JPH01143982A - プローブ装置 - Google Patents

プローブ装置

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JPH01143982A
JPH01143982A JP30376287A JP30376287A JPH01143982A JP H01143982 A JPH01143982 A JP H01143982A JP 30376287 A JP30376287 A JP 30376287A JP 30376287 A JP30376287 A JP 30376287A JP H01143982 A JPH01143982 A JP H01143982A
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electrodes
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probe cards
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Yoichi Honchi
本地 洋一
Mitsuo Nishi
西 光雄
Takamasa Fujii
藤井 敬真
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Tokyo Electron Kyushu Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、被検査体の電気的特性を検査するプローブ装
置に関する。
(従来の技術) プローブ装置は、被検査体として例えば半導体ウェハ又
は液晶表示体素子(以下、LCDと略記する)等を載置
台上に支持し、この被検査体の電極パッドにプローブ電
極を接触させ、テスタによる導通検査1表示画面の11
視による機能検査等の電気的特性検査を実行するもので
ある。
従来、半導体ウェハを被検査体とする場合には、前記プ
ローブ電極を一枚のプローブカードに固定して検査を実
行するものが8爪的であったが、近年、L、CDの対向
辺上の2列の電極パッドに同時にプローブ電極を接触さ
せて検査を実行するものも実用化されつつある。
上記LCDの検査を行う場合には、プローブ電極を有す
る2枚のプローブカードを相対向して配置する必要があ
る。
このほか、他の要請により被検査体の電極パッドに同時
に接触されるプローブ電極を有する複数のプローブカー
ドを配置したプローブ装置が考えられる。
(発明が解決しようとする問題点) 複数のプローブカードを配置する方式のプローブ装置で
は、この複数のプローブカードに支持されるプローブ電
極を、−枚の被検査体の電極パッドに位置合わぜする必
要があるが、従来より複数のプローブカードを有するプ
ローブ装置ではこの社の調整に関して配慮が成されてい
なかった。
特に、プローブ装置にセットされる被検査体のサイズが
種々あるので、被検査体のサイズが変わる度に上記位置
合わせを必要とし、作業者の負担が極めて大きかった。
そこで、本発明の目的とするところは、上述した従来の
問題点を解決し、複数のプローブカードを有する場合の
各プローブカード間の相対位置関係を容易に調整するこ
とが可能であり、各プローブカードのプローブ電極を、
被検査体の電極パッドに同時に、かつ、正しく接触させ
ることができるプローブ装置を提供することにある。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段〉 本発明は、被検査体の電極パッドにプローブ電極を接触
させる複数のプローブカードを有し、被検査体の電気的
特性を検査するプローブ装置において、 電極パッドとプローブ電極との位置合わせ面上の直交軸
方向をX、Y軸方向とし、X、Y軸に直交する軸方向を
Z軸方向とし、Z軸の周方向をθ方向とし、複数のプロ
ーブカードの前記各方向での相対的位置関係を調整可能
とする駆動機構を設けた構成としている。
(作用) 複数のプローブカードのプローブ電極を、被検査体の電
極パッドに同時に、かつ、正しく接触させるなめには、
その各プローブ電極の先端位置が同一平面上に存在し、
かつ、位置合わせ面上で電極パッドと同一位置に設定さ
れなければならない。
本発明では、各プローブ電極の先端位置を同−平面上に
設定させるために、複数のプローブカードのZ軸方向の
相対位置関係を調整可能としている。また、位置合わせ
面上で各プローブ電極が電極パッドと同一位置に設定さ
れるように、位置合わせ面上での直交軸方向であるX、
Y軸方向及び前記Z軸の周方向であるθ方向で複数のプ
ローブカードの相対位置関係を調整可能としている。
(実施例) 以下、本発明をL CDプローバーに適用した実施例に
ついて図面を参照して説明する。
まず、LCDプローバの概要について、第3図を参照し
て説明する。
LCDプローバ1は、大別して、LCD基板10の電気
的特性検査を実行する検査部2と、この検査部2にLC
D基板10を搬送するための搬送部3とから構成されて
いる。
前記搬送部3は、未検査LCD基板10を収納したキャ
リアAをセットするための収納部31と、検査済みLC
D基板10を収納したキャリアBをセットするための収
納部32を有し、さらに、前記キャリアAから未検査L
CD基板10を取り出して前記検査部2に搬送し、かつ
、検査済みLCD基板10をキャリアBに搬送するため
のバキュームピンセット33と、このバキュームピンセ
ット33によって搬送されたLCD基板10を一時載置
し、所定の位置合わせを実行するプリアライメントステ
ージ34を備えている。
キャリアA、Bは側壁に形成された多数の洛によって多
数のスロットに仕切られていて、各スロット内に一枚ず
つL CD基板10が収納されるようになっている。そ
して、L CI)基板10を取り出すための前面には開
[1部が形成されている。
前記バキュームピンセット33は、水平方向及び垂直方
向に移動可能であり、かつ、軸33aを中心として回転
可能となっている。また、このバキュームピンセット3
3は、図示しない真空ポンプに接続され、LCD基板を
真空吸着可能となっている。
前記プリアライメントステージ34は、前記LCD基板
10を載置して回転自在となっていて、LCD基板10
の角度方向の位置を変えることができる。このプリアラ
イメントステージ34の近傍には、図示しないセンサが
配置され、LCD基板10の位置を認識すると共に、こ
の位置情報に基づきLCD基板10をプリアライメント
するようになっている。尚、LCD基板10の位置検出
方法及び位置決め方法としては、本出願人の先の提案で
ある特願昭62−164746号に開示されるLCD基
板等に好適な1位置決め方法」を採用することができる
。このように、LCD基板10の位置決めを予め実行す
ることで、後述する検査部2でのアライメントを軽減し
、かつ、相当の大きさを有するLCD基板10が搬送さ
れる場合の周囲機構等への衝突等の弊害を防止すること
が可能となる。
次に、本実施例装置の特徴的構成である前記検査部2の
構成について、第1図及び第2図を参照して説明する 前記検査部2には、LCD基板10を例えば真空吸着し
て支持する載置台21が設けられている。
この載置台21は、載置面上の直交軸方向であるZ軸、
Y軸方向、上下方向であるZ軸方向及びZ軸の周方向で
あるθ方向に移動自在となって、LCD基板10をX、
Y、θ方向に移動することでアライメント可能であると
共に、後述するプローブ電+(li23a、23bにL
CD基板10を接触できるようにZ方向の駆動が可能と
なっている。
前記載置台21に載置されるL CD基板10は、2枚
のガラス基板10a、10bの微少空間に液晶を挾む構
造となっていて、下側のガラス基板10bの対向辺上に
は、等ピッチで電極パッド11が形成されている。尚、
この電極バッド]、1は、対向辺でそれぞれ同数有する
ものに限らず、例えば−辺上に50個、他の一辺上には
3個等、LCD基板10の仕様、特に、X、Yマトリク
ス状の配線仕様によって様々であるが、通常その電極パ
ッドピッチは同一である。また、LCD基板10はその
画面の大きさによって外形サイズも稚々あり、この場合
には対向辺上の電極パッド間距離(第1図の距Ml、)
が異なっている。
そして、本実施例では、前記LCD基板10の各対向辺
上の電極バッド11に同時にプローブ電極23を同時に
接触させるなめ、第1.第2のプローブカード22a、
22bを相対抗して配置している。
前記第1.第2のプローブカード22a、22bに支持
されるプローブ電極23a、23bとしては、第1図に
示すプローブ針の他、フレキシブルなフィルム電極を使
用することもできる。特に、被検査体がLCD基板10
の場合には、少スペースに多数の電極バッド11を配置
する必要があり、その電極パッドピッチが100μM以
下となっているので、プローブ針ではこのパッドピッチ
を実現することが製造上困難であるので、フィルム電極
等を採用するものが好ましい。
前記第1.第2のプローブカード22a、22bは、そ
れぞれ可動部25a、25bに支持されている。この可
動部25a、25bは下記の駆動機構によって移動自在
となっている。
第1のプローブカード22aの駆動R横について説明す
ると、2次元面内で第1のプローブカード22aを直交
軸方向にそれぞれ駆動するためのX方向駆動機構26a
及びY方向駆動機構27aと、第1のプローブカード2
2aを上下方向に駆動するためのZ方向駆動機構28a
と、Z軸の周りに回転駆動するためのθ方向駆動機構2
9aを有している。
尚、第2のプローブカード22bの駆動機構も同様であ
り、第1のプローブカード22a用の駆動機構の符号の
サフィックスaをbとしな各柱部動機構を有している。
次に作用について説明する。
上記LCDプローバー1では、LCD基板]0の電極バ
ッド11に2枚のプローブカード22a。
22bのプローブ電極23a、23bを同時に接触させ
る必要があり、このなめにはプローブ電極23a、23
bの先端が同一平面上に設定され、かつ、2組のプロー
ブ電極23a、23bが正確に電極パッド11に接触す
る位置に設定されなければならない。
そこで、先ず前記プローブ電極23a、23bを同一平
面上に設定するために、プローブカードのZ方向の高さ
調整を実行する必要がある。本実施例では、第1.第2
のプローブカード22a。
22bにそれぞれZ方向駆動機構28a、28bを有し
ているので、2つのプローブカード22a。
22bを独立してZ方向に位置調整することができ、プ
ローブ電極23a、23bの先端高さを同一に設定する
ことが可能となる。
次に、第1.第2のプローブカード22a、22bのプ
ローブ電極23a、23bの先端を、同時に電極パッド
11に接触するために、X、Y。
θ方向の位置調整を実行する。
この調整を実行するにあたり、例えば先ずX方向で第1
.第2のプローブカード22a、22bを独立して順次
位置調整し、各プローブカード22a、22b毎にX方
向の位置を設定する。
ここで、X方向の位置調整だけでは各プローブ電極23
a、23bの先端を電極パッド11に正確に位置合わせ
出来ない場合には、プローブカード22a、22bが傾
いて設定されている場合なので、θ方向駆動機構29a
、29bによって第1、第2のプローブカード22a、
22bをそれぞれ回動させ、電極パッド11に各プロー
ブ電極23a、23bの先端が正しく位置合わぜされる
ようにする。
そして、以上のようにして調整したX、Y軸方向の位置
及びθ方向の位置に第1.第2のプローブカード22a
、22bを設定した状態で、最後に2つのプローブカー
ド22a、22bの対向間距離方向であるY方向を位置
調整し、第1.第2のプローブカード22a、22bの
全てのプローブ電123a、23bが同時に、かつ、正
しく電極パッド11に位置合わぜされるように調整を行
う。
ここで、上述した位置合わせ作業は、検査部2の上方に
配置されたマイクロスコープ(図示せず)によって、電
極パッド23a、23bとプローブ針11との接触をオ
ペレータが確認して行うものが一般的であるが、その方
法については問わない。
このような、2枚のプローブカードの相対位置関係の調
整は、被検査対象であるLCD基板10をセットする前
に、位置確認用のダミー基板を載置台21上にセットし
て実行するものであっても良い。
このように、本実施例では対向して配置された第1.第
2のプローブカード22a、22bの相対的位置関係を
、独立駆動機Wi26 a〜29a及び26b〜29b
によって実行することができるので、2枚のプローブカ
ード22a、22bを有するL CDプローバー1でも
両プローブカードの位置調整を容易に実行することがで
きる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で社々の変形実施が可能である。
上述した説明から明らかなように、複数のプローブカー
ドのX、Y、Z及びθ方向を相対的に位置調整可能であ
れば良いので、必ずしも上記実施例のように複数のプロ
ーブカードをそれぞれ移動可能とする必要はなく、各方
向でいずれか一方のプローブカードが移動自在であれば
足りる。この場合、一方のプローブカードをx、y、z
、θ方向で全て移動自在とし、他方のプローブカードは
固定とするものでもよく、あるいはX、Y、Z。
θ方向の駆動機構を2つの10−ブカード側で分担させ
て持たせる方式であっても良い。
最も好ましくは、一方のプローブカードをX。
Y、Z、θ方向で全て移動可能とし、他方のプローブカ
ードはZ方向のみ固定とし、他のX、Y。
θ方向で移動可能とする方式を採用すべきである。
この理由は、一方のプローブカードのX、Y。
θ方向を固定すると、このプローブカードの2次元面上
の位置に合わせて載置台21の測定中心が決まってしま
い、この測定中心は載置台21の駆動プログラム情報と
なっているので、測定中心が変わる度に動作プログラム
の大幅な修正を要する懸念があるからある。尚、Z方向
については、載置台21のオーバドライブ量の設定によ
り容易に修正可能であり、一方のプローブカードのZ方
向を固定した場合の郵害は少ないものと考えられる。
また、被検査対称としては、例えば基板の異なる辺上に
それぞれ電極パッドを配列し、各辺の電極パッドに同時
に接触すべきプローブ電極を有した複数のプローブカー
ドを必要とする等の他の種々の被検査体の検査に適用で
きる。
また、上記実施例では、第1.第2のプローブカード2
2a、22b毎に独立したY方向駆動機tg27a、2
7bを配置したが、Y方向の位置調整は2つのプローブ
カードの対向間距離を可変ずことであり、従って、一つ
の駆動#!1構によって両者を対称的に移動する方式を
採用することもできる。
さらに、本発明は2つのプローブカードを有するものに
限らず、被検査体の電極パッド列数に応じて、複数のプ
ローブカードを配置したプローブ装置にも同様に適用可
能である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば複数のプローブカ
ードの相対位置関係を調整可能としているので、複数の
プローブカードに支持されているプローブ電極を、被検
査体上の電極パッドに同時に接触させるための調整を確
実に実行することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を適用したり、CDプローバーの検査部
の平面図、 第2図は第1図の検査部を概略的に示す正面図、第3図
はLCDプローバーの概略斜視図である。 10・・・被検査体、11・・・電極パッド、21・・
・載置台、 22a、22b・・・第1.第2の10−ブカード、2
3a、23b・・−プローブ電極、 26a、26b・・・X方向軸駆動機構、27a、27
b・・・X方向軸駆動機構、28a、28b・・・2方
向軸駆動機格、29a、29b・・・θ方向軸駆動機構

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査体の電極パッドにプローブ電極を接触させ
    る複数のプローブカードを有し、被検査体の電気的特性
    を検査するプローブ装置において、電極パッドとプロー
    ブ電極との位置合わせ面上の直交軸方向をX、Y軸方向
    とし、X、Y軸に直交する軸方向をZ軸方向とし、Z軸
    の周方向をθ方向とし、複数のプローブカードの前記各
    方向での相対的位置関係を調整可能とする駆動機構を設
    けたことを特徴とするプローブ装置。
  2. (2)2つのプローブカードのうちの一方は、XY、Z
    軸方向及びθ方向で移動可能とし、他方のプローブカー
    ドを固定した特許請求の範囲第1項記載のプローブ装置
  3. (3)2つのプローブカードのうちの一方は、XY、Z
    軸方向及びθ方向で移動自在とし、他方のプローブカー
    ドはZ方向のみ固定であり、X、Y軸方向及びθ方向に
    移動自在とした特許請求の範囲第1項記載のプローブ装
    置。
JP30376287A 1987-11-30 1987-11-30 プローブ装置 Expired - Lifetime JPH0799379B2 (ja)

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JPH0799379B2 JPH0799379B2 (ja) 1995-10-25

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100767298B1 (ko) * 2000-10-16 2007-10-16 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시기판 또는 회로기판의 검사장치
CN102539850A (zh) * 2010-12-20 2012-07-04 塔工程有限公司 阵列测试装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100767298B1 (ko) * 2000-10-16 2007-10-16 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 표시기판 또는 회로기판의 검사장치
CN102539850A (zh) * 2010-12-20 2012-07-04 塔工程有限公司 阵列测试装置

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