JPS6289312A - 軟磁性薄膜 - Google Patents
軟磁性薄膜Info
- Publication number
- JPS6289312A JPS6289312A JP23046885A JP23046885A JPS6289312A JP S6289312 A JPS6289312 A JP S6289312A JP 23046885 A JP23046885 A JP 23046885A JP 23046885 A JP23046885 A JP 23046885A JP S6289312 A JPS6289312 A JP S6289312A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- magnetic
- magnetic thin
- nitrogen
- composition
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- Granted
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- Magnetic Heads (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば薄膜磁気ヘットに用いて好適な軟磁性薄
膜に係わる。
膜に係わる。
本発明は、窒素含有のFe−Ga−5i糸の軟磁性薄験
で、その組成の特定により保磁力IIGが小さく透磁率
p ;I’J<篩く、特に耐蝕性及び硬度の向上をはか
るものである。
で、その組成の特定により保磁力IIGが小さく透磁率
p ;I’J<篩く、特に耐蝕性及び硬度の向上をはか
るものである。
各種磁気記録再生装置においζ、面密度記録化、面周波
数化の要求が高まり、これに対応して+1−1iい飽和
磁化、高い保磁力の磁気記録媒体が用いられる。この種
の磁気記録媒体としζは、Fe、 Co、 Ni等の強
磁性金属の粉末を用いたいわゆるメタルテープや、強磁
性金属材料をヘースフィルム」−に被着して成るいわゆ
る蒸着テープなどが用いられるに芋、っている。
数化の要求が高まり、これに対応して+1−1iい飽和
磁化、高い保磁力の磁気記録媒体が用いられる。この種
の磁気記録媒体としζは、Fe、 Co、 Ni等の強
磁性金属の粉末を用いたいわゆるメタルテープや、強磁
性金属材料をヘースフィルム」−に被着して成るいわゆ
る蒸着テープなどが用いられるに芋、っている。
これに伴い、ごの種の磁気記録媒体に苅する磁気ヘット
としては、向い飽和磁束密度と篩透磁率のヘッド材料に
よることが要求されると共に、磁気異方性が小さく磁歪
が零であり、まノこ保磁力が小さく、史にヘッド材料と
し゛(できるだυ、耐摩耗性が向り、銅線性にずく゛れ
ているなど、磁気特性はもとより、化学的に安定で機械
的特性にすぐれていることなどが要求される。
としては、向い飽和磁束密度と篩透磁率のヘッド材料に
よることが要求されると共に、磁気異方性が小さく磁歪
が零であり、まノこ保磁力が小さく、史にヘッド材料と
し゛(できるだυ、耐摩耗性が向り、銅線性にずく゛れ
ているなど、磁気特性はもとより、化学的に安定で機械
的特性にすぐれていることなどが要求される。
一方、重密度記録化に伴って記録トランク幅、したがっ
て磁気ヘソ1における、作動磁気ギヤツブのトラック幅
の狭小化が要求され、この要求に対応し、しかも特に多
トラツク磁気ヘット′において著しく量産性の向」二を
はかることができるものとして非磁性ないしは磁性基板
上に軟磁性薄膜による磁気へラドコアを破着形成する薄
膜技術を用いた薄膜磁気ヘット”の普及がめざましい。
て磁気ヘソ1における、作動磁気ギヤツブのトラック幅
の狭小化が要求され、この要求に対応し、しかも特に多
トラツク磁気ヘット′において著しく量産性の向」二を
はかることができるものとして非磁性ないしは磁性基板
上に軟磁性薄膜による磁気へラドコアを破着形成する薄
膜技術を用いた薄膜磁気ヘット”の普及がめざましい。
ごの種の軟磁性薄膜としてはFe、 Aβ+ Siを主
成分とするセンダスト合金薄膜が注目を集めている。
成分とするセンダスト合金薄膜が注目を集めている。
このセンダスト合金薄膜は、商い飽和磁束密度Bsを有
し、比較内面硬度を有するので、−り述したメタルテー
プ等のように商い残’?j/磁束密度を有する磁気記録
媒体に対しても適用することが可能である。
し、比較内面硬度を有するので、−り述したメタルテー
プ等のように商い残’?j/磁束密度を有する磁気記録
媒体に対しても適用することが可能である。
しかしながら、このセンダスト合金薄膜は比較内面硬度
を有するものの例えばフェライト材等に比し耐摩耗性及
び耐蝕性に劣る。また、このセンダスト合金薄膜は比較
的比抵抗が低いためにこれを磁気ヘッドのコアとして使
用した場合には、いわゆる渦電流損によるdli周波領
域での透磁率の低下が問題となっており、高周波数領域
で充分な酊生出力が得られないおそれがあるなどの問題
点がある。
を有するものの例えばフェライト材等に比し耐摩耗性及
び耐蝕性に劣る。また、このセンダスト合金薄膜は比較
的比抵抗が低いためにこれを磁気ヘッドのコアとして使
用した場合には、いわゆる渦電流損によるdli周波領
域での透磁率の低下が問題となっており、高周波数領域
で充分な酊生出力が得られないおそれがあるなどの問題
点がある。
これに比し、センダスト合金薄膜の代わりに高周波数領
域での透磁率の像上が少なく 111iい飽和磁束密度
Bsを有する非晶質(アモルファス)磁性合金材料を用
いることが考えられているが、この非晶質磁性合金材料
は耐熱性に難点があり、長時間の加熱や熱ザイクルによ
り透磁率が大きく劣化し再生効率が:U%くなる。特に
結晶化の1】J能1+1が大きいので50 [)’c以
七の7m度を長時間加えることばできないものであり、
これがため、(6ケ気ヘツドの製造玉梓において例えば
ガラス融着のように500°C以」−の温度での処理を
必要とする工程を採ることば好ましくないなどの問題点
がある。
域での透磁率の像上が少なく 111iい飽和磁束密度
Bsを有する非晶質(アモルファス)磁性合金材料を用
いることが考えられているが、この非晶質磁性合金材料
は耐熱性に難点があり、長時間の加熱や熱ザイクルによ
り透磁率が大きく劣化し再生効率が:U%くなる。特に
結晶化の1】J能1+1が大きいので50 [)’c以
七の7m度を長時間加えることばできないものであり、
これがため、(6ケ気ヘツドの製造玉梓において例えば
ガラス融着のように500°C以」−の温度での処理を
必要とする工程を採ることば好ましくないなどの問題点
がある。
このような状況から、さらに良好な軟磁気特性を示す軟
磁性材料の研究が進められ、例えば山木達治・千葉久喜
共著、111本金属学会17シ」第14巻B、第2号(
1,950年)には、Fe、 Go、 Siを主成分と
するFe−Go−Si糸合金材料が良好な軟磁気特性を
示すことが報告されている。
磁性材料の研究が進められ、例えば山木達治・千葉久喜
共著、111本金属学会17シ」第14巻B、第2号(
1,950年)には、Fe、 Go、 Siを主成分と
するFe−Go−Si糸合金材料が良好な軟磁気特性を
示すことが報告されている。
しかしながら、このFe−Co−Si糸合金材は、極め
て脆弱で実用性に乏しく、そのまま磁気ヘッドのコア材
料として用いることには問題がある。
て脆弱で実用性に乏しく、そのまま磁気ヘッドのコア材
料として用いることには問題がある。
本発明は上述した諸問題の改善をはかり、磁気特性、す
なわち飽和磁束密度Bsが大、保磁力Hcが小、磁歪λ
Sが殆ど零、磁気異方性が小さく、しかも機械的特性、
すなわち、高い硬度を有し、耐摩耗性にすぐれ、更に熱
的に安定で耐熱性が高く、また化学安定性に、すなわち
耐蝕性にすぐれた軟磁性薄膜を提供するものである。
なわち飽和磁束密度Bsが大、保磁力Hcが小、磁歪λ
Sが殆ど零、磁気異方性が小さく、しかも機械的特性、
すなわち、高い硬度を有し、耐摩耗性にすぐれ、更に熱
的に安定で耐熱性が高く、また化学安定性に、すなわち
耐蝕性にすぐれた軟磁性薄膜を提供するものである。
本発明は、Pe、 Ga、 Siを主成分とする磁性薄
膜に窒素Nを添加することにより飽和磁束密度を低トす
ることなく上述した諸問題を改善することができること
を見出したごとに基づくものである。
膜に窒素Nを添加することにより飽和磁束密度を低トす
ることなく上述した諸問題を改善することができること
を見出したごとに基づくものである。
オなわら、本発明は、Fea GabSic Nx
(但し、a、b、c及びXは、夫々の組成比を原子%と
して表す)なる組成式でボされ、各組成範囲か、55≦
a≦84 1Sb≦23 3 < C≦31 0.1≦X≦20 であり、且つ、a−1−b+ C+ X = 100と
した組成の軟磁性薄膜とする。
(但し、a、b、c及びXは、夫々の組成比を原子%と
して表す)なる組成式でボされ、各組成範囲か、55≦
a≦84 1Sb≦23 3 < C≦31 0.1≦X≦20 であり、且つ、a−1−b+ C+ X = 100と
した組成の軟磁性薄膜とする。
尚、上述の組成においζGaの一部をAβで、Siの一
部をGeで置換することができる。またFeの一部をc
o、或いはR+色少くとも1種で15原子%以下をもっ
て置換することができる。
部をGeで置換することができる。またFeの一部をc
o、或いはR+色少くとも1種で15原子%以下をもっ
て置換することができる。
また、」−述の組成を有する本発明による軟磁性薄膜の
膜厚としζは、10Å以上1 van以下であることが
好ましく、さらに10Å以上100μm以壬であること
がより好ましい。
膜厚としζは、10Å以上1 van以下であることが
好ましく、さらに10Å以上100μm以壬であること
がより好ましい。
本発明による軟磁性薄膜は、センダスト合金よりも飽和
磁束密度が向く、またN4:含ませたことにより、Nを
含まないRe−Ga−Si系合金に比して、透磁率が上
がり、比抵抗が商くなり、硬度、したがって耐摩耗性の
向上がはかられた。
磁束密度が向く、またN4:含ませたことにより、Nを
含まないRe−Ga−Si系合金に比して、透磁率が上
がり、比抵抗が商くなり、硬度、したがって耐摩耗性の
向上がはかられた。
本発明による軟磁性薄膜において、Fe、 Ga及びS
iの各元素に関する組成比、すなわちa、b及びCの値
に関しては、−上記範囲外では、磁歪が大きくなるなど
磁気特性の劣化を来し、Nの組成比ずなわちXの値に関
しては、これが上記範囲外、つまり、Xが0.1原子%
未満では比抵抗及び硬度など、Nの添加による効果の発
現がみられ1”、Xが20原子%を超えると、かえって
透磁率の低1ζを招来し、保磁力11cが匹くなるなど
の不都合が生じる。
iの各元素に関する組成比、すなわちa、b及びCの値
に関しては、−上記範囲外では、磁歪が大きくなるなど
磁気特性の劣化を来し、Nの組成比ずなわちXの値に関
しては、これが上記範囲外、つまり、Xが0.1原子%
未満では比抵抗及び硬度など、Nの添加による効果の発
現がみられ1”、Xが20原子%を超えると、かえって
透磁率の低1ζを招来し、保磁力11cが匹くなるなど
の不都合が生じる。
また、」二連の組成においてHeの一部をCoで置換す
るときは、史に飽和磁束密度IIsの向上と、耐蝕性の
向上をはかることができ、p (Hの一部をfluで置
換するときも、Ruが非磁性であるにも拘わらず軟磁気
特性を害わずに、またBsの低下を殆ど招来せずに、よ
り耐蝕性、耐摩耗+11の向1mをはかることができた
。
るときは、史に飽和磁束密度IIsの向上と、耐蝕性の
向上をはかることができ、p (Hの一部をfluで置
換するときも、Ruが非磁性であるにも拘わらず軟磁気
特性を害わずに、またBsの低下を殆ど招来せずに、よ
り耐蝕性、耐摩耗+11の向1mをはかることができた
。
本発明による軟磁性薄膜の製造方法としては、いわゆる
気相薄膜生成技術によることが好ましい。
気相薄膜生成技術によることが好ましい。
これは、例えば一般の溶解による方法では均一に多量の
窒素を導入することが難しいことによる。
窒素を導入することが難しいことによる。
すなわら、通當窒素は合金溶融中にスラグとして浮子し
不純物として合金と分14111されてしまうのである
。
不純物として合金と分14111されてしまうのである
。
そごで、本発明による軟磁性薄膜は、蒸着法やイオンイ
ンプランテーション法等により作製するのが好ましいも
のである。蒸着の手法としては、例えばフラッシュ蒸着
、ガス中蒸着法、イオンブレーティング、スパッタリン
グ、クラスター・イオンビーム法等が挙げられ、また蒸
着とイオンインブランチ−シコンを同時に行ってもよい
。また、磁性薄膜に窒素N4c導入する方法としては、
(1)窒素ガスを含む雰囲気中で蒸着等を行い、この窒
素ガスの濃度によって得られる磁性?S膜中の窒素Nの
含有量を調節して導入する方法。
ンプランテーション法等により作製するのが好ましいも
のである。蒸着の手法としては、例えばフラッシュ蒸着
、ガス中蒸着法、イオンブレーティング、スパッタリン
グ、クラスター・イオンビーム法等が挙げられ、また蒸
着とイオンインブランチ−シコンを同時に行ってもよい
。また、磁性薄膜に窒素N4c導入する方法としては、
(1)窒素ガスを含む雰囲気中で蒸着等を行い、この窒
素ガスの濃度によって得られる磁性?S膜中の窒素Nの
含有量を調節して導入する方法。
(2)窒素Nと各成分のうちの少なくとも1種の元素と
の化合物と、残りの成分の合金とを蒸発源として使用し
、得られる磁性薄膜中に窒素Nを導入する方法、 等が挙げられる。さらに、磁性薄膜を構成するFe、
Ga、 S+等の各成分元素の組成を調節する方法とし
ては、 fll Fe、 Ga、 Siや他の添加剤、置換金
属等を所定の割合となるように秤量し、これらをあらか
じめ例えば商用波溶解か1等で溶解して合金インゴット
を形成しておき、この合金インゴットを蒸発源として使
用する方法、 (2)各成分の単独元素の蒸発源を用怠し、これら蒸発
源の数で組成を制御する方法、 (3) 各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら
蒸発源に加える出力(印加電圧)を制御し°ζ蒸発スピ
ードをコントロールし組成を制御する方法、 (4)合金を蒸発源として蒸着しながら他の元素を打ち
込む方法、 等が挙げられる。
の化合物と、残りの成分の合金とを蒸発源として使用し
、得られる磁性薄膜中に窒素Nを導入する方法、 等が挙げられる。さらに、磁性薄膜を構成するFe、
Ga、 S+等の各成分元素の組成を調節する方法とし
ては、 fll Fe、 Ga、 Siや他の添加剤、置換金
属等を所定の割合となるように秤量し、これらをあらか
じめ例えば商用波溶解か1等で溶解して合金インゴット
を形成しておき、この合金インゴットを蒸発源として使
用する方法、 (2)各成分の単独元素の蒸発源を用怠し、これら蒸発
源の数で組成を制御する方法、 (3) 各成分の単独元素の蒸発源を用意し、これら
蒸発源に加える出力(印加電圧)を制御し°ζ蒸発スピ
ードをコントロールし組成を制御する方法、 (4)合金を蒸発源として蒸着しながら他の元素を打ち
込む方法、 等が挙げられる。
実施例1
鉄、ガリウム、シリご1ンを秤量して後、曲周波溶解か
を用いて真空中で溶解し、鋳型に流し込んで成形して直
径50mm、厚さ1. amの電極用ターゲットを作製
した。
を用いて真空中で溶解し、鋳型に流し込んで成形して直
径50mm、厚さ1. amの電極用ターゲットを作製
した。
このターゲットを用い、下記のスパッタ条件に従ってプ
レナーマグネトロン型スパッタリング装置によるスパッ
タリングを行った。
レナーマグネトロン型スパッタリング装置によるスパッ
タリングを行った。
スパッタ条件
RFパワー 100Wターゲツト・基
板間距離 30I1m基板温度 へ・
20℃(水冷)到達真空度 3 X 10
− Torrガス圧力 5 X 10−
’ Torr膜 jリ 約2.8〜3.1μm
−上記スパッタ条件に従い、不活性ガノ、としてArガ
スを用い、この静ガスにN2を混入してスパッタリング
を行った。ここで、N2の混入量を分圧でti制御し、
このN20割合を変えながらスパッタリングを行い、結
晶化ガラス基板上にNを含むFe−Gs−3l系合金h
911史を形成した。得られたNを含むRe−Ga−5
l系合金薄股を550℃で1時間熱処理した。
板間距離 30I1m基板温度 へ・
20℃(水冷)到達真空度 3 X 10
− Torrガス圧力 5 X 10−
’ Torr膜 jリ 約2.8〜3.1μm
−上記スパッタ条件に従い、不活性ガノ、としてArガ
スを用い、この静ガスにN2を混入してスパッタリング
を行った。ここで、N2の混入量を分圧でti制御し、
このN20割合を変えながらスパッタリングを行い、結
晶化ガラス基板上にNを含むFe−Gs−3l系合金h
911史を形成した。得られたNを含むRe−Ga−5
l系合金薄股を550℃で1時間熱処理した。
実施例1において、そのN2ガスの分[)二を変化させ
た場合の得られた膜組成と、保磁力H(、とIMIIz
における透磁率μ1MHzと、耐蝕性を測定した結才を
図面にボす。ここで耐蝕性の測定は、測定試料を1規定
のNaCl溶液中に9時間浸漬し、表面の発錆状態を1
−1視観察したもので、◎印は一ヒ述のNaCl中に4
8時間浸漬した後でも鏡面が保たれたもの、○印は同条
件で表面に曇りが生じ、市水中で48時間後で鏡th1
であったもの、△印は山水中48時間浸漬で膜面に曇り
が生じたもの、×印は市水中48時間浸漬で股部に薄く
赤錆が発生したものをボ”J0尚、比較のために同図面
の表中にNを含有させないものについてもその測定結果
をボした。
た場合の得られた膜組成と、保磁力H(、とIMIIz
における透磁率μ1MHzと、耐蝕性を測定した結才を
図面にボす。ここで耐蝕性の測定は、測定試料を1規定
のNaCl溶液中に9時間浸漬し、表面の発錆状態を1
−1視観察したもので、◎印は一ヒ述のNaCl中に4
8時間浸漬した後でも鏡面が保たれたもの、○印は同条
件で表面に曇りが生じ、市水中で48時間後で鏡th1
であったもの、△印は山水中48時間浸漬で膜面に曇り
が生じたもの、×印は市水中48時間浸漬で股部に薄く
赤錆が発生したものをボ”J0尚、比較のために同図面
の表中にNを含有させないものについてもその測定結果
をボした。
各組成の測定は、Nに関しζはインナートガスディフュ
ージョン(熱伝導度)法によってその測定を行ったもの
であり、伯についてば[!PMA ([1lectri
cProbe Micro Analsis )によっ
た。
ージョン(熱伝導度)法によってその測定を行ったもの
であり、伯についてば[!PMA ([1lectri
cProbe Micro Analsis )によっ
た。
これら測定結果から明らかなように、本発明によるN含
有の軟磁性薄順はNを金白しない軟磁性薄膜に比して保
磁ノ月1Cを1l(iぬることなく、透磁率の向l−と
耐蝕性の向トがはかられている。
有の軟磁性薄順はNを金白しない軟磁性薄膜に比して保
磁ノ月1Cを1l(iぬることなく、透磁率の向l−と
耐蝕性の向トがはかられている。
以十述べたように、本発明による軟磁性;′!股におい
ζは、その成分として窒素Nを含有しているごとにより
、1ljI遇磁率及び耐蝕111の向上がはかられるも
のであるが更にIII硬度が達成されて耐摩耗性の向上
がばかられるものであり、このとき飽和磁束密度や保磁
力等の磁気特性の劣化も見られない。そして特に、窒素
Nを含有することにより比抵抗が増加し、高周波領域で
の渦電流損失が小さくなることがら透磁、率の周波数特
性が向−1−シて10MIIZ以上の11]1周波数領
域で使用される磁気ヘッド等に対して極め(イ1用とな
る。
ζは、その成分として窒素Nを含有しているごとにより
、1ljI遇磁率及び耐蝕111の向上がはかられるも
のであるが更にIII硬度が達成されて耐摩耗性の向上
がばかられるものであり、このとき飽和磁束密度や保磁
力等の磁気特性の劣化も見られない。そして特に、窒素
Nを含有することにより比抵抗が増加し、高周波領域で
の渦電流損失が小さくなることがら透磁、率の周波数特
性が向−1−シて10MIIZ以上の11]1周波数領
域で使用される磁気ヘッド等に対して極め(イ1用とな
る。
尚、この磁性薄膜中におりJる窒素Nの果たず役割につ
いては、その詳細は不明であるが、硬度が著しく向上す
る、二とからIILIの窒化物や窒化シリコン等の商硬
度粒子のLl:成等もr想される。
いては、その詳細は不明であるが、硬度が著しく向上す
る、二とからIILIの窒化物や窒化シリコン等の商硬
度粒子のLl:成等もr想される。
また、上述の本発明による転磁+T口IV膜において、
更に耐蝕性や耐摩耗性そのほか各種特性を改善′4るた
めに各種)c素を添加剤として加えてもよい。
更に耐蝕性や耐摩耗性そのほか各種特性を改善′4るた
めに各種)c素を添加剤として加えてもよい。
この添加剤とし゛ζ使用される元素としζは、Tt+Z
r、 Hf等のIVa族元素、V、 Nb、 Ta等の
Va族几元素Cr、 Mo、 W等のVTa族冗素、M
n等の■a族几元素さらに白金族元素として第5周期の
白金族元素、すなわらRh、 Rd、第6周期の白金族
ノし素、ずなわちOs、 Ir、 Pt等を挙げること
ができるものであり、これら添加剤の1種または2棟以
トを絹み合わせて、−上耐磁性情股に対してO〜10市
量%の範囲で添加し得る。
r、 Hf等のIVa族元素、V、 Nb、 Ta等の
Va族几元素Cr、 Mo、 W等のVTa族冗素、M
n等の■a族几元素さらに白金族元素として第5周期の
白金族元素、すなわらRh、 Rd、第6周期の白金族
ノし素、ずなわちOs、 Ir、 Pt等を挙げること
ができるものであり、これら添加剤の1種または2棟以
トを絹み合わせて、−上耐磁性情股に対してO〜10市
量%の範囲で添加し得る。
また、成る場合は、窒素Nと共に酸素を含有させるごと
もできる。
もできる。
上述したように本発明による転磁111薄欣によれば、
飽和磁束密度の低−トや、保磁力を高めることなく、高
透磁率を有し、耐蝕性にすぐれ、商硬度の耐摩耗性にす
ぐれ、更にアモルファス磁性薄膜におけるような熱的に
不安定性のない耐熱性にずぐれた軟磁性薄膜を得ること
ができるので、例えば高密度記録用の薄19磁気ヘット
のン゛舟l模磁気コアとして用いて、その利益は極めて
大である。
飽和磁束密度の低−トや、保磁力を高めることなく、高
透磁率を有し、耐蝕性にすぐれ、商硬度の耐摩耗性にす
ぐれ、更にアモルファス磁性薄膜におけるような熱的に
不安定性のない耐熱性にずぐれた軟磁性薄膜を得ること
ができるので、例えば高密度記録用の薄19磁気ヘット
のン゛舟l模磁気コアとして用いて、その利益は極めて
大である。
図は軟磁性/iν侯の組成と容性I11の測定結果をボ
ず表口である。
ず表口である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Fe_aGa_bSi_cN_x(但し、a、b、c及
びxは、夫々の組成比を原子%として表す)なる組成式
で示され、各組成範囲が、 55≦a≦84 1≦b≦23 3≦c≦31 0.1≦x≦20 であり、且つ、a+b+c+x=100としたことを特
徴とする軟磁性薄膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23046885A JPH0744107B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 軟磁性薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23046885A JPH0744107B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 軟磁性薄膜 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6289312A true JPS6289312A (ja) | 1987-04-23 |
| JPH0744107B2 JPH0744107B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=16908296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23046885A Expired - Lifetime JPH0744107B2 (ja) | 1985-10-16 | 1985-10-16 | 軟磁性薄膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0744107B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6442108A (en) * | 1987-08-10 | 1989-02-14 | Hitachi Ltd | Heat-resisting magnetic film |
| US4953050A (en) * | 1987-02-04 | 1990-08-28 | Sony Corporation | Magnetic head with Ru containing soft magnetic alloy in gap |
| JPH0311703A (ja) * | 1989-05-31 | 1991-01-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気物質及びその製造方法 |
-
1985
- 1985-10-16 JP JP23046885A patent/JPH0744107B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4953050A (en) * | 1987-02-04 | 1990-08-28 | Sony Corporation | Magnetic head with Ru containing soft magnetic alloy in gap |
| JPS6442108A (en) * | 1987-08-10 | 1989-02-14 | Hitachi Ltd | Heat-resisting magnetic film |
| JPH0311703A (ja) * | 1989-05-31 | 1991-01-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 磁気物質及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0744107B2 (ja) | 1995-05-15 |
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