JPH01162256A - 光磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
光磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH01162256A JPH01162256A JP32071287A JP32071287A JPH01162256A JP H01162256 A JPH01162256 A JP H01162256A JP 32071287 A JP32071287 A JP 32071287A JP 32071287 A JP32071287 A JP 32071287A JP H01162256 A JPH01162256 A JP H01162256A
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Landscapes
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- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光磁気記録媒体の製造方法に関し、特にスパッ
タ法により連続的に多層構造を形成する光磁気記録媒体
の製造方法に関するものである。
タ法により連続的に多層構造を形成する光磁気記録媒体
の製造方法に関するものである。
近年、光磁気記録媒体はレーザー光による書き込み読み
だし可能光磁気ディスクとして大容量データファイルな
どに広く利用されている。
だし可能光磁気ディスクとして大容量データファイルな
どに広く利用されている。
この光磁気記録媒体は、ガラス、プラスチックなどの透
明基板上にス、Rツタ法により防電体層、記録層、保護
層、接着層などを夫々数lOA〜数toogの厚さで積
層した多層構造の層ケ有する。
明基板上にス、Rツタ法により防電体層、記録層、保護
層、接着層などを夫々数lOA〜数toogの厚さで積
層した多層構造の層ケ有する。
光磁気効果を示す前記記録層には希土類金属(以下、R
E金金属称する)と遷移金属(以下、TM金金属称する
)の合金の単一層もしくは前記RE金金属らなる層(以
下、RE層と称する)と前記TM金金属らなる層(以下
、TM層と称する)λ層以上積層した層が使用されてい
る。特に後者QRE層とTM層とを交互に積層した記a
層は磁化量、保磁力、光磁気効果(カー効果)に優れ又
その特性を制御し易いという利点がある。その製造方法
としては回転ホルダー上に前記基板を固定し希土類金属
ターゲット(以下、REメタ−ットと称する)及び遷移
金属ターゲット(以下、TMメタ−ットと称する)の上
をホルダーを回転させることにより基板を通過させ前記
RE層とTM層の薄層を少なくとも21以上積層させる
方法(2元同時スパッタ法と称され、特開昭!ター21
72弘7号公報、特開昭62−21s4jり号公報、特
開昭6コーコ7Ajり号公報、特開昭1.1−i0r/
/2号公報、特開昭62−7104c/号公報、特開昭
62−/21r04LI号公報に開示されている)また
、別の方法として特開昭62−1377!3号公報には
前記RE金金属TM金金属合金ターゲットと基板とを対
向させその間にかけるバイアス電力を時間的に変化させ
【成膜することにより前記RE金金属TM金金属組成比
の異なる層を積層させる方法が開示されている。
E金金属称する)と遷移金属(以下、TM金金属称する
)の合金の単一層もしくは前記RE金金属らなる層(以
下、RE層と称する)と前記TM金金属らなる層(以下
、TM層と称する)λ層以上積層した層が使用されてい
る。特に後者QRE層とTM層とを交互に積層した記a
層は磁化量、保磁力、光磁気効果(カー効果)に優れ又
その特性を制御し易いという利点がある。その製造方法
としては回転ホルダー上に前記基板を固定し希土類金属
ターゲット(以下、REメタ−ットと称する)及び遷移
金属ターゲット(以下、TMメタ−ットと称する)の上
をホルダーを回転させることにより基板を通過させ前記
RE層とTM層の薄層を少なくとも21以上積層させる
方法(2元同時スパッタ法と称され、特開昭!ター21
72弘7号公報、特開昭62−21s4jり号公報、特
開昭6コーコ7Ajり号公報、特開昭1.1−i0r/
/2号公報、特開昭62−7104c/号公報、特開昭
62−/21r04LI号公報に開示されている)また
、別の方法として特開昭62−1377!3号公報には
前記RE金金属TM金金属合金ターゲットと基板とを対
向させその間にかけるバイアス電力を時間的に変化させ
【成膜することにより前記RE金金属TM金金属組成比
の異なる層を積層させる方法が開示されている。
しかしながら、前記2元同時スパッタ法は、回転機構を
有する基板ホルダー上K、通常、ある限られた数の複数
個の前記基板をセットして、数量的にはその単位でしか
積層記録層を成膜することができず、光磁気記録媒体の
量産化上の問題があった。また、前記特開昭1.2−1
3773号公報のようにバイアス電力を時間的に変化さ
せる方法は、成膜速度は早くできるが、前記RE層とT
M層と明確に区別して積層することができず特性の改良
が充分でなかった。さらにバイアス電力を短周期で変化
させるための複雑な制御機構を必要とした。
有する基板ホルダー上K、通常、ある限られた数の複数
個の前記基板をセットして、数量的にはその単位でしか
積層記録層を成膜することができず、光磁気記録媒体の
量産化上の問題があった。また、前記特開昭1.2−1
3773号公報のようにバイアス電力を時間的に変化さ
せる方法は、成膜速度は早くできるが、前記RE層とT
M層と明確に区別して積層することができず特性の改良
が充分でなかった。さらにバイアス電力を短周期で変化
させるための複雑な制御機構を必要とした。
本発明は、このような問題を解決するためになされたも
のであり、前記RE層とTM層を少なくとも2層交互に
積層した記録層を連続的にかつ高速で成膜する光磁気記
録媒体の製造方法を提供することを目的とするものであ
る。
のであり、前記RE層とTM層を少なくとも2層交互に
積層した記録層を連続的にかつ高速で成膜する光磁気記
録媒体の製造方法を提供することを目的とするものであ
る。
本発明のかかる目的は、スパッタ法により基体上に前記
RE層とTM層を積層する光磁気記録媒体の製造方法に
おいて、前記基体を所定の真空度に保たれたスパッタリ
ング室内で一定の速度で連続的に一方向に移送させなが
ら前記基体の移送経路に沿って核基体に所定の間隔をも
つズ対向し、かつ互いに前記基体の移送方向に重ならな
いように配設したRE金属ターゲットとTM金属ターゲ
ットを同時に連続してスパッタリングを行い、前記基体
上に前記各金属層を積層することにより達成される。特
に前記RE金属ターゲットとTM金属ターゲットとの境
界に設げた仕切り板により前記両金属ターゲットの同時
連続スパッタリングにより放出される該両金属ターゲッ
トの各金屑粒子の混合を防止することにより本発明の目
的は、さらに有効に達成される。
RE層とTM層を積層する光磁気記録媒体の製造方法に
おいて、前記基体を所定の真空度に保たれたスパッタリ
ング室内で一定の速度で連続的に一方向に移送させなが
ら前記基体の移送経路に沿って核基体に所定の間隔をも
つズ対向し、かつ互いに前記基体の移送方向に重ならな
いように配設したRE金属ターゲットとTM金属ターゲ
ットを同時に連続してスパッタリングを行い、前記基体
上に前記各金属層を積層することにより達成される。特
に前記RE金属ターゲットとTM金属ターゲットとの境
界に設げた仕切り板により前記両金属ターゲットの同時
連続スパッタリングにより放出される該両金属ターゲッ
トの各金屑粒子の混合を防止することにより本発明の目
的は、さらに有効に達成される。
本発明の一実施態様を添付した図面によりさらに詳細に
説明する。
説明する。
第1図は、本発明の方法による光磁気記録媒体の前記R
E層とTM層とをスパッタリングにより積層するための
装置の平面図であり、第2図はその側面図である。
E層とTM層とをスパッタリングにより積層するための
装置の平面図であり、第2図はその側面図である。
搬送用ベル)/の上九支持具コで前記搬送用ベル)/上
にほぼ垂直に装着された基体ホルダー3の側面にガラス
、プラスチック等の透明な基体≠が固定されている。前
記基体ホルダー3は前記搬送用ベル)/上にほぼ等間隙
に複数個直列に装着されており、誘電体層成膜用スパッ
タリング室夕内で窒化ケイ素、酸化ケイ素、窒化アルミ
又は硫化亜鉛などの誘電体の成膜を終えて前記搬送用ベ
ル)/の駆動に従って矢印ルの方向から、記録層成膜用
スパッタリング室7に送られてくる。
にほぼ垂直に装着された基体ホルダー3の側面にガラス
、プラスチック等の透明な基体≠が固定されている。前
記基体ホルダー3は前記搬送用ベル)/上にほぼ等間隙
に複数個直列に装着されており、誘電体層成膜用スパッ
タリング室夕内で窒化ケイ素、酸化ケイ素、窒化アルミ
又は硫化亜鉛などの誘電体の成膜を終えて前記搬送用ベ
ル)/の駆動に従って矢印ルの方向から、記録層成膜用
スパッタリング室7に送られてくる。
前記スパッタリング室7内には前記基体≠と対向して、
Tb、GdあるいはSm等のREターゲットr及びFe
、Co、Niあるいはそれらの金属の合金等のTMター
ゲットヂが交互に各1枚以上はぼ等間隙で前記基体≠と
一定距離を保って並べられている。前記記録層成膜用ス
・ξツタリング室7内は、Ar等の不活性ガスでtxi
o”−3Torr程度の真空度に保たれており、前記R
Eメタ−ット!及びTMターゲットタには、夫々REタ
ーゲット用電源10及びTMターゲット//から同時に
一定のバイアス電力が印加されており、各ターゲット表
面付近に発生したArのプラズマ粒子によりたたき出さ
れたRE金金属びTM金金属スパッタ粒子が放出され、
前記基体μ上に、順次連続的に到達し、成膜され、前記
REメタ−ットを及びTMターゲットタの数だけ、交互
に積層された記録層が形成される。
Tb、GdあるいはSm等のREターゲットr及びFe
、Co、Niあるいはそれらの金属の合金等のTMター
ゲットヂが交互に各1枚以上はぼ等間隙で前記基体≠と
一定距離を保って並べられている。前記記録層成膜用ス
・ξツタリング室7内は、Ar等の不活性ガスでtxi
o”−3Torr程度の真空度に保たれており、前記R
Eメタ−ット!及びTMターゲットタには、夫々REタ
ーゲット用電源10及びTMターゲット//から同時に
一定のバイアス電力が印加されており、各ターゲット表
面付近に発生したArのプラズマ粒子によりたたき出さ
れたRE金金属びTM金金属スパッタ粒子が放出され、
前記基体μ上に、順次連続的に到達し、成膜され、前記
REメタ−ットを及びTMターゲットタの数だけ、交互
に積層された記録層が形成される。
前記REメタ−ットtとTMターゲットタの間に仕切り
板12を前記各ターゲット及び基体仏とほぼ直交するよ
うに配設することにより、前記REメタ−ットj及びT
Mターゲットタから放出されるRE金金属スパッタ粒子
及びTM金金属スパッタ粒子の混合が防止され、前記R
E層とTM層とが明確に分離された積層記録層が形成で
きる。
板12を前記各ターゲット及び基体仏とほぼ直交するよ
うに配設することにより、前記REメタ−ットj及びT
Mターゲットタから放出されるRE金金属スパッタ粒子
及びTM金金属スパッタ粒子の混合が防止され、前記R
E層とTM層とが明確に分離された積層記録層が形成で
きる。
前記積層記録層のRE層とTM層の厚さ及び総厚は、前
記基体ダの搬送速度、スパッタ投入電力及びターゲット
サイズ等により決まり、それらのファクターの選択によ
りコントロールできる。通常、搬送速度はo、smy分
乃至06417分であり、ターゲットに印加する電力は
、通常数10W乃至数toOWである。
記基体ダの搬送速度、スパッタ投入電力及びターゲット
サイズ等により決まり、それらのファクターの選択によ
りコントロールできる。通常、搬送速度はo、smy分
乃至06417分であり、ターゲットに印加する電力は
、通常数10W乃至数toOWである。
前記REメタ−ットの各ターゲット及び前記1Mターゲ
ットの各ターゲットに印加するバイアス電力を夫々等し
くすることにより各RE層の厚さ及び各TM層の厚さが
夫々一定となり、記録層の厚さ方申での特性を均一にす
ることができる。
ットの各ターゲットに印加するバイアス電力を夫々等し
くすることにより各RE層の厚さ及び各TM層の厚さが
夫々一定となり、記録層の厚さ方申での特性を均一にす
ることができる。
光磁気効果を最適にするために、前記RE層及びTM層
夫々の層厚さはコ又以上望ましくはi。
夫々の層厚さはコ又以上望ましくはi。
X以上であり、積層される層の数はRE層及びTM層合
せて2層以上望ましくは、/ 0層以上であり全厚は、
200A以上あることが望ましい。
せて2層以上望ましくは、/ 0層以上であり全厚は、
200A以上あることが望ましい。
前記REメタ−ット用のRE金金属しては、例えばGd
、Tb、Dy%Nd、Sm、又はHoの単体金属若しく
はそれらの合金例えばGd!OTb!0が使用される。
、Tb、Dy%Nd、Sm、又はHoの単体金属若しく
はそれらの合金例えばGd!OTb!0が使用される。
一方、前記TMメタ−ット用のTM金金属しては、Fe
、Co又はNi等の単体金属若しくはそれらの合金例え
ばFel! Co1t等が使用される。前記TM層の
耐蝕性を高めるために前記1M金属中KPt、Ti、C
r又はCulkj%以下添加させてもよい。
、Co又はNi等の単体金属若しくはそれらの合金例え
ばFel! Co1t等が使用される。前記TM層の
耐蝕性を高めるために前記1M金属中KPt、Ti、C
r又はCulkj%以下添加させてもよい。
これらの各ターゲット用金属の純度は、タタ%゛以上、
望ましくはタタ、り5以上である。
望ましくはタタ、り5以上である。
同時連続セパツタリングにより、前記REメタ−ット及
び1Mターゲットから放出される前記RE金金属びTM
金金属粒子が混合するのを防止するために設けた前記仕
切り板/2はAr等の不活性ガスのプラズマ中にさらさ
れるので、記録層中にその材料が混入する恐れがあり、
それを防止するだめに前記仕切り板の材料としては、R
E金金属はTM金金属することが望ましい。そうするこ
とにより、少なくとも、RE金金属はTM金属以外の第
3の金属の混入は防止することができる。
び1Mターゲットから放出される前記RE金金属びTM
金金属粒子が混合するのを防止するために設けた前記仕
切り板/2はAr等の不活性ガスのプラズマ中にさらさ
れるので、記録層中にその材料が混入する恐れがあり、
それを防止するだめに前記仕切り板の材料としては、R
E金金属はTM金金属することが望ましい。そうするこ
とにより、少なくとも、RE金金属はTM金属以外の第
3の金属の混入は防止することができる。
コストの点から前記TM金金属前記仕切り板の材料とす
ることが望ましい。
ることが望ましい。
前記仕切り板12を設けることにより、各ターゲットの
間隙をさらに小さ(することができ、装置の縮小化に有
利である。
間隙をさらに小さ(することができ、装置の縮小化に有
利である。
また、記録層各層の組成的な均一性を高めるために前記
基体ダを回転させつつ搬送してもよい。
基体ダを回転させつつ搬送してもよい。
また、積層する層の数を増加するために、ターゲットの
数を増加させてもよいが、同じパスを往復させるととく
より、ターゲットの数の増加を避けることもできる。
数を増加させてもよいが、同じパスを往復させるととく
より、ターゲットの数の増加を避けることもできる。
本発明では、交互に配設された前記REメタ−ット及び
1Mターゲットに対向させて、基体を連続的に搬送する
ことにより、前記RE層とTM層が交互に積層できるの
で記録層の連続成膜に有利である。そして、前記記録層
成膜用スノツタリング室7の前後に前記誘電体層成膜用
スパッタリング室及び保護層成膜用スノツタリング室そ
の他必要に応じて、ロード室、アンロード室、反射層成
膜用スノツタリング室等と連結させることにより、前記
基体上への必要な成膜が連続的になされ、光磁気記録媒
体の量産化の上で非常に有利である。
1Mターゲットに対向させて、基体を連続的に搬送する
ことにより、前記RE層とTM層が交互に積層できるの
で記録層の連続成膜に有利である。そして、前記記録層
成膜用スノツタリング室7の前後に前記誘電体層成膜用
スパッタリング室及び保護層成膜用スノツタリング室そ
の他必要に応じて、ロード室、アンロード室、反射層成
膜用スノツタリング室等と連結させることにより、前記
基体上への必要な成膜が連続的になされ、光磁気記録媒
体の量産化の上で非常に有利である。
さらに、従来法のように基板回転機構、夕〒ゲットへの
入力の複雑なコントロールを必要とせずに前記RE層と
TM層とが積層された記録層が得られる。
入力の複雑なコントロールを必要とせずに前記RE層と
TM層とが積層された記録層が得られる。
さらに又、各ターゲット間に前記仕切り板12を設ける
ことにより、RE金金属TM金金属混り合いがより少な
い交互積層記録層が得られ、良好な光磁気記録層とする
ことができる。
ことにより、RE金金属TM金金属混り合いがより少な
い交互積層記録層が得られ、良好な光磁気記録層とする
ことができる。
本発明の効果を以下の実施例によりさらに具体的に説明
する。
する。
(実施例−l)
厚さ/、2wm、!、2!インチφのガラス基板上にス
・ξツタリング法により厚さrooXの窒化ケイ素(S
i3N、)の薄膜を誘電体層として設けその上に以下の
ような方法でRE層とTM層との交互積層記録層を設け
た。
・ξツタリング法により厚さrooXの窒化ケイ素(S
i3N、)の薄膜を誘電体層として設けその上に以下の
ような方法でRE層とTM層との交互積層記録層を設け
た。
!インチ×rインチの大きさのTbターゲット(REメ
タ−ット)及びF e g 5 CO15合金ターゲラ
)(TMメタ−ット)ヲ各7枚ずつ約2インチの間隙で
交互に計7μ枚並べた。スパッタリング室内の初期真空
度を’X’0−6Torr以下にした後に、同室内にA
rガスを導入し/X10 Torrの真空度(した
。
タ−ット)及びF e g 5 CO15合金ターゲラ
)(TMメタ−ット)ヲ各7枚ずつ約2インチの間隙で
交互に計7μ枚並べた。スパッタリング室内の初期真空
度を’X’0−6Torr以下にした後に、同室内にA
rガスを導入し/X10 Torrの真空度(した
。
次いで各Tbターゲットにかけるパワーを10OW1各
FerjCo/!合金ターゲットにかけるパワーを一2
30Wに固定し、予め誘電体層を設けたガラス基板を各
ターゲットから/30m離して0.3前/分の速度で送
り、TbとPerICo/7合金の薄層をその上に成膜
してRE層とTM層の交互積層記録層を設けた。その後
、オージェ分光分析、X線小角散乱法で分析したところ
Tb層は20に1FerICo/!の合金層はλ!Aで
全厚はJelAであった。
FerjCo/!合金ターゲットにかけるパワーを一2
30Wに固定し、予め誘電体層を設けたガラス基板を各
ターゲットから/30m離して0.3前/分の速度で送
り、TbとPerICo/7合金の薄層をその上に成膜
してRE層とTM層の交互積層記録層を設けた。その後
、オージェ分光分析、X線小角散乱法で分析したところ
Tb層は20に1FerICo/!の合金層はλ!Aで
全厚はJelAであった。
記録層上に保護層として厚さ1OOOAの窒化ケイ素(
Si3N4)の薄膜をスパッタリング法で成膜した。
Si3N4)の薄膜をスパッタリング法で成膜した。
振動試料型磁束計及びカーヒステリシス装置で記録層の
磁気特性を測定した結果、Hc(抗磁力)はt jK
Oe以上、θk(カー回転角)は、0゜4co”、Tc
(キュリー温度)は、irooCであった。
磁気特性を測定した結果、Hc(抗磁力)はt jK
Oe以上、θk(カー回転角)は、0゜4co”、Tc
(キュリー温度)は、irooCであった。
なお、Tb層とF e B 5 CO5o合金層の界面
には、両組成の入り混じった層が約6A認められた。
には、両組成の入り混じった層が約6A認められた。
(実施例−2)
実施例−7において、TbターゲットとF e B。
Co□5合金ターゲットとの間に、Feg5C。
、5の仕切り板を設けた。基板と仕切り板の最近接距離
は、約!簡とした。
は、約!簡とした。
他は実施例−7と同一条件でTbとF e B 5Co
工5合金の交互積層記録層を設けた。Tb層はJOA、
F’e Co 合金層は2jXで全厚は3/I
Aであった。実施例−Iよりも各層の境界は、組成的に
明瞭であった。
工5合金の交互積層記録層を設けた。Tb層はJOA、
F’e Co 合金層は2jXで全厚は3/I
Aであった。実施例−Iよりも各層の境界は、組成的に
明瞭であった。
実施例−lと同一条件で保護層を設けた後、記録層の磁
気特性を測定したところ、Hcがl!OK’Oe以上、
θには0.μl0、Tcは、/400Cであった。
気特性を測定したところ、Hcがl!OK’Oe以上、
θには0.μl0、Tcは、/400Cであった。
(実施例−3)
実施例−2において、ガラス基板を0.6m1分で搬送
しTbターゲットにかけるパワーを2QOW、 F e
B 5 Co□5合金ターゲットにかげるパワーt≠
tOWにした。
しTbターゲットにかけるパワーを2QOW、 F e
B 5 Co□5合金ターゲットにかげるパワーt≠
tOWにした。
Tb層は’ rA、F e B 5 CO15合金層は
2JXであり全厚は2roXであった。実施例−7と同
一の条件で窒化ケイ素の保護層を設けた後記録層の特性
を測定したところHcは/rKOe以上であり、θには
O1弘3°、Tcはttr”cであった。
2JXであり全厚は2roXであった。実施例−7と同
一の条件で窒化ケイ素の保護層を設けた後記録層の特性
を測定したところHcは/rKOe以上であり、θには
O1弘3°、Tcはttr”cであった。
第1図は、本発明におけるスパッタ室の平面図第2図は
、側面図である。 3・・・・・・基体ホルダー μ・・・・・・基体 7・・・・・・スパッタリング室 r・・・・・・REメタ−ット タ・・・・・・TMメタ−ット 12・・・・・・仕切り板 特許出願人 富士写真フィルム株式会社昭和43年コ月
げ日
、側面図である。 3・・・・・・基体ホルダー μ・・・・・・基体 7・・・・・・スパッタリング室 r・・・・・・REメタ−ット タ・・・・・・TMメタ−ット 12・・・・・・仕切り板 特許出願人 富士写真フィルム株式会社昭和43年コ月
げ日
Claims (2)
- 1.スパッタ法により基体上に希土類金属層と遷移金属
層を積層する光磁気記録媒体の製造方法において、前記
基体を所定の真空度に保たれたスパッタリング室内で一
定の速度で連続的に一方向に移送させながら前記基体の
移送経路に沿つて該基体に所定の間隔をもつて対向し、
かつ互いに前記基体の移送方向に重ならないように配置
した希土類金属ターゲットと遷移金属ターゲットを同時
に連続してスパッタリングを行い、前記基体上に前記各
金属層を積層することを特徴とする光磁気記録媒体の製
造方法。 - 2.前記希土類金属ターゲットと遷移金属ターゲットと
の境界に設けた仕切り板により、前記両金属ターゲット
の同時連続スパッタリングにより放出される該両金属タ
ーゲットの各金属粒子の混合を防止することを特徴とす
る光磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32071287A JPH01162256A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32071287A JPH01162256A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01162256A true JPH01162256A (ja) | 1989-06-26 |
Family
ID=18124490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32071287A Pending JPH01162256A (ja) | 1987-12-18 | 1987-12-18 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01162256A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04280410A (ja) * | 1990-09-29 | 1992-10-06 | Gold Star Co Ltd | 光磁気記録媒体の製造方法 |
| JP2016507656A (ja) * | 2013-02-25 | 2016-03-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 隣接スパッタカソードを用いた装置およびその操作方法 |
-
1987
- 1987-12-18 JP JP32071287A patent/JPH01162256A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04280410A (ja) * | 1990-09-29 | 1992-10-06 | Gold Star Co Ltd | 光磁気記録媒体の製造方法 |
| JP2016507656A (ja) * | 2013-02-25 | 2016-03-10 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated | 隣接スパッタカソードを用いた装置およびその操作方法 |
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