JPH01145346A - 光フアイバ用母材の製造方法 - Google Patents

光フアイバ用母材の製造方法

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JPH01145346A
JPH01145346A JP30327487A JP30327487A JPH01145346A JP H01145346 A JPH01145346 A JP H01145346A JP 30327487 A JP30327487 A JP 30327487A JP 30327487 A JP30327487 A JP 30327487A JP H01145346 A JPH01145346 A JP H01145346A
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Yoichi Ishiguro
洋一 石黒
Tsunehisa Kyodo
倫久 京藤
Shinji Ishikawa
真二 石川
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、主成分が二酸化ケイ素である多孔質ガラス体
に脱水処理と透明化処理を施して透明ガラス体の光フア
イバ用母材を製造する方法に関するもので、詳しくは新
規かつ有利な脱水処理により低損失な光フアイバ用母材
をコスト低減して製造できる方法に関する。
〔従来の技術〕
光フアイバ用透明ガラス母材の製法として、スート付法
、ゾルゲル法その他の方法で作成された、二酸化ケイ素
を主たる成分とする多孔質ガラス体を焼結・透明化する
方法が知られているが、この焼結・透明化に先立ち、又
は同時に、その製造過程で多孔質ガラス体中に取り込ま
れた水分(OH)i除く脱水処理が一般に行われている
。これは得られた光ファイバ母材t−線引して光ファイ
バとしたとき、このファイバの水酸基による伝送損失増
大等の特性への悪影響を防ぐためである。
このような従来技術として、例えば特公昭58−155
03号公報に提案される、多孔質ガラス体を透明化に必
要な時間加熱する間に、ヘリウム及び5容t%までの有
効量の塩素を含む雰囲気中にさらし、該多孔質ガラス体
を透明化させつつ、雰囲気中の塩素を該多孔質ガラス体
内に浸透させて、内部に含まれてい友水酸基イオンと置
換させることにより脱水し、これにより実質的に水分を
含まず、950 nm での減衰が10 (LB/10
1以下のガラスを形成することを特徴とする方法がある
°また、特公昭57−40096号公報に提案されるよ
うに、多孔質ガラス体を)・ロゲン又にハロゲン化物を
含み脱水作用を有するガス雰囲気中で、800℃よ99
50℃乃至1250℃まで一定の昇温速度で加熱し、次
に950℃〜1250℃の温度域で一定時間保持し、さ
らに前記の脱水作用を有するガス濃度を減少させ九うえ
、ガラス化温度まで昇温させて加熱し、透明ガラス体を
得ることを特徴とする方法がろる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで上記従来法のうちの前者は、透明化を行ないな
がら塩素を流し、塩素を含む雰囲気中で密なガラスを作
ってしまうので、気密を充分に保ち得す大気が混入しや
すい設備、装置で製造しても、ガラス中の水分を減少さ
せることができるという利点を有する反面、1400℃
〜1600℃というガラス化温度で塩素を流すため、ガ
ラス中に欠陥を生じさせることが避けられないという欠
点を有する。
また、後者は脱水処理の大部分t−1250c以下で行
ない、それ以上の高温域では脱水作用のあるガスの濃度
を減少させるので、高温下で脱水剤と反応することによ
る欠陥の生成tSる程度抑えることができ友。しかし近
年ファイバに要求される信頼性がさらに厳しくなり、水
素雰囲気下でのロス増、またに放射線下でのロス増の原
因となるガラス欠陥をさらに減少させる必要が生じてき
ており、より一層改良された手段が望まれている。
本発明にこのような現状に鑑みてなされたもので、上記
の諸問題を解消し、ガラス欠陥等の生成なく有効に脱水
、透明化処理して高品質な光フアイバ用母材を製造でき
る新規な方法を提案するものでらる。
〔問題点を解決するための手段・作用〕本発明は主要成
分が二酸化ケイ素である多孔質ガラス体を、塩素又は塩
素化合物と一酸化窒素とを含む不活性ガス雰囲気中で5
00℃以上950℃以下の温度範四内にて脱水処理し、
しかる後雰囲気への塩素又は塩素化合物と一酸化窒素と
の供給を停止して加熱透明化することを特徴とする光フ
アイバ用母材の製造方法に関する。
本発明における多孔質ガラス体1) G 60* tT
ie!、ム40m  のうちのいずれか1種以上を含ん
でいてもよく、カサ密度がα2〜Q、Bf/α1である
ことが好ましい。ま九雰囲気中の塩素又は塩素化合物の
濃度がCle換算で1〜1o容量係であり、塩素又は塩
素化合物と一酸化窒素との比が、aZ 原子2に対しN
o  1でら)、塩素化合物が四塩化炭素であり不活性
ガスがヘリウム、アルゴン、窒素のいずれかであること
が特に、好ましい実施態様である。
まず本発明に到達した経緯から説明を始める。
ガラス中の欠陥を増加させずに塩素等の脱水剤で多孔質
ガラス体の脱水を行なうためには、なるべく低温で脱水
を行なえばよい。ところが現実には、脱水温度を低くし
ていくに従って、多孔質ガラス体中の残留水が多くなっ
てしまう。
本発明者等が4々研究の結果、この原因は脱水温度の低
下と共に、活性なCl 原子が減少することにあると判
明した。そこで、低温で活性なCl 原子を増加させる
ことにより、低温でも充分な脱水が行なえる方法を検討
し、塩素又は塩素化合物と一酸化窒素を共存させること
が有効であると見出し、本発明に到ったのである。
−酸化窒素の共存によシ低温でも活性なCl原子が減少
しない理由を、化学反応式を挙げて詳細に説明すると、
まず従来の方法では下記(1)、(2)式によシ脱水反
応が進行すると考えられる・C2l → 2Cl   
          ・・・(1)81−OH+ 01
4 B i + HQL↑      ・−・(2)こ
こで(1)式の塩素が分解する反応の活性化エネルギー
u 57 Kcal  である〔文献: W、 L、 
Jolly1ザ プリンクプルズ オプ インオーガニ
ック ケミストリイ“、マクグロウヒル社、ニューヨー
ク、1976年発行〕。
これに対し、本発明の方法では、下記(3)、(4)式
の反応が起っていると考えられる。
C2t+NO→noaz + Cl     ・・・(
3)Sl−oH+Cl→st + HCl↑    ・
・・(4)ここで(3)式の反応の活性化エネルギーニ
22Kcal  である〔文献同上〕。したがって、本
発明の方法でに活性なCl原子が生じるに必要な活性化
エネルギーが従来法のそれのA以下と大幅に減少するの
で、同一温度で行なうならばOL濃度が増加することに
なり、低温であっても充分な脱水が行なえるようになっ
たと考えることができる。そして本発明は従来法よりも
低温での脱水が実現し念ことにより、ガラス中の欠陥生
成を防止でき、残留OHによるロスや、水素雰囲気下又
は放射線下でのロス増を低減した高品質な光フアイバ用
母材を得ることができるのである。
本発明における多孔質ガラス体は二酸化ケイ素(SiO
m) t”主要成分とし、その他の成分として例えば二
酸化ゲルマニウム(aeo@ ) 、二酸化チタン(T
i1l )、酸化アルミニウム(At10り、酸化ポロ
ン(Jog )、五酸化燐(Pros )、酸化マグネ
シウム(MgO)、酸化亜鉛(ZnO)等の金属酸化物
、窒X(8)、フッ素(F)等を含んでいてもよい。
該多孔質ガラス体のカサ密度1(L2乃至Q、81/鍔
3の範囲内であることが好゛ましい。α2f/cm”未
満でに多孔質ガラス体が割れ易く取扱い困難であり、C
L 817cm”を越えると気泡を含まぬ透明ガラスを
得ることが難かしく、まな、多孔質体中心まで脱水・フ
ッ素添加することが難かしいからである。
このような多孔質ガラス体に、例えばガラス原料ガスを
火炎加水分解反応させてガラス微粒子を生成させ、これ
を軸方向に堆積させて多孔質ガラス体を得るVAD法(
気相軸付法)、上記ガラス微粒子を出発ロンドの表面に
順次堆積し増径させて多孔質ガラス体を得るOvD法(
外付法)、金属アルコラード1−加水分解して所定の容
器中でゲル化した後乾燥することによシ多孔質ガラス体
を得るゾルゲル法、ガラス微粒子を静水圧により加圧成
形して多孔質ガラス体とするプレス法等の種々の公知技
術によって製造されるものでよい。
本発明においては該多孔質ガラス体を、まず温度500
〜950℃の範囲内で、塩素又は塩素化合物ガスと一酸
化窒素(MO)t−含む不活性ガス雰囲気中に曝して脱
水処理する。温度が500℃未満でに前記(3)式の反
応が不十分にしか起きず、一方、950℃を越えるとガ
ラス中に欠陥を生じさせるので好ましくない。
該塩素又は塩素化合物ガスとしては、例えば塩素(C2
り、四塩化炭素(CO4,)、塩化チオニル(EOCl
l )、四塩化ケイ素(51ct4 )、四塩化ゲルマ
ニウム(Ge04 )等が挙げられ、特に塩素又は四塩
化炭素が好ましい。該塩素又に塩素化合物ガスの濃度に
、塩素換算で1容址係以上10容i%以下が好ましく、
1容量%未満でにこれより生じるCl 原子濃度が低く
て脱水が不充分となり易く、また10容量係を越えると
ガラス中に気泡が残り易く好ましくない。該塩素又は塩
素化合物と一酸化窒素との比に、O2原子2個に対しN
o が1個の割合か、前記(3)式において当量関係と
なるので好ましい。
なお、四塩化炭素を脱水剤とする場合に框、雰囲気ガス
中にさらに酸素(Os ) t−添加して、遊離炭素(
0)の発生を防ぐ。この時の反応に下記の(5)〜(7
)式のとおりである。
CC26+  o冨  →  2 Ctl +  2 
CO・ ・ ・ (5)C!4+No  →moCl 
+ ct     ・・・(6)st−OH+ CL→
 日1+ HCl          ・・・(7)本
発明における不活性ガスとしては、例えばヘリウム(H
θ)、アルゴ゛ン(Ar )、窒素(Nu)等を用いる
ことができる。
以上の脱水処理は多孔質ガラス体の密度、大きさ等に応
じて一概でにないものの[15〜2時間程度行ない、し
かる後に、雰囲気中への塩素又は塩素系化合物ガス及び
−酸化窒素の供給を停止し、不活性ガス雰囲気中でガラ
ス化温度に加熱して、透明ガラス化する。
〔実施列〕
実施例1,2及び比較例1〜3 VAD法によシ作製した、平均カサ密度が1217cm
”であり、中心部の組成がSin、94重ii%−Go
O16重t%、周辺部の組成が8101)00重1i%
である多孔質ガラス体(120mφX600mm)を表
の−1〜−5の条件で30分間脱水を行なった。−1〜
−4については、脱水後更に1600℃のHθ雰囲気中
に50分間保持して透明化を行なった後、外径125μ
mにファイバ化し、特性の評価を行なつ九。Na1(比
較例1)はNo ガスを加えた脱水ではあるが、残留O
H濃度が波長1.38μmにおけるロス換算で5. O
dE/kmと高かった。脱水温度が400℃と低かつ九
ためと考えられる。
−2及びN&3(実施例1及び2)は、実用上問題のな
いレベルの残留OH濃度(10−、:20ppb )で
あり、しかもガラス欠陥の存在を示す波長L52μmで
の吸収ピークに出現せず、ゲルマニウムの蒸発も全く見
られなかつ念。
−4及びNa5(比較列2及び3)に、残留OH濃度に
実用上問題のない値でらつ九が、波長1.52μmでの
ピークが出現すると共に、ゲルマニウムが蒸発し、屈折
率のプロファイルが乱れな。
なお実用上問題のない残留OR濃度とは、波長1.38
μmでのOH吸収ピークの値が1dB/kmであるのに
対応する2 0 ppb以下をいう。
実施列3 OVD法により作製した、平均カサ密度14F/an”
であり、最外周部にTi1l を5重量憾を含むSiO
意からなる多孔質体(100mφ×500 mml )
を、石英炉心管中で温度600℃、C1)10容量嘔、
No 1G容t%、NR80容量係の雰囲気中に30分
間さらして脱水処理し、次に1550℃の■θ雰囲気中
に30分間保持して透明化した。得られ九光ファイバ用
母材は気泡を含まなかった。この母材から外径125μ
mの光ファイバを作製したところ、残留OHによる波長
1.3μmでの吸収は15 aB/kmと実用上問題の
ないレベルであシ、波長1.52μmの吸収ピークは出
現しなかった。また、Tie。
の蒸発も観察されなかった。
実施列4 プレス法により作製し比、平均カサ密度がα7 f/α
3でらり、810,100優からなる多孔質ガラス体(
80WφX 300 mml ) ’ks810炉心管
中で脱水処理、フッ素添加処理、透明化処理t−II次
行なって、光フアイバ母材を得た。脱水条件に、温度6
50℃、ccj4s容量係、Ol 5容量係、No 5
容を優、N885容量%からなる雰囲気中に2時間さら
し友。次に炉内を1)50℃に昇温し、81F、  3
容貸優、He97容t%の雰囲気に3時間さらし、フッ
素を添加し、さらに同じ雰囲気のまま炉温を1550℃
に昇温して1時間加熱して透明化した。以上で得られた
光フアイバ用母材中にに気孔がなく、t2重量係のフッ
素を含んでいた。
この光フアイバ用母材の中心に穴を開け、ドーパントヲ
含まない高純度石英ロンド?挿入してフラップスにより
一体化し、導波路構造を作製した。これを線引して外9
125μmのファイバとし、伝送損失を測定し九ところ
、波長1.3μmで(L 32 dB/ kll s波
長1.55μmでα18dB/)cmで1>、OB基に
よる1、 381)m Tノ吸収a CL 2 aB/
kmと低く、又、欠陥存在を示す1.52μmの吸収ピ
ークに生じなかつ友。
実施例5 MAD法により作製しt1平均カサ密度が12 f/c
rm”であり、組成が0eO1)5重量%−At!Os
15 i量%−8iO冨70重、3996である多孔質
ガラス体(60−φX 400 mm )を、石英炉心
管中で温度600℃、Cl、 t o容量%−NO10
容i#係−He80容量優の雰囲気中に30分間さらし
て脱水処理し、次に1600℃のHe雰囲気中に30分
間保持して透明化した。
得られ走光ファイバ用母材に気泡を含まず、Δn(比屈
折率差)=2%でわった。この母材を市販の高純度石英
管でジャケラティングした後、直径125μmの光ファ
イバとしたところ、該ファイバの残留OHによる波長1
.3μmでの吸収HQ、 56B/kflIと実用上問
題のないレベルであり、波長1.52μmでの吸収ピー
クに出現しなかつ念。
実施例6 ゾルゲル法によシ作製し念、平均カサ密度がα5 fi
! / ct* ”であシ、1.5重量%の7を含有す
る810章  からなる多孔質ガラス体(30wφx1
ooom−)を、石英炉心管中で温度600℃、01)
10容量係−1a010容1%−1)e80容量僑の雰
囲気中に51)]分間曝して脱水処理し、次に1300
℃のHe雰囲気中に30分間保持して透明化し念。得ら
れた光フアイバ用母材は気泡を含まなかった。この母材
の中心に穴を明け、高純度石英ロンドを挿入してコラッ
プスにより一体化して、導波路構造を作製しな。これを
外径125μmに線引きして7アイパ化し、伝送損失を
測定し九ところ、波長1.5μmで132 dB/km
s波長L 55 pmで(L 1 s IIE/−であ
り、OH基による1、38μmでの吸収に[L2dB/
kfllと低く、また、欠陥存在を示す1.52μmの
吸収ピークは生じなかった。
〔発明の効果〕
以上の説明及び実施列、比較列の結果から本発明の温度
範囲と雰囲気ガス条件で脱水処理することにより、残留
01)濃度が1.3μmにおける光吸収に換算してt 
Oan/km以下の光フアイバ用母材が安定して得られ
、また該母材中にはガラス欠陥が少なく、1.52μm
に吸収ピークが出現することがないことが判る。
従って本発明による光フアイバ用母材から作製された光
ファイバに、低ロスで経時変化が少ない九め海底ケーブ
ル用光ファイバに利用すると非常に効果的である。
また、本発明方法は950℃を越える高温では塩素又は
塩素化合物ガスを流さないので、ドーパントの蒸発が殆
んどないため、所望の組成(屈折率分布)が得られると
いう利点があり、これ框一方で製造上の歩留り向上に寄
与し、コスト低減効果が期待できるに加え、炉心管材質
として81Cのように高温では塩素又は塩素化合物と反
応するものでも利用できるという利点もある、という浸
れた方法である。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)主要成分が二酸化ケイ素である多孔質ガラス体を
    、塩素又は塩素化合物と一酸化窒素とを含む不活性ガス
    雰囲気中で500℃以上 950℃以下の温度範囲内にて脱水処理し、しかる後雰
    囲気への塩素又は塩素化合物と一酸化窒素との供給を停
    止して加熱透明化することを特徴とする光ファイバ用母
    材の製造方法。
  2. (2)多孔質ガラス体がGeO_2、TiO_2、Al
    _2O_3のいずれか1以上を含むことを特徴とする特
    許請求の範囲第(1)項記載の光ファイバ用母材の製造
    方法。
  3. (3)多孔質ガラス体のカサ密度が0.2g/cm^3
    乃至0.8g/cm^3であることを特徴とする特許請
    求の範囲第(1)又は(2)項に記載の光ファイバ用母
    材の製造方法。
  4. (4)多孔質ガラス体がVAD法、OVD法、ゾルゲル
    法又はブレス法により作製されることを特徴とする特許
    請求の範囲第(1)乃至(3)項のいずれかに記載の光
    ファイバ用母材の製造方法。
  5. (5)塩素又は塩素化合物の濃度がCl_2換算で1容
    量%以上10容量%以下であることを特徴とする特許請
    求の範囲第(1)項記載の光ファイバ用母材の製造方法
  6. (6)塩素又は塩素化合物と一酸化窒素NO^7との比
    がCl原子2に対しNOが1であることを特徴とする特
    許請求の範囲第(1)又は(5)項に記載の光フアイバ
    用母材の製造方法。
  7. (7)塩素化合物が四塩化炭素であることを特徴とする
    特許請求の範囲第(1)、(5)又は(6)項のいずれ
    かに記載の光ファイバ用母材の製造方法。
  8. (8)不活性ガスがヘリウム、アルゴン又は窒素である
    ことを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の光フ
    ァイバ用母材の製造方法。
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