JPH01134645A - タイミング発生回路 - Google Patents

タイミング発生回路

Info

Publication number
JPH01134645A
JPH01134645A JP62293293A JP29329387A JPH01134645A JP H01134645 A JPH01134645 A JP H01134645A JP 62293293 A JP62293293 A JP 62293293A JP 29329387 A JP29329387 A JP 29329387A JP H01134645 A JPH01134645 A JP H01134645A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
signal
read
memory
parity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62293293A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshimi Tachibana
立花 祥臣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP62293293A priority Critical patent/JPH01134645A/ja
Publication of JPH01134645A publication Critical patent/JPH01134645A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は読出し専用メモリの内容全読出してタイミング
信号全発生するタイミング発生回路に関し、特に読出し
専用メモリに障害が発生したときのその動作に関する。
(従来の技術) 情報処理装置において論理回路の高集積化には著しいも
のかあり、主記憶装置においても記憶制御部のLSI化
が進んでいる。しかし、例えばダイナミック形MOSメ
モリ素子などのメモリ素子を動作させるためには、RA
Jロウアドレスストローブ)信号などのタイミング信号
が必要であるが、これらのタイミング信号を発生するタ
イミング信号発生回路はLSI化し難い回路のひとつで
ある。
そのため、対策のひとつとして読出し専用メモリ全利用
する方式が公知である。
読出し専用メモIJ ’に利用する方式は、読出し専用
メモリに予め必要とするビットパターン全書込んでおき
、主記憶装置の動作サイクルに石じてそのビットパター
ン全読出して夕、イミング信号全発生するものである。
ま九、タイミング信号用のビットパターンに対してパリ
ティビット七付刀口して書込んでおくことにより、そへ
らのビットパターンが読出されたとき、パリティチェッ
ク全行って正常性上確認している。
(発明が解決しようとする問題点) 上述した従来の読出し専用メモリを利用してタイミング
信号を発生するタイミング発生回路においてFi、読出
されたデータにパリティエラーが検出されると致命的な
障害にかると云う欠点がある。例えば、読出し専用メモ
リの1ビツトだけの故障であっても、その読出し専用メ
モリが搭載されているパッケージを交換する必要がある
と云う欠点がある・ 本発明の目的は、複数のアドレス七有する読出し専用メ
モリと%読出し専用メモリのアドレス領域を選択するア
ドレス選択回路とを備え。
アドレス選択回路からのアドレス信号によって分割され
る胱出し専用メモリの各アドレス領域に、パリティピッ
)k付加した同一のビットパターンkv込んでおき、ど
のアドレス領域をアクセスしても同じタイミング信号が
発生できるようにすることにより上記欠点?除去し、読
出し専用メモリの故障に対して余裕tもつように構成し
たタイミング発生回路全提供することにある。
(問題点全解決する几めの手段) 本発明によるタイミング発生回路は動作指定レジスタと
、カウンタと、読出し専用メモリと、アドレス選択回路
と、パリティチェック回路とを具備して構成し几もので
ある。
動作指定レジスタは、外部から供給される起動信号によ
り動作指定信号全格納して保持する几めのものである。
カウンタは、外部からクロックを人力して計数するため
のものである。
アドレス選択回路は、アドレス分割信号により全アドレ
ス領域を上記一対の第1および第2のアドレス領域に分
割し、そのひとつを選択するためのものである。
パリティチェック回路は、読出し専用メモリの読出しデ
ータに対してパリティチェックを行う穴めのものである
。
読出し専用メモリは、一対の第1および第2のアドレス
領域より成る各アドレスに同一のタイミング信号を生成
するデータを格納するためのものであり、且つ、動作指
定レジスタ、カウンタ、およびアドレス選択回路の出力
音アドレス情報として入力し、アドレス情報によって指
定される開始アドレスから順次、カウンタの計数値に従
ってデータを読出してタイミング信号を発生することが
でき、さらにアドレス選択回路からのアドレス分割信号
によって分割される$1および第2のアドレス領域にノ
くリテイビットを付与して生成した同一の′一対のビッ
トノくターン全書込み、パリティチェック回路でノ(リ
テイエラーが検出されたならば、アドレス選択回路の設
定値を変更して、第1のアドレス領域の代ジに第2のア
ドレス領域を使用してタイミング信号全発生することが
できるよりに構成しtものである。
(’i!! 流側) 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明によるタイミング発生回路の一実施例
を示すブロック図である。第1図において、1はアドレ
ス選択回路% 2は動作指定レジスタ、3はカウンタ、
4.5はそれぞれANDゲート、6は読出し専用メモリ
、7はパリティチェック回路である。
ここで、アドレス選択回路1から信号線14上に送出さ
れたアドレス信号(ALL)が′″1″。
O″の2値信号であるとすると、読出し専用メモリ6は
第2図に示すように2つのアドレス領域61.62に分
割され、これら2つのアドレス領域61.62には、パ
リティビットを付710L&l1fl−のビットパター
ンを記憶しておく。
外部から信号線12t−介して起動信号が入力されると
、動作指定レジスタ2は信号線11上の動作指定信号を
格納し、次の起動信号が入力されるまでこれを保持する
。カウンタ3は信号線12上の起動信号によって全ビッ
トがクリアされる。この状態で読出し専用メモリ6の読
出し開始アドレスが決定され、読出し専用メモリ6から
各ビットのビットパターンとパリティビットとが出力さ
れる。これらの読出しデータに対して、パリティチェッ
ク回路7で誤り検査を行う。
開始アドレスから読出されたデータのうち、  、リセ
ット信号は論理11″となるようにビットパターンを生
成しておくので、以後、信号線18上のリセット信号が
論理10″になるまでカウンタ3は信号線13上のクロ
ックを計数する。
この結果、(ir号線12上の起動信号によって設足さ
れ九開始アドレスより順次、m出し専用メモリ6上のデ
ータが読出され、所定のタイミング信号が発生する。読
出された各アドレスのデータとパリティピットとは、パ
リティチェック回路7でチエツクされる。
ここで、!出し専用メモリ6に故障が発生してパリティ
エラーが検出されると、一般に不正なタイミング信号が
信号線6上に発生して装置の動作は保証されない。しか
し、アドレス選択回路1から信号線14上に送出され九
アドレス信号によって胱出し専用メモリ6のアドレス領
域が2つに分割され、且つ、それらのアドレス領域61
.62に同一のデータが記憶されている。
この友め、仮に一万のアドレス領域で前述のパリティエ
ラーが発生しても、アドレス選択回路1からの7ドレス
信号の値全変えこことにより、他方のアドレス領域を使
用して正常なタイミング償号奮発生することができる。
すなわち。
故障した読出し専用メモリ6を交換することなく動作さ
せることが可能である。
(発明の効果) 以上説明し友ように本発明は、複数のアドレスを有する
読出し専用メモリと、読出し専用メモリのアドレス領域
を遠近するアドレス選択回路とを備え、アドレス選択回
路からのアドレス信号によって分割される読出し専用メ
モリの谷アドレス領域に、パリティビットと付加した同
一のビットパターン全書込んでおき、どのアドレス領域
をアクセスしても同じタイミング信号が発生できるよう
にすることにより、アドレス選択回路から出力されるア
ドレス信号の値を変更すれば正しいタイミング信号を発
生することができると云う効果がある。
従って、読出し専用メモリそのもの、あるいは読出し専
用メモリが搭載されているパッケージを交換することな
く障害音復旧できると云う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は1本発明によるタイミング発生回路の一実施例
を示すブロック図である。 第2図は、第1図の読出し専用メモリのアドレス9間の
分割を示す説明図である。 1・・・アドレス選択回路 2・・・動作指定レジスタ  3・・・カウンタ4.5
・・・ANDゲート 6・・・読出し専用メモリ 7・・・パリティチェック回路 61’、62・・・アドレス領域 特許出願人  日本電気株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 外部から供給される起動信号により動作指定信号を格納
    して保持するための動作指定レジスタと、外部からクロ
    ックを入力して計数するためのカウンタと、一対の第1
    および第2のアドレス領域より成る各アドレスに同一の
    タイミング信号を生成するデータを格納するための読出
    し専用メモリと、アドレス分割信号により全アドレス領
    域を前記一対の第1および第2のアドレス領域に分割し
    、そのひとつを選択するためのアドレス選択回路と、前
    記読出し専用メモリの読出しデータに対してパリテイチ
    ェックを行うためのパリテイチェック回路とを具備し、
    前記読出し専用メモリは前記動作指定レジスタ、前記カ
    ウンタ、および前記アドレス選択回路の出力をアドレス
    情報として入力し、前記アドレス情報によつて指定され
    る開始アドレスから順に、前記カウンタの計数値に従つ
    てデータを読出して前記タイミング信号を発生すること
    ができ、且つ、前記アドレス選択回路からの前記アドレ
    ス分割信号によつて分割される前記第1および第2のア
    ドレス領域にパリテイビットを付加して生成した同一の
    一対のビットパターンを書込み、前記パリテイチェック
    回路でエラーが検出されたときには前記アドレス選択回
    路の設定値を変更して前記第1のアドレス領域の代りに
    前記第2のアドレス領域を使用してタイミング信号を発
    生することができるよりに構成したことを特徴とするタ
    イミング発生回路。
JP62293293A 1987-11-20 1987-11-20 タイミング発生回路 Pending JPH01134645A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62293293A JPH01134645A (ja) 1987-11-20 1987-11-20 タイミング発生回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62293293A JPH01134645A (ja) 1987-11-20 1987-11-20 タイミング発生回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH01134645A true JPH01134645A (ja) 1989-05-26

Family

ID=17792956

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62293293A Pending JPH01134645A (ja) 1987-11-20 1987-11-20 タイミング発生回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH01134645A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04332996A (ja) * 1991-05-08 1992-11-19 Koufu Nippon Denki Kk 障害処理システム
JPH04332997A (ja) * 1991-05-08 1992-11-19 Koufu Nippon Denki Kk 障害処理システム

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04332996A (ja) * 1991-05-08 1992-11-19 Koufu Nippon Denki Kk 障害処理システム
JPH04332997A (ja) * 1991-05-08 1992-11-19 Koufu Nippon Denki Kk 障害処理システム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5488691A (en) Memory card, computer system and method of operation for differentiating the use of read-modify-write cycles in operating and initializaiton modes
US5452429A (en) Error correction code on add-on cards for writing portions of data words
EP0096782B1 (en) Online realignment of memory faults
EP0384620A2 (en) High performance memory system
US5379304A (en) Method and structure for providing error correction code and parity for each byte on SIMM's
JPH0581143A (ja) メモリアレイのアドレスと中味とをチエツクする装置及び方法
US4528665A (en) Gray code counter with error detector in a memory system
EP0096779B1 (en) Multi-bit error scattering arrangement to provide fault tolerant semiconductor memory
US4453248A (en) Fault alignment exclusion method to prevent realignment of previously paired memory defects
US5386387A (en) Semiconductor memory device including additional memory cell block having irregular memory cell arrangement
JPH04213734A (ja) 半導体集積回路
JP2699640B2 (ja) 放射線認識回路を用いた電子回路
JPS62242258A (ja) 記憶装置
JPS62299000A (ja) 半導体メモリ
JPH05165734A (ja) 主記憶装置の固定障害診断装置
JP3021577B2 (ja) Ramのテスト回路
JPS6161299A (ja) 記憶装置
SU1501171A1 (ru) Запоминающее устройство с самоконтролем
JPH04115338A (ja) 交替メモリ方式
JPS5847798B2 (ja) 記憶装置
JPS62127956A (ja) チエツク回路付記憶装置
SU439020A1 (ru) Запоминающее устройство с автономным контролем
JPH0683718A (ja) 障害検出回路
JPS6252338B2 (ja)
JPH0561777A (ja) 記憶制御回路