JPH01161132A - Ｉｃｐ発光分析装置 - Google Patents
Ｉｃｐ発光分析装置Info
- Publication number
- JPH01161132A JPH01161132A JP31838987A JP31838987A JPH01161132A JP H01161132 A JPH01161132 A JP H01161132A JP 31838987 A JP31838987 A JP 31838987A JP 31838987 A JP31838987 A JP 31838987A JP H01161132 A JPH01161132 A JP H01161132A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- supplied
- container
- supply pipes
- atomizer
- Prior art date
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- Granted
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明はＩＣＰ（高周波誘導結合プラズマ）発光分析装
置に関する。
置に関する。
（ロ）従来の技術
ＩＣＰ発光分析装置においては、試料を溶液にし、霧化
器で霧化し、キャリヤガスの流れに乗せてプラズマ炎に
導入して発光させ、この光を分光し測光して試料成分を
分析している。
器で霧化し、キャリヤガスの流れに乗せてプラズマ炎に
導入して発光させ、この光を分光し測光して試料成分を
分析している。
このような従来のＩＣＰ分析装置では測光量から試料成
分を定量するために内標準法が一般に用いられている。
分を定量するために内標準法が一般に用いられている。
即ち、被検試料溶液に標準試料を一定量添加し、この標
準試料を定量する被検試料と同時に発光させてスペクｈ
ルのピークを求め、濃度既知の標準試料のピークとの比
から試料成分の濃度を定量する。
準試料を定量する被検試料と同時に発光させてスペクｈ
ルのピークを求め、濃度既知の標準試料のピークとの比
から試料成分の濃度を定量する。
（ハ）解決すべき問題点
−に連の内標準法では例えば］、Ｏｐｐｍの濃度の標準
試料を作り、測定する試料溶液にピペツ１〜で針鼠して
添加する。従って作業能率が悪い−にに、ピペッティン
グエラーが発生して測定精度を低下させる問題があった
。
試料を作り、測定する試料溶液にピペツ１〜で針鼠して
添加する。従って作業能率が悪い−にに、ピペッティン
グエラーが発生して測定精度を低下させる問題があった
。
（ニ）問題点を解決するための手段
本発明においては、プラズマ１〜−ヂに複数の試料供給
管を備えると共に、試料溶液を霧化する霧化器を前記複
数の試料供給管の各々に対応して設けることにより、」
−記の問題点を解決する。
管を備えると共に、試料溶液を霧化する霧化器を前記複
数の試料供給管の各々に対応して設けることにより、」
−記の問題点を解決する。
（ホ）作用
標準試料溶液と被検試料溶液を別々の霧化器によって霧
化し、これら霧化した試料を同時にプラズマ１〜−チに
供給して発光させることができる。
化し、これら霧化した試料を同時にプラズマ１〜−チに
供給して発光させることができる。
（へ）実施例
第１図は本発明の一実施例を示すＩＣＰ発光分析装置の
構成を示す。本図でプラズマトーチ１は四重管で、２ａ
、２ｂは試料供給管、３は中間管、４は外套管である。
構成を示す。本図でプラズマトーチ１は四重管で、２ａ
、２ｂは試料供給管、３は中間管、４は外套管である。
中間管３には入口１３からプラズマ炎を構成するプラズ
マガスが導入され、外套管４には入口１４から冷却ガス
が導入される。これらのガスは全てアルゴンガスである
。５はプラズマ炎、６はプラズマ炎５にエネルギーを供
給する高周波コイル、７ａ、７ｂはプラズマトーチ１の
下部に配置した気化チェンバ、８，９はネプライザ（霧
化器）、１０．１１は夫々標準試料溶液、被検試料溶液
を入れる試料容器である。ネプライザ８，９は結合部１
２ａ、１２ｂ？貫通して夫々チェンバ７ａ、７ｂに取付
けられている。
マガスが導入され、外套管４には入口１４から冷却ガス
が導入される。これらのガスは全てアルゴンガスである
。５はプラズマ炎、６はプラズマ炎５にエネルギーを供
給する高周波コイル、７ａ、７ｂはプラズマトーチ１の
下部に配置した気化チェンバ、８，９はネプライザ（霧
化器）、１０．１１は夫々標準試料溶液、被検試料溶液
を入れる試料容器である。ネプライザ８，９は結合部１
２ａ、１２ｂ？貫通して夫々チェンバ７ａ、７ｂに取付
けられている。
容器１０の標準試料は例えば濃度１０ｐｐｍの溶液で、
配管２０がらネプライザ８に供給され、入口２１から供
給されるキャリヤガス（アルゴンガス）と共にチェンバ
７ａへ霧となって噴出される。他方、容器１１の被検試
料溶液は配管２２を介してネプライザ９に供給され、入
口２３がら供給されるキャリヤガスと共にチェンバ７ｂ
へ噴射される。これら標準試料と被検試料の噴射供給量
は同一であり、チェンバ７ａ、７ｂで気化し、夫々試料
供給管２ａ、２ｂを通ってプラズマ炎５に達して発光し
、図示しない分光測定装置によりスペクトルが求められ
る。
配管２０がらネプライザ８に供給され、入口２１から供
給されるキャリヤガス（アルゴンガス）と共にチェンバ
７ａへ霧となって噴出される。他方、容器１１の被検試
料溶液は配管２２を介してネプライザ９に供給され、入
口２３がら供給されるキャリヤガスと共にチェンバ７ｂ
へ噴射される。これら標準試料と被検試料の噴射供給量
は同一であり、チェンバ７ａ、７ｂで気化し、夫々試料
供給管２ａ、２ｂを通ってプラズマ炎５に達して発光し
、図示しない分光測定装置によりスペクトルが求められ
る。
本実施例では容器１０に標準試料溶液を、容器１１に被
検試料溶液を入れたが、容器１ｏに標準試料と第１の被
検試料の混合溶液を、容器１コに第２の被検試料溶液を
入れ、これらを順次霧化してプラズマトーチへ供給する
方法等、種々の利用方法が可能である。
検試料溶液を入れたが、容器１ｏに標準試料と第１の被
検試料の混合溶液を、容器１コに第２の被検試料溶液を
入れ、これらを順次霧化してプラズマトーチへ供給する
方法等、種々の利用方法が可能である。
（ト）効果
本発明によると、ＩＣＰ発光分析における内標準法の操
作が簡単になり、能率と共に精度が向上するという優れ
た効果を奏する。
作が簡単になり、能率と共に精度が向上するという優れ
た効果を奏する。
第１図は本発明のＩＣＰ発光分析装置の一実施例を示す
構成図である。 １・・・・・・プラズマトーチ ５・・・・・プラズマ
炎２ａ、２ｂ・・・・・・試料供給管 ６・・・・・・高周波コイル ８，９・・・・・・霧
化器７ａ、７ｂ・・・気化チェンバ １０．１１・・・・・・試料容器 δ才ブンイ↓１゛
構成図である。 １・・・・・・プラズマトーチ ５・・・・・プラズマ
炎２ａ、２ｂ・・・・・・試料供給管 ６・・・・・・高周波コイル ８，９・・・・・・霧
化器７ａ、７ｂ・・・気化チェンバ １０．１１・・・・・・試料容器 δ才ブンイ↓１゛
Claims (1)
- （１）プラズマトーチに複数の試料供給管を備えると共
に、試料溶液を霧化する霧化器を前記複数の試料供給管
の各々に対応して設けたことを特徴とするＩＣＰ発光分
析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62318389A JPH0814538B2 (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62318389A JPH0814538B2 (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01161132A true JPH01161132A (ja) | 1989-06-23 |
| JPH0814538B2 JPH0814538B2 (ja) | 1996-02-14 |
Family
ID=18098606
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62318389A Expired - Lifetime JPH0814538B2 (ja) | 1987-12-16 | 1987-12-16 | Ｉｃｐ発光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0814538B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6184550U (ja) * | 1984-11-07 | 1986-06-04 |
-
1987
- 1987-12-16 JP JP62318389A patent/JPH0814538B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6184550U (ja) * | 1984-11-07 | 1986-06-04 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0814538B2 (ja) | 1996-02-14 |
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