JPH01166593A - 半導体レーザの劈開方法 - Google Patents
半導体レーザの劈開方法Info
- Publication number
- JPH01166593A JPH01166593A JP62326453A JP32645387A JPH01166593A JP H01166593 A JPH01166593 A JP H01166593A JP 62326453 A JP62326453 A JP 62326453A JP 32645387 A JP32645387 A JP 32645387A JP H01166593 A JPH01166593 A JP H01166593A
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- JP
- Japan
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- semiconductor laser
- cleavage
- notch
- wafer
- semiconductor
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 58
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 238000003776 cleavage reaction Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000007017 scission Effects 0.000 claims abstract description 32
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 28
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/0201—Separation of the wafer into individual elements, e.g. by dicing, cleaving, etching or directly during growth
- H01S5/0202—Cleaving
Landscapes
- Dicing (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体レーザの劈開方法に関するものである
。
。
従来より、コンパクトディスクプレーヤ等のピックアッ
プに使用される例えばダブルへテロ接合半導体レーザの
各素子は、レーザ光を発する両端面の所謂ファプリペロ
ー共振器面を劈開によって形成して使用されている。こ
のような半導体レーザ素子を形成するための劈開方法と
しては、例えば、第4図に示すように、半導体レーザ素
子101を形成した半導体ウェハ100の端部に、該素
子101の共振器長の間隔りを開けて切込み102をダ
イヤモンドスクライバ−等で形成し、該半導体ウェハの
骨間面となる方向に沿って治具等を当接し、上方より鋭
利な刃等で力を加えることによって該切込み102の°
ところで劈開する方法が知られている。
プに使用される例えばダブルへテロ接合半導体レーザの
各素子は、レーザ光を発する両端面の所謂ファプリペロ
ー共振器面を劈開によって形成して使用されている。こ
のような半導体レーザ素子を形成するための劈開方法と
しては、例えば、第4図に示すように、半導体レーザ素
子101を形成した半導体ウェハ100の端部に、該素
子101の共振器長の間隔りを開けて切込み102をダ
イヤモンドスクライバ−等で形成し、該半導体ウェハの
骨間面となる方向に沿って治具等を当接し、上方より鋭
利な刃等で力を加えることによって該切込み102の°
ところで劈開する方法が知られている。
しかしながら、上記のような劈開方法では、半導体ウェ
ハ100端部に切込み102を形成するだけであるから
、半導体ウェハ100を治具等に固定するときに、該治
具が劈開方向と平行に位置されていなかったり、下方に
加える力が半導体ウェハ100面上で均一でなかったり
すると、途中で劈開が止まったり、半導体ウェハ100
面上の微細な傷等によって劈開方向が変わってしまい、
第5図に点線で示すように、劈開させる方向を外れて劈
開されることがある。これでは、共振器長の間隔で骨間
面を有するバー状ウェハが得られないので、歩留まりが
低下することになる。
ハ100端部に切込み102を形成するだけであるから
、半導体ウェハ100を治具等に固定するときに、該治
具が劈開方向と平行に位置されていなかったり、下方に
加える力が半導体ウェハ100面上で均一でなかったり
すると、途中で劈開が止まったり、半導体ウェハ100
面上の微細な傷等によって劈開方向が変わってしまい、
第5図に点線で示すように、劈開させる方向を外れて劈
開されることがある。これでは、共振器長の間隔で骨間
面を有するバー状ウェハが得られないので、歩留まりが
低下することになる。
尚、半導体ウェハ100の劈開方法としては化学的にエ
ツチングして劈開する方法もあるが、この方法ではエツ
チング後の半導体ウェハ1の取り扱い困難で、割れ等が
生じ易く、歩留まりも低下している。
ツチングして劈開する方法もあるが、この方法ではエツ
チング後の半導体ウェハ1の取り扱い困難で、割れ等が
生じ易く、歩留まりも低下している。
上記の問題点を解決するために本発明の半導体レーザの
劈開方法は、半導体レーザ素子の形成されたウェハを、
この半導体レーザ素子の共振器長の間隔で臂関し、ファ
ブリペロ−共振器面を形成する半導体レーザの劈開方法
において、上記半導体ウェハ上に、劈開方向に延びるノ
ツチを、半導体レーザ素子の共振器長の間隔で、該劈開
方向に垂直な方向の各スクライブライン上に形成したこ
とを特徴とする。
劈開方法は、半導体レーザ素子の形成されたウェハを、
この半導体レーザ素子の共振器長の間隔で臂関し、ファ
ブリペロ−共振器面を形成する半導体レーザの劈開方法
において、上記半導体ウェハ上に、劈開方向に延びるノ
ツチを、半導体レーザ素子の共振器長の間隔で、該劈開
方向に垂直な方向の各スクライブライン上に形成したこ
とを特徴とする。
本発明のように劈開方向と垂直な方向の各スクライプラ
イン上に、半導体レーザ素子の共振器長の間隔を置いて
ノツチを形成して劈開すると、各ノツチが劈開方向をガ
イドするので、途中で劈開方向が変わることなく直線的
に劈開され良好な骨間面が得られる。また、劈開して形
成されるバー状ウェハは、各半導体レーザ素子のスクラ
イブラインで切断されるので、劈開したときに残るノツ
チ族もこのときに除去され、骨間面をファブリペロ−共
振器面とする半導体レーザ素子が形成される。
イン上に、半導体レーザ素子の共振器長の間隔を置いて
ノツチを形成して劈開すると、各ノツチが劈開方向をガ
イドするので、途中で劈開方向が変わることなく直線的
に劈開され良好な骨間面が得られる。また、劈開して形
成されるバー状ウェハは、各半導体レーザ素子のスクラ
イブラインで切断されるので、劈開したときに残るノツ
チ族もこのときに除去され、骨間面をファブリペロ−共
振器面とする半導体レーザ素子が形成される。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
本発明によれば、まず第1図に示すように例えば、方形
状に形成された半導体ウェハ1の結晶軸(100)の結
晶面を用い、この結晶構造に沿って半導体レーザの各素
子2・・・を形成し、各半導体レーザ素子2・・・の共
振器長となる間隔りで、両端面を所謂ファブリペロ−共
振器面とするための骨間面を形成する方向で、且つ各半
導体レーザ素子2・・・の骨間面と垂直な方向に切断す
るための一点鎖線で示すスクライブライン!上にノツチ
3・・・を形成する。このノツチ3・・・は、例えば、
ダイヤモンドカッタ4を用いたダイヤモンドスクライビ
ング法等で形成することができるが、この方法に限らず
種々の方法が採用できるものである。
状に形成された半導体ウェハ1の結晶軸(100)の結
晶面を用い、この結晶構造に沿って半導体レーザの各素
子2・・・を形成し、各半導体レーザ素子2・・・の共
振器長となる間隔りで、両端面を所謂ファブリペロ−共
振器面とするための骨間面を形成する方向で、且つ各半
導体レーザ素子2・・・の骨間面と垂直な方向に切断す
るための一点鎖線で示すスクライブライン!上にノツチ
3・・・を形成する。このノツチ3・・・は、例えば、
ダイヤモンドカッタ4を用いたダイヤモンドスクライビ
ング法等で形成することができるが、この方法に限らず
種々の方法が採用できるものである。
そして、第2図に示すように上記の如くノツチ3・・・
が形成された半導体ウェハ1を、例えば上下の固定治具
5,6の端面に、上記骨間面を形成させる方向のノツチ
3・・・を沿わせて固定し、板状の治具7等によって突
出している半導体ウェハ1に下向きの力を加えると、上
記ノツチ3・・・が劈開方向をガイドして直線的に劈開
された骨間面2a。
が形成された半導体ウェハ1を、例えば上下の固定治具
5,6の端面に、上記骨間面を形成させる方向のノツチ
3・・・を沿わせて固定し、板状の治具7等によって突
出している半導体ウェハ1に下向きの力を加えると、上
記ノツチ3・・・が劈開方向をガイドして直線的に劈開
された骨間面2a。
2aを有するバー状ウェハ8が形成される。このような
バー状ウェハ8の形成には他の種々の手段も採用できる
ものである。
バー状ウェハ8の形成には他の種々の手段も採用できる
ものである。
上記のようにノツチ3・・・に沿って直線的に劈開され
たバー状ウェハ8は、各半導体レーザ素子2・・・の上
方両端にノツチ族31・・・が形成されて劈開されてい
るが、例えば、ダイヤモンドブレード9を高速回転させ
て、このバー状ウェハ8の各半導体レーザ素子2・・・
を区切る該ノツチ族31・・・と垂直な方向のスクライ
プラインlに沿って切断すれば、上記ノツチ族31・・
・が除去された半導体レーザ素子2が形成される。この
ようにして形成された半導体レーザ素子2は、劈開用に
形成したノツチ族31・・・が残っておらず、ファプリ
ペロー共振器面となる良好な骨間面2a、 2aが形
成されたものとなり、該半導体レーザ素子2の活性層(
例えば、GaAs層(図示せず))から安定したレーザ
光が放出されるようになる。
たバー状ウェハ8は、各半導体レーザ素子2・・・の上
方両端にノツチ族31・・・が形成されて劈開されてい
るが、例えば、ダイヤモンドブレード9を高速回転させ
て、このバー状ウェハ8の各半導体レーザ素子2・・・
を区切る該ノツチ族31・・・と垂直な方向のスクライ
プラインlに沿って切断すれば、上記ノツチ族31・・
・が除去された半導体レーザ素子2が形成される。この
ようにして形成された半導体レーザ素子2は、劈開用に
形成したノツチ族31・・・が残っておらず、ファプリ
ペロー共振器面となる良好な骨間面2a、 2aが形
成されたものとなり、該半導体レーザ素子2の活性層(
例えば、GaAs層(図示せず))から安定したレーザ
光が放出されるようになる。
本発明による半導体レーザの劈開方法は半導体ウェハ1
上に形成される半導体レーザ素子2がどのような構造で
も、骨間面となる方向で、且つ各半導体レーザ素子2の
スクライプライン!上にノツチ3・・・を形成し、この
ノツチ3・・・をガイドとして種々の手段を用いて劈開
でき、形成されたバー状ウェハ8は、劈開方向が途中で
変わることなく共振器長しが得られるので、歩留まりの
低下が防げるようになる。
上に形成される半導体レーザ素子2がどのような構造で
も、骨間面となる方向で、且つ各半導体レーザ素子2の
スクライプライン!上にノツチ3・・・を形成し、この
ノツチ3・・・をガイドとして種々の手段を用いて劈開
でき、形成されたバー状ウェハ8は、劈開方向が途中で
変わることなく共振器長しが得られるので、歩留まりの
低下が防げるようになる。
尚、半導体レーザ素子2の共振器長しで半導体ウェハ1
面に劈開用の溝を連続して形成することもできるが、半
導体レーザ素子2の活性層が表面に近い浅い位置に形成
されているため、上記の半導体ウェハ1面に形成される
溝がレーザ光を発する活性層にまで達し、該活性層が骨
間面とならず、レーザ光を発しないといった問題を生じ
るので、半導体レーザ素子2のスクライプライン!上に
のみノツチを形成する必要がある。
面に劈開用の溝を連続して形成することもできるが、半
導体レーザ素子2の活性層が表面に近い浅い位置に形成
されているため、上記の半導体ウェハ1面に形成される
溝がレーザ光を発する活性層にまで達し、該活性層が骨
間面とならず、レーザ光を発しないといった問題を生じ
るので、半導体レーザ素子2のスクライプライン!上に
のみノツチを形成する必要がある。
以上の説明から明らかなように、本発明の半導体レーザ
の劈開方法では、形成された各ノツチが何間方向をガイ
ドするので、途中で何間方向が変わることなく直線的に
何間された骨間面が得られる。また、劈開して形成され
たバー状ウェハは、各半導体レーザ素子のスクライブラ
インで切断されるので、劈開したときに残るノツチ族も
このときに除去され、何ら問題のない骨間面を形成する
ことができるので、歩留まりの低下が防止できるといっ
た効果を奏する。
の劈開方法では、形成された各ノツチが何間方向をガイ
ドするので、途中で何間方向が変わることなく直線的に
何間された骨間面が得られる。また、劈開して形成され
たバー状ウェハは、各半導体レーザ素子のスクライブラ
インで切断されるので、劈開したときに残るノツチ族も
このときに除去され、何ら問題のない骨間面を形成する
ことができるので、歩留まりの低下が防止できるといっ
た効果を奏する。
第1図は半導体レーザ素子を形成した半導体ウェハに本
発明によるノツチを形成した状態を示す斜視図、第2図
は半導体レーザ素子の形成された半導体ウェハをバー状
ウェハに劈開している状態を示す斜視図、第3図は上記
バー状ウェハを各半導体レーザ素子に切断している状態
を示す斜視図、第4図は従来の半導体レーザ素子を形成
した半導体ウェハに切込みを形成した状態を示す斜視図
である。 (符号の説明) 1・・・半導体ウェハ 2・・・半導体レーザ素子 2a・・・骨間面(ファブリペロ−共振器面)3・・・
ノツチ 4・・・ダイヤモンドカッタ L・・・共振器長の間隔 !・・・スクライプライン 第1図 第3図 第4図
発明によるノツチを形成した状態を示す斜視図、第2図
は半導体レーザ素子の形成された半導体ウェハをバー状
ウェハに劈開している状態を示す斜視図、第3図は上記
バー状ウェハを各半導体レーザ素子に切断している状態
を示す斜視図、第4図は従来の半導体レーザ素子を形成
した半導体ウェハに切込みを形成した状態を示す斜視図
である。 (符号の説明) 1・・・半導体ウェハ 2・・・半導体レーザ素子 2a・・・骨間面(ファブリペロ−共振器面)3・・・
ノツチ 4・・・ダイヤモンドカッタ L・・・共振器長の間隔 !・・・スクライプライン 第1図 第3図 第4図
Claims (1)
- (1)半導体レーザ素子の形成されたウェハを、この半
導体レーザ素子の共振器長の間隔で劈開し、ファブリペ
ロー共振器面を形成する半導体レーザの劈開方法におい
て、 上記半導体ウェハ上に、劈開方向に延びるノッチを、半
導体レーザ素子の共振器長の間隔で、該劈開方向に垂直
な方向の各スクライブライン上に形成したことを特徴と
する半導体レーザの劈開方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62326453A JPH01166593A (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 半導体レーザの劈開方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62326453A JPH01166593A (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 半導体レーザの劈開方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01166593A true JPH01166593A (ja) | 1989-06-30 |
Family
ID=18187980
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62326453A Pending JPH01166593A (ja) | 1987-12-22 | 1987-12-22 | 半導体レーザの劈開方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01166593A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0744796A1 (en) * | 1995-05-22 | 1996-11-27 | ALCATEL ITALIA S.p.A. | Method and device for carrying out the cleavage in ultra-high-vacuum environment of portions of a processed semiconductor wafer |
| JP2008016694A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Toyoda Gosei Co Ltd | 半導体素子の製造方法 |
-
1987
- 1987-12-22 JP JP62326453A patent/JPH01166593A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0744796A1 (en) * | 1995-05-22 | 1996-11-27 | ALCATEL ITALIA S.p.A. | Method and device for carrying out the cleavage in ultra-high-vacuum environment of portions of a processed semiconductor wafer |
| JP2008016694A (ja) * | 2006-07-07 | 2008-01-24 | Toyoda Gosei Co Ltd | 半導体素子の製造方法 |
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