JPH01152603A - 酸化物磁性薄膜 - Google Patents
酸化物磁性薄膜Info
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- JPH01152603A JPH01152603A JP31083287A JP31083287A JPH01152603A JP H01152603 A JPH01152603 A JP H01152603A JP 31083287 A JP31083287 A JP 31083287A JP 31083287 A JP31083287 A JP 31083287A JP H01152603 A JPH01152603 A JP H01152603A
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- Japan
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- oxide magnetic
- magnetic thin
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光磁気記録材料として好適な酸化物磁性薄膜
に関するものである。
に関するものである。
本発明は、光磁気記録材料として使用され、−般式CO
g V y F e ff−x−y Oa−6で表され
る酸化物磁性薄膜の組成比を規定することにより、優れ
た垂直磁化膜が容易に得られ、成膜性に優れた酸化物磁
性薄膜を提供しようとするものである。
g V y F e ff−x−y Oa−6で表され
る酸化物磁性薄膜の組成比を規定することにより、優れ
た垂直磁化膜が容易に得られ、成膜性に優れた酸化物磁
性薄膜を提供しようとするものである。
従来、光磁気記録媒体を構成する磁性材料としては、垂
直磁気異方性の大きなTb−Fe系合金等の希土類−遷
移金属系合金薄膜が主流を占めている。
直磁気異方性の大きなTb−Fe系合金等の希土類−遷
移金属系合金薄膜が主流を占めている。
しかしながら、上記希土類−遷移金属系合金薄膜は、光
磁気特性には優れるものの耐蝕性に欠けることから腐食
され易く、該合金薄膜上に保護膜を形成する等の補助手
段を併用しなければ実用媒体として使用することができ
ないのが現状である。
磁気特性には優れるものの耐蝕性に欠けることから腐食
され易く、該合金薄膜上に保護膜を形成する等の補助手
段を併用しなければ実用媒体として使用することができ
ないのが現状である。
このように耐蝕性に欠ける希土類−遷移金属系合金薄膜
に対して、近年、耐蝕性の面で非常に優れた特性を有す
る酸化物磁性薄膜について、光磁気記録媒体を構成する
磁性材料としての利用可能性をめぐり研究が盛んに行わ
れている。
に対して、近年、耐蝕性の面で非常に優れた特性を有す
る酸化物磁性薄膜について、光磁気記録媒体を構成する
磁性材料としての利用可能性をめぐり研究が盛んに行わ
れている。
上記酸化物磁性薄膜としては、鉄・ガーネット。
バリウム・フェライト、コバルト・フェライト等がその
代表的な材料として挙げることができる。
代表的な材料として挙げることができる。
これらの材料のうち、比較的低温で製膜が可能である点
、ファラデー回転能が3〜4°/μmと大きい点等各種
の優れた特徴を有することからコバルト・フェライトを
主体とする酸化物磁性材料が注目されている。
、ファラデー回転能が3〜4°/μmと大きい点等各種
の優れた特徴を有することからコバルト・フェライトを
主体とする酸化物磁性材料が注目されている。
上記コバルト・フェライトをはじめとする酸化物磁性薄
膜は結晶系が立方晶(スピネル構造)であるため、該酸
化物磁性薄膜が垂直磁気異方性を得るには膜に大きな応
力をかけることにより生ずる磁歪誘起異方性を利用する
必要がある。前記磁歪誘起異方性を良好に生じさせる応
力が効果的に作用する酸化物磁性薄膜の材料組成は未だ
充分に解明されておらず、現在コバルト・フェライトを
主体成分とする酸化物磁性材料について各方面から盛ん
に検討が行われている。
膜は結晶系が立方晶(スピネル構造)であるため、該酸
化物磁性薄膜が垂直磁気異方性を得るには膜に大きな応
力をかけることにより生ずる磁歪誘起異方性を利用する
必要がある。前記磁歪誘起異方性を良好に生じさせる応
力が効果的に作用する酸化物磁性薄膜の材料組成は未だ
充分に解明されておらず、現在コバルト・フェライトを
主体成分とする酸化物磁性材料について各方面から盛ん
に検討が行われている。
このような状況にあって、例えばコバルト・フェライト
を主体成分とする酸化物磁性材料のFeの一部をクロム
やアルミニウム等の金属イオンによって置換した酸化物
磁性薄膜が提案されている。
を主体成分とする酸化物磁性材料のFeの一部をクロム
やアルミニウム等の金属イオンによって置換した酸化物
磁性薄膜が提案されている。
しかしながら、上述のようにコバルト・フェライトを主
体成分とする酸化物磁性材料のPeの一部をクロムやア
ルミニウム等の金属によって置換した酸化物磁性薄膜に
よっても磁歪誘起異方性を良好に生じさせる応力を効果
的に作用させることは充分には行われていない。
体成分とする酸化物磁性材料のPeの一部をクロムやア
ルミニウム等の金属によって置換した酸化物磁性薄膜に
よっても磁歪誘起異方性を良好に生じさせる応力を効果
的に作用させることは充分には行われていない。
そこで、本発明は上述の従来の要求を満足するために提
案されたものであって、コバルト・フェライトからなる
基本組成物に対して、添加すべき元素、置換すべき元素
を種々検討し、優れた垂直磁化膜が容易に得られ、成膜
性に優れた酸化物磁性薄膜を提供するこ°とを目的とす
るものである。
案されたものであって、コバルト・フェライトからなる
基本組成物に対して、添加すべき元素、置換すべき元素
を種々検討し、優れた垂直磁化膜が容易に得られ、成膜
性に優れた酸化物磁性薄膜を提供するこ°とを目的とす
るものである。
本発明者等は、上述の目的を達成するために鋭意研究の
結果、スピネル構造をとるコバルト・フェライト(Co
FegOn)を構成する金属元素であるFeの一部をバ
ナジウム(V)で置換した材料が優れた垂直磁化膜を容
易に形成することを見出すに至った。また、コバルト・
フェライト(Codexes)を構成する酸素の量は、
スピネル相化合物の足止組成(化学量論的組成)かもし
くはそれより過少側とすることにより、優れた磁気特性
を示すことを合わせて見出すに至った。
結果、スピネル構造をとるコバルト・フェライト(Co
FegOn)を構成する金属元素であるFeの一部をバ
ナジウム(V)で置換した材料が優れた垂直磁化膜を容
易に形成することを見出すに至った。また、コバルト・
フェライト(Codexes)を構成する酸素の量は、
スピネル相化合物の足止組成(化学量論的組成)かもし
くはそれより過少側とすることにより、優れた磁気特性
を示すことを合わせて見出すに至った。
本発明は上記知見に基づきなされたものであって、本発
明に係る酸化物磁性薄膜は、一般式COzVyF e
5−x−yOa−δ(ただし、0.7≦x≦1.1.0
.24≦y≦0.5.0≦δ≦1)で表される組成を有
することを特徴とするものである。
明に係る酸化物磁性薄膜は、一般式COzVyF e
5−x−yOa−δ(ただし、0.7≦x≦1.1.0
.24≦y≦0.5.0≦δ≦1)で表される組成を有
することを特徴とするものである。
ここで、コバルト・フェライトを構成するFeの一部を
何らかの元素で置換する理由は、飽和磁束密度を低減さ
せることにより酸化物磁性薄膜の垂直磁化容易性を向上
させるためにある。しかしながら、通常コバルト・フェ
ライトの一部をこのような元素で置換すると垂直磁化異
方性の成り易さの目安となる磁歪も同時に小さくなる傾
向にある。
何らかの元素で置換する理由は、飽和磁束密度を低減さ
せることにより酸化物磁性薄膜の垂直磁化容易性を向上
させるためにある。しかしながら、通常コバルト・フェ
ライトの一部をこのような元素で置換すると垂直磁化異
方性の成り易さの目安となる磁歪も同時に小さくなる傾
向にある。
上記磁歪は値が大きい程垂直磁化し易い傾向を有してい
る。したがって、飽和磁束密度は低減させることができ
、磁歪は低減させないような元素でコバルト・フェライ
トの一部を置換することが必要になる。
る。したがって、飽和磁束密度は低減させることができ
、磁歪は低減させないような元素でコバルト・フェライ
トの一部を置換することが必要になる。
本発明者等は、上述の特性を有する優れた置換元素とし
てバナジウムを採用した。すなわち、バナジウムは、コ
バルト・フェライトを構成するFeの一部と置換するこ
とにより、飽和磁束密度を低減させ磁歪は低減させない
という相反した要求をバランスよく満足する元素である
ことを見出したからである。
てバナジウムを採用した。すなわち、バナジウムは、コ
バルト・フェライトを構成するFeの一部と置換するこ
とにより、飽和磁束密度を低減させ磁歪は低減させない
という相反した要求をバランスよく満足する元素である
ことを見出したからである。
また、バナジウムによってその一部を置換したコバルト
・フェライトは、角形比に優れたものとなること、さら
にバナジウムは、少量の添加量で優れた磁気異方性を示
すこと等各種の優れた特性を発揮すること等が本発明者
等の実験によって明らかとなった。
・フェライトは、角形比に優れたものとなること、さら
にバナジウムは、少量の添加量で優れた磁気異方性を示
すこと等各種の優れた特性を発揮すること等が本発明者
等の実験によって明らかとなった。
ここで、本発明に係る酸化物磁性薄膜を構成するバナジ
ウムの組成yは、0.24以上0.5以下であることが
好ましい、バナジウムの組成yが0.24未満の場合に
は磁化が大きくなり過ぎて垂直磁化膜と成らなくなって
しまうからであり、バナジウムの組成yが0.5を越え
る場合には磁歪が減少してしまい垂直磁化異方性が小さ
くなり良好な角形比が得られなくなってしまうからであ
る。従来、アルミニウムやクロムを添加元素として使用
していた場合の添加元素の添加量が0.5以上であった
ことを考え合わせるとバナジウムの添加量は非常に少量
であるといえる。
ウムの組成yは、0.24以上0.5以下であることが
好ましい、バナジウムの組成yが0.24未満の場合に
は磁化が大きくなり過ぎて垂直磁化膜と成らなくなって
しまうからであり、バナジウムの組成yが0.5を越え
る場合には磁歪が減少してしまい垂直磁化異方性が小さ
くなり良好な角形比が得られなくなってしまうからであ
る。従来、アルミニウムやクロムを添加元素として使用
していた場合の添加元素の添加量が0.5以上であった
ことを考え合わせるとバナジウムの添加量は非常に少量
であるといえる。
一方、酸化物磁性薄膜を構成するコバルトの組成Xは、
0.7以上1.1以下であることが好ましい。
0.7以上1.1以下であることが好ましい。
コバルトの組成が0.7未満の場合(Feの含有量が増
加する方向)には、ファラデー回転能が減少してしまい
好ましくなく、コバルトの組成が1.1を越える場合に
は磁化及び保磁力ともに減少し磁気特性の劣化を招くこ
ととなってしまうからである。
加する方向)には、ファラデー回転能が減少してしまい
好ましくなく、コバルトの組成が1.1を越える場合に
は磁化及び保磁力ともに減少し磁気特性の劣化を招くこ
ととなってしまうからである。
また、酸化物磁性薄膜を構成する酸素量4−δのδは0
≦δ≦1の範囲、すなわち金属元素と酸素との組成比が
3:4(スピネル相)〜1:1(ウスタイト相)の範囲
内とすることが好ましい。
≦δ≦1の範囲、すなわち金属元素と酸素との組成比が
3:4(スピネル相)〜1:1(ウスタイト相)の範囲
内とすることが好ましい。
金属元素と酸素の組成比を3:4〜1:1とするには、
酸化物磁性薄膜を形成する際に導入する酸素量を積極的
に変化させることにより、上記組成物に含有される酸素
■を変えればよく、この組成範囲内になる酸化物磁性薄
膜であれば保磁力も大きく、垂直磁化異方性を示す角形
比の良好な酸化物磁性薄膜を形成することができる。
酸化物磁性薄膜を形成する際に導入する酸素量を積極的
に変化させることにより、上記組成物に含有される酸素
■を変えればよく、この組成範囲内になる酸化物磁性薄
膜であれば保磁力も大きく、垂直磁化異方性を示す角形
比の良好な酸化物磁性薄膜を形成することができる。
上述のような組成を満足する酸化物磁性薄膜であれば、
磁歪誘起異方性を良好に生じさせる応力が効果的に作用
するものとなる。
磁歪誘起異方性を良好に生じさせる応力が効果的に作用
するものとなる。
上述のような組成で表される酸化物磁性薄膜を作製する
方法としては、気相成長法や湿式成長法等が適用できる
。上記気相成長法としては、真空蒸着法、クラスター・
イオンビーム法、スパッタリング法、イオンブレーティ
ング法、CVD法。
方法としては、気相成長法や湿式成長法等が適用できる
。上記気相成長法としては、真空蒸着法、クラスター・
イオンビーム法、スパッタリング法、イオンブレーティ
ング法、CVD法。
プラズマ溶射法等が挙げられる。また、湿式成長法とし
ては、フェライト・メツキ法等が挙げられる。
ては、フェライト・メツキ法等が挙げられる。
本発明に係るC o 、VyF e 5−x−yo*−
δ(ただし、0.7≦x≦1.1,0.24≦y≦0.
5、O≦δ≦1)からなる酸化物磁性薄膜は負の磁歪を
持つものである。したがって、引っ張り応力を加えるこ
とによって垂直磁化膜に好ましい垂直磁気異方性を得る
ことができる。引っ張り応力を加える手段としては、熱
膨張係数αがα≦70 x 10−’(K−’)である
ような特性を有する材料からなる基板上に高温で薄膜を
作製し、室温まで冷却した時の熱応力を利用する方法等
が挙げられる。
δ(ただし、0.7≦x≦1.1,0.24≦y≦0.
5、O≦δ≦1)からなる酸化物磁性薄膜は負の磁歪を
持つものである。したがって、引っ張り応力を加えるこ
とによって垂直磁化膜に好ましい垂直磁気異方性を得る
ことができる。引っ張り応力を加える手段としては、熱
膨張係数αがα≦70 x 10−’(K−’)である
ような特性を有する材料からなる基板上に高温で薄膜を
作製し、室温まで冷却した時の熱応力を利用する方法等
が挙げられる。
なお、上記酸化物磁性薄膜の膜厚は何等製薬されるもの
ではなく、所望の特性等に応じて適宜設定すればよいが
0.4μm程度であることが好ましい、これは光記録媒
体として酸化物磁性薄膜を作製した場合必要とされる膜
厚であり、あまり厚過ぎる場合は光記録媒体としての特
性が劣化してし” まうからである。
ではなく、所望の特性等に応じて適宜設定すればよいが
0.4μm程度であることが好ましい、これは光記録媒
体として酸化物磁性薄膜を作製した場合必要とされる膜
厚であり、あまり厚過ぎる場合は光記録媒体としての特
性が劣化してし” まうからである。
また、酸化物磁性薄膜はそのキュリー温度が低い程磁気
特性が良好で、垂直磁化異方性等の特性も向上するとい
う傾向がある。置換元素によってコバルト・フェライト
の一部を置換しなかった場合のキュリー温度は520℃
であるが、これをバナジウムで置換した場合にもそのキ
ュリー温度は480℃〜500℃とあまり低下しない、
そこで、キュリー温度を低下させ、より一層垂直磁化異
方性等の特性を向上させる目的で、F”eの一部を第3
の添加元素で置換してもよい。この場合置換可能な第3
の元素としては、AIl、Ga、Ru、Ti。
特性が良好で、垂直磁化異方性等の特性も向上するとい
う傾向がある。置換元素によってコバルト・フェライト
の一部を置換しなかった場合のキュリー温度は520℃
であるが、これをバナジウムで置換した場合にもそのキ
ュリー温度は480℃〜500℃とあまり低下しない、
そこで、キュリー温度を低下させ、より一層垂直磁化異
方性等の特性を向上させる目的で、F”eの一部を第3
の添加元素で置換してもよい。この場合置換可能な第3
の元素としては、AIl、Ga、Ru、Ti。
Rh、Mn、Ni、Zn、Sn、Cr、Cu、Mg。
In、Sb、Sc、Bi、Y、Sm、Eu、Tb。
Gd等が挙げられる。
コバルト・フェライトを構成するFeの一部を置換する
元素として使用するバナジウムは、飽和磁束密度を低減
する効果に優れるものの磁歪はあまり低減させない傾向
にある。したがって、コバルト・フェライトを構成する
Feの一部をバナジウムにより置換した酸化物磁性薄膜
は、垂直磁化容易性が向上し磁歪誘起異方性を良好に生
じさせる応力が効果的に作用するものとなる。
元素として使用するバナジウムは、飽和磁束密度を低減
する効果に優れるものの磁歪はあまり低減させない傾向
にある。したがって、コバルト・フェライトを構成する
Feの一部をバナジウムにより置換した酸化物磁性薄膜
は、垂直磁化容易性が向上し磁歪誘起異方性を良好に生
じさせる応力が効果的に作用するものとなる。
また、本発明に係る酸化物磁性薄膜を構成するコバルト
・フェライトの金属と酸素との比は、1:1〜3:4の
範囲内とすることによって、より一層抗磁力や角形比が
良好な垂直磁性Fll膜となる。
・フェライトの金属と酸素との比は、1:1〜3:4の
範囲内とすることによって、より一層抗磁力や角形比が
良好な垂直磁性Fll膜となる。
以下、本発明の実施例について図面を参考にして説明す
るが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない
。
るが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない
。
去ル炎上
先ず、Co、 V、 Peを調整溶融し、スパッタリン
グ後の組成がCoo、 ++Vo、 sPe+、 70
4−δとなるようなスピネル型コバルト・フェライトを
目標とした金属合金ターゲットを作製した。作製したタ
ーゲットの直径は75龍である。
グ後の組成がCoo、 ++Vo、 sPe+、 70
4−δとなるようなスピネル型コバルト・フェライトを
目標とした金属合金ターゲットを作製した。作製したタ
ーゲットの直径は75龍である。
このコバルト・フェライト合金ターゲットを用いて、高
周波マグネトロン・スパッタリング装置にて、Ar及び
o2ガスを導入しながら室温中で反応スパッタリング法
により石英ガラス基板上に酸化物磁性薄膜の膜堆積を行
いサンプル薄膜を作製した。このとき、投入電力は30
0W、ガス圧は6++Torrとし、0!の流量を2.
5 SCCM 〜3.2 SCCMと変化させ、Arの
流量を調整しArと0□0総流量が203CC?lとな
るようにして試料A〜試料Hを得た。この場合に作製さ
れた薄膜の厚さは0.43μmであった。
周波マグネトロン・スパッタリング装置にて、Ar及び
o2ガスを導入しながら室温中で反応スパッタリング法
により石英ガラス基板上に酸化物磁性薄膜の膜堆積を行
いサンプル薄膜を作製した。このとき、投入電力は30
0W、ガス圧は6++Torrとし、0!の流量を2.
5 SCCM 〜3.2 SCCMと変化させ、Arの
流量を調整しArと0□0総流量が203CC?lとな
るようにして試料A〜試料Hを得た。この場合に作製さ
れた薄膜の厚さは0.43μmであった。
01流量と堆積速度との関係は、第1図に示すように、
02の流量が少ない場合には金属的な膜が堆積し堆積速
度はあまり大きくなく、Olの流量が多(なるに従って
酸化物の生成により堆積速度が大きくなり、さらにOt
の流量を増加させていくとターゲット表面にスパッタ率
の小さな酸化被膜が生じ堆積速度は再び小さくなる。
02の流量が少ない場合には金属的な膜が堆積し堆積速
度はあまり大きくなく、Olの流量が多(なるに従って
酸化物の生成により堆積速度が大きくなり、さらにOt
の流量を増加させていくとターゲット表面にスパッタ率
の小さな酸化被膜が生じ堆積速度は再び小さくなる。
−aに、反応スバ・ツタリングによるフェライト薄膜を
作製する場合、堆積速度の極大から02流量の多い側に
かけて良好な薄膜が得られる。ところが、従来添加元素
として添加されていたアルミニウムやクロムを含む系で
は、これらの元素の酸化物が極めて小さなスパッタ率を
有するために0□流量増加に対する堆積速度変化が著し
く、良好な薄膜を得る作製条件が非常に狭い領域に限ら
れていた。これに対して、本発明に係る酸化物磁性薄膜
で添加元素として使用しているバナジウムは、スパッタ
率があまり小さくないため成膜条件は適度に広い条件で
行うことができ、さらに再現性にも優れている。
作製する場合、堆積速度の極大から02流量の多い側に
かけて良好な薄膜が得られる。ところが、従来添加元素
として添加されていたアルミニウムやクロムを含む系で
は、これらの元素の酸化物が極めて小さなスパッタ率を
有するために0□流量増加に対する堆積速度変化が著し
く、良好な薄膜を得る作製条件が非常に狭い領域に限ら
れていた。これに対して、本発明に係る酸化物磁性薄膜
で添加元素として使用しているバナジウムは、スパッタ
率があまり小さくないため成膜条件は適度に広い条件で
行うことができ、さらに再現性にも優れている。
上述のようにして得られた試料A〜試料Hに対して、大
気中で500℃、2時間の条件下で熱処理を行った結果
、試料C〜試料Hまでの6種類の試料が磁性を示した。
気中で500℃、2時間の条件下で熱処理を行った結果
、試料C〜試料Hまでの6種類の試料が磁性を示した。
・ これら6種類の試料について、波長780nmで測
定したファラデー回転能を第2図に、最大磁場1QkQ
eで測定したファラデー・ループから算出した角形比を
第3図にそれぞれ示す。尚、上記ファラデー・ループは
カー・ループと異なり光学的なエンハンス効果は小さく
、ヒステリシス・ループの形は振動試料型磁力計(VS
M)で測定される磁化曲線と殆ど一致している。上記角
形比は次の式により求めた。
定したファラデー回転能を第2図に、最大磁場1QkQ
eで測定したファラデー・ループから算出した角形比を
第3図にそれぞれ示す。尚、上記ファラデー・ループは
カー・ループと異なり光学的なエンハンス効果は小さく
、ヒステリシス・ループの形は振動試料型磁力計(VS
M)で測定される磁化曲線と殆ど一致している。上記角
形比は次の式により求めた。
上記第3図より明らかなように、最も角形比が大きく垂
直磁化膜として優れているものは試料りであり、その角
形比は80%であった。上記試料りについて電子プロー
ブX線回折(EPMA)により求めた組成はCoo、
、ovo、 4+Fe+、 hqoa−6であり、ター
ゲット組成とはやや異なった金属組成比となっている。
直磁化膜として優れているものは試料りであり、その角
形比は80%であった。上記試料りについて電子プロー
ブX線回折(EPMA)により求めた組成はCoo、
、ovo、 4+Fe+、 hqoa−6であり、ター
ゲット組成とはやや異なった金属組成比となっている。
作製した各試料A〜試料Hについての酸素の定量は行っ
ていないが、第2図から明らかなように、この酸素量領
域では薄膜は、非磁性ウスタイト相とフェリ磁性スピネ
ル相の混合物からなっており、酸素量の増加に伴いスピ
ネル相の割合が増加すると考えるとファラデー回転能と
角型比の変化を説明することができる。すなわち、ファ
ラデー回転能は、酸素供給量3.1 SCCMで極大値
2.9deg/ p mをとる。この試料がスピネル相
の電比組成(金属:酸素−3;4)に最も近くなってい
ることを示すものと考えられる。これに対して酸素供給
量がさらに多い3.2 SCCMでは、ファラデー回転
能は再び2deg/μm以下になり、角形比と抗磁力H
cが激減する。このときXwA回折も弱くなっているの
で、この磁気特性の変化は過剰な酸素のためにスピネル
相の結晶が崩れたためと考えられる。また、全く磁化し
なかった試料A及び試料Bが非磁性ウスタイト相の組成
(金属:酸素=1 : 1)に近いと考えられる。さら
に、最も優れた角形比80%を示す試料りは、スピネル
相足止組成と考えられる試料Gよりも少ない酸素供給の
もとに作製されている。以上のことを勘案すると良好な
角形比を示す試料はウスタイト相組成とスピネル相組成
の中間の酸素組成で得られると言える。従って抗磁力H
cが太き(、角形比の良好な組成は一般組成式中のδの
範囲が0≦δ≦1の範囲内にあるといえる。
ていないが、第2図から明らかなように、この酸素量領
域では薄膜は、非磁性ウスタイト相とフェリ磁性スピネ
ル相の混合物からなっており、酸素量の増加に伴いスピ
ネル相の割合が増加すると考えるとファラデー回転能と
角型比の変化を説明することができる。すなわち、ファ
ラデー回転能は、酸素供給量3.1 SCCMで極大値
2.9deg/ p mをとる。この試料がスピネル相
の電比組成(金属:酸素−3;4)に最も近くなってい
ることを示すものと考えられる。これに対して酸素供給
量がさらに多い3.2 SCCMでは、ファラデー回転
能は再び2deg/μm以下になり、角形比と抗磁力H
cが激減する。このときXwA回折も弱くなっているの
で、この磁気特性の変化は過剰な酸素のためにスピネル
相の結晶が崩れたためと考えられる。また、全く磁化し
なかった試料A及び試料Bが非磁性ウスタイト相の組成
(金属:酸素=1 : 1)に近いと考えられる。さら
に、最も優れた角形比80%を示す試料りは、スピネル
相足止組成と考えられる試料Gよりも少ない酸素供給の
もとに作製されている。以上のことを勘案すると良好な
角形比を示す試料はウスタイト相組成とスピネル相組成
の中間の酸素組成で得られると言える。従って抗磁力H
cが太き(、角形比の良好な組成は一般組成式中のδの
範囲が0≦δ≦1の範囲内にあるといえる。
2〜 3. 1〜 4
同様な検討を組成比の異なる合金ターゲットを用いて実
施例2.実施例3.比較例1〜比較例4として行った。
施例2.実施例3.比較例1〜比較例4として行った。
なお、比較例5としてバナジウムを添加しないものにつ
いても実験を行った。その結果を第1表、第2表に示す
。
いても実験を行った。その結果を第1表、第2表に示す
。
(以下余白)
上記第1表〜第2表に掲げた薄膜組成比の領域を第4図
中斜線枠で示す。なお、第4図はCo、V。
中斜線枠で示す。なお、第4図はCo、V。
FegOa−a (x + 3’ + z = 3)
として表した場合の三元組成図である。また、第4図中
■印は実施例1に、■印は実施例2に、■印は実施例3
に、■印は比較例1に、■印は比較例2に、■印は比較
例3に、■印は比較例4に、■印は比較例5にそれぞれ
該当する。
として表した場合の三元組成図である。また、第4図中
■印は実施例1に、■印は実施例2に、■印は実施例3
に、■印は比較例1に、■印は比較例2に、■印は比較
例3に、■印は比較例4に、■印は比較例5にそれぞれ
該当する。
また、第5図A〜第5図Hは、実施例1〜実施例3及び
比較例1〜比較例5における組成での代表的な磁化曲線
を示す、なお、第5図A、第5図B、第5図C1第5図
H中aは垂直方向の磁化曲線を、bは面内方向の磁化曲
線を表している。また、第5図D〜第5図Gはいずれも
垂直方向の磁化曲線を示している。
比較例1〜比較例5における組成での代表的な磁化曲線
を示す、なお、第5図A、第5図B、第5図C1第5図
H中aは垂直方向の磁化曲線を、bは面内方向の磁化曲
線を表している。また、第5図D〜第5図Gはいずれも
垂直方向の磁化曲線を示している。
第1表〜第2表、第4図及び第5図A〜第5図Hから明
らかなように、太線枠で示す領域よりバナジウムを多く
含有する組成側は磁歪が減少してしまい磁気異方性が不
充分であり、バナジウムが少ない組成側では磁化が大き
くなり過ぎて垂直磁化膜とならない、また、コバルトを
多く含有する組成側では磁化、抗磁力ともに減少する傾
向にあり、フェライトを多く含有する組成側ではファラ
デー回転能が減少する傾向にある。従って、垂直方向の
磁化曲線に角形比70%以上を得ることのできる優れた
酸化物磁性薄膜の組成は、C:o、V。
らかなように、太線枠で示す領域よりバナジウムを多く
含有する組成側は磁歪が減少してしまい磁気異方性が不
充分であり、バナジウムが少ない組成側では磁化が大き
くなり過ぎて垂直磁化膜とならない、また、コバルトを
多く含有する組成側では磁化、抗磁力ともに減少する傾
向にあり、フェライトを多く含有する組成側ではファラ
デー回転能が減少する傾向にある。従って、垂直方向の
磁化曲線に角形比70%以上を得ることのできる優れた
酸化物磁性薄膜の組成は、C:o、V。
F 135−x−yo4−δ(ただし、0.7≦x≦1
.1.0.24≦y≦0.5、O≦δ≦1)で示される
ものが好ましいといえる。
.1.0.24≦y≦0.5、O≦δ≦1)で示される
ものが好ましいといえる。
以上の結果をまとめると本発明に係る酸化物磁性薄膜の
特性は次のようになる。
特性は次のようになる。
飽和磁束密度Bs=3〜4.2kG
ファラデー回転能θr=1.2〜2.4@/μm光吸収
α=3.6μm −’ 屈折率n = 2.6 性能指数2θF/α=0.7〜1.3’なお、キュリー
温度Tcに関しては、本発明に係る酸化物磁性材料は4
80℃〜500℃となり、無置換系の材料のキュリー温
度Tc 520℃と比較してあまり低下しなかった。酸
化物磁性材料においてはキュリー温度Tcが低い方が特
性がよくなるという傾向があるため、本発明にかかる酸
化物磁性材料の組成にさらにガリウム、アルミニウム等
第4金属添加元素を酸化物磁性材料の特性を劣化させな
い範囲において添加してもよい。
α=3.6μm −’ 屈折率n = 2.6 性能指数2θF/α=0.7〜1.3’なお、キュリー
温度Tcに関しては、本発明に係る酸化物磁性材料は4
80℃〜500℃となり、無置換系の材料のキュリー温
度Tc 520℃と比較してあまり低下しなかった。酸
化物磁性材料においてはキュリー温度Tcが低い方が特
性がよくなるという傾向があるため、本発明にかかる酸
化物磁性材料の組成にさらにガリウム、アルミニウム等
第4金属添加元素を酸化物磁性材料の特性を劣化させな
い範囲において添加してもよい。
以上の説明から明らかなように、本発明に係る酸化物磁
性薄膜は、コバルトフェライトを構成するFeの一部を
バナジウムによって置換したものとしているため、少量
の置換量で優れた効果を発揮し、磁歪を低減することな
く飽和磁束密度を低減することから酸化物磁性薄膜の作
製を容易とすることができる。
性薄膜は、コバルトフェライトを構成するFeの一部を
バナジウムによって置換したものとしているため、少量
の置換量で優れた効果を発揮し、磁歪を低減することな
く飽和磁束密度を低減することから酸化物磁性薄膜の作
製を容易とすることができる。
また、バナジウムは成膜条件を適度に広くする効果もあ
ることから反応性スパッタリングによるフェライト膜の
作製が容易且つ再現性も優れたものとすることができる
。
ることから反応性スパッタリングによるフェライト膜の
作製が容易且つ再現性も優れたものとすることができる
。
従って、光磁気記録材料として優れた特性を示す酸化物
磁性薄膜を提供することができる。
磁性薄膜を提供することができる。
第1図はスパッタリング時の酸素流量と薄膜の堆積速度
との関係を表す特性図である。 第2図はスパッタリング時の酸素流量とファラデー回転
能との関係を示す特性図である。 第3図はスパッタリング時の酸素流量と角形比との関係
を示す特性図である。 第4図は本発明に係る酸化物磁性薄膜の組成範囲を示す
三元組成図である。 第5図A乃至第5図Hはそれぞれ実施例1〜実施例3及
び比較例1〜比較例5における代表的な磁化特性図を示
すものである。 特許出願人 ソニー株式会社 代理人 弁理士 小泡 晃 岡 旧材 榮− 同 佐藤 勝 02 it (SCCM) 曹 囚 Cox○46 精 ω 囚 山形比 (7゜)
との関係を表す特性図である。 第2図はスパッタリング時の酸素流量とファラデー回転
能との関係を示す特性図である。 第3図はスパッタリング時の酸素流量と角形比との関係
を示す特性図である。 第4図は本発明に係る酸化物磁性薄膜の組成範囲を示す
三元組成図である。 第5図A乃至第5図Hはそれぞれ実施例1〜実施例3及
び比較例1〜比較例5における代表的な磁化特性図を示
すものである。 特許出願人 ソニー株式会社 代理人 弁理士 小泡 晃 岡 旧材 榮− 同 佐藤 勝 02 it (SCCM) 曹 囚 Cox○46 精 ω 囚 山形比 (7゜)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一般式、 Co_xV_yFe_3_−_x_−_yO_4_−_
δ(ただし、0.7≦x≦1.1、0.24≦y≦0.
5、0≦δ≦1)で表される組成を有する酸化物磁性薄
膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31083287A JPH01152603A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 酸化物磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31083287A JPH01152603A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 酸化物磁性薄膜 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01152603A true JPH01152603A (ja) | 1989-06-15 |
Family
ID=18009936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31083287A Pending JPH01152603A (ja) | 1987-12-10 | 1987-12-10 | 酸化物磁性薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01152603A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002277842A (ja) * | 2001-03-19 | 2002-09-25 | Ricoh Co Ltd | 画像表示素子 |
-
1987
- 1987-12-10 JP JP31083287A patent/JPH01152603A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002277842A (ja) * | 2001-03-19 | 2002-09-25 | Ricoh Co Ltd | 画像表示素子 |
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