JPH01130535U - - Google Patents
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- JPH01130535U JPH01130535U JP2787888U JP2787888U JPH01130535U JP H01130535 U JPH01130535 U JP H01130535U JP 2787888 U JP2787888 U JP 2787888U JP 2787888 U JP2787888 U JP 2787888U JP H01130535 U JPH01130535 U JP H01130535U
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- JP
- Japan
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- semiconductor
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- determining
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 9
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案にかかる半導体集積回路の一実
施例の構成図、第２図は半導体集積回路の等価回
路図、第３図は第２図の半導体集積回路の動作説
明図、第４図は従来における半導体判別手段の構
成例を示した図である。 １……基板、２２，７……拡散層、４……絶縁
膜、５２，８……配線膜、６２……パツド。
施例の構成図、第２図は半導体集積回路の等価回
路図、第３図は第２図の半導体集積回路の動作説
明図、第４図は従来における半導体判別手段の構
成例を示した図である。 １……基板、２２，７……拡散層、４……絶縁
膜、５２，８……配線膜、６２……パツド。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体の種類を電気的に判別する手段が設けら
れた半導体集積回路において、 前記判別手段が、前記半導体を構成する拡散層
を利用して構成されていてこの半導体のパツドに
共通に接続された半導体素子であることを特徴と
する半導体集積回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2787888U JPH01130535U (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2787888U JPH01130535U (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01130535U true JPH01130535U (ja) | 1989-09-05 |
Family
ID=31250759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2787888U Pending JPH01130535U (ja) | 1988-03-02 | 1988-03-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01130535U (ja) |
-
1988
- 1988-03-02 JP JP2787888U patent/JPH01130535U/ja active Pending