JPH01117280A - スプリングプローブピン用ソケット - Google Patents

スプリングプローブピン用ソケット

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JPH01117280A
JPH01117280A JP27504487A JP27504487A JPH01117280A JP H01117280 A JPH01117280 A JP H01117280A JP 27504487 A JP27504487 A JP 27504487A JP 27504487 A JP27504487 A JP 27504487A JP H01117280 A JPH01117280 A JP H01117280A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
spring probe
probe pin
socket
hole
spring
Prior art date
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Pending
Application number
JP27504487A
Other languages
English (en)
Inventor
Yusuke Watabe
渡部 雄助
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、スプリングプローブピン用ソケットに関し、
特にプリント基板又は電子部品の搭載されたプリント基
板の試験等に使用されるスプリングプローブピン用ソケ
ットに関する。
(従来の技術) 従来のスプリングプローブピン用ソケットは、導電率の
高い物質だけで作られており、高密度実装に際しては、
そのソケットを埋め込むピンボードの穴位置精度を出す
ことと、埋め込むビンボードに対して直角であること等
の細心の注意を要する。
しかし、被試験物側の形状やスプリンググローブピンに
加わる力の強さ等によってスプリングプローブピン用ソ
ケットが曲がってしまい、隣接する他のスプリングプロ
ーブピン用ソケットと接触する可能性が高かった。
(発明が解決しようとする問題点) 前述した従来のスプリンググローブビン用ソケットの場
合、ソケット全体が導体であるから、高密度実装時に隣
接する他のスプリングプローブピン用ソケットと接触し
、通電した場合短絡するという問題がある。
(問題点を解決するための手段) 前述の問題点を解決するために本発明が提供する手段は
、スプリングプローブピンを挿着する穴が導体に設けで
あるスプリングプローブピン用ソケットにおいて、前記
導体が絶縁物で被覆してあることを特徴とする。
(実施例) 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のスプリングプローブピン用
ソケットを示す破断面図、第2図は第1図のスプリング
プローブピン用ソケットの使用状態を示す断面図である
。
図中、1はスプリング10−ブピン用ソケツト、2は絶
縁物、3は導体、4はスプリングプローブピン、5は配
線、6はビンボード、7は被試験プリント基板、8は電
子部品、9ははんだ、10は穴である。
本実施例のスプリング10−ブピン用ソケツト1は、第
1図に示すように、スプリング10−ブピン4の挿着用
の穴10を導体3に設け、その導体3に絶縁物2を被覆
してなる。
本実施例のスプリングプローブピン用ソケット1を使用
するには、第2図に示すように、電子部品8が実装しで
あるプリント基板7の下方に配置したピンボード6に、
2本のスプリングプローブピン用ソケット1,11を貫
通させて設ける1次に、各スプリングプローブピン用ソ
ケ、ット1.11の一端部の穴10にスプリングプロー
ブピン4をそれぞれ挿着し、他端部に配線5をそれぞれ
接続する。
このとき、スプリンググローブビン4の先端は被試験プ
リント基板7のはんだ9に接触している。
本実施例のスプリングプローブピン用ソケット1.11
によれば、導体3が絶縁被覆しであるので、第2図に示
すように、スプリングプローブピン4に大きな力が加わ
って変型し、互いに隣接するソケット1同士が接触した
としても、短絡事故は生じない。
(発明の効果) 以上に説明したように本発明のスプリングプローブピン
用ソケットによれば、変形して隣接する他のソケットに
接触したとしても、短絡事故が生じないので、例えば電
子部品を高密度実装したプリント基板等の試験を安全か
つ容易に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のスプリングプローブピン用
ソケットを示す破断面図、第2図は第1図のスプリング
プローブピン用ソケットの使用状態を示す断面図である
。 1・・・スプリング10−ブピン用ソケツト、2・・・
絶縁物、3・・・導体、4・・・スプリングプローブピ
ン、5・・・配線、6・・・ピンボード、7・・・被試
験プリント基板、8・・・電子部品、9・・・はんだ、
10・・・穴。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. スプリングプローブピンを挿着する穴が導体に設けてあ
    るスプリングプローブピン用ソケットにおいて、前記導
    体が絶縁物で被覆してあることを特徴とするスプリング
    プローブピン用ソケット。
JP27504487A 1987-10-29 1987-10-29 スプリングプローブピン用ソケット Pending JPH01117280A (ja)

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JP27504487A JPH01117280A (ja) 1987-10-29 1987-10-29 スプリングプローブピン用ソケット

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JPH01117280A true JPH01117280A (ja) 1989-05-10

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JP27504487A Pending JPH01117280A (ja) 1987-10-29 1987-10-29 スプリングプローブピン用ソケット

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