JPH01130232A - マイクロコンピュータ - Google Patents

マイクロコンピュータ

Info

Publication number
JPH01130232A
JPH01130232A JP62289913A JP28991387A JPH01130232A JP H01130232 A JPH01130232 A JP H01130232A JP 62289913 A JP62289913 A JP 62289913A JP 28991387 A JP28991387 A JP 28991387A JP H01130232 A JPH01130232 A JP H01130232A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
test
microcomputer
unit
instruction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62289913A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0758473B2 (ja
Inventor
Masaki Nasu
雅樹 那須
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP62289913A priority Critical patent/JPH0758473B2/ja
Publication of JPH01130232A publication Critical patent/JPH01130232A/ja
Publication of JPH0758473B2 publication Critical patent/JPH0758473B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Microcomputers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、内部にテスト用の回路を含むマイクロコンピ
ュータに関する。
〔従来例〕
一般にマイクロコンピュータは、製造工程1組立て工程
において発生する不良の検出を容易に行うことができる
様にテスト用の回路を内蔵している。従来、マイクロコ
ンピュータのテストを行う場合は、マイクロコンピュー
タに命令を実行させ、それと同時に内部データバス上に
流れるデータ等の内部情報をテスト用の回路を経由して
端子より外部に出力し、外部でこの出力値を期待値と照
合するという手法が行われている。
一方、マイクロコンピュータの性能に対する要求が高く
なるに伴なって、マイクロコンピュータ内部を複数のユ
ニットに分割し、パイプライン制御を用いた高度なマイ
クロコンピュータが近年増加している。
この種のマイクロコンピュータの動作を第3図のブロッ
ク図を参照して説明する。
第3図に示すマイクロコンピュータ300は、外部のメ
モリより先読みした命令コードを蓄えておく命令キュー
110と、命令コードに基づき、データの演算、転送処
理を行う実行ユニ、yト120と、外部メモリとマイク
ロコンピュータ300との間のデータ、命令コードの転
送の制御を行うバス制御ユニット130とから構成され
、実行ユニッ)120.バス制御ユニット130は、メ
モリアクセスに伴うデータ転送を行うためのデータバス
200(以下、Dバスと記す。)により相互に接続され
ている。
また、マイクロコンピュータ300は入力端子として、
マイクロコンピュータ300が内部のテスト回路を動作
させるテストモードと、通常ノ命令実行を行う通常モー
ドのどちらのモードで動作するかを指定する動作モード
指定端子301を有し、又、テストモード時に実行ユニ
ット120の内部データバス上のデータを外部に出力す
る内部状態出力端子を有している。動作モード指定端子
301に0が入力した場合、マイクロコンピュータ30
0は通常モードで動作し、1が入力した場合、テストモ
ードで動作を行う。
実行ユニッ)120は命令実行に伴い、外部メモリとの
データリード/ライトを行う場合、バス制御ユニット1
30にバスサイクルの起動を要求するリード/ライト要
求信号140,141  (以下それぞれLDRQ信号
、5TRQ信号と記す。)をアクティブにし、バス制御
ユニット130が要求したバスサイクルを起動するとイ
ンアクティブにする。また、実行ユニット120は命令
キュー110へ、命令コードの転送を要求する命令コー
ド要求信号143(以下QRD信号と記す。)を出力す
る。命令キュー110はQRD信号143がアクティブ
になると、命令コードをキュー出力バス210(以下Q
Oババス記す。)を経由して、実行ユニツ)120へ転
送する。また、命令キュー110は、バス制御ユニット
130へ、命令キュー110内の命令コードが一杯であ
ることを示すキューフル信号142(以下QFUL信号
と記す。)を出力し、バス制御ユニット130はQFU
L信号142がインアクティブの時に命令コードの先読
みを行い、命令バス220(以下エバスと記す。)を経
由して命令キュー110に命令コードを転送する。
更に、バス制御ユニット130は、LDRQ信号140
,5TRQ信号141.QF’UL信号142の状態よ
りバス制御ユニット130が行う処理を決定する調停回
路135.調停回路135での選択に従いバスサイクル
信号を発生するタイミング発生回路136を有している
調停回路135は、LDRQ信号140,5TRQ信号
141がアクティブまたはQFUL信号142がインア
クティブである場合に、外部メモリからのデータリード
、外部メモリへのデータライト、外部メモリからの命令
コードの読み出しく以下、それぞれMRD処理、MWR
処理、FET処理と記す。)の3種類の処理のうちどの
処理を行うかを選択する。複数の要求が有る場合は5T
RQ信号141.LDRQ信号140.QFUL信号1
42の順に優先順位付けをし、どの処理を行うかを選択
する。また、LDRQ信号140.5TRQ信号141
がインアクティブかつQFUL信号142がアクティブ
である場合には、バス制御ユニット130はバスサイク
ルを起動せず、アイドル状態を保つ。
次に、第4図のタイミングチャートに、マイクロコンピ
ュータ300の命令実行時の動作を示す。
第4図のタイミングチャートでは、マイクロコンピュー
タ300が命令1から命令6を実行させた場合の動作を
示している。尚、命令1,5はメモリ書き込みを行う命
令、命令2,6はメモリ読み出しを行う命令、命令3,
4は実行ユニット120内部だけで処理可能な命令であ
る。
バス制御ユニット130内部の、調停回路135は、タ
イミングtl、t2.t6.t7゜t8.tllでは、
LDRQ信号140.STRQ信号141.QFUL信
号142がインアクティブである0であるため、調停回
路135はQFUL信号142を選択し、タイミング発
生回路136はFET処理のバスサイクルを起動し命令
コードの先読みを行う。
タイミングt3では、5TRQ信号141.QFUL信
号142がアクティブで、LDRQ信号140がインア
クティブであるため、調停回路135は5TRQ信号1
41を選択し、タイミング発生回路136はMWR処理
のバスサイクルを起動する。
タイミングt4では、LDRQ信号140.QFUL信
号142がアクティブで、5TRQ信号141がインア
クティブであるため、調停回路135はLDRQ信号1
40を選択し、タイミング発生回路136はMRD処理
のバスサイクルを起動する。
タイミングt9では、LDRQ信号140,5TRQ信
号141がアクティブで、QFUL信号142がインア
クティブであるため、調停回路135は、LDRQ信号
140,5TRQ信号141、QFUL信号142のう
ち、1番優先順位が高い5TRQ信号141を選択し、
タイミング発生回路136はMWR処理のバスサイクル
を起動する。
タイミングtloでは、LDRQ信号140がアクティ
ブで、5TRQ信号141.QFUL信号142がイン
アクティブであるため、調停回路135はLDRQ信号
140.QFUL信号142の内、LDRQ信号140
の法が優先順位が高いため、LDRQ信号140を選択
し、タイミング発生回路136はMRD処理のバスサイ
クルを起動する。
また、タイミングt5からt6の期間はLDRQ信号1
40,5TRQ信号141がインアクティブで、QFU
L信号142がアクティブであり、バスサイクル起動の
要求がないため、バスサイクルは起動されない。
このように、バス制御ユニ、、 ) 130は、命令タ
イミングとは関係なく、バスサイクルが終了、又はアイ
ドルであるタイミングで、入力している要求信号をサン
プルし、最も優先順位の高い要求を選択して、対応する
処理を行う。
次に、以上述べたマイクロフンピユータ300でテスト
を行う場合について説明する。
まず、動作モード指定端子301を1に入力し、マイク
ロコンピュータ300をテストモードにする。この状態
でマイクロコンピュータ300に命令を実行させながら
、内部状態出力端子に出力される実行ユニット120内
部のバス上のデータを外部で観測し期待値と比較を行な
うことにより、マイクロコンピュータ300の動作のチ
エツクをおこなう。
しかし、命令キュー110.バス制御ユニット130が
命令実行とは非同期に動作しているため、命令実行では
、バス制御ユニット130が要求をサンプルするタイミ
ングでのLDRQ信号140.5TRQ信号141.Q
FUL信号142の状態を直接制御することができない
。このため、以上述べた従来の命令実行によるテストで
は、バス制御ユニット130のテストに必要な組合わせ
条件を全て網羅することは非常に困難である。
C発明が解決しようとする問題点〕 以上述べたように、内部の各ユニットが非同期に動作ス
るマイクロコンピュータのテストを行う場合、各ユニッ
トが命令実行とは非同期に動作するため、命令実行では
各ユニットの動作を直接制御することができない。この
ため、マイクロコンピュータに命令を実行させ、その時
の内部データバス上に流れる内部状態を外部端子に出力
し、外部で観測を行うという従来のテスト手法では、チ
エツクを行う必要の有る全ての条件を命令実行により発
生させることは非常に困難であり、この結果、不良を見
逃す可能性があるという欠点を有している。
〔発明の従来技術に対する相違点〕
上述した従来のマイクロコンピュータのテスト回路2手
法に対し、本発明で社テストモード時に、命令実行とは
非同期に動作するテスト対象ユニツトに入力する各種信
号を、命令実行により設定可能なテスト用レジスタより
供給される信号に切替える機能と、ユニット内部の内部
状態を外部端子に出力する機能をマイクロコンピュータ
に付加している。この結果、テスト対象ユニットに入力
する信号値を直接制御できるため、チエツクが必要な条
件を設定することが極めて容易になると同時に、テスト
対象ユニット内部の動作を外部よりリアルタイムで把握
できるため、テスト対象ユニット内部で発生する不良の
検出を容易に出来る様になっている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によるマイクロコンピュータは、相互に非同期に
動作を行う非同期動作手段が相互に命令実行に伴う処理
要求信号を出力し、複数の非同期動作手段は処理要求信
号の状態に従い所定命令の処理を行い、 更に、本マイクロコンピュータは命令実行により設定可
能な記憶手段と、非同期動作手段へ入力する処理要求信
号の選択を行う選択手段と、非同期動作手段の内部状態
を外部端子に出力する状態出力手段を有し、 選択手段が、非同期動作手段に入力する処理要求信号を
、記憶手段の設定値を出力する出力信号と切替えると共
に、状態出力手段が非同期動作手段の内部状態を実時間
で外部端子に出力する事を特徴としている。
〔実施例1〕 次に、本発明の第1の実施例について図面を参照して説
明する。
第1図に本発明によるテスト回路を含むマイクロコンピ
ュータの一実施例のブロック図を示す。
第1図に示すマイクロコンピュータ100は、従来例の
マイクロコンピュータ300に、命令実行によりDバス
200を経由で設定可能なテスト用レジスタ180と、
バス制御ユニット130への入力信号をテスト用レジス
タ180の設定値を出力するテスト用信号線181,1
82,183どLDRQ信号140,5TRQ信号14
1.QFUL信号142との間で選択するセレクタ13
1.132,133と、テストモード時に調停回路13
5.タイミング発生回路136の内部状態を外部端子に
出力する内部状態出力信号139を追加している。
また、通常の命令実行時には従来例のマイクロコンピュ
ータ300と同一の動作を行う。
また、セレクタ131,132,133は、通常の命令
実行を行う通常モードにおいては、それぞれLDRQ信
号140,5TRQ信号141゜QFUL信号142を
選択し、テストモード時にはテスト用信号線181,1
82,183を選択し、バス制御ユニッ)130に供給
する。
次に、本実施例のマイクロコンピュータ100のテスト
手法について述べる。
最初に、通常モードにおいて、命令実行により、テスト
用レジスタ180に、テストモードに移行した時にバス
制御ユニッ)130に対する入力信号値となるデータを
設定する。
次に、動作モード指定端子101に1を入力し、テスト
モードに移行する。この状態では、セレクタ131,1
32,133はテスト用信号181.182,183を
バス制御ユニット130への入力信号として選択するた
め、バス制御ユニット130は命令キュー110及び実
行ユニット120から分離され、命令キュー110及び
実行ユニット120の状態とな無関係に、テスト用レジ
スタ180の設定値に応じて動作を行う。
この結果、バス制御ユニツ)130への入力信号値を任
意の値に設定することが容易にでき、この時の、調停回
路135.タイミング発生回路136の内部状態を出力
する内部状態出力信号139を、外部で期待値と照合す
ることにより、バス制御ユニット130のテストを容易
に実行スることができる。
〔実施例2〕 次に、本発明に基づく第2の実施例について第2図のブ
ロック図を参照して説明する。
第2図に示すマイクロコンピュータは実施例1における
テスト用レジスタがNX3ビツトのシフトレジスタ28
0−1,280−2,280−3、・・・・・・、28
0−(N−1)、280−Nになっており、シフトレジ
スタ280−1の設定値を出力するテスト用信号281
,282,283がセレクタ131,132,133へ
の入力となっており、テスト用シフトレジスタ280−
1゜280−2.・・・・・・、280−Nのシフトタ
イミングを指定する信号として外部端子よりシフトタイ
ミング指定信号290が入力している点以外は第1の実
施例と同一の構成である。尚、N段のシフトレジスタ2
80−1,280−2,280−3、・・・・・・、2
80−(N−1)、280−Nはそれぞれ命令実行によ
り書込みが可能であり、シフトタイミング指定信号29
0がアクティブになると、シフトレジスタ280−2の
内容をシフトレジスタ280−1に、280−3の内容
を280−2に、・・・・・・、280−Nの内容を2
80−(N−1)にと、シフト動作を行う。
本実施例のマイクロコンピュータにおいてはテストモー
ド時には、バス制御ユニット130への入力信号はセレ
クタ131,132,133でテスト用シフトレジスタ
280−1の設定値であるテスト用信号281,282
,283が選択されるため、バス制御ユニット130は
、命令キュー110及び実行ユニッ)120の状態とは
無関係に、テスト用シフトレジスタ280−1の出力値
に応じて動作を行なう。
このため、予め命令実行によりテスト用シフトレジスタ
280−1,280−2,280−3、・・・・・・、
280−(N−1)、280−Hにバス制御ユニット1
30に対するチエツク用の入力信号値を設定しておき、
その後テストモードに移行し、外部よりシフトタイミン
グ指定信号290を適当なタイミングでアクティブにす
ることにより、テスト用信号281,282,283の
値をシフトレジスタ280−1,280−2,280−
3、・・・・・・、280−(N−1)、280−Hに
初期設定を行った内容に順に変化させることができ、バ
ス制御ユニットへの入力をダイナミックに変化させなが
ら、任意の入力を与えることが出来る。
この時の、バス制御ユニット130内の調停回路135
.タイミング発生回路136の内部状態が内部状態出力
信号139を経由して外部端子に出力されるのを観測す
ることにより、非常に容易に且つ大きな自由度をもって
バス制御ユニット130のテストを行うことが可能とな
る。
〔発明の効果〕
以上説明した様に、本発明では、命令実行と非同期に動
作するユニットのテストのために、マイクロコンピュー
タに、命令実行により設定することができるテスト用の
レジスタと、テストモード時にテスト対象であるユニッ
トへの入力信号値をテスト用のレジスタの設定値に切り
換える機能と、テスト時にテスト対象ユニット内の内部
状態を外部端子に出力する機能を付加しており、これに
より以下に述べる効果が得られる。
(1)予め命令実行によりテスト用のレジスタに設定し
たデータが、テストモード時にテスト対象ユニットへの
入力信号値となるため、通常の命令実行では困難なテス
ト対象ユニットへの入力信号値の制御を容易に行うこと
ができると共に、テストモード時にテスト対象ユニット
の内部状態をリアルタイムで観測できるため、テスト対
象ユニット内部の異常を容易に検出できる。この結果、
命令と非同期に動作するユニットのテストを容易に行う
ことができる。
(2)テスト用レジスタを命令実行により設定できるた
めテスト用レジスタにデータを設定するための外部端子
を必要とせず、従来の命令実行によるテストと比較して
、テスト用の端子を増やすことなく、テストを容易にす
ることができる。
この様に、本発明ではマイクロコンピュータ内にテスト
用のレジスタをもうけ、テストモード時に対象ユニット
への入力信号をこのテスト用レジスタから供給すると同
時に、テスト対象ユニット内部の状態を直接外部で観測
する機能を付加することにより、マイクロコンピュータ
のテストを容易に行うことを可能にしており、この結果
テストに寄る不良検出率を向上させることが可能となり
、実用的な重要性が高い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に基づ〈実施例1のマイクロコンピュー
タのブロック図、第2図は実施例2のマイクロコンピュ
ータのブロック図、第3図は従来のマイクロコンピュー
タのブロック図、第4図は従来のマイクロコンピュータ
の動作のタイミングチャートである。 100.300・・・・・・マイクロフンピユータ、1
01.301・・・・・・動作モード入力端子、110
・・・・・・命令キュー、120・・・・・・実行ユニ
ット、130・・・・・・バス制御ユニット、131,
132゜133・・・・・・セレクタ、135・・・・
・・調停回路、136・・・・・・タイミング発生回路
、139・・・・・・内部状態出力信号、140・・・
・・・LDRQ信号、141・・・・・・5TRQ信号
、142・・・−・・QFUL信号、143・・・・・
・QRD信号、180・・・・・・テスト用レジスタ、
181,182,183・・・・・・テスト用信号、2
00・・・・・・Dバス、210・・・・・・QDババ
ス220・・・・・・エバス、280−1. 280−
2゜280−3.・・・・・・、 280−(N−1)
280−N・・・・・・テスト用シフトレジスタ、28
1,282゜283・・・・・・テスト用信号、290
・・・・・・シフトタイミング指定信号。 代理人 弁理士  内 原   晋

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 相互に非同期に動作を行う複数の非同期動作手段が相互
    に命令実行に伴う処理要求信号を出力し、前記複数の非
    同期動作手段は前記処理要求信号の状態に従い所定命令
    の処理を行うマイクロコンピュータにおいて、 前記マイクロコンピュータは命令実行により設定可能な
    記憶手段と、前記非同期動作手段へ入力する前記処理要
    求信号の選択を行う選択手段と、前記非同期動作手段の
    内部状態を外部端子に出力する状態出力手段を有し、 前記選択手段が、前記非同期動作手段に入力する前記処
    理要求信号を、前記記憶手段の設定値を出力する出力信
    号と切替えると共に、前記状態出力手段が前記非同期動
    作手段の内部状態を実時間で前記外部端子に出力する事
    を特徴とするマイクロコンピュータ。
JP62289913A 1987-11-16 1987-11-16 マイクロコンピュータ Expired - Fee Related JPH0758473B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62289913A JPH0758473B2 (ja) 1987-11-16 1987-11-16 マイクロコンピュータ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62289913A JPH0758473B2 (ja) 1987-11-16 1987-11-16 マイクロコンピュータ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01130232A true JPH01130232A (ja) 1989-05-23
JPH0758473B2 JPH0758473B2 (ja) 1995-06-21

Family

ID=17749387

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62289913A Expired - Fee Related JPH0758473B2 (ja) 1987-11-16 1987-11-16 マイクロコンピュータ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0758473B2 (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5588114A (en) * 1978-12-27 1980-07-03 Hitachi Ltd Input-output channel unit
JPS58127255A (ja) * 1982-01-25 1983-07-29 Toshiba Corp マイクロコンピユ−タのテスト回路
JPS61165171A (ja) * 1985-01-17 1986-07-25 Nec Corp マイクロコンピユ−タ
JPS62126444A (ja) * 1985-11-27 1987-06-08 Mitsubishi Electric Corp 故障診断システム

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5588114A (en) * 1978-12-27 1980-07-03 Hitachi Ltd Input-output channel unit
JPS58127255A (ja) * 1982-01-25 1983-07-29 Toshiba Corp マイクロコンピユ−タのテスト回路
JPS61165171A (ja) * 1985-01-17 1986-07-25 Nec Corp マイクロコンピユ−タ
JPS62126444A (ja) * 1985-11-27 1987-06-08 Mitsubishi Electric Corp 故障診断システム

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0758473B2 (ja) 1995-06-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4937770A (en) Simulation system
JPH0798692A (ja) マイクロコンピュータ
US5193195A (en) Microcomputer having easily testable interrupt controller
JPH031699B2 (ja)
JPS6250856B2 (ja)
US4451883A (en) Bus sourcing and shifter control of a central processing unit
JPH01130232A (ja) マイクロコンピュータ
JP2004094451A (ja) オンチップjtagインタフェース回路およびシステムlsi
JP2520158B2 (ja) ディジタルシグナルプロセッサのデバッグ方式
JPH05165737A (ja) メモリ試験方式
JPH0285934A (ja) エミュレータ
JPH09106359A (ja) 半導体集積回路
JPH01266651A (ja) 半導体メモリ装置
JPS645342B2 (ja)
JPH07110790A (ja) メモリ診断装置
JPS6168647A (ja) データ処理装置
JPS62280940A (ja) デ−タ処理装置
JPS6246021B2 (ja)
EP1193606A2 (en) Apparatus and method for a host port interface unit in a digital signal processing unit
JPH0564307B2 (ja)
JPH01217524A (ja) データ処理システム
JPH0492936A (ja) メモリアクセス制御装置
JPH05242273A (ja) 半導体集積回路装置
WO2018179753A1 (ja) マイクロコンピュータ
JP2004206425A (ja) トレース装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees