JPH01151252A - セラミックパッケージとその製造方法 - Google Patents
セラミックパッケージとその製造方法Info
- Publication number
- JPH01151252A JPH01151252A JP62310450A JP31045087A JPH01151252A JP H01151252 A JPH01151252 A JP H01151252A JP 62310450 A JP62310450 A JP 62310450A JP 31045087 A JP31045087 A JP 31045087A JP H01151252 A JPH01151252 A JP H01151252A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic
- mullite
- package
- ceramic substrate
- thermal expansion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はセラミックパッケージとその製造方法に関し、
より詳細にはムライトセラミックを用いたセラ1ミツク
パツケージとその製造方法に関する。
より詳細にはムライトセラミックを用いたセラ1ミツク
パツケージとその製造方法に関する。
(従来の技術)
近年、t[を子部品の高密度化および大型化、信号伝送
の高速化、低コスト化等にともない、電子部品用のパッ
ケージは熱放散性が良く、チップとの接合性が高く、ま
た低誘電率である等の様々な特性を満足するものが要求
されている。従来パッケージ材料として用いられている
のは、機械的特性の良さあるいは作業性の良さ等の点か
らほとんどがアルミナセラミックであり、これに対して
、前述した要求に対処すべく最近は窒化アルミニウム、
炭化ケイ素等のセラミック材料が提供されている。
の高速化、低コスト化等にともない、電子部品用のパッ
ケージは熱放散性が良く、チップとの接合性が高く、ま
た低誘電率である等の様々な特性を満足するものが要求
されている。従来パッケージ材料として用いられている
のは、機械的特性の良さあるいは作業性の良さ等の点か
らほとんどがアルミナセラミックであり、これに対して
、前述した要求に対処すべく最近は窒化アルミニウム、
炭化ケイ素等のセラミック材料が提供されている。
第4図および第5図は熱放散性を高めるためにヒートシ
ンクを付設したアルミナセラミック製セラミックパッケ
ージの従来例を示すものである。
ンクを付設したアルミナセラミック製セラミックパッケ
ージの従来例を示すものである。
第4図のパッケージはアルミナセラミック基板1に放熱
板とステージ部を兼用するモリブデン板2を接合したも
のであり、第5図のパッケージはアルミナセラミック基
板1にモリブデン板の放熱板3を接合したものである。
板とステージ部を兼用するモリブデン板2を接合したも
のであり、第5図のパッケージはアルミナセラミック基
板1にモリブデン板の放熱板3を接合したものである。
前記モリブデン板2は半導体、チップとほぼ同等の熱膨
張係数を有するので半導体チップの接合には好適である
0図で4は半導体チップ、5はワイヤ、6は導通パター
ン。
張係数を有するので半導体チップの接合には好適である
0図で4は半導体チップ、5はワイヤ、6は導通パター
ン。
7はリードビンである。
ところで、上述したようにアルミナセラミック基板1に
モリブデン板2を接合する場合は、モリブデンとアルミ
ナセラミックとの熱膨張係数が離れているため、熱膨張
によってクラック等が生じないように応力を吸収するこ
とが必要であり、このため、従来は銅、銀のような柔軟
な金属を介してろう付けすることにより応力を吸収した
り、歪み量を抑えるためヒートシンクを大きくしないよ
うにしたりしている。
モリブデン板2を接合する場合は、モリブデンとアルミ
ナセラミックとの熱膨張係数が離れているため、熱膨張
によってクラック等が生じないように応力を吸収するこ
とが必要であり、このため、従来は銅、銀のような柔軟
な金属を介してろう付けすることにより応力を吸収した
り、歪み量を抑えるためヒートシンクを大きくしないよ
うにしたりしている。
第4図の例は銅泊8を介してろう材9によりアルミナセ
ラミック基板1とモリブデン板2とを接合したものであ
り、第5図の例は放熱板3をモリブデン板3aを芯材と
し上下面を銅10でクラッドしてアルミナセラミック基
板1に胴部分でろう付けしたものである。
ラミック基板1とモリブデン板2とを接合したものであ
り、第5図の例は放熱板3をモリブデン板3aを芯材と
し上下面を銅10でクラッドしてアルミナセラミック基
板1に胴部分でろう付けしたものである。
また、これら従来例の他に第5図と同様にモリブデン哲
の両面に銅クラツドした放熱板をステージ部兼用のヒー
トシンクとしてアルミナセラミック基板にろう付けする
例もあり、この場合は半導体チップとの熱膨張係数を合
わせるために、放熱板の半導体チップを接合する範囲内
の銅クラツド面にモリブデンの薄板を接合して半導体チ
ップを接合するようにしている。
の両面に銅クラツドした放熱板をステージ部兼用のヒー
トシンクとしてアルミナセラミック基板にろう付けする
例もあり、この場合は半導体チップとの熱膨張係数を合
わせるために、放熱板の半導体チップを接合する範囲内
の銅クラツド面にモリブデンの薄板を接合して半導体チ
ップを接合するようにしている。
(発明が解決しようとする問題点)
上述した従来のアルミナセラミック環のパッケージは電
気的特性に劣る他、上述したように熱放散性を高めるた
めにヒートシンクを付けたパッケージではヒートシンク
金属とセラミック基板との間に応力を緩和するための緩
N層を設けなくてはならず、構造が複雑であり、ろう付
けやろう付けのためのめっき処理等が必要となり工数が
多く、コストの上昇につながるという問題点がある。ま
た、前述したように緩衝層には銅、銀などの柔軟な金属
が用いられるが、大面積を接合することには適さなく、
パッケージの大型化には不向きであり、また接合部分が
厚くなる等の形状上の問題点もある。
気的特性に劣る他、上述したように熱放散性を高めるた
めにヒートシンクを付けたパッケージではヒートシンク
金属とセラミック基板との間に応力を緩和するための緩
N層を設けなくてはならず、構造が複雑であり、ろう付
けやろう付けのためのめっき処理等が必要となり工数が
多く、コストの上昇につながるという問題点がある。ま
た、前述したように緩衝層には銅、銀などの柔軟な金属
が用いられるが、大面積を接合することには適さなく、
パッケージの大型化には不向きであり、また接合部分が
厚くなる等の形状上の問題点もある。
そこで、本発明は上記問題点を解消すべくなされたもの
であり、その目的とするところは半導体チップとの接合
性を向上させることができるとともに、熱放散性に優れ
たセラミックパッケージを容易に得ることのできるセラ
ミックパッケージの製造方法を提供するとともに、熱放
散性、電気的特性にすぐれたセラミックパッケージを提
供するにある。
であり、その目的とするところは半導体チップとの接合
性を向上させることができるとともに、熱放散性に優れ
たセラミックパッケージを容易に得ることのできるセラ
ミックパッケージの製造方法を提供するとともに、熱放
散性、電気的特性にすぐれたセラミックパッケージを提
供するにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明は上記目的を達成するため次の構成をそなえる。
すなわち、パッケージ本体がムライトセラミックによっ
て形成され、該パッケージ本体に熱膨張係数が3.5〜
6.OXl0−6/℃である放熱用の金属板が一体に接
合されたことを特徴とし、また。
て形成され、該パッケージ本体に熱膨張係数が3.5〜
6.OXl0−6/℃である放熱用の金属板が一体に接
合されたことを特徴とし、また。
セラミックパッケージの製造方法において、ムライト粉
末100重量部にたいして、焼結助剤としてアルカリ土
類化合物あるいは希土類化合物の少なくとも一方を0.
1重量部以上添加されてなるムライトセラミックグリー
ンシートに、熱膨張係数が3.5〜6.OXl0−’/
”Cである放熱用の金属板を密着させて焼結することに
より、ムライトセラミック基板と前記金属板とを一体に
接合することを特徴とする。
末100重量部にたいして、焼結助剤としてアルカリ土
類化合物あるいは希土類化合物の少なくとも一方を0.
1重量部以上添加されてなるムライトセラミックグリー
ンシートに、熱膨張係数が3.5〜6.OXl0−’/
”Cである放熱用の金属板を密着させて焼結することに
より、ムライトセラミック基板と前記金属板とを一体に
接合することを特徴とする。
(作用)
次に、作用について述べる。
ムライトセラミックおよび熱膨張係数が3.5〜6、O
XIO””/’Cの金属板は半導体チップとほぼ同等の
熱膨張係数を有するので、接合される半導体チップと熱
的な整合性が図れ、また、大型のヒートシンクを設ける
ことができて熱放散性を高めることができる。
XIO””/’Cの金属板は半導体チップとほぼ同等の
熱膨張係数を有するので、接合される半導体チップと熱
的な整合性が図れ、また、大型のヒートシンクを設ける
ことができて熱放散性を高めることができる。
また、ムライト粉末に焼結助剤を添加することにより、
ムライトセラミックの焼結と同時に金属板とムライトセ
ラミック基板とを一体に接合する。
ムライトセラミックの焼結と同時に金属板とムライトセ
ラミック基板とを一体に接合する。
(実施例)
以下本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に
説明する。
説明する。
〔第1実施例〕
第1図は本発明のセラミックパッケージの製造方法によ
って得られたセラミックパッケージの一実施例で、ピン
グリッドアレイ型のセラミックパッケージの例を示す。
って得られたセラミックパッケージの一実施例で、ピン
グリッドアレイ型のセラミックパッケージの例を示す。
同図で12はパッケージ本体として積層して設けられる
ムライトセラミック基板であり、14はムライトセラミ
ック基板12に設けられる配線パターン、16は前記ム
ライトセラミック基板12にろう付けされるリードピン
、18はビアである。
ムライトセラミック基板であり、14はムライトセラミ
ック基板12に設けられる配線パターン、16は前記ム
ライトセラミック基板12にろう付けされるリードピン
、18はビアである。
20は前記ムライ1−セラミック基板12の下面にヒー
トシンクとして接合されるモリブデン板である。22は
モリブデン板20上に接合される半導体チップ、23は
半導体チップ22と前記配線パターン14とを接続する
ワイヤ、24は半導体チップ22を密封するキャップで
ある。
トシンクとして接合されるモリブデン板である。22は
モリブデン板20上に接合される半導体チップ、23は
半導体チップ22と前記配線パターン14とを接続する
ワイヤ、24は半導体チップ22を密封するキャップで
ある。
第2図は上記セラミックパッケージの断面図を示す。
このセラミックパッケージはセラミックパッケージ本体
がムライトセラミックによって形成され。
がムライトセラミックによって形成され。
これにステージ部兼用のヒートシンクとしてムライトセ
ラミック基板12の下面全体にモリブデン板20が接合
されている点を特徴としている。
ラミック基板12の下面全体にモリブデン板20が接合
されている点を特徴としている。
このパッケージの製造にあたっては、まず、セラミック
材料としてムライト粉末100重量部にたいして焼結助
剤として酸化イツトリウムを約4重量部を添加したもの
をベース材料とし、これにバインダおよび溶剤を加えて
ボールミルにより粉砕・混合する。
材料としてムライト粉末100重量部にたいして焼結助
剤として酸化イツトリウムを約4重量部を添加したもの
をベース材料とし、これにバインダおよび溶剤を加えて
ボールミルにより粉砕・混合する。
ついで、ドクターブレード法によってシート成形し、こ
れにビア加工を施し、タングステンペーストを用いて配
線パターンを印刷する。
れにビア加工を施し、タングステンペーストを用いて配
線パターンを印刷する。
そして、このムライトセラミックのグリーンシートを積
層するとともに、ステージ部兼用のモリブデン板20に
載置して密着させてから、脱脂し所定温度にて焼結を行
って、ムライトセラミック基板12の焼結とモリブデン
板20との接合一体化を同時に行う。
層するとともに、ステージ部兼用のモリブデン板20に
載置して密着させてから、脱脂し所定温度にて焼結を行
って、ムライトセラミック基板12の焼結とモリブデン
板20との接合一体化を同時に行う。
この焼結方法では焼結助剤を添加することによって焼結
時に液相が生じるようにし、この液相によりムライトセ
ラミック基板12とモリブデン板20との接合性を高め
、ムライトセラミック基板12にモリブデン板20が強
固に接合されるようにしている。実施例では前記焼結助
剤として酸化イツトリウムを4重量%程度添加し、焼結
時のモリブデン板20の濡れ性を向上させている。
時に液相が生じるようにし、この液相によりムライトセ
ラミック基板12とモリブデン板20との接合性を高め
、ムライトセラミック基板12にモリブデン板20が強
固に接合されるようにしている。実施例では前記焼結助
剤として酸化イツトリウムを4重量%程度添加し、焼結
時のモリブデン板20の濡れ性を向上させている。
なお、焼結助剤としては上記酸化イツトリウムの他に、
酸化ジルコニウム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム
、酸化ケイ素等が使用できる。
酸化ジルコニウム、酸化カルシウム、酸化マグネシウム
、酸化ケイ素等が使用できる。
〔第2実施例〕
第3図は本発明に係るセラミックパッケージの第2実施
例を示す断面図である。
例を示す断面図である。
この実施例で示すセラミックパッケージはムライトセラ
ミック基板12にモリブデン板20をろう材26によっ
て接合したことを特徴とする。ムライトセラミック基板
12は第1実施例と同様に、ムライト粉末に焼結助剤と
して酸化イツトリウムを添加し、バインダ、溶剤を加え
てボールミルした後、シート成形し、所定のビア加工、
導通パターンを印刷した後焼結される。
ミック基板12にモリブデン板20をろう材26によっ
て接合したことを特徴とする。ムライトセラミック基板
12は第1実施例と同様に、ムライト粉末に焼結助剤と
して酸化イツトリウムを添加し、バインダ、溶剤を加え
てボールミルした後、シート成形し、所定のビア加工、
導通パターンを印刷した後焼結される。
ついで、ムライトセラミック基板12とモリブデン板2
0とを接合するため、ムライトセラミック基板12側と
モリブデン板20側のそれぞれの接合面にニッケルめっ
きを施し、ムライトセラミック基板12とモリブデン板
20とを共晶銀ろうによってろう付は接合する。そして
、リードピン16等を取り付けた後、ステージ部等にニ
ッケルめっき、金めつきを施して製品とする。
0とを接合するため、ムライトセラミック基板12側と
モリブデン板20側のそれぞれの接合面にニッケルめっ
きを施し、ムライトセラミック基板12とモリブデン板
20とを共晶銀ろうによってろう付は接合する。そして
、リードピン16等を取り付けた後、ステージ部等にニ
ッケルめっき、金めつきを施して製品とする。
上述したように第1実施例および第2実施例ではいずれ
もセラミック基板としてムライトセラミックを使用し、
ステージ部兼用のモリブデン板を接合している。ここで
シリコンの熱膨張係数は約3.5 XIG−’/’C,
モリブデンの熱膨張係数は約4〜5 Xl0−’/’C
、ムライトセラミックの熱膨張係数は約4XIO−’/
”Cであり、これら相互の熱膨張係数が近いので、半導
体チップとの熱的な整合性がきわめて良いという特徴を
有する。これにより、モリブデン板20とムライトセラ
ミック基板12との間でも熱膨張による応力の発生をほ
とんどなくす菖ことができる。この結果、従来例のよう
に応力を吸収する緩衝層を設ける必要がなく、熱膨張係
数の相違によってクラックが発生すること等がな・いか
ら大面積のヒートシンクを設けることができ、また、構
造が簡単で放熱性に優れたパッケージを提供することが
できる。
もセラミック基板としてムライトセラミックを使用し、
ステージ部兼用のモリブデン板を接合している。ここで
シリコンの熱膨張係数は約3.5 XIG−’/’C,
モリブデンの熱膨張係数は約4〜5 Xl0−’/’C
、ムライトセラミックの熱膨張係数は約4XIO−’/
”Cであり、これら相互の熱膨張係数が近いので、半導
体チップとの熱的な整合性がきわめて良いという特徴を
有する。これにより、モリブデン板20とムライトセラ
ミック基板12との間でも熱膨張による応力の発生をほ
とんどなくす菖ことができる。この結果、従来例のよう
に応力を吸収する緩衝層を設ける必要がなく、熱膨張係
数の相違によってクラックが発生すること等がな・いか
ら大面積のヒートシンクを設けることができ、また、構
造が簡単で放熱性に優れたパッケージを提供することが
できる。
また、同時にムライトセラミックは低誘電率であるから
、信号伝送の遅延・損失がなく高速素子用パッケージと
して好適である。なお、ムライトセラミックは熱伝導率
がアルミナセラミック等と比較して低いが、上述したよ
うに大面積のヒートシンクを設けることができるので、
熱放散性にも十分対処することができる。
、信号伝送の遅延・損失がなく高速素子用パッケージと
して好適である。なお、ムライトセラミックは熱伝導率
がアルミナセラミック等と比較して低いが、上述したよ
うに大面積のヒートシンクを設けることができるので、
熱放散性にも十分対処することができる。
また、ムライトセラミックを使用したことにより、第1
実施例のようにムライトセラミック基板12のグリーン
シートを焼結すると同時にモリブデン板20を接合する
ことができるから、この場合はヒートシンクを接合する
ためのめっき処理等がまったく不用で、製造工程がきわ
めて簡素化される。
実施例のようにムライトセラミック基板12のグリーン
シートを焼結すると同時にモリブデン板20を接合する
ことができるから、この場合はヒートシンクを接合する
ためのめっき処理等がまったく不用で、製造工程がきわ
めて簡素化される。
なお、上述した実施例ではモリブデン板20をステージ
部兼用としているが、場合によってはムライト宮ラミッ
ク基板にステージ部を設け、モリブデン板をヒートシン
ク専用とすることも可能である。
部兼用としているが、場合によってはムライト宮ラミッ
ク基板にステージ部を設け、モリブデン板をヒートシン
ク専用とすることも可能である。
以上、本発明について好適な実施例を挙げて種々説明し
たが1本発明はこの実施例に限定されるものではなく9
発明の請神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得る
のはもちろんのことである。
たが1本発明はこの実施例に限定されるものではなく9
発明の請神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得る
のはもちろんのことである。
(発明の効果)
本発明のセラミックパッケージは半導体チップの熱膨張
係数に近いムライトセラミックによって形成されている
から、半導体チップと熱膨張係数のマツチングをとるこ
とができるとともに、モリブデン等のように半導体チッ
プの熱膨張係数に近い熱膨張係数を有する金属を容易に
接合することができる。そして、熱膨張係数がたがいに
近接しているから大型のヒートシンクを設けることがで
き、熱放散性に優れるとともに、素子との整合性が良く
信頼性が向上する。また、本体部に低誘電率のムライト
セラミックを使用しているから、高速素子用パッケージ
として好適に使用することができる。
係数に近いムライトセラミックによって形成されている
から、半導体チップと熱膨張係数のマツチングをとるこ
とができるとともに、モリブデン等のように半導体チッ
プの熱膨張係数に近い熱膨張係数を有する金属を容易に
接合することができる。そして、熱膨張係数がたがいに
近接しているから大型のヒートシンクを設けることがで
き、熱放散性に優れるとともに、素子との整合性が良く
信頼性が向上する。また、本体部に低誘電率のムライト
セラミックを使用しているから、高速素子用パッケージ
として好適に使用することができる。
また、ムライトセラミック基板の焼結時に同時にヒート
シンク材料をそのままの形で容易に接合することができ
るから、めっき処理等の工程が不用であり、きわめて容
易に製造することができる等の著効を奏する。
シンク材料をそのままの形で容易に接合することができ
るから、めっき処理等の工程が不用であり、きわめて容
易に製造することができる等の著効を奏する。
第1図および第2図は本発明に係るセラミックパッケー
ジの第1実施例を示す部分破断斜視図および断面図、第
3図は第2実施例を示す断面図、第4図および第5図は
セラミックパッケージの従来例を示す断面図である。 1・・・アルミナセラミック基板、 2.3a・・・モ
リブデン板、 8・・・銅泊、 9・・・ろう材、 1
0・・・銅、 12・・・ムライトセラミック基板、
14・・・配線パターン。 16・・・リードビン、 18・・・ビア、 。 20・・・モリブデン板、 22・・・半導体チップ、
24・・・キャップ、 26・・・ろう材。
ジの第1実施例を示す部分破断斜視図および断面図、第
3図は第2実施例を示す断面図、第4図および第5図は
セラミックパッケージの従来例を示す断面図である。 1・・・アルミナセラミック基板、 2.3a・・・モ
リブデン板、 8・・・銅泊、 9・・・ろう材、 1
0・・・銅、 12・・・ムライトセラミック基板、
14・・・配線パターン。 16・・・リードビン、 18・・・ビア、 。 20・・・モリブデン板、 22・・・半導体チップ、
24・・・キャップ、 26・・・ろう材。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、パッケージ本体がムライトセラミックによって形成
され、該パッケージ本体に熱膨張係数が3.5〜6.0
×10^−^6/℃である放熱用の金属板が一体に接合
されたことを特徴とするセラミックパッケージ。 2、セラミックパッケージの製造方法において、ムライ
ト粉末100重量部にたいして、焼結助剤としてアルカ
リ土類化合物あるいは希土類化合物の少なくとも一方を
0.1重量部以上添加されてなるムライトセラミックグ
リーンシートに、熱膨張係数が3.5〜6.0×10^
−^6/℃である放熱用の金属板を密着させて焼結する
ことにより、ムライトセラミック基板と前記金属板とを
一体に接合することを特徴とするセラミックパッケージ
の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62310450A JP2517024B2 (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | セラミックパッケ―ジとその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62310450A JP2517024B2 (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | セラミックパッケ―ジとその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01151252A true JPH01151252A (ja) | 1989-06-14 |
| JP2517024B2 JP2517024B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=18005395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62310450A Expired - Lifetime JP2517024B2 (ja) | 1987-12-08 | 1987-12-08 | セラミックパッケ―ジとその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2517024B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5027191A (en) * | 1989-05-11 | 1991-06-25 | Westinghouse Electric Corp. | Cavity-down chip carrier with pad grid array |
| JPH0496855U (ja) * | 1991-01-29 | 1992-08-21 | ||
| EP0757383A3 (en) * | 1995-08-03 | 1998-09-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Plate type member for semiconductor device package |
| JP4931592B2 (ja) * | 2003-10-14 | 2012-05-16 | アドバンスド テクノロジー マテリアルズ,インコーポレイテッド | 混合容器、混合装置および混合方法 |
-
1987
- 1987-12-08 JP JP62310450A patent/JP2517024B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5027191A (en) * | 1989-05-11 | 1991-06-25 | Westinghouse Electric Corp. | Cavity-down chip carrier with pad grid array |
| JPH0496855U (ja) * | 1991-01-29 | 1992-08-21 | ||
| EP0757383A3 (en) * | 1995-08-03 | 1998-09-30 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Plate type member for semiconductor device package |
| US5990548A (en) * | 1995-08-03 | 1999-11-23 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Plate type member for semiconductor device package and package |
| JP4931592B2 (ja) * | 2003-10-14 | 2012-05-16 | アドバンスド テクノロジー マテリアルズ,インコーポレイテッド | 混合容器、混合装置および混合方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2517024B2 (ja) | 1996-07-24 |
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