JPH01150829A - 電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法および機械的衝撃力センサ - Google Patents
電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法および機械的衝撃力センサInfo
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- JPH01150829A JPH01150829A JP62310133A JP31013387A JPH01150829A JP H01150829 A JPH01150829 A JP H01150829A JP 62310133 A JP62310133 A JP 62310133A JP 31013387 A JP31013387 A JP 31013387A JP H01150829 A JPH01150829 A JP H01150829A
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- G—PHYSICS
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- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
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- G01L5/0061—Force sensors associated with industrial machines or actuators
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、機械的衝撃力調整方法および機械的衝撃力セ
ンサに関し、特に、電子チップ部品処理時の機械的衝撃
力調整方法およびその方法に使用される機械的衝撃力セ
ンサに関する。
ンサに関し、特に、電子チップ部品処理時の機械的衝撃
力調整方法およびその方法に使用される機械的衝撃力セ
ンサに関する。
[従来の技術]
リアクタンス、コンダクタンスや抵抗などを構成する電
子チップ部品としては、主に磁器からなるものが多く用
いられている。そして、いわゆる軽薄短小の市場ニーズ
から電子チップ部品の小型・薄肉化が進められており、
それらの電子チップ部品の機械強度、特に機械的衝撃力
に対する強度は低下する傾向にある。
子チップ部品としては、主に磁器からなるものが多く用
いられている。そして、いわゆる軽薄短小の市場ニーズ
から電子チップ部品の小型・薄肉化が進められており、
それらの電子チップ部品の機械強度、特に機械的衝撃力
に対する強度は低下する傾向にある。
一方、電子チップ部品の特性選別機や装着機は高速化す
る傾向にあり、電子チップ部品が特性選別機の測定端子
や装着機の位置決め爪などから受ける機械的衝撃力は大
きい。このため、この機械的衝撃力の大きさを正しく把
握して、電子チップ部品が受ける衝撃力を適切な値に調
整する必要がある。
る傾向にあり、電子チップ部品が特性選別機の測定端子
や装着機の位置決め爪などから受ける機械的衝撃力は大
きい。このため、この機械的衝撃力の大きさを正しく把
握して、電子チップ部品が受ける衝撃力を適切な値に調
整する必要がある。
前記調整に際しては、従来、機械的衝撃力センサとして
ロードセルと称されれるセンサが一般に使用されている
。このセンサは、金属基板側面に抵抗体を接若した構造
を有しており、金属基板に加えられた機械的衝撃力を抵
抗変化に基づいて検出するようになっている。
ロードセルと称されれるセンサが一般に使用されている
。このセンサは、金属基板側面に抵抗体を接若した構造
を有しており、金属基板に加えられた機械的衝撃力を抵
抗変化に基づいて検出するようになっている。
[発明が解決しようとする問題点]
前記ロードセルは、機械的衝撃力を測定する対象たる電
子チップ部品とは全く異なりた形状であるばかりでなく
、電子チップ部品よりはるかに大型である。このため、
前記従来の構成によれば、特性選別機や装告機で電子チ
ップ部品を処理する際に受ける機械的衝撃力を測定する
場合に、それらの装置の部品や治具を外したり、着は替
えたりしなければならない。しかも、実際の状況とはか
なり違った状況において機械的衝撃力を測定しなければ
ならない。また、前記ロードセルは基板が金属であり、
磁器とは剛性率や反発係数が異なるため、電子チップ部
品が実際に受ける衝撃力とはかなり違った衝撃力を測る
ことになる。
子チップ部品とは全く異なりた形状であるばかりでなく
、電子チップ部品よりはるかに大型である。このため、
前記従来の構成によれば、特性選別機や装告機で電子チ
ップ部品を処理する際に受ける機械的衝撃力を測定する
場合に、それらの装置の部品や治具を外したり、着は替
えたりしなければならない。しかも、実際の状況とはか
なり違った状況において機械的衝撃力を測定しなければ
ならない。また、前記ロードセルは基板が金属であり、
磁器とは剛性率や反発係数が異なるため、電子チップ部
品が実際に受ける衝撃力とはかなり違った衝撃力を測る
ことになる。
このように、前記従来の構成では、衝撃力の調整が要求
される電子チップ部品が受ける実際の衝撃力とはかなり
かけ離れた測定しか行なうことができないため、電子チ
ップ部品の受ける機械的衝撃力を調整するための正確な
基準とすることができない。
される電子チップ部品が受ける実際の衝撃力とはかなり
かけ離れた測定しか行なうことができないため、電子チ
ップ部品の受ける機械的衝撃力を調整するための正確な
基準とすることができない。
本発明の目的は、電子チップ部品の受ける衝撃力を正確
な値で求めることができ、衝撃による電子チップ部品の
物理的不具合発生を確実に防止することかできる電子チ
ップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法および機械的衝
撃力センサを提供することにある。
な値で求めることができ、衝撃による電子チップ部品の
物理的不具合発生を確実に防止することかできる電子チ
ップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法および機械的衝
撃力センサを提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明に係る電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整
方法は、次の工程を含んでいる。
方法は、次の工程を含んでいる。
■ 電子チップ部品と同形で圧電性を有する機械的衝撃
力センサを用意する工程。
力センサを用意する工程。
■ 電子チップ部品を処理する際と同様に、センサを処
理装置で処理する工程。
理装置で処理する工程。
■ センサを処理した際に、センサが受けた衝撃により
発生した出力電圧を測定し、それからセンサが受けた衝
撃力を計算する工程。
発生した出力電圧を測定し、それからセンサが受けた衝
撃力を計算する工程。
■ 計算によって得られた衝撃力から、処理装置の処理
動作を調整する工程。
動作を調整する工程。
■ その後に、電子チップ部品を処理装置で処理する工
程。
程。
なお、前記処理装置は、たとえば、電子チップ部品の電
気特性を測定して選別する特性選別機や、電子チップ部
品を基板上に装着するチップ装着機である。
気特性を測定して選別する特性選別機や、電子チップ部
品を基板上に装着するチップ装着機である。
本発明に係る機械的衝撃力センサは、圧電性磁器からな
るセンサ本体と、センサ本体に設けられた1対の外部電
極とを備えている。そして、機械的衝撃力センサの全体
が、処理時に機械的衝撃力調整が要求される電子チップ
部品と同形に形成されている。
るセンサ本体と、センサ本体に設けられた1対の外部電
極とを備えている。そして、機械的衝撃力センサの全体
が、処理時に機械的衝撃力調整が要求される電子チップ
部品と同形に形成されている。
なお、たとえば、本発明に係る機械的衝撃力センサは、
外部電極に取付けられたリード線をさらに備えている。
外部電極に取付けられたリード線をさらに備えている。
また、たとえば、前記外部電極は、センサ本体の1対の
対向する端面にそれぞれ設けられている。
対向する端面にそれぞれ設けられている。
[作用]
本発明に係る電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整
方法では、電子チップ部品と同形で圧電性を有する機械
的衝撃力センサを用いる。そして、電子チップ部品を処
理する際と同様に、前記センサを処理装置で処理する。
方法では、電子チップ部品と同形で圧電性を有する機械
的衝撃力センサを用いる。そして、電子チップ部品を処
理する際と同様に、前記センサを処理装置で処理する。
この結果、処理装置で処理する際に電子チップ部品が受
ける衝撃力と同様の衝撃力を、機械的衝撃力センサが受
けることになる。
ける衝撃力と同様の衝撃力を、機械的衝撃力センサが受
けることになる。
衝撃力を機械的衝撃力センサが受けると、機械的衝撃力
センサからは衝撃力の大小に対応した電圧が出力される
。この出力電圧に基づいて衝撃力を計算すれば、電子チ
ップ部品が処理される際に受ける衝撃力を正確な値で求
めることができる。
センサからは衝撃力の大小に対応した電圧が出力される
。この出力電圧に基づいて衝撃力を計算すれば、電子チ
ップ部品が処理される際に受ける衝撃力を正確な値で求
めることができる。
計算によって得られた衝撃力から処理装置の処理動作を
調整すれば、それ以後に電子チップ部品を処理する際に
、電子チップ部品の物理的不具合の発生を確実に防止す
ることができる。
調整すれば、それ以後に電子チップ部品を処理する際に
、電子チップ部品の物理的不具合の発生を確実に防止す
ることができる。
本発明に係る機械的衝撃力センサでは、その全体が、処
理時に機械的衝撃力調整が要求されている電子チップ部
品と同形に形成されている。このことから、当該機械的
衝撃力センサを用いて、電子チップ部品を処理する際と
同様に処理装置で処理工程を行なえば、電子チップ部品
が受ける衝撃力を正確な値で求めることが可能となる。
理時に機械的衝撃力調整が要求されている電子チップ部
品と同形に形成されている。このことから、当該機械的
衝撃力センサを用いて、電子チップ部品を処理する際と
同様に処理装置で処理工程を行なえば、電子チップ部品
が受ける衝撃力を正確な値で求めることが可能となる。
[実施例コ
第1図は、本発明に係る機械的衝撃力センサ1を示して
いる。機械的衝撃力センサ1は、概ね直方体状であり、
後述する処理装置で処理される対象となる電子チップ部
品と外形が同一に形成されている。機械的衝撃力センサ
1は、チタン酸、ジルコン酸および鉛を主体とする材料
(PZT系材料)を焼結して形成されたセンサ本体2と
、センサ本体2の互いに対向する端面に形成された1対
の外部電極3とを有している。
いる。機械的衝撃力センサ1は、概ね直方体状であり、
後述する処理装置で処理される対象となる電子チップ部
品と外形が同一に形成されている。機械的衝撃力センサ
1は、チタン酸、ジルコン酸および鉛を主体とする材料
(PZT系材料)を焼結して形成されたセンサ本体2と
、センサ本体2の互いに対向する端面に形成された1対
の外部電極3とを有している。
センサ本体2の大きさは、たとえば、3.2×1.6X
1.Ommである。また、センサ本体2は予め分極処理
が施されており、その圧電定数および静電容量が予め測
定されている。外部電極3は、銀を主体としたペースト
を印刷し、焼付けることによって形成されている。セン
サ本体2の分極処理は、外部電極3を焼付けた後に、高
温オイル中で高電圧を印加することによって行なわれる
。
1.Ommである。また、センサ本体2は予め分極処理
が施されており、その圧電定数および静電容量が予め測
定されている。外部電極3は、銀を主体としたペースト
を印刷し、焼付けることによって形成されている。セン
サ本体2の分極処理は、外部電極3を焼付けた後に、高
温オイル中で高電圧を印加することによって行なわれる
。
その分極処理の後に、センサ1の圧電定数および静電容
量が測定される。
量が測定される。
次に、第1図の機械的衝撃力センサ1を用いて、本発明
に係る機械的衝撃力調整方法を説明する。
に係る機械的衝撃力調整方法を説明する。
調整方法1
第2図は、電子チップ部品の特性を測定して選別する特
性選別機5を略図的に示している。第2図において、特
性選別機5は、電子チップ部品を多数保持する台6と、
電子チップ部品の電極に接触し得る1対のAIIJ定端
子7,8と、A11j定端子7゜8に接続されオシロス
コープを有する特性測定装置9とを有している。
性選別機5を略図的に示している。第2図において、特
性選別機5は、電子チップ部品を多数保持する台6と、
電子チップ部品の電極に接触し得る1対のAIIJ定端
子7,8と、A11j定端子7゜8に接続されオシロス
コープを有する特性測定装置9とを有している。
前記台6は、上方に向かい開いた多数の凹所10を有し
ており、凹所10内に電子チップ部品が挿入されて保持
されるようになっている。凹所10の底面と台6の下面
との間には小径の孔11が形成されており、孔11を通
して下方の測定端子7が電子チップ部品の電極に接触し
得るようになっている。また、凹所10の深さは、電子
チップ部品を挿入した際に電子チップ部品の上端が上方
にわずかに突出する程度に設定されており、これによっ
て電子チップ部品の上端の電極が測定端子8に接触し得
るようになっている。
ており、凹所10内に電子チップ部品が挿入されて保持
されるようになっている。凹所10の底面と台6の下面
との間には小径の孔11が形成されており、孔11を通
して下方の測定端子7が電子チップ部品の電極に接触し
得るようになっている。また、凹所10の深さは、電子
チップ部品を挿入した際に電子チップ部品の上端が上方
にわずかに突出する程度に設定されており、これによっ
て電子チップ部品の上端の電極が測定端子8に接触し得
るようになっている。
本発明に係る機械的衝撃力調整方法を実施するに際し、
まず、電子チップ部品と同形で圧電性を有する第1図の
機械的衝撃力センサ1を用意する。
まず、電子チップ部品と同形で圧電性を有する第1図の
機械的衝撃力センサ1を用意する。
その機械的衝撃力センサ1を、台6の凹所10に第2図
に示すように挿入する。そして、電子チップ部品を処理
する際と同様に、測定端子7を上方に、測定端子8を下
方に移動させて、機械的衝撃力センサ1の外部電極3に
両測定端子7.8を当接させる(第3図)。この際の衝
撃力によって、機械的衝撃力センサ1には、その衝撃力
の大小に応じた電圧が発生する。その出力電圧を、測定
端子7.8を介して測定装置9のオシロスコープで測定
し、記録する。なお、測定装置って測定される出力電圧
の変化は、たとえば第4図のようになる。第4図におい
て最初に発生する出力電圧のピーク値Aを、機械的衝撃
力センサについて予め測定しておいた圧電定数を用いて
衝撃力に換算し、測定時に測定端子7.8が機械的衝撃
力センサ1に当接することによって発生した衝撃力を求
める。
に示すように挿入する。そして、電子チップ部品を処理
する際と同様に、測定端子7を上方に、測定端子8を下
方に移動させて、機械的衝撃力センサ1の外部電極3に
両測定端子7.8を当接させる(第3図)。この際の衝
撃力によって、機械的衝撃力センサ1には、その衝撃力
の大小に応じた電圧が発生する。その出力電圧を、測定
端子7.8を介して測定装置9のオシロスコープで測定
し、記録する。なお、測定装置って測定される出力電圧
の変化は、たとえば第4図のようになる。第4図におい
て最初に発生する出力電圧のピーク値Aを、機械的衝撃
力センサについて予め測定しておいた圧電定数を用いて
衝撃力に換算し、測定時に測定端子7.8が機械的衝撃
力センサ1に当接することによって発生した衝撃力を求
める。
この際、行なわれる測定動作は電子チップ部品について
の1lFJ定動作と全く同様であり、しかも機械的衝撃
力センサ1は電子チップ部品と同形であるので、実際に
電子チップ部品が測定された際に受ける衝撃力を正確な
値で求めことができる。
の1lFJ定動作と全く同様であり、しかも機械的衝撃
力センサ1は電子チップ部品と同形であるので、実際に
電子チップ部品が測定された際に受ける衝撃力を正確な
値で求めことができる。
次に、前記計算によって得られた衝撃力から測定端子7
.8の電子チップ部品への当接程度を判断し、適切な当
接力となるように、特性選別機5の測定端子7,8の動
作を調整する。その調整を行なった後に、電子チップ部
品を特性選別機5の凹所10内に挿入し、電子チップ部
品の特性を測定し、選別を行なう。この場合に、電子チ
ップ部品の受ける衝撃力は予め正確な値で求められ、そ
れに基づいて特性選別機5の処理動作が調整されている
ことから、電子チップ部品の物理的不具合発生が確実に
防止できる。
.8の電子チップ部品への当接程度を判断し、適切な当
接力となるように、特性選別機5の測定端子7,8の動
作を調整する。その調整を行なった後に、電子チップ部
品を特性選別機5の凹所10内に挿入し、電子チップ部
品の特性を測定し、選別を行なう。この場合に、電子チ
ップ部品の受ける衝撃力は予め正確な値で求められ、そ
れに基づいて特性選別機5の処理動作が調整されている
ことから、電子チップ部品の物理的不具合発生が確実に
防止できる。
調整方法2
第5図は、チップ装管機15の概略図である。
第5図において、上方に配置された吸引ノズル16は概
ね円筒状の部材であり、図示しない電圧装置に連結され
ることによって、その先端から空気を吸引するようにな
っている。吸引ノズル16の両側には、1対の位置決め
爪17.18が配置されている。吸引ノズル16の下方
には、上面にプリント配線19を有するプリント基板2
0が位置されている。また、第5図に示された機械的衝
撃力センサ1は、その両端の外部電極3にそれぞれリー
ド線21が接続されている。そして、各リード線21は
、オシロスコープを有する測定装置22に接続されてい
る。
ね円筒状の部材であり、図示しない電圧装置に連結され
ることによって、その先端から空気を吸引するようにな
っている。吸引ノズル16の両側には、1対の位置決め
爪17.18が配置されている。吸引ノズル16の下方
には、上面にプリント配線19を有するプリント基板2
0が位置されている。また、第5図に示された機械的衝
撃力センサ1は、その両端の外部電極3にそれぞれリー
ド線21が接続されている。そして、各リード線21は
、オシロスコープを有する測定装置22に接続されてい
る。
この機械的衝撃力調整方法を実施する際には、まず、電
子チップ部品と同形で圧電性を有する機械的衝撃力セン
サ1を用意し、両性部電極3にリード線21を接続する
とともに、リード線21を介して外部電極3を測定装置
22に接続しておく。
子チップ部品と同形で圧電性を有する機械的衝撃力セン
サ1を用意し、両性部電極3にリード線21を接続する
とともに、リード線21を介して外部電極3を測定装置
22に接続しておく。
1を吸着させる。次に、位置決め爪17を、第6図に示
すように、機械的衝撃力センサ1の電極3に当接させる
。これにより、吸引ノズル16の下端において機械的衝
撃力センサは所定位置に配置されることになる。この動
作において、位置決め爪17.18は電極3に当接する
ので、機械的衝撃力センサ1ではその衝撃力の大小に応
じて電圧が発生する。その出力電圧は電極3およびリー
ド線21を介して測定装置22に入力される。測定装置
22では、その出力電圧のピーク値を、予め測定してお
いた圧電定数を用いて衝撃力に換算し、衝撃力を求める
。
すように、機械的衝撃力センサ1の電極3に当接させる
。これにより、吸引ノズル16の下端において機械的衝
撃力センサは所定位置に配置されることになる。この動
作において、位置決め爪17.18は電極3に当接する
ので、機械的衝撃力センサ1ではその衝撃力の大小に応
じて電圧が発生する。その出力電圧は電極3およびリー
ド線21を介して測定装置22に入力される。測定装置
22では、その出力電圧のピーク値を、予め測定してお
いた圧電定数を用いて衝撃力に換算し、衝撃力を求める
。
次に、位置決め爪17.18を機械的衝撃力センサ1か
ら離してもとの位置に戻し、続いて吸引ノズル16を下
方に移動させる。そして、吸引ノズル16によって、機
械的衝撃力センサ1をプリント基板20上のプリント配
線19に、第7図に示すように載置する。この動作によ
って、機械的衝撃力センサ1は再び衝撃力を受け、電圧
を発生させる。この出力電圧も測定装置22に人力され
、出力電圧のピーク値と予め測定された機械的衝撃力セ
ンサ1の圧電定数とを用いて衝撃力が計算される。
ら離してもとの位置に戻し、続いて吸引ノズル16を下
方に移動させる。そして、吸引ノズル16によって、機
械的衝撃力センサ1をプリント基板20上のプリント配
線19に、第7図に示すように載置する。この動作によ
って、機械的衝撃力センサ1は再び衝撃力を受け、電圧
を発生させる。この出力電圧も測定装置22に人力され
、出力電圧のピーク値と予め測定された機械的衝撃力セ
ンサ1の圧電定数とを用いて衝撃力が計算される。
次に、計算によって得られた衝撃力から、位置決め爪1
7.18の動作および吸引ノズル16の動作が調整され
、過剰な衝撃力が電子チップ部品に与えられないように
調整される。
7.18の動作および吸引ノズル16の動作が調整され
、過剰な衝撃力が電子チップ部品に与えられないように
調整される。
その調整の後に、電子チップ部品をチップ装着機15を
用いてプリント基板20上に装着していく。
用いてプリント基板20上に装着していく。
この場合にも、電子チップ部品の受ける衝撃力が正確な
値で求められており、それに基づいてチップ装着機15
の動作が調整されていることから、電子チップ部品の物
理的不具合発生が確実に防止できる。
値で求められており、それに基づいてチップ装着機15
の動作が調整されていることから、電子チップ部品の物
理的不具合発生が確実に防止できる。
調整方法3
前記調整方法2において使用したチップ装着機15の位
置決め爪17.18に、第8図に示すように、リード線
25を介して測定装置22を接続してもよい。この場合
には、機械的衝撃力センサ1にリード線21を設ける必
要はない。また、位置決め爪17.18は金属製である
。
置決め爪17.18に、第8図に示すように、リード線
25を介して測定装置22を接続してもよい。この場合
には、機械的衝撃力センサ1にリード線21を設ける必
要はない。また、位置決め爪17.18は金属製である
。
この調整方法では、電子チップ部品と同形で圧電性を有
する機械的衝撃力センサ1を用意し、その機械的衝撃力
センサを用いて通常のチップ装着動作と同様の動作を行
なう。まず、第8図に示すように、機械的衝撃力センサ
1を吸引ノズル16の下端に吸着する。次に、位置決め
爪17.18を機械的衝撃力センサ1の外部電極3に当
接させ、吸引ノズル16による機械的衝撃力センサ1の
吸引姿勢を正す(第9図)。このとき、位置決め爪17
.18によって機械的衝撃力センサ1は衝撃力を受け、
その衝撃力の大きさに応じた電圧を発生させる。この出
力電圧は、位置決め爪17,18およびリード線25を
介して測定装置22に入力される。測定装置22では、
入力電圧に基づいて衝撃力を計算する。
する機械的衝撃力センサ1を用意し、その機械的衝撃力
センサを用いて通常のチップ装着動作と同様の動作を行
なう。まず、第8図に示すように、機械的衝撃力センサ
1を吸引ノズル16の下端に吸着する。次に、位置決め
爪17.18を機械的衝撃力センサ1の外部電極3に当
接させ、吸引ノズル16による機械的衝撃力センサ1の
吸引姿勢を正す(第9図)。このとき、位置決め爪17
.18によって機械的衝撃力センサ1は衝撃力を受け、
その衝撃力の大きさに応じた電圧を発生させる。この出
力電圧は、位置決め爪17,18およびリード線25を
介して測定装置22に入力される。測定装置22では、
入力電圧に基づいて衝撃力を計算する。
次に、計算によって得られた衝撃力に基づいてチップ装
着機15の処理動作を調整し、位置決め爪17.18に
よって電子チップ部品が受ける衝撃力を調整する。
着機15の処理動作を調整し、位置決め爪17.18に
よって電子チップ部品が受ける衝撃力を調整する。
その後に、前記チップ装着機15を用いて、プリント基
板20上に電子チップ部品を装着する処理を行なう。
板20上に電子チップ部品を装着する処理を行なう。
その場合において、電子チップ部品が位置決め爪17.
18から受ける衝撃力は、機械的衝撃力センサ1を用い
て計算された正確な値に基づいて予め調整されているこ
とから、電子チップ部品の物理的不具合発生を確実に防
止することができる。
18から受ける衝撃力は、機械的衝撃力センサ1を用い
て計算された正確な値に基づいて予め調整されているこ
とから、電子チップ部品の物理的不具合発生を確実に防
止することができる。
なお、本発明に係る機械的衝撃力センサ1としては、電
子チップ部品の形状に合わせて、種々の形状のものを使
用することができる。たとえば、第10図に示すように
、センサ本体2を円筒形とし、その両端に金属ペースト
および金属キャップからなる外部電極3を設けた構成と
してもよい。
子チップ部品の形状に合わせて、種々の形状のものを使
用することができる。たとえば、第10図に示すように
、センサ本体2を円筒形とし、その両端に金属ペースト
および金属キャップからなる外部電極3を設けた構成と
してもよい。
[発明の効果コ
本発明に係る電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整
方法によれば、電子チップ部品の処理装置の実稼動状態
での衝撃力を実質的に求めることができるようになり、
電子チップ部品の受ける衝撃力を正確な値で得ることが
できるようになる。
方法によれば、電子チップ部品の処理装置の実稼動状態
での衝撃力を実質的に求めることができるようになり、
電子チップ部品の受ける衝撃力を正確な値で得ることが
できるようになる。
したがって、本発明に係る機械的衝撃力調整方法を、た
とえば、生産ラインでの特性選別機やチップ装着機に採
用することにより、衝撃による電子チップ部品の物理的
不具合発生を確実に防止することができるようになる。
とえば、生産ラインでの特性選別機やチップ装着機に採
用することにより、衝撃による電子チップ部品の物理的
不具合発生を確実に防止することができるようになる。
なお、本発明に係る機械的衝撃力センサによれば、セン
サ全体が、処理時に機械的衝撃力調整が要求される電子
チップ部品と同形に形成されいることから、電子チップ
部品の処理装置における電子チップ部品の受ける衝撃力
を正確な値で求めることができるようになる。
サ全体が、処理時に機械的衝撃力調整が要求される電子
チップ部品と同形に形成されいることから、電子チップ
部品の処理装置における電子チップ部品の受ける衝撃力
を正確な値で求めることができるようになる。
第1図は、本発明に係る機械的衝撃力センサの斜視図で
ある。第2図は、本発明に係る電子チップ部品処理時の
機械的衝撃力調整方法に使用される特性選別機の縦断面
略図である。第3図は、その特性選別機の一作動状態を
示す縦断面略図である。第4図は、機械的衝撃力センサ
の出力電圧の経時変化を示すグラフである。第5図は、
他の実施例における機械的衝撃力調整方法に使用される
チップ装着機の縦断面略図である。第6図および第7図
は、第5図の実施例におけるチップ装着機の作動状態を
示す縦断面略図である。第8図は、さらに別の実施例に
係る機械的衝撃力調整方法に使用されるチップ装着機の
概略図である。第9図は、第8図の実施例におけるチッ
プ装管機の一作動状態を示す概略図である。第10図は
、さらに別の実施例における機械的衝撃力センサの斜視
図である。 1はセンサ、2はセンサ本体、3は外部電極、5は特性
選別機、9,22は測定装置、15はチップ装着機、7
,8はn1定端子、17.18は位置決め爪、21はリ
ード線である。
ある。第2図は、本発明に係る電子チップ部品処理時の
機械的衝撃力調整方法に使用される特性選別機の縦断面
略図である。第3図は、その特性選別機の一作動状態を
示す縦断面略図である。第4図は、機械的衝撃力センサ
の出力電圧の経時変化を示すグラフである。第5図は、
他の実施例における機械的衝撃力調整方法に使用される
チップ装着機の縦断面略図である。第6図および第7図
は、第5図の実施例におけるチップ装着機の作動状態を
示す縦断面略図である。第8図は、さらに別の実施例に
係る機械的衝撃力調整方法に使用されるチップ装着機の
概略図である。第9図は、第8図の実施例におけるチッ
プ装管機の一作動状態を示す概略図である。第10図は
、さらに別の実施例における機械的衝撃力センサの斜視
図である。 1はセンサ、2はセンサ本体、3は外部電極、5は特性
選別機、9,22は測定装置、15はチップ装着機、7
,8はn1定端子、17.18は位置決め爪、21はリ
ード線である。
Claims (9)
- (1) 電子チップ部品と同形で圧電性を有する機械的
衝撃力センサを用意する工程と、 前記電子チップ部品を処理する際と同様に前記センサを
処理装置で処理する工程と、 前記センサを処理した際に、前記センサが受けた衝撃に
より発生した出力電圧を測定し、それから前記センサが
受けた衝撃力を計算する工程と、前記計算によって得ら
れた衝撃力から前記処理装置の処理動作を調整する工程
と、 その後に、前記電子チップ部品を前記処理装置で処理す
る工程と、 を含む電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法。 - (2) 前記処理装置は、電子チップ部品の電気特性を
測定して選別する特性選別機である特許請求の範囲第1
項記載の電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法
。 - (3) 前記センサからの出力電圧は、前記特性選別機
の測定端子を用いて測定される特許請求の範囲第2項記
載の電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法。 - (4) 前記処理装置は、前記電子チップ部品を基板上
に装着するチップ装着機である特許請求の範囲第1項記
載の電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法。 - (5) 前記センサからの出力電圧は、前記センサに設
けられたリード線を通して測定される特許請求の範囲第
4項記載の電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方
法。 - (6) 前記センサからの出力電圧は、前記チップ装着
機に設けられた位置決め爪を通して測定される特許請求
の範囲第4項記載の電子チップ部品処理時の機械的衝撃
力調整方法。 - (7) 圧電性磁器からなるセンサ本体と、前記センサ
本体に設けられた1対の外部電極とを備え、 全体が、処理時に機械的衝撃力調整が要求される電子チ
ップ部品と同形に形成されている、機械的衝撃力センサ
。 - (8) 前記外部電極に取付けられたリード線をさらに
備えた特許請求の範囲第7項記載の機械的衝撃力センサ
。 - (9) 前記外部電極は、前記センサ本体の1対の対向
する端面にそれぞれ設けられている特許請求の範囲第8
項記載の機械的衝撃力センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62310133A JPH01150829A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法および機械的衝撃力センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62310133A JPH01150829A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法および機械的衝撃力センサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01150829A true JPH01150829A (ja) | 1989-06-13 |
Family
ID=18001565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62310133A Pending JPH01150829A (ja) | 1987-12-07 | 1987-12-07 | 電子チップ部品処理時の機械的衝撃力調整方法および機械的衝撃力センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01150829A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Citations (2)
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-
1987
- 1987-12-07 JP JP62310133A patent/JPH01150829A/ja active Pending
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