに対し新たに構成された内容(Di’
およびCi’)を書き込む。ところで、もしCPU1が
データDtおよび書き込み回数Ciの内容を読み出した
時点で書き込み回数Ciが制限値に達していた場合は、
Atデータエリアは抹消し警報装置6によって外部に報
知する等の異常処理に入るものである。ここで書き込み
回数Ciの更ffr(インクメント)は、毎回の書き込
み動作ごとではなく、例えば10回や100回に1度行
なうものとしてもよい。
また第2図のメモリマツプのように一つのアドレスAt
のデータエリア内の構成をデータDi部分と書き込み回
数Ci部分′に分割するのではなく、例えば第4図のメ
モリマツプに示すように、2つのアドレスA2i 1
.A21(i=1〜n/2)のデータエリアを各々デー
タDi部分、書き込み回数Ci部分に対応させる方法も
考えられる。
のデータエリア内の構成をデータDi部分と書き込み回
数Ci部分′に分割するのではなく、例えば第4図のメ
モリマツプに示すように、2つのアドレスA2i 1
.A21(i=1〜n/2)のデータエリアを各々デー
タDi部分、書き込み回数Ci部分に対応させる方法も
考えられる。
上記構成において各アドレスに任意に書き込まれるデー
タのエリアとその書き込み回数カウントエリアが1対1
に対応しているため、記憶素子内のアドレスごとの寿命
判定がなされるよう作用し、その記憶素子で定められて
いる寿命を最大限に生かすことができるという効果があ
る。
タのエリアとその書き込み回数カウントエリアが1対1
に対応しているため、記憶素子内のアドレスごとの寿命
判定がなされるよう作用し、その記憶素子で定められて
いる寿命を最大限に生かすことができるという効果があ
る。
発明の効果
以上のように本発明の記憶素子の寿命判定装置によれば
、アドレスごとに書き込み回数が記憶素子の寿命に達し
たことを自動的に#4J定するような構成としたことに
より、記憶素子の書き込み回数の制限値を気にしないで
システムを構築することができるため′、このような記
憶素子を用いたシステム全体の動作安定性、信頼性を向
上できるという効果がある。
、アドレスごとに書き込み回数が記憶素子の寿命に達し
たことを自動的に#4J定するような構成としたことに
より、記憶素子の書き込み回数の制限値を気にしないで
システムを構築することができるため′、このような記
憶素子を用いたシステム全体の動作安定性、信頼性を向
上できるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例における記憶素子の寿命′l
!Iノ定装置のブロック図、第2図は同装置の記憶素子
内のメモリマツプ図、第3図は同寿命!l!IJ定処理
のフローチャートへ1第4図は回能のス施例における記
憶素子内のメモリマツプ図、第5図は従来の記憶素子の
寿命判断装置のブロック図、第6図は従来の記憶素子内
のメモリマツプ図である。 1・・・・・・CPU、2・・・・・・記憶素子、3・
・・・・・リード/ライト制御装置、4・・・・・・警
報装置。
!Iノ定装置のブロック図、第2図は同装置の記憶素子
内のメモリマツプ図、第3図は同寿命!l!IJ定処理
のフローチャートへ1第4図は回能のス施例における記
憶素子内のメモリマツプ図、第5図は従来の記憶素子の
寿命判断装置のブロック図、第6図は従来の記憶素子内
のメモリマツプ図である。 1・・・・・・CPU、2・・・・・・記憶素子、3・
・・・・・リード/ライト制御装置、4・・・・・・警
報装置。
Claims (1)
- 書き込み回数に制限がある記憶素子と、この記憶素子
にデータを書き込んだり、この書き込んだデータを読み
み出したりするためのリード/ライト制御装置と、前記
記憶素子にデータの書き込みに際し、各データの格納さ
れるアドレスごとに書き込み回数を付与したデータ構成
で、前記リード/ライト制御装置に書き込み指示を与え
、前記記憶素子の各データごとの書き込み回数が制限値
に達したか否かを判断する中央演算処理装置と、前記中
央演算処理装置に接続され、書き込み回数が制限値に達
した場合、外部に報知する警報装置とを備えた記憶素子
の寿命判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62269608A JPH01112600A (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | 記憶素子の寿命判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62269608A JPH01112600A (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | 記憶素子の寿命判定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01112600A true JPH01112600A (ja) | 1989-05-01 |
Family
ID=17474727
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62269608A Pending JPH01112600A (ja) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | 記憶素子の寿命判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01112600A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0478946A (ja) * | 1990-07-20 | 1992-03-12 | Nec Corp | メモリーの監視方式 |
| JPH04271098A (ja) * | 1991-02-25 | 1992-09-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | メモリカードにおけるデータ記録方法およびメモリカードシステム |
| US5815440A (en) * | 1992-12-03 | 1998-09-29 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device with electrically controllable threshold voltage |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS626499A (ja) * | 1985-07-03 | 1987-01-13 | Fuji Electric Co Ltd | Eepromの寿命監視方式 |
-
1987
- 1987-10-26 JP JP62269608A patent/JPH01112600A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS626499A (ja) * | 1985-07-03 | 1987-01-13 | Fuji Electric Co Ltd | Eepromの寿命監視方式 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0478946A (ja) * | 1990-07-20 | 1992-03-12 | Nec Corp | メモリーの監視方式 |
| JPH04271098A (ja) * | 1991-02-25 | 1992-09-28 | Fuji Photo Film Co Ltd | メモリカードにおけるデータ記録方法およびメモリカードシステム |
| US5815440A (en) * | 1992-12-03 | 1998-09-29 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device with electrically controllable threshold voltage |
| US6288945B1 (en) | 1992-12-03 | 2001-09-11 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6414874B2 (en) | 1992-12-03 | 2002-07-02 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6563738B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-05-13 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6611464B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-08-26 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6618288B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-09-09 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
| US6646920B2 (en) | 1992-12-03 | 2003-11-11 | Fujitsu Limited | Nonvolatile semiconductor memory device having electrically and collectively erasable characteristics |
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